JP2010256222A - 物品検査方法 - Google Patents
物品検査方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2010256222A JP2010256222A JP2009107920A JP2009107920A JP2010256222A JP 2010256222 A JP2010256222 A JP 2010256222A JP 2009107920 A JP2009107920 A JP 2009107920A JP 2009107920 A JP2009107920 A JP 2009107920A JP 2010256222 A JP2010256222 A JP 2010256222A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- reference shape
- container
- inspection
- shape
- inspection target
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
予め該黒色部分BAの範囲に含まれるような形状を有する基準形状23を登録するとともに、該基準形状で上記検査対象領域内をサーチし、基準形状の全体が含まれるような位置を検出して、この位置での基準形状23が占めた領域23aを記録する(A−4)。
上記(A−4)の処理を検査対象領域のすべての範囲に対して行い、上記全ての領域23a、23b、23c、23dでの基準形状によって占められる範囲からマスク領域Mを設定する(A−7)。
【効果】 マスクすべき領域に対して適切なマスク領域を設定することができる。
【選択図】 図7
Description
このような物品検査方法を、底部にラベラによるラベルの貼付位置を一定にするための凹状の刻印が形成された容器の検査に用いる場合、異物ではない刻印部分が異物と同じように撮影されてしまうことから、当該刻印の形成された部分を上記マスク領域として設定するようにしていた。
一方、上記容器の底部を検査する物品検査方法として、容器の底部に形成されたバッフルマークの中心や半径を検出して、このバッフルマークの形成される領域を検査対象領域より除外してから検査を行うことが提案されている(特許文献1)。
しかしながら、刻印の深さは容器によってばらつきがあり、検査対象領域に表示された上記刻印を示す部分の形状が容器ごとに異なることから、マスクすべき領域が容器によって異なる場合がある。
このため、予め刻印を示す部分の形状をマスク形状として設定し、検査対象領域のなかにマスク形状と一致する領域をサーチしても、マスクすべき領域と上記マスク形状とが一致していると判断されずに、マスク領域が適切に設定されないという問題があった。
一方、上記特許文献1の物品検査方法の場合、円弧状を有しているバッフルマークの領域をマスクすることはできるが、上記刻印のような円弧形状以外の領域をマスクすることはできないという問題があった。
このような問題に鑑み、本発明はマスクすべき領域に対して適切なマスク領域を設定することが可能な物品検査方法を提供するものである。
予めマスクすべき領域の範囲に含まれるような形状を有する基準形状を登録し、
該基準形状により上記検査対象領域内をサーチして、当該検査対象領域内で上記基準形状の全体が含まれる位置を検出し、
上記検査対象領域内において検出された全ての位置での基準形状によって占められる範囲をマスク領域として設定することを特徴としている。
そして、上記基準形状の全体が含まれるような位置が重なり合うようにして複数検出された場合、これら重なり合った位置での基準形状によって占められる範囲をマスク領域とすることで、マスクすべき領域に対して適切にマスク領域を設定することが可能となり、検査精度を向上させることが可能となる。
この物品検査装置2はPLC(programmable logic controller)から構成される制御手段3によって制御され、特に容器1の底部1bを検査することで容器1の良否判定を行うようになっている。
上記物品検査装置2は、容器1を搬送する搬送手段4と、該搬送手段4の下方に設けられた照明手段5と、該照明手段5の上方に設けられた撮影手段6と、上記撮影手段6に画像の撮影を指示する画像取込手段7と、撮影手段6が撮影した画像を記憶する画像記憶手段8と、後述する基準形状を記憶する基準形状記憶手段9と、容器1の良否判定を行う画像処理手段10と、容器1の良否判定に基づいて上記制御手段3に判定結果を送信する判定手段11と、図示しないリジェクト手段とから構成されている。
そして、上記画像取込手段7、画像記憶手段8、基準形状記憶手段9、画像処理手段10、判定手段11は、1台のパーソナルコンピュータPCに設けられている。
上記照明手段5は容器1の下方から上方に向けて光をストロボ照射し、上記撮影手段6は従来公知のCCDカメラなどから構成され、容器1の上方から下方に向けて撮影するようになっている。
また、上記撮影手段6には図示しないレンズが設けられており、容器1の内部空間を介して該容器1の底部1bの全面を一度に撮影するようになっている。
上記リジェクト手段は上記第2底部支持コンベヤ4bの下流側に設けられており、上記判定手段11からの信号に基づいて上記制御手段3がリジェクト手段を制御し、不良品と判断された容器1をリジェクトするようになっている。
引き続き、容器1は側方保持コンベヤ4cによって搬送され、容器1が図示しないセンサによって検出されると、その信号が制御手段3に送信され、その信号を受けた制御手段3は、上記画像取込手段7に画像を撮影する旨の信号を送信する。
これにより、容器1が上記照明手段5と撮影手段6との間に位置したタイミングで上記照明手段5が光を照射するとともに、撮影手段6が容器1の底部1bを撮影する。
そして、側方保持コンベヤ4cは上記撮影手段6による撮影位置にて容器1を停止させず、そのまま下流端において上記第2底部支持コンベヤ4bへと容器1を移動させる。
一方、上記撮影手段6が撮影した画像は画像取込手段7によって取り込まれた後に上記画像記憶手段8によって記憶される。この画像は以下に詳説するようにして上記画像処理手段10によって画像処理されて、容器1の良否判定が行われる。
画像処理手段10による判定結果は上記判定手段11へと送信され、上記容器1が良品と判断された場合、該容器1は第2底部支持コンベヤ4bによって図示しない後工程へと搬送され、容器1が不良品と判断された場合、判定手段11はリジェクト手段を作動させて、当該容器1を図示しないリジェクトボックスに回収する。
上記底部1bには凹状の刻印21(図4参照)が設けられており、物品検査装置2の下流側に設けられた図示しないラベラでは、この刻印21に突起を嵌合させて容器1の向きを一定に保持し、その状態で上記胴部1aの所要の位置にラベルを貼付するようになっている。
上記刻印21は底部1bの外周部に形成され、該刻印21の底面は略長方形を有し、該底面に隣接するように側面が形成されている。ただし、上記容器1の製造過程による製造誤差等により、上記刻印21の底面の寸法は略一定であるものの、上記側面の深さは容器1によってばらつきがある。
また、上記底部1bには上記刻印21のほか、製造者等を示す記号やその他の低い凸状の模様が形成されている。
この画像31は、撮影手段6が容器1の底部1bを透過した上記照明手段5からの光を撮影し、その画像31を上記画像記憶手段8が明度に応じてグレースケール化するとともに、複数の画素からなるデジタル画像へと変換したものとなっている。
この画像31に示すように、容器1の底部1bの外周部分や記号はグレーで表示される一方、容器1の底部1bに異物22があると、当該異物22は上記照明手段5からの光を透過させず、該異物22は撮影された画像31において黒色部分Ba〜Bdとして表示される。
また、上記刻印21における底面に該当する部分は、光軸方向における厚みが薄いために略長方形の白色部分Wとして表示され、上記側面に該当する部分は、光軸方向における厚みが厚いために光が透過せず、上記白色部分Wを囲んだ略コ字形の黒色部分BAとして表示される。
ここで、上記略コ字形の黒色部分BAについては、上記刻印21の形成される深さに応じてその幅が異なって表示され、刻印21が深く形成されている場合は太く、浅く形成されている場合は細く表示されることになる。
そして、この刻印21の形成されている位置に異物22が重なると、異物に該当しない刻印21を示したコ字形の黒色部分BAと、異物22を示す黒色部分Baとは略同一の明度で表示され、画面上においてこれらの境界が不明瞭なものとなる。
上記基準形状23を登録する際には、予め容器1の底部1bの画像31を複数撮影してこれをグレースケール画像に変換し、さらに該コ字形の黒色部分BAだけを取り出すように2値化処理する。
次に、例えば上記コ字形の黒色部分BAの幅が最小だった画像(図示2点鎖線)を選択し、該コ字形の黒色部分BAの中央部分を通るようにコ字形の軌跡を認識した上で、該コ字形の軌跡の幅を上記最小だった黒色部分BAの幅よりもさらに少し狭くするように、上記基準形状23を設定する。
このようにして基準形状23を設定したら、続いてこの基準形状23を例えば1°刻みで回転させ、各角度ごとにそれぞれ基準形状23を基準形状記憶手段9に登録する。つまり、基準形状記憶手段9には、同じ形状の基準形状23が、回転角度の異なる状態で計360種類登録されることとなる。
まず、上記画像記憶手段8が記憶した画像31を画像処理手段10が取り込み(A−1)、この画像31に対して検査対象領域32を設定する(A−2)。ここでは、図4に示すように容器1の底部1bの外周部分も撮影範囲となっているため、画像処理手段10は底部1bの外周部分より内側の部分だけを検査対象領域32とする処理を行う。
次に、上記検査対象領域32の画像を2値化処理する(A−3)。具体的には、上記検査対象領域32に含まれるグレースケール化されたすべての画素について、設定した輝度以下の画素を黒色へと変換し、設定した輝度以上の画素を白色へと変換する。
これにより、底部1bに形成されている刻印21の上記白色部分Wやその他の低い凸状の模様など、底部1bの異常に該当しない部分は白色の画素に変換され、上記刻印21を示すコ字形の黒色部分BAおよび異物22を示す黒色部分Baが黒色の画素に変換される。
ここで、上記刻印21を示すコ字形の黒色部分BAが、本実施例におけるマスクすべき領域となる。
具体的には、画像処理手段10は上記基準形状記憶手段9に記憶された第1番目の基準形状23を読み出し、該基準形状23を上記検査対象領域32のなかにおいて画素単位で移動させる。
そして画像処理手段10は、基準形状23を移動させるたびに、その検査対象領域内の黒色部分Bに上記基準形状23の全体が含まれるか否かを調べ、基準形状23の全体が黒色部分Bに含まれると判断したら、画像処理手段10はこのときの該基準形状23の占めた領域23aを記録する。
このようにして、画像処理手段10は上記黒色部分Bに上記基準形状23の全体が含まれるか否かについて、上記検査対象領域32のすべての範囲を対象に調べ、本実施例では図7に示した(A)(B)(C)(D)の4箇所で基準形状23が再び黒色部分Bに含まれることとなり、各領域23a、23b、23c、23dが記録される。
なお、容器1によっては刻印21の深さの違いにより上記刻印21を示すコ字形の黒色部分BAの幅が異なるため、基準形状23の全体が含まれる範囲が異なり、記録される領域の数が異なる場合がある。
また、検査対象領域を表示する画素が細かい場合には、上記基準形状23の全体が含まれる位置は多くなるため、上記画像処理手段10に記録される領域の数も多くなる。
具体的には、呼び出される次の基準形状23は前の基準形状に対して1°だけ回転させたものとなっており、画像処理手段10は上記基準形状記憶手段9に記憶されている回転角度が1°異なる基準形状23を呼び出し、この次の基準形状23を用いて上記A−4と同様の処理を行う。
そして上記A−4の処理が終了するたびに、基準形状記憶手段9から角度の異なる次の基準形状23を呼び出し(A−6)、合計で360の角度の異なる基準形状23を用いてA−4の処理を行う。
その際、上記基準形状23の全体が検査対象領域32における黒色部分Bに含まれることがあれば、その位置で基準形状23が占めた領域を記録していく。
なお、ここでは、上記A−4〜A−6の処理の結果、上述した最初のA−4の処理において検出された4箇所の領域23a、23b、23c、23dを上記画像処理手段10が記録したものとする。
具体的には、上記A−4〜A−6の処理の結果、画像処理手段10には4箇所の領域23a、23b、23c、23dが記録されて、これらの領域23a、23b、23c、23dはその一部分が相互に重なり合っている。
そこで画像処理手段10では、これら重なり合った基準形状23が占めた領域23a、23b、23c、23dの輪郭を取り出して、該輪郭に囲繞された範囲をマスク領域Mとして認定する。
そしてこのマスク領域Mを上記検査対象領域32に重ね合わせ、該マスク領域Mに位置する黒色部分Bが異物であると判定されないよう、当該マスク領域Mを検査対象領域32から除外する。
具体的には、上記刻印21に重なるようにして異物22が存在している場合、上記マスク領域Mを検査対象領域32から除外した後も、検査対象領域32には該異物22を示す黒色部分Baが残存することとなる。
そこで画像処理手段10は、マスク領域Mを除外した後の検査対象領域32に黒色の画素が認められた場合、容器1の底部1bに異物があるものと判断し、当該容器1を不良品と判定する。
一方、検査対象領域32に黒色の画素が認められない場合や、該黒色の画素が検査対象領域32に占める割合が低い場合には、この容器1を良品と判定するようになっている。
そして、画像処理手段10による容器1の良否判定の結果は、上記判定手段11へと送信され、該判定手段11は上記制御手段3にリジェクトする旨の信号を送信し、その信号に基づいて制御手段3は図示しないリジェクト手段を制御し、不良品と判断された容器1をリジェクトするようになっている。
また、上記刻印21に異物22が重なって、刻印21を示す黒色部分の形状が予め設定したマスクすべき領域の形状とは異なる形状になったとしても、検査対象領域32に適切にマスク領域Mを設定することができる。
さらに、基準形状記憶手段9には回転角度を変えた複数の基準形状23が登録されているため、上記撮影手段6による撮影時に、上記刻印21の位置にあわせて容器1を所定角度に回転させる必要はない。
3 制御手段 4 搬送手段
5 照明手段 6 撮影手段
12 画像記憶手段 13 基準形状記憶手段
14 画像処理手段 21 刻印
22 異物 23 基準形状
32 検査対象領域 B 黒色部分
W 白色部分 M マスク領域
Claims (3)
- 物品を撮影した画像に検査対象領域を設定するとともに、該検査対象領域にマスク領域を設定して、該マスク領域を検査対象領域から除外して検査を行う物品検査方法において、
予めマスクすべき領域の範囲に含まれるような形状を有する基準形状を登録し、
該基準形状により上記検査対象領域内をサーチして、当該検査対象領域内で上記基準形状の全体が含まれる位置を検出し、
上記検査対象領域内において検出された全ての位置での基準形状によって占められる範囲をマスク領域として設定することを特徴とする物品検査方法。 - 上記基準形状を所定角度ごとに回転させて、各回転角度ごとに該基準形状を登録し、
上記検査対象領域をすべての回転角度の基準形状によりサーチすることを特徴とする請求項1に記載の物品検査方法。 - 上記物品は容器であって、凹状の刻印が形成された底面の検査を行うことを特徴とする請求項1または請求項2のいずれかに記載の物品検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009107920A JP5257224B2 (ja) | 2009-04-27 | 2009-04-27 | 物品検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009107920A JP5257224B2 (ja) | 2009-04-27 | 2009-04-27 | 物品検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010256222A true JP2010256222A (ja) | 2010-11-11 |
JP5257224B2 JP5257224B2 (ja) | 2013-08-07 |
Family
ID=43317299
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009107920A Active JP5257224B2 (ja) | 2009-04-27 | 2009-04-27 | 物品検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5257224B2 (ja) |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0599861A (ja) * | 1990-08-30 | 1993-04-23 | Ball Corp | 透明容器の検査方法及び装置 |
JPH08101915A (ja) * | 1994-09-30 | 1996-04-16 | Omron Corp | 不良検査方法およびその装置 |
JPH1040380A (ja) * | 1996-07-22 | 1998-02-13 | Sony Corp | マーク検査方法及び装置 |
JP2002316225A (ja) * | 2001-04-19 | 2002-10-29 | Toyo Seikan Kaisha Ltd | 缶体の検査装置及び検査方法 |
JP2009047446A (ja) * | 2007-08-14 | 2009-03-05 | Omron Corp | 画像検査装置、画像検査方法、コンピュータを画像検査装置として機能させるためのプログラム、およびコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
JP2010019804A (ja) * | 2008-07-14 | 2010-01-28 | Nihon Yamamura Glass Co Ltd | 容器の外観検査方法および外観検査装置 |
-
2009
- 2009-04-27 JP JP2009107920A patent/JP5257224B2/ja active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0599861A (ja) * | 1990-08-30 | 1993-04-23 | Ball Corp | 透明容器の検査方法及び装置 |
JPH08101915A (ja) * | 1994-09-30 | 1996-04-16 | Omron Corp | 不良検査方法およびその装置 |
JPH1040380A (ja) * | 1996-07-22 | 1998-02-13 | Sony Corp | マーク検査方法及び装置 |
JP2002316225A (ja) * | 2001-04-19 | 2002-10-29 | Toyo Seikan Kaisha Ltd | 缶体の検査装置及び検査方法 |
JP2009047446A (ja) * | 2007-08-14 | 2009-03-05 | Omron Corp | 画像検査装置、画像検査方法、コンピュータを画像検査装置として機能させるためのプログラム、およびコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
JP2010019804A (ja) * | 2008-07-14 | 2010-01-28 | Nihon Yamamura Glass Co Ltd | 容器の外観検査方法および外観検査装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5257224B2 (ja) | 2013-08-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7329855B2 (en) | Optical inspection of glass bottles using multiple cameras | |
US8179434B2 (en) | System and method for imaging of curved surfaces | |
EP2722666B1 (en) | Method and device for inspecting glass bottle | |
JP2002513463A (ja) | 成形容器内の応力検出システムおよび方法 | |
JP5670915B2 (ja) | 外観検査装置 | |
WO2004036198A1 (ja) | ガラス壜の検査装置における基準画像の作成方法及び装置 | |
JPWO2018061196A1 (ja) | ガラス容器の焼傷検査装置 | |
JP2007064801A (ja) | 照明装置及びこれを備えた外観検査装置 | |
JP5654486B2 (ja) | 外観検査装置 | |
JP3989739B2 (ja) | 検査装置 | |
JP2012122912A (ja) | 検査領域の決定方法および異物検査装置 | |
JP5257224B2 (ja) | 物品検査方法 | |
JP2012039096A (ja) | 部品有無判定装置及び部品有無判定方法 | |
JP5959430B2 (ja) | ボトルキャップの外観検査装置及び外観検査方法 | |
JP2009288050A (ja) | 撮像装置及び検査装置 | |
KR102540808B1 (ko) | 유리병 검사방법 및 유리병 제조방법 | |
JP4613090B2 (ja) | 検査装置 | |
JP2006244869A (ja) | プラズマディスプレイパネルの検査装置、プラズマディスプレイパネルの製造方法、デバイスの検査方法 | |
JP4177204B2 (ja) | 容器充填液体の異物検査装置 | |
JP2018112456A (ja) | 物品検査装置及び物品検査方法 | |
CN110945347B (zh) | 光学显示面板的损伤检查方法 | |
JP2011112593A (ja) | 印刷物の検査方法及び検査装置 | |
JP2005009981A (ja) | 重畳物の重畳状態の検査方法及び検査装置 | |
JP2007071895A (ja) | 異物検査装置 | |
JP2006038751A (ja) | 容器充填口端縁の検査方法及び検査装置並びに充填装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120229 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130318 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130326 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130408 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160502 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5257224 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |