JP2010248629A - 成膜装置及び成膜方法、並びに照明装置の作製方法 - Google Patents

成膜装置及び成膜方法、並びに照明装置の作製方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2010248629A
JP2010248629A JP2010071754A JP2010071754A JP2010248629A JP 2010248629 A JP2010248629 A JP 2010248629A JP 2010071754 A JP2010071754 A JP 2010071754A JP 2010071754 A JP2010071754 A JP 2010071754A JP 2010248629 A JP2010248629 A JP 2010248629A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
film
evaporation source
film forming
region
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2010071754A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2010248629A5 (ja
JP5417236B2 (ja
Inventor
Shunpei Yamazaki
舜平 山崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Original Assignee
Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd filed Critical Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Priority to JP2010071754A priority Critical patent/JP5417236B2/ja
Publication of JP2010248629A publication Critical patent/JP2010248629A/ja
Publication of JP2010248629A5 publication Critical patent/JP2010248629A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5417236B2 publication Critical patent/JP5417236B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/10Deposition of organic active material
    • H10K71/16Deposition of organic active material using physical vapour deposition [PVD], e.g. vacuum deposition or sputtering
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/56Apparatus specially adapted for continuous coating; Arrangements for maintaining the vacuum, e.g. vacuum locks
    • C23C14/568Transferring the substrates through a series of coating stations
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/06Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the coating material
    • C23C14/12Organic material
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/24Vacuum evaporation
    • C23C14/246Replenishment of source material
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/24Vacuum evaporation
    • C23C14/26Vacuum evaporation by resistance or inductive heating of the source
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/50Substrate holders
    • C23C14/505Substrate holders for rotation of the substrates
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F21LIGHTING
    • F21KNON-ELECTRIC LIGHT SOURCES USING LUMINESCENCE; LIGHT SOURCES USING ELECTROCHEMILUMINESCENCE; LIGHT SOURCES USING CHARGES OF COMBUSTIBLE MATERIAL; LIGHT SOURCES USING SEMICONDUCTOR DEVICES AS LIGHT-GENERATING ELEMENTS; LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • F21K9/00Light sources using semiconductor devices as light-generating elements, e.g. using light-emitting diodes [LED] or lasers
    • F21K9/20Light sources comprising attachment means
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F21LIGHTING
    • F21KNON-ELECTRIC LIGHT SOURCES USING LUMINESCENCE; LIGHT SOURCES USING ELECTROCHEMILUMINESCENCE; LIGHT SOURCES USING CHARGES OF COMBUSTIBLE MATERIAL; LIGHT SOURCES USING SEMICONDUCTOR DEVICES AS LIGHT-GENERATING ELEMENTS; LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • F21K9/00Light sources using semiconductor devices as light-generating elements, e.g. using light-emitting diodes [LED] or lasers
    • F21K9/20Light sources comprising attachment means
    • F21K9/23Retrofit light sources for lighting devices with a single fitting for each light source, e.g. for substitution of incandescent lamps with bayonet or threaded fittings
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02612Formation types
    • H01L21/02617Deposition types
    • H01L21/02631Physical deposition at reduced pressure, e.g. MBE, sputtering, evaporation
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F21LIGHTING
    • F21VFUNCTIONAL FEATURES OR DETAILS OF LIGHTING DEVICES OR SYSTEMS THEREOF; STRUCTURAL COMBINATIONS OF LIGHTING DEVICES WITH OTHER ARTICLES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • F21V23/00Arrangement of electric circuit elements in or on lighting devices
    • F21V23/003Arrangement of electric circuit elements in or on lighting devices the elements being electronics drivers or controllers for operating the light source, e.g. for a LED array
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F21LIGHTING
    • F21YINDEXING SCHEME ASSOCIATED WITH SUBCLASSES F21K, F21L, F21S and F21V, RELATING TO THE FORM OR THE KIND OF THE LIGHT SOURCES OR OF THE COLOUR OF THE LIGHT EMITTED
    • F21Y2105/00Planar light sources
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F21LIGHTING
    • F21YINDEXING SCHEME ASSOCIATED WITH SUBCLASSES F21K, F21L, F21S and F21V, RELATING TO THE FORM OR THE KIND OF THE LIGHT SOURCES OR OF THE COLOUR OF THE LIGHT EMITTED
    • F21Y2115/00Light-generating elements of semiconductor light sources
    • F21Y2115/10Light-emitting diodes [LED]
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F21LIGHTING
    • F21YINDEXING SCHEME ASSOCIATED WITH SUBCLASSES F21K, F21L, F21S and F21V, RELATING TO THE FORM OR THE KIND OF THE LIGHT SOURCES OR OF THE COLOUR OF THE LIGHT EMITTED
    • F21Y2115/00Light-generating elements of semiconductor light sources
    • F21Y2115/10Light-emitting diodes [LED]
    • F21Y2115/15Organic light-emitting diodes [OLED]
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/10OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
    • H10K50/11OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED] characterised by the electroluminescent [EL] layers
    • H10K50/125OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED] characterised by the electroluminescent [EL] layers specially adapted for multicolour light emission, e.g. for emitting white light
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/10OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
    • H10K50/19Tandem OLEDs
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/30Devices specially adapted for multicolour light emission
    • H10K59/32Stacked devices having two or more layers, each emitting at different wavelengths

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

【課題】均一性の良い薄膜を形成する成膜装置若しくは薄膜の作製方法を提供することを目的とする。
【解決手段】基板の一の領域に特定の成膜材料が被着されるように配置された第1の蒸発源と、基板の他の一の領域に他の特定の成膜材料が被着されるように配置された第2の蒸発源とを設け、基板の被成膜表面において異なる材料が所定の比率で含まれるように基板を回転させる。複数の蒸発源を異なる位置に配置することにより、複数の材料が混合した薄膜、複数の材料の層が格子状に配列した薄膜、若しくは複数の材料の単分子層が膜厚方向に積層した薄膜であって実質的に単分子超多層構造した薄膜を形成することが可能となる。
【選択図】図2

Description

本発明の一形態は成膜装置及び成膜方法に関する。
有機材料の薄膜が積層されて成る有機エレクトロルミネセンス素子は、真空蒸着法を用いて作製されている。真空蒸着法は種々の薄膜形成に用いられる代表的な技術であるが、有機エレクトロルミネッセンス素子を作製するに当たっては、真空蒸着装置の構成に様々な工夫が加えられている。
例えば、蒸着速度を一定に保つために、有機材料を充填した容器と、有機材料を被着させる基板とを対向して設け、さらに容器と基板との空間を囲むように加熱壁が設けられた真空蒸着装置が開示されている(特許文献1参照)。
この真空蒸着装置は、加熱壁を有機材料の蒸発温度程度に加熱しながら有機材料を充填した容器を加熱して基板に有機材料を蒸着することで、長時間に渡って有機材料を基板表面に均一に偏りなく被着させることができるとされている。
また、有機エレクトロルミネセンス素子の各層の膜厚を、基板の面内で均一化するために、同一の蒸着材料が収容されたルツボを真空容器内の複数箇所に配置し、各ルツボからの蒸着材料を基板に蒸着させる真空蒸着装置が開示されている(特許文献2参照)。
有機エレクトロルミネセンス素子における発光色の制御は、ホスト材料にゲスト材料を微量に添加することで行われる。この場合、ホスト材料の蒸着速度とゲスト材料の蒸着速度を、極めて精密に制御する必要がある。ゲスト材料とホスト材料は蒸気圧が異なるので、共蒸着法によって蒸発源の温度を個別に制御しつつ、有機膜が形成される基板表面においてはホスト材料の中にゲスト材料を均一に混合させる必要がある。
しかしながら、真空蒸着法では、蒸発源と基板との間の空間にホスト材料とゲスト材料が混在するので、その空間でこれらの材料が会合して凝集してしまい、基板に堆積される有機薄膜の組成を意図した通り制御するのが困難である。また、蒸発源(点蒸発源)と平板である基板面内の各領域との距離が異なることにより、基板に堆積される有機薄膜の組成の均一性を制御することは困難である。
特開2005−082872号公報 特開2005−019090号公報
そこで本発明の一形態は、膜厚の均一性が高い薄膜を形成する成膜装置若しくは薄膜の作製方法を提供することを目的の一とする。
本発明の一形態は、ホスト材料にゲスト材料が添加される場合のように、複数の材料で形成される薄膜の組成を精密に制御することが可能な成膜装置若しくは薄膜の作製方法を提供することを目的の一とする。
本発明の一態様は、離散的に配置された複数の蒸発源と、該蒸発源から成膜材料が飛着する位置に基板を保持する基板保持部と、該複数の蒸発源と基板の一方又は双方を相対的に移動させる駆動部とを有する成膜装置である。
本発明の一態様に係る成膜装置は、基板の一の領域に第1の成膜材料が被着されるように配置された第1の蒸発源と、基板の他の一の領域に第2の成膜材料が被着されるように配置された第2の蒸発源とを有し、基板の被成膜表面において異なる材料が所定の比率で含まれるように基板と第1及び第2の蒸発源の一方又は双方を相対的に移動させる駆動部を有する。
なお、前述の構成において、第1の蒸発源と第2の蒸発源は代表的に示されるものであり、複数の蒸発源を配置することにより多元系材料の薄膜を形成することが可能である。
上記構成の成膜装置において、基板の形状は任意であるが、例えば円形(円盤型)の基板が適用可能である。その場合基板は中心軸で回転させ、蒸発源は中心軸から離れた位置に配置して回転運動する基板の一の領域に特定の成膜材料が被着されるように設ける。複数の蒸発源を異なる位置に配置することにより、組成が制御されるように複数の材料が混合している薄膜又は、複数の材料の単分子層が膜厚方向に積層された状態(実質的に単分子超多層構造ともいえる)の薄膜を形成することが可能となる。
基板の回転速度は、蒸発源から放出される材料の堆積速度との関係で適宜設定される。基板の回転速度は一の領域で堆積される膜の厚さのパラメータとなる。回転速度を一定とする場合、基板に対応して配設される蒸発源の数が厚さのパラメータとなる。被着する成膜材料が、実質的に単分子層が形成される速度で回転させることにより、上記のように複数の材料が均一に、または周期的に堆積された薄膜を得ることが可能である。
回転数は300rpm(回転/分)から30000rpm、代表的には1000rpmが適用される。
本発明の一態様は、複数の蒸発源を離散的に配置し、該蒸発源から成膜材料が飛着する位置に基板を保持しつつ、該複数の蒸発源と基板の一方又は双方を相対的に移動させながら、該基板の一面に一又は複数の薄膜を形成する成膜方法である。
本発明の一態様に係る成膜方法は、基板の一部の領域に第1の成膜材料が被着されるように第1の蒸発源を配置し、基板の他の一部の領域に第2の成膜材料が被着されるように第2の蒸発源を配置し、基板と第1及び第2の蒸発源の一方又は双方を相対的に移動させながら該基板の被成膜面において第1の蒸発源及び第2の蒸発源から供給された材料が所定の比率で含まれるように薄膜を形成するものである。
本発明の一態様に係る成膜方法は、基板の一部の領域に第1の成膜材料が被着されるように第1の蒸発源を配置し、基板の他の一部の領域に第2の成膜材料が被着されるように第2の蒸発源とを配置し、基板の中心を回転中心として回転させながら、第1の蒸発源から供給された第1の成膜材料を基板の前記一部の領域に付着させる第1の段階と、第2の蒸発源から供給された第2の成膜材料を基板の前記一部の領域に付着させる第2の段階とをを交互に繰り返して、基板の一面に薄膜を形成するものである。
本発明の一態様に係る成膜方法では、任意の形状の基板を使用することができる。例えば、本成膜方法において円形(円盤形)の基板を適用することが可能である。円形の基板を用いる場合、その中心軸で回転させる。そして、回転運動する基板の一部の領域に特定の成膜材料が被着されるように蒸発源を保持する。例えば、ゲスト材料とホスト材料のような異種材料が、それぞれ基板の被成膜面内の異なる領域に被着されるように蒸発源を保持し、円形の基板を回転させながら成膜を行う。それにより、異なる材料の複数の単分子層が膜厚方向に積層した状態(実質的に単分子超多層構造ともいえる)の薄膜を形成することが可能となる。
この成膜方法では、基板の回転速度(若しくは回転数)が成膜条件の一要素となる。基板の回転速度は一の領域で堆積される膜の厚さのパラメータとなる。回転速度を一定とする場合、基板に対応して配設される蒸発源の数が厚さのパラメータとなる。基板と蒸発源とを相対的に移動させることで、一の材料と他の材料が交互に基板表面に被着されるようになり、複数の材料が均一に、または周期的に堆積されるように作用する。
上記の成膜方法を用いれば、ゲスト材料とホスト材料の比率を精密に制御しながら成膜する必要のあるエレクトロルミネセンス素子を作製することができる。また、エレクトロルミネセンス素子を用いた表示装置及び照明装置を製造することができる。
本発明の一形態によれば、成膜装置において、基板と蒸発源を所定の関係で配置し、基板と蒸発源とを相対的に移動させる手段を付加することで、均一性の良い薄膜を形成することが可能となる。
本発明の一形態によれば、ゲスト材料とホスト材料のような異種材料が、それぞれ基板の被成膜面内の異なる領域に被着されるように蒸発源を保持し、円形の基板を回転させながら成膜を行うことにより、薄膜の組成を精密に制御することが可能となる。
成膜装置の成膜室の構成を示す平面図。 成膜装置の成膜室の構成を示す断面図。 薄膜の構造を模式的に示す断面図。 ゲスト材料とホスト材料を共蒸着した場合の概念図であり、(A)は通常の場合、(B)は本形態の場合を示す。 蒸発源の構成を示す断面図。 成膜装置の構成を示す平面図。 成膜装置の構成を示す断面図。 照明装置の積層構造を示す断面図。 照明装置の構成を示す平面図。 照明装置の構成を示す断面図。 照明装置の構成を示す断面図。 照明装置の取り付け構造を示す断面図。
発明の実施の形態を、図面を用いて以下に説明する。但し、開示される発明は以下の説明に限定されず、その発明の趣旨及びその範囲から逸脱することなくその形態及び詳細をさまざまに変更し得ることは当業者であれば容易に理解される。したがって、開示される発明は以下に示す実施の形態の記載内容に限定して解釈されるものではない。
以下に説明する実施の形態において、同じものを指す符号は異なる図面間で共通して用いる場合がある。なお、図面において示す構成要素、すなわち層や領域等の厚さ、幅、相対的な位置関係等は、実施の形態において説明する上で明確性のために誇張して示される場合がある。
(成膜室の構成例)
本発明の一実施形態に係る成膜装置の主要な構成を図1及び図2に示す。図1は成膜装置の平面図であり、図中のA−B切断線に概略対応する断面図を図2に示す。以下の説明では図1及び図2の両図を参照して説明する。
成膜室104は、真空排気されて内部が減圧状態に保持される処理室102の中に設けられている。処理室102は処理室天板110と処理室底板112を含んで構成され、成膜室104は処理室天板110と処理室底板112の間に設けられている。成膜室104は、第1の蒸発源106及び第2の蒸発源108を防着板114で囲むようにして構成されている。
防着板114は中空構造を有している。防着板114の中空部分には加熱された流体が流れている。この流体は、一例としてシリコーンオイルなどが用いられる。
防着板114の中空部分に加熱された流体を流し、防着板114を蒸発源から放出される材料が付着しない温度まで加熱することで、該材料の利用効率を高めることができる。材料の利用効率とは、蒸発源から蒸発若しくは昇華した材料の全量に対する基板に付着して成膜される材料の割合である。
第1の蒸発源106は基板ホルダ116で保持された基板118と対向するように配置される。基板ホルダ116は搬送テーブル120に連結されている。第1の蒸発源106から放出される蒸気は基板118の全面に被着するものではなく、基板118の一部の領域に被着されるように配置されている。このような構成は、第2の蒸発源108についても同様である。
図1は第1の蒸発源106により形成される第1の成膜領域122を模式的に示す。同様に、第2の蒸発源108は第2の成膜領域124を形成する。第1の成膜領域122と第2の成膜領域124は必ずしも明確に区別されている必要はないが、第1の蒸発源106と第2の蒸発源108を離間して配置することで、それぞれの材料の蒸気が優先的に基板118に被着する領域が存在する。
成膜領域を明確に区別する場合には、第1の蒸発源106と第2の蒸発源108との間に遮蔽板を設けても良い。
第1の成膜領域122において、図1中にa−b線で示す基板118の中心から外周側に延びる線上の膜厚分布は一定になるようにすることが好ましい。そのために、成膜速度を考慮して、第1の蒸発源106及び第2の蒸発源108は、蒸気の放出口が基板118の中心側に向くように設けても良い。
基板118に所定の薄膜を形成するには、第1の蒸発源106及び第2の蒸発源108と基板118の一方又は双方を、駆動部126により相対的に移動させる。
例えば、蒸発源に対して基板を回転運動させる。その場合、駆動部126は、基板ホルダ116と回転軸128により連結されている。このようにすると、基板118のある一点では、第1の成膜領域122と第2の成膜領域124とが交互に出現することとなり、基板118の全面に薄膜を形成することが可能となる。
基板118の外周部はマスク115で遮蔽され成膜されないようにすることもできる。このマスク115の大きさは適宜変更することができる。
第1の蒸発源106と第2の蒸発源108への供給は同一の材料を供給しても良いし、異なる材料を供給しても良い。化合物の薄膜を基板118に形成する場合には、該化合物を構成する元素を、それぞれ異なる蒸発源に装填すれば良い。また、ホスト材料にゲスト材料を添加したい場合には、ホスト材料とゲスト材料を、それぞれの蒸発源に装填すれば良い。
なお、蒸発源は二つ以上設けても良く、その場合における蒸発源の構成は上記と同様である。
上記構成の成膜装置に適用できる基板の形状は任意であるが、例えば円形(円盤型)の基板を適用するのは好ましい一態様となる。基板118を用いる場合には、中央部に貫通口が設けられているものを用いることができる。
その場合基板は中心軸で回転させ、蒸発源は中心軸から離れた位置に配置して回転運動する基板の一の領域に特定の成膜材料が被着されるように設ける。
図3(A)に示すように、複数の蒸発源を異なる位置に配置することにより、薄膜130は複数の材料が混合した薄膜、又は複数の材料の層が格子状に配列した薄膜、若しくは複数の材料の単分子層(厚さ0.1nm〜10nm、代表的には0.5nm〜5nm)が膜厚方向に積層した薄膜であって、実質的に単分子超多層構造した薄膜を形成することが可能となる。
図3(B)で示すように、第1の電極132と第2の電極134の間に薄膜130が挟まれるように形成することで、このような繰り返し構造を貫通するように電流を流すことができる。
このように、基板を高速回転させつつ異なる材料を同時に成膜した場合、従来の共蒸着法とは異なるものとなる。
図4(A)はゲスト材料とホスト材料を共蒸着した場合の概念図を示す。共蒸着法では、ゲスト材料138とホスト材料136がうまく分散せず、領域Aとして示すように孤立するゲスト材料も存在すれば、領域Bとして示すように凝集するゲスト材料も存在する。それによりホスト材料も局所的に歪みが生じる。
一方、基板を高速回転させ、基板の一表面が蒸発源の上を通過する際に実質的に単分子若しくは数分子層が堆積されるようにすると、図4(B)で示すようにゲスト材料の配置は均等化され、凝集状態が生じるのを防ぐことができる。そして、領域Cとして示すようにゲスト材料の配置は均等化され、ホスト材料の中にゲスト材料を均等に含ませることが可能となる。
基板の回転速度は、蒸発源から供給される単位時間当たりの成膜材料の量との関係で重要なパラメータとなる。ここで、一定の回転数で回転する円形基板は、円の外周と内周で線速度が異なるため、基板に被着する単位時間当たりの蒸着材料の量が円の外周と内周で同じ場合には、外周部で薄く内周部で厚く薄膜が形成されてしまう。そのため、円形基板の外周部に対して内周部に被着する成膜材料の量が少なくなるように、蒸発源を傾けて配設し、又は成膜材料の被着量を制御する遮蔽板を設けることが好ましい。
そして、被着する成膜材料が、実質的に単分子層が形成される速度で回転させることにより、上記のように複数の材料が均一に、または周期的に堆積された薄膜を得ることが可能である。回転数は300rpm(回転/分)から30000rprm、代表的には1000rpmが適用される。
基板118の材質は、ガラス、セラミック、石英、プラスチックなど、様々なものを選択可能である。プラスチック材料では、ポリカーボネート、ポリアリレート、ポリエーテルスルフォン等を選択可能である。
基板118の大きさの一例は、CD−R等の光ディスクと同程度の大きさとすることができる。例えば、直径100mm〜140mm、一例として直径120mmの円盤形状であって、厚みを1.2〜1.5mm程度としたプラスチック基板を用いることができる。また、基板118に設ける貫通口の直径は、5mm〜20mm(例えば、15mm)とすることができる。
なお、基板118の形状は円形に限定されず、楕円状や矩形状としてもよい。
(蒸発源の構成例)
図5に蒸発源の一例を示す。例示される第1の蒸発源106は、坩堝140と、坩堝140を加熱するヒータ142を有している。ヒータ142の一例は、ニクロム線など電気抵抗が高い導体で電路を形成し電流を通して発熱させるものである。なお、第2の蒸発源108も同様な構成とすることができる。
第1の蒸発源106には、成膜に使用する材料の蒸発を間歇的に行うために、成膜する成膜材料144を坩堝140内に供給する材料供給部146が付加されていても良い。材料供給部146は、成膜する成膜材料144の装填部148と押出部150などにより構成される。
この場合、成膜材料144は1回の成膜処理(基板一枚当たり)に必要な量だけあれば良く、所定の形状に固められていることが好ましい。
この成膜材料144を坩堝140内に供給する方法は任意である。例えば、装填部148を坩堝140に細管で連結し、細管を成膜材料144が通るように機械的に押し出す構成、又は気圧によって押し出す構成とすれば良い。気圧によって成膜材料144を押し出すにはアルゴンなどの不活性ガスを用い、ピエゾバルブなど0.5秒以内で開閉可能なバルブを使用してパルス的に圧縮した気体を送り込めば良い。
このような材料供給部146があれば、基板毎に成膜材料144の供給が可能となり、成膜室に基板を出し入れする間は成膜材料144の蒸着を止めることができるので、成膜材料144の無駄を無くすことができる。
坩堝140の温度は蒸発若しくは昇華させる材料の無駄を無くすために、場所によって温度を異ならせておくことが好ましい。
成膜材料144が供給される坩堝140の底部の温度(T2)は、成膜材料144を急速に加熱して蒸気を発生させるために、成膜材料144が気化する温度以上に加熱する。坩堝140の先端(放出口)は、温度T2よりも低くて良いが、成膜材料144の蒸気が再付着してそこに堆積しない温度(T4)に加熱する。また、坩堝140の底部と先端部の間は、温度T2と温度T4の中間の温度(T3)とする。
坩堝140と装填部148の間を繋ぐ細管部も成膜材料144が気化しない温度(T1)で余熱しておくことは好ましい。
このような第1の蒸発源106により、成膜材料144の蒸気の発生を制御することができるので、成膜材料144の無駄を省きつつ、連続して多数の基板に薄膜を形成することができる。
(成膜装置の構成例)
図6は複数の成膜室を有する成膜装置の一例を示す平面図である。成膜室は図1及び図2を参照して説明したものと同様な構成となっている。
この成膜装置100は、真空排気され減圧状態を保持することが可能な処理室102の中に配置される。処理室102の中には複数の膜室を設けることが可能であり、搬送テーブル120によって各成膜室に基板を搬送することにより、組成の異なる膜を連続して形成することができる。
基板搬出入室184は処理室102にゲートバルブを介して連結されている。基板搬出入室184は成膜前の基板を処理室102に搬入し、成膜処理の終わった基板を処理室102から回収する。
図6においてC−D切断線に沿った断面構造の模式図を図7に示す。処理室102内に設けられる成膜室の構成は図1と同様である。処理室102は真空ポンプ186により真空排気される。この処理室102の中に複数の成膜室が配置されている。
基板ホルダ116に保持された基板118は、搬送テーブル120によって、ある成膜室から他の成膜室に搬送される。基板ホルダ116は搬送テーブル120に連結されている。搬送テーブル120は搬送回転軸188によって搬送駆動部190に連結されており、搬送駆動部190が回動することによって処理室102内で基板118が搬送される。
(成膜装置の動作と照明装置の製造方法)
図6で示す成膜装置の動作について説明する。なお、本形態では、成膜装置を用いて図8に示す構成の照明装置192を製造する場合を例示する。図8は照明装置192の主要部を示す図である。この照明装置は、一対の電極間にエレクトロルミネセンス材料により構成される発光ユニットが、複数個積層された構造を有している。
照明装置192を形成するための基板118は、基板搬出入室184から予備室182を経て処理室102に搬入される。第1の成膜室152において第1絶縁膜198が形成される。第1絶縁膜198は酸化珪素、窒化珪素、窒化酸化珪素、酸化珪素を含む硫化亜鉛などの絶縁膜で形成する。第1絶縁膜198はエレクトロルミネセンス素子に水分が浸入するのを防ぐために設ける。特に基板118としてプラスチックなどの水蒸気透過率の高い材質のものを用いた場合に有効である。
第1絶縁膜198が形成された基板118を、第1の成膜室152から第2の成膜室154に搬送テーブル120を動作させて搬送する。この動作に伴って、基板搬出入室184から処理室102に新たな基板が搬入される。
第2の成膜室154において、第1絶縁膜198上に第1電極200が成膜される。第1電極200は、エレクトロルミネセンス素子の陽極又は陰極として用いられる電極である。
第1電極200を成膜後、基板118を第3の成膜室156へと搬送する。この動作に伴って、基板搬出入室184から処理室102に新たな基板が搬入され、第1の成膜室152にあった基板は、第2の成膜室154に移動する。以下、このような動作は連続して行われる。
基板118は、第3の成膜室156から第5の成膜室160に移動する過程で、エレクトロルミネセンス素子により構成される第1の発光ユニット194が形成される。第1の発光ユニット194は正孔注入輸送層202、発光層204、電子注入輸送層206が積層されている。ここで、第3の成膜室156において正孔注入輸送層202が形成され、第4の成膜室158では発光層204が形成され、第5の成膜室160では電子注入輸送層206が形成される。
なお、第1の発光ユニット194の構成は少なくとも発光層204を有していれば、この構成に限定されない。処理室の構成を適宜変更することで第1の発光ユニット194の積層構造を変更することができる。
第1の発光ユニット194が形成された基板118を第6の成膜室162へ搬送する。第6の成膜室162では、第1の発光ユニット194上に第1中間層208が形成される。第1中間層208は正孔輸送性の高い有機化合物と電子受容体(アクセプター)とを含む層として形成される。
第7の成膜室164では、第1中間層208上に第2中間層210が形成される。第2中間層210は電子輸送性の高い有機化合物と電子供与体(ドナー)とを含む層として形成される。
第1中間層208は第1発光ユニット194に電子を注入し、第2中間層210は第2の発光ユニット196に正孔を注入する。
なお、中間層の構成はこれに限られるものではなく、正孔輸送性の高い有機化合物と電子受容体(アクセプター)とを含む層、または、電子輸送性の高い有機化合物と電子供与体(ドナー)とを含む層の単層構造としてもよい。
第2中間層210が形成された基板118は、第8の成膜室166から第11の成膜室172に移動する過程で、エレクトロルミネセンス素子で構成される第2の発光ユニット196が形成される。第2の発光ユニット196は正孔注入輸送層212、発光層214、電子輸送層216、電子注入層218が積層されている。
第8の成膜室166において、正孔注入輸送層212が形成され、第9の成膜室168では、発光層214が形成され第10の成膜室170では電子輸送層216が形成され、第11の成膜室172で電子注入層218が形成される。
第1の発光ユニット194から得られる発光の発光色と第2の発光ユニット196から得られる発光の発光色が補色の関係にある場合、外部へ取り出される光は白色発光となる。又は、第1の発光ユニット194及び第2の発光ユニット196のそれぞれが複数の発光層を有する構成として、複数層の発光層のそれぞれにおいて、互いに補色となる発光色を重ね合わせることによって各発光ユニットが白色発光を得られる構成としてもよい。補色の関係としては、青色と黄色、あるいは青緑色と赤色などがある。
第2の発光ユニット196が形成された基板118を、第12の成膜室174へ搬送する。第12の成膜室174では、第2の発光ユニット196上に第2電極220が成膜される。
次いで、第2電極220が設けられた基板118を第13の成膜室176へ搬送する。第13の成膜室176において、第2電極220上に乾燥剤層222を設ける。
乾燥剤層222を形成することで、水分などによるエレクトロルミネセンス素子の劣化を防ぐことができる。乾燥剤としては、酸化カルシウムや酸化バリウム等のアルカリ土類金属の酸化物のような化学吸着によって水分を吸収する物質を用いることが可能である。その他の乾燥剤として、ゼオライトやシリカゲル等の物理吸着によって水分を吸着する物質を用いてもよい。
乾燥剤層222が設けられた基板118を第14の成膜室178へ搬送する。第14の成膜室178では、乾燥剤層222の上に第2絶縁膜224を形成する。第2絶縁膜224は、外部からの水分や不純物等がエレクトロルミネセンス素子へ侵入することを防止する。
第2絶縁膜224が設けられた基板118を第15の成膜室180へ搬送する。第15の成膜室180では、光硬化性又は熱硬化性のシール材226が設けられた封止基板228が封止基板搬出入室185から搬入され、基板118の第2絶縁膜224上に重ね合わされる。そして、シール材の硬化処理が施される。
封止基板228の材質は、ガラス、セラミック、石英、プラスチックなど、様々なものを選択可能である。プラスチック材料では、ポリカーボネート、ポリアリレート、ポリエーテルスルフォン等を選択可能である。
なお、封止基板228は必ずしも設ける必要はなく、エレクトロルミネセンス素子を封止膜によって封止した後、基板を成膜装置から搬出しても良い。
そして、基板118は予備室から基板搬出入室184に搬出される。
以上の工程によって、基板118を処理室102に搬入してから取り出すまで、大気に触れさせることなく連続して薄膜を積層し、照明装置192を製造することができる。
この成膜装置100を用いれば、ホスト材料中でゲスト材料が凝集することなく分散させることができ、発光効率の高い照明装置を製造することができる。
(照明装置の一例)
図6の成膜装置で作製可能な照明装置の一例について図9及び図10を参照して説明する。図9は照明装置の平面図を示し、X1−X2切断線及びY1−Y2切断線に対応する断面構造を図10に示す。
照明装置192は、中央部に開口部230を有する基板118上に、第1絶縁膜198、第1電極200、発光ユニット232、第2電極220、乾燥剤層222、第2絶縁膜224が積層して設けられ、基板118の開口部230の近くに第1の接続部234及び第2の接続部236を有する。
発光ユニット232は、図8で示すように第1の発光ユニット194と第2の発光ユニット196が積層されたタンデム型の構成とすると、発光輝度の電流効率を高めることができ、また、白色発光をすることが容易となるので好ましい。
第2絶縁膜224は基板118の中央部において開口部を有しており、そこに第1の接続部234及び第2の接続部236が露出している。第1の接続部234は、第1電極200と電気的に接続されたものであり、実際には第1電極200が延伸されて第1の接続部234が構成されている。第2の接続部236は、第2電極220と電気的に接続されたものであり、実際には第2電極220が延伸されて第2の接続部236が構成されている。
このように、基板118に形成された第1電極200及び第2電極220を引き出して、基板118に第1の接続部234及び第2の接続部236を形成することにより、照明装置192を薄型化することができる。
開口部230を有する基板118を用い、当該基板118の略中央部に第1の接続部234及び第2の接続部236を設けることにより、基板118の略中央部で照明装置192に給電することができる。基板118に開口部230が設けられていることにより、この部分を利用して基板118をソケットに固定することが容易となる。
照明装置192に接続部材238を設けた構成を図11に例示する。なお、接続部材238は口金又はソケットと呼ばれることもある。
接続部材238は、制御回路240と、第1の接続配線242、第2の接続配線244、第1の取り出し配線246及び第2の取り出し配線248を有している。
制御回路240は電源から供給される電源電圧を元に、照明装置192を点灯させるための機能を有する。
接続部材238の第1の接続配線242は第1の接続部234と接続し、第2の接続配線244は、第2の接続部236と接続する。
第1の接続配線242と第1の接続部234との電気的な接続、第2の接続配線244と第2の接続部236との電気的な接続は、異方性導電性ペースト(ACP(Anisotropic Conductive Paste))、異方導電性フィルム(ACF(Anisotropic Conductive Film))、導電性ペースト、半田接合を用いて行うことができる。
第1の取り出し配線246、第2の取り出し配線248は、制御回路240と電気的に接続され、照明装置192へ電源を供給するための配線として機能する。
図11(A)は、基板118が設けられた面から当該基板118を介して光を取り出す構成(ボトムエミッション構造)を示しており、この場合、接続部材238の制御回路240は、封止基板228の上方に設けた構成とすることができる。
図11(B)は、封止基板228が設けられた面(基板118と反対側の面)側から光を取り出す構成(トップエミッション構造)としてもよい。この場合、基板118の裏面側に制御回路240が設けられ、基板118に設けられた開口部を介して第1の接続配線242及び第2の接続配線244が照明装置192と電気的に接続される構成となっている。
図11(A)、図11(B)では、接続部材238の勘合部が第1の取り出し配線246を兼ね、接続部材238の接点が第2の取り出し配線248に接続する構成であるが、図11(C)、図11(D)に示すように、接続部材238の二つの勘合部が第1の取り出し配線246と第2の取り出し配線248を兼ねる構成としてもよい。
次に、接続部材238が設けられた照明装置192の使用形態の一例を図12(A)、(B)に示す。図12(A)及び図12(B)は、照明装置192に取り付けられた接続部材238を、天井250に設ける場合を示している。
天井250には、第1の外部電極252と第2の外部電極254が設けられており、当該第1の外部電極252と接続部材238に設けられた第1の取り出し配線246が電気的に接続し、且つ第2の外部電極254と第2の取り出し配線248が電気的に接続することにより、外部から制御回路240を介して照明装置192に電力が供給される。
図12(A)に示す構成において、接続部材238の直径は、天井250の取り付け部分のサイズに合わせて決めればよく、10mm〜40mm(例えば、26mm)とすることができる。
図12(A)は、図11(A)に示した構造を天井250に取り付け、図12(B)は、図11(C)に示した構造を天井250に取り付ける場合を示したが、これに限られず、他の構成も同様に取り付けることができる。また、天井250に限られず壁面や床に埋設することが可能である。
100 成膜装置
102 処理室
104 成膜室
106 第1の蒸発源
108 第2の蒸発源
110 処理室天板
112 処理室底板
114 防着板
115 マスク
116 基板ホルダ
118 基板
120 搬送テーブル
122 第1の成膜領域
124 第2の成膜領域
126 駆動部
128 回転軸
130 薄膜
132 第1の電極
134 第2の電極
136 ゲスト材料
138 ホスト材料
140 坩堝
142 ヒータ
144 成膜材料
146 材料供給部
148 装填部
150 押出部
152 第1の成膜室
154 第2の成膜室
156 第3の成膜室
158 第4の成膜室
160 第5の成膜室
162 第6の成膜室
164 第7の成膜室
166 第8の成膜室
168 第9の成膜室
170 第10の成膜室
172 第11の成膜室
174 第12の成膜室
176 第13の成膜室
178 第14の成膜室
180 第15の成膜室
182 予備室
184 基板搬出入室
185 封止基板搬出入室
186 真空ポンプ
188 搬送回転軸
190 搬送駆動部
192 照明装置
194 第1の発光ユニット
196 第2の発光ユニット
198 第1絶縁膜
200 第1電極
202 正孔注入輸送層
204 発光層
206 電子注入輸送層
208 第1中間層
210 第2中間層
212 正孔注入輸送層
214 発光層
216 電子輸送層
218 電子注入層
220 第2電極
222 乾燥剤層
224 第2絶縁膜
226 シール材
228 封止基板
230 開口部
232 発光ユニット
234 第1の接続部
236 第2の接続部
238 接続部材
240 制御回路
242 第1の接続配線
244 第2の接続配線
246 第1の取り出し配線
248 第2の取り出し配線
250 天井
252 第1の外部電極
254 第2の外部電極

Claims (11)

  1. 離散的に配置された複数の蒸発源と、
    前記複数の蒸発源のそれぞれから成膜材料が飛着する基板の面内位置が異なるように該基板を保持する基板保持部と、
    前記複数の蒸発源と基板の一方又は双方を相対的に移動させる駆動部と
    を有することを特徴とする成膜装置。
  2. 基板の一の領域に特定の成膜材料が被着されるように配置された第1の蒸発源と、
    基板の他の一の領域に他の特定の成膜材料が被着されるように配置された第2の蒸発源と、
    前記基板の被成膜表面において異なる材料が所定の比率で含まれるように該基板と前記第1の蒸発源及び前記第2の蒸発源の一方又は双方を相対的に移動させる駆動部と
    を有することを特徴とする成膜装置。
  3. 請求項1又は2において、前記駆動部は、前記基板の中央を回転中心として回転させるものであることを特徴とする成膜装置。
  4. 請求項3において、前記駆動部が前記基板を回転させる回転数が300回転/分以上30000回転/分以下であることを特徴とする成膜装置。
  5. 請求項1乃至4のいずれか一項において、前記基板保持部は円形基板を保持するものであることを特徴とする成膜装置。
  6. 基板の一の領域に特定の成膜材料が被着されるように第1の蒸発源を配置し、
    前記基板の他の一の領域に他の特定の成膜材料が被着されるように第2の蒸発源とを配置し、
    前記1の蒸発源及び前記第2の蒸発源と、前記基板の被成膜表面において異なる材料が所定の比率で含まれるように前記基板と前記第1の蒸発源及び前記第2の蒸発源の一方又は双方を相対的に移動させながら該基板の一面に薄膜を形成することを特徴とする成膜方法。
  7. 基板の一の領域に特定の成膜材料が被着されるように第1の蒸発源を配置し、
    前記基板の他の一の領域に他の特定の成膜材料が被着されるように第2の蒸発源とを配置し、
    前記第1の蒸発源から供給された成膜材料を前記基板の前記一の領域に付着させる第1の段階と、前記第2の蒸発源から供給された成膜材料を前記基板の前記一の領域に付着させる第2の段階とを有し、
    前記基板の中心を回転中心として回転させながら、前記第1の段階と前記第2の段階を交互に繰り返しながら前記基板の一面に薄膜を形成することを特徴とする成膜方法。
  8. 請求項7において、前記基板の回転数が300回転/分以上30000回転/分以下であることを特徴とする成膜方法。
  9. 請求項6乃至8のいずれか一項において、前記第1の蒸発源からホスト材料を供給し、前記第2の蒸発源からゲスト材料を供給することを特徴とする成膜方法。
  10. 請求項6乃至9のいずれか一項に記載の成膜方法を用いたエレクトロルミネセンス素子の作製方法。
  11. 請求項6乃至9のいずれか一項に記載の成膜方法を用いた照明装置の作製方法。
JP2010071754A 2009-03-27 2010-03-26 照明装置の作製方法 Expired - Fee Related JP5417236B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010071754A JP5417236B2 (ja) 2009-03-27 2010-03-26 照明装置の作製方法

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009080199 2009-03-27
JP2009080199 2009-03-27
JP2010071754A JP5417236B2 (ja) 2009-03-27 2010-03-26 照明装置の作製方法

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2010248629A true JP2010248629A (ja) 2010-11-04
JP2010248629A5 JP2010248629A5 (ja) 2013-02-14
JP5417236B2 JP5417236B2 (ja) 2014-02-12

Family

ID=42784563

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010071754A Expired - Fee Related JP5417236B2 (ja) 2009-03-27 2010-03-26 照明装置の作製方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US20100247747A1 (ja)
JP (1) JP5417236B2 (ja)
KR (1) KR20100108283A (ja)
TW (1) TWI532861B (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012111977A (ja) * 2010-11-19 2012-06-14 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 成膜装置及び成膜方法、並びに照明装置の作製方法
JP2012129509A (ja) * 2010-11-24 2012-07-05 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 発光素子、発光装置、照明装置、及び電子機器
WO2012108698A2 (ko) * 2011-02-09 2012-08-16 서울대학교 산학협력단 벌크 이종접합을 갖는 저분자 박막 및 이를 포함하는 유기 태양전지의 형성방법
WO2012127982A1 (ja) * 2011-03-18 2012-09-27 東京エレクトロン株式会社 成膜装置、成膜方法、有機発光素子の製造方法、及び有機発光素子
CN103871851A (zh) * 2012-12-18 2014-06-18 北京汉能创昱科技有限公司 一种铜铟镓硒薄膜电池共蒸发线性源阵列的排布
JP2017188286A (ja) * 2016-04-05 2017-10-12 株式会社オートネットワーク技術研究所 コネクタ、接続状態検知システム、および、端子

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103305794B (zh) * 2013-06-09 2016-03-02 京东方科技集团股份有限公司 一种有机镀膜装置及方法
US9209422B2 (en) * 2013-12-31 2015-12-08 Lg Display Co., Ltd. Organic light emitting display device with micro-cavity structure
KR102353663B1 (ko) 2016-05-20 2022-01-19 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 발광 소자, 발광 장치, 전자 기기, 및 조명 장치
KR20180002505A (ko) 2016-06-29 2018-01-08 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 발광 소자의 제작 방법
CN107799658B (zh) 2016-08-29 2021-05-28 株式会社半导体能源研究所 发光元件、发光装置、电子设备、照明装置及有机金属配合物
WO2018184949A1 (en) * 2017-04-07 2018-10-11 Applied Materials, Inc. Method for cleaning a vacuum chamber, apparatus for vacuum processing of a substrate, and system for the manufacture of devices having organic materials
CN108728801B (zh) * 2018-05-28 2019-11-12 深圳市华星光电技术有限公司 蒸镀装置及蒸镀方法
GB2574400B (en) * 2018-06-04 2022-11-23 Dyson Technology Ltd A Device
GB2574401B (en) * 2018-06-04 2022-11-23 Dyson Technology Ltd A Device
EP3803960B1 (en) * 2018-06-07 2023-11-08 Silanna UV Technologies Pte Ltd Optoelectronic device
WO2024030562A1 (en) * 2022-08-04 2024-02-08 Emagin Corporation Evaporation system having improved collimation
KR20240069268A (ko) * 2022-11-11 2024-05-20 주식회사 야스 증착 시스템

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63274756A (ja) * 1987-04-28 1988-11-11 Toda Kogyo Corp 真空蒸着多層薄膜形成装置
JP2000160328A (ja) * 1998-11-30 2000-06-13 Idemitsu Kosan Co Ltd 素子用薄膜層の蒸着方法、蒸着装置および有機エレクトロルミネッセンス素子
JP2001081558A (ja) * 1999-09-13 2001-03-27 Asahi Optical Co Ltd 成膜装置および成膜方法
JP2002071944A (ja) * 2000-08-24 2002-03-12 Toyo Commun Equip Co Ltd 光バンドパスフィルタの製造装置及び製造方法
JP2003193217A (ja) * 2001-12-25 2003-07-09 Nippon Seiki Co Ltd 蒸着装置
JP2006002200A (ja) * 2004-06-16 2006-01-05 Seiko Epson Corp 蒸着装置、蒸着方法、有機el装置、および電子機器
JP2008108611A (ja) * 2006-10-26 2008-05-08 Fuji Electric Holdings Co Ltd 蒸着層の製造方法および製造装置

Family Cites Families (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4681773A (en) * 1981-03-27 1987-07-21 American Telephone And Telegraph Company At&T Bell Laboratories Apparatus for simultaneous molecular beam deposition on a plurality of substrates
FR2733253B1 (fr) * 1995-04-24 1997-06-13 Commissariat Energie Atomique Dispositif pour deposer un materiau par evaporation sur des substrats de grande surface
GB9515929D0 (en) * 1995-08-03 1995-10-04 Fisons Plc Sources used in molecular beam epitaxy
CH692000A5 (de) * 1995-11-13 2001-12-31 Unaxis Balzers Ag Beschichtungskammer, Substratträger hierfür, Verfahren zum Vakuumbedampfen sowie Beschichtungsverfahren.
TW387152B (en) * 1996-07-24 2000-04-11 Tdk Corp Solar battery and manufacturing method thereof
US6053981A (en) * 1998-09-15 2000-04-25 Coherent, Inc. Effusion cell and method of use in molecular beam epitaxy
JP2001209981A (ja) * 1999-02-09 2001-08-03 Ricoh Co Ltd 光ディスク基板成膜装置、光ディスク基板成膜方法、基板ホルダーの製造方法、基板ホルダー、光ディスクおよび相変化記録型光ディスク
US6082296A (en) * 1999-09-22 2000-07-04 Xerox Corporation Thin film deposition chamber
JP4268303B2 (ja) * 2000-02-01 2009-05-27 キヤノンアネルバ株式会社 インライン型基板処理装置
US20020069970A1 (en) * 2000-03-07 2002-06-13 Applied Materials, Inc. Temperature controlled semiconductor processing chamber liner
US20020011205A1 (en) * 2000-05-02 2002-01-31 Shunpei Yamazaki Film-forming apparatus, method of cleaning the same, and method of manufacturing a light-emitting device
ATE497028T1 (de) * 2000-06-22 2011-02-15 Panasonic Elec Works Co Ltd Vorrichtung und verfahren zum vakuum-ausdampfen
KR100467805B1 (ko) * 2002-01-22 2005-01-24 학교법인연세대학교 박막두께분포를 조절 가능한 선형 및 평면형 증발원
US6787990B2 (en) * 2002-05-28 2004-09-07 Eastman Kodak Company OLED area illumination light source having flexible substrate on a support
US6771021B2 (en) * 2002-05-28 2004-08-03 Eastman Kodak Company Lighting apparatus with flexible OLED area illumination light source and fixture
US6565231B1 (en) * 2002-05-28 2003-05-20 Eastman Kodak Company OLED area illumination lighting apparatus
TWI277363B (en) * 2002-08-30 2007-03-21 Semiconductor Energy Lab Fabrication system, light-emitting device and fabricating method of organic compound-containing layer
KR100889758B1 (ko) * 2002-09-03 2009-03-20 삼성모바일디스플레이주식회사 유기박막 형성장치의 가열용기
DE10316228B3 (de) * 2003-04-09 2004-12-16 Dr. Eberl Mbe-Komponenten Gmbh Effusionszelle mit verbesserter Temperaturkontrolle des Tiegels
US7339139B2 (en) * 2003-10-03 2008-03-04 Darly Custom Technology, Inc. Multi-layered radiant thermal evaporator and method of use
US7439208B2 (en) * 2003-12-01 2008-10-21 Superconductor Technologies, Inc. Growth of in-situ thin films by reactive evaporation
US20050229856A1 (en) * 2004-04-20 2005-10-20 Malik Roger J Means and method for a liquid metal evaporation source with integral level sensor and external reservoir
JP4653418B2 (ja) * 2004-05-17 2011-03-16 芝浦メカトロニクス株式会社 真空処理装置および光ディスクの製造方法
JP4027914B2 (ja) * 2004-05-21 2007-12-26 株式会社半導体エネルギー研究所 照明装置及びそれを用いた機器
US7667389B2 (en) * 2004-12-06 2010-02-23 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting element, light emitting device, and electronic device
US20060244373A1 (en) * 2005-04-28 2006-11-02 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and method for manufacturing thereof
JP4293314B2 (ja) * 2007-01-26 2009-07-08 財団法人山形県産業技術振興機構 照明装置
US8444926B2 (en) * 2007-01-30 2013-05-21 Applied Materials, Inc. Processing chamber with heated chamber liner
US20090020070A1 (en) * 2007-07-19 2009-01-22 Michael Schafer Vacuum evaporation apparatus for solid materials

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63274756A (ja) * 1987-04-28 1988-11-11 Toda Kogyo Corp 真空蒸着多層薄膜形成装置
JP2000160328A (ja) * 1998-11-30 2000-06-13 Idemitsu Kosan Co Ltd 素子用薄膜層の蒸着方法、蒸着装置および有機エレクトロルミネッセンス素子
JP2001081558A (ja) * 1999-09-13 2001-03-27 Asahi Optical Co Ltd 成膜装置および成膜方法
JP2002071944A (ja) * 2000-08-24 2002-03-12 Toyo Commun Equip Co Ltd 光バンドパスフィルタの製造装置及び製造方法
JP2003193217A (ja) * 2001-12-25 2003-07-09 Nippon Seiki Co Ltd 蒸着装置
JP2006002200A (ja) * 2004-06-16 2006-01-05 Seiko Epson Corp 蒸着装置、蒸着方法、有機el装置、および電子機器
JP2008108611A (ja) * 2006-10-26 2008-05-08 Fuji Electric Holdings Co Ltd 蒸着層の製造方法および製造装置

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012111977A (ja) * 2010-11-19 2012-06-14 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 成膜装置及び成膜方法、並びに照明装置の作製方法
JP2012129509A (ja) * 2010-11-24 2012-07-05 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 発光素子、発光装置、照明装置、及び電子機器
US9859516B2 (en) 2010-11-24 2018-01-02 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting element, light-emitting device, lighting device, and electronic devices
KR101900347B1 (ko) * 2010-11-24 2018-09-19 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 발광소자, 발광장치, 조명장치 및 전자기기
WO2012108698A2 (ko) * 2011-02-09 2012-08-16 서울대학교 산학협력단 벌크 이종접합을 갖는 저분자 박막 및 이를 포함하는 유기 태양전지의 형성방법
WO2012108698A3 (ko) * 2011-02-09 2012-12-20 서울대학교 산학협력단 벌크 이종접합을 갖는 저분자 박막 및 이를 포함하는 유기 태양전지의 형성방법
KR101218346B1 (ko) 2011-02-09 2013-01-21 서울대학교산학협력단 벌크 이종접합을 갖는 저분자 박막 및 이를 포함하는 유기 태양전지의 형성방법
WO2012127982A1 (ja) * 2011-03-18 2012-09-27 東京エレクトロン株式会社 成膜装置、成膜方法、有機発光素子の製造方法、及び有機発光素子
CN103871851A (zh) * 2012-12-18 2014-06-18 北京汉能创昱科技有限公司 一种铜铟镓硒薄膜电池共蒸发线性源阵列的排布
JP2017188286A (ja) * 2016-04-05 2017-10-12 株式会社オートネットワーク技術研究所 コネクタ、接続状態検知システム、および、端子
WO2017175576A1 (ja) * 2016-04-05 2017-10-12 株式会社オートネットワーク技術研究所 コネクタ、接続状態検知システム、および、端子
US10647269B2 (en) 2016-04-05 2020-05-12 Autonetworks Technologies, Ltd. Connector, connection state detection system and terminal

Also Published As

Publication number Publication date
US20100247747A1 (en) 2010-09-30
TWI532861B (zh) 2016-05-11
JP5417236B2 (ja) 2014-02-12
TW201102447A (en) 2011-01-16
KR20100108283A (ko) 2010-10-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5417236B2 (ja) 照明装置の作製方法
JP4455937B2 (ja) 成膜源、真空成膜装置、有機elパネルの製造方法
KR101457653B1 (ko) 성막장치, 제조장치, 성막방법, 및 발광장치의 제조방법
JP2006057173A (ja) 成膜源、真空成膜装置、有機elパネルの製造方法
TW200844246A (en) Film formation apparatus, film formation method, manufacturing apparatus, and method for manufacturing light-emitting device
JP5166942B2 (ja) 発光装置の作製方法
JP4881789B2 (ja) 有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法及び有機エレクトロルミネッセンス素子の製造装置
EP2190264A1 (en) Evaporation apparatus
JP5325471B2 (ja) 発光装置の作製方法
US9714466B2 (en) Vapor deposition device, vapor deposition method, and method of manufacturing organic electroluminescent display device
CN1766157A (zh) 用于制作显示装置的设备
TW200847500A (en) Method for manufacturing light-emitting device
US9290842B2 (en) Electrode cover and evaporation device
WO2012170145A1 (en) Process for fabricating oled lighting panels
JP4595232B2 (ja) 薄膜パターンの形成方法および有機電界発光表示装置の製造方法
JP2009114517A (ja) 蒸着装置、蒸着方法、および有機el装置の製造方法
US20130260499A1 (en) Vapor deposition apparatus, vapor deposition method, and method for manufacturing organic electroluminescent display device
JPH09256142A (ja) 成膜装置
JP2007234390A (ja) 有機elパネルの製造方法及びその製造装置
JP2011127218A (ja) 薄膜蒸着装置及びこれを利用した有機発光ディスプレイ装置の製造方法
JP4846650B2 (ja) 電極カバーおよび蒸着装置
JP6271241B2 (ja) 蒸着装置、及び有機el装置の製造方法
JP2006002218A (ja) 成膜源、成膜方法、および加熱板、ならびに有機el素子の製造方法
JP2007095545A (ja) 自発光素子の製造方法、および自発光素子の製造装置
JP2012111977A (ja) 成膜装置及び成膜方法、並びに照明装置の作製方法

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20121224

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20121224

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130925

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20131015

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20131022

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20131112

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20131118

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5417236

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees