CN108806609A - 一种数据处理方法及其装置、介质 - Google Patents

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Abstract

本发明实施例提供了一种数据处理方法及其装置、介质，其中，数据处理方法，应用于显示面板中，显示面板包括：M×N阵列排列的像素，该方法包括：获得当前显示的第i行相邻n列的像素对应的电压数据；根据存储的第i行的前m‑1行相邻n列的像素对应的电压数据，判断第i行第j列的像素对应的电压数据是否异常；若第i行第j列的像素对应的电压数据异常，则对第i行第j列的像素对应的电压数据进行滤波处理，以使得根据滤波处理后的电压数据计算得到阈值电压与实际阈值电压之间的差值小于或者等于第一阈值差值。本发明实施例提供的技术方案消除了对显示面板补偿后新增的亮点，提高了显示面板的显示效果。

Description

一种数据处理方法及其装置、介质
技术领域
本发明实施例涉及显示技术领域，具体涉及一种数据处理方法及其装置、介质。
背景技术
有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode，简称OLED)显示器是当前平板显示器研究领域的热点之一，与液晶显示器(Liquid Crystal Display，简称LCD)相比，OLED显示器具有低能耗、生产成本低、自发光、宽视角及响应速度快等优点，目前，在手机、平板电脑、数码相机等显示领域，OLED显示器已经开始取代传统的LCD显示器。
与LCD利用稳定的电压控制亮度不同，OLED属于电流驱动，需要稳定的电流来控制器发光。一般OLED显示器通过每个像素中的像素驱动电路中的驱动晶体管向OLED输出电流，以驱动OLED发光。由于OLED显示器中的驱动晶体管的电学特性不一致，因此，像素单元之间存在亮度差异。为了保证因驱动晶体管的电学特性不一致造成的亮度不一致性的技术问题，现有技术提出了外部补偿方式，通过检测每个像素单元对应的驱动晶体管的源极电压，生成校正后的驱动电压，以保证OLED显示器所显示内容的一致性。
经发明人研究发现，若OLED显示器中出现短路，在对其外部补偿之后会出现亮点，影响OLED显示器的显示效果。
发明内容
为了解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种数据处理方法及其装置、介质，避免了在对OLED显示器外部补偿之后出现亮点，提高了OLED显示器的显示效果。
第一方面，本发明实施例提供了一种数据处理方法，应用于显示面板中，所述显示面板包括：M×N阵列排列的像素，包括：
获得当前显示的第i行相邻n列的像素对应的电压数据；其中，所述电压数据用于计算每个像素对应的驱动晶体管的阈值电压，相邻n列包括：第j-n+1列、…….、第j-1列和第j列，n-1<j≤N，1≤n≤N；
根据存储的第i行的前m-1行相邻n列的像素对应的电压数据，判断第i行第j列的像素对应的电压数据是否异常，其中，m-1<i≤M，1<m<M；
若第i行第j列的像素对应的电压数据异常，则对第i行第j列的像素对应的电压数据进行滤波处理，以使得根据滤波处理后的电压数据计算得到阈值电压与实际阈值电压之间的差值小于或者等于第一阈值差值。
可选地，所述电压数据包括：像素对应的驱动晶体管的源极电压。
可选地，所述根据存储的第i行的前m-1行相邻n列的像素对应的电压数据，判断第i行第j列的像素对应的电压数据是否异常包括：
根据第i行相邻n列的像素对应的电压数据和第i行的前m-1行相邻n列的像素对应的电压数据，计算得到特征值；
根据第i行第j列的像素对应的电压数据与所述特征值，判断第i行第j列的像素对应的电压数据是否异常。
可选地，所述特征值为平均值或者加权平均值。
可选地，所述根据第i行第j列的像素对应的电压数据与所述特征值，判断第i行第j列的像素对应的电压数据是否异常包括：
判断第i行第j列的像素对应的电压数据与所述特征值的差值是否大于第二阈值差值，若第i行第j列的像素对应的电压数据与所述特征值的差值大于第二阈值差值，则第i行第j列的像素对应的电压数据异常。
可选地，所述第二阈值差值为特征值的K倍，其中，0.1≤K≤0.2。
可选地，所述对第i行第j列的像素对应的电压数据进行滤波处理包括：
将第i行第j列的像素对应的电压数据修改为所述特征值。
可选地，所述方法还包括：
存储修改后的第i行相邻n列的像素对应的电压数据。
可选地，所述方法还包括：根据修改后的第i行第j列的像素对应的电压数据对第i行第j列的像素进行补偿。
第二方面，本发明实施例还提供了一种数据处理装置，应用于显示面板中，所述显示面板包括：M×N阵列排列的像素，包括：
获得模块，用于获得当前显示的第i行相邻n列的像素对应的电压数据；其中，所述电压数据用于计算每个像素对应的驱动晶体管的阈值电压，相邻n列包括：第j-n-1列、…….、第j-1列和第j列，n-1<j≤N，1≤n≤N；
判断模块，用于根据存储的第i行的前m-1行相邻n列的像素对应的电压数据，判断第i行第j列的像素对应的电压数据是否异常，其中，m-1<i≤M，1<m<M；
滤波模块，用于若第i行第j列的像素对应的电压数据异常，则对第i行第j列的像素对应的电压数据进行滤波处理，以使得根据滤波处理后的电压数据计算得到阈值电压与实际阈值电压之间的差值小于或者等于第一阈值差值。
可选地，还包括：m-1个存储模块；
其中，第k个存储模块，用于存储第i-m+k行相邻n列的像素对应的电压数据，1≤k≤m-1。
可选地，所述判断模块具体用于根据第i行相邻n列的像素对应的电压数据和第i行的前m-1行相邻n列的像素对应的电压数据，计算得到特征值；判断第i行第j列的像素对应的电压数据与所述特征值的差值是否大于第二阈值差值，若第i行第j列的像素对应的电压数据与所述特征值的差值大于第二阈值差值，判断为第i行第j列的像素对应的电压数据异常。
可选地，所述滤波模块，用于将第i行第j列的像素对应的电压数据修改为所述特征值。
可选地，当i＝i+1时，修改后的第i行相邻n列的像素对应的电压数据存储在第m-1个存储模块中，第k个存储模块存储的数据以数据流的形式输入至第k-1个存储模块中，以替换第k-1个存储模块中所存储的数据。
第三方面，本发明实施例还提供一种介质，其上存储有可在处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现上述数据处理装置的步骤。
本发明实施例提供一种数据处理方法及其装置、介质，其中，数据处理方法，应用于显示面板中，显示面板包括：MXN阵列排列的像素，该方法包括：获得当前显示的第i行相邻n列的像素对应的电压数据；根据存储的第i行的前m-1行相邻n列的像素对应的电压数据，判断第i行第j列的像素对应的电压数据是否异常；若第i行第j列的像素对应的电压数据异常，则对第i行第j列的像素对应的电压数据进行滤波处理，以使得根据滤波处理后的电压数据计算得到阈值电压与实际阈值电压之间的差值小于或者等于第一阈值差值。本发明实施例提供的技术方案通过判断当前显示的像素的对应的电压数据是否异常，在异常的情况下，对其进行滤波处理，保证了根据滤波处理后的电压数据计算得到的阈值电压接近实际阈值电压值，消除了对显示面板补偿后新增的亮点，提高了显示面板的显示效果。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
附图用来提供对本发明技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本申请的实施例一起用于解释本发明的技术方案，并不构成对本发明技术方案的限制。
图1为现有的像素连接的像素驱动电路的等效电路图；
图2为现有的像素的结构示意图；
图3为本发明实施例提供的数据处理方法的流程图；
图4为本发明实施例提供的数据装置的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下文中将结合附图对本发明的实施例进行详细说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。
在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行。并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。
除非另外定义，本发明实施例提供使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本发明实施例中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。
OLED外部补偿技术通过根据每个像素连接的像素驱动电路的驱动晶体管DTFT的特性参数，产生校正后的驱动电压，从而解决因TFT电特性不一致造成的亮度不一致性。其中，驱动晶体管DTFT的阈值电压Vth是OLED外部补偿技术中一个非常重要的电学参数。
图1为现有的像素连接的像素驱动电路的等效电路图，如图1所示，加载在驱动晶体管DTFT的栅极的驱动电压为Vg，初始化驱动晶体管DTFT的源极电压为Vs，向扫描信号端Scan与感测信号端Sense输入打开信号，当Vg与Vs的差值大于驱动晶体管DTFT的阈值电压时驱动晶体管DTFT打开，有电流经过驱动晶体管DTFT给电容Csense充电，节点S的电压随之被抬高；随着充电时间的增加，当节点S的电压不再升高，则驱动晶体管DTFT处于截止状态。现阶段，用于提取阈值电压Vth的方法为：侦测驱动晶体管DTFT的源极电压，通过公式Vth＝Vg–Vs获得驱动晶体管DTFT的阈值电压。
图2为现有的像素的结构示意图，每个像素包括3个或4个子像素，图2以每个像素包括四个子像素：R子像素、G子像素、B子像素和W子像素为例进行说明，结合图1和图2可知，四个子像素均与感测信号端Sense连接，当任一子像素当RGBW任意一个子像素(设为R子像素)的S短路到低电平电源端ELVSS，在对显示面板外部补偿前该子像素显示是一颗暗点，G子像素、B子像素和W子像素正常显示，但是由于R子像素的节点S短路到低电平电源端ELVSS，电容Csense不能够进行正常充电，此时计算出的驱动晶体管DTFT的阈值电压为Vth＝Vg–0，大于实际的驱动晶体管DTFT的阈值电压，在对显示面板外部补偿结束后，显示时该像素G子像素、B子像素和W子像素的亮度高于周边像素的亮度，显示为一颗亮点，影响了显示面板的显示效果。
为了避免上述技术问题，本发明实施例提供了一种数据处理方法及其装置，介质，具体说明如下。
实施例一
图3为本发明实施例提供的数据处理方法的流程图，如图3所示，本发明实施例提供的数据处理方法，应用于显示面板中，显示面板包括：M×N阵列排列的像素，本发明实施例提供的数据处理方法，具体包括以下步骤：
步骤100、获得当前显示的第i行相邻n列的像素对应的电压数据。
本实施例中，电压数据用于计算每个像素对应的驱动晶体管的阈值电压，具体的，电压数据包括：像素对应的驱动晶体管的源极电压。
具体的，相邻n列包括：第j-n+1列、…….、第j-1列和第j列，n-1<j≤N，1≤n≤N；需要说明的是，n的取值具体根据实际需求确定，本发明实施例对此不作任何限定。
具体的，当前显示的第i行相邻n列的像素对应的电压数据是显示面板中的驱动IC输出的采样数据。
步骤200、根据存储的第i行的前m-1行相邻n列的像素对应的电压数据，判断第i行第j列的像素对应的电压数据是否异常。
本实施例中，第i行的前m-1行具体指的是第i-1行、第i-2行、……、第i-m+1行。
具体的，m-1<i≤M，1<m<M；需要说明的是，n的取值具体根据实际需求确定，本发明实施例对此不作任何限定。
具体的，存储的第i行的前m-1行相邻n列中的相邻n列包括：第j-n+1列、…….、第j-1列和第j列，与获得的第i行的相邻n列的列数相同。
步骤300、若第i行第j列的像素对应的电压数据异常，则对第i行第j列的像素对应的电压数据进行滤波处理，以使得根据滤波处理后的电压数据计算得到阈值电压与实际阈值电压之间的差值小于或者等于第一阈值差值。
具体的，若第i行第j列的像素对应的电压数据不异常，则根据第i行第j列的像素对应的电压数据对第i行第j列的像素进行补偿。
其中，第一阈值差值的取值具体根据实际需求确定，本发明实施例对此不作任何限定。
本发明实施例提供的数据处理方法，应用于显示面板中，显示面板包括：MXN阵列排列的像素，该方法包括：获得当前显示的第i行相邻n列的像素对应的电压数据；根据存储的第i行的前m-1行相邻n列的像素对应的电压数据，判断第i行第j列的像素对应的电压数据是否异常；若第i行第j列的像素对应的电压数据异常，则对第i行第j列的像素对应的电压数据进行滤波处理，以使得根据滤波处理后的电压数据计算得到阈值电压与实际阈值电压之间的差值小于或者等于第一阈值差值。本发明实施例提供的技术方案通过判断当前显示的像素的对应的电压数据是否异常，在异常的情况下，对其进行滤波处理，保证了根据滤波处理后的电压数据计算得到的阈值电压接近实际阈值电压值，消除了对显示面板补偿后新增的亮点，提高了显示面板的显示效果。
可选地，步骤200具体包括：根据第i行相邻n列的像素对应的电压数据和第i行的前m-1行相邻n列的像素对应的电压数据，计算得到特征值；根据第i行第j列的像素对应的电压数据与特征值，判断第i行第j列的像素对应的电压数据是否异常。
可选地，特征值为平均值或者加权平均值。
需要说明的是，随着当前显示的像素行数的变化，特征值是一个实时更新的数据，当特征值为加权平均值时，越靠近第i行第j列的像素的像素对应的权重越大，即第i行第j列像素对应的权重大于第i行第j-1列的像素对应的权重，第i行第j-1列的像素对应的权重大于第i行第j-2列的像素对应的权重，依次类推，第i-m+1行第j-n+1列的像素对应的权重最小。
本发明实施例考虑到显示面板像素的电压数据的实时性，设置靠近待滤波的电压数据的权重大于其他数据的权重，能够使得根据滤波处理后的电压数据得到的阈值电压尽可能的接近实际阈值电压，最大程度的消除对显示面板补偿后新增的亮点。
可选地，根据第i行第j列的像素对应的电压数据与特征值，判断第i行第j列的像素对应的电压数据是否异常具体包括：判断第i行第j列的像素对应的电压数据与特征值的差值是否大于第二阈值差值，若第i行第j列的像素对应的电压数据与特征值的差值大于第二阈值差值，则第i行第j列的像素对应的电压数据异常。
具体的，第二阈值差值为特征值的K倍，其中，0.1≤K≤0.2。
需要说明的是，K的取值根据采样数据的离散性来确定数据越离散K值越大，具体的，K的大小根据实际使用进行调整，本发明实施例对此不作任何限定。
需要说明的是，随着当前显示的像素的行数更新，特征值也会更新，对应的第二阈值差值同时也会更新，根据替换后的阈值电压，对该像素进行正常的补偿过程。
本发明实施例通过设置第二阈值差值为实时更新的数据，考虑到了显示面板中的驱动晶体管的差异性，像素驱动电路的电容的范围较大，若第二阈值差值设置太小会造成对电压数据的滤波的误处理，将正常的电压数据也给滤掉了，若设置太大，就无法保证滤掉所有的异常的电压数据。
可选地，步骤300包括：将第i行第j列的像素对应的电压数据修改为特征值。
可选地，本发明实施例提供的数据处理方法在步骤300之后，还包括：存储修改后的第i行相邻n列的像素对应的电压数据。
可选地，本发明实施例提供的数据处理方法在步骤300之后，还包括：根据修改后的第i行第j列的像素对应的电压数据对第i行第j列的像素进行补偿。
本发明实施例提供的获得的当前显示的第i行相邻n列的像素对应的电压数据以及存储的第i行的前m-1行相邻n列的像素对应的电压数据实际上相当于组成一个m×n的局部滤波器窗口，其中，局部滤波器窗口中的第m行的数据为驱动IC对当前显示的第i行相邻n列的像素采样并输出的电压数据。
以m＝3，n＝3为例说明数据处理方法的具体工作过程：在显示面板显示第一行时获得第一行相邻三列，例如第一列、第二列和第三列的像素对应的电压数据并存储；显示第二行时，获得第二行第一列、第二列和第三列的像素对应的电压数据并存储；在显示第三行时，获得第三行第一列、第二列和第三列的像素对应的电压数据，计算存储的第一行相邻三列、第二行相邻三列和第三行相邻三列的像素对应的电压数据的平均值或加权平均值，作为特征值，若第三行第三列的像素对应的电压数据与特征值之间的差值大于第二阈值差值，则第三行第三列的像素对应的电压数据异常，并将第三行第三列对应的电压数据替换为特征值；在显示第四行时，获得第四行第一列、第二列和第三列的像素对应的电压数据，计算存储的第二行相邻三列、第三行相邻三列和第四行相邻三列的像素对应的电压数据的平均值或加权平均值，判断第四行第三列的像素对应的电压数据是否异常，若异常，将第四行第三列对应的电压数据替换为特征值，依次类推，直至所有像素行扫描完毕。
实施例二
基于上述实施例的发明构思，本发明实施例还提供一种数据处理装置，应用于显示面板中，显示面板包括：M×N阵列排列的像素，图4为本发明实施例提供的数据处理装置的结构示意图，如图4所示，本发明实施例提供的数据处理装置包括：获得模块11、判断模块12和滤波模块13。
本实施例中，获得模块11，用于获得当前显示的第i行相邻n列的像素对应的电压数据。
其中，电压数据用于计算每个像素对应的驱动晶体管的阈值电压，具体的，电压数据包括：像素对应的驱动晶体管的源极电压。
具体的，相邻n列包括：第j-n+1列、…….、第j-1列和第j列，n-1<j≤N，1≤n≤N；需要说明的是，n的取值具体根据实际需求确定，本发明实施例对此不作任何限定。
判断模块12，用于根据存储的第i行的前m-1行相邻n列的像素对应的电压数据，判断第i行第j列的像素对应的电压数据是否异常。
本实施例中，第i行的前m-1行具体指的是第i-1行、第i-2行、……、第i-m+1行。
其中，m-1<i≤M，1<m<M，需要说明的是，n的取值具体根据实际需求确定，本发明实施例对此不作任何限定。
具体的，判断模块12具体用于根据第i行相邻n列的像素对应的电压数据和第i行的前m-1行相邻n列的像素对应的电压数据，计算得到特征值；判断第i行第j列的像素对应的电压数据与特征值的差值是否大于第二阈值差值，若第i行第j列的像素对应的电压数据与特征值的差值大于第二阈值差值，判断为第i行第j列的像素对应的电压数据异常。
滤波模块13，用于若第i行第j列的像素对应的电压数据异常，则对第i行第j列的像素对应的电压数据进行滤波处理，以使得根据滤波处理后的电压数据计算得到阈值电压与实际阈值电压之间的差值小于或者等于第一阈值差值。
具体的，若第i行第j列的像素对应的电压数据不异常，则根据第i行第j列的像素对应的电压数据对第i行第j列的像素进行补偿。
其中，第一阈值差值的取值具体根据实际需求确定，本发明实施例对此不作任何限定。
具体的，滤波模块，具体用于将第i行第j列的像素对应的电压数据修改为特征值。
本发明实施例提供的数据处理装置，应用于显示面板中，显示面板包括：MXN阵列排列的像素，该装置包括：获得模块，用于获得当前显示的第i行相邻n列的像素对应的电压数据；判断模块，用于根据存储的第i行的前m-1行相邻n列的像素对应的电压数据，判断第i行第j列的像素对应的电压数据是否异常；滤波模块，用于若第i行第j列的像素对应的电压数据异常，则对第i行第j列的像素对应的电压数据进行滤波处理，以使得根据滤波处理后的电压数据计算得到阈值电压与实际阈值电压之间的差值小于或者等于第一阈值差值。本发明实施例提供的技术方案通过判断当前显示的像素的对应的电压数据是否异常，在异常的情况下，对其进行滤波处理，保证了根据滤波处理后的电压数据计算得到的阈值电压接近实际阈值电压值，消除了对显示面板补偿后新增的亮点，提高了显示面板的显示效果。
可选地，本发明实施例提供的数据处理装置，还包括：m-1个存储模块；其中，第k个存储模块，用于存储第i-m+k行相邻n列的像素对应的电压数据，1≤k≤m-1。
可选地，存储模块包括：行缓存器。
本实施例中，当i＝i+1时，即显示面板显示下一行时，修改后的第i行相邻n列的像素对应的电压数据存储在第m-1个存储模块中，第k个存储模块存储的数据以数据流的形式输入至第k-1个存储模块中，以替换第k-1个存储模块中所存储的数据。
具体的，若当前显示的是第i行像素，获得m-1个存储模块的数据以及驱动IC当前采样并输出的第i行相邻n列的像素对应的电压数据，并在滤波结束后，将第2个存储模块中的数据以数据流的方式输入至第1个存储模块中，第3个存储模块中的数据以数据流的方式输入至第2个存储模块中，将驱动IC当前采样并输出的第i行相邻n列的像素对应的电压数据以数据流的方方式输入至第m-1个存储模块中。
实施例三
基于上述实施例的发明构思，本发明实施例还提供一种介质，其上存储有可在处理器上运行的计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现实施例一提供的数据处理方法的步骤。
“本领域普通技术人员可以理解，上文中所提供方法中的全部或某些步骤、系统、装置中的功能模块/单元可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。在硬件实施方式中，在以上描述中提及的功能模块/单元之间的划分不一定对应于物理组件的划分；例如，一个物理组件可以具有多个功能，或者一个功能或步骤可以由若干物理组件合作执行。某些组件或所有组件可以被实施为由处理器，如数字信号处理器或微处理器执行的软件，或者被实施为硬件，或者被实施为集成电路，如专用集成电路。这样的软件可以分布在计算机可读介质上，计算机可读介质可以包括计算机存储介质(或非暂时性介质)和通信介质(或暂时性介质)。如本领域普通技术人员公知的，术语计算机存储介质包括在用于存储信息(诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据)的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质。计算机存储介质包括但不限于RAM、ROM、EEPROM、闪存或其他存储器技术、CD-ROM、数字多功能盘(DVD)或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质。此外，本领域普通技术人员公知的是，通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据，并且可包括任何信息递送介质。”
本发明实施例附图只涉及本发明实施例涉及到的结构，其他结构可参考通常设计。
在不冲突的情况下，本发明的实施例即实施例中的特征可以相互组合以得到新的实施例。
虽然本发明所揭露的实施方式如上，但所述的内容仅为便于理解本发明而采用的实施方式，并非用以限定本发明。任何本发明所属领域内的技术人员，在不脱离本发明所揭露的精神和范围的前提下，可以在实施的形式及细节上进行任何的修改与变化，但本发明的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。

Claims (15)

1.一种数据处理方法，其特征在于，应用于显示面板中，所述显示面板包括：M×N阵列排列的像素，包括：
获得当前显示的第i行相邻n列的像素对应的电压数据；其中，所述电压数据用于计算每个像素对应的驱动晶体管的阈值电压，相邻n列包括：第j-n+1列、…….、第j-1列和第j列，n-1<j≤N，1≤n≤N；
根据存储的第i行的前m-1行相邻n列的像素对应的电压数据，判断第i行第j列的像素对应的电压数据是否异常，其中，m-1<i≤M，1<m<M；
若第i行第j列的像素对应的电压数据异常，则对第i行第j列的像素对应的电压数据进行滤波处理，以使得根据滤波处理后的电压数据计算得到阈值电压与实际阈值电压之间的差值小于或者等于第一阈值差值。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电压数据包括：像素对应的驱动晶体管的源极电压。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据存储的第i行的前m-1行相邻n列的像素对应的电压数据，判断第i行第j列的像素对应的电压数据是否异常包括：
根据第i行相邻n列的像素对应的电压数据和第i行的前m-1行相邻n列的像素对应的电压数据，计算得到特征值；
根据第i行第j列的像素对应的电压数据与所述特征值，判断第i行第j列的像素对应的电压数据是否异常。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述特征值为平均值或者加权平均值。
5.根据权利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述根据第i行第j列的像素对应的电压数据与所述特征值，判断第i行第j列的像素对应的电压数据是否异常包括：
判断第i行第j列的像素对应的电压数据与所述特征值的差值是否大于第二阈值差值，若第i行第j列的像素对应的电压数据与所述特征值的差值大于第二阈值差值，则第i行第j列的像素对应的电压数据异常。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述第二阈值差值为特征值的K倍，其中，0.1≤K≤0.2。
7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述对第i行第j列的像素对应的电压数据进行滤波处理包括：
将第i行第j列的像素对应的电压数据修改为所述特征值。
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
存储修改后的第i行相邻n列的像素对应的电压数据。
9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：根据修改后的第i行第j列的像素对应的电压数据对第i行第j列的像素进行补偿。
10.一种数据处理装置，其特征在于，应用于显示面板中，所述显示面板包括：M×N阵列排列的像素，包括：
获得模块，用于获得当前显示的第i行相邻n列的像素对应的电压数据；其中，所述电压数据用于计算每个像素对应的驱动晶体管的阈值电压，相邻n列包括：第j-n-1列、…….、第j-1列和第j列，n-1<j≤N，1≤n≤N；
判断模块，用于根据存储的第i行的前m-1行相邻n列的像素对应的电压数据，判断第i行第j列的像素对应的电压数据是否异常，其中，m-1<i≤M，1<m<M；
滤波模块，用于若第i行第j列的像素对应的电压数据异常，则对第i行第j列的像素对应的电压数据进行滤波处理，以使得根据滤波处理后的电压数据计算得到阈值电压与实际阈值电压之间的差值小于或者等于第一阈值差值。
11.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，还包括：m-1个存储模块；
其中，第k个存储模块，用于存储第i-m+k行相邻n列的像素对应的电压数据，1≤k≤m-1。
12.根据权利要求11所述的装置，其特征在于，所述判断模块具体用于根据第i行相邻n列的像素对应的电压数据和第i行的前m-1行相邻n列的像素对应的电压数据，计算得到特征值；判断第i行第j列的像素对应的电压数据与所述特征值的差值是否大于第二阈值差值，若第i行第j列的像素对应的电压数据与所述特征值的差值大于第二阈值差值，判断为第i行第j列的像素对应的电压数据异常。
13.根据权利要求12所述的装置，其特征在于，所述滤波模块，用于将第i行第j列的像素对应的电压数据修改为所述特征值。
14.根据权利要求11所述的装置，其特征在于，当i＝i+1时，修改后的第i行相邻n列的像素对应的电压数据存储在第m-1个存储模块中，第k个存储模块存储的数据以数据流的形式输入至第k-1个存储模块中，以替换第k-1个存储模块中所存储的数据。
15.一种介质，其特征在于，其上存储有可在处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至9中任一项所述的数据处理方法的步骤。
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