JPWO2018083797A1 - 差動増幅回路及び電圧バッファ回路 - Google Patents

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隆也 丸山
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Abstract

差動増幅回路(11)は、差動入力端子(INa,INb)と、第1及び第2の増幅トランジスタ(M1,M2)と、これら第1及び第2の増幅トランジスタのソース電極と電気的に接続された共通接続ノード(21c)と、共通接続ノード(21c)と第2電源ラインとの間に接続された定電流源(22)と、差動入力端子(INa,INb)に印加された入力電圧(Vinp,Vinn)から同相入力電圧(VC)を検出する電圧検出器(30)と、同相入力電圧(VC)に応じたコンダクタンス値を有する電流経路を第1電源ライン(10D)と共通接続ノード(21c)との間に形成する分流回路(40)とを備える。

Description

この発明は、差動増幅回路及びこれを備えた電圧バッファ回路に関する。
アナログ集積回路では、信号経路が差動化された、同相モード除去比(Common−Mode Rejection Ratio,CMRR)が高い差動型回路を採用することが望ましい。差動型回路は、不要輻射または外乱信号などのノイズが出力信号に重畳されることを抑制するので、当該ノイズによる信号品質の劣化もしくは次段の回路の誤動作を防止することができる。同相モード除去比(以下「CMRR」ともいう。)は、差動型回路の2つの入力端子に同相信号が印加されたとき、当該同相信号が回路に与える影響を抑制することができる能力を示す指標である(たとえば、非特許文献1)。CMRRの値が大きければ、ノイズが同相信号成分として差動型回路に印加されても、出力信号に現れるノイズ成分を小さくすることができる。よって、CMRRの値が大きいほど、差動型回路の性能が高いと評価される。
ところで、高周波(RF:Radio−Frequency)帯域で動作する典型的な電圧バッファ回路としては、ソースフォロアが挙げられる。しかしながら、この種のソースフォロアは、完全差動型(fully−differential)回路ではないため、上述のとおり、不要輻射または外乱信号などのノイズが出力信号に重畳されるという問題がある。この問題を解決するために、ソースフォロアの前段に差動増幅器を配置することで実効的に完全差動型の特性を有する電圧バッファ回路を構成することが可能である(たとえば、非特許文献2)。この種の電圧バッファ回路は、出力インピーダンスを下げることによって次段の回路に対する駆動能力を向上させ、ノイズの重畳量を少なくすることができる。
浅田邦博・松澤昭 共著,「アナログRF CMOS集積回路設計[基礎編]」,培風館,2011年。 D. Im, H. T. Kim, and K. Lee, "A CMOS resistive feedback differential low-noise amplifier with enhanced loop gain for digital TV tuner applications," IEEE Trans. Microw. Theory Tech., vol. 57, no. 11, pp. 2633-2642, 2009.(たとえば、Fig. 2 (c))
上述のとおり、ノイズ耐性を向上させるには、高いCMRRを有する差動型回路を採用することが望ましい。しかしながら、集積回路の微細化が進行すると、CMRRの値を大きくすることが難しいという課題がある。たとえば、微細CMOSデバイスの場合、電界効果トランジスタのゲート長の寸法が小さく、差動増幅器部分を構成するテール電流源の出力抵抗が小さいため、CMRRの値を大きくすることが難しい。非特許文献1によれば、典型的な差動増幅器のCMRRは、たとえば、次の近似式で与えられる。
CMRR=2×r×g
ここで、gは、当該差動増幅器の構成要素であるMOSトランジスタのトランスコンダクタンス、rは、当該差動増幅器の構成要素であるテール電流源の出力抵抗である。一般に、MOSトランジスタのゲート長に対するゲート幅の寸法が小さいほど、トランスコンダクタンスgの値が小さくなる。
上記に鑑みて本発明の目的は、CMRRの向上を可能とする差動増幅回路及び電圧バッファ回路を提供することである。
本発明の一態様による差動増幅回路は、第1及び第2の差動入力端子と、予め定められた第1の電源電圧を供給する第1電源ラインと、前記第1の電源電圧とは異なる第2の電源電圧を供給する第2電源ラインと、前記第1の差動入力端子と電気的に接続されたゲート電極を有するとともに、前記第1電源ラインと電気的に接続されたドレイン電極を有する電界効果トランジスタからなる第1の増幅トランジスタと、前記第2の差動入力端子と電気的に接続されたゲート電極を有するとともに、前記第1電源ラインと電気的に接続されたドレイン電極を有する電界効果トランジスタからなる第2の増幅トランジスタと、前記第1及び第2の増幅トランジスタのそれぞれのソース電極と電気的に接続された共通接続ノードと、前記共通接続ノードと前記第2電源ラインとの間に接続された定電流源と、前記第1及び第2の差動入力端子にそれぞれ印加された入力電圧から同相入力電圧を検出し、当該同相入力電圧を出力する電圧検出器と、前記共通接続ノードと前記第1電源ラインとの間に配置され、前記同相入力電圧に応じたコンダクタンス値を有する電流経路を形成する分流回路と、前記第1の増幅トランジスタの当該ドレイン電極及び前記第2の増幅トランジスタの当該ドレイン電極とそれぞれ電気的に接続された第1及び第2の差動出力端子とを備えることを特徴とする。
本発明によれば、分流回路は、電圧検出器で検出された同相入力電圧に応じたコンダクタンス値を有する電流経路を第1電源ラインと共通接続ノードとの間に形成することにより、高いCMRRを実現することができる。
本発明に係る実施の形態1である電圧バッファ回路の回路構成を概略的に示す図である。 本発明に係る実施の形態2である電圧バッファ回路の回路構成を概略的に示す図である。 本発明に係る実施の形態3である電圧バッファ回路の回路構成を概略的に示す図である。 本発明に係る実施の形態4である電圧バッファ回路の回路構成を概略的に示す図である。 本発明に係る実施の形態5である電圧バッファ回路の回路構成を概略的に示す図である。 図6Aは、実施の形態5の可変抵抗器の回路構成例を示す概略図であり、図6Bは、実施の形態5の可変抵抗器の他の回路構成例を示す概略図である。 本発明に係る実施の形態6である電圧バッファ回路の回路構成を概略的に示す図である。
以下、図面を参照しつつ、本発明に係る種々の実施の形態について詳細に説明する。なお、図面全体において同一符号を付された構成要素は、同一構成及び同一機能を有するものとする。
実施の形態1.
図1は、本発明に係る実施の形態1である電圧バッファ回路1の回路構成を概略的に示す図である。この電圧バッファ回路1は、差動増幅回路11とソースフォロア回路51とを備えて構成されている。差動増幅回路11は、差動入力端子INa,INb(第1及び第2の差動入力端子)を有し、第1電源ライン10Dから供給される電源電圧VDDと、第2電源ライン10Sから供給される電源電圧VSS(VSS<VDD)とを用いて、差動入力端子INa,INbに入力された信号を差動増幅することができる。たとえば、電源電圧VDDとして正電圧が、電源電圧VSSとしては負電圧がそれぞれ供給されればよい。
差動増幅回路11は、差動入力端子INa,INbにそれぞれ印加された入力電圧Vinp,Vinnの差分を増幅する差動増幅部を構成する差動対部21及び定電流源22の組み合わせと、これら入力電圧Vinp,Vinnから同相入力電圧Vを検出する電圧検出器30と、この電圧検出器30から同相入力電圧Vの供給を受けて動作する分流回路40と、差動出力端子OTa,OTb(第1及び第2の差動出力端子)とを備えている。
差動対部21は、増幅トランジスタM,Mの対からなる差動トランジスタ対を有する。これら増幅トランジスタM,Mの各々は、nチャネル型の電界効果トランジスタ(Field−Effect Transistor,FET)で構成されている。nチャネル型のFETとしては、MOS(Metal−Oxide−Semiconductor)FETを使用すればよい。図1に示されるように、一方の増幅トランジスタMは、差動入力端子INaと電気的に接続されているゲート電極と、第1電源ライン10Dと電気的に接続されているドレイン電極と、共通接続ノード21cと電気的に接続されているソース電極とを有する。他方の増幅トランジスタMは、差動入力端子INbと電気的に接続されているゲート電極と、第1電源ライン10Dと電気的に接続されているドレイン電極と、共通接続ノード21cと電気的に接続されているソース電極とを有している。
また、一方の増幅トランジスタMのドレイン電極と第1電源ライン10Dとの間に負荷抵抗Rが設けられ、他方の増幅トランジスタMのドレイン電極と第1電源ライン10Dとの間に負荷抵抗Rが設けられている。更に、一方の増幅トランジスタMのドレイン電極は、一方の差動出力端子OTaと電気的に接続されており、他方の増幅トランジスタMのドレイン電極は、差動出力端子OTbと電気的に接続されている。
差動増幅回路11の設計段階では、増幅トランジスタM,Mは、同一のトランジスタサイズ比αを有し且つ同一の電気的特性を有するように設計されており、負荷抵抗R,Rも、同一抵抗Rとなるように設定されている。ここで、トランジスタサイズ比αは、ゲート長Lに対するゲート幅Wの比率W/Lである。
定電流源22は、nチャネル型FETからなる定電流トランジスタMを有するテール電流源である。定電流トランジスタMのゲート電極には一定のバイアス電圧Vが印加され、定電流トランジスタMのソース電極には一定の電源電圧VSSが印加されている。このため、定電流トランジスタMは、定電流素子として機能する。この定電流トランジスタMのドレイン電極は、共通接続ノード21cと電気的に接続されている。
電圧検出器30は、互いに直列接続された抵抗素子31,32で構成されている。すなわち、抵抗素子31の一端と抵抗素子32の一端とが中間ノード30cを介して互いに接続されている。また、抵抗素子31の他端は、差動入力端子INaと電気的に接続され、抵抗素子32の他端は、差動入力端子INbと電気的に接続されている。これら抵抗素子31,32の抵抗値は同じである。このような電圧検出器30は、入力電圧Vinp,Vinnの同相成分である同相入力電圧Vを検出し、同相入力電圧Vを中間ノード30cから出力することができる。同相入力電圧Vは、入力電圧Vinp,Vinnの平均として検出される。
分流回路40は、共通接続ノード21cと第1電源ライン10Dとの間に接続されたnチャネル型FETからなる分流用トランジスタMを有している。この分流用トランジスタMは、電圧検出器30の中間ノード30cと電気的に接続されているゲート電極と、第1電源ライン10Dと電気的に接続されているドレイン電極と、共通接続ノード21cと電気的に接続されているソース電極とを有する。分流用トランジスタMのドレイン電極と第1電源ライン10Dとの間には負荷抵抗Rが設けられている。
ソースフォロア回路51は、電圧バッファ回路1の出力インピーダンスを低下させる機能を有する。図1に示されるように、ソースフォロア回路51は、差動増幅回路11の差動出力端子OTa,OTbとそれぞれ接続された入力端子51a,51bと、出力端子51c,51dとを備える。ソースフォロア回路51は、入力端子51a,51bに入力された出力電圧Vmp,Vmnに応じた出力電圧Voutp,Voutnを出力端子51c,51dから出力する。より具体的には、ソースフォロア回路51は、nチャネル型FETからなるトランジスタM11,M12と、nチャネル型FETからなる負荷トランジスタM13,M14とを備える。トランジスタM11は、入力端子51aと接続されているゲート電極と、第1電源ライン10Dと接続されているドレイン電極と、負荷トランジスタM13を介して第2電源ライン10Sと接続されているソース電極とを有する。負荷トランジスタM13のドレイン電極は、トランジスタM11のソース電極と電気的に接続されている。また、負荷トランジスタM13のゲート電極には一定のバイアス電圧Vが印加され、負荷トランジスタM13のソース電極には一定の電源電圧VSSが印加されている。ソースフォロア回路51の出力端子51cは、トランジスタM11のソース電極と電気的に接続されている。
他のトランジスタM12は、入力端子51bと接続されているゲート電極と、第1電源ライン10Dと接続されているドレイン電極と、負荷トランジスタM14を介して第2電源ライン10Sと接続されているソース電極とを有する。負荷トランジスタM14のドレイン電極は、トランジスタM12のソース電極と電気的に接続されている。また、負荷トランジスタM14のゲート電極には一定のバイアス電圧Vが印加され、負荷トランジスタM14のソース電極には一定の電源電圧VSSが印加されている。ソースフォロア回路51の出力端子51dは、トランジスタM12のソース電極と電気的に接続されている。
なお、ソースフォロア回路51は、複数のnチャネル型FETを用いて構成されているが、これに限定されるものではない。ソースフォロア回路51に代えて、複数のpチャネル型FETを用いて構成されたソースフォロア回路が採用されてもよい。
次に、上記した差動増幅回路11の動作について詳細に説明する。差動増幅回路11への差動入力信号は、同相入力成分と差動入力成分とに分けて考えることができる。同相入力成分である同相入力電圧Vと、差動入力成分である差動入力電圧Vは、それぞれ次式(1),(2)で与えられる。
Figure 2018083797

Figure 2018083797
差動入力成分に対する応答としては、その差動入力成分の振幅に応じた電流が差動対部21及び定電流源22に流れる。一方、同相入力成分に対する応答としては、その同相入力成分の振幅に応じた電流が差動対部21及び分流回路40の双方に流れるので、分流回路40が設けられていない場合と比べると、差動対部21における当該同相入力成分に対応する電流量は少ない。したがって、分流回路40は、差動出力成分に対する同相出力成分の割合を少なくすることができ、CMRRを向上させることができる。分流回路40に流れる電流量は、増幅トランジスタM,M各々のトランジスタサイズ比α(=W/L)と分流用トランジスタMのトランジスタサイズ比βとに依存する。ここで、分流用トランジスタMのトランジスタサイズ比βは、分流用トランジスタMのゲート長Lに対するゲート幅Wの比率W/Lで与えられる。トランジスタサイズ比αに対するトランジスタサイズ比βの比率を示す寸法比M(=β/α)が大きいほど、差動対部21における同相入力成分に対応する電流量が少なくなる。
ここで、分流用トランジスタMが同相入力電圧Vに対して線形領域で動作するように構成されている場合、分流回路40は、同相入力電圧Vの値に応じたコンダクタンス値を有する可変抵抗器として機能することができる。この場合、同相入力電圧Vの値が大きいほど、コンダクタンス値は大きくなる。
次に、共通接続ノード21cでの共通ソース電位をV、増幅トランジスタM,M各々のトランスコンダクタンスをg、テール電流源22の出力抵抗をrで表すものと仮定する。上述のとおり、分流用トランジスタMのトランジスタサイズ比βは、増幅トランジスタM,M各々のトランジスタサイズ比αのM倍である。このとき、次式(3)が成立する。
Figure 2018083797
この式(3)から共通ソース電位Vを求めることができる。すなわち、共通ソース電位Vは、次式(4)で与えられる。
Figure 2018083797
差動増幅回路11の出力電圧Vmp,Vmnは、それぞれ、次式(5),(6)で表すことができる。
Figure 2018083797

Figure 2018083797
ここで、差動対部21における負荷抵抗R,Rは、ともに同一抵抗Rである。
したがって、式(4)の右辺を式(5),(6)の共通ソース電位Vに代入すれば、出力電圧Vmp,Vmnを求めることができる。すなわち、出力電圧Vmp,Vmnは、次式(7),(8)で与えられる。
Figure 2018083797

Figure 2018083797
よって、差動増幅回路11の差動利得A及び同相利得Aは、次式(9),(10)で与えられる。
Figure 2018083797

Figure 2018083797
したがって、差動増幅回路11のCMRRは、近似的に次式(11)のとおりである。
Figure 2018083797
式(11)に示されるように、分流回路40が存在しない場合のCMRRの値(=2r)と比べると、差動増幅回路11のCMRRは、約(1+M/2)倍の値を有することが分かる。
以上に説明したように実施の形態1の差動増幅回路11では、分流回路40が、電圧検出器30で検出された同相入力電圧Vの値に応じたコンダクタンス値を有する電流経路を第1電源ライン10Dと共通接続ノード21cとの間に形成するので、CMRRの向上を実現することができる。したがって、優れたノイズ耐性を有する差動増幅回路11及び電圧バッファ回路1を提供することが可能である。また、電圧バッファ回路1が集積回路として構成された場合にその集積回路が微細化されても、高いCMRRを実現することができる。
実施の形態2.
上記実施の形態1の電圧バッファ回路1における差動増幅回路11及びソースフォロア回路51は、複数のFETを用いて構成されている。これらFETに代えて、バイポーラトランジスタを用いて電圧バッファ回路を構成することが可能である。図2は、本発明に係る実施の形態2の電圧バッファ回路2の回路構成を概略的に示す図である。この電圧バッファ回路2は、差動増幅回路12とエミッタフォロア回路52とを備えて構成されている。
図2に示されるように、差動増幅回路12は、差動入力端子INa,INb(第1及び第2の差動入力端子)を有し、第1電源ライン10Cから供給される電源電圧VCCと、第2電源ライン10Eから供給される電源電圧VEE(VEE<VCC)とを用いて、差動入力端子INa,INbに入力された信号を差動増幅する。たとえば、電源電圧VCCとして正電圧が、電源電圧VEEとしては負電圧がそれぞれ供給されればよい。
差動増幅回路12は、差動入力端子INa,INbにそれぞれ印加された入力電圧Vinp,Vinnの差分を増幅する差動対部23及び定電流源24の組み合わせと、これら入力電圧Vinp,Vinnから同相入力電圧Vを検出する電圧検出器30と、この電圧検出器30から同相入力電圧Vの供給を受けて動作する分流回路41と、差動出力端子OTa,OTb(第1及び第2の差動出力端子)とを備えている。
差動対部23は、増幅トランジスタQ,Qの対からなる差動トランジスタ対を有する。これら増幅トランジスタQ,Qの各々は、npn型バイポーラトランジスタで構成されている。図2に示されるように、一方の増幅トランジスタQは、差動入力端子INaと電気的に接続されているベース電極と、第1電源ライン10Cと電気的に接続されているコレクタ電極と、共通接続ノード23cと電気的に接続されているエミッタ電極とを有する。他方の増幅トランジスタQは、差動入力端子INbと電気的に接続されているベース電極と、第1電源ライン10Cと電気的に接続されているコレクタ電極と、共通接続ノード23cと電気的に接続されているエミッタ電極とを有している。
また、一方の増幅トランジスタQのコレクタ電極と第1電源ライン10Cとの間に負荷抵抗rが設けられ、他方の増幅トランジスタQのコレクタ電極と第1電源ライン10Cとの間に負荷抵抗rが設けられている。更に、一方の増幅トランジスタQのコレクタ電極は、差動出力端子OTaと電気的に接続されており、他方の増幅トランジスタQのコレクタ電極は、差動出力端子OTbと電気的に接続されている。差動増幅回路12の設計段階では、増幅トランジスタQ,Qは、同一の電気的特性を有するように設計されており、負荷抵抗r,rも、同一抵抗rとなるように設定されている。定電流源24は、共通接続ノード23cと第2電源ライン10Eとの間に接続されたテール電流源である。定電流源24は、図2に概略的に示されるように少なくとも1個のバイポーラトランジスタQを用いて構成されていればよい。
分流回路41は、共通接続ノード23cと第1電源ライン10Cとの間に接続されたnpn型バイポーラトランジスタからなる分流用トランジスタQを有している。この分流用トランジスタQは、電圧検出器30の中間ノード30cと電気的に接続されているベース電極と、第1電源ライン10Cと電気的に接続されているコレクタ電極と、共通接続ノード23cと電気的に接続されているエミッタ電極とを有する。分流用トランジスタQのコレクタ電極と第1電源ライン10Cとの間には負荷抵抗rが設けられている。
エミッタフォロア回路52は、電圧バッファ回路2全体の出力インピーダンスを低下させる機能を有する。図2に示されるように、エミッタフォロア回路52は、差動増幅回路12の差動出力端子OTa,OTbとそれぞれ接続された入力端子52a,52bと、出力端子52c,52dとを備える。エミッタフォロア回路52は、これら入力端子52a,52bに入力された出力電圧Vmp,Vmnにそれぞれ応じた出力電圧Voutp,Voutnを出力端子52c,52dから出力する。より具体的には、エミッタフォロア回路52は、npn型バイポーラトランジスタQ11,Q12と、定電流源53,54とを備えて構成される。npn型バイポーラトランジスタQ11は、入力端子52aと接続されているベース電極と、第1電源ライン10Cと接続されているコレクタ電極と、定電流源53を介して第2電源ライン10Eと接続されているエミッタ電極とを有する。エミッタフォロア回路52の出力端子52cは、npn型バイポーラトランジスタQ11のエミッタ電極と電気的に接続されている。
一方、npn型バイポーラトランジスタQ12は、入力端子52bと接続されているベース電極と、第1電源ライン10Cと接続されているコレクタ電極と、定電流源54を介して第2電源ライン10Eと接続されているエミッタ電極とを有する。エミッタフォロア回路52の出力端子52dは、npn型バイポーラトランジスタQ12のエミッタ電極と電気的に接続されている。
なお、エミッタフォロア回路52は、複数のnpn型バイポーラトランジスタを用いて構成されているが、これに限定されるものではない。エミッタフォロア回路52に代えて、複数のpnp型バイポーラトランジスタを用いて構成されたエミッタフォロア回路が採用されてもよい。
以上に説明したように実施の形態2の差動増幅回路12においても、分流回路41が、電圧検出器30で検出された同相入力電圧Vに応じたコンダクタンス値を有する電流経路を第1電源ライン10Cと共通接続ノード23cとの間に形成することができるので、CMRRの向上を実現することができる。したがって、優れたノイズ耐性を有する差動増幅回路12及び電圧バッファ回路2を提供することが可能である。また、電圧バッファ回路12が集積回路として構成された場合にその集積回路が微細化されても、高いCMRRを実現することができる。
実施の形態3.
次に、上記実施の形態1の変形例である実施の形態3について説明する。図3は、本発明に係る実施の形態3である電圧バッファ回路3の回路構成を概略的に示す図である。図3に示されるように、この電圧バッファ回路3は、差動増幅回路13とソースフォロア回路51とを備えて構成されている。差動増幅回路13とソースフォロア回路51とは、第1電源ライン10Dから供給される電源電圧VDDと、第2電源ライン10Sから供給される電源電圧VSSとを用いて動作する。
差動増幅回路13は、差動入力端子INa,INb(第1及び第2の差動入力端子)にそれぞれ印加された入力電圧Vinp,Vinnの差分を増幅する差動対部21及び定電流源22の組み合わせと、これら入力電圧Vinp,Vinnから同相入力電圧Vを検出する電圧検出器30と、同相入力電圧Vを利得Aで増幅して増幅電圧を出力する増幅器44と、増幅器44から出力された増幅電圧の供給を受けて動作する分流回路40と、差動出力端子OTa,OTb(第1及び第2の差動出力端子)とを備えている。
本実施の形態の電圧バッファ回路3の構成は、差動増幅回路13が増幅器44を有する点を除いて、上記実施の形態1の電圧バッファ回路1の構成と同じである。分流回路40の分流用トランジスタMのゲート電極には、増幅器44から供給された増幅電圧が印加される。これにより、同相入力成分に対応して分流回路40に流れる電流量を増やすことができる。差動増幅回路13のCMRRは、近似的に次式(12)で与えられる。
Figure 2018083797
以上に説明したように実施の形態3の差動増幅回路13では、分流回路40が、増幅器44で増幅された同相入力電圧に応じたコンダクタンス値を有する電流経路を第1電源ライン10Dと共通接続ノード21cとの間に形成することができるので、実施の形態1の場合と比べると、更なるCMRRの向上を実現することができる。したがって、優れたノイズ耐性を有する差動増幅回路13及び電圧バッファ回路3を提供することが可能である。また、電圧バッファ回路3が集積回路として構成された場合にその集積回路が微細化されても、高いCMRRを実現することができる。
実施の形態4.
上記実施の形態3の電圧バッファ回路3における差動増幅回路13及びソースフォロア回路51は、複数のFETを用いて構成されている。これらFETに代えて、バイポーラトランジスタを用いて電圧バッファ回路を構成することが可能である。図4は、本発明に係る実施の形態4である電圧バッファ回路4の回路構成を概略的に示す図である。この電圧バッファ回路4は、差動増幅回路14とエミッタフォロア回路52とを備えて構成されている。差動増幅回路14とエミッタフォロア回路52とは、第1電源ライン10Cから供給される電源電圧VCCと、第2電源ライン10Eから供給される電源電圧VEEとを用いて動作する。
差動増幅回路14は、差動入力端子INa,INb(第1及び第2の差動入力端子)にそれぞれ印加された入力電圧Vinp,Vinnの差分を増幅する差動対部23及び定電流源24の組み合わせと、入力電圧Vinp,Vinnから同相入力電圧Vを検出する電圧検出器30と、同相入力電圧Vを増幅して増幅電圧を出力する増幅器45と、増幅器45から出力された増幅電圧の供給を受けて動作する分流回路41と、差動出力端子OTa,OTb(第1及び第2の差動出力端子)とを備えている。
本実施の形態の電圧バッファ回路4の構成は、差動増幅回路14が増幅器45を有する点を除いて、上記実施の形態2の電圧バッファ回路2(図2)の構成と同じである。分流回路41の分流用トランジスタQのベース電極には、増幅器45から供給された増幅電圧が印加される。これにより、同相入力成分に対応して分流回路40に流れる電流量を増やすことができる。
以上に説明したように実施の形態4の差動増幅回路14では、分流回路41が、増幅器45で増幅された同相入力電圧に応じたコンダクタンス値を有する電流経路を第1電源ライン10Cと共通接続ノード23cとの間に形成することができるので、実施の形態2の場合と比べると、更なるCMRRの向上を実現することができる。したがって、優れたノイズ耐性を有する差動増幅回路14及び電圧バッファ回路4を提供することが可能である。また、電圧バッファ回路4が集積回路として構成された場合にその集積回路が微細化されても、高いCMRRを実現することができる。
実施の形態5.
次に、上記実施の形態1の他の変形例である実施の形態5について説明する。図5は、本発明に係る実施の形態5である電圧バッファ回路5の回路構成を概略的に示す図である。図5に示されるように、この電圧バッファ回路5は、差動増幅回路15とソースフォロア回路51とを備えて構成されている。差動増幅回路15とソースフォロア回路51とは、第1電源ライン10Dから供給される電源電圧VDDと、第2電源ライン10Sから供給される電源電圧VSSとを用いて動作する。
差動増幅回路15は、差動入力端子INa,INb(第1及び第2の差動入力端子)にそれぞれ印加された入力電圧Vinp,Vinnの差分を増幅する差動対部21及び定電流源22の組み合わせと、入力電圧Vinp,Vinnから同相入力電圧Vを検出する電圧検出器30と、この電圧検出器30から同相入力電圧Vの供給を受けて動作する分流回路42と、差動出力端子OTa,OTb(第1及び第2の差動出力端子)とを備えている。
本実施の形態の電圧バッファ回路5の構成は、差動増幅回路15が実施の形態1の分流回路40に代えて図5の分流回路42を有する点を除いて、上記実施の形態1の電圧バッファ回路1の構成と同じである。
本実施の形態の分流回路42は、第1電源ライン10Dと共通接続ノード21cとの間に接続された可変抵抗器46を有している。この可変抵抗器46は、同相入力電圧Vの値に応じたコンダクタンス値を有する電流経路を第1電源ライン10Dと共通接続ノード21cとの間に形成することができる。可変抵抗器46は、同相入力電圧Vの値が大きいほど、コンダクタンス値を大きくすることが可能である。よって、実施の形態1の場合と同様に、CMRRの向上を実現することができる。図6A及び図6Bは、このような可変抵抗器46の回路構成例である可変抵抗回路46A,46Bを示す概略図である。図6Aの可変抵抗回路46Aは、第1電源ライン10Dに接続された一端及び共通接続ノード21cに接続された他端を有する抵抗素子46aと、この抵抗素子46aに並列に接続されたnチャネル型FETからなる制御トランジスタMとを含んで構成される。制御トランジスタMにおいては、ドレイン電極が第1電源ライン10Dと電気的に接続され、ソース電極が共通接続ノード21cと電気的に接続され、ゲート電極に同相入力電圧Vが印加される。一方、図6Bの可変抵抗回路46Bは、第1電源ライン10Dに接続された一端を有する抵抗素子46bと、この抵抗素子46bの他端に直列に接続されたnチャネル型FETからなる制御トランジスタMとを含んで構成されている。制御トランジスタMにおいては、ドレイン電極が抵抗素子46bの他端と電気的に接続され、ソース電極が共通接続ノード21cと電気的に接続され、ゲート電極に同相入力電圧Vが印加される。なお、可変抵抗器46の回路構成は、図6A及び図6Bの可変抵抗回路46A,46Bに限定されるものではなく、可変抵抗回路46A,46B以外の回路構成を用いることも可能である。
以上に説明したように実施の形態5では、CMRRの向上を実現し優れたノイズ耐性を有する差動増幅回路15及び電圧バッファ回路5を提供することが可能である。また、電圧バッファ回路5が集積回路として構成された場合にその集積回路が微細化されても、高いCMRRを実現することができる。
実施の形態6.
上記実施の形態5の電圧バッファ回路5における差動増幅回路15及びソースフォロア回路51は、複数のFETを用いて構成されている。これらFETに代えて、バイポーラトランジスタを用いて電圧バッファ回路を構成することが可能である。図7は、本発明に係る実施の形態6である電圧バッファ回路6の回路構成を概略的に示す図である。この電圧バッファ回路6は、差動増幅回路16とエミッタフォロア回路52とを備えて構成されている。差動増幅回路16とエミッタフォロア回路52とは、第1電源ライン10Cから供給される電源電圧VCCと、第2電源ライン10Eから供給される電源電圧VEEとを用いて動作する。
差動増幅回路16は、差動入力端子INa,INb(第1及び第2の差動入力端子)にそれぞれ印加された入力電圧Vinp,Vinnの差分を増幅する差動対部23及び定電流源24の組み合わせと、入力電圧Vinp,Vinnから同相入力電圧Vを検出する電圧検出器30と、この電圧検出器30から同相入力電圧Vの供給を受けて動作する分流回路43と、差動出力端子OTa,OTb(第1及び第2の差動出力端子)とを備えている。
本実施の形態の電圧バッファ回路6の構成は、差動増幅回路16が実施の形態2の分流回路41に代えて図7の分流回路43を有する点を除いて、上記実施の形態2の電圧バッファ回路2の構成と同じである。
本実施の形態の分流回路43は、第1電源ライン10Cと共通接続ノード23cとの間に接続された可変抵抗器47を有する。この可変抵抗器47は、同相入力電圧Vの値に応じたコンダクタンス値を有する電流経路を第1電源ライン10Cと共通接続ノード23cとの間に形成することができる。可変抵抗器47は、同相入力電圧Vの値が大きいほど、コンダクタンス値を大きくすることが可能である。よって、実施の形態2の場合と同様に、CMRRの向上を実現することができる。また、電圧バッファ回路6が集積回路として構成された場合にその集積回路が微細化されても、高いCMRRを実現することができる。
以上、図面を参照して本発明に係る種々の実施の形態について述べたが、これら実施の形態は本発明の例示であり、これら実施の形態以外の様々な形態を採用することもできる。たとえば、実施の形態1,3,5の差動増幅回路11,13,15のいずれかと実施の形態2のエミッタフォロア回路52とを組み合わせて電圧バッファ回路が構成されてもよい。あるいは、実施の形態2,4,6の差動増幅回路12,14,16のいずれかと実施の形態1のソースフォロア回路51とを組み合わせて電圧バッファ回路が構成されてもよい。
なお、本発明の範囲内において、上記実施の形態1〜6の自由な組み合わせ、各実施の形態の任意の構成要素の変形、または各実施の形態の任意の構成要素の省略が可能である。
この発明に係る差動増幅回路及び電圧バッファ回路は、たとえば、高周波領域で動作するアナログ集積回路に用いられることに適している。
1〜6 電圧バッファ回路、11〜16 差動増幅回路、21,23 差動対部、21c,23c 共通接続ノード、22,24 定電流源、30 電圧検出器、40〜43 分流回路、44,45 増幅器、46,47 可変抵抗器、46A,46B 可変抵抗回路、51 ソースフォロア回路、52 エミッタフォロア回路、53,54 定電流源、M,M,Q,Q 増幅トランジスタ、M 定電流トランジスタ、M 分流用トランジスタ、M11,M12 電界効果トランジスタ、M13,M14 負荷トランジスタ、Q バイポーラトランジスタ、Q 分流用トランジスタ、Q11,Q12 バイポーラトランジスタ、INa,INb 差動入力端子、OTa,OTb 差動出力端子。
本発明の一態様による差動増幅回路は、第1及び第2の差動入力端子と、予め定められた第1の電源電圧を供給する第1電源ラインと、前記第1の電源電圧とは異なる第2の電源電圧を供給する第2電源ラインと、前記第1の差動入力端子と電気的に接続されたゲート電極を有するとともに、前記第1電源ラインと電気的に接続されたドレイン電極を有する電界効果トランジスタからなる第1の増幅トランジスタと、前記第2の差動入力端子と電気的に接続されたゲート電極を有するとともに、前記第1電源ラインと電気的に接続されたドレイン電極を有する電界効果トランジスタからなる第2の増幅トランジスタと、前記第1及び第2の増幅トランジスタのそれぞれのソース電極と電気的に接続された共通接続ノードと、前記共通接続ノードと前記第2電源ラインとの間に接続された定電流源と、前記第1及び第2の差動入力端子にそれぞれ印加された入力電圧から同相入力電圧を検出し、当該同相入力電圧を出力する電圧検出器と、前記共通接続ノードと前記第1電源ラインとの間に配置され、前記同相入力電圧に応じたコンダクタンス値を有する電流経路を形成する分流回路と、前記第1の増幅トランジスタの当該ドレイン電極及び前記第2の増幅トランジスタの当該ドレイン電極とそれぞれ電気的に接続された第1及び第2の差動出力端子とを備え、前記分流回路は、前記共通接続ノードと電気的に接続されたソース電極と、前記第1電源ラインと電気的に接続されたドレイン電極と、前記電圧検出器の当該同相入力電圧の出力端と電気的に接続されたゲート電極とを有するnチャネル型電界効果トランジスタを含むことを特徴とする。

Claims (12)

  1. 第1及び第2の差動入力端子と、
    予め定められた第1の電源電圧を供給する第1電源ラインと、
    前記第1の電源電圧とは異なる第2の電源電圧を供給する第2電源ラインと、
    前記第1の差動入力端子と電気的に接続されたゲート電極を有するとともに、前記第1電源ラインと電気的に接続されたドレイン電極を有する電界効果トランジスタからなる第1の増幅トランジスタと、
    前記第2の差動入力端子と電気的に接続されたゲート電極を有するとともに、前記第1電源ラインと電気的に接続されたドレイン電極を有する電界効果トランジスタからなる第2の増幅トランジスタと、
    前記第1及び第2の増幅トランジスタのそれぞれのソース電極と電気的に接続された共通接続ノードと、
    前記共通接続ノードと前記第2電源ラインとの間に接続された定電流源と、
    前記第1及び第2の差動入力端子にそれぞれ印加された入力電圧から同相入力電圧を検出し、当該同相入力電圧を出力する電圧検出器と、
    前記共通接続ノードと前記第1電源ラインとの間に配置され、前記同相入力電圧に応じたコンダクタンス値を有する電流経路を形成する分流回路と、
    前記第1の増幅トランジスタの当該ドレイン電極及び前記第2の増幅トランジスタの当該ドレイン電極とそれぞれ電気的に接続された第1及び第2の差動出力端子と
    を備えることを特徴とする差動増幅回路。
  2. 請求項1記載の差動増幅回路であって、
    前記分流回路は、分流用トランジスタを含み、
    前記分流用トランジスタは、前記同相入力電圧が印加されるゲート電極と、前記共通接続ノードと電気的に接続されたソース電極と、前記第1電源ラインと電気的に接続されたドレイン電極とを有する電界効果トランジスタからなる
    ことを特徴とする差動増幅回路。
  3. 請求項2記載の差動増幅回路であって、前記分流用トランジスタは、前記同相入力電圧の値が大きいほど、前記コンダクタンス値を大きくする可変抵抗器であることを特徴とする差動増幅回路。
  4. 請求項1記載の差動増幅回路であって、前記同相入力電圧を増幅して増幅電圧を出力する増幅器を更に備え、
    前記分流回路は、前記共通接続ノードと前記第1電源ラインとの間に接続された分流用トランジスタを含み、
    前記分流用トランジスタは、前記増幅電圧が印加されるゲート電極と、前記共通接続ノードと電気的に接続されたソース電極と、前記第1電源ラインと電気的に接続されたドレイン電極とを有する電界効果トランジスタからなる
    ことを特徴とする差動増幅回路。
  5. 請求項1記載の差動増幅回路であって、前記分流回路は、前記同相入力電圧の値が大きいほど、前記コンダクタンス値を大きくする可変抵抗器を含むことを特徴とする差動増幅回路。
  6. 第1及び第2の差動入力端子と、
    予め定められた第1の電源電圧を供給する第1電源ラインと、
    前記第1の電源電圧とは異なる第2の電源電圧を供給する第2電源ラインと、
    前記第1の差動入力端子と電気的に接続されたベース電極を有するとともに、前記第1電源ラインと電気的に接続されたコレクタ電極を有するバイポーラトランジスタからなる第1の増幅トランジスタと、
    前記第2の差動入力端子と電気的に接続されたベース電極を有するとともに、前記第1電源ラインと電気的に接続されたコレクタ電極を有するバイポーラトランジスタからなる第2の増幅トランジスタと、
    前記第1及び第2の増幅トランジスタのそれぞれのエミッタ電極と電気的に接続された共通接続ノードと、
    前記共通接続ノードと前記第2電源ラインとの間に接続された定電流源と、
    前記第1及び第2の差動入力端子にそれぞれ印加された入力電圧から同相入力電圧を検出し、当該同相入力電圧を出力する電圧検出器と、
    前記共通接続ノードと前記第1電源ラインとの間に接続され、前記同相入力電圧に応じたコンダクタンス値を有する分流回路と、
    前記第1の増幅トランジスタの当該コレクタ電極及び前記第2の増幅トランジスタの当該コレクタ電極とそれぞれ電気的に接続された第1及び第2の差動出力端子と
    を備えることを特徴とする差動増幅回路。
  7. 請求項6記載の差動増幅回路であって、
    前記分流回路は、分流用トランジスタを含み、
    前記分流用トランジスタは、前記同相入力電圧が印加されるベース電極と、前記共通接続ノードと電気的に接続されたエミッタ電極と、前記第1電源ラインと電気的に接続されたコレクタ電極とを有するバイポーラトランジスタからなる
    ことを特徴とする差動増幅回路。
  8. 請求項7記載の差動増幅回路であって、前記分流用トランジスタは、前記同相入力電圧の値が大きいほど、前記コンダクタンス値を大きくする可変抵抗器であることを特徴とする差動増幅回路。
  9. 請求項6記載の差動増幅回路であって、前記同相入力電圧を増幅して増幅電圧を出力する増幅器を更に備え、
    前記分流回路は、前記共通接続ノードと前記第1電源ラインとの間に接続された分流用トランジスタを含み、
    前記分流用トランジスタは、前記増幅電圧が印加されるベース電極と、前記共通接続ノードと電気的に接続されたエミッタ電極と、前記第1電源ラインと電気的に接続されたコレクタ電極とを有するバイポーラトランジスタからなる
    ことを特徴とする差動増幅回路。
  10. 請求項6記載の差動増幅回路であって、前記分流回路は、前記同相入力電圧の値が大きいほど、前記コンダクタンス値を大きくする可変抵抗器を含むことを特徴とする差動増幅回路。
  11. 請求項1記載の差動増幅回路と、
    前記差動増幅回路の出力に応じた信号を出力するソースフォロア回路と
    を備えることを特徴とする電圧バッファ回路。
  12. 請求項6記載の差動増幅回路と、
    前記差動増幅回路の出力に応じた信号を出力するエミッタフォロア回路と
    を備えることを特徴とする電圧バッファ回路。
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