JP2011025634A - 電磁波透過性加飾部品 - Google Patents
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Abstract
【課題】従来の電磁波透過性加飾部品においては、装飾部が金属色に見えるよう絶縁部の全面に導電材料が形成されているが、導電材料の内部には電流が流れるため装飾部に照射される電磁波が損失を生じ、十分なアンテナ特性が得られないという問題があった。
【解決手段】部品1の表面に、膜厚が10nm〜30nmのGe層2を形成した構成とすることで、電磁波を遮蔽することなく、特にクリアな金属光沢を呈する電磁波透過性加飾部品が低コストで実現可能となる。
【選択図】図1
【解決手段】部品1の表面に、膜厚が10nm〜30nmのGe層2を形成した構成とすることで、電磁波を遮蔽することなく、特にクリアな金属光沢を呈する電磁波透過性加飾部品が低コストで実現可能となる。
【選択図】図1
Description
この発明は、電磁波を送受信する電子機器の筐体などに使用される電磁波透過性加飾部品に関するものである。
従来の電磁波透過性加飾部品においては、絶縁材料に導電材料の粒子が互いに接触しないように蒸着することにより金属光沢を得ていた(例えば、特許文献1)。
電磁波を送受信する装置においては、電磁波を遮蔽することなくアンテナの性能を十分に確保するために、金属部品の適用が制限されていた。一方、装置のデザイン性を高めるために、金属光沢を呈する電磁波透過性加飾部品が求められていた。前記特許文献1は絶縁材料に導電材料の粒子が互いに接触しないように蒸着することにより装飾部にて金属光沢を得ていた。しかしながら、従来の電磁波透過性加飾部品においては、装飾部が金属色に見えるよう絶縁部の全面に導電材料が形成されているが、導電材料の内部には電流が流れるため装飾部に照射される電磁波が損失を生じ、十分なアンテナ特性が得られないという問題があった。
この発明は、前述のような問題を解決するためになされたもので、電磁波を遮蔽することなく、クリアな金属光沢を呈する電磁波透過性加飾部品を得ることを目的とするものである。
この発明に係る電磁波透過性加飾部品は、部品の表面に、膜厚が10nm〜30nmのGe層を形成したものである。
この発明によれば、部品の表面に、膜厚が10nm〜30nmのGe層を形成したため、電磁波を遮蔽することなく、特にクリアな金属光沢を呈する電磁波透過性加飾部品が実現可能となる。
実施の形態1.
図1は本発明の実施の形態1に係わる電磁波透過性部品20を示す断面図で、カーナビゲーション筐体の意匠を構成する部品である。部品1の上に物理膜厚が10nm〜30nmのGe層2が設けられている。部品1を構成する材料は、例えば、TiNのような非透光性セラミックス部品、ポリカーボネート樹脂(PC樹脂)、アクリロニトリル・ブタジエン・スチレン樹脂(ABS樹脂)、PC樹脂とABS樹脂のポリマーアロイ(PC+ABS樹脂)、ポリメタクリル酸メチル(PMMA樹脂)、ポリアミド樹脂(PA樹脂)などの樹脂、またはガラス繊維などのフィラーを配合した樹脂などの絶縁体かつ電波透過性を有するものである。
Ge層2は、例えば、真空蒸着にて形成することができる。形成方法の一例を挙げる。真空蒸着装置の所定位置に部品1を設置し、蒸着材料として粒状のGeをC(カーボン)製のルツボに設置する。真空蒸着装置を真空排気し、所定の真空度に到達したら電子銃にて加熱を行い、Geを蒸発させ、部品1上に堆積させGe層2を形成する。また、上記真空蒸着に際し、イオンガンやアンテナ式ボンバード装置を用いて、部品1の表面をArイオンやO2イオン等にて照射すると、Ge層2の膜密着性が向上し、好ましい。ここで、アンテナ式ボンバード装置とは蒸着室に円形コイルを設け、これを電極としてチャンバー全体にプラズマを生成させる装置を言う。
図1は本発明の実施の形態1に係わる電磁波透過性部品20を示す断面図で、カーナビゲーション筐体の意匠を構成する部品である。部品1の上に物理膜厚が10nm〜30nmのGe層2が設けられている。部品1を構成する材料は、例えば、TiNのような非透光性セラミックス部品、ポリカーボネート樹脂(PC樹脂)、アクリロニトリル・ブタジエン・スチレン樹脂(ABS樹脂)、PC樹脂とABS樹脂のポリマーアロイ(PC+ABS樹脂)、ポリメタクリル酸メチル(PMMA樹脂)、ポリアミド樹脂(PA樹脂)などの樹脂、またはガラス繊維などのフィラーを配合した樹脂などの絶縁体かつ電波透過性を有するものである。
Ge層2は、例えば、真空蒸着にて形成することができる。形成方法の一例を挙げる。真空蒸着装置の所定位置に部品1を設置し、蒸着材料として粒状のGeをC(カーボン)製のルツボに設置する。真空蒸着装置を真空排気し、所定の真空度に到達したら電子銃にて加熱を行い、Geを蒸発させ、部品1上に堆積させGe層2を形成する。また、上記真空蒸着に際し、イオンガンやアンテナ式ボンバード装置を用いて、部品1の表面をArイオンやO2イオン等にて照射すると、Ge層2の膜密着性が向上し、好ましい。ここで、アンテナ式ボンバード装置とは蒸着室に円形コイルを設け、これを電極としてチャンバー全体にプラズマを生成させる装置を言う。
図2は基板をガラスとした場合のGeの反射率特性を示す光学シミュレーション図で、特性曲線11〜19は各々Ge膜厚1nm、3nm、5nm、10nm、1000nm、400nm、100nm、20nm、40nmの特性を示している。1000nmと400nmの反射率を示す特性曲線15,16はほとんど重なっている。横軸は波長(nm)、縦軸は透過率(%)である。発明者らの調査によれば、Ge膜厚が5nm程度から弱い金属光沢を呈し始め、10nmではっきりとした金属光沢を呈するようになる。
図3は基板をガラスとした場合のGeの反射率特性を示す光学シミュレーション図で、特性曲線21〜25は各々Ge膜厚10nm、20.61nm、24.61nm、28.61nm、32.61nmの特性を示している。横軸は波長(nm)、縦軸は透過率(%)である。図3より、光学シミュレーションにおいてはGe膜厚が32.61nmより薄くなると、反射率はほぼ一律かつ均等に低下することになる。
図4は基板をガラスとした場合のGeの反射率特性を示す図で、特性曲線31〜35は各々Ge膜厚20.61nm(実測)、24.61nm(実測)、28.61nm(実測),32.61nm(実測),32.61nm(光学シミュレーション)の特性を示している。ここで言う「実測」は、真空蒸着装置を用いてガラス基板上に実際に膜形成したものをUV/可視分光光度計にて反射率測定を行った場合を意味している。横軸は波長(nm)、縦軸は透過率(%)である。
図4より、試作したGe膜においては膜厚が32.61nmの時、光学シミュレーション値と実測値は比較的近い値を示しているが、Ge膜厚が32.61nmよりも薄くなると、図3の光学シミュレーションで示されたような、均一な反射率低下ではなく、可視域での反射スペクトルの傾きが小さくなる(フラットな特性となる)傾向を示すことが判明した。図4から分かるように、波長約650nm近傍で各データはクロスしており、380nm〜780nmでのトータルの反射で見る限り、むしろGe膜厚が32.61nmよりも薄い方が、反射率が高くなっていることが見て取れる。その上、反射スペクトルの傾きが小さくなることからよりクリアな金属光沢が得られていることが分かる。これは、試作品の外観とよく一致しており、Ge膜厚が32.61nmの場合、若干赤茶色っぽい印象を受ける。
一方、Ge膜厚が30nm以下のサンプル3つ(Ge膜厚28.61nm、24.61nm、20.61nmの場合)については色のないクリアな金属光沢を呈していた。発明者らの調査により、この傾向はGe膜厚が10nm程度まで続き、それ以下の膜厚になると反射率自体が約40%以下となり下地基板の影響が認められるようになる。
ガラス基板においては裏面からの透過光の影響が大きくなり、金属光沢のクリアさが消失することが判明した。
以上述べた通り、本発明の実施の形態1によれば、部品上に物理膜厚が10nm〜30nmの非常に薄いGe層を形成した場合に、特にクリアな金属光沢を有する電磁波透過性加飾部品が実現される。
一方、Ge膜厚が30nm以下のサンプル3つ(Ge膜厚28.61nm、24.61nm、20.61nmの場合)については色のないクリアな金属光沢を呈していた。発明者らの調査により、この傾向はGe膜厚が10nm程度まで続き、それ以下の膜厚になると反射率自体が約40%以下となり下地基板の影響が認められるようになる。
ガラス基板においては裏面からの透過光の影響が大きくなり、金属光沢のクリアさが消失することが判明した。
以上述べた通り、本発明の実施の形態1によれば、部品上に物理膜厚が10nm〜30nmの非常に薄いGe層を形成した場合に、特にクリアな金属光沢を有する電磁波透過性加飾部品が実現される。
次に、Ge層を用いた加飾のメリットにつき説明する。すなわち、従来、部品の加飾は、部品表面にAlやSnのような金属材料を形成することにより行われてきた。その理由は、金属膜の場合、上記Geにて説明したように、膜厚の増加と共に透過率が低下し金属光沢を呈する特性を有しているため、加飾の際の膜厚制御が容易となるからである。しかしながら、これら加飾部品をアンテナ装置の筐体として使用する場合には以下のような問題が生ずる。
すなわち、近年のアンテナ装置の筐体はデザイン性を重視することから、携帯電話と基地局との間で電波を送受信するためのアンテナが筐体の内部に配置されていることが多く、金属膜を形成した加飾部品は使用が制限され、筐体外観のデザイン面で制約となっていた。最近、この問題を解消するために、これら金属膜を島状に形成する、いわゆる、不連続蒸着技術が開発され、実用化されてきている。
すなわち、近年のアンテナ装置の筐体はデザイン性を重視することから、携帯電話と基地局との間で電波を送受信するためのアンテナが筐体の内部に配置されていることが多く、金属膜を形成した加飾部品は使用が制限され、筐体外観のデザイン面で制約となっていた。最近、この問題を解消するために、これら金属膜を島状に形成する、いわゆる、不連続蒸着技術が開発され、実用化されてきている。
図5は従来のアンテナ装置における装飾部を表わす断面図であり、40は装飾部、41は絶縁部、42は導電材料の粒子を表わす。従来のアンテナ装置における装飾部40においては、導電材料42は粒子状で接続しないように形成されているため、一部電波は装飾部40を透過することになる。
しかしながら、装飾部40が金属色に見えるよう絶縁部41の全面に導電材料42が形成されており、導電材料42の内部には電流が流れるため装飾部40に照射される電磁波が損失を生じ、十分なアンテナ特性が得られないという問題があった。
また、一般的には、蒸着物質が不連続となるのは、〜数10Å以下程度の極薄膜においてであり、通常、100Åを超えるような膜厚においてはこれら島が接触してしまうことから、アンテナ特性が損なわれるようになる。従って、一般的には、前述の不連続蒸着には厚みの制限が存在する。膜厚に制限が存在すると、アンテナ装置の筐体のような矩形部材、曲面を有する部材の全面に均一に膜形成することが困難で、歩留まりの低下に繋がる。この他、レーザや露光技術を用いて金属膜にパターン形成し不連続を実現する方法も考えられるが、コストが上昇するため、適用範囲は制限される。
しかしながら、装飾部40が金属色に見えるよう絶縁部41の全面に導電材料42が形成されており、導電材料42の内部には電流が流れるため装飾部40に照射される電磁波が損失を生じ、十分なアンテナ特性が得られないという問題があった。
また、一般的には、蒸着物質が不連続となるのは、〜数10Å以下程度の極薄膜においてであり、通常、100Åを超えるような膜厚においてはこれら島が接触してしまうことから、アンテナ特性が損なわれるようになる。従って、一般的には、前述の不連続蒸着には厚みの制限が存在する。膜厚に制限が存在すると、アンテナ装置の筐体のような矩形部材、曲面を有する部材の全面に均一に膜形成することが困難で、歩留まりの低下に繋がる。この他、レーザや露光技術を用いて金属膜にパターン形成し不連続を実現する方法も考えられるが、コストが上昇するため、適用範囲は制限される。
本発明に係わる電磁波透過性加飾部品はこのような問題を解決することを目的として開発されたものである。すなわち、従来の導電材料に変えてGe膜を用いるため、加飾部品が電磁波の透過を遮断することがなく、アンテナ装置の筐体として、金属光沢を確保した上で所定のアンテナ特性を容易に確保することができる。また、従来の不連続蒸着に比して、Ge膜の膜厚の制限が厳しくないため製造が容易で製造コストが低減されるという利点がある。
金属膜、半導体膜と電磁波との透過、遮蔽の関係は概ね以下のように理解することができる。すなわち、携帯電話にて使用される電磁波はセンチ波、極超短波と呼ばれ、波長範囲で言うと概ね1mm〜1m程度である。金属膜の場合、これら電磁波が照射されると、自由電子がバリアを作り(分極作用)、膜中への進入を防ぐ。そのため、電磁波は金属膜により反射されることになる。一方、半導体膜の場合、金属膜のような自由電子を持たないため、金属膜にて生じる分極作用が生じることはない。半導体においては、例えば、Siが約1.1eV(波長1127nmの電磁波が持つエネルギーに相当)、Geが約0.7eV(波長1850nmの電磁波が持つエネルギーに相当)のバンドギャップを有し、バンドギャップに相当する波長より長い波長の電磁波は吸収されることがないため、これら半導体を表面に形成しても、アンテナ装置にて使用される電磁波は筐体を透過することが可能となる。
図7は電磁波を十分に透過させるために必要な半導体に求められる導電率について検討した結果である。図6に示した1次元の計算モデルに基づき、左方からの平面波が半導体層(誘電率εr、導電率σ)に垂直に入射した場合の透過損Tを算出した。ただし半導体
層の厚さは100nmとした。
なお、誘電率εrは1、16、50の場合について求めたが、透過損Tに対してほとんど
影響しない。透過損Tの大きさについては、例えば、携帯電話の場合、透過損Tのしきい値が−0.1dB以下であれば、アンテナ装置としての機能を満足するとされている。そこで、電磁波を十分に透過し、アンテナ装置としての機能を満足する透過損Tのしきい値を−0.1dB以下とすると、半導体に求められる導電率は103S/m以下であることが分かる。本実施の形態1で説明したGeまたはSiの導電率はそれぞれ2.1S/m(at 300K)、3.16×10−4S/m(at300K)であり、いずれも103S/mよりはるかに低い。
層の厚さは100nmとした。
なお、誘電率εrは1、16、50の場合について求めたが、透過損Tに対してほとんど
影響しない。透過損Tの大きさについては、例えば、携帯電話の場合、透過損Tのしきい値が−0.1dB以下であれば、アンテナ装置としての機能を満足するとされている。そこで、電磁波を十分に透過し、アンテナ装置としての機能を満足する透過損Tのしきい値を−0.1dB以下とすると、半導体に求められる導電率は103S/m以下であることが分かる。本実施の形態1で説明したGeまたはSiの導電率はそれぞれ2.1S/m(at 300K)、3.16×10−4S/m(at300K)であり、いずれも103S/mよりはるかに低い。
なお、上記実施の形態1においては部品1を構成する材料として樹脂の一例を挙げたが、部品1は上記に挙げた樹脂に限らず、その他の熱可塑性樹脂または熱硬化性樹脂、さらにはガラスやセラミックスなどの他の絶縁体でも特に問題はなく、同様の効果を奏することはいうまでもない。
また、Ge層2の成膜方法として真空蒸着法を用いた方法につき説明したが、Ge層2の製法としてはこれに限られることはなく、部品表面に熱的損傷を与えない方法であればいずれの方法でも良く、スパッタ法、イオンプレーティング法などの物理的方法や、CVD法、メッキ法などの化学的方法を用いることも可能であることは言うまでもない。
さらに、上記実施の形態においてはGe層2が単層である場合について説明したが、電磁波を遮断しない範囲であれば、Ge層2は積層体でも良く、例えば、SiとGeの多層構造とする場合や、SiとGeを同時蒸着する場合等が挙げられる。
さらに、上記実施の形態においては、アンテナ装置の筐体への適用例を示したが、例えばカメラ、携帯用音楽再生機、携帯用ゲーム機、携帯用の通信機、ラジオ、テレビ、ノート型パソコン、ノート型ワープロ、ビデオカメラ、電子手帳、各種の赤外線式または無線式リモートコントローラ、電卓、自動車用電子制御機器など、各種電磁波を送受信する電子機器に適用することが可能であることは言うまでもない。
Ge層は電磁波のみならず、近赤外〜遠赤外光を透過する特性を有するため、例えば、赤外線センサーを利用する機器の筐体としても同様の効果を奏することは言うまでもない。
また、Ge層2の成膜方法として真空蒸着法を用いた方法につき説明したが、Ge層2の製法としてはこれに限られることはなく、部品表面に熱的損傷を与えない方法であればいずれの方法でも良く、スパッタ法、イオンプレーティング法などの物理的方法や、CVD法、メッキ法などの化学的方法を用いることも可能であることは言うまでもない。
さらに、上記実施の形態においてはGe層2が単層である場合について説明したが、電磁波を遮断しない範囲であれば、Ge層2は積層体でも良く、例えば、SiとGeの多層構造とする場合や、SiとGeを同時蒸着する場合等が挙げられる。
さらに、上記実施の形態においては、アンテナ装置の筐体への適用例を示したが、例えばカメラ、携帯用音楽再生機、携帯用ゲーム機、携帯用の通信機、ラジオ、テレビ、ノート型パソコン、ノート型ワープロ、ビデオカメラ、電子手帳、各種の赤外線式または無線式リモートコントローラ、電卓、自動車用電子制御機器など、各種電磁波を送受信する電子機器に適用することが可能であることは言うまでもない。
Ge層は電磁波のみならず、近赤外〜遠赤外光を透過する特性を有するため、例えば、赤外線センサーを利用する機器の筐体としても同様の効果を奏することは言うまでもない。
以上のように本発明の実施の形態1によれば、部品1の表面に、膜厚が10nm〜30nmのGe層2を形成することで、電磁波を遮断することなくデザイン性を高めることが可能な電磁波透過性加飾部品が低コストで実現される。
実施の形態2.
図8は本発明の実施の形態2に係わる電磁波透過性部品20を示す断面図で、部品1の上に透明体層3が設けられ、その上にGe層2が設けられている。
光学膜の設計においては通常、ベースとなる基板を規定して計算させる必要があり、本発明においてはガラス基板を用いている。ガラス基板は光学業界において最も一般的に用いられるものであるため、その光学特性(屈折率、吸収係数)は詳細に知られており、非常に扱いやすいものである。一方、非透光性セラミックス材料や樹脂材料の場合、通常は顔料等によって着色され、その光学特性は一定しておらず、光学材料として扱うのはガラス基板に比して困難である。そのため、一部のセラミックス基板や樹脂基板については特異的な反射スペクトルを有していることからガラス基板をベースとした光学シミュレーションで得られた反射特性が得られない場合が生じる。
本発明はそのような問題を解決するためになされたもので、非透光性セラミックス材料表面や樹脂材料表面に、屈折率が安定している透明体層3を設け、下地基板の光学特性の影響を低減し、光学シミュレーションで得られた反射特性を再現性良く実現できる電波透過型加飾樹脂基板を実現するものである。
図8は本発明の実施の形態2に係わる電磁波透過性部品20を示す断面図で、部品1の上に透明体層3が設けられ、その上にGe層2が設けられている。
光学膜の設計においては通常、ベースとなる基板を規定して計算させる必要があり、本発明においてはガラス基板を用いている。ガラス基板は光学業界において最も一般的に用いられるものであるため、その光学特性(屈折率、吸収係数)は詳細に知られており、非常に扱いやすいものである。一方、非透光性セラミックス材料や樹脂材料の場合、通常は顔料等によって着色され、その光学特性は一定しておらず、光学材料として扱うのはガラス基板に比して困難である。そのため、一部のセラミックス基板や樹脂基板については特異的な反射スペクトルを有していることからガラス基板をベースとした光学シミュレーションで得られた反射特性が得られない場合が生じる。
本発明はそのような問題を解決するためになされたもので、非透光性セラミックス材料表面や樹脂材料表面に、屈折率が安定している透明体層3を設け、下地基板の光学特性の影響を低減し、光学シミュレーションで得られた反射特性を再現性良く実現できる電波透過型加飾樹脂基板を実現するものである。
以上のように本発明の実施の形態2によれば、基板1の表面とGe層2の間に透明体層3を設けた構成とすることで、実施の形態1の効果に加え、電磁波を遮断することなくデザイン性を高めることが可能な電磁波透過性加飾部品が容易に実現される。
実施の形態3.
図9は本発明の実施の形態3に係わる電磁波透過性部品20を示す断面図で、部品1の上に下地層4が設けられ、その上に透明体層3が設けられている。透明体層3の上にはGe層2が設けられている。Ge層2の上には中間層5が設けられ、さらに保護層6が設けられGe層2を保護している。下地層4が設けられたのは、部品1と透明体層3との密着性を向上させるためである。下地層4は、特に、部品1が樹脂の場合に効果が大きく、通常、アンダーコートと呼ばれ、各種樹脂材料を用いることができる。中間層5はミドルコートとも呼ばれ、Ge層2と保護層6との密着性を向上させるとともに、顔料を添加することで、外観を変化させることを目的としたものである。中間層5には透過性の各種樹脂を用いることができる。保護層6はオーバーコートまたはハードコートとも呼ばれ、比較的高い硬度を有した電波透過性の材料が用いられる。保護層6を形成することで、Ge層2の磨耗等が抑制され電磁波透過性加飾部品の耐久性が向上する。他の構成は実施の形態1にて示した場合と同じである。
図9は本発明の実施の形態3に係わる電磁波透過性部品20を示す断面図で、部品1の上に下地層4が設けられ、その上に透明体層3が設けられている。透明体層3の上にはGe層2が設けられている。Ge層2の上には中間層5が設けられ、さらに保護層6が設けられGe層2を保護している。下地層4が設けられたのは、部品1と透明体層3との密着性を向上させるためである。下地層4は、特に、部品1が樹脂の場合に効果が大きく、通常、アンダーコートと呼ばれ、各種樹脂材料を用いることができる。中間層5はミドルコートとも呼ばれ、Ge層2と保護層6との密着性を向上させるとともに、顔料を添加することで、外観を変化させることを目的としたものである。中間層5には透過性の各種樹脂を用いることができる。保護層6はオーバーコートまたはハードコートとも呼ばれ、比較的高い硬度を有した電波透過性の材料が用いられる。保護層6を形成することで、Ge層2の磨耗等が抑制され電磁波透過性加飾部品の耐久性が向上する。他の構成は実施の形態1にて示した場合と同じである。
いじょうのように本発明の実施の形態3によれば、部品1の表面と透明体層3の間に下地層4を設け、Ge層2の上に中間層5を設け、この中間層5の上に保護層6を設けた構成とすることで、実施の形態2に示した効果に加え、密着性、耐久性が向上するとともに、デザイン性に優れた電磁波透過性加飾部品が実現される。
1 部品、2 Ge層、3 透明体層、4 下地層、5 中間層、6 保護層、40 装飾部、41 絶縁部、42 導電材料
Claims (3)
- 部品の表面に、膜厚が10nm〜30nmのGe層を形成したことを特徴とする電磁波透過性加飾部品。
- 前記部品の表面と前記Ge層の間に透明体層を設けたことを特徴とする請求項1記載の電磁波透過性加飾部品。
- 前記部品の表面と前記透明体層の間に下地層を設け、前記Ge層の上に中間層を設け、この中間層の上に保護層を設けたことを特徴とする請求項1または2記載の電磁波透過性加飾部品。
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