JP2010266404A - 溶接状態の異常判別装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 溶接中に発生した弾性波(AE)を検出してAE信号を出力するAEセンサ6と、このAEセンサ6からのAE信号を取り込んでA/D変換するA/D変換器11と、このA/D変換器11に接続されたCPU12と、上記AE信号が所定の振幅を超えたか否かを判別するための超過振幅基準値(Vu)及び持続時間基準値(Tk)がそれぞれ記憶されたメモリ13と、上記CPU12及びメモリ13を関連的に制御する制御ポログラム16と、を備え、上記CPU12は、上記メモリ13に記憶された超過振幅基準値(Vu)を超えたAE信号の実際の持続時間(Tt)が上記持続時間基準値(Tk)以下であると判別した場合には、溶接以外の異常により発生したAE信号であると判別する溶接状態の異常判別装置である。
【選択図】 図1
Description
2 レーザ溶接装置
6 AEセンサ
8 フィルタ
11 A/D変換器
12 CPU
13 メモリ
14 ディスプレイ
16 制御プログラム
21 レーザ照射装置
23 レーザ照射ヘッド
24 取付け治具
25 溶接台
W ワーク
Claims (5)
- 溶接装置により溶接されるワークに発生したアコースティックエミッション(弾性波:AE)を検出してAE信号を出力するAEセンサと、
このAEセンサからのAE信号を取り込んで該AE信号をA/D変換するA/D変換器と、
このA/D変換器に接続された中央演算処理装置と、
この中央演算処理装置に接続され、溶接中に出力されたAE信号が所定の振幅を超えたか否かを判別するための超過振幅基準値(Vu)及び持続時間基準値(Tk)がそれぞれ記憶された記憶手段と、
上記中央演算処理装置及び記憶手段を関連的に制御する制御手段と、
を備え、
上記中央演算処理装置は、溶接中に出力されたAE信号が所定の振幅を超えたか否かを、上記記憶手段に記憶された超過振幅基準値(Vu)と比較するとともに、該超過振幅基準値(Vu)を超えたAE信号の実際の持続時間(Tt)が上記持続時間基準値(Tk)を超えたか否かを判別し、上記実際の持続時間(Tt)が上記持続時間基準値(Tk)以下であると判別した場合には、溶接以外の異常により発生したAE信号であると判別することを特徴とする溶接状態の異常判別装置。 - 前記記憶手段には、溶接により発生するエネルギー値(E)の正常領域の上限側基準値であるエネルギー上限基準値(Ek1)、上記エネルギー値(E)の正常領域の下限側基準値であるエネルギー下限基準値(Ek2)がそれぞれ記憶され、
前記中央演算処理装置は、前記AE信号から溶接により発生した実際の上記エネルギー値(E)を算出するとともに、該エネルギー値(E)を、上記エネルギー上限基準値(Ek1)及びエネルギー下限基準値(Ek2)と比較し、該エネルギー値(E)が上記エネルギー上限基準値(Ek1)を超えた場合には、溶接状態が溶け込み量過多であると判別して溶接異常とし、該エネルギー値(E)が上記エネルギー下限基準値(Ek2)に満たない場合には、溶接状態が溶け込み量過少であると判別して溶接異常とし、該エネルギー値(E)が上記エネルギー上限基準値(Ek1)以下であり且つ上記エネルギー下限基準値(Ek2)以上である場合には、正常な溶接であるとそれぞれ判別することを特徴とする請求項1記載の溶接状態の異常判別装置。 - 前記記憶手段には、溶接により発生するエネルギー値(E)の正常領域の上限側基準値であるエネルギー上限基準値(Ek1)、上記エネルギー値(E)の正常領域の下限側基準値であるエネルギー下限基準値(Ek2)がそれぞれ記憶され、
前記中央演算処理装置は、溶接中に出力されたAE信号が所定の振幅を超えたか否かを、上記記憶手段に記憶された超過振幅基準値(Vu)と比較するとともに、該超過振幅基準値(Vu)を超えたAE信号の実際の持続時間(Tt)が上記持続時間基準値(Tk)を超えたか否かを判別し、上記実際の持続時間(Tt)が上記持続時間基準値(Tk)以下であると判別した場合には、溶接以外の異常により発生したAE信号であると判別するとともに、上記超過振幅基準値(Vu)を超えた異常エネルギー値(Ev)を算出し、その後、上記AE信号から溶接により発生した実際の上記エネルギー値(Eg)を算出するとともに、該エネルギー値(Eg)から上記異常エネルギー値(Ev)を減算し、この減算されたエネルギー値(E)を、上記エネルギー上限基準値(Ek1)及びエネルギー下限基準値(Ek2)と比較し、該エネルギー値(E)が上記エネルギー上限基準値(Ek1)を超えた場合には、溶接状態が溶け込み量過多であると判別して溶接異常とし、該エネルギー値(E)が上記エネルギー下限基準値(Ek2)に満たない場合には、溶接状態が溶け込み量過少であると判別して溶接異常とし、該エネルギー値(E)が上記エネルギー上限基準値(Ek1)以下であり且つ上記エネルギー下限基準値(Ek2)以上である場合には、正常な溶接であるとそれぞれ判別することを特徴とする請求項1記載の溶接状態の異常判別装置。 - 前記中央演算処理装置にはディスプレイが接続され、
このディスプレイには、前記持続時間(Tt)と前記持続時間基準値(Tk)とに基づき前記超過振幅基準値(Vu)を超えたAE信号が溶接以外の異常によると判別された場合の判別結果が表示されるようにしたことを特徴とする請求項1記載の溶接状態の異常判別装置。 - 前記中央演算処理装置にはディスプレイが接続され、
このディスプレイには、前記エネルギー値(E)と前記エネルギー上限基準値(Ek1)及びエネルギー下限基準値(Ek2)とに基づき溶け込み量過多、溶け込み量過少又は溶け込み量正常と判別された判別結果がそれぞれ表示されるようにしたことを特徴とする請求項2又は3記載の何れかの溶接状態の異常判別装置。
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