JP2010133957A - X線映像取得・イメージング装置および方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 33
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims abstract description 9
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 76
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 41
- 230000005670 electromagnetic radiation Effects 0.000 claims description 37
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 36
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 16
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 10
- 239000002223 garnet Substances 0.000 claims description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000002083 X-ray spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/2018—Scintillation-photodiode combinations
-
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Power Engineering (AREA)
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Abstract
【解決手段】複数のピクセルを含むピクセルブロックで区画されるX線センサを用いてX線映像を取得することができる。このとき、それぞれのピクセルは、互いに異なる特性を有するシンチレータ層を含むことができる。
【選択図】 図2
Description
210 層ブロック
211 層
212 層
213 層
214 層
Claims (46)
- 少なくとも1つのX線を光に変換するシンチレータパネルを含むセンサ部と、
前記光から変換された電気的信号を用いて複数の第1X線映像を生成し、前記複数の第1X線映像を用いて第2X線映像を生成する映像生成部と、
を含み、
前記センサ部は、複数のピクセルを含むピクセルブロックで区画され、
前記シンチレータパネルは、前記複数のピクセルとそれぞれ対応する複数のシンチレータ層を含み、
前記シンチレータ層は、互いに異なる層特性を有するX線映像取得装置。 - 前記X線は、単色光X線、狭帯域X線、および多色光X線のうちの少なくともいずれか1つを含む請求項1に記載のX線映像取得装置。
- 前記互いに異なる層特性は、前記シンチレータ層の厚さおよび前記シンチレータ層を構成する物質の種類のうちの少なくとも1つを含む請求項1に記載のX線映像取得装置。
- 前記シンチレータ層を構成する物質は、CsI、CsI(Tl)、Gd2O2S(Tb)、Gd2O2S(Eu)、Y2O2S(Eu)、Y2O3(Eu)およびガーネット(garnet)含有物質のうちの少なくともいずれか1つを含む請求項3に記載のX線映像取得装置。
- 前記少なくとも1つのX線は、他のエネルギーレベルを有する複数のX線を含み、
前記複数の第1X線映像は、前記複数のX線とそれぞれ対応する請求項1に記載のX線映像取得装置。 - 前記複数のピクセルは、前記複数のX線とそれぞれ対応し、
前記複数のシンチレータ層それぞれの層特性は、それぞれのピクセルに入射するX線のエネルギーレベルに対応して形成される請求項5に記載のX線映像取得装置。 - 前記複数のピクセルは、前記複数のX線とそれぞれ対応し、
前記映像生成部は、ピクセルに入射するX線にそれぞれ対応する前記ピクセルから発生する電気的信号に基づいて、前記第1X線映像を生成する請求項5に記載のX線映像取得装置。 - 前記複数のピクセルは、前記複数のX線とそれぞれ対応し、
前記映像生成部は、ピクセルに入射するX線にそれぞれ対応する前記ピクセルから発生する電気的信号および前記ピクセルに隣接したピクセルに入射するX線にそれぞれ対応する前記隣接したピクセルから発生する電気的信号に基づいて、前記第1X線映像を生成する請求項5に記載のX線映像取得装置 - 前記少なくとも1つのX線をオブジェクトに放射する放射部、
をさらに含み、
前記シンチレータパネルは、前記少なくとも1つのX線が前記オブジェクトを透過した以後に、前記透過した少なくとも1つのX線を光に変換する請求項1に記載のX線映像取得装置。 - 前記放射部は、前記少なくとも1つのX線を順次放射し、
前記放射されるX線は、コーンビームまたはファンビーム状である請求項9に記載のX線映像取得装置。 - 前記放射部は、前記複数のX線を同時に放射し、
前記放射されるX線は、ファンビーム状である請求項9に記載のX線映像取得装置。 - 前記放射部は、前記オブジェクトを中心に複数の角度で前記少なくとも1つのX線を放射する請求項9に記載のX線映像取得装置。
- 前記少なくとも1つのX線は、1つの多色光X線を含み、
前記複数のピクセルは、前記複数の第1X線映像とそれぞれ対応する請求項1に記載のX線映像取得装置。 - X線をオブジェクトに放射する放射部と、
前記オブジェクトを透過した前記X線を検出するセンサ部と、
前記検出されたX線を用いて前記オブジェクトに対するX線映像を生成する映像生成部と、
を含み、
前記放射部は、複数の第1X線を放射する第1放射部および単色光X線を放射する第2放射部を含み、
前記センサ部は、複数のピクセルを含むピクセルブロックで区画された第1シンチレータパネルおよび均一な厚さを有する第2シンチレータパネルを含み、
前記第1シンチレータパネルおよび前記第2シンチレータパネルは、前記複数のピクセルとそれぞれ対応する複数のシンチレータ層を含み、
前記シンチレータ層は、互いに異なる層特性を有するX線映像取得装置。 - 前記第1X線は、単色光X線および狭帯域X線のうちの少なくともいずれか1つを含む請求項14に記載のX線映像取得装置。
- 前記互いに異なる層特性は、
少なくとも前記第1シンチレータパネルに含まれる前記シンチレータ層の厚さおよび前記第1シンチレータパネルと前記第2シンチレータパネルに含まれる前記シンチレータ層を構成する物質の種類のうちの少なくとも1つを含む請求項14に記載のX線映像取得装置。 - 制御部、
をさらに含み、
前記制御部は、前記放射部が前記第1放射部を介して、前記複数の第1X線を放射する場合、前記第1シンチレータパネルを用いて前記複数の第1X線を検出するように制御し、
前記放射部が前記第2放射部を介して、前記多色光X線を放射する場合、前記第2シンチレータパネルを用いて前記多色光X線を検出するように制御する請求項14に記載のX線映像取得装置。 - 複数のピクセルを含む複数の区画されたピクセルブロックと、
前記複数のピクセルの第1ピクセルに含まれ、第1電磁気放射スペクトルを光に変換するための第1シンチレータ層と、
前記複数のピクセルの第2ピクセルに含まれ、第2電磁気放射スペクトルを光に変換するための第2シンチレータ層と、
を含み、
前記複数のピクセルそれぞれはシンチレータ層を含むX線映像を得るための電磁気放射スペクトル装置。 - 前記第1シンチレータ層および前記第2シンチレータ層は、互いに異なる厚さを有する請求項18に記載のX線映像を得るための電磁気放射スペクトル装置。
- 前記第1シンチレータ層および前記第2シンチレータ層は、互いに異なる物質で構成される請求項18に記載のX線映像を得るための電磁気放射スペクトル装置。
- 前記第1シンチレータ層および前記第2シンチレータ層は、同一の厚さを有する
請求項20に記載のX線映像を得るための電磁気放射スペクトル装置。 - 前記複数のピクセルそれぞれは、光を電気的信号に変換する光電変換素子をさらに含む請求項18に記載のX線映像を得るための電磁気放射スペクトル装置。
- 前記光電変換素子は、フォトダイオードを含む請求項22に記載のX線映像を得るための電磁気放射スペクトル装置。
- 前記ピクセルブロックそれぞれは、2×2大きさのアレイ形態で配列された4個のピクセルを含む請求項18に記載のX線映像を得るための電磁気放射スペクトル装置。
- 前記4個のピクセルそれぞれに含まれるそれぞれのシンチレータ層は、互いに異なる電磁気放射スペクトルを光に変換する請求項24に記載のX線映像を得るための電磁気放射スペクトル装置。
- 前記4個のピクセルそれぞれに含まれるそれぞれのシンチレータ層は、互いに異なる厚さを有する請求項24に記載のX線映像を得るための電磁気放射スペクトル装置。
- 前記4個のピクセルそれぞれに含まれるそれぞれのシンチレータ層は、互いに異なる物質で構成される請求項24に記載のX線映像を得るための電磁気放射スペクトル装置。
- 前記第1シンチレータ層および前記第2シンチレータ層は、互いに重ならない請求項18に記載のX線映像を得るための電磁気放射スペクトル装置。
- 前記複数のピクセルそれぞれは、1つのシンチレータ層を含む請求項18に記載のX線映像を得るための電磁気放射スペクトル装置。
- 前記シンチレータ層は、CsI、CsI(Tl)、Gd2O2S(Tb)、Gd2O2S(Eu)、Y2O2S(Eu)、Y2O3(Eu)およびガーネット含有物質のうちの少なくともいずれか1つの物質を含む請求項18に記載のX線映像を得るための電磁気放射スペクトル装置。
- 複数のピクセルを含む複数のピクセルブロックで区画されるセンサ部と、
シンチレータパネルと、
を含み、
前記複数のピクセルそれぞれは、少なくとも1つのX線を光に変換するシンチレータ層を含み、
前記シンチレータパネルは、前記複数のピクセルそれぞれに対応する複数のシンチレータ層を含み、
前記シンチレータ層は、互いに異なる層特性を有し、
前記互いに異なる層特性は、シンチレータ層それぞれの厚さおよび前記シンチレータ層それぞれを構成する物質の種類のうちの少なくとも1つであるX線映像を得るための電磁気放射スペクトル装置。 - シンチレータ層それぞれを介して、少なくとも1つのX線から変換された光を用いて、少なくとも1つの第1X線映像を生成する請求項31のセンサ部と、
前記少なくとも1つの第1X線映像に基づく少なくとも1つの第2X線映像を生成する映像生成部と、
を含むX線映像取得装置。 - 少なくとも1つの電磁気放射スペクトルを放射する放射ユニットと、
前記放射された少なくとも1つの電磁気放射スペクトルを検出するセンサと、
を含み、
前記センサは、複数のピクセルを含むピクセルブロックで区画され、
前記複数のピクセルそれぞれは、シンチレータ層を含み、
前記複数のピクセルのうち第1ピクセルに含まれる第1シンチレータ層は、第1電磁気放射スペクトルを光に変換し、
前記複数のピクセルのうち第2ピクセルに含まれる第2シンチレータ層は、第2電磁気放射スペクトルを光に変換するイメージング装置。 - 互いに異なる層特性を有するシンチレータパネルの複数のシンチレータ層それぞれに対応する複数のピクセルを含むピクセルブロックで区画される前記シンチレータパネルから生成される光に基づく少なくとも1つのX線信号を生成するステップと、
前記生成された少なくとも1つのX線信号に基づく複数の第1X線映像を生成するステップと、
前記複数の第1X線映像に基づいて、第2X線映像を生成するステップと、
を含むX線映像取得方法。 - 前記X線は、単色光X線、狭帯域X線、および多色光X線のうちの少なくともいずれか1つを含む請求項34に記載のX線映像取得方法。
- 前記互いに異なる層特性は、
前記シンチレータ層の厚さおよび前記シンチレータ層を構成する物質の種類のうちの少なくとも1つを含む請求項34に記載のX線映像取得方法。 - 前記シンチレータ層を構成する物質は、CsI、CsI(Tl)、Gd2O2S(Tb)、Gd2O2S(Eu)、Y2O2S(Eu)、Y2O3(Eu)およびガーネット含有物質のうちの少なくともいずれか1つを含む請求項36に記載のX線映像取得方法。
- 前記少なくとも1つのX線は、互いに異なるエネルギーレベルを有する複数のX線を含み、
前記複数の第1X線映像は、前記複数のX線とそれぞれ対応する請求項36に記載のX線映像取得方法。 - 前記複数のピクセルは、前記複数のX線とそれぞれ対応し、
前記複数のシンチレータ層それぞれの層特性は、ピクセルそれぞれに入射するX線のエネルギーレベルに対応して形成される請求項38に記載のX線映像取得方法。 - 前記複数のピクセルは、前記複数のX線とそれぞれ対応し、
前記第1X線映像を生成するステップは、前記ピクセルに入射するX線それぞれから発生する電気的信号に基づいて、前記第1X線映像を生成する請求項38に記載のX線映像取得方法。 - 前記複数のピクセルは、前記複数のX線とそれぞれ対応し、
前記第1X線映像を生成するステップは、
ピクセルに入射するX線それぞれに対応する前記ピクセルから発生する電気的信号および前記ピクセルに隣接したピクセルに入射するX線それぞれに対応する前記隣接したピクセルから発生する電気的信号に基づいて、前記第1X線映像を生成する請求項38に記載のX線映像取得方法。 - 前記少なくとも1つのX線をオブジェクトに放射するステップをさらに含み、
前記複数の第1X線映像は、前記少なくとも1つのX線が前記オブジェクトを透過した以後に、生成されたX線信号に基づいて生成される請求項34に記載のX線映像取得方法。 - 前記少なくとも1つのX線を前記オブジェクトに放射する前記ステップは、前記少なくとも1つのX線を順次放射し、
前記放射されるX線は、コーンビームまたはファンビーム状である請求項42に記載のX線映像取得方法。 - 前記少なくとも1つのX線を前記オブジェクトに放射する前記ステップは、前記少なくとも1つのX線を同時に放射し、
前記放射されるX線は、ファンビーム状である請求項42に記載のX線映像取得方法。 - 前記少なくとも1つのX線は、1つの多色光X線を含み、
前記複数のピクセルは、前記複数の第1X線とそれぞれ対応する請求項34に記載のX線映像取得方法。 - 請求項34の方法を行う少なくとも1つのプロセシング装置を制御するコンピュータ読取可能コードを含むコンピュータ読取可能な記録媒体。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020080121079A KR101504491B1 (ko) | 2008-12-02 | 2008-12-02 | 엑스선 영상 획득 장치 및 엑스선 영상 획득 방법, 센서 및이미징 장치 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010133957A true JP2010133957A (ja) | 2010-06-17 |
Family
ID=42199916
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009273703A Pending JP2010133957A (ja) | 2008-12-02 | 2009-12-01 | X線映像取得・イメージング装置および方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7929665B2 (ja) |
EP (1) | EP2207047B1 (ja) |
JP (1) | JP2010133957A (ja) |
KR (1) | KR101504491B1 (ja) |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR101504491B1 (ko) | 2015-03-23 |
US20100135463A1 (en) | 2010-06-03 |
EP2207047A2 (en) | 2010-07-14 |
EP2207047B1 (en) | 2018-10-31 |
US7929665B2 (en) | 2011-04-19 |
EP2207047A3 (en) | 2014-03-19 |
KR20100062438A (ko) | 2010-06-10 |
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A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
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A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
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