JP2010268162A - 撮像装置、及びその制御方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】撮像素子に含まれる画素の出力信号レベルが入射光の実際の強度に対応する値よりも低下する現象の発生をより正確に検出する。
【解決手段】所定の輝度の入射光に対して第2のレベルの信号を出力する第2の画素と、前記所定の輝度の入射光に対して前記第2のレベルより低い第1のレベルの信号を出力する第1の画素と、前記第1の画素及び第2の画素から出力された信号を基準信号に基づいて補正する補正手段と、前記補正手段により補正された第1の画素からの信号のレベルに基づいて、前記補正手段により補正された第2の画素からの信号を所定の値に置換すべきか否かを判定する判定手段とを備えた撮像装置を提供する。
【選択図】図2
【解決手段】所定の輝度の入射光に対して第2のレベルの信号を出力する第2の画素と、前記所定の輝度の入射光に対して前記第2のレベルより低い第1のレベルの信号を出力する第1の画素と、前記第1の画素及び第2の画素から出力された信号を基準信号に基づいて補正する補正手段と、前記補正手段により補正された第1の画素からの信号のレベルに基づいて、前記補正手段により補正された第2の画素からの信号を所定の値に置換すべきか否かを判定する判定手段とを備えた撮像装置を提供する。
【選択図】図2
Description
本発明は、撮像装置、及びその制御方法に関する。
近年、撮像素子としてCMOSイメージセンサが注目を集めている。CMOSイメージセンサはCCDイメージセンサよりも消費電力が低く、且つCCDイメージセンサと同等の高いSN比の信号を得ることができるからである。また、CMOSイメージセンサには、内部に信号処理部を混在させることができるという利点もある。
CMOSイメージセンサを使用するデジタルカメラ等を用いて写真撮影を行う場合、CMOSイメージセンサの画素に非常に強い光が入射すると、その画素の出力信号レベルが低くなる場合がある。その結果、写真の一部が実際よりも暗く見える「高輝度黒沈み」という現象が生じることが知られている。
この原因は、CMOSイメージセンサにおいて基準レベルを読み出す際に画素のフォトダイオード(PD)からフローティング・ディフュージョン(FD)に電荷が漏れこみ、基準レベルが急激に大きなレベルになることであると考えられている。そこで、特許文献1は、出力信号レベルが飽和している画素の間にあり、且つ出力信号レベルが所定の閾値より小さい画素を補正領域とし、補正領域の画素の出力信号を飽和値に置換することによって「高輝度黒沈み」の問題に対処することを開示している。
しかしながら、特許文献1に開示されている技術では、出力信号レベルが所定の閾値より小さい画素において「高輝度黒沈み」が発生しているのか、或いは、実際に入射光の強度が弱いのかを判別することが困難である。従って、実際に入射光の強度が低いにも関わらず出力信号を飽和値に置換してしまい、その結果、撮影画像の画質が低下してしまう場合がある。
本発明はこのような状況に鑑みてなされたものであり、撮像素子に含まれる画素の出力信号レベルが入射光の実際の強度に対応する値よりも低下する現象の発生をより正確に検出する技術を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、本発明の技術的特徴としては、所定の輝度の入射光に対して第2のレベルの信号を出力する第2の画素と、前記所定の輝度の入射光に対して前記第2のレベルより低い第1のレベルの信号を出力する第1の画素とを有する撮像装置の制御方法であって、補正手段が、前記第1の画素及び第2の画素から出力された信号を基準信号に基づいて補正する補正ステップと、判定手段が、前記補正ステップにより補正された第1の画素からの信号のレベルに基づいて、前記補正ステップにより補正された第2の画素からの信号を所定の値に置換すべきか否かを判定する判定ステップとを備えたことを特徴とする。
本発明によれば、撮像素子に含まれる画素の出力信号レベルが入射光の実際の強度に対応する値よりも低下する現象の発生をより正確に検出することが可能となる。
以下、添付図面を参照して、本発明の実施例を説明する。
本発明の撮像装置をデジタルカメラに適用した実施例について説明する。図1は、実施例1に係るデジタルカメラ100の構成を示すブロック図である。図1において、101はレンズ群、102は複数の画素を持つCMOSイメージセンサ等の撮像素子、103は撮像素子102の出力信号を増幅してA/D変換するアナログフロントエンド(AFE)である。104は、AFE103及び後述する画素補間処理部106から入力された信号に基づいて、「高輝度黒沈み」が発生している領域を補正領域として検出する補正領域検出部である。105は撮像装置全体を制御するCPU(制御部)、106は撮像素子102の複数の画素から読み出された信号(画像信号)を補間する画素補間処理部である。107は補正領域検出部104で検出された補正領域の画像信号をあるレベルの画像信号に置換することにより画素補間処理部106が出力した画像信号を補正する補正部である。108はカメラ信号処理部、109は記録用信号処理部、110は液晶パネルなどを含む表示装置、111はDVDディスクなどの記録メディアである。
撮像素子102は、第1の画素の集合である第1画素群と第2の画素の集合である第2画素群とを含み、第1画素群と第2画素群とは、入射光に対して相互に異なる感度で光電変換を行うことができる。「感度が異なる」とは、画素の出力信号が飽和レベルに達しないような閾値以下の所定の輝度の被写体からの入射光を光電変換した場合に、異なるレベル(第1のレベル、及び第2のレベル)の信号が出力されるということを意味する。第1画素群と第2画素群との感度を相互に異ならせる方法としては、例えば以下の方法が挙げられる。
1.画素の前段に配置されるフィルタの透過率を、第1画素群用のフィルタ(第1フィルタ)と第2画素群用のフィルタ(第2フィルタ)とで異ならせる。
2.画素を構成するフォトダイオードの面積、又は画素の開口部の面積を、第1画素群の画素と第2画素群の画素とで相互に異ならせる。
3.第1画素群と第2画素群とで、相互に異なる蓄積時間で電荷を読み出せるように、撮像素子102を構成する。
2.画素を構成するフォトダイオードの面積、又は画素の開口部の面積を、第1画素群の画素と第2画素群の画素とで相互に異ならせる。
3.第1画素群と第2画素群とで、相互に異なる蓄積時間で電荷を読み出せるように、撮像素子102を構成する。
いずれの場合も、後述する補正領域検出部104の動作は同様であるので、本実施例では、第1画素群と第2画素群とで、相互に異なる蓄積時間で電荷を読み出せるように、撮像素子102を構成する場合について説明する。
図2は、実施例1に係る撮像素子102の内部構成図である。撮像素子102は、XYアドレス方式の固体撮像素子であり、図2においては、一部の行と列のみを示す。
図2において、201はそれぞれ1つの画素(画素の内部構成は、図3を参照して後述する)、202はフローティングディフュージョンアンプ(FDアンプ)である。203a,203bは行読み出し制御線(20行目〜23行目の分を203a−20〜203a−23,203b−20〜203b−23と表記する)である。204a,204bは行リセット制御線(20行目〜23行目の分を204a−20〜204a−23,204b−20〜204b−23と表記する)である。205a,205bは行選択制御線(20行目〜23行目の分を205a−20〜205a−23,205b−20〜205b−23と表記する)である。
206a,206bは列信号線、207a,207bは列アンプ、208a,208bは垂直走査回路、209a,209bは水平走査回路、210a,210bは列信号バッファ容量である。211a,211bは列選択線、212a,212bは列選択スイッチ、213a,213bは水平信号線、214a,214bは出力バッファアンプ、215a,215bは映像出力端子である。
216a,216bは設定によってリセットタイミングや読み出しタイミングを生成するタイミングジェネレータ(TG)(第1制御回路、第2制御回路)である。217は垂直同期信号入力端子、218は水平同期信号入力端子である。219a,219bは外部CPUのTG216a,216bに対するリセットと読み出しの設定信号線である。220a,220bは読み出し行タイミング信号、221a,221bは読み出し列タイミング信号である。
図3は、画素201の構成例を示す図である。図3において、301はフォトダイオード(PD)、302は行読み出し制御線(図2の行読み出し制御線203a又は203bに接続される)、303は行読み出しトランジスタである。
304はフローティング・ディフュージョン(FD)、305は行リセット制御線(図2の行リセット制御線204a又は204bに接続される)、306は行リセットトランジスタである。307はリセットレベル入力、308は行選択制御線(図2の行選択制御線205a又は205bに接続される)、309は行選択トランジスタ、310は信号出力である。
本実施例では、撮像素子102の全画素が2種類の画素群(第1画素群及び第2画素群)に分けられている。それぞれの画素群は、別々のTG及び走査回路に接続されることにより、相互に異なる蓄積時間で駆動が可能であり、別々の出力端子より信号を出力する。もちろん、2つの画素群の出力信号を多重して1つの出力端子より出力し、A/D変換後にそれぞれの画素群の出力に分離する方法をとってもよい。
図2においては、添え字として「a」を持つ番号の制御線に接続されている画素が第1画素群を構成し、添え字として「b」を持つ番号の制御線に接続されている画素が第2画素群を構成する。図2においては、第1画素群が離散的に第2画素群の中に1行1列おきに配置されているが、必ずしもこの例で示す配置でなくても、本発明を実現することができる。
次に、図1、図2、及び図3を参照して、デジタルカメラ100の動作を説明する。CPU105が、撮像素子102内のTG216a,216bに対して、フィールド又はフレームごとの各画素群のリセット・読み出しタイミングを設定する。レンズ群101を通って撮像素子102の受光面上に光学像が結像されると、撮像素子102の各画素群のPDでは、各々の画素でのリセット・読み出しタイミング、及び入射光量に応じて、光電荷が発生する。
ここで、撮像素子102内の動作を説明する。FD304は、所定の容量のキャパシタンスで構成されており、キャパシタンスにチャージされた電荷に応じた電圧を発生する。まず、行リセット制御線305が活性化されると行リセットトランジスタ306がオンになり、リセットレベル入力307(電源VDD)がFDをチャージし、FDはリセットレベルとなる。
次いで、行選択制御線308が活性化されると行選択トランジスタ309がオンになり、FD304のリセットレベルがFDアンプ202において増幅されて、列信号線206a,206bに基準信号が出力される。基準信号は、列アンプ207a,207bで増幅され、列信号バッファ容量210a,210bに格納される。
一方、PD301には、各画素への入射光量に応じた光電荷が蓄積されており、行読み出し制御線302が活性化されると行読み出しトランジスタ303がオンになり、PD301の光電荷がFD304に移動する。このとき、FD304においては、移動した光電荷分の差だけ、リセットレベルに対して電圧レベルが変化する。
変化後の電圧レベルは、FDアンプ202において増幅されて、列信号線206a,206bに補正前の電圧信号として出力され、列信号バッファ容量210a,210bに格納された基準信号を補正前の電圧信号から減じる補正により、補正後の電圧信号(画素電圧信号)が得られる。
水平走査回路209a,209bにおいて列信号選択線211a,211bに印加する制御信号を所定のタイミングと順序に従って動作させることにより、列選択スイッチ212a,212bが順次開閉動作する。これにより、1行分の画素電圧信号が、水平信号線213a,213bと出力バッファ214a,214bとを通じて、映像出力端子215a,215bから出力される。
このように、第1画素群及び第2画素群において生じた光電荷は、撮像素子102のそれぞれのTG216a,216bによって駆動された蓄積時間に従って、各々の映像出力端子215a,215bから所定の順序で出力映像電圧信号として出力される。出力映像電圧信号は、AFE103において増幅されデジタルデータに変換される。
画素補間処理部106は、第1画素群及び第2画素群の出力信号より、記録表示に使われる映像用の信号を生成する。具体的な方法は後述するが、本実施例では画素補間処理部106は、第2画素群の出力信号に補間処理を行ったものを映像用の信号とするように動作する。
補正領域検出部104は第1画素群の出力信号、及び、画素補間処理部106によって補間された第2画素群の出力信号に基づいて、補正領域を検出する。補正領域の検出方法は後述する。補正部107は、画素補間処理部106によって補間された第2画素群の出力信号に対して、補正領域検出部104から検出された補正領域の画素を、ある特定の画素信号レベル(通常は、飽和レベル)に置換することによって補正処理を行う。
以上のような処理が行われた後、第2画素群の出力信号は、カメラ信号処理部108において所定のカメラ信号処理が行われ、表示装置110に表示される。また、第2画素群の出力信号は、記録用信号処理部109を経て、記録メディア111に撮像画像として記録される。
図4は、画素補間処理部106の動作を表すタイミングチャートである。撮像素子102においては、第1画素群が第2画素群中に離散的に配置されているので、第2画素群の信号は、ところどころに欠落が発生する。そのため、第2画素群の出力信号が欠落する画素(即ち、第1画素群の位置に対応する画素)に対して補間処理を行って映像信号を生成する必要がある。
図4において、垂直アドレスは撮像素子102上の行番号、水平アドレスは画素番号(列番号)に相当する。本実施例では、奇数の行番号のライン上に1画素おきに第1画素群の画素と第2画素群の画素が配置されている。そのため、偶数ラインには第2画素群の全画素の信号が入力されるが、奇数ラインでは第2画素群の信号が1画素おきに欠落する。また、図4において、S(X,Y)は、X行Y列の画素からの出力信号を表す。
CPU105は、撮像素子102における第1画素群及び第2画素群の配置情報、垂直アドレス、そして水平アドレスに従って、画素ごとの画素補間制御信号を生成し、画素補間処理部106に入力する。画素補間処理部106は、画素補間制御信号が0のときは、第2画素群からの入力をそのまま出力し、画素補間制御信号が1のときは、その周辺画素より補間を行って補間信号を出力する。本実施例では、隣接画素の平均値を補間信号としている。
図5は、実施例1において補正領域検出部104が補正領域を検出する方法を説明する図である。横軸は画素に対する入力光量Xを表し、縦軸はその画素の出力信号レベルを表す。501は第1画素群の画素からの出力信号Y1(第1信号)、502は第2画素群の画素からの出力信号Y2(第2信号)を表す。
第2画素群に対する第1画素群の感度比をK(0<K<1)とした場合、入力光量Xが、ある光量値X1より小さい場合(図5における範囲503)は、
Y1=K×Y2 (式1)
の関係が成り立つ。入力光量がX1以上X2以下の場合(図5における範囲504)は、第2画素群が飽和に達し、一定の出力信号レベルTh1になるため、
Y2=Th1 (式2)
となり、
Y1>K×Th1 (式3)
の関係が成り立つ。
Y1=K×Y2 (式1)
の関係が成り立つ。入力光量がX1以上X2以下の場合(図5における範囲504)は、第2画素群が飽和に達し、一定の出力信号レベルTh1になるため、
Y2=Th1 (式2)
となり、
Y1>K×Th1 (式3)
の関係が成り立つ。
即ち、第1画素群の出力信号に対して式3が成り立つ場合に、補正領域検出部104は、第2画素群の出力信号が飽和レベルを超えるであろうことが推測できる。
入力光量がX2を超えた場合(図5における範囲505)も同様に第1画素群の出力信号に対して式3が成り立つので、補正領域検出部104は、第2画素群の出力信号が飽和レベルを超えるであろうことが推測できる。しかしながら、実際には「高輝度黒沈み」現象が起きるため、第2画素群の出力信号は飽和レベルに達せず、
Y2<Th1 (式4)
となる。
Y2<Th1 (式4)
となる。
よって補正領域検出部104は、予め設定可能な飽和レベルTh1をもとに、第1画素群の出力信号に対して式3が成り立ち、且つ、画素補間処理部106によって補間された第2画素群の出力信号に対して式4が成り立つ画素を、補正領域として検出する。換言すれば、補正領域検出部104は、第2画素群の出力信号を判定すべきか否かを判定する判定部として動作可能である。
第1画素群が離散的に配置されている場合には、第2画素群の判断対象の画素に対して、最も近傍の第1画素群の画素の判断結果を用いることで、補正領域の検出が可能である。
また、入力光量が更に増えた場合には、第1画素群も飽和レベルに達するが、本実施例のように、それぞれの画素群が独立して蓄積時間を変更可能な場合には、第1画素群の蓄積時間を更に短くすればよい。このようにして感度比Kを制御することによって、第1画素群が飽和レベルに達しないように制御することが可能である。
以上説明したように、本実施例によれば、撮像素子102は、第1画素群と第2画素群とを含み、第1画素群と第2画素群とは、入射光に対して相互に異なる感度で光電変換を行うことができる。そして、補正領域検出部104は、各画素群からの出力信号に基づいて、補正領域を検出する。
これにより、撮像素子に含まれる画素の出力信号レベルが入射光の実際の強度に対応する値よりも低下する現象の発生をより正確に検出することが可能となる。また、こうして検出された画素に対して補正を行えば、画質の劣化を抑制しつつ、「高輝度黒沈み」の発生を抑制することができる。
実施例2では、補正領域検出部104における補正領域の他の検出方法を説明する。デジタルカメラ100や撮像素子102などの構成及び動作に関しては実施例1と同一なので、説明を割愛する(図1乃至図4参照)。
図6は、実施例2において補正領域検出部104が補正領域を検出する方法を説明する図である。図5と同様、横軸は画素に対する入力光量Xを表し、縦軸は該当画素の出力信号レベルを表す。601は第1画素群からの出力信号Y1、602は第2画素群からの出力信号Y2を表す。
第2画素群に対する第1画素群の感度比をK(0<K<1)とした場合、入力光量Xが、ある光量値X1より小さい場合(図6における範囲603)は、
Y1=K×Y2 (式1)
の関係が成り立つ。入力光量がX1以上X2以下の場合(図6における範囲604)は、第2画素群が飽和に達し、一定の出力信号レベルTh1になるため、
Y2=Th1 (式2)
となり、
Y1>K×Th1 (式3)
の関係が成り立つ。
Y1=K×Y2 (式1)
の関係が成り立つ。入力光量がX1以上X2以下の場合(図6における範囲604)は、第2画素群が飽和に達し、一定の出力信号レベルTh1になるため、
Y2=Th1 (式2)
となり、
Y1>K×Th1 (式3)
の関係が成り立つ。
即ち、第1画素群の出力信号に対して式3が成り立つ場合に、補正領域検出部104は、第2画素群の出力信号が飽和レベルを超えるであろうことが推測できる。
入力光量がX2を超えた場合(図6における範囲605)も同様に第1画素群の出力信号に対して式3が成り立つので、補正領域検出部104は、第2画素群の出力信号が飽和レベルを超えるであろうことが推測できる。しかしながら、実際には「高輝度黒沈み」現象が起きるため、第2画素群の出力信号は飽和レベルTh1よりも低い、ほぼ一定レベルの信号(Th2(第4レベル)より大きくTh3(第3レベル)より小さい)になるので、
Th2<Y2<Th3 (式5)
となる。
Th2<Y2<Th3 (式5)
となる。
よって補正領域検出部104は、予め設定可能な飽和レベルTh1に加えて信号レベルTh2,Th3をもとに、第1画素群の出力信号に対して式3が成り立ち、且つ、画素補間処理部106によって補間された第2画素群の出力信号に対して式5が成り立つ画素を、補正領域として検出する。
第1画素群が離散的に配置されている場合には、第2画素群の判断対象の画素に対して、最も近傍の第1画素群の画素の判断結果を用いることで、補正領域の検出が可能である。
また、入力光量が更に増えた場合には、第1画素群も飽和レベルに達するが、本実施例のように、それぞれの画素群が独立して蓄積時間を変更可能な場合には、第1画素群の蓄積時間を更に短くすればよい。このようにして感度比Kを制御することによって、第1画素群が飽和レベルに達しないように制御することが可能である。
以上説明したように、本実施例によれば、補正領域検出部104は、予め設定可能な飽和レベルTh1に加えて信号レベルTh2,Th3をもとに、補正領域を検出する。
これにより、撮像素子に含まれる画素の出力信号レベルが入射光の実際の強度に対応する値よりも低下する現象の発生をより正確に検出することが可能となる。
Claims (7)
- 所定の輝度の入射光に対して第2のレベルの信号を出力する第2の画素と、前記所定の輝度の入射光に対して前記第2のレベルより低い第1のレベルの信号を出力する第1の画素と、
前記第1の画素及び第2の画素から出力された信号を基準信号に基づいて補正する補正手段と、
前記補正手段により補正された第1の画素からの信号のレベルに基づいて、前記補正手段により補正された第2の画素からの信号を所定の値に置換すべきか否かを判定する判定手段とを備えたことを特徴とする撮像装置。 - 前記判定手段は、前記補正手段により補正された第2の画素の信号レベルが飽和レベルよりも低く、前記補正手段により補正された第1の画素の信号レベルが予め設定された閾値よりも高い場合に、前記第2の画素からの信号を所定の値に置換すると判定することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
- 前記第1の画素における電荷の蓄積時間を制御する第1制御回路と、前記第2の画素における電荷の蓄積時間を制御する第2制御回路と、
前記第1制御回路による蓄積時間が前記第2制御回路による蓄積時間よりも短くなるように前記第1制御回路及び前記第2制御回路を制御する制御手段とを更に備えることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の撮像装置。 - 前記制御手段は、前記第2の画素の信号レベルが飽和レベルに達しないように、前記第2制御回路による蓄積時間を制御することを特徴とする請求項3に記載の撮像装置。
- 前記第2の画素に配置された第2フィルタと、前記第1の画素に配置された前記第2フィルタよりも透過率の低い第1フィルタと、を有することを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の撮像装置。
- 前記第1の画素の面積は、前記第2の画素の面積よりも小さいことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の撮像装置。
- 所定の輝度の入射光に対して第2のレベルの信号を出力する第2の画素と、前記所定の輝度の入射光に対して前記第2のレベルより低い第1のレベルの信号を出力する第1の画素とを有する撮像装置の制御方法であって、
補正手段が、前記第1の画素及び第2の画素から出力された信号を基準信号に基づいて補正する補正ステップと、
判定手段が、前記補正ステップにより補正された第1の画素からの信号のレベルに基づいて、前記補正ステップにより補正された第2の画素からの信号を所定の値に置換すべきか否かを判定する判定ステップとを備えたことを特徴とする制御方法。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20120807 |