JP2010207739A - 減圧乾燥装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】基板上の塗布膜に乾燥ムラが形成されるのを抑えることができる減圧乾燥装置を提供する。
【解決手段】基板を収容する収容部と、前記収容部の所定の位置に基板を保持する基板保持部と、前記基板保持部に保持された基板の中心位置と対向する位置に設けられ、前記収容部の大気を排気させる排気口と、前記基板保持部に保持された基板の外周縁に沿って設けられる開口部を有しており、前記基板の外周縁に沿って環状に連通して形成される環状吸引口と、を備え、前記排気口と環状吸引口とが連通して接続されていることにより、前記排気口に吸引力が発生すると収容部の大気が前記開口部を通じて排気口から排気される構成とする。
【選択図】図4

Description

本発明は、基板に塗布された塗布液を減圧乾燥させることにより、基板上に塗布膜を形成する減圧乾燥装置に関するものである。
液晶ディスプレイやプラズマディスプレイ等のフラットパネルディスプレイには、基板上にレジスト液が塗布されたもの(塗布基板と称す)が使用されている。この塗布基板は、塗布装置により基板上にレジスト液が均一に塗布されることによって塗布膜が形成され、その後、減圧乾燥装置により塗布膜を乾燥させることにより生産される。
この減圧乾燥装置は、例えば、下記特許文献1に示されるように、上部チャンバと下部チャンバとで形成される収容部に基板を収容した状態で、収容部の大気を排気ポートから排気することによって収容部を減圧させて基板上の塗布膜を乾燥させるようになっている。
このとき、基板を載置するプレートが整流板として機能することにより、基板上の塗布膜に乾燥ムラが形成されるのを抑制できるようになっている。すなわち、真空ポンプ等を作動させて排気ポートに吸引力を作用させると、基板近傍の大気は整流板の外周縁側を通って排気ポートに流れ込む。そして、整流板の外周縁側を通った大気を短時間で効率的に回収できるように、排気ポートは基板が載置される領域の外周縁内側付近に沿って複数配列されて設けられている。これにより、基板近傍の大気がほぼ均等に排気され、塗布膜に乾燥ムラが形成されるのを防止できるようになっている。
特開2005−329303号公報
しかし、上記特許文献1に記載された減圧乾燥装置であっても乾燥ムラを抑えきれない場合があった。すなわち、排気ポートが基板が載置される領域の外周縁内側付近に沿って設けられているため、排気ポートが配置された近傍では他の場所に比べて吸引力が強くなる。そのため、整流板を設けた場合であっても、排気ポートの近傍では強い大気の流れが発生し、基板上の塗布膜には、大気の流れに沿った筋状のムラが発生する。そして、そのまま乾燥されることにより塗布膜に乾燥ムラが発生してしまうという問題があった。
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、塗布膜に乾燥ムラが形成されるのを抑えることができる減圧乾燥装置を提供することを目的としている。
上記課題を解決するために本発明の減圧乾燥装置は、基板を収容する収容部と、前記収容部の所定の位置に基板を保持する基板保持部と、前記基板保持部に保持された基板の中心位置と対向する位置に設けられ、前記収容部の大気を排気させる排気口と、前記収容部に開口する開口部が、前記基板保持部に保持された基板の外周縁に沿って環状に連通して形成される環状吸引口と、を備え、前記排気口と環状吸引口とが連通して接続されていることにより、前記排気口に吸引力が発生すると収容部の大気が前記開口部を通じて排気口から排気されることを特徴としている。
上記減圧乾燥装置によれば、排気口に吸引力が発生すると、収容部の大気が一様に環状吸引口の開口部を通じて吸引される。すなわち、環状吸引口と排気口とが連通し、排気口が基板の中心位置と対向する位置に配置されているため、排気口に吸引力が作用すると、環状吸引口全周に亘って基板の中心位置に位置する排気口に向かう吸引力が作用し、環状吸引口内全周に亘ってほぼ一様に吸引力が発生する。そして、この環状吸引口は基板の外周縁に沿って開口部を有しているため、この開口部全体に、ほぼ均一な吸引力を発生させることができる。これにより、収容部の大気は、基板の中央部分から外周縁側に位置する開口部に向かって一様に吸引され、環状吸引口を通じて排気口から排気される。したがって、収容部の大気が一様に吸引されるため、従来のように、基板の外周縁内側付近に沿って排気口が複数設けられていることにより、排気ポートが配置された近傍と他の場所とで吸引力の強弱が生じる場合に比べて、乾燥ムラを抑えることができる。
また、前記環状吸引口は、前記基板保持部に形成されており、前記基板保持部に保持された基板の外周縁全周に亘って、その外周縁から等距離となる位置に形成されている構成としてもよい。
この構成によれば、環状吸引口は、保持された基板の外周縁から等距離位置となる基板保持部に形成されているため、基板の中央部分から外周縁側に位置する環状吸引口に向かって一様に均一な吸引力が発生する。したがって、従来の整流板を設ける必要がないため、収容部の容積を小さくすることができる。これにより、収容部の増大に伴って塗布膜内に発生する気泡を抑えることができ、乾燥ムラの発生を抑えることができる。
また、前記開口部は、前記収容部と環状吸引口とに連通する貫通口であって、この貫通口が前記基板保持部に保持された基板の外周縁に沿って形成されている構成としてもよい。
この構成によれば、環状吸引口に生じる吸引力が周方向において一様でない場合であっても、貫通口の配置等を適宜調節することによって、収容部の大気をほぼ均一に吸引することができる。
具体的な様態としては、前記排気口と環状吸引口とを連通して接続する連通口を有しており、この連通口が接続される環状吸引口部分における貫通口が、他の部分における貫通口に比べて小さく形成されている構成とすることができる。
この構成によれば、連通口が接続される排気口部分では、排気口からの吸引力が他の部分に比べて大きくなる。したがって、この当該部分における貫通口を他の部分よりも小さく形成することにより、当該部分の吸引力を他の部分よりも小さくすることができ、開口部全体としての吸引力をほぼ均一にすることができる。
さらに具体的には、前記貫通口は、前記連通口と環状吸引口とが連通して接続される部分から離れるに従って、次第に小さくなるように形成されている構成にして、適宜、開口部全体の吸引力が均一となるように調節してもよい。
本発明の減圧乾燥装置によれば、塗布膜に乾燥ムラが形成されるのを抑えることができる。
本発明の一実施形態における減圧乾燥装置のチャンバ蓋部とチャンバ本体が離間した状態を示す斜視図である。 上記減圧乾燥装置のチャンバ本体の上面図である。 上記チャンバ本体の基部を示す上面図である。 上記チャンバ本体に基板が載置された状態を示す一部断面図である。 減圧乾燥装置内に基板が収容された状態を示す図である。
本発明に係る実施の形態を図面を用いて説明する。
図1〜図5は、本発明の一実施形態における減圧乾燥装置を概略的に示す図であり、図1は、減圧乾燥装置のチャンバ蓋部10とチャンバ本体20が離間した状態を示す斜視図であり、図2はチャンバ本体の上面図、図3はチャンバ本体の基部21を示す図であり、図4はチャンバ本体20に基板1が載置された状態を示す一部断面図であり、図5は減圧乾燥装置内に基板が収容された状態を示す図である。
図1〜図5に示すように、減圧乾燥装置は、基板1上に形成されたレジスト液などの塗布膜を乾燥させるものであり、チャンバ本体20(基板保持部20)とチャンバ蓋部10とを備えている。このチャンバ本体20と後述するチャンバ蓋部10とによって、図5に示すように、基板1を収容する基板収容部30が形成される。そして、この基板収容部30を減圧環境に維持することによって基板収容部30に収容された基板1を乾燥できるようになっている。
なお、以下の説明では、図1における紙面上側を減圧乾燥装置の上方、図1における紙面下側を減圧乾燥装置の下方として説明を進めることとする。
チャンバ本体20は、塗布膜が形成された基板1を保持するものである。このチャンバ本体20は、基部21とこの基部21の上面に取付けられるプレート部22とを有している。このプレート部22には、複数のピン孔22aが形成されており、このピン孔22aからリフトピン23が突出するようになっている。そして、この突出した複数のリフトピン23の先端部分により基板1が保持されるようになっている。
具体的には、基部21には、ピン孔22aに対応する位置にピン収容孔21aが形成されており、このピン収容孔21aにリフトピン23が埋設されている。このリフトピン23は、基部21の下側に設けられた駆動装置(不図示)と接続されており、この駆動装置を駆動させることにより、リフトピン23が昇降動作するとともに、任意の位置で停止できるようになっている。本実施形態では、リフトピン23が基部21内に収容される収容位置と、プレート部22から突出し基板1の受渡しを行う基板受渡位置と、乾燥工程を行う乾燥位置とに停止できるように設定されている。そして、リフトピン23が基板受渡位置に位置した状態で基板1がリフトピン23の先端部分に載置されると、図示しない位置決め機構により、基板1が予め設定された位置に位置決めされた後、リフトピンを下降させて基板1が乾燥位置に位置した状態で保持されるようになっている。なお、このピン収容孔21aにはシールが設けられており、リフトピン23が突出した状態であってもピン収容孔21aから基板収容部30の大気の漏れを防止できるようになっている。
また、チャンバ本体20は、排気口24を有しており、この排気口24から基板収容部30の大気を排気することにより、基板収容部30が減圧されるようになっている。この排気口24には、図示しない真空ポンプと配管を通じて接続されており、真空ポンプを作動させることにより、排気口24に吸引力が作用し、基板収容部30の大気が吸引される。これにより、基板収容部30が大気圧よりも小さい圧力に減圧されるようになっている。本実施形態における排気口24は、基部21の中央部分であって、リフトピン23により乾燥位置に保持された基板1の中心位置に対向する位置に1つのみ設けられている。したがって、基板収容部30の大気は、基板1の中心位置に対向する位置に向かう気流が発生し、排気口24を通じて排気される。なお、本実施形態では、1つの孔で構成される排気口24が基板1の中心位置に対向する位置に1つのみ設けられているが、複数の孔から構成される排気口24であってもよい。この場合であっても、複数の孔から構成される排気口24の排気領域の中心位置が、保持された基板1の中心位置と対向する位置に設けてあれば、環状吸引口25の全周に亘って均一な吸引力を発生させることができる。
また、チャンバ本体20には、環状吸引口25と、この環状吸引口25と排気口24とを連通して接続する連通口26を有している。具体的には、環状吸引口25と連通口26とは、基部21に形成された溝と、これらの溝を覆うプレート部22とによって形成されている(図4,図5参照)。そして、環状吸引口25には、基板収容部30に開口する開口部25aが形成されている。したがって、排気口24に吸引力を発生させると、基板収容部30の大気が開口部25aから環状吸引口25及び連通口26を通じて排気口24から排気されるようになっている。
環状吸引口25は、リフトピン23に保持された基板1の外周縁に沿って形成されている。具体的には、環状吸引口25は、略四角形の断面形状(図5参照)を有しており、保持された基板1の外周縁に沿って環状に形成されている。すなわち、略四角形の断面形状の環状吸引口25が保持された基板1の外周縁に沿って連続的に、保持された基板1を囲うように形成されている。そして、環状吸引口25は、保持された基板1の外周縁全周に亘って等距離に形成されており、本実施形態では、図3に示すように、保持された基板1から距離αの位置に形成されている。したがって、排気口24に吸引力が発生すると、環状吸引口25の全周に亘って吸引力が一様に発生し、基板1全体に対してほぼ一様に吸引力が作用するようになっている。なお、図2、図3における2点鎖線は、保持された基板1の位置を仮想的に示すものである。
また、環状吸引口25は、開口部25aにより基板収容部30に連通されている。本実施形態では、プレート部22には複数の貫通口22bが形成されており、この貫通口22bを通じて環状吸引口25と基板収容部30が連通されている。すなわち、この貫通口22bにより開口部25aが形成されている。
この貫通口22bは、リフトピン23に保持された基板1の外周縁に沿って連続的に形成されており、保持された基板1を囲うように形成されている。そして、貫通口22bは、保持された基板1の外周縁全周に亘って等距離βに形成されている。これにより、排気口24に吸引力を発生させると、環状吸引口25の全周に亘って発生した吸引力が貫通口22b全体に亘ってほぼ均一に発生するとともに、基板1の中央部分から貫通口22b(開口部25a)に向かって流れる気流を一様に発生させることができる。
また、環状吸引口25と連通口26とが交差する部分に形成される貫通口22bは、当該交差する部分から離れた位置に形成される貫通口22bに比べて小さく形成されている。本実施形態では、交差する部分から離れるにしたがって、順次小さくなるように形成されている。これにより、環状吸引口25に発生した吸引力により貫通口22bを通じて均一に吸引されるようになっている。すなわち、排気口24で発生した吸引力は、連通口26を通じて環状吸引口25全体に発生するが、環状吸引口25において連通口26に近い部分、すなわち環状吸引口25と連通口26との交差部分では、若干吸引力が強く発生する。そのため、この環状吸引口25と連通口26との交差部分では貫通口22bを小さく形成して大気の吸引量を少なくし、当該交差部分以外でより大きい貫通口22bを形成することにより大気の吸引量をより多くすることにより、環状吸引口25で発生した吸引力を貫通口22bの形成によって均一化することができる。したがって、基板収容部30の大気が開口部25a全体に亘って均一に吸引力が発生し、基板収容部30には、基板1の中央部分から貫通口22b(開口部25a)に向かって流れる気流を一様に発生させることができる。この一様な気流の生成により、基板1に形成された塗布膜の乾燥ムラを抑えることができる。
また、チャンバ本体20には、図示しないガス供給口が設けられており、このガス供給口からN2ガスを供給することにより、基板収容部30内の減圧状態を大気圧に戻すことができるようになっている。
また、図4、図5に示すように、チャンバ蓋部10は、昇降動作可能に形成されており、チャンバ本体20に対して接離可能になっている。そして、このチャンバ蓋部10がチャンバ本体20に近接して当接することにより、チャンバ蓋部10とチャンバ本体20とで基板を収容する基板収容部30が形成されるようになっている。
このチャンバ蓋部10は、チャンバ本体20に保持された基板1を覆う形状を有しており、チャンバ本体20と対面する平板状の平板部11と、この平板部11の外周縁からチャンバ本体20側に突出し、保持された基板1を囲む形状を有する側壁部12とを有している。
平板部11の基板収容部30側は、平滑な平坦状に形成されており、基板収容部30の気流(大気の流れ)が妨げられないように形成されている。また、基板収容部30側の裏面側には、リブ(不図示)が取付けられており、基板収容部30が減圧された場合に平板部11が変形するのを防止できるようになっている。これにより、基板収容部30が減圧された場合であっても、平板部11の基板収容部30側が平坦度を維持することができ、基板収容部30の気流の乱れを抑えて乾燥ムラの発生を抑えることができるようになっている。
また、側壁部12の基板収容部30側は、平板部11と同様に平滑な平坦状に形成されており、基板収容部30の大気の流れが妨げられないように形成されている。また、側壁部12には、チャンバ本体20の基部21と当接する面にシール部材が設けられている。このシール部材は、保持された基板1を囲むように環状に形成されている。これにより、チャンバ蓋部10を下降させると、シール部材がチャンバ本体20の基部21に当接し、基板収容部30が密封されるようになっている。
次に減圧乾燥装置の動作について説明する。
まず、基板1の供給が行われる。具体的には、チャンバ蓋部10を上昇させた状態で、図示しないロボットハンドなどにより、塗布液が塗布された基板1が基板受渡位置で停止しているリフトピン23の先端部分に載置される。そして、基板1の位置決め動作が行われた後、駆動装置を作動させてリフトピン23を駆動させることにより、基板1を乾燥位置に位置させる。
次に、基板1を乾燥させる。すなわち、チャンバ蓋部10を下降させて基板収容部30を密閉した後、真空ポンプを作動させて基板収容部30内を減圧させることにより、基板1上の塗布液を乾燥させる。具体的には、真空ポンプを作動させて排気口24に吸引力が発生すると、この吸引力が連通口26を通じて環状吸引口25に発生する。すなわち、保持された基板1の外周縁に沿って形成される環状吸引口25全周に発生する。このとき、環状吸引口25において、連通口26と交差する部分では、それ以外の部分よりも僅かに吸引力が大きくなっているが、環状吸引口25全周として吸引力はほぼ一様に発生している。そして、この吸引力が貫通口22b(開口部25a)を通じて基板収容部30に作用するが、貫通口22bが、環状吸引口25と連通口26が交差する部分から離れるにしたがって大きく形成されているため、開口部25a全体に亘って、ほぼ均一の吸引力が発生する。したがって、保持された基板1には、中央部分から外周縁側に位置する環状吸引口25に向かって一様な気流が発生する。
次に、基板収容部30を所定時間減圧乾燥状態に維持することにより、塗布液を乾燥させた後、塗布基板1の取出しを行う。具体的には、ガス供給口からN2ガスを基板収容部30に供給することにより基板収容部30内を大気圧に戻す。そして、チャンバ蓋部10を上昇させて塗布基板1の取出しを行うことにより、一連の減圧乾燥装置の動作が終了する。
以上説明した通りの減圧乾燥装置によれば、排気口24が基板1の中心位置と対向する位置にのみ配置されているため、排気口24に吸引力が作用すると、環状吸引口25には、環状吸引口25内全周に亘ってほぼ均一な吸引力が発生する。そして、この環状吸引口25は基板1の外周縁に沿って貫通口22b(開口部25a)を有しているため、開口部25a全体に、ほぼ均一な吸引力を発生させることができる。これにより、基板収容部30の大気は、基板1の中央部分から外周縁側に位置する開口部25aに向かって一様に吸引され、環状吸引口25を通じて排気口24から排気される。したがって、基板収容部30の大気が一様に吸引されるため、従来のように、基板の外周縁内側付近に沿って排気口が複数設けられていることにより、排気ポートが配置された近傍と他の場所とで吸引力の強弱が生じる場合に比べて、乾燥ムラを抑えることができる。また、上記減圧乾燥装置では、環状吸引口25が、チャンバ本体21(基板保持部)に形成されており、この環状吸引口25の開口部25aにより均一な吸引力が発生するため、従来のように整流板を設ける必要がない。これにより、基板収容部30の容積を小さくすることができるため、基板収容部30の増大に伴って塗布膜内に発生する気泡を抑えることができるとともに、装置全体をコンパクトにすることができる。
また、上記実施形態では、開口部25aとしての貫通口22bが、環状吸引口25と連通口26とが交差する部分から離れるにしたがって大きくなる例について説明したが、当該交差する部分から離れるにしたがって、段階的に大きくなるものであってもよい。すなわち、所定の大きさの貫通口22bを複数個形成した一群の貫通口22bを形成し、この一群の貫通口22bの大きさが、当該交差する部分から離れるにしたがって、一群ごとに大きく形成されているものであってもよい。すなわち、環状吸引口25における吸引力の強弱を貫通口26の大きさで調節し、開口部25a全体として均一な吸引力を発生させる構成であればよい。なお、環状吸引口25における吸引力が一定であれば、全て均一な大きさの貫通口22bであってもよい。
また、上記実施形態では、開口部25aがプレート部材22に形成した貫通口22bである例について説明したが、環状吸引口25の開口部分をプレート部材22で覆わず、環状吸引口25の開口部分を開口部25aとしたものであってもよい。この構成であっても、環状吸引口25が基板1を囲むように環状に形成されているため、基板収容部30の大気は、基板1の中央部分から開口部25aに向かって一様に吸引される。
また、上記実施形態では、連通口26が中央位置の排気口24から4方向に延びる例について説明したが、4方向に限定する必要はない。すなわち、環状吸引口25が環状に連通して形成されているため、連通口26の数に限らず、環状吸引口25全周に一様の吸引力を作用させることができる。なお、仮に連通口26を設ける数により、環状吸引口25に吸引力の僅かな強弱が生じた場合には、貫通口22bの設け方によって開口部25aから発生する吸引力をほぼ均一にすることができる。
10 チャンバ蓋部
20 チャンバ本体
21 基部
22 プレート部材
22b 貫通口
24 排気口
25 環状吸引口
25a 開口部
26 連通口
30 基板収容部

Claims (5)

  1. 基板を収容する収容部と、
    前記収容部の所定の位置に基板を保持する基板保持部と、
    前記基板保持部に保持された基板の中心位置と対向する位置に設けられ、前記収容部の大気を排気させる排気口と、
    前記基板保持部に保持された基板の外周縁に沿って開口する開口部を有し、前記基板の外周縁に沿って環状に連通して形成される環状吸引口と、
    を備え、
    前記排気口と環状吸引口とが連通して接続されていることにより、前記排気口に吸引力が発生すると収容部の大気が前記環状吸引口を通じて排気口から排気されることを特徴とする減圧乾燥装置。
  2. 前記環状吸引口は、前記基板保持部に形成されており、前記基板保持部に保持された基板の外周縁全周に亘って、その外周縁から等距離となる位置に形成されていることを特徴とする請求項1に記載の減圧乾燥装置。
  3. 前記開口部は、前記収容部と環状吸引口とに連通する貫通口であって、この貫通口が前記基板保持部に保持された基板の外周縁に沿って形成されていることを特徴とする請求項1又は2に記載の減圧乾燥装置。
  4. 前記排気口と環状吸引口とを連通して接続する連通口を有しており、この連通口が接続される環状吸引口部分における貫通口が、他の部分における貫通口に比べて小さく形成されていることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の減圧乾燥装置。
  5. 前記貫通口は、前記連通口と環状吸引口とが連通して接続される部分から離れるにしたがって、次第に大きくなるように形成されていることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の減圧乾燥装置。
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