JP2010139833A - 画像表示装置、画像表示装置の駆動方法及び画像表示装置の製造方法 - Google Patents

Abstract

【課題】本発明は、例えば有機ＥＬ素子によるアクティブマトリックス型の画像表示装置に適用して、１つの画素回路に複数系統の駆動回路を設ける場合に、異常の発生した系統を簡易かつ確実に検出することができるようにする。
【解決手段】本発明は、各画素回路１６において、発光素子ＯＬＥＤを駆動する駆動回路１８Ａ、１８Ｂの全部又は一部を複数系統により構成し、各系統１８Ａ、１８Ｂを走査線駆動回路により選択して動作させる。
【選択図】 図１

Description

本発明は、画像表示装置、画像表示装置の駆動方法及び画像表示装置の製造方法に関し、例えば有機ＥＬ（Electro Luminescence）素子によるアクティブマトリックス型の画像表示装置に適用することができる。本発明は、各画素回路において、発光素子を駆動する駆動回路の全部又は一部を複数系統により構成し、各系統を走査線駆動回路により選択して動作させることにより、１つの画素回路に複数系統の駆動回路を設ける場合に、異常の発生した系統を簡易かつ確実に検出することができるようにする。

近年、電流駆動型の発光素子である有機ＥＬ素子を用いたアクティブマトリックス型の画像表示装置の開発が盛んになっている。ここで有機ＥＬ素子を用いた画像表示装置は、電界の印加により発光する有機薄膜の発光現象を利用した画像表示装置である。有機ＥＬ素子は、１０〔Ｖ〕以下の印加電圧で駆動することができる。従ってこの種の画像表示装置は、消費電力を低減することができる。また有機ＥＬ素子は、自発光素子である。従ってこの種の画像表示装置は、バックライト装置を必要とせず、軽量化、薄型化することができる。さらに有機ＥＬ素子は、応答速度が数μ秒程度と速い特徴がある。従ってこの種の画像表示装置は、動画像表示時に残像が殆ど発生しない特徴がある。

具体的に、図２０に示すように、有機ＥＬ素子を用いたアクティブマトリックス型の画像表示装置１は、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤと有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを駆動する駆動回路７とによる画素回路２をマトリックス状に配置して表示部３が形成される。画像表示装置１は、この表示部３の周囲に信号線駆動回路４及び走査線駆動回路５が配置される。

ここで信号線駆動回路４は、順次入力される画像データＤ１を表示部３の信号線ＤＴＬに順次振り分け、それぞれディジタルアナログ変換処理して駆動信号Ｓｓｉｇを生成する。信号線駆動回路４は、この駆動信号Ｓｓｉｇを対応する信号線ＤＴＬに出力する。走査線駆動回路５は、この信号線駆動回路４による信号線ＤＴＬの駆動に対応して、走査線ＷＳＬに駆動信号を出力する。

画素回路２は、駆動トランジスタＴｒ１のドレインが電源ＶＤＤに接続され、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを介してこの駆動トランジスタＴｒ１のソースが電源ＶＳＳに接続される。ここで駆動トランジスタＴｒ１は、例えばＴＦＴによるＰチャンネル型トランジスタＴｒ１である。これにより画素回路２は、駆動トランジスタＴｒ１によりゲートドレイン間電圧に応じた駆動電流で有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを駆動する。

画素回路２は、駆動トランジスタＴｒ１のゲートドレイン間に、駆動トランジスタＴｒ１のゲートドレイン間電圧を保持する保持容量Ｃｓが設けられる。画素回路２は、走査線ＷＳＬを介した書込トランジスタＴｒ２の制御により、保持容量Ｃｓの端子電圧が信号線ＤＴＬを介して順次設定される。これにより画素回路２は、信号線ＤＴＬを介して駆動トランジスタＴｒ１のゲートドレイン間電圧を設定して有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの発光輝度を設定する。なお書込トランジスタＴｒ２は、例えばＴＦＴによるＮチャンネル型トランジスタである。

従来、この有機ＥＬ素子を用いた画像表示装置に関して、特開２００７−３１０３１１号公報には、２つのトランジスタを用いて画素回路を構成する方法が開示されている。従ってこの特開２００７−３１０３１１号公報に開示の方法によれば、画像表示装置の構成を簡略化することができる。またこの特開２００７−３１０３１１号公報には、有機ＥＬ素子を駆動する駆動トランジスタのしきい値電圧のばらつき、移動度のばらつきを補正する構成が開示されている。従ってこの特開２００７−３１０３１１号公報に開示の構成によれば、駆動トランジスタのしきい値電圧のばらつき、移動度のばらつきによる画質劣化を防止することができる。

また特開２００７−１３３２８４号公報には、駆動トランジスタのしきい値電圧のばらつきを補正する処理を複数回に分けて実行する構成が提案されている。この特開２００７−１３３２８４号公報に開示の構成によれば、高精度化して画素回路の階調設定に割り当てる時間が短くなった場合でも、しきい値電圧のばらつき補正に十分な時間を割り当てることができる。従って高精度化した場合でも、しきい値電圧のばらつきによる画質劣化を防止することができる。

また特開２００１−２０２０３２号公報には、図２０との対比により図２１に示すように、１つの画素回路６に複数系統の駆動回路７Ａ及び７Ｂを設け、この複数系統の駆動回路７Ａ及び７Ｂで１つの有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを駆動する方法が開示されている。
特開２００７−３１０３１１号公報 特開２００７−１３３２８４号公報 特開２００１−２０２０３２号公報

ところで従来の画像表示装置において、画素回路のトランジスタ、保持容量等に異常が発生すると、当該画素回路では有機ＥＬ素子を正常に駆動できなくなる。その結果、画像表示装置は、著しく画質が劣化する。

そこで特開２００１−２０２０３２号公報に開示の手法を適用して、例えば１つの画素回路に複数系統の駆動回路を設け、この複数系統の駆動回路で１つの有機ＥＬ素子を駆動することが考えられる。

すなわちこの場合、１つの画素回路に設けられた複数系統の駆動回路のうちの一つで異常が発生した場合、レーザービームの照射により配線パターンを切断し、この異常の発生した駆動回路による有機ＥＬ素子の駆動を停止する。この方法によれば、画素回路を構成するトランジスタ、保持容量に異常が発生した場合でも、正常に動作する駆動回路で有機ＥＬ素子を駆動することができる。従って従来に比して高歩留、高品質の画像表示装置を得ることができる。

しかしながらこの方法の場合、画素回路に設けられた複数系統の駆動回路のうちの何れの駆動回路で異常が発生しているのか、特定困難な問題がある。

すなわち複数系統の駆動回路により１つの有機ＥＬ素子を駆動する場合、各画素回路を駆動して有機ＥＬ素子を発光させ、その発光輝度を判定することにより、欠陥の発生した画素回路を検出することができる。また画素回路の欠陥が、外部から発見可能な配線パターンの短絡等によるものの場合、顕微鏡による観察等により短絡事故の発生した箇所を検出し、欠陥の発生した駆動回路を特定することができる。

しかしながら配線パターンの短絡事故は、他の配線パターン等に隠れた箇所で発生する場合もある。この場合には、顕微鏡による観察等によっては、欠陥の発生した箇所を検出することが困難になり、結局、欠陥の発生した駆動回路を特定できなくなる。また配線パターンの短絡事故以外の、例えばトランジスタの特性異常等によっても駆動回路に欠陥が発生する場合もある。この場合も、顕微鏡による観察等によっては、欠陥の発生した箇所を検出することが困難になり、結局、欠陥の発生した駆動回路を特定できなくなる。従って、このような欠陥の場合、結局、リペアすることが困難になる。

本発明は以上の点を考慮してなされたもので、１つの画素回路に複数系統の駆動回路を設ける場合に、異常の発生した系統を簡易かつ確実に検出することができる画像表示装置、画像表示装置の駆動方法及び画像表示装置の製造方法を提案しようとするものである。

上記の課題を解決するため請求項１の発明は、画素回路をマトリックス状に配置して形成された表示部と、前記表示部の信号線に信号線用駆動信号を出力する信号線駆動回路と、前記表示部の走査線に走査線用の出力信号を出力する走査線駆動回路とを有する画像表示装置に適用する。ここで前記画素回路は、発光素子と、前記発光素子を駆動する駆動回路とを有し、前記駆動回路の全部又は一部が複数系統により形成され、各系統が個別に前記走査線駆動回路に接続される。前記走査線駆動回路は、制御信号に応じて前記走査用の出力信号を切り換え、前記発光素子を駆動する系統を切り換える。

また請求項６の発明は、画素回路をマトリックス状に配置して形成された表示部と、前記表示部の信号線に信号線用駆動信号を出力する信号線駆動回路と、前記表示部の走査線に走査線用の出力信号を出力する走査線駆動回路とを有する画像表示装置の駆動方法に適用する。前記画素回路は、発光素子と、前記発光素子を駆動する駆動回路とを有し、前記駆動回路の全部又は一部が複数系統により形成され、各系統が個別に前記走査線駆動回路に接続される。前記駆動方法は、制御信号により前記走査線駆動回路から出力される前記走査用の出力信号を切り換え、前記発光素子を駆動する系統を切り換える。

また請求項７の発明は、画素回路をマトリックス状に配置して形成された表示部と、前記表示部の信号線に信号線用駆動信号を出力する信号線駆動回路と、前記表示部の走査線に走査線用の出力信号を出力する走査線駆動回路とを有する画像表示装置の製造方法に適用する。前記画素回路は、発光素子と、前記発光素子を駆動する駆動回路とを有し、前記駆動回路の全部又は一部が複数系統により形成され、各系統が個別に前記走査線駆動回路に接続される。前記製造方法は、制御信号により前記走査線駆動回路から出力される前記走査用の出力信号を順次切り換えることにより、前記発光素子を駆動する系統を順次切り換えて前記発光素子の発光を測定し、当該測定結果の判定により異常の発生した画素回路及び系統を検出する異常系統の検出ステップと、リペア処理により、前記異常の発生した画素回路において異常の発生した系統による前記発光素子の駆動を停止させるリペアステップとを有する。

請求項１、請求項６、又は請求項７の構成によれば、制御信号により走査線駆動回路から出力される走査用の出力信号を切り換え、発光素子を駆動する系統を切り換えることにより、各系統で発光素子の発光を確認して異常の発生した系統を検出することができる。従って１つの画素回路に複数系統の駆動回路を設ける場合にあっても、異常の発生した系統を簡易かつ確実に検出することができる。

本発明によれば、１つの画素回路に複数系統の駆動回路を設ける場合に、異常の発生した系統を簡易かつ確実に検出することができる。

以下、適宜図面を参照しながら本発明の実施の形態を詳述する。なお説明は、以下の順序で行う。
１．第１の実施の形態
２．第２の実施の形態
３．第３の実施の形態
４．第４の実施の形態
５．第５の実施の形態
６．第６の実施の形態
７．第７の実施の形態
８．第８の実施の形態
９．第９の実施の形態
１０．第１０の実施の形態
１１．変形例
＜第１の実施の形態＞
〔実施の形態の構成〕
〔全体構成〕
図２は、本発明の第１の実施の形態に係る画像表示装置を示すブロック図である。この画像表示装置１１は、ガラス等の絶縁基板に表示部１３が作成される。画像表示装置１１は、この表示部１３の周囲、この絶縁基板上に信号線駆動回路１４及び走査線駆動回路１５が作成される。

ここで表示部１３は、画素回路１６をマトリックス状に配置して形成され、画素回路１６に設けられた有機ＥＬ素子により画素（ＰＩＸ）１７が形成される。なおカラー画像の画像表示装置では、赤色、緑色及び青色による複数のサブ画素により１つの画素が構成される。従ってカラー画像の画像表示装置の場合、表示部１３は、赤色、緑色及び青色のサブ画素をそれぞれ構成する赤色用、緑色用及び青色用の画素回路１６を順次配置して構成される。

信号線駆動回路１４は、表示部１３に設けられた信号線ＤＴＬに信号線用の駆動信号Ｓｓｉｇを出力する。より具体的に、信号線駆動回路１４は、ラスタ走査順に入力される画像データＤ１を順次ラッチして画像データＤ１を信号線ＤＴＬに振り分けた後、それぞれディジタルアナログ変換処理する。信号線駆動回路１４は、このディジタルアナログ変換結果を処理して駆動信号Ｓｓｉｇを生成し、この駆動信号Ｓｓｉｇを対応する信号線ＤＴＬに出力する。これにより信号線駆動回路１４は、例えばいわゆる線順次により各画素回路１６の階調を設定する。

走査線駆動回路１５は、表示部１３に設けられた書込信号用の走査線ＷＳＬＡ及びＷＳＬＢに書込信号ＷＳ（ＷＳＡ及びＷＳＢ）を出力する。ここで書込信号ＷＳは、各画素回路１６に設けられた書込トランジスタをオンオフ制御する信号である。走査線駆動回路１５は、所定のサンプリングパルスＳＰをクロックＣＫで順次転送して各ラインの書込信号ＷＳ（ＷＳＡ及びＷＳＢ）を生成する。

この実施の形態において、画素回路１６は、書込信号用の走査線ＷＳＬＡ及びＷＳＬＢが２系統設けられ、走査線駆動回路１５は、各系統の走査線ＷＳＬＡ及びＷＳＬＢにそれぞれ書込信号ＷＳＡ及びＷＳＢを出力する。走査線駆動回路１５は、この画像表示装置１１の動作を制御するコントローラ１０から出力される制御信号ｅｎｂＡ、ｅｎｂＢにより、後述するように、書込信号ＷＳＡ及びＷＳＢの出力を切り換える。

〔画素回路の構成〕
図１は、画素回路１６の構成を詳細に示す接続図である。この画素回路１６は、２つの駆動回路１８Ａ及び１８Ｂが設けられ、この２つの駆動回路１８Ａ及び１８Ｂで有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを駆動する。従ってこの画素回路１６では、駆動回路の全部が２系統により構成され、この２系統の駆動回路１８Ａ及び１８Ｂで有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを駆動する。

ここで駆動回路１８Ａ及び１８Ｂは、書込トランジスタＴｒ２Ａ及びＴｒ２Ｂに関する構成が異なる点を除いて、図２１の画素回路７Ａ及び７Ｂと同一に構成される。ここで駆動回路１８Ａ及び１８Ｂは、書込トランジスタＴｒ２Ａ及びＴｒ２Ｂのゲートが走査線ＷＳＬＡ及びＷＳＬＢにそれぞれ接続され、書込トランジスタＴｒ２Ａ及びＴｒ２Ｂをそれぞれ書込信号ＷＳＡ及びＷＳＢにより個別に制御可能に構成される。従って画素回路１６は、駆動トランジスタＴｒ１Ａ及びＴｒ１Ｂによる有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの駆動電流を個別に設定可能に構成される。

図３は、走査線駆動回路１５の出力段の構成を示すブロック図である。走査線駆動回路１５は、各ラインの出力段に、出力回路２０（ｉ）、２０（ｉ＋１）、２０（ｉ＋２）、……がそれぞれ配置され、出力回路２０（ｉ）、２０（ｉ＋１）、２０（ｉ＋２）、……を介して駆動信号ＷＳＡ及びＷＳＢを出力する。なおこの図３及び以下の図面において、符号ｉにより走査開始端からのラインの順番を示す。

ここで出力回路２０（ｉ）、２０（ｉ＋１）、２０（ｉ＋２）、……は、それぞれ２入力のアンド回路２１Ａ及び２１Ｂを有し、このアンド回路２１Ａ及び２１Ｂの一端にコントローラ１０から出力される制御信号ｅｎｂＡ及びｅｎｂＢが入力される。また出力回路２０（ｉ）、２０（ｉ＋１）、２０（ｉ＋２）、……は、図４に示すように、所定のサンプリングパルスＳＰをクロックＣＫで順次転送して生成された各ラインの書込信号ＷＳ（ＷＳ（ｉ）、ＷＳ（ｉ＋１）、ＷＳ（ｉ＋２））（図４（Ｃ１）〜（Ｃ３））が、アンド回路２１Ａ及び２１Ｂの他端に入力される。出力回路２０（ｉ）、２０（ｉ＋１）、２０（ｉ＋２）、……は、アンド回路２１Ａ及び２１Ｂの出力をそれぞれバッファ回路２２Ａ及び２２Ｂを介して走査線ＷＳＬＡ及びＷＳＬＢに出力する。

これにより出力回路２０（ｉ）、２０（ｉ＋１）、２０（ｉ＋２）、……は、制御信号ｅｎｂＡ及びｅｎｂＢがそれぞれＨレベルに保持されている場合（図４（Ａ）及び（Ｂ））、アンド回路２１Ａ及び２１Ｂに入力される書込信号ＷＳをバッファ回路２２Ａ及び２２Ｂから走査線ＷＳＬＡ及びＷＳＬＢに出力する（図４（Ｄ１）〜（Ｆ２））。これとは逆に、制御信号ｅｎｂＡ及びｅｎｂＢがそれぞれＬレベルに保持されている場合には、バッファ回路２２Ａ及び２２Ｂからの出力をＬレベルに立ち下げ、走査線ＷＳＬＡ及びＷＳＬＢへの書込信号ＷＳＡ及びＷＳＢの出力を停止する。その結果、走査線駆動回路１５は、制御信号ｅｎｂＡ及びｅｎｂＢにより駆動回路１８Ａ及び１８Ｂに設けられた書込トランジスタＴｒ２Ａ及びＴｒ２Ｂの動作を選択的に停止制御する。

コントローラ１０は、通常の動作時には、制御信号ｅｎｂＡ及びｅｎｂＢの双方をＨレベルに設定する。これに対して製造工程において、図示しないインターフェースを介して試験装置に接続されると、この試験装置から出力される制御信号ＳＣにより制御信号ｅｎｂＡ及びｅｎｂＢの設定を切り換える。

〔製造工程における処理〕
図５は、製造工程における検査工程の処理手順を示すフローチャートである。画像表示装置１１は、この検査工程において、異常の発生した画素回路１６が検出される。またこの異常の発生している画素回路１６において、何れの駆動回路１８Ａ及び１８Ｂで異常が発生しているか検出される。

製造工程は、この検出結果に基づいて、リペアの処理を実行する。具体的に製造工程は、この検出結果に基づいて、レーザービームの照射により異常の発生している駆動回路の配線パターンを切断し、異常の発生している駆動回路では有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを駆動しないように設定する。また図示しない画像表示装置１１のメモリに、欠陥の発生した画素回路のアドレスを記録して保持し、画像表示装置１１は、このメモリの記録に基づいて、当該画素回路については、対応する画像データＤ１を補正して信号線駆動回路１４に入力する。すなわち２系統の駆動回路１８Ａ及び１８Ｂで有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを駆動する場合に比して、１系統の駆動回路１８Ａ又は１８Ｂで有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを駆動する場合、駆動電流がほぼ１／２になる。従って画像表示装置１１は、信号線ＤＴＬに出力する駆動信号Ｓｓｉｇの信号レベルを増大させ、減少する有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの駆動電流を補正する。

検査工程において、画像表示装置１１は、試験装置に接続され、この試験装置から出力される画像データＤ１が信号線駆動回路１４に入力され、またこの試験装置から出力される制御信号ＳＣがコントローラ１０に入力される。製造工程において、この試験装置は、例えばオペレータにより検査の開始が指示されると、ステップＳＰ１からステップＳＰ２に移り、制御信号ＳＣの設定により制御信号ｅｎｂＡ及びｅｎｂＢを共にＨレベルに設定する。また続くステップＳＰ３において、画像データＤ１の設定により表示部１３の各画素回路１６に黒レベルを設定する。従ってこのステップＳＰ３では、各画素回路１６に設けられた２つの駆動回路１８Ａ及び１８Ｂの双方に黒レベルを設定することになる。

続くステップＳＰ４において、試験装置は、制御信号ＳＣの設定により制御信号ｅｎｂＡをＨレベルに設定し、制御信号ｅｎｂＢをＬレベルに設定する。また続くステップＳＰ５において、画像データＤ１の設定により、制御信号ｅｎｂＡに対応する駆動回路１８Ａに所定レベルを設定する。なおここでこの所定レベルは、例えば有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを５０〔％〕の輝度レベルで発光させる階調である。

続いて試験装置は、ステップＳＰ６において、所定の測定装置に測定の開始を指示し、表示部１３に設けられた各有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの発光輝度を測定する。また測定結果を判定し、異常の発生している画素回路１６を検出する。ここでこのステップＳＰ６で検出される異常の発生している画素回路１６は、駆動回路１８Ａ側に異常が発生していることになる。試験装置は、この検出結果を記録して保持する。

続いて試験装置は、ステップＳＰ７に移り、制御信号ＳＣの設定により制御信号ｅｎｂＡ及びｅｎｂＢを共にＨレベルに設定する。また続くステップＳＰ８において、画像データＤ１の設定により表示部１３の各画素回路１６に黒レベルを設定する。従ってこのステップＳＰ８では、各画素回路１６に設けられた２つの駆動回路１８Ａ及び１８Ｂの双方に黒レベルを設定することになる。

続くステップＳＰ９において、試験装置は、制御信号ＳＣの設定により制御信号ｅｎｂＡをＬレベルに設定し、制御信号ｅｎｂＢをＨレベルに設定する。また続くステップＳＰ１０において、画像データＤ１の設定により、制御信号ｅｎｂＢに対応する駆動回路１８Ｂに所定レベルを設定する。なおここでこの所定レベルは、例えば有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを５０〔％〕の輝度レベルで発光させる階調である。

続いて試験装置は、ステップＳＰ１１において、ステップＳＰ６と同様に発光輝度の測定を指示し、測定結果を処理して異常の発生している画素回路１６を検出する。ここでこのステップＳＰ１１で検出される異常の発生している画素回路１６は、駆動回路１８Ｂ側に異常が発生していることになる。試験装置は、この検出結果を記録して保持した後、ステップＳＰ１２に移ってこの処理手順を終了する。

〔第１の実施の形態の動作〕
以上の構成において、この画像表示装置１１では（図２）、信号線駆動回路１４において、順次入力される画像データＤ１が信号線ＤＴＬに振り分けられた後、ディジタルアナログ変換処理されて各信号線ＤＴＬの駆動信号Ｓｓｉｇが生成される。画像表示装置１では、この駆動信号Ｓｓｉｇが対応する信号線ＤＴＬに出力される。この信号線ＤＴＬの駆動に対応して、画像表示装置１１は、走査線駆動回路１５により書込信号ＷＳが作成され、この書込信号ＷＳによる書込トランジスタＴｒ２（Ｔｒ２Ａ及びＴｒ２Ｂ）の制御により、線順次で各画素回路１６に設けられた保持容量Ｃｓ（ＣｓＡ及びＣｓＢ）の端子電圧が設定される。またこの保持容量Ｃｓ（ＣｓＡ及びＣｓＢ）の端子電圧に応じた駆動電流で有機ＥＬ素子ＯＬＥＤが電流駆動される（図１、図２０参照）。これにより画像表示装置１１では、画像データＤ１による画像を表示部１３で表示することができる。

しかしながら画素回路１６で有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを駆動する駆動回路において、駆動トランジスタＴｒ１（Ｔｒ１Ａ及びＴｒ１Ｂ）、書込トランジスタＴｒ２（Ｔｒ２Ａ及びＴｒ２Ｂ）等に異常が発生した場合、当該画素回路１６では、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを正常に駆動できなくなる。その結果、画質が著しく劣化することになる。そこで画像表示装置１１では、画素回路１６に設けられる駆動回路の全部が２系統（１８Ａ及び１８Ｂ）により作成され、何れかの駆動回路１８Ａ及び１８Ｂで異常が発生した場合には、リペアの処理によりこの異常の発生した駆動回路１８Ａ又は１８Ｂでは有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを駆動しないように設定される。これにより画像表示装置１１は、歩留を向上し、高品質な画像表示装置を確保することができる。

しかしながら単に駆動回路を複数系統としたのでは、何れの系統で異常が発生しているのかを簡易かつ確実に特定することが困難になる。その結果、正しくリペアの処理を実行できなくなる。

そこでこの画像表示装置１１では、駆動回路１８Ａ及び１８Ｂに設けられた書込トランジスタＴｒ２Ａ及びＴｒ２Ｂをそれぞれ個別に制御可能に、書込トランジスタＴｒ２Ａ及びＴｒ２Ｂのゲートがそれぞれ走査線ＷＳＬＡ及びＷＳＬＢに接続される（図１）。またこの走査線ＷＳＬＡ及びＷＳＬＢに駆動回路１８Ａ及び１８Ｂ用の書込信号ＷＳＡ及びＷＳＢがそれぞれ走査線駆動回路１５から出力される（図２、図３）。また駆動回路１８Ａ及び１８Ｂとでそれぞれ個別に有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを駆動するように、この書込信号ＷＳＡ及びＷＳＢが、コントローラ１０の制御により切り換えられる（図４及び図５）。

これにより画像表示装置１１では、駆動回路１８Ａ及び１８Ｂを個別に動作させて有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの発光輝度を測定するだけで、異常の発生した駆動回路１８Ａ又は１８Ｂを特定することができる。その結果、１つの画素回路に複数系統の駆動回路を設ける場合に、異常の発生した系統を簡易かつ確実に検出することができる。従ってこの検出結果に基づいてリペアの処理を実行することにより、歩留を向上し、高品質な画像表示装置を得ることができる。

〔第１の実施の形態の効果〕
以上の構成によれば、駆動回路の全部を複数系統とし、各系統を走査線駆動回路により選択して動作させることにより、１つの画素回路に複数系統の駆動回路を設ける場合に、異常の発生した系統を簡易かつ確実に検出することができる。

またこの検出結果に基づいて、配線パターンを切断して異常の発生した系統による駆動を中止することにより、歩留を向上し、高品質な画像表示装置を得ることができる。

＜第２の実施の形態＞
図６は、本発明の第２の実施の形態の画像表示装置に適用される走査線駆動回路の出力段を示すブロック図である。この第２の実施の形態の画像表示装置は、この走査線駆動回路２５の出力段に関する構成が異なる点を除いて、第１の実施の形態の画像表示装置と同一に構成される。

ここでこの走査線駆動回路２５は、出力回路２０（ｉ）、２０（ｉ＋１）、２０（ｉ＋２）、……に代えて、出力回路３０（ｉ）、３０（ｉ＋１）、３０（ｉ＋２）、……がそれぞれ配置される点を除いて、第１の実施の形態の画像表示装置１１における走査線駆動回路１５と同一に構成される。

ここで出力回路３０（ｉ）、３０（ｉ＋１）、３０（ｉ＋２）、……は、バッファ回路３１Ａ及び３１Ｂが設けられる。出力回路３０（ｉ）、３０（ｉ＋１）、３０（ｉ＋２）、……は、図７に示すように、サンプリングパルスＳＰをクロックＣＫで順次転送して生成された各ラインの書込信号ＷＳ（ＷＳ（ｉ）、ＷＳ（ｉ＋１）、ＷＳ（ｉ＋２））（図７（Ｃ１）〜（Ｃ３））をバッファ回路３１Ａ及び３１Ｂを介して対応する走査線ＷＳＬＡ及びＷＳＬＢに出力する。

走査線駆動回路２５は、バッファ回路３１Ａ及び３１Ｂの正側電源ＶＤＤＡ及びＶＤＤＢがコントローラ１０により制御される。これによりこの画像表示装置では、電源ＶＤＤＡ及びＶＤＤＢの制御により書込信号ＷＳＡ及びＷＳＡＢを選択的に出力し（図７（Ａ）、（Ｂ）、（Ｄ１）〜（Ｆ２））、書込トランジスタＴｒ２Ａ及びＴｒ２Ｂの動作を個別に制御して各画素回路１６に設けられた駆動回路１８Ａ及び１８Ｂを選択的に動作させる。

この実施の形態によれば、走査線駆動回路の出力段に設けられたバッファ回路の正側電源の制御により書込信号ＷＳＡ及びＷＳＢを選択出力することにより、簡易な構成で第１の実施の形態と同様の効果を得ることができる。

＜第３の実施の形態＞
図８は、本発明の第３の実施の形態の画像表示装置に適用される走査線駆動回路の出力段を示すブロック図である。この第３の実施の形態の画像表示装置は、この走査線駆動回路３５の出力段に関する構成が異なる点を除いて、上述の実施の形態の画像表示装置と同一に構成される。

ここでこの走査線駆動回路３５は、出力回路２０（ｉ）、２０（ｉ＋１）、２０（ｉ＋２）、……に代えて、出力回路４０（ｉ）、４０（ｉ＋１）、４０（ｉ＋２）、……がそれぞれ配置される点を除いて、第１の実施の形態の画像表示装置１１における走査線駆動回路１５と同一に構成される。

ここで出力回路４０（ｉ）、４０（ｉ＋１）、４０（ｉ＋２）、……は、バッファ回路４１Ａ及び４１Ｂが設けられる。出力回路４０（ｉ）、４０（ｉ＋１）、４０（ｉ＋２）、……は、図９に示すように、サンプリングパルスＳＰをクロックＣＫで順次転送して生成された各ラインの書込信号ＷＳ（ＷＳ（ｉ）、ＷＳ（ｉ＋１）、ＷＳ（ｉ＋２））（図９（Ｃ１）〜（Ｃ３））をバッファ回路４１Ａ及び４１Ｂを介して対応する走査線ＷＳＬＡ及びＷＳＬＢに出力する。

走査線駆動回路３５は、バッファ回路４１Ａ及び４１Ｂの負側電源ＶＳＳＡ及びＶＳＳＢがコントローラ１０により制御される。これによりこの画像表示装置では、制御信号ｅｎｂＡ及びｅｎｂＢに代えて、負側電源ＶＳＳＡ及びＶＳＳＢの制御により、書込信号ＷＳＡ及びＷＳＢを選択的に出力し（図９（Ａ）、（Ｂ）、（Ｄ１）〜（Ｆ２））、各画素回路１６に設けられた駆動回路１８Ａ及び１８Ｂを選択的に動作させる。

この実施例によれば、走査線駆動回路の出力段に設けられたバッファ回路の負側電源の制御により書込信号ＷＳＡ及びＷＳＢを選択出力することにより、簡易な構成で第１の実施の形態と同様の効果を得ることができる。

＜第４の実施の形態＞
図１０は、本発明の第４の実施の形態の画像表示装置に適用される画素回路を示す接続図である。この第４の実施の形態の画像表示装置は、上述の画素回路１６に代えて、この図１０に示す画素回路４６が適用される。この第４の実施の形態の画像表示装置は、この画素回路４６に関する構成が異なる点を除いて、第１〜第３の実施の形態の画像表示装置と同一に構成される。

ここで画素回路４６は、それぞれ書込信号ＷＳＡ及びＷＳＢによりオンオフ動作する書込トランジスタＴｒ２Ａ及びＴｒ２Ｂが並列に配置され、書込トランジスタＴｒ２Ａ及び又はＴｒ２Ｂにより保持容量Ｃｓの端子電圧を信号線ＤＴＬの電圧に設定する。これにより画素回路４６は、駆動回路を構成する書込トランジスタＴｒ２のみが２系統により構成され、駆動回路の一部のみ２系統により構成される。

この画像表示装置は、この書込トランジスタＴｒ２Ａ及びＴｒ２Ｂに関して、異常の有無が検出される。また異常の発生した書込トランジスタの配線パターンが切断され、この異常の発生した書込トランジスタによる保持容量の端子電圧の設定を中止する。

以上の構成によれば、駆動回路の一部の構成である書込トランジスタを複数系統とし、走査線を介してこの一部の構成を選択的に駆動可能とすることにより、駆動回路の一部の構成を複数系統とした場合に、異常の発生した系統を簡易かつ確実に検出することができる。

＜第５の実施の形態＞
図１１は、本発明の第５の実施の形態の画像表示装置に適用される画素回路を示す接続図である。この第５の実施の形態の画像表示装置は、上述の画素回路１６に代えて、この図１１に示す画素回路５６が適用される。この第５の実施の形態の画像表示装置は、この画素回路５６に関する構成が異なる点を除いて、上述の実施の形態の画像表示装置と同一に構成される。

ここで画素回路５６は、駆動トランジスタＴｒ１Ａ及びＴｒ１Ｂが並列に配置され、各駆動トランジスタＴｒ１Ａ及びＴｒ１ＢのソースがスイッチィングトランジスタＴｒ３Ａ及びＴｒ３Ｂを介して有機ＥＬ素子ＯＬＥＤに接続される。これにより画素回路５６は、スイッチィングトランジスタＴｒ３Ａ及びＴｒ３Ｂのオンオフ制御により有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを発光させる期間を制御可能に構成される。またこのスイッチィングトランジスタＴｒ３Ａ及びＴｒ３Ｂと駆動トランジスタＴｒ１Ａ及びＴｒ１Ｂにより、駆動回路の一部構成が２系統により構成される。

画素回路５６は、このスイッチィングトランジスタＴｒ３Ａ及びＴｒ３Ｂのゲートがそれぞれ走査線ＤＳＬＡ及びＤＳＬＢに接続され、走査線駆動回路から走査線ＤＳＬＡ及びＤＳＬＢにそれぞれ駆動信号ＤＳＡ及びＤＳＢが出力される。これにより画素回路５６は、画素回路５６に設けられた駆動回路の各系統を個別に駆動可能に構成される。

この画素回路５６の構成に対応して、この画像表示装置の走査線駆動回路は、サンプリングパルスＳＰをクロックＣＫにより順次転送して各ラインの発光期間を定義する駆動信号ＤＳが生成される。走査線駆動回路は、第１〜第３の実施の形態について上述した出力回路２０、３０、４０と同一の出力回路がこの駆動信号ＤＳの出力段に設けられ、この出力回路により、この駆動信号ＤＳを処理して走査線ＤＳＬＡ及びＤＳＬＢに駆動信号ＤＳＡ及びＤＳＢを出力する。

画像表示装置は、検査工程において、駆動信号ＤＳＡ及びＤＳＢにより駆動トランジスタＴｒ１Ａ及びＴｒ１Ｂで交互に有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを駆動し、異常の発生した系統を検出する。また検出結果に基づいて、異常の発生した駆動トランジスタＴｒ１Ａ又はＴｒ１Ｂの配線パターンを切断し、この異常の発生した駆動トランジスタＴｒ１Ａ又はＴｒ１Ｂによる有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの駆動を中止する。

この実施の形態によれば、発光期間をスイッチイングトランジスタにより設定するようにして、このスイッチイングトランジスタと駆動トランジスタとを複数系統とする場合でも、第１〜第４の実施の形態と同様の効果を得ることができる。

＜第６の実施の形態＞
図１２は、本発明の第６の実施の形態の画像表示装置に適用される走査線駆動回路の出力段を示すブロック図である。この第６の実施の形態の画像表示装置は、この走査線駆動回路２５の出力段に関する構成が異なる点を除いて、上述の第５の実施の形態の画像表示装置と同一に構成される。

ここでこの走査線駆動回路６５は、出力回路７０（ｉ）、７０（ｉ＋１）、７０（ｉ＋２）、……がそれぞれ各ラインに配置される点を除いて、上述の実施の形態の画像表示装置１１における走査線駆動回路と同一に構成される。

ここで出力回路７０（ｉ）、７０（ｉ＋１）、７０（ｉ＋２）、……は、それぞれ２入力のアンド回路７１Ａ及び７１Ｂを有し、このアンド回路７１Ａ及び７１Ｂの一端にコントローラ１０から出力される制御信号ｅｎｂＡ及びｅｎｂＢが入力される。また出力回路７０（ｉ）、７０（ｉ＋１）、７０（ｉ＋２）、……は、図１３に示すように、所定のサンプリングパルスＳＰをクロックＣＫで順次転送して生成された対応するラインの駆動信号ＤＳ（ＤＳ（ｉ）、ＤＳ（ｉ＋１）、ＤＳ（ｉ＋２））（図１３（Ｃ１）〜（Ｃ３））が、一方のアンド回路７１Ａに入力される。また他方のアンド回路７１Ｂに、隣接ライン用の駆動信号ＤＳが入力される。出力回路７０（ｉ）、７０（ｉ＋１）、７０（ｉ＋２）、……は、アンド回路７１Ａ及び７１Ｂの出力をそれぞれバッファ回路７２Ａ及び７２Ｂを介して走査線ＤＳＬＡ及びＤＳＬＢに出力する。

これにより出力回路７０（ｉ）、７０（ｉ＋１）、７０（ｉ＋２）、……は、制御信号ｅｎｂＡ及びｅｎｂＢがそれぞれＨレベルに保持されている場合（図４（Ａ）及び（Ｂ））、アンド回路７１Ａ及び７１Ｂに入力される駆動信号ＤＳをバッファ回路７２Ａ及び７２Ｂから走査線ＤＳＬＡ及びＤＳＬＢに出力する（図１３（Ｄ１）〜（Ｆ２））。また制御信号ｅｎｂＡ及びｅｎｂＢがそれぞれＬレベルに保持されている場合には、バッファ回路７２Ａ及び７２Ｂの出力をＬレベルに立ち下げ、走査線ＤＳＬＡ及びＤＳＬＢへの駆動信号ＤＳＡ及びＤＳＢの出力を停止する。その結果、走査線駆動回路１５は、１つの画素回路に設けられた駆動回路の系統で発光期間を異ならせて、制御信号ｅｎｂＡ及びｅｎｂＢにより駆動回路の各系統を選択的に停止制御する。

この実施の形態によれば、１つの画素回路に設けられた駆動回路の系統で発光期間を異ならしても、第１〜第５の実施の形態と同様の効果を得ることができる。

＜第７の実施の形態＞
図１４は、図１との対比により本発明の第７の実施の形態の画像表示装置に適用される画素回路を示す接続図である。この第７の実施の形態の画像表示装置は、この画素回路８６の構成が異なる点を除いて、上述の実施の形態の画像表示装置と同一に構成される。

ここで画素回路８７は、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤが２つに分割されて２つの有機ＥＬ素子部ＯＬＥＤ１及びＯＬＥＤ２により構成される。

この実施の形態によれば、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを複数に分割して作成する場合でも、第１〜第６の実施の形態と同様の効果を得ることができる。

＜第８の実施の形態＞
図１５は、図１との対比により本発明の第８の実施の形態の画像表示装置に適用される画素回路を周辺構成と共に示す接続図である。この第８の実施の形態の画像表示装置は、この画素回路８５に関する構成が異なる点を除いて、上述の実施の形態の画像表示装置と同一に構成される。

ここで画素回路９６は、２つの駆動回路９８Ａ及び９８Ｂが設けられ、この２つの駆動回路９８Ａ及び９８Ｂで有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを駆動する。従ってこの画素回路９６では、駆動回路の全部が２系統により構成され、この２系統の駆動回路９８Ａ及び９８Ｂで有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを駆動する。

ここで図１６は、駆動回路９８Ａ及び９８Ｂの説明に供する接続図である。駆動回路９８Ａ及び９８Ｂは、この図１６に示す画素回路９９の駆動回路９８が適用される。ここで画素回路９９は、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤのカソードが所定電圧ＶＳＳに保持される。また有機ＥＬ素子ＯＬＥＤのアノードが駆動回路９８に設けられた駆動トランジスタＴｒ１のソースに接続される。なおここで駆動トランジスタＴｒ１は、ＴＦＴによるＮチャンネル型のトランジスタである。

駆動回路９８は、電源用の走査線ＤＳＬを介してこの駆動トランジスタＴｒ１のドレインに電源用の駆動信号ＤＳが供給される。また駆動回路９８は、この駆動トランジスタＴｒ１のゲート及びソースに、駆動トランジスタＴｒ１のゲートソース間電圧を保持する保持容量Ｃｓが接続される。

駆動回路９８は、発光期間の間、駆動信号ＤＳが電源電圧Ｖｄｄｖ２に設定される（図１７（Ｂ））。これにより駆動回路９８は、発光期間の間、保持容量Ｃｓに設定されたゲートソース間電圧による駆動電流により駆動トランジスタＴｒ１で有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを電流駆動する。

また駆動回路９８は、走査線ＷＳＬを介して供給される書込信号ＷＳによりオンオフ動作する書込トランジスタＴｒ２を介して、保持容量Ｃｓのゲート側端が信号線ＤＴＬに接続される。また信号線駆動回路１４から所定の固定電圧Ｖｏｆｓを間に挟んで駆動電圧Ｖｓｉｇ（＝Ｖｏｆｓ＋Ｖｄａｔａ）が順次信号線ＤＴＬに出力される（図１７（Ｃ））。なおここで書込トランジスタＴｒ２は、ＴＦＴによるＮチャンネル型のトランジスタである。ここで固定電圧Ｖｏｆｓは、駆動トランジスタＴｒ１のしきい値電圧のばらつき補正に使用する固定電圧である。また階調電圧Ｖｓｉｇは、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの発光輝度を指示する電圧であり、階調設定用電圧Ｖｄａｔａにしきい値電圧補正用の固定電圧Ｖｏｆｓを加算した電圧である。また階調設定用電圧Ｖｄａｔａは、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの発光輝度に対応する電圧である。階調設定用電圧Ｖｄａｔａは、各信号線ＤＴＬに振り分けた画像データＤ１をそれぞれディジタルアナログ変換処理して信号線ＤＴＬ毎に生成される。

駆動回路９８は、非発光期間が開始すると、駆動信号ＤＳが所定電圧Ｖｓｓｖ２に設定される。ここで電圧Ｖｓｓｖ２は、駆動トランジスタＴｒ１のソースをドレインとして機能させるのに十分に低い電圧である（図１７（Ａ）及び（Ｆ））。その結果、駆動回路９８は、非発光期間が開始すると、駆動トランジスタＴｒ１を介して有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの蓄積電荷が放電し、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤのアノード電圧が立ち下がって有機ＥＬ素子ＯＬＥＤが発光を停止する（図１７（Ｄ）及び（Ｅ））。また保持容量Ｃｓのソース側端の電圧がほぼ電圧Ｖｓｓｖ２に設定され、十分に低い電圧に設定される。

また続いて駆動回路９８は、信号線ＤＴＬが固定電圧Ｖｏｆｓに設定されている期間で、書込トランジスタＴｒ２がオン状態に設定され、保持容量Ｃｓのゲート側端の電圧が電圧Ｖｏｆｓに設定される（図１７（Ａ））。これにより駆動回路９８は、保持容量Ｃｓの端子間電圧が電圧Ｖｏｆｓ−Ｖｓｓｖ２に設定される。ここで駆動回路９８は、この電圧Ｖｏｆｓ−Ｖｓｓｖ２が駆動トランジスタＴｒ１のしきい値電圧Ｖｔｈより十分に大きな電圧となるように、電圧Ｖｏｆｓ、Ｖｓｓｖ２が設定される（図１７（Ｄ）及び（Ｅ））。駆動回路９８は、非発光期間が開始した後、保持容量Ｃｓのゲート側端の電圧を電圧Ｖｏｆｓに設定するまでの期間が、駆動トランジスタＴｒ１のしきい値電圧のばらつき補正処理の準備処理の期間に設定される（図１７（Ｆ））。なお図１７では、この準備処理の期間を「準備」により示す。

駆動回路９８は、続いて駆動信号ＤＳが電源電圧Ｖｄｄｖ２に設定される（図１７（Ｂ））。これにより駆動回路９８は、駆動トランジスタＴｒ１を介して保持容量Ｃｓの有機ＥＬ素子ＯＬＥＤ側端に電源Ｖｄｄｖ２から充電電流Ｉｄｓが流入する。その結果、駆動回路９８は、保持容量Ｃｓの有機ＥＬ素子ＯＬＥＤ側端の電圧Ｖｓが徐々に上昇する。この場合、駆動回路９８において、駆動トランジスタＴｒ１を介して有機ＥＬ素子ＯＬＥＤに流入する電流Ｉｄｓは、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの容量Ｃｅｌと保持容量Ｃｓの充電にのみ使用され、その結果、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを発光させることなく、単に駆動トランジスタＴｒ１のソース電圧Ｖｓのみが上昇する。

ここで駆動回路９８は、保持容量Ｃｓの端子間電圧が駆動トランジスタＴｒ１のしきい値電圧Ｖｔｈになると、駆動トランジスタＴｒ１を介した充電電流Ｉｄｓの流入が停止することになる。従ってこの場合、この駆動トランジスタＴｒ１のソース電圧Ｖｓの上昇は、保持容量Ｃｓの両端電位差が駆動トランジスタＴｒ１のしきい値電圧Ｖｔｈとなると、停止することになる。これにより駆動回路９８は、駆動トランジスタＴｒ１を介して保持容量Ｃｓの端子間電圧を放電させ、保持容量Ｃｓの端子間電圧を駆動トランジスタＴｒ１のしきい値電圧Ｖｔｈに設定し、駆動トランジスタＴｒ１のしきい値電圧のばらつきを補正する。なお図１７では、この期間を「Ｖｔ補」により示す。

駆動回路９８は、保持容量Ｃｓの端子間電圧を駆動トランジスタＴｒ１のしきい値電圧Ｖｔｈに設定するのに十分な時間が経過すると、書込信号ＷＳにより書込トランジスタＴｒ２がオフ状態に切り換えられる（図１７（Ａ））。続いて信号線ＤＴＬの電圧が階調電圧Ｖｓｉｇ（＝Ｖｏｆｓ＋Ｖｄａｔａ）に設定される。

駆動回路９８は、続いて書込トランジスタＴｒ２がオン状態に設定される（図１７（Ａ））。これにより駆動回路９８は、駆動トランジスタＴｒ１のゲート電圧Ｖｇが階調電圧Ｖｓｉｇに設定され、駆動トランジスタＴｒ１のゲートソース間電圧Ｖｇｓが、階調設定用電圧Ｖｄａｔａに駆動トランジスタＴｒ１のしきい値電圧Ｖｔｈを加算した電圧に設定される。これにより駆動回路９８は、駆動トランジスタＴｒ１のしきい値電圧のばらつきを補正して有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの発光輝度が設定される。

駆動回路９８は、この駆動トランジスタＴｒ１のゲート電圧Ｖｇを階調電圧Ｖｓｉｇに設定して有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの発光輝度を設定する際に、駆動トランジスタＴｒ１のドレイン電圧を電源電圧Ｖｃｃに保持した状態で、一定期間の間、駆動トランジスタＴｒ１のゲートが信号線ＤＴＬに接続される。これにより駆動回路９８は、併せて駆動トランジスタＴｒ１の移動度μのばらつきが補正される。

すなわち保持容量Ｃｓの端子間電圧を駆動トランジスタＴｒ１のしきい値電圧Ｖｔｈに設定した状態で、書込トランジスタＴｒ２をオン状態に設定して駆動トランジスタＴｒ１のゲートを信号線ＤＴＬに接続した場合、駆動トランジスタＴｒ１のゲート電圧Ｖｇは、固定電圧Ｖｏｆｓから徐々に上昇して階調電圧Ｖｓｉｇに設定される。

ここで駆動回路９８は、この駆動トランジスタＴｒ１のゲート電圧Ｖｇの立ち上がりに要する書込時定数が、駆動トランジスタＴｒ１によるソース電圧Ｖｓの立ち上がりに要する時定数に比して短くなるように設定される。

この場合、書込トランジスタＴｒ２がオン動作すると、駆動トランジスタＴｒ１のゲート電圧Ｖｇは、速やかに階調電圧Ｖｓｉｇ（Ｖｏｆｓ＋Ｖｄａｔａ）に立ち上がることになる。このゲート電圧Ｖｇの立ち上がり時、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの容量Ｃｅｌが保持容量Ｃｓに比して十分に大きければ、駆動トランジスタＴｒ１のソース電圧Ｖｓは変動しないことになる。

しかしながら駆動トランジスタＴｒ１のゲートソース間電圧Ｖｇｓがしきい値電圧Ｖｔｈより増大すると、駆動トランジスタＴｒ１を介して電源Ｖｃｃから電流Ｉｄｓが流入し、駆動トランジスタＴｒ１のソース電圧Ｖｓが徐々に上昇することになる。その結果、駆動回路９８は、保持容量Ｃｓの端子間電圧が駆動トランジスタＴｒ１により放電し、ゲートソース間電圧Ｖｇｓの上昇速度が低下することになる。

この端子間電圧の放電速度は、駆動トランジスタＴｒ１の能力に応じて変化する。より具体的には、駆動トランジスタＴｒ１の移動度μが大きい場合程、放電速度は、早くなる。

その結果、駆動回路９８は、移動度μが大きい駆動トランジスタＴｒ１程、保持容量Ｃｓの端子間電圧が低下するように設定され、移動度μのばらつきによる発光輝度のばらつきが補正される。なお図１７では、この期間を「書込＋μ補」により示す。

駆動回路９８は、この移動度μの補正期間が経過すると、書込信号ＷＳが立ち下げられる。その結果、画素回路９９は、発光期間が開始し、保持容量Ｃｓの端子間電圧に応じた駆動電流Ｉｄｓにより有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを発光させる。なお画素回路９９は、発光期間が開始すると、いわゆるブートストラップ回路により駆動トランジスタＴｒ１のゲート電圧Ｖｇ及びソース電圧Ｖｓが上昇する。

走査線駆動回路９５（図１５）は、検査工程において、コントローラ１０から出力される制御信号ｅｎｂＡ及びｅｎｂＢにより、書込信号ＷＳＡ、ＷＳＢ、駆動信号ＤＳＡ、ＤＳＢの出力を切り換え、異常の発生した駆動回路が検出される。より具体的に、走査線駆動回路９５は、駆動を停止する側の駆動回路について、書込信号ＷＳをＬレベルに保持すると共に駆動信号ＤＳを電圧Ｖｄｄｖ１に保持し、異常の有無が検出される。なお駆動信号ＤＳについては、走査線駆動回路の出力段を３ステートのバッファ回路で構成し、駆動を停止する場合には、このバッファ回路の設定により、対応する走査線をいわゆるフローティング状態としてもよい。またこれに代えて駆動信号ＤＶをＶｄｄｖ２とＶｓｓｖ２との間の電圧に設定して、駆動を停止する側の駆動トランジスタの充電電流を実用上十分に小さくし、擬似的に、この系統による有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの駆動を停止させてもよい。

この実施の形態によれば、駆動回路を２つのＮチャンネル型トランジスタで構成する場合でも、第１〜第７の実施の形態と同様の効果を得ることができる。

＜第９の実施の形態＞
図１８は、本発明の第９の実施の形態に係る画像表示装置に適用される画素回路を示す接続図である。この実施の形態の画像表示装置は、この図１８に示す画素回路１０６が適用される。この画像表示装置は、この画素回路１０６に関する構成が異なる点を除いて、上述の実施の形態の画像表示装置と同一に構成される。

ここでこの画素回路１０６は、２つの駆動回路の９８Ａ及び９８Ｂの書込トランジスタＴｒ２Ａ及びＴｒ２Ｂが、共通の書込信号ＷＳにより制御される点を除いて、図１５について上述した画素回路９６と同一に構成される。

従ってこの画像表示装置の走査線駆動回路１０５は、コントローラ１０から出力される制御信号ｅｎｂＡ及びｅｎｂＢにより、駆動信号ＤＳＡ、ＤＳＢの出力を切り換え、制御信号ｅｎｂＡ及びｅｎｂＢがＬレベルに設定されると、対応する駆動信号ＤＳを電圧Ｖｄｄｖ１に保持して対応する駆動回路９８Ａ又は９８Ｂの駆動を停止制御する。

この実施の形態によれば、駆動回路を２つのＮチャンネル型トランジスタで構成し、駆動トランジスタのみ独立して制御する場合でも、第１〜第８の実施の形態と同様の効果を得ることができる。

＜第１０の実施の形態＞
図１９は、本発明の第１０の実施の形態に係る画像表示装置に適用される画素回路を示す接続図である。この実施の形態の画像表示装置は、この図１９に示す画素回路１１６が適用される。この画像表示装置は、この画素回路１１６に関する構成が異なる点を除いて、上述の実施の形態の画像表示装置と同一に構成される。

ここでこの画素回路１１６は、２つの駆動回路の９８Ａ及び９８Ｂの駆動トランジスタＴｒ１Ａ及びＴｒ１Ｂが、共通の駆動信号ＤＳにより制御される点を除いて、図１５について上述した画素回路９６と同一に構成される。

従ってこの画像表示装置の走査線駆動回路１１５は、コントローラ１０から出力される制御信号ｅｎｂＡ及びｅｎｂＢにより、書込信号ＷＳＡ、ＷＳＢの出力を切り換え、制御信号ｅｎｂＡ及びｅｎｂＢがＬレベルに設定されると、対応する書込信号ＷＳをＬレベルに保持して対応する駆動回路９８Ａ又は９８Ｂの駆動を停止制御する。

この実施の形態によれば、駆動回路を２つのＮチャンネル型トランジスタで構成し、書込トランジスタのみ独立して制御する場合でも、第１〜第９の実施の形態と同様の効果を得ることができる。

〔１１．変形例〕
なお上述の実施の形態においては、駆動回路の全部又は一部を２系統とする場合について述べたが、本発明はこれに限らず、必要に応じて３系統以上とする場合にも広く適用することができる。なおこの場合に、駆動回路の各部で系統数を異ならせるようにしてもよい。また駆動回路の全部又は一部を複数系統とし、この複数系統をさらに複数系統としてもよい。

また上述の実施の形態においては、画素回路を２つのトランジスタで構成する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、上述の実施の形態による構成以外の構成により画素回路を構成する場合にも広く適用することができる。

また上述の実施の形態においては、本発明を有機ＥＬ素子の画像表示装置に適用する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、電流駆動型の各種自発光素子による画像表示装置に広く適用することができる。

本発明は、例えば有機ＥＬ素子によるアクティブマトリックス型の画像表示装置に適用することができる。

本発明の第１の実施の形態に係る画像表示装置の画素回路を示す接続図である。 本発明の第１の実施の形態に係る画像表示装置を示すブロック図である。 図２の画像表示装置の走査線駆動回路の出力段を詳細に示すブロック図である。 図３の出力段の動作の説明に供するタイムチャートである。 図２の画像表示装置の製造工程を示すフローチャートである。 本発明の第２の実施の形態に係る画像表示装置の走査線駆動回路の出力段を詳細に示すブロック図である。 図６の出力段の動作の説明に供するタイムチャートである。 本発明の第３の実施の形態に係る画像表示装置の走査線駆動回路の出力段を詳細に示すブロック図である。 図８の出力段の動作の説明に供するタイムチャートである。 本発明の第４の実施の形態に係る画像表示装置の画素回路を示す接続図である。 本発明の第５の実施の形態に係る画像表示装置の画素回路を示す接続図である。 本発明の第６の実施の形態に係る画像表示装置の走査線駆動回路の出力段を詳細に示すブロック図である。 図１２の出力段の動作の説明に供するタイムチャートである。 本発明の第７の実施の形態に係る画像表示装置の画素回路を示す接続図である。 本発明の第８の実施の形態に係る画像表示装置の画素回路を示す接続図である。 図１５の画素回路の説明に供する接続図である。 図１６の画素回路の動作の説明に供するタイムチャートである。 本発明の第９の実施の形態に係る画像表示装置の画素回路を示す接続図である。 本発明の第１０の実施の形態に係る画像表示装置の画素回路を示す接続図である。 従来の画像表示装置を示す接続図である。 駆動回路を２系統とした画素回路を示す接続図である。

符号の説明

１、１１……画像表示装置、２、６、１６、４６、５６、８６、９６、９９、１０６、１１６……画素回路、３、１３……表示部、４、１４……信号線駆動回路、５、１５、２５、３５、６５、９５、１０５、１１５……走査線駆動回路、７、７Ａ、７Ｂ、１８Ａ、１８Ｂ、９８Ａ、９８Ｂ……駆動回路、１０……コントローラ、Ｃｓ、ＣｓＡ、ＣｓＢ……保持容量、Ｔｒ１、Ｔｒ１Ａ、Ｔｒ１Ｂ、Ｔｒ２、Ｔｒ２Ａ、Ｔｒ２Ｂ、Ｔｒ３Ａ、Ｔｒ３Ｂ……トランジスタ、ＯＬＥＤ、ＯＬＥＤ１、ＯＬＥＤ２……有機ＥＬ素子

Claims (7)

1. 画素回路をマトリックス状に配置して形成された表示部と、
   前記表示部の信号線に信号線用駆動信号を出力する信号線駆動回路と、
   前記表示部の走査線に走査線用の出力信号を出力する走査線駆動回路とを有し、
   前記画素回路は、
   発光素子と、前記発光素子を駆動する駆動回路とを有し、
   前記駆動回路の全部又は一部が複数系統により形成され、
   各系統が個別に前記走査線駆動回路に接続され、
   前記走査線駆動回路は、
   制御信号に応じて前記走査用の出力信号を切り換え、前記発光素子を駆動する系統を切り換える
   画像表示装置。
2. 前記走査線駆動回路は、
   ライン毎に生成した前記走査線用の出力信号を、前記制御信号により切り換えて出力する演算回路を有する
   請求項１に記載の画像表示装置。
3. 前記走査線駆動回路は、
   バッファ回路を介して、ライン毎に生成した前記走査線用の出力信号を前記各系統に出力し、
   前記制御信号により前記バッファ回路の電源を制御することにより、前記制御信号に応じて前記走査用の出力信号を切り換える
   請求項１に記載の画像表示装置。
4. 前記駆動回路は、
   ゲートソース間電圧に応じた駆動電流により前記発光素子を駆動する駆動トランジスタと、
   前記ゲートソース間電圧を保持する保持容量と、
   前記保持容量の一端の電圧を前記信号線用駆動信号の電圧に設定する書込トランジスタとを少なくとも有する
   請求項１に記載の画像表示装置。
5. 前記駆動回路は、
   ゲートソース間電圧に応じた駆動電流により前記発光素子を駆動する駆動トランジスタと、
   前記ゲートソース間電圧を保持する保持容量と、
   前記保持容量の一端の電圧を前記信号線用駆動信号の電圧に設定する書込トランジスタとを少なくとも有し、
   前記走査線用の出力信号は、
   前記駆動トランジスタのドレインに出力される電源用駆動信号と、前記書込トランジスタのゲートに出力される書込信号とであり、
   前記画素回路は、
   前記発光素子を発光させる発光期間と、前記発光素子の発光を停止させて前記発光素子の発光輝度を設定する非発光期間とを交互に繰り返し、
   前記電源用駆動信号による前記駆動トランジスタの制御により、前記駆動トランジスタを介して前記保持容量の他端の電圧を立ち下げて前記非発光期間を開始すると共に、前記保持容量の端子間電圧を前記駆動トランジスタのしきい値電圧以上の電圧に設定した後、
   前記電源用駆動信号による前記駆動トランジスタの制御により、前記駆動トランジスタを介して前記保持容量の端子間電圧を放電し、前記保持容量の端子間電圧を前記駆動トランジスタのしきい値電圧に応じた電圧に設定し、
   続いて前記書込信号による前記書込トランジスタの制御により、前記保持容量の端子電圧を前記信号線の電圧に設定して前記発光素子の発光輝度を設定し、前記発光期間を開始する
   請求項１に記載の画像表示装置。
6. 画素回路をマトリックス状に配置して形成された表示部と、
   前記表示部の信号線に信号線用駆動信号を出力する信号線駆動回路と、
   前記表示部の走査線に走査線用の出力信号を出力する走査線駆動回路とを有する画像表示装置の駆動方法において、
   前記画素回路は、
   発光素子と、前記発光素子を駆動する駆動回路とを有し、
   前記駆動回路の全部又は一部が複数系統により形成され、
   各系統が個別に前記走査線駆動回路に接続され、
   前記駆動方法は、
   制御信号により前記走査線駆動回路から出力される前記走査用の出力信号を切り換え、前記発光素子を駆動する系統を切り換える
   画像表示装置の駆動方法。
7. 画素回路をマトリックス状に配置して形成された表示部と、
   前記表示部の信号線に信号線用駆動信号を出力する信号線駆動回路と、
   前記表示部の走査線に走査線用の出力信号を出力する走査線駆動回路とを有する画像表示装置の製造方法において、
   前記画素回路は、
   発光素子と、前記発光素子を駆動する駆動回路とを有し、
   前記駆動回路の全部又は一部が複数系統により形成され、
   各系統が個別に前記走査線駆動回路に接続され、
   前記製造方法は、
   制御信号により前記走査線駆動回路から出力される前記走査用の出力信号を順次切り換えることにより、前記発光素子を駆動する系統を順次切り換えて前記発光素子の発光輝度を測定し、当該測定結果の判定により異常の発生した画素回路及び系統を検出する異常系統の検出ステップと、
   リペア処理により、異常の発生した画素回路において異常の発生した系統による前記発光素子の駆動を停止させるリペアステップとを有する
   画像表示装置の製造方法。
   

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