JP2010238502A - 質量分析装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 真空フランジ6と本体1とで構成される真空容器内にイオンが飛行するフライトチューブ2が配置されており、その末端にMCP群4がMCP−IN電極3を介して取り付けられている。真空フランジ6は、本体1に着脱可能に取り付けられ、MCP群4はその真空フランジ6に取り付けられた検出用の回路基板7上に設けられたスプリング710により、フライトチューブ2の端部に向けて付勢されてそのイオン飛行軌跡に対する直交性が確保されている。
【選択図】 図7
Description
Claims (8)
- サンプルから放出されたイオンが装置本体内の真空容器であるフライトチューブ内を飛行するのに要する時間に基づいて当該イオンの質量を分析する質量分析装置において、
前記真空容器内で前記フライトチューブのイオン到達側に配置され、到達したイオンに応じた電子を出力するマイクロチャネルプレートであって、そのイオン到達面側に電気的、物理的に接続された入力側電極により前記装置本体と直接固定されるマイクロチャネルプレートと、
前記フライトチューブのイオン到達側端部に着脱可能に接続、固定されて、該真空容器を構成するとともに、該真空容器の外側表面に露出する信号出力端子と、電位供給端子とを有するフランジ部と、
前記フランジ部上に前記マイクロチャネルプレートに向けて固定され、前記マイクロチャネルプレートから出力された電子が入力されるとともに、前記信号出力端子に電気的に接続されているアノード部と、
前記フランジ部に固定されて、前記マイクロチャネルプレートの出力側を付勢して、
前記マイクロチャネルプレートの出力側と、前記電位供給端子とを電気的に接続する出力側付勢手段と、
を備えていることを特徴とする質量分析装置。 - 前記マイクロチャネルプレートは、前記入力側電極を介して前記フライトチューブのイオン到達側端面に固定されていることを特徴とする請求項1記載の質量分析装置。
- 前記マイクロチャネルプレートを複数枚積み重ねていることを特徴とする請求項1または2に記載の質量分析装置。
- 前記フランジ部に固定され、前記入力側電極を付勢し、前記入力側電極と、前記フランジ部に設けられた入力電極端子とを電気的に接続する入力電極付勢手段をさらに備えていることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の質量分析装置。
- 前記アノードより前記マイクロチャネルプレート側に配置され、前記フランジ部に固定される電子増倍部をさらに備えていることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の質量分析装置。
- 前記出力電極付勢手段は、スプリングであることを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の質量分析装置。
- 前記出力電極付勢手段は、導電性ゴム製であることを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の質量分析装置。
- 前記出力電極付勢手段は、金属突起であることを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の質量分析装置。
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