JP2010505045A5 - - Google Patents

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本発明の浴組成物を使用して製造されたGa層は、Mo/Ru又はRu層のみでコーティングされたステンレス鋼基板を含んだ基部上に、全てが電気めっきされた金属からなる例示的な積層体を作製するのに用いられた。これらの積層体は、基部/Cu/Ga/In、基部/Cu/Ga/Cu/In、基部/Cu/In/Cu/Ga及び基部/Cu/In/Ga構造体をもたらす様々な析出順序を有していた。Indium Corporation of Americaによって市販されているスルファミン酸インジウム系のめっき浴が、In膜析出物のために利用された。この積層体は、環状炉内において、500℃で、50分間に亘り、Ar+H2Seガス混合物と反応させられ、Cu(In、Ga)Se2吸収体を形成した。Cu/(In+Ga)のモル比は、0.88−0.94の範囲内に維持され、一方で、Ga/(Ga/In)のモル比は、これらのサンプルにおいて、名目上は30%であった。この反応工程後、100nm圧のCdS層が吸収体表面上に形成され、基部/Cu(In、Ga)Se2/CdS構造体が得られた。Cd硫酸塩と、チオレア(Thiorea)、トリエチレンアミン(TEA)と、アンモニアとを含んだ溶液からCdSを析出させるため、周知の化学的浸漬方法が使用された。次に、ZnO/ITO透明導電膜が、スパッタリング技術によって、CdS膜上に堆積された。ITO膜上にNiフィンガーコンタクトを蒸着させて、太陽電池を完成させた。これらのデバイスから、11%程度の太陽電池効率が記録され、本発明のGa層を含んだ電着堆積物の品質を証明した。
以下に、本願出願当初の特許請求の範囲に記載された発明を付記する。
[1]サブミクロン厚のGa含有膜を導体に適用するための溶液であって、Ga塩と、錯化剤と、溶媒とを含み、前記溶液は、前記導体上での前記サブミクロン厚のGa含有膜の電着を提供する溶液。
[2][1]に記載の溶液であって、前記Ga含有膜は、実質的に純粋なGa膜である溶液。
[3][1]に記載の溶液であって、前記溶液のpHは7.0よりも高い溶液。
[4][3]に記載の溶液であって、前記Ga塩は、Ga塩化物、Ga硫酸塩、Ga酢酸塩及びGa硝酸塩からなる群より選択される溶液。
[5][3]に記載の溶液であって、前記錯化剤は、シトレート、EDTA及びグリシンからなる群より選択される溶液。
[6][5]に記載の溶液であって、前記錯化剤は、クエン酸ナトリウム、クエン酸リチウム、クエン酸アンモニウム、クエン酸カリウム及び有機的に改質したシトレートのうちの少なくとも1種である溶液。
[7][4]に記載の溶液であって、前記錯化剤は、クエン酸ナトリウム、クエン酸リチウム、クエン酸アンモニウム、クエン酸カリウム及び有機的に改質したシトレートのうちの少なくとも1種であり、前記溶媒は水であり、前記溶液のpH値は、9−14の範囲内にある溶液。
[8][3]に記載の溶液であって、前記溶媒は水である溶液。
[9][1]に記載の溶液であって、前記Ga塩は、Ga塩化物、Ga硫酸塩、Ga酢酸塩及びGa硝酸塩からなる群より選択される溶液。
[10][1]に記載の溶液であって、前記錯化剤は、シトレート、EDTA及びグリシンからなる群より選択される溶液。
[11][10]に記載の溶液であって、前記錯化剤は、クエン酸ナトリウム、クエン酸リチウム、クエン酸アンモニウム、クエン酸カリウム及び有機的に改質したシトレートのうちの少なくとも1種である溶液。
[12][11]に記載の溶液であって、前記溶媒は水である溶液。
[13][1]に記載の溶液であって、前記溶媒は水である溶液。
[14][1]に記載の溶液であって、有機添加剤を更に含んだ溶液。
[15][1]に記載の溶液であって、Cu塩及びIn塩のうちの少なくとも1種を更に含み、前記溶液のpHは7以上である溶液。
[16][15]に記載の溶液であって、前記溶液のpHは9−14の範囲内にある溶液。
[17][15]に記載の溶液であって、前記溶液は、VIA族、VIIA族及びVIIIA族の元素並びにこれらの化合物を本質的に含んでいない溶液。
[18][17]に記載の溶液であって、前記錯化剤は、シトレート、EDTA及びグリシンからなる群より選択される溶液。
[19][1]に記載の溶液であって、Cu塩及びIn塩の双方を更に含み、前記溶液のpHは7以上である溶液。
[20][19]に記載の溶液であって、前記溶液のpHは9−14の範囲内にある溶液。
[21][19]に記載の溶液であって、前記溶液は、VIA族、VIIA族及びVIIIA族の元素並びにこれらの化合物を本質的に含んでいない溶液。
[22][21]に記載の溶液であって、前記錯化剤は、シトレート、EDTA及びグリシンからなる群より選択される溶液。
[23]サブミクロン厚を有したGa含有膜を導体の表面上に得る方法であって、Ga塩と、錯化剤と、溶媒とを含んだ溶液を得る工程と、前記溶液を陽極と前記導体の前記表面上とに適用する工程と、前記陽極と前記導体との間に電位差を与える工程と、前記Ga含有膜を、前記導体の前記表面上に、前記サブミクロン厚まで電着させる工程とを含んだ方法。
[24][23]に記載の方法であって、前記Ga含有膜は、実質的に純粋なGa膜である方法。
[25][23]に記載の方法であって、前記導体は銅である方法。
[26][23]に記載の方法であって、前記導体はインジウムである方法。
[27][23]に記載の方法であって、前記得る工程において得られる溶液は、7.0より高いpHを有する方法。
[28][27]に記載の方法であって、前記溶液のpHは9−14の範囲内にある方法。
[29][27]記載の方法であって、前記得る工程おいて得られる前記溶液は、Ga塩化物、Ga硫酸塩、Ga酢酸塩及びGa硝酸塩からなる群より選択されるGa塩を含んでいる方法。
[30][27]に記載の方法であって、前記得る工程において得られる溶液は、シトレート、EDTA及びグリシンからなる群より選択される錯化剤を含んでいる方法。
[31][30]に記載の方法であって、前記得る工程において得られる前記溶液は、前記錯化剤として、クエン酸ナトリウム、クエン酸リチウム、クエン酸アンモニウム、クエン酸カリウム及び有機的に改質されたシトレートのうちの少なくとも1種を含んでいる方法。
[32][29]に記載の方法であって、前記得る工程において得られる前記溶液は、前記錯化剤として、クエン酸ナトリウム、クエン酸リチウム、クエン酸アンモニウム、クエン酸カリウム及び有機的に改質されたシトレートのうちの少なくとも1種を含んでおり、前記溶媒は水であり、前記溶液のpH値は9−14の範囲内にある方法。
[33][27]に記載の方法であって、前記得る工程において得られる前記溶液は、前記溶媒として水を含んでいる方法。
[34][23]に記載の方法であって、前記得る工程において得られる前記溶液は、Ga塩化物、Ga硫酸塩、Ga酢酸塩及びGa硝酸塩からなる群より選択されるGa塩を含んでいる方法。
[35][23]に記載の方法であって、前記得る工程において得られる前記溶液は、シトレート、EDTA及びグリシンからなる群より選択される錯化剤を含んでいる方法。
[36][35]に記載の方法であって、前記得る工程において得られる前記溶液は、前記錯化剤として、クエン酸ナトリウム、クエン酸リチウム、クエン酸アンモニウム、クエン酸カリウム及び有機的に改質されたシトレートのうちの少なくとも1種を含んでいる方法。
[37][36]に記載の方法であって、前記得る工程において得られる前記溶液は、前記溶媒として水を含んでいる方法。
[38][23]に記載の方法であって、前記得る工程において得られる前記溶液は、前記溶媒として水を含んでいる方法。
[39][23]に記載の方法であって、前記得る工程において得られる前記溶液は、有機添加剤を更に含んでいる方法。
[40][23]に記載の方法であって、前記得る工程において得られる前記溶液は、Cu塩及びIn塩のうちの少なくとも1種を更に含んでおり、前記溶液のpHは7以上である方法。
[41][40]に記載の方法であって、前記溶液のpHは9−14の範囲内にある方法。
[42][41]に記載の方法であって、前記得る工程において得られる前記溶液は、VIA族、VIIA族及びVIIIA族の元素並びにこれらの化合物を本質的に含んでいない方法。
[43][42]に記載の方法であって、前記得る工程において得られる前記溶液は、シトレート、EDTA及びグリシンからなる群より選択される錯化剤を含んでいる方法。
[44][23]に記載の方法であって、前記得る工程において得られる前記溶液は、Cu塩及びIn塩の双方を更に含んでおり、前記溶液のpHは7以上である方法。
[45][44]に記載の方法であって、前記溶液のpHは9−14の範囲内にある方法。
[46][45]に記載の方法であって、前記得る工程において得られる前記溶液は、VIA族、VIIA族及びVIIIA族の元素並びにこれらの化合物を本質的に含んでいない方法。
[47][46]に記載の方法であって、前記得る工程において得られる前記溶液は、シトレート、EDTA及びグリシンからなる群より選択される錯化剤を含んでいる方法。
[48]サブミクロン厚のGa含有膜を導体に適用するための溶液であって、溶媒中に溶解したGaソースと、錯化剤と、前記溶液のpHを7よりも高い値へと調節するpH調節剤とを含んだ溶液。
[49][48]に記載の溶液であって、前記pH値は10より高い溶液。
[50][49]に記載の溶液であって、前記Gaソースは、Ga塩化物、Ga硫酸塩、Ga酢酸塩及びGa硝酸塩からなる群より選択される溶液。
[51][50]に記載の溶液であって、前記錯化剤は、シトレート、EDTA及びグリシンからなる群より選択される溶液。
[52][51]に記載の溶液であって、前記溶媒は水である溶液。
[53][52]に記載の溶液であって、前記pH調節剤は、NaOH及びKOHのうちの少なくとも1種である溶液。

Claims (12)

  1. ガリウム(Ga含有膜を導体に電着させるための溶液であって、
    ガリウム(Ga塩と、
    カルボキシルキレート基及びアンミンキレート基の少なくとも一方を有した錯化剤と、
    溶媒と
    を含み、
    前記溶液のpHは7.0よりも大きい溶液。
  2. 請求項記載の溶液であって、前記錯化剤は、シトレート、エチレンジアミン四酢酸(EDTA)、タータラート、オキサレート、エチレンジアミン、ニトリロトリ酢酸及びアミノ酸からなる群より選択される溶液。
  3. 請求項1記載の溶液であって、前記ガリウム(Ga)塩は、ガリウム(Ga)塩化物、ガリウム(Ga)硫酸塩、ガリウム(Ga)酢酸塩及びガリウム(Ga)硝酸塩からなる群より選択される溶液。
  4. 請求項2記載の溶液であって、前記ガリウム(Ga)塩は、ガリウム(Ga)塩化物、ガリウム(Ga)硫酸塩、ガリウム(Ga)酢酸塩及びガリウム(Ga)硝酸塩からなる群より選択される溶液。
  5. 請求項2記載の溶液であって、前記錯化剤のアルカリ金属塩を含んだ溶液。
  6. 請求項5記載の溶液であって、前記錯化剤の前記アルカリ金属塩は、前記錯化剤のナトリウム塩、前記錯化剤のカリウム塩及び前記錯化剤のリチウム塩のうちの一種である溶液。
  7. 請求項記載の溶液であって、前記溶媒は水である溶液。
  8. 請求項1記載の溶液であって、前記溶媒は、水と有機溶媒との混合物である溶液。
  9. 請求項1記載の溶液であって、有機添加剤を更に含んだ溶液。
  10. 請求項1記載の溶液であって、銅(Cu塩及びインジウム(In塩のうちの少なくとも1種を更に含んだ溶液
  11. 請求項1記載の溶液であって、NaOH及びKOHの一方であるpH調節剤を更に含んだ溶液。
  12. 請求項記載の溶液であって、前記溶液のpHは9−14の範囲内にある溶液。
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