JPH04258784A - Ｘ線検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】［発明の目的］

【０００２】

【産業上の利用分野】この発明は、空港などにおいて荷
物にＸ線を照射してその内容物を検査する場合などに用
いるＸ線検査装置に関する。

【０００３】

【従来の技術】特開昭６３−２５５３７号公報には図１
に示すようなＸ線検査装置が開示されている。被検体８
がコンベア６により搬送されてきて、検査装置の設置場
所を通過する。Ｘ線管１から放射されたＸ線ビーム２は
コリメータ３と回転スリット４とによって飛点走査Ｘ線
ビームとなって被検体８に照射される。被検体８にあた
って後方（ビーム照射方向と反対方向）側に散乱する後
方散乱Ｘ線がＸ線検出器５で検出され、被検体８を透過
するＸ線がＸ線検出器７で検出され、被検体８の前方（
透過Ｘ線の方向）側に散乱する前方散乱Ｘ線がＸ線検出
器１１で検出される。

【０００４】各Ｘ線検出器５，７，１１の出力信号はそ
れぞれ画像再生装置９で処理され、後方散乱Ｘ線画像、
前方散乱Ｘ線画像、透過Ｘ線画像がそれぞれ生成される
。これらの画像を見て被検体８の内に例えばプラスチッ
ク爆弾や麻薬が隠されているのを発見しようという訳で
ある。

【０００５】図１の装置では、前方散乱Ｘ線による良好
な画像が得られないという問題があった。被検体８によ
るＸ線の吸収が大きいので、透過方向（前方）への散乱
は少なく、前方散乱Ｘ線の検出信号で生成した画像は非
常に不鮮明であった。そのため被検体８のＸ線検出器１
１側の検査が不充分にしか行えない。

【０００６】前記の問題を解決するために、従来は図２
の構成で対処していた。図２の装置は、図１における前
方散乱Ｘ線検出器１１のない装置を２セット設け、それ
ぞれ被検体８の反対側からＸ線を照射して、被検体８の
両方の面から後方散乱Ｘ線を検出している。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】図２のように、被検体
８の左右両側からそれぞれＸ線を照射して両面を検査す
る装置では、図１の装置に比べて、装置の占有スペース
が非常に大きくなるという問題があった。特に図２に示
すように、コンベア６の幅方向の装置設置寸法Ｌが非常
に大きく、占有床面積が大きかった。

【０００８】この発明の目的は、被検体の両面検査を正
確に行なえ、しかも装置の設置スペース（特に占有床面
積）が小さいＸ線検査装置を提供することにある。

【０００９】［発明の構成］

【００１０】

【課題を解決するための手段】（第１の発明）　　設置
スペースの小さいな図１のＸ線光学系を採用し、前方散
乱Ｘ線データを透過Ｘ線データにより補正することで、
前方散乱Ｘ線データによる画像の質を向上させるように
した。

【００１１】（第２の発明）　　ほぼ水平方向に搬送さ
れる被検体に対して上方からＸ線を照射し、その後方散
乱Ｘ線を検出して画像を生成する第１の系と、被検体に
対して下方からＸ線を照射し、その後方散乱Ｘ線および
透過Ｘ線を検出してそれぞれ画像を生成する第２の系と
を設けた。

【００１２】

【作用】（第１の発明）　　図１のＸ線光学系では前方
散乱Ｘ線データだけでは鮮明な画像を得るのが困難であ
るが、そのデータを透過Ｘ線データで補正することで画
像品質を向上させることができる。

【００１３】（第２の発明）　　第１の系では被検体の
上面側についての散乱Ｘ線画像が得られる。第２の系で
は被検体の下面側についての散乱Ｘ線画像と、透過Ｘ線
画像とが得られる。これでデータの質の悪い前方散乱Ｘ
線を利用せずに、被検体の上下両面について正確な検査
を行うことができる。

【００１４】

【実施例】（第１の発明）　　図１のＸ線光学系はこの
発明の実施例にも共通する。つまり、コンベア６の一側
部に配置されたＸ線管１、コリメータ３、回転スリット
４によってコンベア６上の被検体８が横方向からフライ
ングスポット走査される。この光源系の側に設置された
後方散乱Ｘ線検出器５で被検体８からの後方散乱Ｘ線が
検出され、コンベア６を挾んで反対側に置かれた前方散
乱Ｘ線検出器１１および透過Ｘ線検出器７でそれぞれ被
検体８からの前方散乱Ｘ線と透過Ｘ線が検出される。こ
れらＸ線検出器５，７，１１の出力データは図３のデー
タ処理系で処理される。

【００１５】図３に示すように、後方散乱Ｘ線検出器５
と透過Ｘ線検出器７の出力はそれぞれ画像演算部１２，
１３で処理されて後方散乱Ｘ線画像データ、透過Ｘ線画
像データに変換され、それぞれ表示部１５，１６に表示
される。

【００１６】前方散乱Ｘ線検出器１１の出力は画像演算
部１４で画像データに変換された後、掛算器１９で以下
のように補正されてから表示部１７に表示される。この
掛算器１９のもう一方の入力として、画像演算部１３か
らの透過画像データが重み関数アンプ１８を経て供給さ
れる。

【００１７】図４に重み関数アンプ１８の入出力特性を
示している。透過Ｘ線画像データ（入力）は反転され、
一定以下のデータは固定値αとし、一定値以上のデータ
は固定値βとする。この重み関数をφとする。前方散乱
Ｘ線画像データｆ（ｘ，ｙ）と透過Ｘ線画像データＴ（
ｘ，ｙ）とは同一タイミングパルスでトリガすることに
より各画素の番地（ｘ，ｙ）を合わすことができる。 掛算器１９では次式に示す演算が行われ、透過Ｘ線画像
データによって補正された前方散乱Ｘ線画像データＦ（
ｘ，ｙ）が得られ、これが表示部１７に表示される。

【００１８】 Ｆ（ｘ，ｙ）＝ｆ（ｘ，ｙ）×φ｛Ｔ（ｘ，ｙ）｝なお
、以上の実施例では３つの画像演算部１２，１３，１４
および重み関数アンプ１８と掛算器１９をそれぞれ独立
したブロックとしたが、本発明はこれに限定されるもの
ではなく、これらの機能を１つのコンピュータで処理す
ることもできる。

【００１９】（第２の発明）　　図５は第２の発明の実
施例を示している。コンベア６の上方に第１の系を配置
している。つまりＸ線管１ａ、コリメータ３、回転スリ
ット４ａによってコンベア６上の被検体８を上面側から
フライングスポット走査し、やはりコンベア６の上方に
配したＸ線検出器５ａでもって被検体８からの後方散乱
Ｘ線を検出し、そのデータによる後方散乱Ｘ線画像（上
面側検査画像とする）を画像再生装置９ａで生成し表示
する。

【００２０】また、コンベア６の切れ目の部分の下方に
第２の系の光源系を配置する。つまりＸ線管１ｂ、コリ
メータ３ｂ、回転スリット４ｂによってコンベア６上の
被検体８をコンベア６の切れ目を通して下面側からフラ
イングスポット走査し、やはりコンベア６の下方に配し
たＸ線検出器５ｂでもって被検体８からの後方散乱Ｘ線
を検出し、そのデータによる後方散乱Ｘ線画像（下面側
検査画像とする）を画像再生装置９ｂで生成し表示する
。またコンベア６の切れ目上方に配したＸ線検出器７ｂ
によって被検体８からの透過Ｘ線を検出し、そのデータ
による透過Ｘ線画像を画像再生装置で生成し表示する。

【００２１】

【発明の効果】（第１の発明）　　Ｘ線光源系が１つで
被検体からの前方散乱Ｘ線、透過Ｘ線、後方散乱Ｘ線を
それぞれ検出して３種の画像を表示するものにおいて、
前方散乱Ｘ線データを透過Ｘ線データによって補正する
ので、前方散乱Ｘ線画像の質が向上し、コンパクトな装
置構成で両面検査を良好に行える。

【００２２】（第２の発明）　　被検体の上面側から走
査する系と下面側から走査する系の２つを設けているの
で、装置の左右方向の設置スペースは非常に小さくなり
、かつ高精度な両面検査を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】従来例と第１の発明に共通するＸ線光学系の斜
視図。

【図２】第２の従来例のＸ線光学系の斜視図。

【図３】第１の発明のデータ処理系の実施例のブロック
図。

【図４】図３における重み関数アンプの特性図。

【図５】第２の発明の実施例を示す斜視図。

【符号の説明】

１，１ａ，１ｂ　　Ｘ線管 ２　　Ｘ線ビーム ３，３ａ，３ｂ　　コリメータ ４，４ａ，４ｂ　　回転スリット ５，５ａ，５ｂ　　後方散乱Ｘ線検出器６　　コンベア ７，７ｂ　　透過Ｘ線検出器 ８　　被検体 ９ａ，９ｂ，９ｃ　　画像再生装置 １１　　前方散乱Ｘ線検出器

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】　　搬送される被検体を一側方からＸ線で
   走査し、被検体からの後方散乱Ｘ線、透過Ｘ線、前方散
   乱Ｘ線をそれぞれ検出して、それぞれの画像を生成して
   表示する装置において、透過Ｘ線データによって前方散
   乱Ｘ線データを補正し、その補正されたデータによる前
   方散乱Ｘ線画像を表示することを特徴とするＸ線検査装
   置。
2. 【請求項２】　　搬送される被検体を上方からＸ線で照
   射し、その後方散乱Ｘ線を検出して画像を生成・表示す
   る第１の系と、被検体を下方からＸ線で走査し、被検体
   からの後方散乱Ｘ線および透過Ｘ線をそれぞれ検出して
   、それぞれの画像を生成・表示する第２の系とより構成
   されるＸ線検査装置。