CN111694046B - 一种单能γ装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种可产生系列单能γ的辐照装置,属于核技术应用技术领域;该装置包括贮源井、准直光阑、多个放射源、散射靶、散射陷阱、快门和屏蔽体。本发明提高了辐射场的强度、射线品质(能量单一性好)和装置的经济性,并且实现了探测器的固定,使得精密实验可行。
Description
技术领域
本发明属于核技术应用技术领域,具体涉及一种单能γ装置。
背景技术
γ射线(或X射线)是短波长的电磁波,同时具备粒子特性,有很强的穿透力,工业中可用来探伤或流水线的自动控制,γ射线对细胞有杀伤力,医疗上用来治疗肿瘤。利用探测器监测γ射线强度,能够保证装置的安全性和实验数据的有效性。射线装置通常含有各种能量的γ射线,分布在几十keV~几个MeV范围。对1MeV以下γ射线,探测器的灵敏度具有较为明显的能量依赖性,使用前需刻度能响曲线。常用的能响曲线的获得方法是,利用系列能量点的装置,标定相应能点的灵敏度,然后拟合出能响曲线。现有的单能γ或X光实验条件包括,利用X光机完成几十~200keV范围的实验,利用铯-137源和钴-60源分别完成662keV和1.25MeV的实验,300keV~660MeV范围的单能γ实验条件较为缺乏。目前较为可行的方法是,对强钴-60源(准单能,1.25MeV)进行康普顿散射分光,在不同散射角条件下,获得350keV~660keV范围的系列准单能γ射线。特定散射角度θ条件下,散射γ光子能量Eγ的计算公式为
式中,E为初始γ光子的能量;me为电子质量;c为光速。信噪比和能量弥散度,可表征γ束流的品质。对上述康普顿散射装置,信噪比定义为,有、无散射靶片条件下γ光子注量率的比值。能量弥散度定义为,γ能谱图中(横轴:γ光子能量,纵轴:γ光子计数),半高宽能量与峰值能量的比值。
公开号为CN103091699A的专利提供了一种散射法测量强γ射线能谱的装置及方法”,其利用单枚强钴源,通过转动探测器,调整散射角,获得了350keV~660keV范围内的单能γ射线。然而此类技术方案的不足之处在于:
1)仅使用单枚辐射源,散射γ射线强度较低,最高注量率约为105cm-2·s-1,极大的限制了低灵敏度探测器标定实验的开展;
2)实验中,需转动探测来调整散射角度,运动过程中的振动,可能改变探测器的装配状态,如配件移位等,但转动探测器不利于精密探测器的标定实验;
3)为提高散射γ的能量单一性,使用高比活度(几百居里每克)、小尺寸的高比活度源,减小源几何尺寸引入的能量弥散度,这类放射源的价格昂贵,为工业源(几十居里每克)的数十~数百倍,装置经济性不高;
4)为限制屏蔽体的重量,使用小规格源仓,几个厘米,仓壁反散射引入的杂散γ较多,增大了单能γ射线的能量弥散度。
综上,对上述多能点γ射线装置而言,目前的技术方案主要存在以下不足:350keV~660keV范围单能γ的强度不够;原料价格高;γ束流信噪比较低;需转动探测来调整散射角度,不利于精密实验。
发明内容
有鉴于此,本发明旨在提出一种改进的单能γ装置,本装置可产生系列单能γ,提高了辐射场的强度、射线品质(能量单一性好)和装置的经济性,并且实现了探测器的固定,使得精密实验可行。
本发明具体采用如下技术方案:
一种单能γ装置,其特征在于,该装置包括贮源井、准直光阑、多个放射源、散射靶、散射陷阱、快门和屏蔽体;所述的贮源井位于承重地面的下方,贮源井的上边沿与承重地面平齐;所述的散射陷阱和屏蔽体依次安装于贮源井内,所述的屏蔽体的外侧面与贮源井相接触,屏蔽体的顶端面与承重地面平齐;所述的屏蔽体的中部具有竖直通孔,准直光阑位于屏蔽体的通孔内,准直光阑的外侧面与屏蔽体的通孔相接触;所述准直光阑的内部有一竖直通孔,准直光阑的通孔连通散射陷阱和γ装置的外部;所述的准直光阑的竖直中线、屏蔽体的竖直中线及散射陷阱的竖直中线相重合;所述的散射陷阱的顶面与屏蔽体、准直光阑的底面相接触;所述的快门的底面与准直光阑的顶面相接,快门的中部有一竖直通孔,快门通孔与准直光阑通孔的中线重合、半径相同;所述的散射靶位于散射陷阱的竖直中线上、靠近准直光阑通孔的位置。
进一步,所述的散射陷阱上部为锥形结构,下部为圆柱体结构,所述的放射源大致均布于散射陷阱上部与下部的交接处、且靠近外侧面的位置。
进一步,所述的准直光阑的材质为钨合金,其内侧有一组“梳状”的凹槽。
进一步,所述的快门的材质为钨合金,其内侧有一组“梳状”的凹槽;所述的快门可沿准直光阑的顶端面做水平滑动,实现γ束流的开启和关闭。
进一步,所述的散射靶为铜质薄靶;所述的散射靶可沿散射陷阱的中线上下移动,从而改变散射角,获得不同能量的单能γ射线。
进一步,所述的放射源为强钴-60源。
进一步,其特征在于,所述的放射源均布在以沿散射陷阱中线为轴的圆环上。
进一步,其特征在于,所述的散射陷阱的高度为准直光阑厚度的4倍及以上。
本发明的单能γ装置具有如下有益效果:
本发明使用“圆周式”排布的多枚放射源,提高了单能γ束流的强度;使用工业级、低比活度钴-60源,装置经济性好;实验中,通过散射靶直线运动来调节散射角度,获得不同能量的单能γ射线束,实验流程简单,工作效率高;实验中,放射源和探测器固定,实验数据重复性好,使得精密实验可行。本发明设计了大规格的散射陷阱,配合快门和准直光阑,抑制杂散γ,使得γ束流能量弥散度降低,束流品质提高。
附图说明
图1是本发明提供的一种单能γ装置示意图;
图2是本发明提供的放射源的排布示意图;
图3是现有技术方案的单能γ装置示意图;
图1中,1.贮源井 2.承重地面 3.准直光阑 4.放射源 5.散射靶 6.散射陷阱 7.快门 8.屏蔽体 9.探测器。
具体实施方式
下面参照附图及实施例对本发明进行更全面的描述,在附图中相同的标号表示相同或者相似的组件或者元素。以下实施例仅用于说明本发明,而非对本发明的限制。有关技术领域的人员在不脱离本发明的精神和范围的情况下,还可做出各种变化、替换和变形,因此同等的技术方案也属于本发明的范畴。
一种单能γ装置,该装置包括贮源井1、准直光阑3、多个放射源4、散射靶5、散射陷阱6、快门7和屏蔽体8;所述的贮源井1位于承重地面2的下方,贮源井1的上边沿与承重地面2平齐;所述的散射陷阱6和屏蔽体8依次安装于贮源井1内,所述的屏蔽体8的外侧面与贮源井1相接触,屏蔽体8的顶端面与承重地面2平齐;所述的屏蔽体8的中部具有竖直通孔,准直光阑3位于屏蔽体的通孔内,准直光阑3的外侧面与屏蔽体8的通孔相接触;所述准直光阑3的内部有一竖直通孔,准直光阑3的通孔连通散射陷阱6和γ装置外部;所述的准直光阑3的竖直中线、屏蔽体8的竖直中线及散射陷阱6的竖直中线相重合;所述的散射陷阱6的顶面与屏蔽体8、准直光阑3的底面相接触;所述的快门7的底面与准直光阑3的顶面相接,快门7的中部有一竖直通孔,快门7通孔与准直光阑3通孔的中线重合、半径相同;所述的散射靶5位于散射陷阱6的竖直中线上、靠近准直光阑3通孔的位置。
实验过程中,放射源4发出的γ射线经散射靶5散射后(康普顿原理,计算公式背景技术),产生单能的散射γ光子。散射γ光子的能量与散射角有关,散射角的顶点为散射靶5,散射角的一条角边为散射靶5与多个放射源4的连线,散射角的另一条角边为散射靶5与探测器的连线。散射靶5沿散射陷阱6的竖直中线移动,实现散射角在87度至50度范围内的变化,对应350keV~660keV范围单能γ。装载了多个放射源4,因此散射γ的强度,较原有单源方案,实现倍数至量级的提升。进一步,所述的散射陷阱6上部为锥形结构,即,散射陷阱6与、屏蔽体8及准直光阑3的接触面为锥形面,散射陷阱6的下部为圆柱体结构,所述的放射源4大致均匀分布于散射陷阱6上部与下部的交接处、且靠近外侧面的位置,且放射源4通过金属杆固定在屏蔽体8的底面。
进一步,所述的准直光阑3的材质为钨合金,其内侧有一组“梳状”的凹槽,作为杂散γ射线的陷阱。
进一步,所述的快门7的材质为钨合金,其内侧有一组“梳状”的凹槽,作为杂散γ射线的陷阱;所述的快门7可沿准直光阑3的顶端面做水平滑动,实现γ束流的开启和关闭。
进一步,所述的散射靶5为铜质薄靶;所述的散射靶5可沿散射陷阱6的中线上下移动,从而改变散射角,获得不同能量的单能γ射线。
进一步,所述的放射源4为强钴-60源。
进一步,所述的放射源4均布在以沿散射陷阱6中线为轴的圆环上,使得多个放射源有相同的散射角,实现多源条件下,散射γ能量的单一性,即能量弥散度越小。
进一步,所述的散射陷阱6的规格较大,其高度为准直光阑3厚度的4倍及以上。
本发明使用多枚辐射源,散射γ射线强度较高,最高注量率提升至约106cm-2·s-1以上,可适用于低灵敏度探测器标定实验的开展。
实施例1
本实施例中,针对10万居里的钴-60源,说明单能γ装置的实现方式。
所述的屏蔽体8为铅材质,厚度为36cm;所述准直光阑3的厚度为20cm;所述快门7的厚度为10cm;准直光阑3和快门7的通孔的直径为7cm;所述的放射源4的活度为10.4万居里,包括8枚工业级钴源,等间距排布在以60cm为半径的圆上,单枚源的活度均为1.3万居里,外形类似于圆环段,直接约2.5cm,长约5cm,比活度约为40居里每克。散射靶片5的规格为Φ4cm×1cm,探测器与快门7的距离为10cm;散射陷阱6的高度为80cm。散射靶片5的运动速度约0.2cm·s-1。
经过上述实施后,在散射角为87度、64度和50度条件下,分别获得了370keV、520keV和660keV的单能γ射线。当束流角为64度时,探测器位置γ的注量率约为5×108cm-2·s-1、信噪比约为30、能量弥散度约为4.5%,与已有方案相比较,单能γ的束流强度从106cm-2·s-1提高到108cm-2·s-1,增大2个数量级,信噪比增大约50%,能量弥散度减小约20%。实验中,放射源和散射靶片固定,散射靶片的重复定位精度为±2mm,散射靶片的重复定位偏差导致的束流角的偏差大于0.05度,由于现有方案的0.2度,使得实验精度提升。实验中,靶片的行程约为50cm,标定实验耗时约5分钟,较现有方案提升数倍。与已有方案相比较,单能γ的束流强度从106cm-2·s-1提高到108cm-2·s-1,增大2个数量级;单能γ的能量弥散度略优于现有方案;杂散γ的含量小于5%,优于现有方案条件。此外,以市价50元每居里计算,本实施例10.4万居里放射源的购置价约500万,较现有方案使用1枚万居级高比活度源,购置费近千万,本专利经济性更好。
Claims (6)
1.一种单能γ装置,其特征在于,该装置包括贮源井(1)、准直光阑(3)、多个放射源(4)、散射靶(5)、散射陷阱(6)、快门(7)和屏蔽体(8);所述的贮源井(1)位于承重地面(2)的下方,贮源井(1)的上边沿与承重地面(2)平齐;所述的散射陷阱(6)和屏蔽体(8)依次安装于贮源井(1)内,所述的屏蔽体(8)的外侧面与贮源井(1)相接触,屏蔽体(8)的顶端面与承重地面(2)平齐;所述的屏蔽体(8)的中部具有竖直通孔,准直光阑(3)位于屏蔽体的通孔内,准直光阑(3)的外侧面与屏蔽体(8)的通孔相接触;所述准直光阑(3)的内部有一竖直通孔,准直光阑(3)的通孔连通散射陷阱(6)和γ装置的外部;所述的准直光阑(3)的竖直中线、屏蔽体(8)的竖直中线及散射陷阱(6)的竖直中线相重合;所述的散射陷阱(6)的顶面与屏蔽体(8)、准直光阑(3)的底面相接触;所述的快门(7)的底面与准直光阑(3)的顶面相接,快门(7)的中部有一竖直通孔,快门(7)通孔与准直光阑(3)通孔的中线重合、半径相同;所述的散射靶(5)位于散射陷阱(6)的竖直中线上、靠近准直光阑(3)通孔的位置;
所述散射靶(5)为铜质薄靶,所述的散射靶(5)可沿散射陷阱(6)的中线上下移动,从而改变散射角,获得不同能量的单能γ射线;
所述的放射源(4)均布在以沿散射陷阱(6)中线为轴的圆环上。
2.根据权利要求1所述的单能γ装置,其特征在于,所述的散射陷阱(6)上部为锥形结构,下部为圆柱体结构,所述的放射源(4)大致均布于散射陷阱(6)上部与下部的交接处、且靠近外侧面的位置。
3.根据权利要求1所述的单能γ装置,其特征在于,所述的准直光阑(3)的材质为钨合金,其内侧有一组“梳状”的凹槽。
4.根据权利要求1所述的单能γ装置,其特征在于,所述的快门(7)的材质为钨合金,其内侧有一组“梳状”的凹槽;所述的快门7可沿准直光阑3的顶端面做水平滑动,实现γ束流的开启和关闭。
5.根据权利要求1所述的单能γ装置,其特征在于,所述的放射源(4)为强钴-60源。
6.根据权利要求1所述的单能γ装置,其特征在于,所述的散射陷阱(6)的高度为准直光阑(3)厚度的4倍及以上。
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