JP5547628B2 - エネルギ分散x線低減に対するブラッグ散乱の寄与を評価することによる材料の検査 - Google Patents
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- 239000000463 material Substances 0.000 title claims description 45
- 230000009467 reduction Effects 0.000 title claims description 19
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 51
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 43
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 41
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 30
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 18
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 16
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 15
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 9
- MARUHZGHZWCEQU-UHFFFAOYSA-N 5-phenyl-2h-tetrazole Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=NNN=N1 MARUHZGHZWCEQU-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- QWUZMTJBRUASOW-UHFFFAOYSA-N cadmium tellanylidenezinc Chemical compound [Zn].[Cd].[Te] QWUZMTJBRUASOW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 230000005670 electromagnetic radiation Effects 0.000 claims description 5
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 5
- QDOSJNSYIUHXQG-UHFFFAOYSA-N [Mn].[Cd] Chemical compound [Mn].[Cd] QDOSJNSYIUHXQG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims description 3
- 239000013070 direct material Substances 0.000 claims description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 3
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 claims description 3
- CEKJAYFBQARQNG-UHFFFAOYSA-N cadmium zinc Chemical compound [Zn].[Cd] CEKJAYFBQARQNG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 230000009102 absorption Effects 0.000 description 8
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 8
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 8
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 5
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 5
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 description 5
- 239000013077 target material Substances 0.000 description 5
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 4
- 238000012216 screening Methods 0.000 description 4
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 3
- 230000005251 gamma ray Effects 0.000 description 3
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 3
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- TZRXHJWUDPFEEY-UHFFFAOYSA-N Pentaerythritol Tetranitrate Chemical compound [O-][N+](=O)OCC(CO[N+]([O-])=O)(CO[N+]([O-])=O)CO[N+]([O-])=O TZRXHJWUDPFEEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000002083 X-ray spectrum Methods 0.000 description 2
- 230000003466 anti-cipated effect Effects 0.000 description 2
- 238000003491 array Methods 0.000 description 2
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 2
- 239000002178 crystalline material Substances 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000002552 dosage form Substances 0.000 description 2
- 239000002360 explosive Substances 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 238000013507 mapping Methods 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 239000012925 reference material Substances 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 238000012512 characterization method Methods 0.000 description 1
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 1
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
- 239000006071 cream Substances 0.000 description 1
- 238000002059 diagnostic imaging Methods 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 239000003814 drug Substances 0.000 description 1
- 229940079593 drug Drugs 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000013213 extrapolation Methods 0.000 description 1
- 238000009472 formulation Methods 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 1
- 238000011838 internal investigation Methods 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- XKUYOJZZLGFZTC-UHFFFAOYSA-K lanthanum(iii) bromide Chemical compound Br[La](Br)Br XKUYOJZZLGFZTC-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 239000010985 leather Substances 0.000 description 1
- 239000011572 manganese Substances 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 description 1
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 1
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 description 1
- 230000002285 radioactive effect Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 239000000344 soap Substances 0.000 description 1
- 238000011895 specific detection Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- OMDXFCRSKHYDTM-UHFFFAOYSA-J thorium(4+);tetrabromide Chemical compound Br[Th](Br)(Br)Br OMDXFCRSKHYDTM-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 1
- 238000003325 tomography Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
- G01N23/207—Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions
- G01N23/2076—Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions for spectrometry, i.e. using an analysing crystal, e.g. for measuring X-ray fluorescence spectrum of a sample with wavelength-dispersion, i.e. WDXFS
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01V—GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
- G01V5/00—Prospecting or detecting by the use of ionising radiation, e.g. of natural or induced radioactivity
- G01V5/20—Detecting prohibited goods, e.g. weapons, explosives, hazardous substances, contraband or smuggled objects
- G01V5/22—Active interrogation, i.e. by irradiating objects or goods using external radiation sources, e.g. using gamma rays or cosmic rays
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- Health & Medical Sciences (AREA)
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- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Geophysics (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
nλ=2dsinθ
nは整数である(回折次数)
λは回折光線の波長
dは原子格子パラメータ
θは回折角度
Claims (17)
- 対象物の放射線透過データを取得する方法であって、
高エネルギイオン化電磁放射線のソース、およびそのソースから間隔を置かれた放射線検出器システムを、それらの間にあるスキャン領域を画定するために、提供する工程であって、前記検出器システムは、入射放射線についての、分光的に分解可能な情報を検出し収集することができる、工程と、
前記検出器において入射する放射線と、ならびに、対象物を介して透過され、前記検出器システムにおいて受け取られる放射線から、少なくとも1つ、および好ましくは複数のスキャン位置において、前記スキャン領域における前記対象物の透過率とについての情報のデータセットを収集する工程と、
前記ソースのスペクトル内にて、複数の周波数帯に亘り、分光的にその各々のデータセットを分解する工程と、を含み、
前記複数の周波数帯のうちの少なくとも1つが、識別される標的種の特徴的な、ブラッグ散乱した波長に対応し、前記対応する周波数を含む、前記複数の周波数帯のうちの少なくとも1つの周波数帯での透過された信号の強度の不在または著しい低減が、前記標的種の存在として解釈され、
前記検出器は、直接材料特性として、前記ソーススペクトルの異なる部分への直接の可変の光電応答を本質的に示すように選択された材料から作られる分光的な分解能を生成するように適合され、
前記検出器は、テルル化カドミウム、テルル化カドミウム亜鉛(CZT)、テルル化カドミウムマンガン(CMT)、およびそれらの合金から選択された半導体材料を有する、方法。 - 少なくとも1つの周波数帯が割り当てられ、これが、特定の標的種に対して、特徴的な一次ブラッグ散乱条件に対応する、請求項1に記載の方法。
- 少なくとも1つの周波数帯が割り当てられ、これが、特徴的な低次ブラッグ散乱に対応する、請求項1または2に記載の方法。
- 特徴的な周波数帯における振幅の低減が、透過されたスペクトル全体との比較によって、および/または、事前に記録されたソーススペクトルとの比較によって、数値的に決定され、前記標的種の存在を示す結果が、その結果として生成される、請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の方法。
- 前記検出器において収集された放射線入射についての情報の前記データセットが、前記スキャン領域において、対象物の画像を生成するために用いられる、請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の方法。
- 生成された画像または複数の画像を表示するさらなる工程を含む、請求項5に記載の方法。
- 連続した画像が生成され、その各々の画像が、前記ソースのスペクトル内において、複数の周波数帯に亘り、分光的に分解され、その複数の周波数帯のうちの少なくとも1つは、標的種の、特徴的な散乱周波数に対応し、その複数の周波数帯のうちの少なくとも1つは画像を生成するために用いられる、請求項5または請求項6に記載の方法。
- 前記ソースのスペクトル内において、複数の周波数帯は、複数の特徴的な周波数帯に対応するように別個に規定され、各々は、その周波数帯内で、特定の標的種の特徴的な散乱周波数に対応し、かつそれを含み、前記ソース内で、さらなる複数の周波数帯が割り当てられ、一連のエネルギ差異化された画像を生成する、請求項7に記載の方法。
- 画像化周波数帯の数は、有利には、2から10である、請求項8に記載の方法。
- ラインスキャンの原理で動作する、請求項1から請求項9のいずれか一項に記載の方法であって、X線ソース、およびそのソースから間隔を置かれたX線検出器システムを、それらの間にあるスキャン領域を画定するために、提供する工程であって、前記検出器システムは、入射X線についての、分光的に分解可能な情報を生成することができる、少なくとも1つ、および好ましくは複数の線形アレイ検出器を備える、工程と、対象物を、前記スキャン領域に対して移動させ、通過させる工程と、請求項1から請求項9のいずれか一項に従って、結果として透過されたデータを分解する工程と、を含む方法。
- 対象物をスキャンし、放射線透過データを取得する装置であって、
高エネルギイオン化電磁放射線のソース、およびそのソースから間隔を置かれた放射線検出器システムであってそれらの間にあるスキャン領域を画定する、システムであって、使用時に、前記検出器において入射する放射線、ならびに、少なくとも1つ、および好ましくは複数のスキャン位置において、前記スキャン領域における対象物の透過率についての情報のデータセットを収集する、ソースおよびシステムと、
前記ソースのスペクトル内において、複数の周波数帯に亘り、その各々のデータセットを分光的に処理し分解するためのデータ処理装置であって、前記複数の周波数帯のうちの少なくとも1つは、識別される標的種の特徴的なブラッグ散乱波長に対応する、装置と、
前記対応する周波数を含む、前記複数の周波数帯のうちの少なくとも1つの周波数帯での透過された信号の強度の不在または著しい低減を識別し、前記標的種の存在の指示として、その結果を出力する比較器と、を備え、
前記検出器は、直接材料特性として、前記ソーススペクトルの異なる部分への直接の可変の光電応答を本質的に示すように選択された材料から作られる分光的な分解能を生成するように適合され、
前記検出器は、テルル化カドミウム、テルル化カドミウム亜鉛(CZT)、テルル化カドミウムマンガン(CMT)、およびそれらの合金から選択された半導体材料を有する、
装置。 - スキャン位置に対象物を保持する手段ならびに/またはそのスキャン位置へおよびそのスキャン位置から対象物を運搬するコンベヤーを含む、請求項11に記載の装置。
- 使用時に、対象物を前記スキャン領域に対して移動させ、通過させるための対象物ハンドラを含む、請求項11または12に記載の装置。
- 使用時に、前記スキャン領域において、対象物の少なくとも1つの画像のデータを収集し、前記検出器システムの前記出力から少なくとも第1の画像を生成するために、前記検出器と共動可能なように適合された画像生成装置をさらに含む、請求項11から請求項13のいずれか一項に記載の装置。
- 少なくとも前記第1の画像を表示するように適合された画像表示手段をさらに含む、請求項14に記載の装置。
- ラインスキャンの原理で動作する、請求項11から請求項15のいずれか一項に記載の装置であって、X線ソース、およびそのソースから間隔を置かれたX線検出器システムであってそれらの間にあるスキャン領域を画定する、X線検出器システムを備え、前記検出器システムは、入射X線についての、分光的に分解可能な情報を生成することができる、少なくとも1つ、および好ましくは複数の線形アレイ検出器を備える、請求項11から請求項15のいずれか一項に記載の装置。
- 前記放射線ソースはカーテンビームX線ソースである、請求項16に記載の装置。
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB0709436A GB0709436D0 (en) | 2007-05-17 | 2007-05-17 | Method and apparatus for inspection of materials |
GB0709436.0 | 2007-05-17 | ||
GB0717498A GB0717498D0 (en) | 2007-09-08 | 2007-09-08 | Method and apparatus for inspection of materials |
GB0717498.0 | 2007-09-08 | ||
PCT/GB2008/050360 WO2008142448A2 (en) | 2007-05-17 | 2008-05-19 | Inspection of materials by evaluating, the contribution of bragg scattering to energy dispersive x-ray attenuation |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010527446A JP2010527446A (ja) | 2010-08-12 |
JP5547628B2 true JP5547628B2 (ja) | 2014-07-16 |
Family
ID=39865053
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010507991A Active JP5547628B2 (ja) | 2007-05-17 | 2008-05-19 | エネルギ分散x線低減に対するブラッグ散乱の寄与を評価することによる材料の検査 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7693261B2 (ja) |
EP (1) | EP2147297B1 (ja) |
JP (1) | JP5547628B2 (ja) |
ES (1) | ES2554382T3 (ja) |
WO (1) | WO2008142448A2 (ja) |
Families Citing this family (43)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7963695B2 (en) | 2002-07-23 | 2011-06-21 | Rapiscan Systems, Inc. | Rotatable boom cargo scanning system |
WO2010025539A1 (en) | 2008-09-05 | 2010-03-11 | Optosecurity Inc. | Method and system for performing x-ray inspection of a liquid product at a security checkpoint |
JP5559471B2 (ja) * | 2008-11-11 | 2014-07-23 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線検出装置、放射線画像取得システム、放射線検査システム、及び放射線検出方法 |
EP2370836B1 (en) * | 2008-11-25 | 2018-05-30 | Koninklijke Philips N.V. | Spectral imaging |
GB0823093D0 (en) | 2008-12-19 | 2009-01-28 | Durham Scient Crystals Ltd | Apparatus and method for characterisation of materials |
WO2010147681A2 (en) | 2009-02-05 | 2010-12-23 | Temple University Of The Commonwealth System Of Higher Education | Systems and methods for detecting concealed nuclear material |
US8705692B2 (en) * | 2009-05-12 | 2014-04-22 | Nutech Ventures, Inc. | Laser-based accelerator for interrogation of remote containers |
US9310323B2 (en) | 2009-05-16 | 2016-04-12 | Rapiscan Systems, Inc. | Systems and methods for high-Z threat alarm resolution |
WO2010145016A1 (en) * | 2009-06-15 | 2010-12-23 | Optosecurity Inc. | Method and apparatus for assessing the threat status of luggage |
EP2459990A4 (en) | 2009-07-31 | 2017-08-09 | Optosecurity Inc. | Method and system for identifying a liquid product in luggage or other receptacle |
AU2010282784C1 (en) * | 2009-08-13 | 2014-03-13 | Siemens Healthcare Diagnostics Inc. | Methods and apparatus for ascertaining interferents and physical dimensions in liquid samples and containers to be analyzed by a clinical analyzer |
FR2953603A1 (fr) * | 2009-12-09 | 2011-06-10 | Commissariat Energie Atomique | Procede et dispositif de reconnaissance d'un materiau a l'aide de sa fonction de transmission |
EP2524208B1 (en) * | 2010-01-12 | 2021-09-29 | Kromek Limited | Cross calibaration of two energy dispersive x-ray baggage screening systems including transformation of the reference database |
US8713131B2 (en) | 2010-02-23 | 2014-04-29 | RHPiscan Systems, Inc. | Simultaneous image distribution and archiving |
GB2491064A (en) * | 2010-02-23 | 2012-11-21 | Rapiscan Systems Inc | Simultaneous image distribution and archiving |
US8750454B2 (en) * | 2010-02-25 | 2014-06-10 | Rapiscan Systems, Inc. | High-energy X-ray-spectroscopy-based inspection system and methods to determine the atomic number of materials |
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-
2008
- 2008-05-16 US US12/152,863 patent/US7693261B2/en active Active
- 2008-05-19 ES ES08750755.4T patent/ES2554382T3/es active Active
- 2008-05-19 EP EP08750755.4A patent/EP2147297B1/en active Active
- 2008-05-19 JP JP2010507991A patent/JP5547628B2/ja active Active
- 2008-05-19 WO PCT/GB2008/050360 patent/WO2008142448A2/en active Application Filing
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2008142448A2 (en) | 2008-11-27 |
JP2010527446A (ja) | 2010-08-12 |
US20080283761A1 (en) | 2008-11-20 |
US7693261B2 (en) | 2010-04-06 |
ES2554382T3 (es) | 2015-12-18 |
EP2147297B1 (en) | 2015-09-30 |
WO2008142448A9 (en) | 2009-11-12 |
WO2008142448A4 (en) | 2009-03-05 |
EP2147297A2 (en) | 2010-01-27 |
WO2008142448A3 (en) | 2009-01-15 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120925 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20130827 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
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|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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|
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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