JP2010147482A - マイクロリソグラフィのための投影露光方法及び投影露光装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】投影対物器械の物体表面領域に配置されたマスクパターンの少なくとも1つの像による投影対物器械の像表面領域に配置された放射線感応基板の露光のための投影露光方法は、露光時間間隔中に投影対物器械の有効像視野におけるパターン像によって基板を露光する段階、及び同じく有効像視野における像点が露光時間間隔中にマスク像の異なる焦点位置で露光されるような方法で露光時間間隔中に基板表面と投影対物器械の焦点表面との間の相対位置を変更する段階を含む。露光時間間隔中の焦点位置の変化によって誘起される少なくとも1つの結像収差の少なくとも一部分の能動的補償は、結像品質が露光時間間隔中の合焦の変更によって大きく劣化されないという効果を有する。
【選択図】図1
Description
これは、例えば、結像に用いられる光源の作動波長を変更し、それによって投影対物器械の像側に異なる焦点位置を生成することによって達成することができる。また、焦点ドリリングに向けて投影対物器械の焦点距離を変更することができるように、1つ又はそれよりも多くの調節可能な光学要素を含む投影対物器械を用いることができる。この場合、焦点ドリリングは、露光時間間隔中に投影対物器械の焦点距離を調節することによって達成することができる。焦点ドリリングのこれらの可能性は、ウェーハステッパ及びウェーハスキャナにおいて用いることができる。
本方法では、基板は、露光時間間隔中に投影対物器械の有効像視野におけるパターン像によって露光される。この有効像視野は、パターン又はパターンの一部が置かれた投影対物器械の有効物体視野に対して光学的に共役である。有効像視野における像点が露光時間間隔中にマスク像の異なる焦点位置で露光されるように、露光時間間隔中に、光の入射表面として機能する基板表面と投影対物器械の焦点表面との間の相対位置が変更される。従って、焦点ドリリングが発生する。結像の品質は、露光時間間隔中の焦点位置の変化によって誘起される少なくとも1つの結像収差の少なくとも一部分の能動的補償によって改善することができる。
ウェーハスキャナ又はウェーハステッパでは、投影露光装置の結像挙動に対する焦点ドリリングの悪影響が発生する可能性がある。これらの影響は、投影対物器械の有効物体視野に対する物体表面におけるマスクと、有効像視野に対する像表面領域おける基板とのそれぞれの走査方向への同期した移動を含む走査作業が実施されるスキャナシステムでは特に有害である。
マニピュレータを駆動するための制御信号は、補償システムのメモリ内にルックアップテーブル方式で記憶された所定値に基づいて発生させることができる。また、マニピュレータの移動に必要とされる制御信号は、例えば、測定値に基づいてそれぞれの場合に応じて計算することができる。マニピュレータを駆動するための制御信号を判断するための入力値は、例えば、傾斜の程度に関する情報から、又は歪曲収差、波面収差、及び/又は結像品質を特徴付けるのに適する他の特性を検出するセンサを用いて得ることができる。
以上の及び更に別の特徴は、特許請求の範囲からだけでなく、本明細書及び図面からも明らかになり、個々の特徴は、各場合にこれらの個々の特徴自体により、又は本発明及び他の分野の実施形態における部分的な組合せの複数の形態ものとして実現することができ、有利で本質的に保護可能な実施形態を構成することができる。本発明の例示的な実施形態を図面に例示し、下記に詳細に説明する。
反射サブシステムしか持たない投影露光装置の場合には、極紫外領域(EUV)内で発光する放射線源を用いることができる。
マスクM(レチクル)を担持し、操作するデバイスRSは、レチクルに配置されたパターンが照明システムの出射平面ESと対応し、本明細書ではレチクル平面OSとも呼ぶ投影対物器械POの対物面OS内に位置するように照明システムの下流に配置される。マスクは、光軸OA(z方向)に対して垂直の走査方向(y方向)の走査駆動体を用いたスキャナ作動に向けて、この平面内で可動である。
走査作業、すなわち、y方向の走査は、図5に示している効果の全てのy位置における平均化を引き起こす。その結果、図6に略示している平均化されたオーバーレイ誤差が発生し、この平均化されたオーバーレイ誤差は、走査視野内でy方向に一定であり、この場合x軸に関して2次プロフィールを有し、すなわち、中心の両側で外向きに放物線状に増大する。
ゼルニケ多項式は、光学面、例えば、レンズ表面又はミラー表面の例えば球形の基準表面からの偏差を説明するのに用いることができる。
補償目的で、レンズ1、4、7、13、14、16、及び20(対物面から像平面への伝播方向に見て)を光軸に対して平行に、すなわち、z方向に変位させ、更に同じくこれらのレンズを傾斜させるためにマニピュレータ群を作動させた。このようにして、元の外乱を最大値10nmから最大値ほぼ0.5nmまでほぼ20倍低下させることができた。
これらの例は、露光時間間隔中に、すなわち、焦点ドリリング中に焦点位置の変化の結果として発生する可能性がある結像収差の少なくとも一部分の補償の方法の高い潜在力を明確に示している。
LS レーザ
M マスク、レチクル
OA 光軸
PO 投影対物器械
Claims (21)
- 投影対物器械の物体表面の領域に配置されたマスクのパターンの少なくとも1つの像による該投影対物器械の像表面の領域に配置された放射線感応基板の露光のための投影露光方法であって、
露光時間間隔中に投影対物器械の有効像視野におけるパターンの像によって基板を露光する段階と、
前記有効像視野における像点が前記露光時間間隔中にマスクの像の異なる焦点位置で露光されるような方法で、該露光時間間隔中に前記基板の表面と前記投影対物器械の焦点表面との間の相対位置を変更する段階と、
前記露光時間間隔中の前記焦点位置の変化によって誘起される少なくとも1つの結像収差の少なくとも一部分を能動的に補償する段階と、
を含むことを特徴とする方法。 - 前記能動的補償は、照明時間間隔中の前記投影対物器械の歪曲収差の変更を含み、該変更は、前記相対位置の前記変更と協調することを特徴とする請求項1に記載の投影露光方法。
- 走査作業が、前記照明時間間隔中に実施され、該走査作業は、前記投影対物器械の有効物体視野に対する前記物体表面における前記マスクと、該有効像視野に対する前記像表面の前記領域おける前記基板とのそれぞれの走査方向への同期した移動に関わっていることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の投影露光方法。
- 前記基板は、基板法線が前記像平面の前記領域において前記投影対物器械の光軸に対して有限の傾斜角だけ傾くような方法で、傾斜軸回りに前記露光時間間隔中に該基板の前記走査方向と平行に延びる傾斜方向に該投影対物器械に対して傾斜されることを特徴とする請求項3に記載の投影露光方法。
- 前記投影対物器械の歪曲パラメータの変更が、前記基板の前記走査方向に平行な歪曲の変化を含むことを特徴とする請求項4に記載の投影露光方法。
- 前記投影対物器械の前記歪曲パラメータの前記変更は、前記基板の前記走査方向に垂直な歪曲収差のプロフィールを発生させ、該プロフィールは、好ましくは、該走査方向に垂直な方向に実質的に2次のプロフィール関数を有することを特徴とする請求項4又は請求項5に記載の投影露光方法。
- 前記能動的補償は、前記投影対物器械の少なくとも1つの光学要素の他の光学要素に対する剛体移動、特に、前記光軸の方向の変位、該光軸と垂直な変位、及び/又は傾斜を含むことを特徴とする請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の投影露光方法。
- 前記能動的補償は、少なくとも1つの光学要素の変形を含むことを特徴とする請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の投影露光方法。
- 前記投影対物器械のマニピュレータを駆動するための制御信号が、補償システムのメモリにおいてルックアップテーブルに記憶された所定値に基づいて発生されることを特徴とする請求項1から請求項8のいずれか1項に記載の投影露光方法。
- 前記投影対物器械のマニピュレータを駆動するための制御信号が、該投影対物器械の結像品質をモニタする少なくとも1つのセンサの測定値に基づいて計算されることを特徴とする請求項1から請求項9のいずれか1項に記載の投影露光方法。
- 前記投影対物器械のマニピュレータを駆動するための制御信号が、前記基板の前記傾斜の程度に関する情報に基づいて判断されることを特徴とする請求項4から請求項10のいずれか1項に記載の投影露光方法。
- 投影対物器械の物体表面の領域に配置されたマスクのパターンの少なくとも1つの像による該投影対物器械の像表面の領域に配置された放射線感応基板の露光のための投影露光装置であって、
1次放射線を放出するための1次放射線源(LS)と、
前記1次放射線を受光し、かつマスク(M)上に向けられる照明放射線を発生させるための照明システム(ILL)と、
投影対物器械の像表面(IS)の領域にパターンの像を発生させるための投影対物器械(PO)と、
有効像視野(IF)における像点が露光時間間隔中に前記マスクの像の異なる焦点位置で露光されるような方法で、該露光時間間隔中に基板の表面と前記投影対物器械の焦点表面との間の相対位置を変更するためのデバイスと、
前記露光時間間隔中に前記焦点位置の変化によって誘起される少なくとも1つの結像収差の少なくとも一部分の能動的補償のための補償システム(MCU、MAN)と、
を含むことを特徴とする装置。 - 前記補償システムは、前記投影対物器械の少なくとも1つの光学要素(OE)を操作するための少なくとも1つのマニピュレータ(MAN)、及び同じく該マニピュレータを制御するためのマニピュレータ制御ユニット(MCU)を含み、該マニピュレータ制御ユニット及び該マニピュレータは、前記露光時間間隔中に前記焦点位置の前記変化によって誘起される少なくとも1つの結像収差の少なくとも一部分の能動的補償を得ることができるように構成されることを特徴とする請求項12に記載の投影露光装置。
- 少なくとも1つのマニピュレータ(MAN)が、照明時間間隔中に前記投影対物器械の歪曲収差を変更するためのマニピュレータとして構成されることを特徴とする請求項13に記載の投影露光装置。
- 前記投影対物器械の有効物体視野に対する前記物体表面における前記マスクと、該有効像視野に対する前記像表面の前記領域おける前記基板とのそれぞれの走査方向への同期した移動を伴う走査作業を実施するためのデバイスを特徴とし、好ましくは、更に、前記露光時間間隔中に基板法線が該像平面の該領域において該投影対物器械の光軸に対して有限の傾斜角だけ傾くような方法で傾斜軸の回りに傾斜方向に該投影対物器械に対して該基板を傾斜させるための傾斜デバイスが備えられることを特徴とする請求項12、請求項13、又は請求項14に記載の投影露光装置。
- 前記マニピュレータ(MAN)は、前記投影対物器械(PO)の歪曲パラメータの変更が前記基板の前記走査方向に平行な歪曲の変化を含むような方法で設計され、該投影対物器械の該歪曲パラメータの該変更は、好ましくは、該基板の該走査方向に垂直な歪曲収差のプロフィールを発生させることを可能にし、該プロフィールは、好ましくは、該走査方向に垂直な方向に実質的に2次のプロフィール関数を有することを特徴とする請求項15又は請求項15に記載の投影露光装置。
- マニピュレータが、それが前記投影対物器械の少なくとも1つの光学要素の他の光学要素に対する剛体移動、特に、前記光軸の方向の変位、該光軸に垂直な変位、及び/又は傾斜をもたらすように具現化されることを特徴とする請求項13から請求項17のいずれか1項に記載の投影露光装置。
- マニピュレータが、光学要素の所定の変形に向けて設計されることを特徴とする請求項13から請求項18のいずれか1項に記載の投影露光装置。
- マニピュレータを駆動するための制御信号が、前記補償システムのメモリにルックアップテーブルの方式で記憶された所定値に基づいて発生されることを特徴とする請求項13から請求項18のいずれか1項に記載の投影露光装置。
- 前記投影対物器械の結像品質に固有の歪曲収差、波面収差、及び/又は他の特性を検出するための少なくとも1つのセンサが備えられ、前記マニピュレータ制御ユニット(MCU)は、該センサの信号から少なくとも1つのマニピュレータを駆動するための駆動信号を発生させることを特徴とする請求項13から請求項19のいずれか1項に記載の投影露光装置。
- 前記基板の前記傾斜の程度に関する情報を検出するためのデバイスが備えられ、前記マニピュレータ制御ユニット(MCU)は、該センサの信号から少なくとも1つのマニピュレータを駆動するための駆動信号を発生させることを特徴とする請求項15から請求項20のいずれか1項に記載の投影露光装置。
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