JP2012513023A5 - - Google Patents
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Description
本発明は特に、物体の内部在中物及び/又は構成に関する情報を得るのに望ましい、物体をスキャン(scan)するX線又はガンマ線などの高エネルギー放射線を利用している装置及び方法に関する。
物体の材料含有量又はスキャン(scan)されている構成要素について付加的情報を与えるために透過X線からの分光学的情報が使えることはよく知られている。あらゆる材料のX線吸収特性が分光学的に異なり、この影響は特に原子番号に依存することは公知である。これは、X線放射のフル・スペクトルから別々に低エネルギーバンド及び高エネルギーバンドを識別することができるデュアルバンド又はデュアルエネルギー検出器の開発につながった。ごく最近では、より効果的な透過X線に関する分光学的情報を分解することができる検出器の開発は、より広域のバンドにわたって区別し、より多くの複数の画像を生じさせる装置の開発につながった。例えば、米国特許公報第5943388号は、少なくとも3つのエネルギーバンド全域の画像にテルル化カドミウム検出器を使用するシステムを記載しており、少なくとも3つの画像を作り出す。
本発明の一態様によれば、物体の構成に関する情報を決定するために物体から放射線相互作用データを得る装置は、以下を有して提供される:
放射線源(ソース)と、その間でスキャニング(scanning)ゾーンを規定し、スキャニング(scanning)ゾーンにおける物体との相互作用の後で入射放射線に関する情報を使用中に集めるために間隔を置かれ、入射放射線について分光学的に分解可能な情報を検出して収集することができる放射線検出器システムと、を含み;
前記放射線検出器システムは、物体を通しての透過後、そこで直ちに入射放射線の第1の強度データセットを集めるために配置される第1の検出器手段と、物体との散乱する相互作用の後において更なる入射放射線強度データセットを集めるために配置される、少なくとも一つの更なる検出器手段と、
を含み;
そして、装置は、前記ソースのスペクトルの範囲内で少なくとも3つのエネルギーバンドにわたって前記第1の強度データセットを分解するように構成される第1のデータ処理モジュールと、
前記ソースのスペクトルの範囲内で少なくとも3つのエネルギーバンドにわたって更なる強度データセットを分解するように構成される少なくとも一つの更なるデータ処理モジュールと、
を更に含む。
放射線源(ソース)と、その間でスキャニング(scanning)ゾーンを規定し、スキャニング(scanning)ゾーンにおける物体との相互作用の後で入射放射線に関する情報を使用中に集めるために間隔を置かれ、入射放射線について分光学的に分解可能な情報を検出して収集することができる放射線検出器システムと、を含み;
前記放射線検出器システムは、物体を通しての透過後、そこで直ちに入射放射線の第1の強度データセットを集めるために配置される第1の検出器手段と、物体との散乱する相互作用の後において更なる入射放射線強度データセットを集めるために配置される、少なくとも一つの更なる検出器手段と、
を含み;
そして、装置は、前記ソースのスペクトルの範囲内で少なくとも3つのエネルギーバンドにわたって前記第1の強度データセットを分解するように構成される第1のデータ処理モジュールと、
前記ソースのスペクトルの範囲内で少なくとも3つのエネルギーバンドにわたって更なる強度データセットを分解するように構成される少なくとも一つの更なるデータ処理モジュールと、
を更に含む。
このように、本発明の好ましい実施例によれば、以下を含んで、物体の構成に関する情報を決定するために物体から放射線相互作用データを得る装置が提供される:
放射線源(ソース)と、その間でスキャニング(scanning)ゾーンを規定し、スキャニング(scanning)ゾーンにおける物体との相互作用の後で入射放射線に関する情報を使用中に集めるために間隔を置かれ、入射放射線について分光学的に分解可能な情報を検出して収集することができる放射線検出器システムと、を含み;
前記放射線検出器システムは、物体を通しての透過後、そこで直ちに入射放射線の第1の強度データセットを集めるために位置される第1の検出器手段と、物体との前方散乱相互作用の後、そこで直ちに入射放射線の第2の強度データセットを集めるために位置される第2の検出器手段と、物体との後方散乱相互作用の後、そこで直ちに入射放射線の第3の強度データセットを集めるために位置される第3の検出器手段と、
を含み;
そして、前記装置は、前記ソースのスペクトルの範囲内で少なくとも3つのエネルギーバンドにわたって前記第1の強度データセットを分解するように構成される第1のデータ処理モジュールと;
前記ソースのスペクトルの範囲内で少なくとも3つのエネルギーバンドにわたって前記第2の強度データセットを分解するように構成される第2のデータ処理モジュールと;
前記ソースのスペクトルの範囲内で少なくとも3つのエネルギーバンドにわたって前記第3の強度データセットを分解するように構成される第3のデータ処理モジュールと、
を更に含む。
放射線源(ソース)と、その間でスキャニング(scanning)ゾーンを規定し、スキャニング(scanning)ゾーンにおける物体との相互作用の後で入射放射線に関する情報を使用中に集めるために間隔を置かれ、入射放射線について分光学的に分解可能な情報を検出して収集することができる放射線検出器システムと、を含み;
前記放射線検出器システムは、物体を通しての透過後、そこで直ちに入射放射線の第1の強度データセットを集めるために位置される第1の検出器手段と、物体との前方散乱相互作用の後、そこで直ちに入射放射線の第2の強度データセットを集めるために位置される第2の検出器手段と、物体との後方散乱相互作用の後、そこで直ちに入射放射線の第3の強度データセットを集めるために位置される第3の検出器手段と、
を含み;
そして、前記装置は、前記ソースのスペクトルの範囲内で少なくとも3つのエネルギーバンドにわたって前記第1の強度データセットを分解するように構成される第1のデータ処理モジュールと;
前記ソースのスペクトルの範囲内で少なくとも3つのエネルギーバンドにわたって前記第2の強度データセットを分解するように構成される第2のデータ処理モジュールと;
前記ソースのスペクトルの範囲内で少なくとも3つのエネルギーバンドにわたって前記第3の強度データセットを分解するように構成される第3のデータ処理モジュールと、
を更に含む。
類似によって、本発明が提供する本発明の更なる態様に従って、物体の構成に関する情報を決定するために物体から放射線相互作用データを得る方法は:
放射線源(ソース)と、その間でスキャニング(scanning)ゾーンを規定するために間隔を置かれ、前記ソースのスペクトルの少なくとも一部分にわたってスペクトル的に分解可能な入射放射線に関する情報を検出し収集することのできる第1の検出器手段及び少なくとも一つの更なる検出器手段を有する放射線検出器システムとを提供するステップと;
物体を中に配置して、これにより前記スキャニング(scanning)ゾーンに入れる/通すことに関連して、物体の移動を引き起こすステップと;
物体を通しての透過後、そこで直ちに入射放射線の第1の強度データセットを集めるために第1の検出器手段を位置決めし、この種のデータセットを集めるステップと;
物体との散乱相互作用の後、そこで直ちに入射放射線の更なる強度データセットを集めるために少なくとも一つの更なる検出器手段を位置決めし、この種のデータセットを集めるステップと;
複数の、好ましくは前記ソースのスペクトルの範囲内の少なくとも3つのエネルギーバンドにわたって前記第1の強度データセットを分解し、好ましくは更に、被検物体の放射線吸収挙動に特有の情報を導き出すために前記分解されたデータを数値的に処理するステップと;
前記ソースのスペクトルの範囲内の少なくとも3つのエネルギーバンドにわたって前記更なる強度データセットを分解し、好ましくは更に、被検物体の放射線吸収挙動に特有の情報を導き出すために前記分解されたデータを数値的に処理するステップと、
を含む。
放射線源(ソース)と、その間でスキャニング(scanning)ゾーンを規定するために間隔を置かれ、前記ソースのスペクトルの少なくとも一部分にわたってスペクトル的に分解可能な入射放射線に関する情報を検出し収集することのできる第1の検出器手段及び少なくとも一つの更なる検出器手段を有する放射線検出器システムとを提供するステップと;
物体を中に配置して、これにより前記スキャニング(scanning)ゾーンに入れる/通すことに関連して、物体の移動を引き起こすステップと;
物体を通しての透過後、そこで直ちに入射放射線の第1の強度データセットを集めるために第1の検出器手段を位置決めし、この種のデータセットを集めるステップと;
物体との散乱相互作用の後、そこで直ちに入射放射線の更なる強度データセットを集めるために少なくとも一つの更なる検出器手段を位置決めし、この種のデータセットを集めるステップと;
複数の、好ましくは前記ソースのスペクトルの範囲内の少なくとも3つのエネルギーバンドにわたって前記第1の強度データセットを分解し、好ましくは更に、被検物体の放射線吸収挙動に特有の情報を導き出すために前記分解されたデータを数値的に処理するステップと;
前記ソースのスペクトルの範囲内の少なくとも3つのエネルギーバンドにわたって前記更なる強度データセットを分解し、好ましくは更に、被検物体の放射線吸収挙動に特有の情報を導き出すために前記分解されたデータを数値的に処理するステップと、
を含む。
このように、類似によって、また本発明が提供する好ましい実施態様に従って、物体の構成に関する情報を決定するために物体から放射線相互作用データを得る方法は:
放射線源(ソース)と、その間でスキャニング(scanning)ゾーンを規定するために間隔を置かれ、前記ソースのスペクトルの少なくとも一部分にわたってスペクトル的に分解可能な入射放射線に関する情報を検出し収集することのできる第1、第2及び第3の検出器手段を有する放射線検出器システムとを提供するステップと;
物体を中に配置して、これにより前記スキャニング(scanning)ゾーンに入れる/通すことに関連して、物体の移動を引き起こすステップと;
物体を通しての透過後、そこで直ちに入射放射線の第1の強度データセットを集めるために第1の検出器手段を位置決めし、この種のデータセットを集めるステップと;
物体との前方散乱相互作用の後、そこで直ちに入射放射線の第2の強度データセットを集めるために少なくとも1つの第2の検出器手段を位置決めし、この種のデータセットを集めるステップと;
物体との後方散乱相互作用の後、そこで直ちに入射放射線の第3の強度データセットを集めるために少なくとも1つの第3の検出器手段を位置決めし、この種のデータセットを集めるステップと;
前記ソースのスペクトルの範囲内の少なくとも3つのエネルギーバンドにわたって前記第1の強度データセットを分解し、好ましくは更に、被検物体の放射線吸収挙動に特有の情報を導き出すために前記分解されたデータを数値的に処理するステップと;
前記ソースのスペクトルの範囲内の少なくとも3つのエネルギーバンドにわたって前記第2の強度データセットを分解し、好ましくは更に、被検物体の放射線散乱挙動に特有の情報を導き出すために前記分解されたデータを数値的に処理するステップと;
前記ソースのスペクトルの範囲内の少なくとも3つのエネルギーバンドにわたって前記第3の強度データセットを分解し、好ましくは更に、被検物体の放射線散乱挙動に特有の情報を導き出すために前記分解されたデータを数値的に処理するステップと、
を含む。
放射線源(ソース)と、その間でスキャニング(scanning)ゾーンを規定するために間隔を置かれ、前記ソースのスペクトルの少なくとも一部分にわたってスペクトル的に分解可能な入射放射線に関する情報を検出し収集することのできる第1、第2及び第3の検出器手段を有する放射線検出器システムとを提供するステップと;
物体を中に配置して、これにより前記スキャニング(scanning)ゾーンに入れる/通すことに関連して、物体の移動を引き起こすステップと;
物体を通しての透過後、そこで直ちに入射放射線の第1の強度データセットを集めるために第1の検出器手段を位置決めし、この種のデータセットを集めるステップと;
物体との前方散乱相互作用の後、そこで直ちに入射放射線の第2の強度データセットを集めるために少なくとも1つの第2の検出器手段を位置決めし、この種のデータセットを集めるステップと;
物体との後方散乱相互作用の後、そこで直ちに入射放射線の第3の強度データセットを集めるために少なくとも1つの第3の検出器手段を位置決めし、この種のデータセットを集めるステップと;
前記ソースのスペクトルの範囲内の少なくとも3つのエネルギーバンドにわたって前記第1の強度データセットを分解し、好ましくは更に、被検物体の放射線吸収挙動に特有の情報を導き出すために前記分解されたデータを数値的に処理するステップと;
前記ソースのスペクトルの範囲内の少なくとも3つのエネルギーバンドにわたって前記第2の強度データセットを分解し、好ましくは更に、被検物体の放射線散乱挙動に特有の情報を導き出すために前記分解されたデータを数値的に処理するステップと;
前記ソースのスペクトルの範囲内の少なくとも3つのエネルギーバンドにわたって前記第3の強度データセットを分解し、好ましくは更に、被検物体の放射線散乱挙動に特有の情報を導き出すために前記分解されたデータを数値的に処理するステップと、
を含む。
本発明による検出器システム及び/又は第1の、そして更なる検出器手段のそれぞれは、多元素系を構成している単一の線形又はエリア検出器又は複数の別個の検出器素子を含む。エリア検出器は、別個の検出器要素の2次元配列及び/又は複合要素上の単独でアドレス可能なピクセルの2次元配列で構成され得る。線形検出器は、別個の検出器要素の線形配列及び/又は線形複合要素上の単独にアドレス可能なピクセル配列を含む。検出器は、上記及びラスタ・スキャンのように固有の空間的分解能のあらゆる組合せにもよって少なくとも強度情報の第1及び第2のデータセットを集めるために空間的に入射放射線を分解することが可能であってもよい。
本発明は、スキャニング(scanning)ゾーンにおける物体の構成に関連し得る有用な情報を収集するために、多重スペクトル分解能の原理を利用する。検出器システムは、透過又は散乱する放射線に関する分光学的情報を生成するように構成される。すなわち、検出器は、少なくとも分光学的情報が検索され得るソースの放射線のスペクトルの本質的部分全体に分光学的で多様な反応を示す。複数のエネルギーバンド上の強度データは、分解される。
物体のスキャニング(scanning)の便利さを本文献で述べるが、これが本発明の出願を一つの同質な物体のスキャニング(scanning)に制限することを考えるべきではないと理解される。実際、多くの想定されたアプリケーションのために、「物体」は多数の異質な材料、及び/又はコンテナあるいはその他多数の物品のかたまりからなり、その結果、あらゆる透過放射線経路は、様々な特性を有する多数の異なる材料を通過すると思われる。本発明の特定の効果のうちの一つは、それがこの種の様々な材料の分解を促進することができるということである。
突き詰めれば本発明は、スペクトルの異なる分解された一部にわたる透過/散乱挙動特性に基づいて、収集したデータから材料の識別の改良された指標の数的な導出を可能にする。特定のビーム・ジオメトリは、指示されない。それは、画像を発生させるのに必要ではない。本発明は、本発明が一部を形成する可能性を排除せず、スキャニング(scanning)式画像化システムによって提供される情報を補充するが、この余分な複雑さを必要としない。
場合によっては、本発明がスキャニング(scanning)式画像化システムによって提供される情報を一部分は形成し、補充することは、望ましいかもしれない。この可能な実施態様に従って、検出器手段で集められる入射放射線に関する情報のデータセットは、スキャニング(scanning)ゾーンにおける物体の画像を発生させるために用いる。特に、可能な作動モードで、組合せ画像は、ソースのスペクトル範囲内で複数の周波数バンドにわたって分光学的に分解される各々のデータセットを結合して発生する。このような作動モードが要求される場合、画像作成モジュールは、この種の強度データセットから画像を作成するために提供され得、画像ディスプレイは、画像を表示するために提供され得る。
所与のスキャニング(scanning)イベントのための透過データセットに内在する特性材料データに関する情報、及びそれ故、物体の又は透過パスにおける物体の材料構成は、単一のスキャニング(scanning)イベント、例えばペンシルビーム又は円錐ビームの単一ビームによってスキャン(scan)されている例えば静止物体によって得られる。この種の状況において、本方法は、単に検出器で入射放射線に関する情報のデータのこの種の単一のスキャン(scan)及び一つのデータセットを得るためにスキャニング(scanning)ゾーンにおける物体を配置することを含むだけである。このような簡単な配置は、しばしば好まれる。
任意には、装置は、単一のスキャニング(scanning)位置における物体の透過及び散乱強度データを用いて集めるように構成され、例えば、その内部に又はその上に物体が配置され得るリセプタクル又はプラットフォームのようなスキャニング(scanning)位置の物体を保持する手段を含む。加えて、又はあるいは、それは、このようなスキャニング(scanning)位置内外へ物体を搬送するコンベヤーを含む。
本発明は、現在添付の図面に関してほんの一例として記載されており、
物体をスキャン(scan)して、透過及び散乱放射線を得るために設定された本発明の実施例に従う装置の概略図である。
線形アレー検出器の配置可能性を例示する図である。
線形アレー検出器の配置可能性を例示する図である。
透過及び前方散乱放射線の検出のための検出ゾーンの配置の可能性を例示する平面図である。
後方散乱放射線の検出のための検出ゾーンの配置の可能性を例示する平面図である。
本発明の実施例に従うデータ処理装置の概略図である。
本発明の実施例に従って、データ処理のためのソース・スペクトル及びエネルギーバンドを示す図である。
光電効果の影響を比較しているエネルギーの関数として、水に対して光子横断面を示す図であり、トンプソン(コヒーレント)散乱及びコンプトン(インコヒーレント)散乱を示す。
100mmの水に対して透過カーブを示す図である。
図1を参照すると、適切なX線ソース1は、検出器4の方向にスキャニング(scanning)ゾーンを経てX線を導くために用いられる。
図1において、単一のピクセル検出器4は、直接的な透過位置(すなわち、以上に規定されるように第1の検出器手段として働く)において例示される。散乱検出器は図示されない。検出ゾーン・レベルDZで、それぞれ図解される放射線の前方散乱円錐は、この中心の透過ラインを越えて円形のフットプリントを示す。それぞれ図解される放射線の後方散乱円錐は、放射線ソース1と物体9との間で円形のフットプリントを示す。周知の角度の更なる単一のピクセル検出器又は適当なスキャニング(scanning)パターン上の単一の検出器手段は、後方散乱情報も集めるために使用され得る。
図4において、透過及び前方散乱されたビームを検出するための特に好適な装置が表される。2つの線形アレー検出器18は、示された形における特性前方散乱放射線円19から情報をピックアップするために、スキャニング(scanning)フットプリント・レベルで直交して配置される。
図5において、後方散乱ビーム検出のための特に好適な装置が表され、4つの線形アレー検出器16は、示された形における特性後方散乱放射線円20から情報をピックアップするために、スキャニング(scanning)フットプリント・レベルで直交して配置される。クリアランスは、ソースから物体まで通過する入射ビームのための領域2において提供される。
図6において、上記の装置によって集められるデータの分解の一般の概略図が表される。X線ソース1、そして、第1の検出器手段21aと第2の検出器手段21bの形で横に間隔を置かれた検出器、そして、連携する更なる検出器21cはそれらの間でスキャニング(scanning)ゾーンZを規定する。使用中、スキャン(scan)される物体は、例えば適切なオブジェクト・プラットフォーム又は適切なコンベヤーに配置されるなどの通常の方法でスキャニング(scanning)ゾーンに持って行かれる。
図の例では、材料9の試料は、スキャニング(scanning)ゾーンZに位置する。X線ソースからの入射ビーム11が例示されている。前方散乱ビーム12は、例えばインコヒーレントなコンプトン散乱かもしれない適切なメカニズムによって散乱され、第1の検出器手段21a上に入射される。透過ビーム13は、検出器手段21bに入射される。後方散乱ビーム15は、検出器手段21cに入射される。好ましい実施例の検出器手段は、テルル化カドミウム検出器ユニットの線形アレーを含む。
計算モジュール24は、強度変化を分光学的に異なる形で透過及び散乱する強度に影響を及ぼす放射線相互作用プロセスの多様性に対して、最初の放射線エネルギー・スペクトルと関連づける、周知の物理的な関係を利用している本発明の一般の原則に従って、数値分析を実行する。これらの周知の関係は、データレジスタ25の前に格納された参照データに関して材料組成に関連する情報を導き出すことが可能である特有の材料特性データを生成するために用いられ得る。そのように発生する結果としてのデータは、あらゆる適切な方法においてスキャニング(scanning)システムのユーザに、例えばディスプレイ27を経て又は他の適切な警報システムによって識別され得る。データ処理のいずれかもしくは装置の記憶要素は、例えばプロセッサ22、データレジスタ23、計算モジュール24及びデータレジスタ25の一つ以上を含んで、例えば専用又は汎用のコンピュータなど、最適にプログラムされたデータ処理装置手段によって提供されることができる。
実施例に従って、この種の各々のスキャニング(scanning)イベントのために、この種の分解された強度データ項目測定値、及び例えば連続した強度データ項目測定値の少なくとも2つの対の比率は、この種の強度パターンを作り出すのに必要な質量減衰係数と相関し得る代表的な情報を提供するために、数値的に得られる。所与のスキャニング(scanning)イベントと関連する大部分の変数は、ソースからの入射放射線の周波数/エネルギーに関して一定である。しかしながら、質量減衰係数は、特徴的な方法でエネルギーによって変動する。少なくとも2つの比率を生み出すために所与のスキャニング(scanning)イベントのための少なくとも3つの異なるエネルギーバンドにわたる強度データ上のこの種の比率分析を実行することによって、質量減衰係数と入射放射線エネルギーの間の関数関係を代表するデータが取得され得る。このように、所与のスキャニング(scanning)イベントに対して供試材料を通して透過パスに適用できる特定の質量減衰係数に関する推論は、導き出すことが可能である。比較は、それから、何がスキャン(scan)されているかというより代表的な指標を与えるために、異なる材料及び/又は目標物のための質量減衰係数のデータ典型の適切なデータベースにされる。
Claims (22)
- 物体の構成に関する情報を決定するために物体から放射線相互作用データを得る装置であって、
放射線の単一ペンシルビームを生成するように構成される放射線ソースと、
スキャニング(scanning)ゾーンが規定され、該スキャニング(scanning)ゾーンにおける前記単一ペンシルビームによる物体との相互作用の後で入射される放射線に関する情報を当該装置の使用中に集めるために前記放射線ソースとの間に間隔を置かれ、入射される放射線について分光学的に分解可能な情報を検出して収集することができる放射線検出器システムと、
前記スキャニング(scanning)ゾーンの範囲内で、固定されたスキャニング(scanning)位置に物体を保持する手段と、を含み、
前記放射線検出器システムは、静止している物体への前記単一ペンシルビームによる透過後に入射される放射線の第1の強度データセットを集めるために前記放射線ソースと該物体と一直線上に位置される第1の検出器手段と、該物体との前方散乱相互作用の後に入射される放射線の第2の強度データセットを集めるために前記第1の検出器手段と同一平面上で前記放射線ソースと該物体と一直線上の位置近傍から外側の部分に位置される第2の検出器手段と、
を含み、
そして、当該装置は、
前記放射線ソースのスペクトルの範囲内で少なくとも3つのエネルギーバンドにわたって前記第1の強度データセットを分解するように構成される第1のデータ処理モジュールと、
前記放射線ソースのスペクトルの範囲内で少なくとも3つのエネルギーバンドにわたって前記第2の強度データセットを分解するように構成される第2のデータ処理モジュールと、
を更に含む装置。 - 物体の構成に関する情報を決定するために物体から放射線相互作用データを得る装置であって、
放射線の単一ペンシルビームを生成するように構成される放射線ソースと、
スキャニング(scanning)ゾーンが規定され、該スキャニング(scanning)ゾーンにおける前記単一ペンシルビームによる物体との相互作用の後で入射される放射線に関する情報を当該装置の使用中に集めるために前記放射線ソースとの間に間隔を置かれ、入射される放射線について分光学的に分解可能な情報を検出して収集することができる放射線検出器システムと、
前記スキャニング(scanning)ゾーンの範囲内で、固定されたスキャニング(scanning)位置に物体を保持する手段と、
を含み、
前記放射線検出器システムは、静止している物体への前記単一ペンシルビームによる透過後に入射される放射線の第1の強度データセットを集めるために前記放射線ソースと該物体と一直線上に位置される第1の検出器手段と、該物体との前方散乱相互作用の後に入射される放射線の第2の強度データセットを集めるために前記第1の検出器手段と同一平面上で前記放射線ソースと物体と一直線上の位置近傍から外側の部分に位置される第2の検出器手段と、該物体との後方散乱相互作用の後に入射される放射線の第3の強度データセットを集めるために前記放射線ソースと該物体の間で前記放射線ソースと該物体と一直線上の位置近傍から外側の部分に位置される第3の検出器手段と、
を含み、
そして、当該装置は、
前記放射線ソースのスペクトルの範囲内で少なくとも3つのエネルギーバンドにわたって前記第1の強度データセットを分解するように構成される第1のデータ処理モジュールと、
前記放射線ソースのスペクトルの範囲内で少なくとも3つのエネルギーバンドにわたって前記第2の強度データセットを分解するように構成される第2のデータ処理モジュールと、
前記放射線ソースのスペクトルの範囲内で少なくとも3つのエネルギーバンドにわたって前記第3の強度データセットを分解するように構成される第3のデータ処理モジュールと、
を更に含む装置。 - 各々のデータ処理モジュールが、少なくとも一部の互いに密接に対応するエネルギーバンドにわたってそれぞれの強度データセットを分解するように構成される、請求項1又は2に記載の装置。
- 各々のデータ処理モジュールは、各々の強度データセットのうちの、少なくとも一部の分解されたエネルギーバンドにわたってエネルギー分解されたデータセットを分析し、そこから物体及び/又は物体を含む材料の放射線吸収挙動に特有の情報を数値的に導き出す分析モジュールをさらに含む、請求項1〜3いずれかに記載の装置。
- 前記分析モジュールは、物体及び/又は物体を含む材料の放射線散乱挙動に特有の情報でなる組合せ分析情報から数値的に導き出すために、少なくとも一部の分解されたエネルギーバンドにわたって数値的に一緒に複数のエネルギー分解されたデータセットを分析する手段を含む、請求項4に記載の装置。
- 前記放射線検出器システムは、線形検出器を含み、
前記第1の検出器手段は、前記線形検出器の第1部分で構成され、
前記第2の検出器手段は、前記線形検出器の前記第1部分以外の残りの部分である第2部分で構成される、請求項1に記載の装置。 - 前記線形検出器は、互いに直交して配置される2つの線形検出器を含む、請求項6に記載の装置。
- 前記放射線検出器システムは、第1及び第2の線形検出器を含み、
前記第1の検出器手段は、前記第1の線形検出器の第1部分で構成され、
前記第2の検出器手段は、前記第1の線形検出器の前記第1部分以外の残りの部分である第2部分で構成され、
前記第3の検出器手段は、前記第2の線形検出器で構成される、請求項2に記載の装置。 - 前記第1の線形検出器は、互いに直交して配置される2つの線形検出器を含み、かつ
前記第2の線形検出器は、互いに直交して配置される2つの線形検出器を含む、請求項8に記載の装置。 - 前記放射線ソースは、
X線、ガンマ線、亜原子粒子放射線のうちの少なくとも一つで、高エネルギー電磁放射から選ばれる高エネルギーの放射線を供給するソースを含み、前記放射線検出器システムは、スペクトルの放射線を検出するように対応して構成されている、請求項1〜9いずれかに記載の装置。 - 前記放射線ソースにおいて、放射線の単一ペンシルビームを生じさせるために前記放射線ソースからの放射線をコリメートするコリメータを更に含む、請求項1〜10いずれかに記載の装置。
- 前記放射線検出器システムにおける各々の線形検出器は、前記放射線ソースのスペクトルの少なくとも一部にわたって分光学的に多様な反応を示すことが本質的に可能な材料から作られる、請求項1〜11いずれかに記載の装置。
- 前記放射線検出器システムにおける各々の線形検出器は、テルル化カドミウム、テルル化カドミウム亜鉛(CZT)、テルル化カドミウムマンガン(CMT)、ゲルマニウム、臭化ランタン、臭化トリウムから選択される半導体材料を含む、請求項12に記載の装置。
- 前記放射線検出器システムにおける各々の線形検出器は、II−VI族半導体材料を含んでいるバルク結晶として形成される材料を含む、請求項12又は13に記載の装置。
- 前記スキャニング(scanning)位置に物体を保持する手段は、物体を設置することのできるレセプタクル又はプラットフォームを含む、請求項1〜14いずれかに記載の装置。
- 物体の構成に関する情報を決定するために物体から放射線相互作用データを得る方法であって、
放射線の単一ペンシルビームを生成するように構成される放射線ソースと、該放射線ソースとの間でスキャニング(scanning)ゾーンを規定するために間隔を置かれ、入射される放射線に関し、前記放射線ソースのスペクトルの少なくとも一部分にわたってスペクトル的に分解可能な情報を検出し収集することのできる第1の検出器手段及び第2の検出器手段を有する放射線検出器システムとを提供するステップを有し、
前記放射線検出器システムは、静止している物体への前記単一ペンシルビームによる透過後に入射される放射線の第1の強度データセットを集めるために前記放射線ソースと該物体と一直線上に位置される第1の検出器手段と、該物体との前方散乱相互作用の後に入射される放射線の第2の強度データセットを集めるために前記第1の検出器手段と同一平面上で前記放射線ソースと該物体と一直線上の位置近傍から外側の部分に位置される第2の検出器手段と、を含み、
物体をスキャニング(scanning)ゾーンに配置し、前記ペンシルビームでスキャン(scan)されるべく、静止している物体を保持するステップと、
物体に対して前記第1及び第2の検出器手段を位置決めし、前記単一ペンシルビームによる物体との相互作用の後で、前記第1の強度データセット及び前記第2の強度データセットを集めるステップと、
前記放射線ソースのスペクトルの範囲内の少なくとも3つのエネルギーバンドにわたって前記第1の強度データセットを分解するステップと、
前記放射線ソースのスペクトルの範囲内の少なくとも3つのエネルギーバンドにわたって前記第2の強度データセットを分解するステップと、
を含む、方法。 - 物体の構成に関する情報を決定するために物体から放射線相互作用データを得る方法であって、
放射線の単一ペンシルビームを生じさせるように構成される放射線ソースと、該放射線ソースとの間でスキャニング(scanning)ゾーンを規定するために間隔を置かれ、入射される放射線に関し、前記放射線ソースのスペクトルの少なくとも一部分にわたってスペクトル的に分解可能な情報を検出し収集することのできる第1の検出器手段、第2の検出器手段及び第3の検出器手段を有する放射線検出器システムとを提供するステップを有し、
前記放射線検出器システムは、静止している物体への前記単一ペンシルビームによる透過後に入射される放射線の第1の強度データセットを集めるために前記放射線ソースと該物体と一直線上に位置される第1の検出器手段と、該物体との前方散乱相互作用の後に入射される放射線の第2の強度データセットを集めるために前記第1の検出器手段と同一平面上で前記放射線ソースと該物体と一直線上の位置近傍から外側の部分に位置される第2の検出器手段と、該物体との後方散乱相互作用の後に入射される放射線の第3の強度データセットを集めるために前記放射線ソースと該物体の間で前記放射線ソースと該物体と一直線上の位置近傍から外側の部分に位置される第3の検出器手段と、を含み、
物体をスキャニング(scanning)ゾーンに配置し、前記ペンシルビームでスキャン(scan)されるべく、静止している物体を保持するステップと、
物体に対して前記第1、第2及び第3の検出器手段を位置決めし、前記単一ペンシルビームによる物体との相互作用の後で、前記第1の強度データセット、前記第2の強度データセット及び前記第3の強度データセットを集めるステップと、
前記放射線ソースのスペクトルの範囲内の少なくとも3つのエネルギーバンドにわたって前記第1の強度データセットを分解するステップと、
前記放射線ソースのスペクトルの範囲内の少なくとも3つのエネルギーバンドにわたって前記第2の強度データセットを分解するステップと、
前記放射線ソースのスペクトルの範囲内の少なくとも3つのエネルギーバンドにわたって前記第3の強度データセットを分解するステップと、
を含む、方法。 - 前記物体の放射線の吸収及び/又は散乱挙動に特有の情報をそこから導き出すために、各々の強度データセットの分解されたデータを数値的に処理する更なるステップを含む、請求項16又は17に記載の方法。
- 各々分解された強度データセットは、前記物体に対する予測強度が前記物体の材料組成を表す出力結果をもたらすために材料組成のある態様に関係し得る該強度データセット各々の適切な関係に関連して、数値的に処理される、請求項18に記載の方法。
- 各々の強度データセットの分解されたデータは、同時に、数値的に処理される、請求項19に記載の方法。
- 前記静止している物体を保持するステップは、前記スキャニング(scanning)ゾーンの範囲内で、固定されたスキャニング(scanning)位置に物体を保持する手段を有し、該手段に物体を設置することを含む請求項16〜20の一つに記載の方法。
- 前記固定されたスキャニング(scanning)位置に物体を保持する手段は、物体が設置され得るリセプタクル又はプラットフォームを含む請求項21に記載の方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB0823093.0 | 2008-12-19 | ||
GBGB0823093.0A GB0823093D0 (en) | 2008-12-19 | 2008-12-19 | Apparatus and method for characterisation of materials |
PCT/GB2009/051705 WO2010070327A1 (en) | 2008-12-19 | 2009-12-14 | Apparatus and method for characterisation of materials |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012513023A JP2012513023A (ja) | 2012-06-07 |
JP2012513023A5 true JP2012513023A5 (ja) | 2014-10-09 |
Family
ID=40343813
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011541594A Pending JP2012513023A (ja) | 2008-12-19 | 2009-12-14 | 材料の特性評価のための装置及び方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8781072B2 (ja) |
EP (1) | EP2373982A1 (ja) |
JP (1) | JP2012513023A (ja) |
CN (1) | CN102257380A (ja) |
GB (1) | GB0823093D0 (ja) |
WO (1) | WO2010070327A1 (ja) |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7963695B2 (en) | 2002-07-23 | 2011-06-21 | Rapiscan Systems, Inc. | Rotatable boom cargo scanning system |
US9310323B2 (en) | 2009-05-16 | 2016-04-12 | Rapiscan Systems, Inc. | Systems and methods for high-Z threat alarm resolution |
CN102884422B (zh) * | 2010-02-25 | 2016-09-28 | 拉皮斯坎系统股份有限公司 | 用以确定物质的原子序数的、高能量x射线的基于光谱学的检查系统和方法 |
US9218933B2 (en) | 2011-06-09 | 2015-12-22 | Rapidscan Systems, Inc. | Low-dose radiographic imaging system |
CA2863382C (en) | 2011-06-09 | 2017-06-27 | Rapiscan Systems, Inc. | System and method for x-ray source weight reduction |
US9432587B1 (en) | 2012-05-10 | 2016-08-30 | Lockheed Martin Corporation | Near-field enhanced photon conversion |
US9521336B1 (en) | 2012-05-10 | 2016-12-13 | Lockheed Martin Corporation | Multi-spectral photon converting imaging apparatus |
KR101378757B1 (ko) | 2012-08-30 | 2014-03-27 | 한국원자력연구원 | 물질 원소 정보 획득 및 영상 차원의 선택이 가능한 방사선 영상화 장치 |
DE102012017872A1 (de) * | 2012-09-06 | 2014-05-15 | Technische Universität Dresden | Verfahren und Vorrichtung zur bildgebenden Prüfung von Objekten mit Röntgenstrahlung |
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GB201220418D0 (en) * | 2012-11-13 | 2012-12-26 | Kromek Ltd | Identification of materials |
US9535016B2 (en) * | 2013-02-28 | 2017-01-03 | William Beaumont Hospital | Compton coincident volumetric imaging |
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US9557427B2 (en) | 2014-01-08 | 2017-01-31 | Rapiscan Systems, Inc. | Thin gap chamber neutron detectors |
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EP3745442A1 (en) * | 2019-05-29 | 2020-12-02 | FEI Company | Method of examining a sample using a charged particle microscope |
GB2586487B (en) * | 2019-08-21 | 2024-03-06 | Bae Systems Plc | Materials Classifier |
Family Cites Families (35)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP5054518B2 (ja) | 2004-07-08 | 2012-10-24 | パスポート システムズ, インク. | 物質の平均原子番号及び質量を求めるための方法及びシステム |
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-
2008
- 2008-12-19 GB GBGB0823093.0A patent/GB0823093D0/en not_active Ceased
-
2009
- 2009-12-14 EP EP09801766A patent/EP2373982A1/en not_active Withdrawn
- 2009-12-14 CN CN2009801512767A patent/CN102257380A/zh active Pending
- 2009-12-14 US US13/140,491 patent/US8781072B2/en active Active
- 2009-12-14 WO PCT/GB2009/051705 patent/WO2010070327A1/en active Application Filing
- 2009-12-14 JP JP2011541594A patent/JP2012513023A/ja active Pending
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