JP2011061789A - 差動増幅器入力回路のための適応同相モードバイアス - Google Patents

差動増幅器入力回路のための適応同相モードバイアス Download PDF

Info

Publication number
JP2011061789A
JP2011061789A JP2010199510A JP2010199510A JP2011061789A JP 2011061789 A JP2011061789 A JP 2011061789A JP 2010199510 A JP2010199510 A JP 2010199510A JP 2010199510 A JP2010199510 A JP 2010199510A JP 2011061789 A JP2011061789 A JP 2011061789A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
common
mode
differential
common mode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2010199510A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5443305B2 (ja
Inventor
Jr Hayden Clavie Cranford
ハイデン・クラビー・クランフォード・ジュニア
Joseph Marsh Stevens
ジョセフ・マーシュ・スティーブンス
Todd Morgan Rasmus
トッド・モーガン・ラスマス
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
International Business Machines Corp
Original Assignee
International Business Machines Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by International Business Machines Corp filed Critical International Business Machines Corp
Publication of JP2011061789A publication Critical patent/JP2011061789A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5443305B2 publication Critical patent/JP5443305B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/45Differential amplifiers
    • H03F3/45071Differential amplifiers with semiconductor devices only
    • H03F3/45076Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier
    • H03F3/45179Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier using MOSFET transistors as the active amplifying circuit
    • H03F3/45183Long tailed pairs
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F1/00Details of amplifiers with only discharge tubes, only semiconductor devices or only unspecified devices as amplifying elements
    • H03F1/32Modifications of amplifiers to reduce non-linear distortion
    • H03F1/3211Modifications of amplifiers to reduce non-linear distortion in differential amplifiers
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/45Differential amplifiers
    • H03F3/45071Differential amplifiers with semiconductor devices only
    • H03F3/45479Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of common mode signal rejection
    • H03F3/45632Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of common mode signal rejection in differential amplifiers with FET transistors as the active amplifying circuit
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2203/00Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45008Indexing scheme relating to differential amplifiers the addition of two signals being made by a resistor addition circuit for producing the common mode signal
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2203/00Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45078Indexing scheme relating to differential amplifiers the common mode signal being taken or deducted from the one or more inputs of the differential amplifier
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2203/00Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45292Indexing scheme relating to differential amplifiers the AAC comprising biasing means controlled by the signal
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2203/00Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45342Indexing scheme relating to differential amplifiers the AAC comprising control means on a back gate of the AAC

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Amplifiers (AREA)

Abstract

【課題】 差動増幅器の同相モード範囲を拡張するための方法及び装置を提供すること。
【解決手段】 回路は、同相モード検出回路、同相モード電圧反転回路、及び差動増幅器を有する。同相モード検出回路は、差動信号を受信し、同相モード電圧を検出する。同相モード電圧反転回路は、同相モード検出回路に結合される。同相モード電圧反転回路は、同相モード電圧を受信する入力ノード、及びボディ電圧を出力する出力ノードを有し、同相モード電圧反転回路は、同相モード電圧とボディ電圧との間に逆相関を作り出す。差動増幅器は、同相モード電圧反転回路の出力ノードに結合される一対のボディ端子を有する、トランジスタの差動対を含む。
【選択図】 図1

Description

本開示は、一般に差動増幅器に関し、より具体的には、差動増幅器のためのボディバイアス回路に関する。
シリアルリンク受信機における帯域幅及び利得の要件に対する要求が増すにつれて、複雑な問題が常に前面に出てきている。例えば、範囲が変化する入力信号は、しばしば差動増幅段の非線形動作をもたらす。これらの非線形応答は、差動増幅器の同相モード範囲が限られていることによって生じる。設計技術者は、そのデバイスの同相モード範囲に関連する問題を解決しようと常に努めている。
差動増幅器において、入力同相モード範囲とは、差動増幅器が差動利得を含む線形応答を維持する差動入力信号の範囲をいう。その最も単純な形態では、差動増幅器は、差動信号を受信する一対の差動入力トランジスタを有する。差動入力信号は、一対のトランジスタが受信する差動電圧入力信号の平均である同相モード電圧を有する。特定の用途では、高い同相モード範囲が必要とされる。増幅器の電源と比べて同相モード要件が極端に高い値及び低い値に相当する場合、増幅器の差動入力トランジスタ及び電流源に関連するバイアス問題が発生する。これらのバイアス問題は、差動増幅器の非線形応答及び不正確な差動利得出力につながる。
入力同相モード範囲の不足の問題を解決するために、増幅器に段を追加して同相モード範囲をシフトさせることがしばしば行われている。追加される段の一例は、能動レベルシフタである。しかしながら、付加的な回路を追加することで、処理速度が低下し、かつデバイスのサイズが大きくなる。処理速度が低下し、デバイスのサイズが大きくなることは、帯域幅及び利得要件が増大した用途の場合に、さらに大きい問題を生じさせる。そのうえ、レベルシフトは、同相モード範囲を拡張するものではない。レベルシフトは、デフォルトの同相モード範囲を所望のレベルにシフトするだけである。結局、設計技術者は一般に、そのデバイス内に存在する同相モード範囲を受け入れるしかなかった。
従って、入力同相モード範囲を拡張することができるトランジスタ・バイアス回路を提供することが有利である。
例示的な実施形態は、同相モード範囲を拡張するための方法及び装置を提供する。回路は、同相モード検出回路、同相モード電圧反転回路、及び差動増幅器を有する。同相モード検出回路は、差動信号を受信し、同相モード電圧を検出する。同相モード電圧反転回路は、同相モード検出回路に結合される。同相モード電圧反転回路は、同相モード電圧を受信する入力ノード、及びボディ電圧を出力する出力ノードを有し、同相モード電圧反転回路は、同相モード電圧とボディ電圧との間の逆相関(inverse relationship)を作り出す。差動増幅器は、同相モード電圧反転回路の出力ノードに結合される一対のボディ端子を有する、トランジスタの差動対を含み、一対のボディ端子を同相モード電圧反転回路の出力ノードに結合することにより、差動増幅器の同相モード範囲が拡張される。
本発明に特有のものであると考えられる新規な特徴は、添付の特許請求の範囲において述べられる。しかしながら、本発明自体、並びに、その好ましい使用モード、さらなる目的及び利点は、添付の図面と併せて読まれる以下の例示的な実施形態の詳細な説明を参照することで最も良く理解される。
例示的な実施形態による回路システムを示すブロック図である。 例示的な実施形態による、差動増幅器に接続したボディバイアス回路を示す回路図である。 例示的な実施形態による回路のボディ電圧と同相モード電圧との間の関係を示すグラフである。 例示的な実施形態による回路の閾値電圧とボディ・ソース間電圧との間の関係を示すグラフである。 例示的な実施形態による回路の閾値電圧と同相モード電圧との間の関係を示すグラフである。 例示的な実施形態による回路のゲート・ソース間電圧と同相モード電圧との間の関係を示すグラフである。 例示的な実施形態による、所与の低い同相モード電圧に対する差動増幅器の挙動を示す回路図である。 例示的な実施形態による、所与の高い同相モード電圧に対する差動増幅器の挙動を示す回路図である。 例示的な実施形態による、低い同相モードにおける同相モード範囲の増大についてのシミュレーションの結果を示すグラフである。 例示的な実施形態による、高い同相モードにおける同相モード範囲の増大についてのシミュレーションの結果を示すグラフである。
ここで図面を参照し、特に図1を参照すると、回路システム116のブロック図は例示的な実施形態に従って描かれている。差動信号100は、同相モード検出回路102及び差動増幅器110の両方で受信される。同相モード検出回路102は、差動信号100を監視して、差動信号100の同相モード電圧104を求める。同相モード電圧104は、同相モード反転回路106を通って、ボディ電圧108を作り出す。ボディ電圧108は、同相モード電圧104に対して逆相関の関係を有し、それによって差動増幅器110の同相モード範囲を拡張する。差動増幅器110は、出力信号114を生成する。この例示的な実施形態において、回路システム116は、同相モード検出回路102、同相モード反転回路106、及び差動増幅器110で構成されているが、付加的な回路を回路システム116に追加することができる。
ここで図2を参照すると、差動増幅器に接続されたボディバイアス回路を示す回路図が例示的な実施形態に従って描かれている。差動増幅器252は、入力トランジスタ222及び224を含む。この例において、入力トランジスタ222及び224はn型金属酸化膜半導体(NMOS)電界効果トランジスタである。入力トランジスタ222及び224は、そのゲート端子が差動信号200を受信するように接続されており、そのソース端子はトランジスタ244のドレイン端子に連結されている。テール電流248は、トランジスタ244を通過する。入力トランジスタ222及び224のボディ端子は、互いに連結され、ボディ電圧220によって表される演算増幅器212の出力に接続される。差動増幅器252は、さらに、供給電圧242(Vsupply)、負荷抵抗器236及び238、並びに出力ノード240及び234を含み、図1における出力信号114のような出力信号は出力ノード240及び234上で生成される。この例においてはNMOSトランジスタが用いられているが、PMOSトランジスタを差動増幅器252のための入力トランジスタとして用いることもできる。
入力トランジスタ222及び224は、差動増幅器252の入力デバイスであり、差動増幅器252の同相モード範囲及び線形性能にとって重要である。差動増幅器252の線形応答のためには、入力トランジスタ222及び224がバイアスされたままであること、及び飽和モードのままであることが必要とされる。入力トランジスタ222及び224の両方が飽和モードのままである入力電圧信号の範囲が大きいほど、差動増幅器252の同相モード範囲は大きくなる。NMOSトランジスタの飽和モードバイアスは、トランジスタのゲートからソースまでの間の電圧降下より高いままとどまるトランジスタのドレインからソースまでの間の電圧降下(VDS)から、閾値電圧(VTH)を差し引くことによって求められる。高い同相モード電圧範囲のためには、差動増幅器252は、高めの閾値電圧でバイアスされる方が良い。低い同相モード電圧範囲のためには、差動増幅器252は、低めの閾値電圧でバイアスされる方が良い。
NMOSトランジスタの閾値電圧(VTH)は、トランジスタのボディ効果によって調整することができる。トランジスタのボディ端子からトランジスタのソース端子までの電圧降下(VBS)は、トランジスタの閾値電圧に対して逆相関の関係を有する。したがって、VBSが減少するにつれてVTHは増大し、逆もまた同様である。
この例示的な例において、同相モード範囲を拡張するために、ボディ効果が用いられる。この実施形態において、ボディバイアス回路250を用いて、入力トランジスタ222及び224のVBSが操作される。ボディバイアス回路250は、抵抗器202及び204を含み、これらの抵抗器は、差動信号200を受信し、かつキャパシタ206との共通ノードに接続されて図1における同相モード検出回路102のような検出回路を形成する。同相モード電圧208(Vcm)は、抵抗器202及び204並びにキャパシタ206によって差動信号200が濾波されたときに検出される。同相モード電圧208は、演算増幅器212を通過して、ボディ電圧220(Vbody)を生成する。抵抗器214及び215は、演算増幅器212の応答を反転増幅器の応答に変える。従って、ボディ電圧220は、同相モード電圧208に対して逆相関の関係を有する。ボディ電圧220は、入力トランジスタ222及び224のボディ端子に接続され、Vbsに対して正相関(direct relationship)の関係を有する。結果として、ボディ電圧220が同相モード電圧208を反転させることよって生成され、かつボディ端末に接続される場合、VcmとVTHは正相関を有する。言い換えると、閾値電圧は、高い同相モードで上がり、低い同相モードで下がる。閾値電圧と同相モード電圧との間のこの正相関によって、入力トランジスタ222及び224をより広範囲の同相モード電圧入力にわたって飽和モードでバイアスされたままとすることが可能になり、従って、この差動増幅器のためのより広い同相モード範囲が生成される。図1における回路システム116において使用される回路の一例として、図2にはボディバイアス回路250及び差動増幅器252が描かれているが、本発明の範囲から逸脱することなく付加的な回路を回路システム116に追加することができる。
さらに、この例示的な実施形態の回路は、検出された同相モード電圧の範囲に対して最適化することができる。演算増幅器212の利得パラメータは、入力抵抗器214(R1)、フィードバック抵抗器215(R2)及び基準電圧218(Vref)によって制御される。これらの構成要素のパラメータを調整することで、ボディ電圧220と同相モード電圧208との間の関係を変えることができ、検出された同相モード電圧範囲の変化に対する、より鋭い応答又はより平坦な応答が可能となる。検出される同相モード電圧範囲の変化に対する応答が調整可能であることで、異なるボディ効果パラメータに対して回路を同調させることが可能となり、所望の差動増幅器性能を生じさせることが可能になる。
抵抗器214、215及び演算増幅器212から形成される反転増幅器は、図1における同相モード反転回路106のような回路の一例として使用されており、同相モード電圧208とボディ電圧220との間に逆相関を作り出す。この関係を作り出すために、例えば、共通ソース増幅器、インバータ又はコンパレータのような他の種類の反転回路を用いてもよい。
ここで図3−図6を参照すると、回路の種々のノード間の電圧関係を示すグラフが例示的な実施形態に従って描かれている。図3のグラフ300は、ボディ電圧302と同相モード電圧304との間の逆相関を基準電圧306(Vref)に対して示す。この逆相関は、同相モード電圧304を図2における演算増幅器212のような同相モード反転回路に通すことによって作る出すことができる。同相モード電圧304は、図2において差動信号200から検出される同相モード電圧208のような、入力差動信号から検出される同相モードとすることができる。この逆相関は、以下のボディ対同相モードの式によって表され、
Figure 2011061789

逆相関の傾きは、基準電圧306に対して−R2/R1に等しい。
図4のグラフ400は、図2における入力トランジスタ222及び224のようなNMOSトランジスタについて、閾値電圧402とボディ・ソース間電圧404との間のボディ効果を示す。このボディ効果もまた逆相関を作り出す。従って、トランジスタのボディ・ソース間電圧404が増大するにつれ、閾値電圧402は指数関数的に減少する。このボディ効果は以下のボディ効果の式によって表され、
Figure 2011061789

式中、VT0406はVBS=0の場合の閾値電圧であり、γはボディ効果パラメータであり、
Figure 2011061789

はトランジスタの表面電位である。
図5のグラフ500は、図2における入力トランジスタ222及び224のようなトランジスタについて、閾値電圧402と同相モード電圧304との間の正相関を示す。従って、同相モード電圧304が増大するにつれてトランジスタの閾値電圧402が増大し、トランジスタの同相モード範囲が広がる。これらの関係は以下の式によって表され、
Figure 2011061789

これは、ボディ・ソース間電圧404を同相モード電圧304に代入したボディ効果式であり、式中、VGSはトランジスタのゲート・ソース間電圧であり、同相モード電圧304から、図2における入力トランジスタ224及び222のような例示的な実施形態による回路におけるトランジスタのソース電圧を差し引いたものに等しい。次に、前式を、図2におけるボディバイアス回路250におけるようなR1、R2及びVrefに関して整理することで、以下の式が得られる。
Figure 2011061789

この式は、さらに、上述の利得パラメータのような回路の最適化に対する制御を与える。これらの式は、VTHに対するVGS依存性のわずかな影響を無視しているので、近似式である。
図6のグラフ600は、図2における入力トランジスタ224及び222のようなトランジスタについて、ゲート・ソース電圧602と同相モード電圧304との間の正相関を、一定のドレイン・ソース電流に対して示す。この正相関は以下の式によって表され、
Figure 2011061789

式中、VDSは、トランジスタの両端間のドレイン・ソース間電流を表し、βはプロセス・パラメータである。図5に示されるように、閾値電圧402は入力同相モード電圧304が増大するにつれて増大するので、ゲート・ソース間電圧602が増大する。ゲート・ソース間電圧602が増大すると、ドレイン・ソース間電圧が増大するので、高い同相モードにおいて、図2における入力トランジスタ224及び222のような入力トランジスタのバイアスが改善される。逆に、より低い同相モード電圧304では、閾値電圧402は減少し、これが、入力トランジスタ224及び222のゲート・ソース間電圧602を減少させる。ゲート・ソース間電圧602が減少すると、図2におけるトランジスタ244のような電流源のドレイン・ソース間電圧が増大するので、低い同相モードにおいて、電流源のバイアスが改善される。これらの式もまた、VTHに対するVGS依存性のわずかな影響を無視しているので近似式である。
ここで図7及び図8を参照すると、異なる所与の同相モード電圧に対する差動増幅器の挙動を示す回路図が、例示的な実施形態に従って描かれている。回路図は、図7において低い同相モードで動作する差動増幅器700を示し、図8において高い同相モードで動作する差動増幅器700を示す。図7における低い同相モード702及び図8における高い同相モード802は、差動信号入力の同相モード電圧を記号で表したものである。
同相モード入力が低い(低い同相モード702)場合には、ボディ電圧704は、図2におけるボディバイアス回路250によって作り出されるような逆相関に起因して上昇する。ボディ効果式によって表されるボディ効果は、トランジスタ722及び724の閾値電圧を低下させる。閾値電圧の低下は、ゲート・ソース間電圧706を低下させる。ゲート・ソース間電圧706の低下は、図6のグラフ600によって示されるような同相モード電圧で作り出される正相関から生じる。ゲート・ソース間電圧706が低いと、トランジスタ744の両端間のドレイン・ソース間電圧708(VDS3)を高くすることが可能になる。トランジスタ744は、差動増幅器700に対する電流源としての役割を果たし、テール電流710が電流を表す。トランジスタ744の両端に高めのドレイン・ソース間電圧708がかかることで、低い同相モード702入力にもかかわらず、トランジスタ744を飽和モードでバイアスされたままにすることが可能になる。飽和モードでのトランジスタ744のバイアスは、差動増幅器700が低い同相モード702で適切に動作することを可能にし、それにより、差動増幅器700の同相モード範囲が低い同相モード電圧範囲に対して拡張される。
同相モード入力が高い(高い同相モード802)場合には、図2におけるボディバイアス回路250によって作り出されるような逆相関がボディ電圧804を低下させる。ボディ効果式によって表されるボディ効果は、トランジスタ722及び724の閾値電圧を上昇させる。閾値電圧の上昇により、検出された同相モード電圧が高めの範囲の場合に、トランジスタ722及び724は、バイアスされたままで、飽和モードのままであることが可能になる。ゲート・ソース間電圧806は、図6のグラフ600によって示されるように、同相モード電圧で作り出される正相関の結果として上昇する。ゲート・ソース間電圧806の上昇は、トランジスタ744の両端間のドレイン・ソース間電圧808を低下させる。低めのドレイン・ソース間電圧808は、トランジスタ722及び724のドレイン・ソース間電圧810を増大させ、トランジスタ722及び724を飽和モードにおいてバイアスされたまま保持する。トランジスタ722及び724は飽和モードでバイアスされたままであるので、トランジスタ722及び724の小さい信号利得は、比較的一定のままとなる。より高いゲート・ソース間電圧806は、トランジスタ744の両端間のドレイン・ソース間電圧808を低下させる。高い同相モード802において、ドレイン・ソース間電圧808は、高い同相モード802の場合には一般に高いので、トランジスタ744のバイアスはそれほど問題にならない。ドレイン・ソース間電圧808を低下させることで、トランジスタ722及び724の両端間でより高めのドレイン・ソース間電圧810が可能になる。トランジスタ722及び724の両端間でドレイン・ソース間電圧810が高めであることに起因して、トランジスタ722及び724は、高い同相モード802に対して、飽和モードでバイアスされたままであることが可能となり、差動増幅器700の利得性能が高まる。
ここで図9及び図10を参照すると、所与の同相モード電圧に対する同相モード範囲の増大についてのシミュレーション結果を例示するグラフが、例示的な実施形態に従って示される。図9は、低い同相モードにおける、信号906及び908の同相モード電圧902に対するDC利得904を示す。信号906は、図2によって示されるような、ボディ端子がボディバイアス回路に接続された差動増幅器からの信号のグラフを示す。信号908は、ボディバイアス回路を使用しない差動増幅器からの信号を示す。むしろ、ボディ端子は、高い同相モードの差動増幅器設定において通常用いられるように、接地に連結される。DC利得の最大許容レベル910を有する用途の場合には、低い同相モードにおけるシミュレーションの間に検出される同相モード範囲の増大は、50%を超える。同様に、図10は、高い同相モードにおける、信号1006及び1008の同相モード電圧1002に対するDC利得1004を示す。信号1006は、図2によって示されるような、ボディ端子がボディバイアス回路に接続された差動増幅器からの信号のグラフを示す。信号1008は、ボディバイアス回路を使用しない差動増幅器からの信号を示す。むしろ、ボディ端子は、低い同相モードの差動増幅器設定において通常用いられているように、600mVに設定される。DC利得の最小許容レベル1010を有する用途の場合には、高い同相モードにおけるシミュレーション間に検出される同相モード範囲の増大は、25%を超える。
記載した本発明の実施形態には、差動増幅器の同相モード範囲を拡張することに加えて、いくつかの更なる利点がある。入力デバイス及び電流源デバイスがより理想的な位置においてバイアスされるので、差動増幅器性能が改善される。それゆえ、増幅器のDC利得の精度が改善され、AC応答がより平坦になり、ジッタ性能が改善される。入力同相モード範囲にわたってバイアスするより良好な飽和モードで、電流源インピーダンスがより高くなり、差動増幅器の同相モード除去もまた改善される。このボディバイアス手法によって、電流源インピーダンスが高まるという更なる利点がある。ソース・デジェネレーションが差動増幅器内に実装される場合、得られる差動増幅器のDC利得はより正確なものになる。これは、ソース・デジェネレーション抵抗が非常に高い、非常に低いDC利得の用途に特に当てはまる。
上述のような回路は、集積回路チップのための設計の一部である。チップ設計は、グラフィカル・コンピュータ・プログラミング言語で作成され、コンピュータ・ストレージ媒体(例えば、ディスク、テープ、物理的ハード・ドライブ、又は、例えばストレージ・アクセス・ネットワーク内の仮想ハード・ドライブ)に格納される。設計者が、チップ又はチップを製造するために使用されるフォトリソグラフィ・マスクを製造しない場合には、設計者は、得られた設計を物理的手段によって(例えば、設計を格納したストレージ媒体のコピーを提供することによって)又は電子的に(例えば、インターネットを介して)を、そのような企業体に直接的又は間接的に渡す。格納された設計は、次に、フォトリソグラフィ・マスクの製造に適したフォーマット(例えば、GDSII)に変換され、これは、典型的には、ウェハ上に形成されるべき当該チップ設計の複数のコピーを含む。フォトリソグラフィ・マスクを利用して、エッチング又はそれ以外の処理が行われるウェハ(及び/又はその上の層)の領域が定められる。
本発明の説明を例示及び説明の目的で提示してきたが、これは、網羅的であることも、本発明を開示された形態に限定することも意図していない。多くの修正及び変更が、当業者には明らかである。実施形態は、本発明の原理、実際の用途を最も良く説明するため、及び、他の当業者が本発明を意図される特定の使用に適したものとして種々の修正を有する種々の実施形態について理解できるように、選択され、かつ説明された。
100、200:差動信号
102:同相モード検出回路
104、208、304:同相モード電圧
106:同相モード反転回路
108、220、302、704、804:ボディ電圧
110、252、700:差動増幅器
114:出力信号
116:回路システム
202、204、214、215:抵抗器
206:キャパシタ
212:演算増幅器
218、306:基準電圧
222、224、722、724:入力トランジスタ
234、240:出力ノード
236、238:負荷抵抗器
242:供給電圧
244、744:トランジスタ
248、710:テール電流
250:ボディバイアス回路
402:閾値電圧
404:ボディ・ソース間電圧

Claims (20)

  1. 差動信号を受信し、同相モード電圧を検出するための同相モード検出回路と、
    前記同相モード検出回路に結合された同相モード電圧反転回路であって、前記同相モード電圧を受信するための入力ノードとボディ電圧を出力するための出力ノードとを有し、前記同相モード電圧と前記ボディ電圧との間に逆相関を作り出す、同相モード電圧反転回路と、
    前記同相モード電圧反転回路の前記出力ノードに結合された一対のボディ端子を有するトランジスタの差動対を含む、差動増幅器と
    を含む回路。
  2. 前記同相モード検出回路が、前記受信された差動信号の前記同相モード電圧を検出するための、一対の並列抵抗とフィルタリング・キャパシタとを含む、請求項1に記載の回路。
  3. 前記同相モード電圧反転回路が、
    前記入力ノードに結合された入力抵抗を有する入力抵抗器と、
    前記入力抵抗器と前記出力ノードとの間に結合されたフィードバック抵抗を有するフィードバック抵抗器と、
    基準電圧と
    を含む、請求項2に記載の回路。
  4. 前記入力抵抗、前記フィードバック抵抗及び前記基準電圧が、前記同相モード電圧と前記ボディ電圧との間に所望の逆相関を作り出すように、前記一対の並列抵抗器によって検出される前記同相モード電圧に基づいて調整される、請求項3に記載の回路。
  5. 前記トランジスタの差動対が、飽和モードで動作するために閾値電圧を要求すること、
    前記ボディ電圧が、前記トランジスタの差動対の前記閾値電圧を調整すること、
    前記差動増幅器が、前記差動信号を受信すること、及び
    前記同相モード電圧と前記ボディ電圧との間の前記所望の逆相関が、前記受信された差動信号の前記検出された同相モード電圧に対して、前記トランジスタの差動対が前記飽和モードで動作することを可能にすること
    をさらに含む、請求項4に記載の回路。
  6. 前記同相モード検出回路によって検出される所与の範囲の電圧に対して前記飽和モードで動作する前記トランジスタの差動対が、前記差動増幅器の同相モード範囲を拡張する、請求項5に記載の回路。
  7. 前記同相モード電圧が反転演算増幅器を通過することで、前記同相モード電圧と前記ボディ電圧との間に前記逆相関が作り出される、請求項3に記載の回路。
  8. 前記差動増幅器が、前記差動信号を受信し、増大した又は減少した電圧信号を出力するための可変利得増幅器である、請求項7に記載の回路。
  9. 差動増幅器の同相モード範囲を拡張するための方法であって、
    同相モード検出回路において差動信号を受信すること、
    前記同相モード検出回路から同相モード電圧を出力すること、
    前記同相モード検出回路に結合された同相モード電圧反転回路の入力ノードにおいて前記同相モード電圧を受信すること、
    前記同相モード電圧反転回路の出力ノードにおいてボディ電圧を出力することであって、前記同相モード電圧反転回路が、前記同相モード電圧と前記ボディ電圧との間に逆相関を作り出すこと、及び
    前記同相モード電圧反転回路の前記出力ノードを前記差動増幅器のトランジスタの差動対の一対のボディ端子に結合すること
    を含む方法。
  10. 前記同相モード検出回路が、一対の並列抵抗器とフィルタリング・キャパシタとを含み、前記方法が、
    前記一対の並列抵抗器及び前記フィルタリング・キャパシタによって、前記受信された差動信号の前記同相モード電圧を検出すること
    をさらに含む、請求項9に記載の方法。
  11. 前記同相モード電圧反転回路が、入力抵抗を有する入力抵抗器と、フィードバック抵抗を有するフィードバック抵抗器と、基準電圧とを含み、前記方法が、
    前記入力抵抗器を前記入力ノードに結合すること、及び
    前記入力抵抗器と前記出力ノードとの間に前記フィードバック抵抗器を結合すること
    をさらに含む、請求項10に記載の方法。
  12. 前記入力抵抗、前記フィードバック抵抗及び前記基準電圧を、前記同相モード電圧と前記ボディ電圧との間に所望の逆相関を作り出すように、前記一対の並列抵抗器によって検出される前記同相モード電圧に基づいて調整すること
    をさらに含む、請求項11に記載の方法。
  13. 前記トランジスタの差動対が飽和モードで動作するために、前記トランジスタの差動対の閾値電圧を要求すること、
    前記ボディ電圧によって、前記トランジスタの差動対の前記閾値電圧を調整すること、
    前記差動増幅器によって、前記差動信号を受信すること、及び
    前記トランジスタの差動対によって、前記受信された差動信号の前記検出された同相モード電圧に対して前記飽和モードで動作することであって、前記同相モード電圧と前記ボディ電圧との間の前記所望の逆相関が、前記検出された同相モード電圧に対して前記飽和モードでの動作を可能にすること
    をさらに含む、請求項12に記載の方法。
  14. 前記同相モード検出回路によって検出される所与の範囲の電圧に対して前記飽和モードで動作する前記トランジスタの差動対によって、前記差動増幅器の同相モード範囲を拡張することをさらに含む、請求項13に記載の方法。
  15. 前記同相モード電圧を反転演算増幅器に通すことによって、前記同相モード電圧と前記ボディ電圧との間に前記逆相関が作り出される、請求項10に記載の方法。
  16. 前記差動増幅器が、前記差動信号を受信し、増大した又は減少した電圧信号を出力するための可変利得増幅器である、請求項15に記載の方法。
  17. 差動信号を受信するための装置であって、
    前記差動信号を受信し、かつ同相モード電圧を検出するための、一対の並列抵抗器及びフィルタリング・キャパシタと、
    入力抵抗器とフィードバック抵抗器と基準電圧とを有する反転演算増幅器であって、該反転演算増幅器は、前記同相モード電圧を受信し、かつボディ電圧を出力するためのものであり、前記同相モード電圧は前記ボディ電圧に対して逆相関を有し、前記逆相関は、前記入力抵抗器、前記フィードバック抵抗器及び前記基準電圧のための値の組に基づいて制御される、反転演算増幅器と、
    一対のボディ端子を有するトランジスタの差動対を含む差動増幅器であって、前記一対のボディ端子が、前記反転演算増幅器の出力ノードに結合され、前記ボディ電圧を受信する、差動増幅器と
    を含む装置。
  18. 前記トランジスタの差動対が、飽和モードで動作するために閾値電圧を要求すること、
    前記ボディ電圧が、調整される前記トランジスタの差動対の前記閾値電圧を調整すること、
    前記差動増幅器が、前記差動信号を受信すること、
    前記同相モード電圧と前記ボディ電圧との間の前記逆相関が、前記受信された差動信号の前記検出された同相モード電圧に対して、前記トランジスタの差動対が前記飽和モードで動作することを可能にすること、
    検出される所与の範囲の電圧に対して前記飽和モードで動作する前記トランジスタの差動対が、前記装置の同相モード範囲を拡張すること、及び
    前記差動増幅器が、前記差動信号を受信し、増大した又は減少した電圧信号を出力するための可変利得増幅器であること
    をさらに含む、請求項17に記載の装置。
  19. 前記差動増幅器の電流源をさらに含み、前記電流源は、ドレイン端子を有するテールトランジスタを含み、前記ドレイン端子は、前記トランジスタの差動対のソース端子に結合され、前記差動信号の低い同相モード電圧を検出することに応答して、前記同相モード電圧と前記ボディ電圧との間の前記逆相関が前記テールトランジスタのドレイン・ソース間電圧を上昇させる、請求項17に記載の装置。
  20. 前記差動増幅器の電流源をさらに含み、前記電流源は、ドレイン端子を有するテールトランジスタを含み、前記ドレイン端子は前記トランジスタの差動対のソース端子に結合され、前記差動信号の高い同相モード電圧を検出することに応答して、前記同相モード電圧と前記ボディ電圧との間の前記逆相関が前記テールトランジスタのドレイン・ソース間電圧を低下させる、請求項17に記載の装置。
JP2010199510A 2009-09-10 2010-09-07 差動増幅器入力回路のための適応同相モードバイアス Expired - Fee Related JP5443305B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US12/557139 2009-09-10
US12/557,139 US7893766B1 (en) 2009-09-10 2009-09-10 Adaptive common mode bias for differential amplifier input circuits

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011061789A true JP2011061789A (ja) 2011-03-24
JP5443305B2 JP5443305B2 (ja) 2014-03-19

Family

ID=43597114

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010199510A Expired - Fee Related JP5443305B2 (ja) 2009-09-10 2010-09-07 差動増幅器入力回路のための適応同相モードバイアス

Country Status (3)

Country Link
US (1) US7893766B1 (ja)
JP (1) JP5443305B2 (ja)
KR (1) KR20110027584A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2018083797A1 (ja) * 2016-11-07 2018-11-01 三菱電機株式会社 差動増幅回路及び電圧バッファ回路
JP2019033414A (ja) * 2017-08-09 2019-02-28 富士電機株式会社 差動回路およびopアンプ

Families Citing this family (40)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9077386B1 (en) 2010-05-20 2015-07-07 Kandou Labs, S.A. Methods and systems for selection of unions of vector signaling codes for power and pin efficient chip-to-chip communication
US9288082B1 (en) * 2010-05-20 2016-03-15 Kandou Labs, S.A. Circuits for efficient detection of vector signaling codes for chip-to-chip communication using sums of differences
US8138833B1 (en) * 2010-10-08 2012-03-20 Texas Instruments Incorporated Common-mode feedback amplifier
US8890601B2 (en) * 2011-11-11 2014-11-18 Qualcomm Incorporated Method, system, and circuit with a driver output interface having a common mode connection coupled to a transistor bulk connection
TWI458256B (zh) * 2012-01-02 2014-10-21 Anpec Electronics Corp 基極偏壓控制裝置及放大器
US8665021B2 (en) * 2012-07-17 2014-03-04 Analog Devices, Inc. Apparatus and methods for amplifier power supply control
US8902005B2 (en) * 2012-09-25 2014-12-02 Analog Devices, Inc. Apparatus and method for wide common mode difference
GB2516878B (en) * 2013-08-02 2016-12-07 Cirrus Logic Int Semiconductor Ltd Read-out for MEMS capacitive transducers
US9524798B2 (en) * 2013-08-06 2016-12-20 Stmicroelectronics International N.V. Data sampler circuit
DE102013018076B4 (de) 2013-11-26 2019-05-16 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Vorrichtung zur Differenzverstärkung mit einer Erweiterung des Gleichtakteingangsspannungsbereiches
KR101478037B1 (ko) * 2014-04-14 2015-01-02 홍익대학교 산학협력단 저스윙 저전력 니어-그라운드 시그널링 송수신기 및 그 동작 방법
US9906195B2 (en) 2014-12-04 2018-02-27 Samsung Display Co., Ltd. High bandwidth amplifier
US10008928B2 (en) * 2015-08-14 2018-06-26 Intersil Americas LLC Enhanced switched capacitor filter (SCF) compensation in DC-DC converters
EP3408935B1 (en) 2016-01-25 2023-09-27 Kandou Labs S.A. Voltage sampler driver with enhanced high-frequency gain
US10003454B2 (en) 2016-04-22 2018-06-19 Kandou Labs, S.A. Sampler with low input kickback
WO2017185070A1 (en) 2016-04-22 2017-10-26 Kandou Labs, S.A. Calibration apparatus and method for sampler with adjustable high frequency gain
US10320337B2 (en) * 2016-08-30 2019-06-11 Cirrus Logic, Inc. Fully-differential operational amplifier system
US10848108B2 (en) 2016-10-14 2020-11-24 Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) Power amplifier
US10200218B2 (en) 2016-10-24 2019-02-05 Kandou Labs, S.A. Multi-stage sampler with increased gain
US10523166B2 (en) * 2017-06-07 2019-12-31 Analog Devices Global Differential amplifier with modified common mode rejection, and to a circuit with an improved common mode rejection ratio
JP2019033386A (ja) * 2017-08-08 2019-02-28 株式会社村田製作所 差動増幅回路
CN110086437A (zh) 2018-01-26 2019-08-02 华为技术有限公司 运算放大器和芯片
KR102469071B1 (ko) * 2018-02-06 2022-11-23 에스케이하이닉스 주식회사 비교 장치 및 그에 따른 씨모스 이미지 센서
US10931249B2 (en) 2018-06-12 2021-02-23 Kandou Labs, S.A. Amplifier with adjustable high-frequency gain using varactor diodes
WO2019241081A1 (en) 2018-06-12 2019-12-19 Kandou Labs, S.A. Passive multi-input comparator for orthogonal codes on a multi-wire bus
WO2020055888A1 (en) 2018-09-10 2020-03-19 Kandou Labs, S.A. Programmable continuous time linear equalizer having stabilized high-frequency peaking for controlling operating current of a slicer
US11152901B2 (en) * 2018-09-10 2021-10-19 Analog Devices, Inc. Amplifier
US11012044B2 (en) 2018-09-19 2021-05-18 Sensata Technologies, Inc. Amplifier with common mode detection
IT201900001941A1 (it) 2019-02-11 2020-08-11 St Microelectronics Des & Appl Circuito con l'utilizzo di mosfet e procedimento corrispondente
US10574487B1 (en) 2019-04-08 2020-02-25 Kandou Labs, S.A. Sampler offset calibration during operation
US10608849B1 (en) 2019-04-08 2020-03-31 Kandou Labs, S.A. Variable gain amplifier and sampler offset calibration without clock recovery
US10680634B1 (en) 2019-04-08 2020-06-09 Kandou Labs, S.A. Dynamic integration time adjustment of a clocked data sampler using a static analog calibration circuit
US10721106B1 (en) 2019-04-08 2020-07-21 Kandou Labs, S.A. Adaptive continuous time linear equalization and channel bandwidth control
US11081156B2 (en) * 2019-07-05 2021-08-03 Arm Limited Voltage regulation circuitry
JP2021121062A (ja) 2020-01-30 2021-08-19 旭化成エレクトロニクス株式会社 差動増幅器
US11522509B2 (en) 2021-03-08 2022-12-06 Cirrus Logic, Inc. Frequency-selective common-mode control and output stage biasing in an operational amplifier for a class-D amplifier loop filter
US11303484B1 (en) 2021-04-02 2022-04-12 Kandou Labs SA Continuous time linear equalization and bandwidth adaptation using asynchronous sampling
US11374800B1 (en) 2021-04-14 2022-06-28 Kandou Labs SA Continuous time linear equalization and bandwidth adaptation using peak detector
US11456708B1 (en) 2021-04-30 2022-09-27 Kandou Labs SA Reference generation circuit for maintaining temperature-tracked linearity in amplifier with adjustable high-frequency gain
CN115033048B (zh) * 2022-07-19 2023-09-15 浙江大学 具有共模锁定功能的检测电路、系统及方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000183672A (ja) * 1998-12-18 2000-06-30 Texas Instr Inc <Ti> 増幅回路
US6472939B2 (en) * 1998-12-11 2002-10-29 Micron Technology, Inc. Low power supply CMOS differential amplifier topology
US6509795B1 (en) * 2001-09-26 2003-01-21 Texas Instruments Incorporated CMOS input stage with wide common-mode range
JP2004343277A (ja) * 2003-05-14 2004-12-02 Mitsubishi Electric Corp 入力バッファ回路
JP2007251507A (ja) * 2006-03-15 2007-09-27 New Japan Radio Co Ltd 差動増幅回路

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6275094B1 (en) 1999-06-22 2001-08-14 International Business Machines Corporation CMOS device and circuit and method of operation dynamically controlling threshold voltage
US6590980B1 (en) * 2001-09-24 2003-07-08 Micrel, Incorporated Low voltage, low power operational amplifier with rail to rail output
US6642789B2 (en) * 2002-03-08 2003-11-04 Texas Instruments Incorporated Operational amplifier input stage and method
WO2006034313A1 (en) 2004-09-20 2006-03-30 The Trustees Of Columbia University In The City Ofnew York Low voltage operational transconductance amplifier circuits
US20060066393A1 (en) 2004-09-30 2006-03-30 Bradley Kendall Davis High-speed, low-power, low-skew, low-voltage differential receiver
US7554380B2 (en) 2005-12-12 2009-06-30 Icera Canada ULC System for reducing second order intermodulation products from differential circuits
US7579905B2 (en) * 2007-03-05 2009-08-25 Intel Corporation Reduced jitter amplification methods and apparatuses
JP5130857B2 (ja) * 2007-10-01 2013-01-30 ヤマハ株式会社 差動増幅器

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6472939B2 (en) * 1998-12-11 2002-10-29 Micron Technology, Inc. Low power supply CMOS differential amplifier topology
JP2000183672A (ja) * 1998-12-18 2000-06-30 Texas Instr Inc <Ti> 増幅回路
US6509795B1 (en) * 2001-09-26 2003-01-21 Texas Instruments Incorporated CMOS input stage with wide common-mode range
JP2004343277A (ja) * 2003-05-14 2004-12-02 Mitsubishi Electric Corp 入力バッファ回路
JP2007251507A (ja) * 2006-03-15 2007-09-27 New Japan Radio Co Ltd 差動増幅回路

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2018083797A1 (ja) * 2016-11-07 2018-11-01 三菱電機株式会社 差動増幅回路及び電圧バッファ回路
JP2019033414A (ja) * 2017-08-09 2019-02-28 富士電機株式会社 差動回路およびopアンプ

Also Published As

Publication number Publication date
KR20110027584A (ko) 2011-03-16
US7893766B1 (en) 2011-02-22
US20110057727A1 (en) 2011-03-10
JP5443305B2 (ja) 2014-03-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5443305B2 (ja) 差動増幅器入力回路のための適応同相モードバイアス
JP2009105810A (ja) 増幅装置及びバイアス回路
US10353421B2 (en) Current mirror device and related amplifier circuit
JP2006277360A (ja) 定電流回路、および定電流生成方法
US9785179B2 (en) Generating a current with inverse supply voltage proportionality
TW201725474A (zh) 電源開啟重置電路
US20040263211A1 (en) On-chip high-pass filter with large time constant
JP4191685B2 (ja) 差動増幅器
JP4855470B2 (ja) トランスコンダクタンスアンプ
JP4792503B2 (ja) トランスコンダクタンスアンプ
JP2006157644A (ja) カレントミラー回路
JP2009094878A (ja) 差動増幅回路
US8143877B2 (en) Semiconductor circuits capable of mitigating unwanted effects caused by input signal variations
JP7314042B2 (ja) 定電流回路
US9294044B2 (en) Bias circuit and amplifier
CN108075739B (zh) 可变增益放大器
JP5333514B2 (ja) 差動増幅器
JP4213146B2 (ja) 差動増幅器
JP2005080090A (ja) 差動増幅回路の出力電圧制御回路及び電圧検出器
JP2012244558A (ja) 差動増幅回路
JP6964880B2 (ja) コンダクタンスアンプ
US7532068B2 (en) Differential amplifier circuit
JP2007336025A (ja) Ota回路
JP2008283555A (ja) 可変トランスコンダクタ、可変ゲインアンプ、及びフィルタ回路
JP2003168965A (ja) 入力バッファ回路

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20130607

A871 Explanation of circumstances concerning accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871

Effective date: 20130805

A975 Report on accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005

Effective date: 20130822

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130827

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20131114

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20131203

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20131219

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5443305

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees