JP2010513467A - ルテニウム含有膜を堆積するための方法 - Google Patents
ルテニウム含有膜を堆積するための方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2010513467A JP2010513467A JP2009542378A JP2009542378A JP2010513467A JP 2010513467 A JP2010513467 A JP 2010513467A JP 2009542378 A JP2009542378 A JP 2009542378A JP 2009542378 A JP2009542378 A JP 2009542378A JP 2010513467 A JP2010513467 A JP 2010513467A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cycloheptadienyl
- carbon atoms
- cyclohexadienyl
- linear
- substituted
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N Ruthenium Chemical compound [Ru] KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 40
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 38
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 24
- 238000000151 deposition Methods 0.000 title claims description 21
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 claims abstract description 61
- 150000002902 organometallic compounds Chemical class 0.000 claims abstract description 29
- 239000003446 ligand Substances 0.000 claims abstract description 27
- 239000002243 precursor Substances 0.000 claims abstract description 27
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 claims abstract description 9
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 claims abstract description 9
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 claims abstract description 9
- 125000002015 acyclic group Chemical group 0.000 claims abstract description 6
- 229930195735 unsaturated hydrocarbon Natural products 0.000 claims abstract description 6
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 5
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 claims abstract description 4
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 claims abstract 2
- -1 cycloheptadienyl Chemical group 0.000 claims description 155
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 claims description 17
- 125000001424 substituent group Chemical group 0.000 claims description 17
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 15
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 15
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 15
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 14
- 125000001153 fluoro group Chemical group F* 0.000 claims description 13
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 13
- WEVYAHXRMPXWCK-UHFFFAOYSA-N Acetonitrile Chemical compound CC#N WEVYAHXRMPXWCK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 125000003545 alkoxy group Chemical group 0.000 claims description 12
- 125000002924 primary amino group Chemical group [H]N([H])* 0.000 claims description 12
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims description 11
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 claims description 11
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 9
- MXKMPPKIDDYUKU-UHFFFAOYSA-N CC1(C)CC=CC(C)=C1[Ru]C1=C(C)C=CCC1(C)C Chemical compound CC1(C)CC=CC(C)=C1[Ru]C1=C(C)C=CCC1(C)C MXKMPPKIDDYUKU-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 5
- 125000003678 cyclohexadienyl group Chemical group C1(=CC=CCC1)* 0.000 claims description 4
- 239000013110 organic ligand Substances 0.000 claims description 4
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 125000003368 amide group Chemical group 0.000 claims description 2
- 125000000484 butyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 claims description 2
- 125000000058 cyclopentadienyl group Chemical group C1(=CC=CC1)* 0.000 claims description 2
- ZSWFCLXCOIISFI-UHFFFAOYSA-N endo-cyclopentadiene Natural products C1C=CC=C1 ZSWFCLXCOIISFI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 125000001495 ethyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 claims description 2
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 claims description 2
- 125000001436 propyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 claims description 2
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 claims description 2
- 239000011701 zinc Substances 0.000 claims description 2
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 125000003277 amino group Chemical group 0.000 claims 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims 1
- 125000006574 non-aromatic ring group Chemical group 0.000 abstract 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 31
- 238000000231 atomic layer deposition Methods 0.000 description 14
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 14
- 239000000376 reactant Substances 0.000 description 12
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 9
- MGNZXYYWBUKAII-UHFFFAOYSA-N cyclohexa-1,3-diene Chemical compound C1CC=CC=C1 MGNZXYYWBUKAII-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 8
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 7
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 7
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 6
- VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N n-Hexane Chemical compound CCCCCC VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 5
- 229910001925 ruthenium oxide Inorganic materials 0.000 description 5
- WOCIAKWEIIZHES-UHFFFAOYSA-N ruthenium(iv) oxide Chemical compound O=[Ru]=O WOCIAKWEIIZHES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- OFBQJSOFQDEBGM-UHFFFAOYSA-N Pentane Chemical compound CCCCC OFBQJSOFQDEBGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- HGCIXCUEYOPUTN-UHFFFAOYSA-N cis-cyclohexene Natural products C1CCC=CC1 HGCIXCUEYOPUTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 4
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 4
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000005587 bubbling Effects 0.000 description 3
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 3
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 3
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 3
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 3
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 3
- 238000011534 incubation Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000047 product Substances 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- HIPJINRMIDCBDO-UHFFFAOYSA-N 2,6,6-trimethylcyclohexa-1,3-diene Chemical compound CC1=CC(C)(C)CC=C1 HIPJINRMIDCBDO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- HDRASWLEMAGRTB-UHFFFAOYSA-N 2-methylcyclohepta-1,3-diene Chemical compound CC1=CCCCC=C1 HDRASWLEMAGRTB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RHENAFDRVJPVBX-UHFFFAOYSA-J C([O-])([O-])=O.[Ru+3].[Li+].C([O-])([O-])=O Chemical compound C([O-])([O-])=O.[Ru+3].[Li+].C([O-])([O-])=O RHENAFDRVJPVBX-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 2
- FGUUSXIOTUKUDN-IBGZPJMESA-N C1(=CC=CC=C1)N1C2=C(NC([C@H](C1)NC=1OC(=NN=1)C1=CC=CC=C1)=O)C=CC=C2 Chemical compound C1(=CC=CC=C1)N1C2=C(NC([C@H](C1)NC=1OC(=NN=1)C1=CC=CC=C1)=O)C=CC=C2 FGUUSXIOTUKUDN-IBGZPJMESA-N 0.000 description 2
- 229910004121 SrRuO Inorganic materials 0.000 description 2
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000010828 elution Methods 0.000 description 2
- 239000012467 final product Substances 0.000 description 2
- 229910052451 lead zirconate titanate Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 2
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 2
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 2
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 2
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 2
- 238000010926 purge Methods 0.000 description 2
- 238000010992 reflux Methods 0.000 description 2
- YBCAZPLXEGKKFM-UHFFFAOYSA-K ruthenium(iii) chloride Chemical compound [Cl-].[Cl-].[Cl-].[Ru+3] YBCAZPLXEGKKFM-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 2
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 2
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 2
- JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N tellanylidenegermanium Chemical compound [Te]=[Ge] JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IFGYRIGRXVZVDQ-UHFFFAOYSA-N C1=CCCCC(C)=C1[Ru]C1=C(C)CCCC=C1 Chemical compound C1=CCCCC(C)=C1[Ru]C1=C(C)CCCC=C1 IFGYRIGRXVZVDQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GTKZYHUQOINCKI-UHFFFAOYSA-N C1CCC=CC(C)=C1[Ru]C1=C(C)C=CCCC1 Chemical compound C1CCC=CC(C)=C1[Ru]C1=C(C)C=CCCC1 GTKZYHUQOINCKI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N Dioxygen Chemical group O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YZCKVEUIGOORGS-UHFFFAOYSA-N Hydrogen atom Chemical compound [H] YZCKVEUIGOORGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JFWLFXVBLPDVDZ-UHFFFAOYSA-N [Ru]=O.[Sr] Chemical compound [Ru]=O.[Sr] JFWLFXVBLPDVDZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 229910021529 ammonia Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- RZEADQZDBXGRSM-UHFFFAOYSA-N bismuth lanthanum Chemical compound [La].[Bi] RZEADQZDBXGRSM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000006227 byproduct Substances 0.000 description 1
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 238000002716 delivery method Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000010790 dilution Methods 0.000 description 1
- 239000012895 dilution Substances 0.000 description 1
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 1
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- YBMRDBCBODYGJE-UHFFFAOYSA-N germanium oxide Inorganic materials O=[Ge]=O YBMRDBCBODYGJE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000010348 incorporation Methods 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 description 1
- GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N iridium atom Chemical compound [Ir] GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HFGPZNIAWCZYJU-UHFFFAOYSA-N lead zirconate titanate Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ti+4].[Zr+4].[Pb+2] HFGPZNIAWCZYJU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012705 liquid precursor Substances 0.000 description 1
- 239000012263 liquid product Substances 0.000 description 1
- 239000006193 liquid solution Substances 0.000 description 1
- 125000002524 organometallic group Chemical group 0.000 description 1
- 239000007800 oxidant agent Substances 0.000 description 1
- PVADDRMAFCOOPC-UHFFFAOYSA-N oxogermanium Chemical compound [Ge]=O PVADDRMAFCOOPC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021426 porous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000009257 reactivity Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 description 1
- CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N strontium atom Chemical compound [Sr] CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 231100000331 toxic Toxicity 0.000 description 1
- 230000002588 toxic effect Effects 0.000 description 1
- 238000009834 vaporization Methods 0.000 description 1
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C07—ORGANIC CHEMISTRY
- C07F—ACYCLIC, CARBOCYCLIC OR HETEROCYCLIC COMPOUNDS CONTAINING ELEMENTS OTHER THAN CARBON, HYDROGEN, HALOGEN, OXYGEN, NITROGEN, SULFUR, SELENIUM OR TELLURIUM
- C07F15/00—Compounds containing elements of Groups 8, 9, 10 or 18 of the Periodic Table
- C07F15/0006—Compounds containing elements of Groups 8, 9, 10 or 18 of the Periodic Table compounds of the platinum group
- C07F15/0046—Ruthenium compounds
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/06—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of metallic material
- C23C16/08—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of metallic material from metal halides
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C07—ORGANIC CHEMISTRY
- C07F—ACYCLIC, CARBOCYCLIC OR HETEROCYCLIC COMPOUNDS CONTAINING ELEMENTS OTHER THAN CARBON, HYDROGEN, HALOGEN, OXYGEN, NITROGEN, SULFUR, SELENIUM OR TELLURIUM
- C07F15/00—Compounds containing elements of Groups 8, 9, 10 or 18 of the Periodic Table
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/06—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of metallic material
- C23C16/18—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of metallic material from metallo-organic compounds
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
Abstract
Description
本発明の他の目的は、室温で液体であり、溶媒の添加なしで純液体として提供され得、前駆体と共に用いられる共反応物質に依存して純ルテニウム膜またはルテニウム含有膜の堆積を可能にし、結果として得られた膜が検出可能なインキュベーション時間なしで堆積され、純ルテニウムの堆積および他のルテニウム含有膜(例えばSrRuO3、RuO2)の堆積ためのALD法が得られるような、有機ルテニウム化合物を提供することであった。
Xは、少なくとも6個の炭素原子を持つ、(L)と同一または異なる非芳香族環状不飽和炭化水素であって、前記環は、無置換であるか、またはフルオロ、ヒドロキシまたはアミノから選択される1つ以上の基で置換されているか無置換の1ないし6個の炭素原子を持つ直鎖または分岐鎖アルキル基、1ないし6個の炭素原子を持つ直鎖または分岐鎖アルキルアミド基、1ないし6個の炭素原子を持つ直鎖または分岐鎖アルコキシ基、1ないし6個の炭素原子を持つ直鎖または分岐鎖アルキルアミジナートから選択される1つ以上の置換基で置換されているものであるか、または5ないし10個の炭素原子を持つ環状もしくは非環状の共役アルカジエニル炭化水素配位子のいずれかであって、前記炭化水素配位子は、無置換であるか、またはフルオロ、ヒドロキシまたはアミノから選択される1つ以上の基で置換されているか無置換の1ないし6個の炭素原子を持つ直鎖または分岐鎖アルキル基、1ないし6個の炭素原子を持つ直鎖または分岐鎖アルキルアミド基、1ないし6個の炭素原子を持つ直鎖または分岐鎖アルコキシ基、1ないし6個の炭素原子を持つ直鎖または分岐鎖アルキルアミジナートから選択される1つ以上の置換基で置換されている)。
および式;
a) - 少なくとも1つの基板を反応器中に提供する工程と、
b) - ここで先に定義された式(I)の少なくとも1つの有機金属化合物を前記反応器に導入する工程と、
c) - 前記少なくとも1つの有機金属化合物を、100℃以上の温度に設定された前記反応器中で、単数または複数の基板上にて分解させるかまたは吸着させる工程と、
d) - 前記少なくとも1つの基板上に前記ルテニウム含有膜を堆積させる工程と
を含む。
e) - 少なくとも1つの還元性流体を反応器に提供する工程
を含む。
f) - 少なくとも1つの酸素含有流体を反応器に導入する工程
を含む。
例1: ビス(2,6,6-トリメチル-シクロヘキサジエニル)ルテニウム
エタノール中の無水三塩化ルテニウム(RuCl3・nH2O)を、亜鉛(Zn)粉末および2,6,6-トリメチル-シクロヘキサジエンと混合する。
エタノール中の無水三塩化ルテニウム(RuCl3・nH2O)を、亜鉛(Zn)粉末および2-メチル-1,3-シクロヘプタジエンと混合する。
炭酸リチウム(LiCO3)中のジ-μ-クロロジクロロビス [(1-3η:6-8η)-2,7-ジメチルオクタジエニル]ジルテニウムのスラリーを、2,6,6-トリメチル-シクロヘキサジエンおよびアセトニトリル(CH3CN)を含有するエタノール溶液と混合する。混合物を還流させ、溶媒を減圧下で蒸発させ、残渣を攪拌する。得られた溶液をアルミナでクロマトグラフする。ヘキサンによる最終溶離工程で、生成物を最終的に良好な収率で得る。
炭酸リチウム(LiCO3)中のジ-μ-クロロジクロロビス [(1-3η:6-8η)-2,7-ジメチルオクタジエニル]ジルテニウムのスラリーを、2-メチル-1,3-シクロヘプタジエンおよびアセトニトリル(CH3CN)を含有するエタノール溶液と混合する。混合物を還流させ、溶媒を減圧下で蒸発させ、残渣を攪拌する。得られた溶液をアルミナでクロマトグラフにかける。ヘキサンによる最終溶離工程で、生成物を極めて良好な収率で得る。
Ru(2,6,6-トリメチル-シクロヘキサジエニル)2は、20℃で液体の淡黄色前駆体である。
ビス(2,6,6-トリメチル-シクロヘキサジエニル)ルテニウムを用いて、250℃超の温度で純ルテニウム膜を堆積させた。液体前駆体を80℃に加熱したバブラー中に置き、前駆体の蒸気をバブリング法によって高温壁反応器に運んだ。イナートガス、この場合はヘリウムをキャリアガスとして、かつ希釈目的で用いた。共反応物質として水素を使用した試験および使用しない試験を行った。
この前駆体ビス(2,6,6-トリメチル-シクロヘキサジエニル)ルテニウムは、適切な共反応物質を用いた低温(150〜350℃)でのルテニウム膜の原子層堆積(ALD)に適切である。ALD技術における金属ルテニウムの堆積は、共反応物質が分子状または原子状水素である場合、ならびにアンモニアおよび関連するラジカルNH2、NHおよび酸化剤によっても可能であることが見出されている。
ビス(2,6,6-トリメチルシクロヘキサジエニル)ルテニウムと酸素含有流体とを堆積炉中で反応させることによってルテニウム酸化物膜を堆積させた。この特殊な場合において、酸素含有流体は酸素であった。ALD技術におけるルテニウム酸化物堆積は、共反応物質が分子状または原子状酸素である場合、および水蒸気またはその他の酸素含有混合物によっても可能であることが見出されている。
Claims (14)
- 式(I)の有機金属化合物
Xは、少なくとも6個の炭素原子を持つ、(L)と同一または異なる非芳香族環状不飽和炭化水素であって、前記環は、無置換であるか、またはフルオロ、ヒドロキシまたはアミノから選択される1つ以上の基で置換されているか無置換の1ないし6個の炭素原子を持つ直鎖または分岐鎖アルキル基、1ないし6個の炭素原子を持つ直鎖または分岐鎖アルキルアミド基、1ないし6個の炭素原子を持つ直鎖または分岐鎖アルコキシ基、1ないし6個の炭素原子を持つ直鎖または分岐鎖アルキルアミジナートから選択される1つ以上の置換基で置換されているものであるか、
または5ないし10個の炭素原子を持つ環状もしくは非環状の共役アルカジエニル炭化水素配位子であって、前記炭化水素配位子は、無置換であるか、またはフルオロ、ヒドロキシまたはアミノから選択される1つ以上の基で置換されているか無置換の1ないし6個の炭素原子を持つ直鎖または分岐鎖アルキル基、1ないし6個の炭素原子を持つ直鎖または分岐鎖アルキルアミド基、1ないし6個の炭素原子を持つ直鎖または分岐鎖アルコキシ基、1ないし6個の炭素原子を持つ直鎖または分岐鎖アルキルアミジナートから選択される1つ以上の置換基で置換されている)。 - (L)はシクロヘキサジエニル(今後はchxd、C6H7)およびシクロヘプタジエニル(今後はchpd、C7H9)配位子であって、前記配位子は、無置換であるか、またはフルオロ、ヒドロキシまたはアミノから選択される1つ以上の基で置換されているか無置換の1ないし6個の炭素原子を持つ直鎖または分岐鎖アルキル基、1ないし6個の炭素原子を持つ直鎖または分岐鎖アルキルアミド基、1ないし6個の炭素原子を持つ直鎖または分岐鎖アルコキシ基、1ないし6個の炭素原子を持つ直鎖または分岐鎖アルキルアミジナートから選択される1つ以上の置換基で置換されているものから選択されるか、または5ないし10個の炭素原子を持つ環状もしくは非環状の共役アルカジエニル炭化水素配位子であって、前記炭化水素配位子は、無置換であるか、またはフルオロ、ヒドロキシまたはアミノから選択される1つ以上の基で置換されている1ないし6個の炭素原子を持つ直鎖または分岐鎖アルキル基、1ないし6個の炭素原子を持つ直鎖または分岐鎖アルキルアミド基、1ないし6個の炭素原子を持つ直鎖または分岐鎖アルコキシ基、1ないし6個の炭素原子を持つ直鎖または分岐鎖アルキルアミジナートから選択される1つ以上の置換基で置換されている請求項1において定義された式(I)の有機金属化合物。
- Xがシクロヘキサジエニル(今後はchxd、C6H7)、シクロヘプタジエニル(今後はchpd、C7H9)、シクロペンタジエニル、ペンタジエニル、ヘキサジエニルおよびヘプタジエニル配位子から選択され、前記配位子は、無置換であるか、またはフルオロ、ヒドロキシまたはアミノから選択される1つ以上の基で置換されているか無置換の1ないし6個の炭素原子を持つ直鎖または分岐鎖アルキル基、1ないし6個の炭素原子を持つ直鎖または分岐鎖アルキルアミド基、1ないし6個の炭素原子を持つ直鎖または分岐鎖アルコキシ基、1ないし6個の炭素原子を持つ直鎖または分岐鎖アルキルアミジナートから選択される1つ以上の置換基で置換されている請求項1または請求項2において定義された式(I)の有機金属化合物
- XおよびLが、無置換であるか、またはフルオロラジカルまたはアミノラジカルから選択された1つ以上のラジカルで置換されているか無置換の1ないし6個の炭素原子を持つ直鎖または分岐鎖アルキル基から選択される1以上の置換基で置換されている請求項1ないし請求項3のうちの1項において定義された式(I)の有機金属化合物
- XおよびLが、メチル、エチル、プロピルおよびブチルから選択された1つ以上の置換基で置換されていないかまたは置換されている請求項1ないし請求項4のうちの1項において定義された式(I)の有機金属化合物
- Lが、1-メチル-シクロヘキサジエニル、2-メチル-シクロヘキサジエニル、3-メチル-シクロヘキサジエニル、6メチル-シクロヘキサジエニル、1-エチル-シクロヘキサジエニル、2-エチル-シクロヘキサジエニル、3-エチル-シクロヘキサジエニル、6-エチル-シクロヘキサジエニル、1,6-ジメチル-シクロヘキサジエニル、2,6-ジメチル-シクロヘキサジエニル、3,6-ジメチル-シクロヘキサジエニル、1,6-ジエチル-シクロヘキサジエニル、2,6-ジエチル-シクロヘキサジエニル、3,6-ジエチル-シクロヘキサジエニル、1,6,6-トリメチル-シクロヘキサジエニル、2,6,6-トリメチル-シクロヘキサジエニル、3,6,6-トリメチル-シクロヘキサジエニル、1,6,6-トリエチル-シクロヘキサジエニル、2,6,6-トリエチル-シクロヘキサジエニル、3,6,6-トリエチル-シクロヘキサジエニル、1-メチル-シクロヘプタジエニル、2-メチル-シクロヘプタジエニル、3-メチル-シクロヘプタジエニル、7-メチル-シクロヘプタジエニル、1-エチル-シクロヘプタジエニル、2-エチル-シクロヘプタジエニル、3-エチル-シクロヘプタジエニル、7-エチル-シクロヘプタジエニル、1,6-ジメチル-シクロヘプタジエニル、2,6-ジメチル-シクロヘプタジエニル、3,6-ジメチル-シクロヘプタジエニル、4,6-ジメチル-シクロヘプタジエニル、5,6-ジメチル-シクロヘプタジエニル、6,6-ジメチル-シクロヘプタジエニル、1,7-ジメチル-シクロヘプタジエニル、2,7-ジメチル-シクロヘプタジエニル、3,7-ジメチル-シクロヘプタジエニル、1,5-ジメチル-シクロヘプタジエニル、7,7-ジメチル-シクロヘプタジエニル、1,6-ジエチル-シクロヘプタジエニル、2,6-ジエチル-シクロヘプタジエニル、3,6-ジエチル-シクロヘプタジエニル、4,6-ジエチル-シクロヘプタジエニル、5,6-ジエチル-シクロヘプタジエニル、6,6-ジエチル-シクロヘプタジエニル、1,7-ジエチル-シクロヘプタジエニル、2,7-ジエチル-シクロヘプタジエニル、3,7-ジエチル-シクロヘプタジエニル、1,5-ジエチル-シクロヘプタジエニルおよび7,7-ジエチル-シクロヘプタジエニルから選択される請求項1ないし請求項5のうちの1項において定義された式(I)の有機金属化合物。
- 請求項1ないし請求項6のうちの1項において定義された前記式(I)の有機金属化合物(ここでXおよびLは同一である)。
- 請求項1ないし請求項7のうちの1項において定義された式(I)のうちの、以下の有機金属化合物:ビス(2,6,6-トリメチルシクロヘキサジエニル)ルテニウム、ビス(メチル-シクロヘプタジエニル)ルテニウム、 (2,6,6-トリメチル-シクロヘキサジエニル) (1-3η:6-8η)-2,7-ジメチルオクタジエニル)ルテニウムおよび(1-メチル-シクロヘプタジエニル) (1-3η:6-8η)-2,7-ジメチルオクタジエニル)ルテニウム。
- Ru+++塩と前記適切な有機配位子を亜鉛の存在下で反応させることを含む請求項1ないし請求項8のうちの1項において定義された化合物を調製するための方法。
- LiCO3中のジ-μ-クロロジクロロビス [(1-3η:6-8η)-2,7-ジメチルオクタジエニル]ジルテニウムを、前記適切な有機配位子およびアセトニトリルを含有するエタノール溶液と反応させることを含む請求項1ないし請求項8のうちの1項において定義された化合物を調製するための方法。
- 基板上にルテニウム含有膜を堆積するための方法であって、
a) - 少なくとも1つの基板を反応器に提供する工程と、
b) - 請求項1ないし請求項8のうちの1項において定義された少なくとも1つの有機金属化合物を前記反応器に導入する工程と、
c) - 前記少なくとも1つの有機金属化合物を、100℃以上の温度に設定された前記反応器中で、単数または複数の基板上にて分解させるかまたは吸着させる工程と、
d) - 前記ルテニウム含有膜を前記少なくとも1つの基板上に堆積させる工程
とを含む方法。 - 少なくとも1つの還元流体を、少なくとも1つの前記ルテニウム前駆体と共に、または別個に前記反応器へと提供する工程e)をさらに含む請求項11による方法。
- 少なくとも1つの酸素含有流体を、少なくとも1つの前記ルテニウム前駆体と共に、または別個に前記反応器へと提供する工程e)をさらに含む請求項11または請求項12による方法。
- ルテニウムベースの膜で被覆された金属電極を製造するためのルテニウム前駆体としての、請求項1ないし請求項8のうちの1項において定義された有機金属化合物またはその混合物の使用。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP06301291.8 | 2006-12-22 | ||
EP06301291A EP1935897B1 (en) | 2006-12-22 | 2006-12-22 | New organo-Ruthenium compound, the process for its preparation and its use as a ruthenium precursor to manufacture ruthenium based film coated metal electrodes |
PCT/IB2007/055258 WO2008078295A1 (en) | 2006-12-22 | 2007-12-20 | Method for the deposition of a ruthenium containing film |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010513467A true JP2010513467A (ja) | 2010-04-30 |
JP5265570B2 JP5265570B2 (ja) | 2013-08-14 |
Family
ID=37966462
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009542378A Active JP5265570B2 (ja) | 2006-12-22 | 2007-12-20 | ルテニウム含有膜を堆積するための方法 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8557339B2 (ja) |
EP (1) | EP1935897B1 (ja) |
JP (1) | JP5265570B2 (ja) |
KR (1) | KR101468238B1 (ja) |
AT (1) | ATE500261T1 (ja) |
DE (1) | DE602006020470D1 (ja) |
TW (1) | TWI426150B (ja) |
WO (1) | WO2008078295A1 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011521983A (ja) * | 2008-06-02 | 2011-07-28 | ユミコア・アクチエンゲゼルシャフト・ウント・コムパニー・コマンディットゲゼルシャフト | ジエニル−ルテニウム錯体の製造法 |
JP2012092025A (ja) * | 2010-10-25 | 2012-05-17 | Jsr Corp | ルテニウム化合物の製造方法 |
WO2014088108A1 (ja) * | 2012-12-07 | 2014-06-12 | 東ソー株式会社 | ルテニウム錯体及びその製造方法並びにルテニウム含有薄膜の作製方法 |
JP2015007018A (ja) * | 2013-06-26 | 2015-01-15 | 東ソー株式会社 | ルテニウム錯体及びその製造方法、ルテニウム含有薄膜及びその作製方法 |
JP5892668B1 (ja) * | 2014-10-03 | 2016-03-23 | 田中貴金属工業株式会社 | 有機ルテニウム化合物からなる化学蒸着用原料及び該化学蒸着用原料を用いた化学蒸着法 |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009116191A1 (ja) * | 2008-03-17 | 2009-09-24 | Jsr株式会社 | ジルテニウム錯体および化学気相成長の材料と方法 |
KR20100060482A (ko) * | 2008-11-27 | 2010-06-07 | 주식회사 유피케미칼 | 루테늄 금속 또는 루테늄 산화물 박막 증착용 유기 금속 전구체 화합물 및 이를 이용한 박막 증착 방법 |
US9045509B2 (en) * | 2009-08-14 | 2015-06-02 | American Air Liquide, Inc. | Hafnium- and zirconium-containing precursors and methods of using the same |
US7893290B1 (en) * | 2010-04-13 | 2011-02-22 | W.C. Heraeus Gmbh | Process for the preparation of bis(pentadienyl)-complexes of iron group metals |
KR20140131219A (ko) * | 2013-05-03 | 2014-11-12 | 한국화학연구원 | 루테늄 전구체, 이의 제조방법 및 이를 이용하여 박막을 형성하는 방법 |
KR102359908B1 (ko) * | 2019-10-08 | 2022-02-09 | 주식회사 유진테크 | 박막 증착장치 및 박막 증착방법 |
US11401602B2 (en) | 2020-01-10 | 2022-08-02 | Applied Materials, Inc. | Catalyst enhanced seamless ruthenium gap fill |
KR102618533B1 (ko) * | 2021-03-10 | 2023-12-28 | 한국화학연구원 | 루테늄함유 박막증착용 조성물 및 이를 이용하는 루테늄함유 박막의 제조방법 |
KR102644483B1 (ko) * | 2021-08-06 | 2024-03-07 | 한국화학연구원 | 루테늄 유기금속화합물, 이의 제조방법 및 이를 이용하여 박막을 제조하는 방법 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09235287A (ja) * | 1996-03-01 | 1997-09-09 | Mitsubishi Materials Corp | 金属錯体及び金属薄膜形成方法 |
JP2003533535A (ja) * | 2000-05-16 | 2003-11-11 | フイルメニツヒ ソシエテ アノニム | ルテニウム化合物を製造する方法 |
JP2003342286A (ja) * | 2001-09-12 | 2003-12-03 | Tosoh Corp | ルテニウム錯体、その製造方法、及び薄膜の製造方法 |
JP2004292332A (ja) * | 2003-03-26 | 2004-10-21 | Mitsubishi Materials Corp | ルテニウム化合物の製造方法並びに該化合物により得られたルテニウム含有薄膜 |
JP2005060814A (ja) * | 2002-12-03 | 2005-03-10 | Jsr Corp | ルテニウム化合物および金属ルテニウム膜の製造法 |
WO2005103318A1 (en) * | 2004-02-04 | 2005-11-03 | Praxair Technology, Inc. | High nucleation density organometallic compounds |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5962716A (en) * | 1998-08-27 | 1999-10-05 | Micron Technology, Inc. | Methods for preparing ruthenium and osmium compounds |
US6517616B2 (en) * | 1998-08-27 | 2003-02-11 | Micron Technology, Inc. | Solvated ruthenium precursors for direct liquid injection of ruthenium and ruthenium oxide |
JP4162366B2 (ja) * | 2000-03-31 | 2008-10-08 | 田中貴金属工業株式会社 | Cvd薄膜形成プロセス及びcvd薄膜製造装置 |
KR100775159B1 (ko) * | 2000-05-15 | 2007-11-12 | 에이에스엠 인터내셔널 엔.붸. | 집적회로의 생산 공정 |
AU2001270502A1 (en) | 2000-05-17 | 2001-11-26 | Basell Technology Company B.V. | Component of catalyst for the diene polymerization, catalyst obtained therefrom and process for the preparation of polydienes based on it |
US6429127B1 (en) * | 2000-06-08 | 2002-08-06 | Micron Technology, Inc. | Methods for forming rough ruthenium-containing layers and structures/methods using same |
US6777565B2 (en) * | 2000-06-29 | 2004-08-17 | Board Of Trustees, The University Of Illinois | Organometallic compounds and their use as precursors for forming films and powders of metal or metal derivatives |
JP4759126B2 (ja) * | 2000-10-11 | 2011-08-31 | 田中貴金属工業株式会社 | 化学気相蒸着用の有機金属化合物及び化学気相蒸着用の有機金属化合物の製造方法並びに貴金属薄膜及び貴金属化合物薄膜の化学気相蒸着方法 |
US20060024190A1 (en) * | 2004-07-27 | 2006-02-02 | General Electric Company | Preparation of filler-metal weld rod by injection molding of powder |
KR100636023B1 (ko) * | 2005-08-02 | 2006-10-18 | 삼성전자주식회사 | 유기금속 전구체 및 이를 이용한 박막 제조방법 |
US7667065B2 (en) * | 2006-08-02 | 2010-02-23 | Praxair Technology, Inc. | High nucleation density organometallic compounds |
US20080171436A1 (en) * | 2007-01-11 | 2008-07-17 | Asm Genitech Korea Ltd. | Methods of depositing a ruthenium film |
US20090205538A1 (en) * | 2008-01-24 | 2009-08-20 | Thompson David M | Organometallic compounds, processes for the preparation thereof and methods of use thereof |
JP5549848B2 (ja) * | 2008-12-25 | 2014-07-16 | 東ソー株式会社 | ルテニウム化合物、その製法及びそれを用いた成膜法 |
-
2006
- 2006-12-22 EP EP06301291A patent/EP1935897B1/en not_active Not-in-force
- 2006-12-22 AT AT06301291T patent/ATE500261T1/de not_active IP Right Cessation
- 2006-12-22 DE DE602006020470T patent/DE602006020470D1/de active Active
-
2007
- 2007-12-19 TW TW096148584A patent/TWI426150B/zh active
- 2007-12-20 WO PCT/IB2007/055258 patent/WO2008078295A1/en active Application Filing
- 2007-12-20 US US12/520,116 patent/US8557339B2/en active Active
- 2007-12-20 JP JP2009542378A patent/JP5265570B2/ja active Active
- 2007-12-20 KR KR1020097012741A patent/KR101468238B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09235287A (ja) * | 1996-03-01 | 1997-09-09 | Mitsubishi Materials Corp | 金属錯体及び金属薄膜形成方法 |
JP2003533535A (ja) * | 2000-05-16 | 2003-11-11 | フイルメニツヒ ソシエテ アノニム | ルテニウム化合物を製造する方法 |
JP2003342286A (ja) * | 2001-09-12 | 2003-12-03 | Tosoh Corp | ルテニウム錯体、その製造方法、及び薄膜の製造方法 |
JP2005060814A (ja) * | 2002-12-03 | 2005-03-10 | Jsr Corp | ルテニウム化合物および金属ルテニウム膜の製造法 |
JP2004292332A (ja) * | 2003-03-26 | 2004-10-21 | Mitsubishi Materials Corp | ルテニウム化合物の製造方法並びに該化合物により得られたルテニウム含有薄膜 |
WO2005103318A1 (en) * | 2004-02-04 | 2005-11-03 | Praxair Technology, Inc. | High nucleation density organometallic compounds |
Non-Patent Citations (3)
Title |
---|
JPN6012056809; Inorganica Chimica Acta 359(13), 200610, p.4393-4397 * |
JPN6012056811; Inorganica Chimica Acta 357(11), 2004, p.3181-3186 * |
JPN6012056813; Journal of Organometallic Chemistry 97(2), 1975, p.275-282 * |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011521983A (ja) * | 2008-06-02 | 2011-07-28 | ユミコア・アクチエンゲゼルシャフト・ウント・コムパニー・コマンディットゲゼルシャフト | ジエニル−ルテニウム錯体の製造法 |
US8829220B2 (en) | 2008-06-02 | 2014-09-09 | Umicore Ag & Co., Kg | Process for preparing dienyl-ruthenium complexes |
JP2012092025A (ja) * | 2010-10-25 | 2012-05-17 | Jsr Corp | ルテニウム化合物の製造方法 |
WO2014088108A1 (ja) * | 2012-12-07 | 2014-06-12 | 東ソー株式会社 | ルテニウム錯体及びその製造方法並びにルテニウム含有薄膜の作製方法 |
US9349601B2 (en) | 2012-12-07 | 2016-05-24 | Tosoh Corporation | Ruthenium complex, method for producing same, and method for producing ruthenium-containing thin film |
JP2015007018A (ja) * | 2013-06-26 | 2015-01-15 | 東ソー株式会社 | ルテニウム錯体及びその製造方法、ルテニウム含有薄膜及びその作製方法 |
JP5892668B1 (ja) * | 2014-10-03 | 2016-03-23 | 田中貴金属工業株式会社 | 有機ルテニウム化合物からなる化学蒸着用原料及び該化学蒸着用原料を用いた化学蒸着法 |
WO2016052288A1 (ja) * | 2014-10-03 | 2016-04-07 | 田中貴金属工業株式会社 | 有機ルテニウム化合物からなる化学蒸着用原料及び該化学蒸着用原料を用いた化学蒸着法 |
US10131987B2 (en) | 2014-10-03 | 2018-11-20 | Tanaka Kikinzoku Kogyo K.K. | Raw material for chemical deposition including organoruthenium compound, and chemical deposition method using the raw material for chemical deposition |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE602006020470D1 (de) | 2011-04-14 |
TW200844252A (en) | 2008-11-16 |
KR20090092286A (ko) | 2009-08-31 |
US20100034971A1 (en) | 2010-02-11 |
JP5265570B2 (ja) | 2013-08-14 |
EP1935897A1 (en) | 2008-06-25 |
US8557339B2 (en) | 2013-10-15 |
KR101468238B1 (ko) | 2014-12-03 |
ATE500261T1 (de) | 2011-03-15 |
EP1935897B1 (en) | 2011-03-02 |
TWI426150B (zh) | 2014-02-11 |
WO2008078295A1 (en) | 2008-07-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5265570B2 (ja) | ルテニウム含有膜を堆積するための方法 | |
JP5181292B2 (ja) | 非対称配位子源、低対称性金属含有化合物、およびそれらを含むシステムと方法 | |
CN101981226B (zh) | 含有钌和碱土金属的三元氧化物膜的沉积 | |
US8017184B2 (en) | β-diketiminate ligand sources and metal-containing compounds thereof, and systems and methods including same | |
JP5003978B2 (ja) | アルカリ土類金属β‐ジケチミナート前駆体を用いた原子層堆積 | |
EP1887102B1 (en) | Precursors having open ligands for ruthenium containing films deposition | |
TWI409355B (zh) | 沈積含釕膜之方法 | |
US20090208670A1 (en) | Organometallic compounds, processes for the preparation thereof and methods of use thereof | |
TWI470107B (zh) | 用於沉積含過渡金屬之膜的環戊二烯基過渡金屬前驅物 | |
US20090203928A1 (en) | Organometallic compounds, processes for the preparation thereof and methods of use thereof | |
KR101344988B1 (ko) | 루테늄 함유 필름의 증착 방법 | |
TWI447256B (zh) | 含有釕及鹼土金屬的三元氧化物膜的沈積 | |
EP2468755A1 (en) | Novel barium precursors for vapor phase deposition of thin films | |
WO2012076356A1 (en) | Novel diazacrown barium and strontium precursors for vapor phase deposition of thin film |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100902 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20121030 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20130130 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20130206 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130228 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130402 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130501 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5265570 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |