JP2010182284A - 製造不良要因解析支援装置 - Google Patents

Abstract

【課題】製品出荷後に招来したクレームや工場内の検査工程で発生した不良要因の迅速な特定を支援する製造不良要因解析支援装置を提供する。
【解決手段】工程情報収集手段１１２は、記憶部１１４に記憶されている製品、部品、設備、作業者などの製造にかかわる情報を収集し、収集した上記製造にかかわる情報を解析支援制御手段２００に伝送し、解析支援制御手段２００は、上記製造にかかわる情報を製品の製造ロット番号（製造ロットNo.）や識別番号などに紐付けて製造履歴情報蓄積手段３００に格納し製造履歴情報として管理する。解析支援制御手段２００は、格納された製造履歴情報を読み込み、製品単位、製造順に並べた製品の製造ロット番号または個体識別番号とその製造に係わる情報項目とのマトリックス表上に、対応した情報項目の内容を同一内容毎に括って製造履歴情報表示手段４００上に表示する。
【選択図】図１

Description

本発明は、複数の作業工程を経て製品が製造されるまでの間に複数の作業工程から抽出した製造履歴情報を蓄積し、蓄積した製造履歴情報から指定した情報項目について、指定した製品の製造ロット番号または個体識別番号とのマトリックス表示を行い、製造不良要因を解析できるようにした製造不良要因解析支援装置に関するものである。

近年、非接触で情報の書込みと読出しが可能なＩＣタグなどの情報記録媒体、およびネットワークやデータベースなどの情報技術の発展、普及により、製造現場ではその製造に関わる製品、部品、設備、作業者などに関する情報および製品の検査結果情報などを従来より数多く計算機上に取り込み、それらの情報を製品の製造ロット番号や製品の個体識別番号に紐付けて管理することが比較的簡単に行えるようになってきている。その中で、製品出荷後に招来したクレーム(苦情)や工場内の検査工程で発生した不良要因の迅速な特定が求められている。

不良要因を特定するために要する時間を短くする方法として、一般的には、収集・蓄積した製造履歴情報を利用目的に応じて或るキーワードで検索した情報を表形式のテキストデータで表示する方法が多く利用されている。たとえば、下記特許文献１では、不良要因となる製造装置を特定するために或る製品の製造ロット番号毎に製造装置処理履歴、不良発生件数、および不良内容をテキストベースによる表形式の表示を行うことで、不良要因となる工程や装置の特定を速やかに行えるよう支援する提案がなされている。

また、下記特許文献２では、異常ロットの工程番号及び装置番号、異常ロットのχ^２検定値、不良ロット識別情報、並びに不良ロットのスタックマップを作成して不良原因一覧表として出力し不良原因装置を特定する不良原因装置特定システムが提案されている。

また、下記特許文献３には、複数の製造工程にまたがってワークが移動する際に、各工程の各ポイントで使用材料・製造条件・検査結果・設備稼働状況などのそのワークの詳細製造情報を収集して、収集した使用材料・製造条件・検査結果・設備稼働状況などの各ワークの詳細製造情報を各ワークデータ(計画番号,ロット番号,製造条件番号,ワーク状態データ,設備稼働状態データ,ワーク番号)と紐付けた上で、大量データ保存容量を持つ保存管理手段で管理する製造情報管理方法が開示されている。

特開２００５−２３４９７９号公報 特開２００５−２８４６５０号公報 特許第３７３８５６９号公報(段落0014, 段落0017)

しかしながら上記特許文献１に記載された従来技術では、テキストベースによる表形式になっていても各セルの違いを判断するには視認性が悪いため、使用装置、使用部品ロット番号、製造条件などの切替りが発生した製品の製造ロット番号および個体識別番号を特定するのは手間と時間が掛かるという問題がある。また上記特許文献２に記載された従来技術では、統計手法を用いて異常ロットを特定するため製品製造ロット番号を特定するための手間と時間が掛かるという問題がある。また上記特許文献３に記載された従来技術では、ワーク毎の検査結果情報を、ワークデータをキーにして紐付けして保存・管理することで、ワーク毎に製造条件情報と検査結果情報を対比することができるものの、製品単位、製造順に並べた製品の製造ロット番号とその製造に係わる情報項目とをマトリックス表に表現して製造情報不良解析を具体的に行う構成については何も言及していない。

一方、本件出願人により先に出願された特願2007-223869(以下、先願という)では、製品単位、製造順に並べた製品の製造ロット番号または個体識別番号と、その製造に係わる情報項目とのマトリックス表上に、対応した情報項目の内容を同一内容毎に括って表示する方法を提案している。

しかしながら、前記先願では、情報項目の値をマトリックス表上のセル内に表現しなければならないため、一つのセル幅が長くなり、情報項目の値の桁数によっては画面内の表示列数が少なくなり、スクロールを広範囲に行う必要がでる。そのため、広範囲の状況を見ることができない場合が発生し、その場合は情報項目の値が切替る製品の製造ロット番号および個体識別番号を特定し難いという問題がある。

本発明は、上記課題を解決するためになされたものであり、その目的とするところは、製品出荷後に招来したクレームや工場内の検査工程で発生した不良要因の迅速な特定を支援する製造不良要因解析支援装置を提供することにある。

上記課題を解決するために本発明は、作業工程の製造にかかわる製品、部品、設備、作業者の情報および製品の検査良否、不良現象などの検査結果情報を収集する工程情報収集手段と、前記工程情報収集手段が収集した情報を製品の製造ロット番号または個体識別番号に紐付けて製造履歴情報として管理できるよう蓄積する製造履歴情報蓄積手段と、該製造履歴情報蓄積手段に蓄積された前記製造履歴情報を読み込み、解析支援を行うために前記製造履歴情報の中で指定した、製品単位、製造順に並べた製品の製造ロット番号または個体識別番号とその製造に係わる情報項目の値とを抽出してマトリックス表を構成し、該マトリックス表において製品の製造ロット番号が持つ情報項目の値の交点にシンボルを表示できるよう制御する解析支援制御手段と、該解析支援制御手段の制御に基づいて前記マトリックス表と該マトリックス表において前記シンボルを表示する製造履歴情報表示手段と、を備える。

また前記解析支援制御手段は、別の態様として、前記製造履歴情報蓄積手段に蓄積された前記製造履歴情報を読み込み、解析支援を行うために前記製造履歴情報の中で指定した、製品単位、製造順に並べた製品の製造ロット番号または個体識別番号に対応させて製造数や各検査工程での不良率を抽出して補助マトリックス表として前記マトリックス表に並べて表示できるよう制御する。

また前記解析支援制御手段は、さらに別の態様として、解析支援を行うために前記シンボルを表示する際に製品の製造ロット番号または個体識別番号に対応する検査工程の不良率があらかじめ指定された閾値よりも大きい場合に、当該シンボルの形状または色を前記不良率が閾値以下の場合とは異ならせるよう制御する。

また前記解析支援制御手段は、さらに別の態様として、指定工程の製造順に時系列に並べた、製品の製造ロット番号または個体識別番号に対応する、検査工程の不良率があらかじめ指定された閾値よりも大きい一連の製品の製造ロット番号または個体識別番号のグループの内、条件指定により最も過去、最新、または最も高い不良率を含むグループのいずれかが前記マトリックス表画面上の中心付近になるように制御する。

また前記解析支援制御手段は、さらに別の態様として、前記マトリックス表画面にて表示された状態から指示により条件指定における１つ下位のグループが前記マトリックス表画面上の中心付近になるように制御すること、さらには前記マトリックス表画面にて表示された状態から指示により条件指定における１つ上位のグループが前記マトリックス表画面上の中心付近になるように制御する。

本発明の製造不良要因解析支援装置によれば、使用部品ロット番号、作業者、および製造条件などの切替りが発生した製品製造ロット番号または個体識別番号をビジュアルに素早く特定することができるため、不良の発生要因を素早く推定することが可能となり、ひいては、不良要因を推定したことにより後々影響が出てくる製品(影響製品)の特定を迅速に行うことができるという効果がある。

特に、製品出荷後に招来したクレームや工場内の検査工程で発生した不良の発生がある製造ロット番号に多発しているような場合にその不良要因の特定を迅速に行うことができる。

本発明の実施形態に係る製造不良要因解析支援装置の構成を示すブロック図である。 本発明の実施形態に係る製造不良要因解析支援装置により作成される解析支援のための第１、第２の表示画面例を提示する製造履歴情報表示画面作成処理フローである。 本発明の実施形態に係る製造不良要因解析支援装置により作成された製造履歴情報の第１（表形式）の表示画面例を示す図である。 本発明の実施形態に係る製造不良要因解析支援装置により作成された製造履歴情報の第２（グラフ形式）の表示画面例を示す図である。 本発明の実施形態に係る製造情報蓄積手段のデータ管理形態の例を示す図である。 本発明の実施形態に係る解析支援制御手段の構成を示すブロック図である。 本発明の実施形態に係る解析支援制御手段により対象製品（またはロット）グループを画面エリア上の中心付近に位置付くようにする製造履歴情報表示画面作成処理フローである。

以下、本発明の実施の形態について、詳細に説明する。
図１は、本発明の実施形態に係る製造不良要因解析支援装置の構成を示すブロック図である。図１において本発明の実施形態に係る製造不良要因解析支援装置は、バス１００を介して解析支援制御手段２００、製造履歴情報蓄積手段３００、製造履歴情報表示手段４００、および、第１の情報取得手段１１０〜第４の情報取得手段１４０が接続される構成である。そして解析支援制御手段２００は、一般の情報処理装置にあてはめれば、プログラムによって制御される中央制御装置ユニットに相当し、また製造履歴情報蓄積手段３００はＲＡＭ（Random Access Memory）に相当し、製造履歴情報表示手段４００はディスプレイ(出力装置)に相当し、さらに第１の情報取得手段１１０〜第４の情報取得手段１４０は入力装置に相当する。なお解析支援制御手段２００を制御するためのプログラムを格納するプログラム格納部は図１には示していないが、解析支援制御手段２００内に備えられているものとする。

ここで第１の情報取得手段１１０〜第４の情報取得手段１４０の構成について説明すると、たとえば第１の情報取得手段１１０は、製造にかかわる作業工程１に配置されており、工程情報収集手段１１２および製品、部品、設備、作業者などの製造にかかわる情報の記憶部（以下、単に、“記憶部”と称する）１１４を備えている。記憶部１１４は、図示していないが作業工程１に配置された工程端末(パソコン)を使って工程作業従事者(図示せず)が作業に従事する過程で作業工程における製品、部品、設備、作業者などの製造にかかわる情報を入力するようにし、入力された上記製造にかかわる情報は工程端末(パソコン)と情報取得手段１１０とのインタフェース(図示せず)を経て記憶部１１４に記憶される。

いま解析支援制御手段２００が、プログラムに基づいて第１の情報取得手段１１０から情報を取得するための制御を実行すると、第１の情報取得手段１１０に係る工程情報収集手段１１２は、記憶部１１４に記憶されている作業工程１における製品、部品、設備、作業者などの製造にかかわる情報を収集し、収集した上記製造にかかわる情報を解析支援制御手段２００にバス１００を経由して伝送する。解析支援制御手段２００は、上記製造にかかわる情報を製造履歴情報として管理するために製品の製造ロット番号（製造ロットNo.）や識別番号などに紐付けて製造履歴情報蓄積手段３００に格納して管理する。

ここで上記製品、部品、設備、作業者などの製造にかかわる情報について説明すると、製品の情報としては製造ロット番号（または、製品個々の識別番号）、型式名称などであり、部品の情報としては型式名称、部品ロット番号（部品ロットNo.）などであり、設備の情報としては設備識別番号、動作設定値、製造条件などであり、作業者の情報としては作業者名（作業者識別番号）などである。

同様に、解析支援制御手段２００が、プログラムに基づいて第３の情報取得手段１３０から情報を取得するための制御を実行すると、第３の情報取得手段１３０に係る工程情報収集手段１３２は、記憶部１３４に記憶されている検査工程１における製品、部品、設備、作業者などの検査にかかわる情報および製品の検査良否、不良現象などの検査結果情報を収集し、収集した上記検査にかかわる情報等を解析支援制御手段２００にバス１００を経由して伝送する。解析支援制御手段２００は、上記検査にかかわる情報等を製造履歴情報として管理するために製品の製造ロット番号（製造ロットNo.）や識別番号などに紐付けて製造履歴情報蓄積手段３００に格納して管理する。

なお上記においては第２の情報取得手段１２０は図１では作業工程ｎと表示し、第４の情報取得手段１４０は図１では検査工程ｋと表示して、作業工程２，・・，(ｎ−１)および検査工程２，・・，(ｋ−１)に係る中間の工程についての表示をそれぞれ省略している。なお検査工程は作業工程の合間に挿入される場合が多いことから一般的にはｎ≧ｋに設定される。

上記において紐付け管理は、リレーショナルデータベース(relational database)を使用して製品の製造ロット番号や識別番号などを主キーとして管理するような方法でも良い。また製品の製造ロット番号や識別番号などと各種製造(検査)情報を紐付けられれば、リスト構造などの独自のデータベース構成で管理することも可能である。一例として、図５に製品の製造ロット番号に各種製造(検査)情報を紐付けるデータ管理形態の例を示す。

次に解析支援制御手段２００は製造不良要因の解析支援のためプログラムに基づいて製造履歴情報表示手段４００に対して製造履歴情報の表示を実行する。図２は、本発明の実施形態に係る製造不良要因解析支援装置により作成される解析支援のための図３および図４に示すような指定された製品の製造ロット番号（または個体識別番号）と指定された情報項目の取り得る値を１行としたマトリックス表を表示する製造履歴情報表示画面作成処理フローである。

図６は、本発明の実施形態に係る解析支援制御手段２００の構成を示すブロック図である。図２のフローチャートに示すように、解析支援制御手段２００の製造履歴情報検索手段２１０は検索条件指定・記憶手段２２０に記憶されている、あらかじめ指定された検索条件に適合した製造履歴情報を製造履歴情報蓄積手段３００から読み込み、それを検索後製造履歴情報記憶手段２３０に記憶する（ステップS11）。次いで解析支援制御手段２００のマトリックス表生成手段２４０は、検索後製造履歴情報記憶手段２３０に記憶された製造履歴情報を基に、表示製造情報項目指定・記憶手段２５０に設定されている製造情報項目「部品ロット番号、作業者名、製造条件（製造工程周辺の温湿度、製造設備の設定値や実績値など）など製造にかかわる情報項目」の取り得る値を行の項目とし、検索されている製品の製造ロット番号（または個体識別番号）を製造時間順（早い順、または遅い順）に列の項目として、マトリックス表を作成し、製造履歴情報表示手段４００に表示する（ステップS12）。

ちなみに、図３は、本発明の実施形態に係る製造不良要因解析支援装置により作成された製造履歴情報の第１（表形式）の表示画面例を示す図であり、また図４は、本発明の実施形態に係る製造不良要因解析支援装置により作成された製造履歴情報の第２（グラフ形式）の表示画面例を示す図である。

次いで解析支援制御手段２００のマトリックス表シンボル表示手段２６０は、表示したマトリックス表上において、製品の製造ロット番号（または個体識別番号）の持つ情報項目の値にあたるセル（グラフ形式では交点）に、表示製造情報項目指定・記憶手段２５０にあらかじめ設定されている形状でシンボルを表示する（ステップS13）。ここで、製品の製造ロット番号（または個体識別番号）に対応する検査工程の不良率が解析支援制御手段２００の表示製造情報項目指定・記憶手段２５０にあらかじめ設定されている閾値より大きい場合は、それに対応してあらかじめ設定されているシンボルの形状または色に変えて表示する。

本明細書において「不良現象」は、たとえば、製品の外観検査などで検出されるキズ、汚れ、へこみ、破損、変形などの一般的に不良と認識される現象のほか、プリント板実装であれば、はんだブリッジ、未はんだ、誤実装などの現象を含むものと定義する。

次に製造履歴情報表示手段４００上への図３、図４に示すような製造履歴情報表示によってもたらされる製造不良要因の解析例を以下に説明する。図３は、表形式で製造情報項目に「(1) 部品ロットA」、「(2) A工程作業者No.」を指定した場合の表示例である。また、図４は、グラフ形式で製造情報項目に「(1) 部品ロットA」、「(2) A工程作業者No.」を指定した場合の表示例である。上述したように解析支援制御手段２００による製造不良要因解析支援に基づいて製造履歴情報表示手段４００に図３、図４に示すような製造履歴情報表示がなされ、この製造履歴情報表示を見て解析者が以下のような不良要因を簡単に推定することができる。例えば、図３、図４では製品製造ロット番号「製品PLOT004〜製品PLOT007」における検査工程ｋの不良率がそれぞれ8％、15％、12％、7％と他の製品製造ロット番号に比べて高くなっているのが見て取れる。ここで、マトリックス表上の製造情報項目「部品AロットNo.」に着目すると、製品製造ロット番号「製品PLOT004〜製品PLOT007」は部品AロットNo.が部品ALOT003となっていて他の製品製造ロット番号と異なっているのが見て取れる。このためこの部品ALOT003の部品ロット番号が不良要因候補であると簡単に推定できる。このようにして、不良要因を推定したことにより後々影響が出てくる製品(影響製品)、たとえば、上記例では不良要因の候補と判断できる部品ALOT003を包含する製品製造ロット番号「製品PLOT004〜製品PLOT007」の製品すべてを迅速に特定することができる。

また、図３、図４では製品製造ロット番号「製品PLOT011〜製品PLOT012」における検査工程1の不良率がそれぞれ5％、7％と他の製品製造ロット番号に比べて高くなっているのが見て取れる。ここで、マトリックス表上の製造情報項目「A工程作業者No.」に着目すると、製品製造ロット番号「製品PLOT011〜製品PLOT012」はA工程作業者No.が作業者003となっていて他の製品製造ロット番号と異なっているのが見て取れる。このためこの作業者003のA工程作業者が不良要因候補であると簡単に推定できる。このようにして、不良要因を推定したことにより後々影響が出てくる製品(影響製品)、たとえば、上記例では不良要因の候補と判断できる作業者003を包含する製品製造ロット番号「製品PLOT011〜製品PLOT012」の製品すべてを迅速に特定することができる。

さらに、解析支援制御手段２００による製造不良要因解析支援に基づいて製造履歴情報表示手段４００に図３、図４に示すような製造履歴情報表示がなされる際に、製品の製造ロット番号または個体識別番号に対応する検査工程の不良率があらかじめ指定された閾値よりも大きい場合に、当該シンボルの形状または色を前記不良率が閾値以下の場合とは異ならせることで視認性が向上するため、より迅速な判定が可能となる。

また、解析支援制御手段２００による製造不良要因解析支援に基づいて製造履歴情報表示手段４００に図３、図４に示すような製造履歴情報表示を表示する際に、検査工程の不良率があらかじめ指定された閾値よりも大きい一連の製品の製造ロット番号または個体識別番号のグループを製造履歴情報表示画面上の中心付近に位置付くようにするための条件をあらかじめ指定しておくことができる。条件としては、「最古」、「最新」、または「最も高い不良率を含む」などの条件を指定できる。

例えば、「最古」の条件が指定されていれば、検査工程の不良率があらかじめ指定された閾値よりも大きい一連の製品の製造ロット番号または個体識別番号のグループの内、指定工程の製造（開始または完了）時刻が最も過去のグループを表示可能な画面エリア上の中心付近に位置付くように配置して、製造履歴情報表示手段４００に表示する。

また、例えば、「最新」の条件が指定されていれば、検査工程の不良率があらかじめ指定された閾値よりも大きい一連の製品の製造ロット番号または個体識別番号のグループの内、指定工程の製造（開始または完了）時刻が最も新しいグループを表示可能な画面エリア上の中心付近に位置付くように配置して、製造履歴情報表示手段４００に表示する。

また、例えば、「最も高い不良率を含む」の条件が指定されていれば、検査工程の不良率があらかじめ指定された閾値よりも大きい一連の製品の製造ロット番号または個体識別番号のグループの内、最も高い不良率を含むグループを表示可能な画面エリア上の中心付近に位置付くように配置して、製造履歴情報表示手段４００に表示する。

上述の表示動作を実現するための処理手順を図７に示す。すなわち図７は、本発明の実施形態に係る解析支援制御手段により対象製品（またはロット）グループを画面エリア上の中心付近に位置付くようにする製造履歴情報表示画面作成処理フローである。

図７のステップS21における「表示指示」において、初回表示指定の時は、ステップS22において、検査工程の不良率が指定された閾値よりも大きい製造ロット番号（または個体識別番号）の時系列的に連続したグループを抽出し、次に、ステップS23において、時系列的に連続したグループの内、指定された条件に一致するグループが表示可能エリアの中心付近に位置付くようにデータ配置し、ステップS24において、製造履歴情報表示手段４００に表示する。

この初回表示指定に基づく初回表示後に、ステップS21における「表示指示」で次グループ表示指定（次グループの表示指示を意味する画面上のボタンやカーソルキーなどを押下すること）した場合には、ステップS25において、現在表示可能エリアの中心付近に配置しているグループの一つ下位に条件が一致するグループを表示可能な画面エリア上の中心付近に位置付くように配置して、ステップS24において、製造履歴情報表示手段４００に表示する。このとき、現表示グループが最後の時は、先頭のグループを中心付近とするかまたはそのままとするかのいずれかの方法を選択することが可能である。一つ下位に条件が一致するグループとは、例えば、条件が「最古」の場合は指定工程の製造（開始または完了）時刻が現表示グループの次に過去側のグループ、また条件が「最新」の場合は指定工程の製造（開始または完了）時刻が現表示グループの次に未来側のグループ、さらに条件が「最も高い不良率を含む」の場合は現表示グループの次に低い不良率を含むグループである。

さらに、ステップS21における「表示指示」で前グループ表示指定（前グループの表示指示を意味する画面上のボタンやカーソルキーなどを押下すること）した場合には、ステップS26において、現在表示可能エリアの中心付近に配置しているグループの一つ上位に条件が一致するグループを表示可能な画面エリア上の中心付近に位置付くように配置して、ステップS24において、製造履歴情報表示手段４００に表示する。このとき、現表示グループが先頭の時は、最後のグループを中心付近とするかまたはそのままとするかのいずれかの方法を選択することが可能である。一つ上位に条件が一致するグループとは、例えば、条件が「最古」の場合は指定工程の製造（開始または完了）時刻が現表示グループの次に未来側のグループ、また条件が「最新」の場合は指定工程の製造（開始または完了）時刻が現表示グループの次に過去側のグループ、さらに条件が「最も高い不良率を含む」の場合は現表示グループの次に高い不良率を含むグループである。

また上述した初回表示指定に基づく初回表示後に、表示されたグループの位置を任意に変えたい場合は、手動でスクロールしたり、ページ切替えを行うこと等により変更することもできる。

このようにすることにより、上述したマトリックス表上に検査工程の不良率があらかじめ指定された閾値よりも大きい一連の製品の製造ロット番号または個体識別番号のグループが複数ある場合でも対象となる見たいグループの表示が容易にできる。

１００ バス
１１０ 第１の情報取得手段
１１２ 工程情報収集手段
１１４ 記憶部
１２０ 第２の情報取得手段
１２２ 工程情報収集手段
１２４ 記憶部
１３０ 第３の情報取得手段
１３２ 工程情報収集手段
１３４ 記憶部
１４０ 第４の情報取得手段
１４２ 工程情報収集手段
１４４ 記憶部
２００ 解析支援制御手段
２１０ 製造履歴情報検索手段
２２０ 検索条件指定・記憶手段
２３０ 検索後製造履歴情報記憶手段
２４０ マトリックス表生成手段
２５０ 表示製造情報項目指定・記憶手段
２６０ マトリックス表シンボル表示手段
３００ 製造履歴情報蓄積手段
４００ 製造履歴情報表示手段

Claims (5)

1. 作業工程の製造にかかわる製品、部品、設備、作業者の情報および製品の検査良否、不良現象などの検査結果情報を収集する工程情報収集手段と、
   前記工程情報収集手段が収集した情報を製品の製造ロット番号または個体識別番号に紐付けて製造履歴情報として管理できるよう蓄積する製造履歴情報蓄積手段と、
   該製造履歴情報蓄積手段に蓄積された前記製造履歴情報を読み込み、解析支援を行うために前記製造履歴情報の中で指定した、製品単位、製造順に並べた製品の製造ロット番号または個体識別番号とその製造に係わる情報項目の値とを抽出してマトリックス表を構成し、該マトリックス表において製品の製造ロット番号が持つ情報項目の値の交点にシンボルを表示できるよう制御する解析支援制御手段と、
   該解析支援制御手段の制御に基づいて前記マトリックス表と該マトリックス表において前記シンボルを表示する製造履歴情報表示手段と、
   を備えることを特徴とする製造不良要因解析支援装置。
2. 前記解析支援制御手段は、前記製造履歴情報蓄積手段に蓄積された前記製造履歴情報を読み込み、解析支援を行うために前記製造履歴情報の中で指定した、製品単位、製造順に並べた製品の製造ロット番号または個体識別番号に対応させて製造数や各検査工程での不良率を抽出して補助マトリックス表として前記マトリックス表に並べて表示できるよう制御することを特徴とする請求項１記載の製造不良要因解析支援装置。
3. 前記解析支援制御手段は、解析支援を行うために前記シンボルを表示する際に製品の製造ロット番号または個体識別番号に対応する検査工程の不良率があらかじめ指定された閾値よりも大きい場合に、当該シンボルの形状または色を前記不良率が閾値以下の場合とは異ならせるよう制御することを特徴とする請求項１または請求項２記載の製造不良要因解析支援装置。
4. 前記解析支援制御手段は、指定工程の製造順に時系列に並べた、製品の製造ロット番号または個体識別番号に対応する、検査工程の不良率があらかじめ指定された閾値よりも大きい一連の製品の製造ロット番号または個体識別番号のグループの内、条件指定により最古、最新、または最も高い不良率を含むグループのいずれかが前記マトリックス表画面上の中心付近になるように制御することを特徴とする請求項１から請求項３のいずれか一項に記載の製造不良要因解析支援装置。
5. 前記解析支援制御手段は、前記条件指定により最古、最新、または最も高い不良率を含むグループのいずれかが前記マトリックス表画面上の中心付近に表示された状態から指示により条件指定における１つ下位のグループが前記マトリックス表画面上の中心付近になるように制御すること、さらには前記マトリックス表画面上の中心付近に表示された状態から指示により条件指定における１つ上位のグループが前記マトリックス表画面上の中心付近になるように制御することを特徴とする請求項４記載の製造不良要因解析支援装置。