JP2010533796A - 圧力制御された遠隔プラズマ源による洗浄率の改善 - Google Patents
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Abstract
【課題】 大面積基体処理チャンバを洗浄するための方法を提供する。
【解決手段】 チャンバ容積が大きくなるにつれて、驚くべきことに、洗浄条件の規模を単純に拡大しても、さらされたチャンバ表面からシリコンを事実上洗浄することができないことがわかった。さらされたチャンバ表面上の望ましくないシリコン堆積物は、ソーラーパネルの形成において汚染につながることがあり得る。チャンバを摂氏約150度と250度の間の温度に維持しつつチャンバの圧力を約10トール以上に上げると、プラズマ洗浄の有効性が高められて、シリコン堆積物がチャンバから除去される。高圧と低温の組み合わせにより、ソーラーパネル製造の基板処理能力を犠牲にすることなく基板汚染を低減させることができる。
【選択図】 図3
【解決手段】 チャンバ容積が大きくなるにつれて、驚くべきことに、洗浄条件の規模を単純に拡大しても、さらされたチャンバ表面からシリコンを事実上洗浄することができないことがわかった。さらされたチャンバ表面上の望ましくないシリコン堆積物は、ソーラーパネルの形成において汚染につながることがあり得る。チャンバを摂氏約150度と250度の間の温度に維持しつつチャンバの圧力を約10トール以上に上げると、プラズマ洗浄の有効性が高められて、シリコン堆積物がチャンバから除去される。高圧と低温の組み合わせにより、ソーラーパネル製造の基板処理能力を犠牲にすることなく基板汚染を低減させることができる。
【選択図】 図3
Description
発明の分野
[0001]本発明の実施形態は、一般的には、プラズマ増強型化学気相堆積(PECVD)チャンバのような大面積基板処理チャンバを洗浄するための方法に関する。
[0001]本発明の実施形態は、一般的には、プラズマ増強型化学気相堆積(PECVD)チャンバのような大面積基板処理チャンバを洗浄するための方法に関する。
関連技術の説明
[0002]ソーラーパネルの製造において、ソーラーパネルサイズを大きくする要求が増え続けている。ソーラーパネルは、現在、大面積基板から製造されている。ソーラーパネルサイズと基板サイズが大きくなるのに伴い、チャンバサイズも大きくなり続けている。残念なことに、チャンバサイズが大きくなるほど、シリコンが堆積するチャンバ内の面積数も大きくなる。
[0002]ソーラーパネルの製造において、ソーラーパネルサイズを大きくする要求が増え続けている。ソーラーパネルは、現在、大面積基板から製造されている。ソーラーパネルサイズと基板サイズが大きくなるのに伴い、チャンバサイズも大きくなり続けている。残念なことに、チャンバサイズが大きくなるほど、シリコンが堆積するチャンバ内の面積数も大きくなる。
[0003]ソーラーパネルの形成中、チャンバ内のさらされた領域上にシリコンが堆積されることになる。チャンバのさらされた領域に堆積されるシリコンが有効に除去されない場合には、シリコンは、剥がれ落ち、堆積される後の層或いはチャンバ内で処理される次の基板を汚染することになる。チャンバを洗浄することによって、シリコン汚染を低減させることができる。
[0004]それ故、当該技術において大面積基板処理チャンバの効果的な洗浄法が求められている。
[0005]本発明は、一般的には、大面積基板処理チャンバを洗浄するための方法を含む。チャンバ容積が大きくなるにつれて、驚くべきことに、洗浄条件の規模を単純に拡大しても、さらされたチャンバ表面からシリコンを有効に洗浄することができないことがわかった。さらされたチャンバ表面上の望ましくないシリコン堆積物は、ソーラーパネルの形成において汚染につながる場合がある。チャンバを摂氏約150度と250度の間の温度に維持しつつチャンバの圧力を約10トール以上に上げると、プラズマ洗浄の有効性が高められて、シリコン堆積物がチャンバから除去される。高圧と低温の組み合わせにより、ソーラーパネル製造の基板処理能力を犠牲にすることなく基板汚染を低減させることができる。
[0006]一実施形態において、チャンバの洗浄方法が開示される。この方法は、遠隔プラズマ源に洗浄ガスを流すステップと、遠隔プラズマ源においてプラズマに点火するステップと、処理チャンバにプラズマを導入するステップと、プラズマでチャンバを洗浄するステップと、を含む。チャンバは、約10トール以上の圧力に維持され、表面積が約50,000平方センチメートル以上の基板を受容する大きさであってもよい。
[0007]他の実施形態において、ソーラーセルの製造方法が開示される。この方法は、第一チャンバ内で約50,000平方センチメートル以上の表面積を有する第一基板の上に第一シリコン膜を堆積させるステップを含む。この方法は、また、第一チャンバから第一基板を取り出すステップと、第一チャンバを洗浄するステップと、第一チャンバに第二基板を導入するステップと、第二基板の上に第二シリコン膜を堆積させるステップと、を含む。洗浄するステップは、第一チャンバを洗浄ガスで約10トール以上の圧力でプラズマ洗浄する工程を含む。
[0008]他の実施形態において、シリコン堆積チャンバの洗浄方法が開示される。この方法は、チャンバに洗浄ガスプラズマを導入するステップであって、チャンバが、約50,000cm2以上の表面積を有する基板を受容するように適合された基板受容面を持ち且つ約10トール以上の圧力に維持され、プラズマが、フッ素基を含んでいる、前記ステップと、フッ素基とチャンバ上に堆積されたシリコンとを反応させて、シリコンを除去するステップと、を含む。
[0009]本発明の上記特徴が詳細に理解され得るように、上で簡単にまとめた本発明のより具体的な説明は、実施形態によって参照することができ、その一部が添付の図面に示されている。しかしながら、添付の図面は本発明の典型的な実施形態のみを示しているので、本発明の範囲を制限するものとみなされるべきでなく、本発明が他の等しく有効な実施形態を含んでもよいことは留意すべきである。
図1は、本発明の一実施形態による処理装置の概略断面図である。
図2は、本発明の一実施形態による単接合型ソーラーセルの概略図である。
図3は、本発明の一実施形態によるデュアルタンデム型ソーラーセルの概略図である。
[0013]理解を容易にするために、図に共通な同一要素を示すのに可能であれば同一符号が用いられている。一実施形態に開示される要素は、個々に引用することなく他の実施形態においても便宜的に用いられてもよいことは意図されている。
[0014]本発明は、一般的には、大面積基板処理チャンバを洗浄するための方法を含む。チャンバ容積が大きくなるにつれて、驚くべきことに、洗浄条件の規模を単純に拡大しても、さらされたチャンバ表面からシリコンを事実上洗浄することができないことがわかった。さらされたチャンバ表面上の望ましくないシリコン堆積物は、ソーラーパネルの形成において汚染につながる場合がある。チャンバを摂氏約150度と250度の間の温度に維持しつつチャンバの圧力を約10トール以上に上げると、プラズマ洗浄の有効性が高められて、シリコン堆積物がチャンバから除去される。高圧と低温の組み合わせにより、ソーラーパネル製造の基板処理能力を犠牲にすることなく基板汚染を低減させることができる。
[0015]AKT America社、AppliedMaterials社、サンタクララ、カリフォルニア州の子会社から入手できるPECVDチャンバに関して本発明を以下に例示的に説明する。本発明が物理気相堆積(PVD)チャンバを含むRF電流を用いてガスをプラズマに生成させることを必要とすることになる任意のチャンバに等しく適用できることは理解すべきである。また、以下に記載される本発明がPECVDチャンバや他の販売業者によって製造される他のチャンバに等しく適用できることも理解すべきである。
[0016]図1は、本発明の一実施形態による処理装置100の概略断面図である。装置100は、PECVDチャンバ102である。サセプタ106は、チャンバ102の底部104と結合した接地ストラップ126で接地されていてもよい。基板108は、サセプタ106上に配置されていてもよく、チャンバ102内のシャワーヘッド110の反対側にあってもよい。シャワーヘッド110は、ブラケット114によってチャンバ102内で支持されていてもよい。基板108は、スリットバルブ118を通ってチャンバ102へ挿入され、リフトピン142に配置されていてもよい。次に、サセプタ106が基板108と接するように上げられてもよい。サセプタ106は、アクチュエータ122によってステム120上に上げられてもよい。真空ポンプ124がチャンバ102を排気してもよい。
[0017]ガスは、ガス供給源132からシャワーヘッド110に供給されてもよい。ガスは、遠隔プラズマ源130を通過してもよく、そこで、ガスが洗浄のためにエネルギが与えられてプラズマに生成されても又は単にチャンバ102を通過してもよい。RF電源128から印加されたRF電流によってチャンバ102内でガスがプラズマに点火されてもよい。ガスは、最初は、リッド112とシャワーヘッド110の上流側138の間に配置されたプレナム136に供給される。ガスは、プレナム内でほぼ一様に分配され、次に、上流側の138と下流側140の間に伸びるシャワーヘッド110におけるガス通路116を通過してもよい。一実施形態において、ガス通路116は、中空陰極キャビティを備えていてもよい。
[0018]図2は、本発明の一実施形態による単接合型ソーラーセル200の概略図である。ソーラーセル(太陽電池)200は、基板202の上にpドープ半導体層204と、真性半導体層206とnドープ半導体層208とを堆積させることによって行われてもよい。基板202が太陽210に向くように、ソーラーセル200は、完成時に、上に反転させる。ソーラーセル200の半導体材料は、シリコンを含んでいてもよい。一実施形態において、シリコンは、アモルファスシリコンを含む。他の実施形態において、シリコンは、微結晶シリコンを含む。更に他の実施形態において、シリコンは、ポリシリコンを含む。
[0019]図3は、本発明の一実施形態によるデュアルタンデム型ソーラーセル300の概略図である。ソーラーセル300は、太陽302に向いている、基板304の上に第一セル306、次に、第一セル306の上に第2セル308を堆積させることによって形成されてもよい。第一セル306は、pドープ半導体層310と、真性半導体層312と、nドープ半導体層314とを備えていてもよい。第2セル308は、pドープ半導体層316と、真性半導体層318と、nドープ半導体層320とを備えていてもよい。
[0020]ソーラーセル300のための半導体材料は、シリコンを含んでもよい。一実施形態において、シリコンは、アモルファスシリコンを含む。他の実施形態において、シリコンは、微結晶シリコンを含む。更に他の実施形態において、シリコンは、ポリシリコンを含む。第一セル306は、真性半導体層312としてアモルファスシリコンを含んでもよく、第2セル308は、真性半導体層318として微結晶シリコンを含んでもよい。このように、各セル306、308が異なる二つのセル306、308を含むことから、ソーラーセル300はデュアルタンデム型ソーラーセル300である。
[0021]本発明の説明はデュアルタンデム型ソーラーセルに関するものであるが、本発明は、同じ半導体材料を双方の真性半導体層に利用してデュアルソーラーセルに等しく適用できる。更に、本発明は単接合型ソーラーセルとデュアルタンデム型ソーラーセルを参照して記載されているが、他のソーラーセル構造も本開示によって意図されている。例えば、セルがほぼ同一か又は異なる三つ以上のセルを有するソーラーセルが意図されている。
[0022]ソーラーセルを製造するために、種々の層は、共通のチャンバ内で又は個別のチャンバ内で堆積させてもよい。いずれかの予想される展開においても、続いて処理される基板に対する汚染が関係することになる。従って、チャンバは、各堆積の間に洗浄されてもよい。或はまた、チャンバは、必要な場合に洗浄してもよい。
[0023]より小さなチャンバにおいて(即ち、表面積が50,000cm2以下の基板を受容するように適合された基板受容面を有するチャンバ)、プラズマが遠隔で生成され、低圧(即ち、約300ミリトール〜約500ミリトール)に維持されるチャンバに供給してもよい。しかしながら、より大きなチャンバ(即ち、表面積が50,000cm2以上の基板を受容するように適合された基板受容面を有するチャンバ)について、驚くべきことに、300-500ミリトールでチャンバが有効に洗浄されない場合があることがわかった。
[0024]プラズマ洗浄中の高圧(即ち、約10トール以上)は、洗浄されるチャンバ構成要素がプラズマにさらされる滞留時間を増加させることになる。滞留時間の増加は、チャンバのさらされた領域がより長い時間洗浄プラズマにさらされることから、洗浄後にチャンバ内に残存する汚染物質の量を減少させることになる。さらされたチャンバ構成要素は、プラズマにさらされることがより長くなるほど、プラズマと反応する汚染物質の量が多くなり(即ち、プラズマによってエッチングされ)、さらされたチャンバ構成要素から除去される。一実施形態において、圧力は、最大が約15トールであってもよい。他の実施形態において、圧力は、10トールと15のトールの間であってもよい。チャンバの圧力は、チャンバ内のサセプタの下に配置された圧力計で正確に測定されてもよい。
[0025]ソーラーセルを備える種々の層は、摂氏約250度未満の温度で堆積されてもよい。摂氏250度より大きい温度で、pドープ半導体層とnドープ半導体層を含んでもよいドーパントは、真性半導体層のような隣接の層に拡散することになる。ドーパントが隣接の層に拡散する時に、ソーラーセルは故障する。従って、ソーラーセルの各層の堆積は、摂氏約250度未満の温度で堆積させるのがよい。
[0026]所望の処理能力を維持するために、洗浄は、堆積温度以下の温度で行われてもよい。洗浄の温度が堆積温度より高い場合には、チャンバは、処理のために基板をチャンバに配置する前に冷却することが必要かもしれない。冷却の追加は、処理時間を増加させるので、処理能力を低下させることになる。同様に、洗浄の温度が堆積温度より低い場合には、チャンバは、処理のために基板をチャンバに配置する前に加熱されることが必要かもしれない。堆積された膜が層全体に実質的に均一な性質を有することを確実にするようにほぼ一定の堆積温度を維持することが好ましい場合がある。従って、洗浄が堆積温度より低い温度で行われる場合には、その中に基板を配置する前にチャンバを予熱することが必要かもしれない。追加の加熱は、基板処理能力を低下させることになる。
[0027]チャンバを洗浄するためのプラズマは、遠隔プラズマ源において遠隔で生成されてもよい。プラズマは、NF3、SF6、F2、又はこれらの組み合わせのようなフッ素ベースのエッチングガスを含んでいてもよい。更に、Ar、N2O、及びこれらの組合わせのような一つ以上の添加ガスを存在させてもよい。酸素ガスがチャンバのさらされた領域に堆積される半導体材料を酸化するので、洗浄効率を変えることができることから、O2ガスは供給されないことが好ましい。
[0028]遠隔プラズマ源に印加される電力は、最大が約25kWであってもよい。一実施形態において、電力は、約20kWであってもよい。遠隔プラズマ源へ電力は、ガス流量と圧力の関数であってもよい。一実施形態において、フッ素ベースのエッチングガスは、約30slm(即ち、毎分標準リットル)の流量を有してもよい。添加ガスは、最大が約30slmの流量で供給してもよい。フッ素ベースのガスと添加ガスの比は、約4:1〜約1:1であってもよい。一実施形態において、洗浄プロセスは、約60秒〜約120秒の間続く。
[0029]大容積処理チャンバ(即ち、表面積が約50,000cm2以上の基板を受容するように適合された基板受容面を有する処理チャンバ)については、高圧(即ち、約10トールより大きい)は、処理チャンバを有効に洗浄することが必要であり得る。驚くべきことに、低容積処理チャンバ(即ち、表面積が約50,000cm2未満の基板を受容するように適合された基板受容面を有する処理チャンバ)に充分である、低圧洗浄(即ち、約300ミリトール〜約500ミリトール)は、大容積処理チャンバを事実上洗浄することができない。
比較例1-10
[0030]表Iは、低圧(即ち、約300ミリトール〜約500ミリトール)で種々の処理チャンバを洗浄する結果を示す表である。各々の比較例について、シリコン堆積プロセスがチャンバ内で行われた後にチャンバを洗浄した。種々の処理チャンバは、各々が各実施例に列挙される基板サイズを有する基板を受容するように適合された基板受容面を有する。各チャンバについて、二つの洗浄比較例を示す。各チャンバに対し第一洗浄例(実施例1Aのように“A”で設計される)は、300ミリトールのチャンバ圧と摂氏200度のチャンバ温度で行った。洗浄は、60秒間行った。各チャンバに対し第二洗浄比較例(比較例1Bのように“B”によって設計される)は、500ミリトールのチャンバ圧と摂氏200度のチャンバ温度で行った。洗浄は、60秒間行った。
比較例1A及び比較例1B
[0031]表面積が約1,600cm2の基板を受容するように適合された基板受容面を有する処理チャンバを、摂氏200度の処理温度で60秒間洗浄ガスプラズマにさらした。比較例1Aにおいて、圧力は、300ミリトールであった。比較例1Bにおいて、圧力は、500ミリトールであった。比較例1Aと比較例1Bの双方において、洗浄された処理チャンバの百分率は、90パーセントを超え、10パーセント未満の汚染物質が処理チャンバ内に残存した。
比較例2A及び比較例2B
[0032]表面積が約4,300cm2の基板を受容するように適合された基板受容面を有する処理チャンバを、摂氏200度の処理温度で60秒間洗浄ガスプラズマにさらした。比較例2Aにおいて、圧力は、300ミリトールであった。比較例2Bにおいて、圧力は、500ミリトールであった。比較例2Aと比較例2Bの双方において、洗浄された処理チャンバの百分率は、90パーセントを超え、10パーセント未満の汚染物質が処理チャンバ内に残存した。
比較例3A及び比較例3B
[0033]表面積が約5,500cm2の基板を受容するように適合された基板受容面を有する処理チャンバを、摂氏200度の処理温度で60秒間洗浄ガスプラズマにさらした。比較例3Aにおいて、圧力は、300ミリトールであった。比較例3Bにおいて、圧力は、500ミリトールであった。比較例3Aと比較例3Bの双方において、洗浄された処理チャンバの百分率は、90パーセントを超え、10パーセント未満の汚染物質が処理チャンバ内に残存した。
比較例4A及び比較例4B
[0034]表面積が約10,000cm2の基板を受容するように適合された基板受容面を有する処理チャンバを、摂氏200度の処理温度で60秒間洗浄ガスプラズマにさらした。比較例4Aにおいて、圧力は、300ミリトールであった。比較例4Bにおいて、圧力は、500ミリトールであった。比較例4Aと比較例4Bの双方において、洗浄された処理チャンバの百分率は、90パーセントを超え、10パーセント未満の汚染物質が処理チャンバ内に残存した。
比較例5A及び比較例5B
[0035]表面積が約15,000cm2の基板を受容するように適合された基板受容面を有する処理チャンバを、摂氏200度の処理温度で60秒間洗浄ガスプラズマにさらした。比較例5Aにおいて、圧力は、300ミリトールであった。比較例5Bにおいて、圧力は、500ミリトールであった。比較例5Aと比較例5Bの双方において、洗浄された処理チャンバの百分率は、90パーセントを超え、10パーセント未満の汚染物質が処理チャンバ内に残存した。
比較例6A及び比較例6B
[0036]表面積が約20,000cm2の基板を受容するように適合された基板受容面を有する処理チャンバを、摂氏200度の処理温度で60秒間洗浄ガスプラズマにさらした。比較例6Aにおいて、圧力は、300ミリトールであった。比較例6Bにおいて、圧力は、500ミリトールであった。比較例6Aと比較例6Bの双方において、洗浄された処理チャンバの百分率は、90パーセントを超え、10パーセント未満の汚染物質が処理チャンバ内に残存した。
比較例7A及び比較例7B
[0037]表面積が約25,000cm2の基板を受容するように適合された基板受容面を有する処理チャンバを、摂氏200度の処理温度で60秒間洗浄ガスプラズマにさらした。比較例7Aにおいて、圧力は、300ミリトールであった。比較例7Bにおいて、圧力は、500ミリトールであった。比較例7Aと比較例7Bの双方において、洗浄された処理チャンバの百分率は、90パーセントを超え、10パーセント未満の汚染物質が処理チャンバ内に残存した。
比較例8A及び比較例8B
[0038]表面積が約40,000cm2の基板を受容するように適合された基板受容面を有する処理チャンバを、摂氏200度の処理温度で60秒間洗浄ガスプラズマにさらした。比較例8Aにおいて、圧力は、300ミリトールであった。比較例8Bにおいて、圧力は、500ミリトールであった。比較例8Aと比較例8Bの双方において、洗浄された処理チャンバの百分率は、90パーセントを超え、10パーセント未満の汚染物質が処理チャンバ内に残存した。
比較例9A及び比較例9B
[0039]表面積が約50,000cm2の基板を受容するように適合された基板受容面を有する処理チャンバを、摂氏200度の処理温度で60秒間洗浄ガスプラズマにさらした。比較例9Aにおいて、圧力は、300ミリトールであった。比較例9Bにおいて、圧力は、500ミリトールであった。比較例9Aと比較例9Bの双方において、洗浄された処理チャンバの百分率は、わずかに約75パーセントであり、25パーセントもの汚染物質が処理チャンバ内に残存した。
比較例10A及び比較例10B
[0040]表面積が約60,000cm2の基板を受容するように適合された基板受容面を有する処理チャンバを、摂氏200度の処理温度で60秒間洗浄ガスプラズマにさらした。比較例10Aにおいて、圧力は、300ミリトールであった。比較例10Bにおいて、圧力は、500ミリトールであった。比較例10Aと比較例10Bの双方において、洗浄された処理チャンバの百分率は、わずかに約50パーセントであり、50パーセントもの汚染物質が処理チャンバ内に残存した。
比較例1A及び比較例1B
[0031]表面積が約1,600cm2の基板を受容するように適合された基板受容面を有する処理チャンバを、摂氏200度の処理温度で60秒間洗浄ガスプラズマにさらした。比較例1Aにおいて、圧力は、300ミリトールであった。比較例1Bにおいて、圧力は、500ミリトールであった。比較例1Aと比較例1Bの双方において、洗浄された処理チャンバの百分率は、90パーセントを超え、10パーセント未満の汚染物質が処理チャンバ内に残存した。
比較例2A及び比較例2B
[0032]表面積が約4,300cm2の基板を受容するように適合された基板受容面を有する処理チャンバを、摂氏200度の処理温度で60秒間洗浄ガスプラズマにさらした。比較例2Aにおいて、圧力は、300ミリトールであった。比較例2Bにおいて、圧力は、500ミリトールであった。比較例2Aと比較例2Bの双方において、洗浄された処理チャンバの百分率は、90パーセントを超え、10パーセント未満の汚染物質が処理チャンバ内に残存した。
比較例3A及び比較例3B
[0033]表面積が約5,500cm2の基板を受容するように適合された基板受容面を有する処理チャンバを、摂氏200度の処理温度で60秒間洗浄ガスプラズマにさらした。比較例3Aにおいて、圧力は、300ミリトールであった。比較例3Bにおいて、圧力は、500ミリトールであった。比較例3Aと比較例3Bの双方において、洗浄された処理チャンバの百分率は、90パーセントを超え、10パーセント未満の汚染物質が処理チャンバ内に残存した。
比較例4A及び比較例4B
[0034]表面積が約10,000cm2の基板を受容するように適合された基板受容面を有する処理チャンバを、摂氏200度の処理温度で60秒間洗浄ガスプラズマにさらした。比較例4Aにおいて、圧力は、300ミリトールであった。比較例4Bにおいて、圧力は、500ミリトールであった。比較例4Aと比較例4Bの双方において、洗浄された処理チャンバの百分率は、90パーセントを超え、10パーセント未満の汚染物質が処理チャンバ内に残存した。
比較例5A及び比較例5B
[0035]表面積が約15,000cm2の基板を受容するように適合された基板受容面を有する処理チャンバを、摂氏200度の処理温度で60秒間洗浄ガスプラズマにさらした。比較例5Aにおいて、圧力は、300ミリトールであった。比較例5Bにおいて、圧力は、500ミリトールであった。比較例5Aと比較例5Bの双方において、洗浄された処理チャンバの百分率は、90パーセントを超え、10パーセント未満の汚染物質が処理チャンバ内に残存した。
比較例6A及び比較例6B
[0036]表面積が約20,000cm2の基板を受容するように適合された基板受容面を有する処理チャンバを、摂氏200度の処理温度で60秒間洗浄ガスプラズマにさらした。比較例6Aにおいて、圧力は、300ミリトールであった。比較例6Bにおいて、圧力は、500ミリトールであった。比較例6Aと比較例6Bの双方において、洗浄された処理チャンバの百分率は、90パーセントを超え、10パーセント未満の汚染物質が処理チャンバ内に残存した。
比較例7A及び比較例7B
[0037]表面積が約25,000cm2の基板を受容するように適合された基板受容面を有する処理チャンバを、摂氏200度の処理温度で60秒間洗浄ガスプラズマにさらした。比較例7Aにおいて、圧力は、300ミリトールであった。比較例7Bにおいて、圧力は、500ミリトールであった。比較例7Aと比較例7Bの双方において、洗浄された処理チャンバの百分率は、90パーセントを超え、10パーセント未満の汚染物質が処理チャンバ内に残存した。
比較例8A及び比較例8B
[0038]表面積が約40,000cm2の基板を受容するように適合された基板受容面を有する処理チャンバを、摂氏200度の処理温度で60秒間洗浄ガスプラズマにさらした。比較例8Aにおいて、圧力は、300ミリトールであった。比較例8Bにおいて、圧力は、500ミリトールであった。比較例8Aと比較例8Bの双方において、洗浄された処理チャンバの百分率は、90パーセントを超え、10パーセント未満の汚染物質が処理チャンバ内に残存した。
比較例9A及び比較例9B
[0039]表面積が約50,000cm2の基板を受容するように適合された基板受容面を有する処理チャンバを、摂氏200度の処理温度で60秒間洗浄ガスプラズマにさらした。比較例9Aにおいて、圧力は、300ミリトールであった。比較例9Bにおいて、圧力は、500ミリトールであった。比較例9Aと比較例9Bの双方において、洗浄された処理チャンバの百分率は、わずかに約75パーセントであり、25パーセントもの汚染物質が処理チャンバ内に残存した。
比較例10A及び比較例10B
[0040]表面積が約60,000cm2の基板を受容するように適合された基板受容面を有する処理チャンバを、摂氏200度の処理温度で60秒間洗浄ガスプラズマにさらした。比較例10Aにおいて、圧力は、300ミリトールであった。比較例10Bにおいて、圧力は、500ミリトールであった。比較例10Aと比較例10Bの双方において、洗浄された処理チャンバの百分率は、わずかに約50パーセントであり、50パーセントもの汚染物質が処理チャンバ内に残存した。
[0041]表面積が約50,000cm2の基板を受容するように適合された基板受容面を有するチャンバについて、チャンバから洗浄されるシリコンの百分率は、90パーセントより大きかった。しかしながら、表面積が約50,000cm2以上の基板を受容するように適合された基板受容面を有するチャンバについて、チャンバから洗浄されるシリコンの百分率は、90パーセント未満であった。従って、表面積が約50,000cm2未満の基板を受容するように適合された基板受容面を有するチャンバを洗浄するように用いられる洗浄条件は、表面積が約50,000cm2以上の基板を受容するように適合された基板受容面を有するチャンバを洗浄するのに有効であり得なかった。
実施例1-実施例2
実施例1-実施例2
[0042]表面積が約50,000cm2以上の基板を受容するように適合された基板受容面を有する処理チャンバの圧力を上げることによって、処理チャンバは、有効に洗浄することができる。表IIは、表面積が約50,000cm2以上の基板を受容するように適合された基板受容面を有する処理チャンバを洗浄する結果を示す表である。各チャンバについて、二つの洗浄実施例を示す。各チャンバに対する第一洗浄実施例(実施例1Aのように“A”によって設計される)は、10トールのチャンバ圧と摂氏200度のチャンバ温度で行った。洗浄は、60秒間行った。各チャンバに対する第二洗浄実施例(実施例1Bのように“B”によって設計される)は、15トールのチャンバ圧と摂氏200度のチャンバ温度で行った。洗浄は、60秒間行った。表IIに示されるように、チャンバから洗浄されるシリコンのパーセントは90パーセントより大きかった。
実施例1A及び実施例1B
[0043]表面積が約50,000cm2の基板を受容するように適合された基板受容面を有する処理チャンバを、摂氏200度の処理温度で60秒間洗浄ガスプラズマにさらした。実施例1Aにおいて、圧力は、10トールであった。実施例1Bにおいて、圧力は、15トールであった。実施例1Aと実施例1Bの双方において、洗浄された処理チャンバの百分率は、90パーセントを超え、10パーセント未満の汚染物質が処理チャンバ内に残存した。
実施例2A及び実施例2B
[0044]表面積が約60,000cm2の基板を受容するように適合された基板受容面を有する処理チャンバを、摂氏200度の処理温度で60秒間洗浄ガスプラズマにさらした。実施例2Aにおいて、圧力は、10トールであった。実施例2Bにおいて、圧力は、15トールであった。実施例2Aと実施例2Bの双方において、洗浄された処理チャンバの百分率は、90パーセントを超え、10パーセント未満の汚染物質が処理チャンバ内に残存した。
実施例1A及び実施例1B
[0043]表面積が約50,000cm2の基板を受容するように適合された基板受容面を有する処理チャンバを、摂氏200度の処理温度で60秒間洗浄ガスプラズマにさらした。実施例1Aにおいて、圧力は、10トールであった。実施例1Bにおいて、圧力は、15トールであった。実施例1Aと実施例1Bの双方において、洗浄された処理チャンバの百分率は、90パーセントを超え、10パーセント未満の汚染物質が処理チャンバ内に残存した。
実施例2A及び実施例2B
[0044]表面積が約60,000cm2の基板を受容するように適合された基板受容面を有する処理チャンバを、摂氏200度の処理温度で60秒間洗浄ガスプラズマにさらした。実施例2Aにおいて、圧力は、10トールであった。実施例2Bにおいて、圧力は、15トールであった。実施例2Aと実施例2Bの双方において、洗浄された処理チャンバの百分率は、90パーセントを超え、10パーセント未満の汚染物質が処理チャンバ内に残存した。
[0045]表面積が約50,000cm2の基板を受容するように適合された基板受容面を有する処理チャンバのための洗浄特性を比較すると(即ち、それぞれ表IIの実施例1A、1B、2A、2Bと表Iの実施例9A、9B、10A、10B)、処理条件の唯一の差は、圧力である。しかしながら、高圧下で洗浄される処理チャンバは、より効果的に洗浄された。実際に、高圧条件下で洗浄される大きなチャンバ(即ち、表面積が約50,000cm2以上の基板を受容するように適合された基板受容面を有する処理チャンバ)は、より小さなチャンバ(即ち、表面積が約50,000cm2未満の基板を受容するように適合された基板受容面を有するチャンバ)が低圧条件下で洗浄されたように効果的に洗浄された。従って、大面積チャンバは、高圧(即ち、約10トール以上)を用いることによって有効に洗浄することができる。
[0046]上記は本発明の実施形態に関するものであるが、本発明の他の多くの実施形態が本発明の基本範囲から逸脱せずに構成されてもよく、本発明の範囲は以下の特許請求の範囲によって決定される。
100…処理装置、102…PECVDチャンバ、106…サスセプタ、108…基板、110…シャワーヘッド、112…リッド、114…ブラケット、116…ガス通路、122…アクチュエータ、124…真空ポンプ、126…接地ストラアップ、128…RF電源、130…遠隔プラズマ源、132…ガス源、136…プレナム、138…上流側、140…下流側、142…リフトピン、200…単接合型ソーラーセル、202…基板、204…pドープ半導体層、208…nドープ半導体層、210…太陽、300…ソーラーセル、302…太陽、306…第一セル、308…第二セル、310…pドープ半導体層、312…真性半導体層、314…nドープ半導体層、316…pドープ半導体層、318…真性半導体層。
Claims (15)
- チャンバの洗浄方法であって、
遠隔プラズマ源に洗浄ガスを流すステップと、
該遠隔プラズマ源においてプラズマに点火するステップと、
表面積が約50,000平方センチメートル以上の基板を受容する大きさの処理チャンバに該プラズマを導入するステップであって、該チャンバが約10トール以上の圧力に維持されるステップと、
該プラズマで該チャンバを洗浄するステップと、
を含む、前記方法。 - 該洗浄ガスが、NF3とN2Oを約4:1〜約1:1のNF3とN2Oの流量比で含む、請求項1に記載の方法。
- 該洗浄ガスが、NF3、F2、SF6、及びこれらの組み合わせからなる群より選ばれる少なくとも一つのガスを含む、請求項1に記載の方法。
- 該チャンバの温度が、洗浄中、摂氏約175度と摂氏約225度の間にある、請求項1に記載の方法。
- 該圧力が、約10トールと約15トールの間にある、請求項1に記載の方法。
- ソーラーセルの製造方法であって、
第一チャンバ内で第一基板の上に第一シリコン膜を堆積させるステップであって、該基板が約50,000平方センチメートル以上の表面積を有する、前記ステップと、
該第一チャンバから該第一基板を取り出すステップと、
該第一チャンバを洗浄するステップであって、該洗浄するステップが、該第一チャンバを洗浄ガスで約10トール以上の圧力でプラズマ洗浄する工程を含む、前記ステップと、
該第一チャンバに第二基板を導入するステップと、
該第二基板の上に第二シリコン膜を堆積させるステップと、
を含む、前記方法。 - 該ソーラーセルが、単接合型ソーラーセルを備えている、請求項6に記載の方法。
- 該ソーラーセルが、タンデム接合型ソーラーセルを備えている、請求項6に記載の方法。
- 該洗浄ガスが、NF3とN2Oを約4:1〜約1:1のNF3とN2Oの流量比で含む、請求項6に記載の方法。
- 該洗浄ガスが、NF3、F2、SF6、及びこれらの組み合わせからなる群より選ばれる少なくとも一つのガスを含む、請求項6に記載の方法。
- 該チャンバの温度が、洗浄中、摂氏約175度と摂氏約225度の間にある、請求項6に記載の方法。
- 該圧力が、約10トールと約15トールの間にある、請求項6に記載の方法。
- シリコン堆積チャンバの洗浄方法であって、
該チャンバに洗浄ガスプラズマを導入するステップであって、該チャンバが、約50,000cm2以上の面積を有する基板を受容するように適合された基板受容面を持ち且つ約10トール以上の圧力に維持され、該プラズマが、フッ素基を含んでいる、前記ステップと、
フッ素基と該チャンバ上に堆積されたシリコンとを反応させて、該シリコンを除去するステップと、
を含む、前記方法。 - 該チャンバの温度が、該反応中、摂氏約175度と摂氏約225度の間にある、請求項13に記載の方法。
- 該圧力が、約10トールと約15トールの間にある、請求項13に記載の方法。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016538427A (ja) * | 2013-09-24 | 2016-12-08 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated | ガス供給を制御するための方法及びコントローラ |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20090056743A1 (en) * | 2007-08-31 | 2009-03-05 | Soo Young Choi | Method of cleaning plasma enhanced chemical vapor deposition chamber |
JP2012506620A (ja) * | 2008-10-21 | 2012-03-15 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | チャンバをクリーニングするプラズマ発生源とプロセス |
KR20130012671A (ko) * | 2011-07-26 | 2013-02-05 | 삼성전자주식회사 | 반도체 소자 제조 장비의 세정 방법 |
TWI474499B (zh) * | 2012-10-12 | 2015-02-21 | Iner Aec Executive Yuan | Microcrystalline silicon thin film solar cell element and its manufacturing method |
CN107516626B (zh) * | 2013-07-19 | 2021-03-26 | 朗姆研究公司 | 用于原位晶片边缘和背侧等离子体清洁的系统和方法 |
CN103962353B (zh) * | 2014-03-31 | 2016-03-02 | 上海华力微电子有限公司 | 等离子体刻蚀装置的腔体清洗方法 |
JP6749225B2 (ja) * | 2016-12-06 | 2020-09-02 | 東京エレクトロン株式会社 | クリーニング方法 |
Family Cites Families (30)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB8502424D0 (en) * | 1985-01-31 | 1985-03-06 | Pharis R P | Promotion of flowering fruit trees |
AUPM982294A0 (en) * | 1994-12-02 | 1995-01-05 | Pacific Solar Pty Limited | Method of manufacturing a multilayer solar cell |
FR2743193B1 (fr) * | 1996-01-02 | 1998-04-30 | Univ Neuchatel | Procede et dispositif de depot d'au moins une couche de silicium hydrogene microcristallin ou nanocristallin intrinseque, et cellule photovoltaique et transistor a couches minces obtenus par la mise en oeuvre de ce procede |
JP3437386B2 (ja) * | 1996-09-05 | 2003-08-18 | キヤノン株式会社 | 光起電力素子、並びにその製造方法 |
US6444507B1 (en) * | 1996-10-22 | 2002-09-03 | Seiko Epson Corporation | Fabrication process for thin film transistors in a display or electronic device |
US6121541A (en) * | 1997-07-28 | 2000-09-19 | Bp Solarex | Monolithic multi-junction solar cells with amorphous silicon and CIS and their alloys |
US6100160A (en) * | 1998-02-17 | 2000-08-08 | Texas Instruments Incorporated | Oxide etch barrier formed by nitridation |
US6673126B2 (en) * | 1998-05-14 | 2004-01-06 | Seiko Epson Corporation | Multiple chamber fabrication equipment for thin film transistors in a display or electronic device |
US6077722A (en) * | 1998-07-14 | 2000-06-20 | Bp Solarex | Producing thin film photovoltaic modules with high integrity interconnects and dual layer contacts |
US6472248B2 (en) * | 1999-07-04 | 2002-10-29 | Canon Kabushiki Kaisha | Microcrystalline series photovoltaic element and process for fabrication of same |
US7094670B2 (en) * | 2000-08-11 | 2006-08-22 | Applied Materials, Inc. | Plasma immersion ion implantation process |
US20050230047A1 (en) * | 2000-08-11 | 2005-10-20 | Applied Materials, Inc. | Plasma immersion ion implantation apparatus |
US7288491B2 (en) * | 2000-08-11 | 2007-10-30 | Applied Materials, Inc. | Plasma immersion ion implantation process |
US7465478B2 (en) * | 2000-08-11 | 2008-12-16 | Applied Materials, Inc. | Plasma immersion ion implantation process |
US6569257B1 (en) * | 2000-11-09 | 2003-05-27 | Applied Materials Inc. | Method for cleaning a process chamber |
US6548751B2 (en) * | 2000-12-12 | 2003-04-15 | Solarflex Technologies, Inc. | Thin film flexible solar cell |
TWI313059B (ja) * | 2000-12-08 | 2009-08-01 | Sony Corporatio | |
US20020124867A1 (en) * | 2001-01-08 | 2002-09-12 | Apl Co., Ltd. | Apparatus and method for surface cleaning using plasma |
US20030044539A1 (en) * | 2001-02-06 | 2003-03-06 | Oswald Robert S. | Process for producing photovoltaic devices |
JP4433131B2 (ja) * | 2001-03-22 | 2010-03-17 | キヤノン株式会社 | シリコン系薄膜の形成方法 |
JP2003007629A (ja) * | 2001-04-03 | 2003-01-10 | Canon Inc | シリコン系膜の形成方法、シリコン系膜および半導体素子 |
US20050189012A1 (en) * | 2002-10-30 | 2005-09-01 | Canon Kabushiki Kaisha | Zinc oxide film, photovoltaic device making use of the same, and zinc oxide film formation process |
KR100542740B1 (ko) * | 2002-11-11 | 2006-01-11 | 삼성전자주식회사 | 가스 플라즈마 생성 방법 및 장치, 플라즈마 생성용 가스조성물 및 이를 이용한 반도체 장치의 제조 방법 |
JP3855982B2 (ja) * | 2003-09-25 | 2006-12-13 | セイコーエプソン株式会社 | クリーニング方法及びクリーニング装置 |
US20050178333A1 (en) * | 2004-02-18 | 2005-08-18 | Asm Japan K.K. | System and method of CVD chamber cleaning |
US20060151002A1 (en) * | 2004-12-22 | 2006-07-13 | Devendra Kumar | Method of CVD chamber cleaning |
JP4945088B2 (ja) * | 2005-04-28 | 2012-06-06 | 三洋電機株式会社 | 積層型光起電力装置 |
CN101247879A (zh) * | 2005-06-13 | 2008-08-20 | 应用材料股份有限公司 | 用于弱减废气的方法及设备 |
EP1734589B1 (en) * | 2005-06-16 | 2019-12-18 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Method for manufacturing photovoltaic module |
US7582515B2 (en) * | 2007-01-18 | 2009-09-01 | Applied Materials, Inc. | Multi-junction solar cells and methods and apparatuses for forming the same |
-
2008
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