JP2018101896A - 撮像装置とその制御方法及びプログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】撮像装置10は、マイクロレンズ100fに対してPD100b,100cが設けられて撮影光学系を瞳分割する画素100mを有する撮像素子100と、画素100mごとにPD100b,100cの信号を加算して読み出されるAB像のAB像欠陥情報204及びPD100bの信号を読み出したA像の欠陥情報のうちAB像欠陥情報204と重複した情報を除いたA像欠陥情報205を保持するROM107と、AB像欠陥情報204とA像欠陥情報205に基づいてA像に含まれる欠陥画素の位置を指定し、指定された欠陥画素を補正することによりA像を補正する欠陥補正部120を備える。
【選択図】図4
Description
100 撮像素子
100b,100c PD
100f マイクロレンズ
107 ROM
108 画像処理部
120 欠陥補正部
201 第1の欠陥指定回路
202 第2の欠陥指定回路
203 欠陥補正回路
Claims (14)
- 1つのマイクロレンズに対して複数の光電変換部が設けられて撮影光学系を瞳分割する複数の画素を有する撮像素子と、
前記複数の画素ごとに前記複数の光電変換部の信号のすべてを加算して生成される第1の画像データの欠陥情報を示す第1の欠陥情報と、前記複数の画素ごとに前記複数の光電変換部のうちの1つの信号により又は一部の信号を加算することにより生成される第2の画像データの欠陥情報のうち前記第1の欠陥情報と重複した情報を除いた第2の欠陥情報とを保持する保持手段と、
前記第1の欠陥情報と前記第2の欠陥情報に基づいて前記第2の画像データに含まれる欠陥画素の位置を指定する指定手段と、
前記指定手段に指定された欠陥画素を補正することにより前記第2の画像データを補正する補正手段と、を備えることを特徴とする撮像装置。 - 前記指定手段は、前記第1の欠陥情報に基づいて前記第1の画像データに含まれる欠陥画素の位置を指定し、
前記補正手段は、前記指定手段に指定された欠陥画素を補正することにより前記第1の画像データを補正することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。 - 前記保持手段から前記指定手段への前記第1の欠陥情報の入力と前記第2の欠陥情報の入力を切り替える切り替え手段を更に有することを特徴とする請求項1又は2に記載の撮像装置。
- 前記指定手段は、前記第1の欠陥情報に基づいて前記第1の画像データと前記第2の画像データのそれぞれに含まれる欠陥画素の位置を指定する手段と、前記第2の欠陥情報に基づいて前記第2の画像データに含まれる欠陥画素の位置を指定する手段とを別々に有することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の撮像装置。
- 前記複数の画素のそれぞれで前記複数の光電変換部はフォトダイオードを素子分離領域で分割することにより形成されており、
前記第1の欠陥情報は、前記フォトダイオードに異常があり又は前記光電変換部から信号を読み出すための転送ゲートに異常のある画素の情報であり、
前記第2の欠陥情報は、前記素子分離領域に異常のある画素の情報であることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の撮像装置。 - 前記第2の欠陥情報では、前記第2の画像データを生成するための前記光電変換部の信号の読み出し方法ごとに欠陥画素が特定されていることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の撮像装置。
- 前記保持手段は、第1の欠陥情報と前記第2の欠陥情報のそれぞれを欠陥画素の種類ごとにグレードを設けてコードを付加してまとめて保持し、
前記指定手段は、前記撮像素子から読み出された画像が前記複数の光電変換部のうちどの光電変換部から前記画素ごとに信号が読み出されたかに応じてどのグレードを指定するかを決定し、決定したグレードに対応するコードが付された画素の情報を前記保持手段から読み出して、前記読み出された画像に含まれる欠陥画素の位置を指定することを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の撮像装置。 - 1つのマイクロレンズに対して複数の光電変換部が設けられて撮影光学系を瞳分割する画素を有する撮像素子と、
瞳分割された複数の画像を前記撮像素子から読み出す読み出し手段と、
前記瞳分割された複数の画像がそれぞれ有する欠陥画素の欠陥情報を前記複数の画像ごとに保持する保持手段と、
記憶用の画像に含まれる欠陥画素の情報を前記瞳分割された複数の画像ごとに保持された前記欠陥情報に基づいて生成する方法を、前記複数の光電変換部からの信号の読み出し方法に応じて切り替えることにより、又は、前記欠陥情報が示す欠陥画素の欠陥種別に応じて切り替えることにより、前記記憶用の画像に含まれる欠陥画素の情報を生成する生成手段と、を備えることを特徴とする撮像装置。 - 前記記憶用の画像は、前記画素ごとに前記複数の光電変換部の信号のすべてを加算して読み出すことにより生成され又は前記画素ごとに前記複数の光電変換部のうちの1つの信号により生成されもしくは一部の信号を加算することにより生成される複数の画像を加算することにより生成されることを特徴とする請求項8に記載の撮像装置。
- 前記生成手段は、前記欠陥情報に含まれる欠陥種別が白傷、FDリーク傷あるいはRTS傷の場合に、それぞれの欠陥レベルを加算することにより前記記憶用の画像に含まれる欠陥画素の情報を生成することを特徴とする請求項8又は9に記載の撮像装置。
- 前記生成手段は、前記欠陥情報に含まれる欠陥種別が感度傷である場合に、その欠陥レベルを平均化し又はその像高に応じて欠陥レベルを加重加算平均することにより前記記憶用の画像に含まれる欠陥画素の情報を生成することを特徴とする請求項8乃至10のいずれか1項に記載の撮像装置。
- 1つのマイクロレンズに対して複数の光電変換部が設けられて撮影光学系を瞳分割する画素を有する撮像素子を備える撮像装置の制御方法であって、
前記撮像素子から前記画素ごとに前記複数の光電変換部の信号のすべてを加算して読み出すことにより第1の画像データを生成するステップと、
前記撮像素子から前記画素ごとに前記複数の光電変換部のうちの1つの信号又は一部の信号を加算して読み出すことにより第2の画像データを生成するステップと、
前記第1の画像データの欠陥情報を示す第1の欠陥情報と前記第2の画像データの欠陥情報のうち前記第1の欠陥情報と重複した情報を除いた第2の欠陥情報とに基づいて、前記第2の画像データに含まれる欠陥画素の位置を指定するステップと、
前記指定された欠陥画素を補正することにより前記第2の画像データを補正するステップと、を有することを特徴とする撮像装置の制御方法。 - 1つのマイクロレンズに対して複数の光電変換部が設けられて撮影光学系を瞳分割する画素を有する撮像素子を備える撮像装置の制御方法であって、
前記撮像素子から瞳分割された複数の画像を読み出すステップと、
前記瞳分割された複数の画像のそれぞれに含まれる欠陥画素の欠陥情報に基づいて、記憶用の画像に含まれる欠陥画素の情報を生成するステップと、
前記生成された情報を用いて前記記憶用の画像に含まれる欠陥画素を補正するステップと、を有し、
前記記憶用の画像に含まれる欠陥画素の情報を生成する方法が、前記複数の光電変換部からの信号の読み出し方法に応じて又は前記瞳分割された複数の画像ごとの前記欠陥情報が示す欠陥画素の欠陥種別に応じて切り替えられることを特徴とする撮像装置の制御方法。 - 請求項12又は13に記載の撮像装置の制御方法における各ステップの処理をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
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