JP2010187308A - 画像処理装置及び画像処理方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 予め検出・記憶されている欠陥画素(不使用画素)データと、リアルタイムで欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段を備えた画像処理装置において、リアルタイムの検出は、周辺(同色)画素の出力と比較した値から判定値を算出する判定値算出機能を備える。該検出手段は、判定値算出に使用する画素内に、予め記憶されている欠陥画素が存在するか否かの判定を行い、欠陥画素が存在する場合、該判定値算出対象から除外する。
【選択図】 図3
Description
また、近年では、撮像素子の撮像領域内に撮像目的以外の画素(例えば、温度センサー画素や、測距用センサー画素等)を備えたものもあり、該画素は撮像には使用されないため、欠陥画素と同様に補間処理を行う必要がある。一方で、製造過程で発生する欠陥画素以外に、宇宙線や静電破壊等により、製造後に発生する欠陥画素については、画像上での欠陥を検出して補正を行う構成が取られているものもある。
(第1の実施例)
図1は、本発明の実施例における撮像装置(画像処理装置)の全体構成を示すブロック図である。図1において、周知の撮影レンズ110には不図示のモーターが備えられ、後述する測距制御部142の処理結果に応じてモーターを駆動し、焦点を合わせる機構が備えられている。レンズ制御部111は、撮影レンズ110からの情報を制御手段としてのシステム制御回路150に伝達するとともに、撮影レンズ110の動作制御を行う。
ステップS205では、着目画素の出力値とステップS204で算出した判定値を比較し、欠陥画素であるか否かの判定を行う。着目画素が欠陥画素であると判定した場合、ステップS206においてマーキング動作を行い、図2のステップS107へ戻る。
前記した本発明の第1の実施例では、欠陥検出動作時に欠陥判定値算出領域に予め記憶されている欠陥(不使用)画素が存在した場合、該欠陥(不使用)画素を欠陥判定値算出対象から除外するものである。そのような対応方法では、欠陥判定値算出に使用する画素数が減少してしまい、欠陥判定値のズレが大きくなる場合がある。
150 システム制御回路
152 メモリ
156 不揮発性メモリ
120 画像処理回路
Claims (4)
- 出力画素信号を画像データとして使用しない不使用画素を予め記憶する記憶手段と、
複数の所定画素から出力される画素信号に基づいて対象画素が欠陥画素であるか否かを判定する判定手段と、
前記不使用画素及び前記欠陥画素から出力される画素信号に対する補間処理を施す補間処理手段と、
前記複数の所定画素に前記不使用画素が含まれる場合に、前記不使用画素を除外した前記複数の所定画素から出力される画素信号に基づいて前記判定手段が前記欠陥画素を判定するように制御する制御手段と、
を有することを特徴とする画像処理装置。 - 前記制御手段は、前記複数の所定画素に前記不使用画素が含まれる場合に、前記不使用画素を除外した前記複数の所定画素から出力される画素信号と、前記不使用画素に代わる他の画素から出力される画素信号とに基づいて前記判定手段が前記欠陥画素を判定するように制御することを特徴とする請求項1に記載の画像処理装置。
- 複数の所定画素から出力される画素信号に基づいて対象画素が欠陥画素であるか否かを判定する判定工程と、
予め記憶手段に記憶され、出力画素信号を画像データとして使用しない不使用画素及び前記欠陥画素から出力される画素信号に対する補間処理を施す補間処理工程と、
前記複数の所定画素に前記不使用画素が含まれる場合に、前記不使用画素を除外した前記複数の所定画素から出力される画素信号に基づいて前記判定工程で前記欠陥画素を判定するように制御する制御工程と、
を有することを特徴とする画像処理方法。 - 前記制御工程では、前記複数の所定画素に前記不使用画素が含まれる場合に、前記不使用画素を除外した前記複数の所定画素から出力される画素信号と、前記不使用画素に代わる他の画素から出力される画素信号とに基づいて前記判定工程で前記欠陥画素を判定するように制御することを特徴とする請求項3に記載の画像処理方法。
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