JP2010177402A - リードフレーム及び半導体装置の製造方法 - Google Patents

リードフレーム及び半導体装置の製造方法 Download PDF

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Abstract

【課題】リードフレームの溶接部が備える島部の変形に起因する応力が連結部を介して枠部へ伝わってしまうことを抑制し、リードフレームの変形を抑制する。
【解決手段】他のリードフレーム10へ溶接される溶接部1と、枠部3とを備える。溶接部1は、島状の島部11と、島部11と枠部3とを相互に連結する複数の連結部12とを備える。島部11と連結部12との接続部13と、連結部12と枠部3との接続部14と、を結ぶ直線15が、島部11の外周において連結部12が接続されている部分(例えば、辺16)に対して傾斜している。直線15が、枠部3の内周において連結部12が接続されている部分(例えば、辺18)に対して傾斜している。
【選択図】図2

Description

本発明は、リードフレーム及び半導体装置の製造方法に関する。
図16は2枚重ねにして相互に溶接して用いられる一般的なリードフレーム100を示す平面図、図17は図16のリードフレーム100が備える溶接部101の拡大平面図である。
図16に示すように、リードフレーム100は、半導体装置の一部を構成する半導体装置構成部102と、枠部103と、を備えて構成されている。
半導体装置構成部102は、ダイパッド104と、リード105と、タイバー106と、を備えて構成されている。
半導体装置構成部102の各々は、例えば、2つずつのダイパッド104を備えている。各ダイパッド104は、例えば、2本ずつのリード105を介してタイバー106へ接続されている。
このような構成のリードフレーム100は、2枚のリードフレーム100を互いに重ね合せて接合するために、溶接部101を備えている。溶接部101は、枠部103に備えられ、半導体装置構成部102には含まれないようになっている。
図17に示すように、溶接部101は、島状の島部111と、この島部111と枠部103とを連結し、島部111を吊るようにして枠部103によって保持させる複数の連結部112と、を備えて構成されている。連結部112は、例えば、S字形状などに形成されている。
図17に示す構造の溶接部101においては、「連結部112と島部111との接続部113」と「当該連結部112と枠部103との接続部114」とを結ぶ直線115が、当該連結部112が接続されている島部111の外周における辺116に対して直交している。更に、直線115が、当該連結部112が接続されている枠部103の内周における辺118に対しても直交している。
次に、図16のリードフレーム100を用いて製造される半導体装置の製造方法を説明する。ここでは、半導体装置の一例としてのフォトカプラの製造方法を説明する。
図18は2枚のリードフレーム100を相互に重ね合わせる様子を示す平面図、図19は2枚のリードフレーム100を相互に溶接する様子を示す側断面図である。
先ず、相互に接合する2枚のリードフレーム100のうち、一方のリードフレーム100のダイパッド104の各々には発光素子132(図19参照)を、他方のリードフレーム100のダイパッド104の各々には受光素子133(図19参照)を、それぞれ設ける。
ここで、発光素子132と受光素子133とは、互いの間隔を空けた状態で、互いに対向して配置する必要がある(図19参照)。このため、各ダイパッド104をタイバー106へ連結しているリード105には、ダイパッド104に発光素子132又は受光素子133を設ける前に、予め、オフセット曲げを施しておく(図19参照)。
次に、図18及び図19に示すように、2枚のリードフレーム100を、互いの溶接部101が重なるように重ね合わせる。
次に、図19に示すように、一対の溶接電極131を島部111に当接させて該島部111に通電することにより、抵抗溶接を行う。この通電時には、島部111に発生するジュール熱により、互いに重ね合わされている一対の島部111の間隔に溶接ナゲット135が形成され、これら島部111と島部111とが互いに接合される。
半導体装置がフォトカプラの場合、光の結合効率を確保するためには、発光素子132と受光素子133との位置ずれを小さくすることが重要である。また、生産性を向上させるためには、搬送不良などの組立て上の不具合を無くすため、抵抗溶接後のリードフレーム100の全体の変形を小さくすることが重要である。
特許文献1、2には、図16及び図17に示すのと同様のリードフレームが開示されている。
特開平9−82875号公報 特開平11−260995号公報
図20はリードフレーム100の島部111が溶接により熱膨張する様子を示す平面図、図21は島部111の熱膨張に起因して枠部103が変形する様子を示す平面図である。
リードフレーム100の島部111は、溶接の際に発生するジュール熱により熱膨張し、拡がる方向に変形する。すなわち、島部111は、熱膨張によって、例えば、図20に実線で示す形状から2点鎖線で示す形状(符号141で示す熱膨張後島部)へ変形する。
島部111が熱膨張後島部141へと変形する過程では、該島部111が連結部112を外側に押し、押された連結部112は、図21に示すように、枠部103を外向きに押し拡げる。このように、島部111の変形に起因して生じる応力が連結部112を介して枠部103へ伝わるため、リードフレーム100の全体が変形してしまうことがある。このため、発光素子132と受光素子133との位置ずれが発生し、例えば、フォトカプラにおける光の結合効率の低下を引き起こしたり、搬送不良などの組立て上の不具合を生じたりし、フォトカプラの生産性を著しく低下させてしまったりする。
なお、図17に示すように溶接部101に島部111を形成し且つ島部111と枠部103とを連結部112により吊るようにして連結した構造によって、このような溶接部101の変形に起因して生じる応力が枠部103へ直に伝わることは抑制されている。しかし、図16及び図17に示す構造のリードフレーム100では、島部111の変形に起因する応力が連結部112を介して枠部103へ伝わってしまうことを抑制する効果が十分ではないため、上述のように、リードフレーム100の変形が生じることがある。
特許文献1、2の技術でも同様の課題がある。
このように、リードフレームの溶接部が備える島部の熱膨張に起因する応力が連結部を介して枠部へ伝わってしまうことを十分に抑制し、リードフレームの変形を抑制することは、困難だった。
そこで、本発明は、他のリードフレームへ溶接される溶接部と、枠部と、を備え、前記溶接部は、島状の島部と、前記島部と前記枠部とを相互に連結する複数の連結部と、を備え、前記島部と一の連結部との接続部と、当該一の連結部と前記枠部との接続部と、を結ぶ直線が、前記島部の外周において前記一の連結部が接続されている部分と、前記枠部の内周において前記一の連結部が接続されている部分と、のうちの少なくともいずれか一方に対して傾斜していることを特徴とするリードフレームを提供する。
ここで、図16、図17に示す構造のリードフレーム100では、図17に示す、「連結部112と島部111との接続部113」と「連結部112と枠部103との接続部114」とを結ぶ直線115が、図21に矢印で示す、島部111から熱膨張後島部141へ変形する際の変形方向に一致している。換言すれば、直線115が、島部111の外周を構成する辺116(図17)と直交しているとともに、枠部103の内周を構成する辺118(図17)とも直交している。このため、溶接時には島部111の変形に起因する応力が連結部112を介して枠部103へ伝わってしまい、枠部103が変形してしまう。
対して、本発明のリードフレームでは、島部と一の連結部との接続部と、当該一の連結部と枠部との接続部と、を結ぶ直線が、島部の外周において当該一の連結部が接続されている部分と、枠部の内周において当該一の連結部が接続されている部分と、のうちの少なくともいずれか一方に対して傾斜している。このため、溶接時に島部の熱膨張に起因して発生する応力を、連結部の撓みにより吸収できる。換言すれば、前記直線に対して交差する方向(例えば、直交する方向)に連結部が変形することにより、この応力を吸収できる。よって、枠部に伝わる応力を緩和でき、枠部、ひいては溶接部を除くリードフレームの全体の変形を抑制することができる。
また、本発明は、それぞれ本発明のリードフレームである第1及び第2リードフレームのダイパッドに、それぞれ半導体素子を搭載する第1工程と、前記第1及び第2リードフレームを、前記溶接部が互いに重なるように2枚重ねにする第2工程と、前記第2工程により互いに重ねられた前記溶接部を相互に溶接する第3工程と、を備えることを特徴とする半導体装置の製造方法を提供する。
本発明によれば、リードフレームの溶接部が備える島部の熱膨張に起因する応力が連結部を介して枠部へ伝わってしまうことを十分に抑制し、リードフレームの変形を抑制することができる。
第1の実施形態に係るリードフレームを示す平面図である。 第1の実施形態に係るリードフレームが備える溶接部の拡大平面図である。 第1の実施形態に係るリードフレームを重ね合わせる様子を示す平面図である。 第1の実施形態に係るリードフレームを相互に溶接する様子を示す側断面図である。 第1の実施形態に係るリードフレームの島部が溶接により熱膨張する様子を示す平面図である。 第1の実施形態に係るリードフレームの島部が溶接により熱膨張する際の、溶接部の挙動を説明するための平面図である。 第2の実施形態に係るリードフレームが備える溶接部の拡大平面図である。 第3の実施形態に係るリードフレームが備える溶接部の拡大平面図である。 第4の実施形態に係るリードフレームが備える溶接部の拡大平面図である。 第5の実施形態に係るリードフレームが備える溶接部の拡大平面図である。 第6の実施形態に係るリードフレームが備える溶接部の拡大平面図である。 第7の実施形態に係るリードフレームが備える溶接部の拡大平面図である。 第8の実施形態に係るリードフレームが備える溶接部の拡大平面図である。 第9の実施形態に係るリードフレームが備える溶接部の拡大平面図である。 第10の実施形態に係るリードフレームが備える溶接部の拡大平面図である。 2枚重ねにして相互に溶接して用いられる一般的なリードフレームを示す平面図である。 図16のリードフレームが備える溶接部の拡大平面図である。 図16のリードフレームを重ね合わせる様子を示す平面図である。 図16のリードフレームを相互に溶接する様子を示す側断面図である。 図16のリードフレームの島部が溶接により熱膨張する様子を示す平面図である。 図16のリードフレームの島部の熱膨張に起因して枠部が変形する様子を示す平面図である。
以下、本発明の実施形態について、図面を用いて説明する。なお、すべての図面において、同様の構成要素には同一の符号を付し、適宜に説明を省略する。
〔第1の実施形態〕
図1は第1の実施形態に係るリードフレーム10を示す平面図、図2は第1の実施形態に係るリードフレーム10が備える溶接部1の拡大平面図である。
本実施形態に係るリードフレーム10は、他のリードフレーム10へ溶接される溶接部1と、枠部3と、を備える。溶接部1は、島状の島部11と、島部11と枠部3とを相互に連結する複数の連結部12と、を備える。島部11と一の連結部12との接続部13と、当該一の連結部12と枠部3との接続部14と、を結ぶ直線15が、島部11の外周において当該一の連結部12が接続されている部分(本実施形態の場合、例えば、直線状の辺16)と、枠部3の内周において一の連結部12が接続されている部分(本実施形態の場合、例えば、直線状の辺18)と、のうちの少なくともいずれか一方に対して傾斜している。また、本実施形態に係る半導体装置の製造方法は、それぞれ本実施形態に係るリードフレーム10である第1及び第2リードフレーム10a、10bのダイパッド4に、それぞれ半導体素子を搭載する第1工程(例えば、第1リードフレーム10aのダイパッド4には発光素子82を、第2リードフレーム10bのダイパッド4には受光素子83を、それぞれ搭載する)と、第1及び第2リードフレーム10a、10bを、溶接部1が互いに重なるように2枚重ねにする第2工程と、第2工程により互いに重ねられた溶接部1を相互に溶接する第3工程と、を備える。以下、詳細に説明する。
先ず、リードフレーム10の構成を説明する。
リードフレーム10は、2枚重ねにして相互に溶接して用いられるものである。図1に示すように、リードフレーム10は、半導体装置(例えば、フォトカプラ(後述))の一部を構成する半導体装置構成部2と、枠部3と、を備えて構成されている。半導体装置構成部2は、リードフレーム10の長手方向において所定間隔で配置されている。
半導体装置構成部2は、半導体素子(例えば、後述する発光素子82又は受光素子83)が搭載されるダイパッド4と、リード5と、タイバー6と、を備えて構成されている。半導体装置構成部2の各々は、例えば、2つずつのダイパッド4を備えている。各ダイパッド4は、例えば、2本ずつのリード5を介してタイバー6へ接続されている。
このような構成のリードフレーム10は、2枚のリードフレーム10を互いに重ね合せて接合するために、溶接部1を備えている。溶接部1は、枠部3に備えられ、半導体装置構成部2には含まれないようになっている。
溶接部1は、例えば、リードフレーム10の長手方向に対して直交する方向において、各半導体装置構成部2の両側にそれぞれ配置されている。
図2に示すように、溶接部1は、枠部3に形成された開口19の内側の部分からなる。溶接部1は、島状の島部11と、この島部11と枠部3とを連結し、島部11を吊るようにして枠部3によって保持させる複数の連結部12と、を備えて構成されている。
本実施形態の場合、島部11の外周形状及び枠部3の開口19の内周形状は、例えば、それぞれ多角形状(具体的には、例えば、それぞれ正方形)とされている。
そして、島部11の外周形状と、枠部3の開口19の内周形状とは、例えば、互いの向きが一致している。すなわち、島部11の外周における辺16の各々と、開口19の内周における辺18の各々と、が1対1で対応しており、対応する辺16と辺18は、互いに平行に対向している。
本実施形態の場合、連結部12は、例えば、直線状に形成されている。また、本実施形態の場合、連結部12の数は、例えば、1つの溶接部1につき4つずつである。
連結部12の各々は、例えば、島部11の外周における一の辺16と、開口19の内周における当該一の辺16と対応する一の辺18に隣接する辺18と、を相互に連結している。
ここで、図2に示すように、「島部11と一の連結部12との接続部13」と、「当該一の連結部12と枠部3との接続部14」と、を結ぶ直線15が、島部11の外周において当該一の連結部12が接続されている部分(本実施形態の場合、直線状の部分である辺16)に対して傾斜する(垂直な方向からずれる)ように、各連結部12が形成されている。更に、直線15が、枠部3の開口19の内周において当該一の連結部12が接続されている部分(本実施形態の場合、直線状の部分である辺18)に対して傾斜する(垂直な方向からずれる)ように、各連結部12が形成されている。
すなわち、本実施形態の場合、島部11は、島部11の外周における辺16において連結部12と接続され、直線15が、島部11の外周における辺16に対して傾斜している。更に、枠部3は、枠部3の開口19の内周における辺18において連結部12と接続され、直線15が、枠部3の開口19の内周における辺18に対して傾斜している。
ここで、辺16と直線15とのなす角度α(狭い方の角度)は、例えば、5°以上85°以下であることが好ましく、15°以上75°以下であることがより好ましい。同様に、辺18と直線15とのなす角度β(狭い方の角度)も、例えば、5°以上85°以下であることが好ましく、15°以上75°以下であることがより好ましい。
また、溶接部1は、上述のように4個の連結部12を備えている。そして、隣り合う連結部12は、例えば、島部11の中心を回転中心として、互いに(360/4)°=90°回転させた位置に配置されている。
なお、リードフレーム10を構成する材料としては、例えば、銅合金、42合金、または、鉄合金を用いることができる。銅合金を用いる場合は溶接を付きやすくするために、溶接部1(特に島部11)に銀メッキ等を施工してもよい。また、組立後の外装半田めっきを省略するために、リードフレーム10の全体に、もしくは、半導体装置構成部2のみに、パラジウムメッキ等を施工してもよい。また、半導体装置構成部2は、各ダイパッド4毎に2本ずつのリード5を備える例を図1に示したが、2本以外でも良い。
次に、本実施形態に係るリードフレームの製造方法を説明する。
例えば、先ず、圧延された薄板材料(厚さ0.1〜0.2mm程度)に、エッチングまたは金型打ち抜きにより、リードフレーム10を図1に示す外形形状に形成する。その後、必要に応じてメッキ(上述のように、溶接部1への銀めっき、或いは、少なくとも半導体装置構成部2へのパラジウムメッキ等)を施す。或いは、予めメッキが施された薄板材料を、エッチングまたは金型打ち抜きによって図1に示す外形形状に形成しても良い。
こうして、図1に示すリードフレーム10を得ることができる。
次に、本実施形態に係る半導体装置の製造方法を説明する。ここでは、半導体装置の一例としてのフォトカプラの製造方法を説明する。
図3は2枚のリードフレーム10(10a、10b)を相互に重ね合わせる様子を示す平面図、図4は2枚のリードフレーム10(10a、10b)を相互に溶接する様子を示す側断面図である。
先ず、それぞれ上述したリードフレーム10である第1及び第2のリードフレーム10a、10bを準備する。なお、例えば、図3に示すように、第1リードフレーム10aと第2リードフレーム10bとは、それらの半導体装置構成部2の配置(向き)が、リードフレーム長手方向(図3の左右方向)において互いに逆方向となるように形成されている点でのみ互いに相違していることが好ましい一例である。次に、第1及び第2のリードフレーム10a、10bのうち、一方のリードフレーム10aのダイパッド4の各々には発光素子82(図4参照)を、他方のリードフレーム10bのダイパッド4の各々には受光素子83(図4参照)を、それぞれ設ける。
ここで、発光素子82と受光素子83とは、互いの間隔を空けた状態で、互いに対向して配置する必要がある(図4参照)。このため、各ダイパッド4をタイバー6へ連結しているリード5には、ダイパッド4に発光素子82又は受光素子83を設ける前に、予め、オフセット曲げを施しておく(図4参照)。
次に、図3及び図4に示すように、2枚のリードフレーム10a、10bを、互いの溶接部1が重なるように重ね合わせる。
次に、互いに重ねられた溶接部1を相互に溶接する。すなわち、図4に示すように、一対の溶接電極81を溶接部1の島部11に当接させて該島部11に通電することにより、抵抗溶接を行う。この通電時には、島部11に発生するジュール熱により、互いに重ね合わされている一対の島部11の間隔に溶接ナゲット85が形成され、これら島部11と島部11とが互いに接合される。
なお、電気抵抗値が比較的高い材料である42合金や鉄合金を用いてリードフレーム10が製造されている場合、溶接時にリードフレーム10でのバルク発熱が大きいため、溶接電極81(図4参照)としては、例えば、熱伝導性の良い銅クロム合金からなるものを用いることが好ましい。一方、バルク電気抵抗値が比較的低い銅合金を用いてリードフレーム10が製造されている場合、バルクの発熱が小さく、2枚のリードフレーム10の相互間の接触電気抵抗による発熱を溶接部1から逃がさないために、溶接電極81としては、熱伝導性の悪いモリブデンからなるものを用いることが好ましい。
その後、例えば、半導体装置構成部2のダイパッド4、発光素子82、受光素子83及びリード5を、透光性樹脂(図示略)により封止する。これにより、この透光性樹脂からなる封止樹脂を介して発光素子82と受光素子83とが相互に光結合できるようにする。その後、その透光性樹脂からなる封止樹脂を、更に、遮光性樹脂(図示略)により封止する。その後、半導体装置構成部2を枠部3との境界線で切断して、枠部3から分離させることにより、半導体装置の一例としてのフォトカプラ(全体図示略)を得ることができる。
次に、動作を説明する。
図5は島部11が溶接により熱膨張する様子を示す平面図であり、図6は島部11が溶接により熱膨張する際の溶接部1の挙動を説明するための平面図である。
リードフレーム10の島部11は、溶接の際に発生するジュール熱により熱膨張し、拡がる方向に変形する。すなわち、島部11は、熱膨張によって、例えば、図5に実線で示す形状から2点鎖線で示す形状(符号91で示す熱膨張後島部)へ変形する。
島部11が熱膨張後島部91へと変形する過程では、該島部11が連結部12を外側に押そうとする。しかし、本実施形態の場合、島部11の変形方向が連結部12の軸方向、すなわち直線15(図2)の方向と一致していない。このため、島部11が連結部12を外側に押そうとする力は、図6に示すように、直線15に対して交差する方向(例えば、直線15に対して直交する方向)の撓みを連結部12に発生させる。このように連結部12が撓む(屈曲する)ことにより、図6に矢印で示すように、島部11は回転する。
このように、溶接時に島部11の熱膨張に起因して発生する応力を、連結部12の撓みにより吸収できるので、枠部3に伝わる応力を緩和でき、枠部3、ひいては溶接部1を除くリードフレーム10の全体の変形を抑制することができる。
半導体装置がフォトカプラの場合、光の結合効率を確保するためには、発光素子82と受光素子83との位置ずれを小さくすることが重要である。また、生産性を向上させるためには、搬送不良などの組立て上の不具合を無くすため、抵抗溶接後のリードフレーム10全体の変形を小さくすることが重要である。このような事情に対し、本実施形態では、リードフレーム10の変形を抑制し、発光素子82と受光素子83との位置ずれを小さくすることができる。
しかも、連結部12の形状を、屈曲形状(例えば、S字形状など)にせず、図2に示すような直線形状としても、島部11の熱膨張に起因する応力によるリードフレーム10の変形を十分に抑制できる。このため、屈曲形状の連結部(図17参照)を設けるためのスペースが不要となるので、わずかなスペースにも溶接部1を配置できるようになる。よって、リードフレーム10の幅(図1の上下方向の寸法)も小さくできるので、リードフレーム10を小型化し、該リードフレーム10の材料費を低減することができる。
以上のような第1の実施形態によれば、リードフレーム10は、他のリードフレーム10へ溶接される溶接部1と、枠部3と、を備え、溶接部1は、島状の島部11と、島部11と枠部3とを相互に連結する複数の連結部12と、を備え、島部11と一の連結部12との接続部13と、当該一の連結部12と枠部3との接続部14と、を結ぶ直線15が、島部11の外周において当該一の連結部12が接続されている部分である辺16と、枠部3の内周において当該一の連結部12が接続されている部分である辺18と、のうちの少なくともいずれか一方に対して傾斜している。よって、溶接時に島部11の熱膨張に起因して発生する応力を、連結部12の撓みにより吸収できる。換言すれば、直線15に対して交差する方向(例えば、直交する方向)に連結部12が変形することにより、この応力を吸収できる。このため、枠部3に伝わる応力を緩和でき、枠部3、ひいては溶接部1を除くリードフレーム10の全体の変形を抑制することができる。
具体的には、例えば、上述したような、2枚のリードフレーム10を用いるフォトカプラの製造工程における溶接工程でのリードフレーム10の全体の変形や、リードフレーム10におけるうねりの発生を抑制することができる。よって、発光素子82と受光素子83との位置ずれを抑制することができる。また、このようにリードフレーム10の変形を抑制できることから、生産設備でのリードフレーム10の搬送不良の発生を抑制することができるので、生産性を向上させることができ、かつ、不良品の発生も抑制することができる。
また、溶接部1は、n個(nは2以上の整数:本実施形態の場合、具体的には、例えば、4個)の連結部12を備え、隣り合う連結部12は、島部11の中心を回転中心として、互いに(360/n)°回転させた位置(本実施形態の場合、具体的には、例えば、360/4=90°回転させた位置)に配置されている。よって、溶接時の島部11の熱膨張に伴わせて、島部11を好適に回転させて(連結部12を屈曲させて)、この熱膨張に起因する応力が枠部3に伝わってしまうことを抑制することができる。
また、連結部12は直線状の形状に形成されているので、連結部12の配置スペースを極力小さくすることができる。よって、リードフレーム10の幅(図1の上下方向の寸法)も極力小さくできるので、リードフレーム10を小型化し、該リードフレーム10の材料費を低減することができる。
〔第2の実施形態〕
図7は第2の実施形態に係るリードフレームが備える溶接部1の拡大平面図である。
本実施形態に係るリードフレームは、溶接部1の形状のみが上記の第1の実施形態に係るリードフレーム10と相違し、その他については第1の実施形態に係るリードフレーム10と同様である。
本実施形態の場合、島部11の少なくとも何れか1つの辺16には、連結部12が接続されていない。具体的には、例えば、図7に示すように、島部11の2辺だけに連結部12が接続されている。より具体的には、例えば、この2つの連結部12は、島部11の中心を回転中心として、互いに(360/2)=180°だけ回転させた位置に配置されている。
このような第2の実施形態によれば、上記の第1の実施形態と同様の効果が得られる他に、以下の効果が得られる。
すなわち、島部11の支えとなっている連結部12の本数を減らすことにより、島部11が熱膨張したときに該島部11がより回転しやすくなるため、発生する熱応力を連結部12によって一層吸収しやすくなり、リードフレーム全体の変形を、より一層抑制することができる。
〔第3の実施形態〕
図8は第3の実施形態に係るリードフレームが備える溶接部1の拡大平面図である。
本実施形態に係るリードフレームは、連結部12の形状のみが上記の第1の実施形態に係るリードフレーム10と相違し、その他については第1の実施形態に係るリードフレーム10と同様である。
本実施形態の場合、図8に示すように、連結部12がL字状に形成されている。辺16と直線15とのなす角度α、並びに、辺18と直線15とのなす角度βについては、それぞれ第1の実施形態と同様である。
このような第3の実施形態によれば、上記の第1の実施形態と同様の効果が得られる他に、以下の効果が得られる。
すなわち、本実施形態の場合の連結部12の形状は、直線状の連結部12よりも変形を吸収しやすい梁の形である。従って、島部11が熱膨張したときのリードフレーム全体の変形を、より一層抑制することができる。
〔第4の実施形態〕
図9は第4の実施形態に係るリードフレームが備える溶接部1の拡大平面図である。
本実施形態に係るリードフレームは、連結部12の形状のみが上記の第2の実施形態に係るリードフレームと相違し、その他については第2の実施形態に係るリードフレームと同様である。
本実施形態の場合、上記の第3の実施形態と同様に、連結部12がL字状に形成されている。
以上のような第4の実施形態によれば、上記の第2の実施形態と同様の効果が得られる他に、以下の効果が得られる。
すなわち、本実施形態の場合の連結部12の形状は、直線状の連結部12よりも変形を吸収しやすい梁の形である。従って、島部11が熱膨張したときのリードフレーム全体の変形を、より一層抑制することができる。加えて、島部11の支えとなっている連結部12の本数を減らすことにより、島部11が熱膨張したときに、より回転しやすくなる。従って、これらの相乗効果により、島部11の熱膨張時に発生する応力をより吸収しやすくなり、リードフレーム全体の変形を、より一層抑制することができる。
〔第5の実施形態〕
図10は第5の実施形態に係るリードフレームが備える溶接部1の拡大平面図である。
本実施形態に係るリードフレームは、溶接部1の形状、及び、枠部3の開口19の形状のみが上記の第1の実施形態に係るリードフレーム10と相違し、その他については第1の実施形態に係るリードフレーム10と同様である。
図10に示すように、本実施形態の場合、島部11の外周形状、並びに、枠部3の開口19の内周形状は、それぞれ曲線形状(具体的には、例えば、円形)とされている。そして、島部11の外周形状と、枠部3の開口19の内周形状とは、例えば、互いに同心円状に配置されている。
連結部12の各々は、例えば、島部11の曲線状(例えば、円形)の外周と、開口19の曲線状(例えば、円形)の内周と、を相互に連結している。
ここで、図10に示すように、「島部11と一の連結部12との接続部13」と、「当該一の連結部12と枠部3との接続部14」と、を結ぶ直線15が、島部11の外周において当該一の連結部12が接続されている部分に対して傾斜する(垂直な方向からずれる)ように、各連結部12が形成されている。換言すれば、島部11は、その外周における曲線状の部分において連結部12と接続され、直線15は、連結部12と島部11との接続部13における島部11の外周の接線21に対して傾斜している。
更に、直線15が、枠部3の内周において一の連結部12が接続されている部分に対して傾斜する(垂直な方向からずれる)ように、各連結部12が形成されている。換言すれば、枠部3は、その内周における曲線状の部分において連結部12と接続され、直線15は、連結部12と枠部3との接続部14における枠部3の内周の接線22に対して傾斜している。
ここで、接線21と直線15とのなす角度γ(狭い方の角度)は、例えば、5°以上85°以下であることが好ましく、15°以上75°以下であることがより好ましい。同様に、接線22と直線15とのなす角度δ(狭い方の角度)も、例えば、5°以上85°以下であることが好ましく、15°以上75°以下であることがより好ましい。
本実施形態の場合も、溶接部1は、例えば、4個の連結部12を備え、隣り合う連結部12は、例えば、島部11の中心を回転中心として、互いに(360/4)°=90°回転させた位置に配置されている。
以上のような第5の実施形態によれば、上記の第1の実施形態と同様の効果が得られる他に、以下の効果が得られる。
すなわち、枠部3の開口19を曲線形状(例えば、円形状)にすることにより、連結部12から枠部3に加わる応力が、枠部3の角23(図2参照)に集中しないようにできる。つまり、応力を分散させる効果があり、リードフレーム全体の変形を、より一層抑制することができる。
〔第6の実施形態〕
図11は第6の実施形態に係るリードフレームが備える溶接部1の拡大平面図である。
本実施形態に係るリードフレームは、枠部3の開口19の形状のみが上記の第5の実施形態と相違し、その他については第5の実施形態に係るリードフレームと同様である。
図11に示すように、本実施形態の場合、枠部3の開口19の内周形状は第1の実施形態と同様に、多角形状(具体的には、例えば、正方形)とされている。なお、島部11は、例えば、開口19の中心に配置されている。辺18と直線15とのなす角度β、並びに、接線21と直線15とのなす角度γについては、それぞれ第1の実施形態、並びに、第5の実施形態と同様である。
以上のような第6の実施形態によれば、上記の第1の実施形態と同様の効果が得られる。
〔第7の実施形態〕
図12は第7の実施形態に係るリードフレームが備える溶接部1の拡大平面図である。
本実施形態に係るリードフレームは、島部11の外周形状のみが上記の第5の実施形態と相違し、その他については第5の実施形態に係るリードフレームと同様である。
図12に示すように、本実施形態の場合、島部11の外周形状は、第1の実施形態と同様に多角形状(具体的には、例えば、正方形)とされている。なお、島部11は、例えば、開口19の中心に配置されている。辺16と直線15とのなす角度α、並びに、接線22と直線15とのなす角度δについては、それぞれ第1の実施形態、並びに、第5の実施形態と同様である。
以上のような第7の実施形態によれば、上記の第5の実施形態と同様の効果が得られる。
〔第8の実施形態〕
図13は第8の実施形態に係るリードフレームが備える溶接部1の拡大平面図である。
本実施形態に係るリードフレームは、溶接部1の形状のみが上記の第1の実施形態に係るリードフレーム10と相違し、その他については第1の実施形態に係るリードフレーム10と同様である。
第1の実施形態では、連結部12の各々は、島部11の外周における一の辺16と、開口19の内周における当該一の辺16と対応する一の辺18に隣接する辺18と、を相互に連結している例を説明した。
対して、第8の実施形態の場合、連結部12の各々は、島部11の外周における一の辺16と、開口19の内周における当該一の辺16と対応する一の辺18と、を相互に連結している。
なお、辺16と直線15とのなす角度α、並びに、辺18と直線15とのなす角度βについては、第1の実施形態と同様である。
このような第8の実施形態によれば、上記の第1の実施形態と同様の効果が得られる。
〔第9の実施形態〕
図14は第9の実施形態に係るリードフレームが備える溶接部1の拡大平面図である。
本実施形態に係るリードフレームは、溶接部1の形状のみが上記の第1の実施形態に係るリードフレーム10と相違し、その他については第1の実施形態に係るリードフレーム10と同様である。
第1の実施形態では、島部11の外周の辺16に対して直線15が傾斜している例を説明したが、本実施形態の場合、辺16に対して直線15が直交している。
なお、辺18と直線15とのなす角度βについては、第1の実施形態と同様である。
このような第9の実施形態によれば、上記の第1の実施形態と同様の効果が得られる。
〔第10の実施形態〕
図15は第10の実施形態に係るリードフレームが備える溶接部1の拡大平面図である。
本実施形態に係るリードフレームは、溶接部1の形状のみが上記の第1の実施形態に係るリードフレーム10と相違し、その他については第1の実施形態に係るリードフレーム10と同様である。
第1の実施形態では、枠部3の内周の辺18に対して直線15が傾斜している例を説明したが、本実施形態の場合、辺18に対して直線15が直交している。
なお、辺16と直線15とのなす角度αについては、第1の実施形態と同様である。
このような第10の実施形態によれば、上記の第1の実施形態と同様の効果が得られる。
上記の各実施形態では、連結部12が直線状又はL字状の形状である例を説明したが、連結部12はその他の形状であっても良い。例えば、S字形状、Z字形状、或いは、円弧形状などであっても良い。
また、上記の各実施形態では、島部11の外周形状、並びに、枠部3の開口19の内周形状の具体例として、正方形状及び円形状のみを例示したが、島部11の外周形状、並びに、枠部3の開口19の内周形状はこれらの例に限らない。例えば、正方形以外の矩形ないしは四角形であっても良いし、四角形以外の多角形(三角形、五角形、六角形など)であっても良いし、直線状の辺を含むその他の形状であっても良い。更に、円形以外の曲線状の形状(例えば、楕円形、長円形、或いは、曲線形状を含むその他の形状など)であっても良い。更に、島部11の外周形状は、その一部分が直線状で、残りの部分が曲線状であっても良く、この場合に、直線状の部分、及び、曲線状の部分に対し、それぞれ別個の連結部12が接続されていても良い。同様に、枠部3の開口19の内周形状は、その一部分が直線状で、残りの部分が曲線状であっても良く、この場合に、直線状の部分、及び、曲線状の部分に対し、それぞれ別個の連結部12が接続されていても良い。
1 溶接部
2 半導体装置構成部
3 枠部
4 ダイパッド
5 リード
6 タイバー
10 リードフレーム
10a リードフレーム
10b リードフレーム
11 島部
12 連結部
13 接続部
14 接続部
15 直線
16 辺
18 辺
19 開口
21 接線
22 接線
23 角
81 溶接電極
82 発光素子(半導体素子)
83 受光素子(半導体素子)
85 溶接ナゲット
91 熱膨張後島部
α 角度
β 角度
γ 角度
δ 角度

Claims (13)

  1. 他のリードフレームへ溶接される溶接部と、枠部と、を備え、
    前記溶接部は、島状の島部と、前記島部と前記枠部とを相互に連結する複数の連結部と、を備え、
    前記島部と一の連結部との接続部と、当該一の連結部と前記枠部との接続部と、を結ぶ直線が、
    前記島部の外周において前記一の連結部が接続されている部分と、前記枠部の内周において前記一の連結部が接続されている部分と、のうちの少なくともいずれか一方に対して傾斜していることを特徴とするリードフレーム。
  2. 前記島部の前記外周は直線状の部分を有しており、該直線状の部分に前記一の連結部が接続され、該直線状の部分に対して前記直線が傾斜していることを特徴とする請求項1に記載のリードフレーム。
  3. 前記島部の前記外周は多角形状であることを特徴とする請求項2に記載のリードフレーム。
  4. 前記島部の前記外周は曲線状の部分を有しており、該曲線状の部分に前記一の連結部が接続され、該曲線状の部分と前記一の連結部との接続部における該曲線状の部分の接線に対して前記直線が傾斜していることを特徴とする請求項1に記載のリードフレーム。
  5. 前記島部の前記外周は円形状であることを特徴とする請求項4に記載のリードフレーム。
  6. 前記枠部の前記内周は直線状の部分を有しており、該直線状の部分に前記一の連結部が接続され、該直線状の部分に対して前記直線が傾斜していることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一項に記載のリードフレーム。
  7. 前記枠部の前記内周は多角形状であることを特徴とする請求項6に記載のリードフレーム。
  8. 前記枠部の前記内周は曲線状の部分を有しており、該曲線状の部分に前記一の連結部が接続され、該曲線状の部分と前記一の連結部との接続部における該曲線状の部分の接線に対して前記直線が傾斜していることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一項に記載のリードフレーム。
  9. 前記枠部の前記内周は円形状であることを特徴とする請求項8に記載のリードフレーム
  10. 前記溶接部は、n個(nは2以上の整数)の前記連結部を備え、
    隣り合う前記連結部は、前記島部の中心を回転中心として、互いに(360/n)°回転させた位置に配置されていることを特徴とする請求項1乃至9のいずれか一項に記載のリードフレーム。
  11. 前記連結部は直線状の形状であることを特徴とする請求項1乃至10のいずれか一項に記載のリードフレーム。
  12. 前記連結部はL字状の形状であることを特徴とする請求項1乃至10のいずれか一項に記載のリードフレーム。
  13. それぞれ請求項1乃至12のいずれか一項に記載のリードフレームである第1及び第2リードフレームのダイパッドに、それぞれ半導体素子を搭載する第1工程と、
    前記第1及び第2リードフレームを、前記溶接部が互いに重なるように2枚重ねにする第2工程と、
    前記第2工程により互いに重ねられた前記溶接部を相互に溶接する第3工程と、
    を備えることを特徴とする半導体装置の製造方法。
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0982875A (ja) * 1995-09-20 1997-03-28 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置用リードフレーム
JPH10144852A (ja) * 1996-11-11 1998-05-29 Fujitsu Ltd 半導体装置の製造方法及び半導体装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0982875A (ja) * 1995-09-20 1997-03-28 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置用リードフレーム
JPH10144852A (ja) * 1996-11-11 1998-05-29 Fujitsu Ltd 半導体装置の製造方法及び半導体装置

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