JP2010107315A - 熱式流量センサ - Google Patents

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Abstract

【課題】体格の増大が抑制され、且つ流量検出信頼性の低下が抑制された熱式流量センサを提供する。
【解決手段】一面に、被検出流体の流量を検出する流量検出部が形成されたセンサチップと、流量検出部の入出力を制御する制御回路が形成された回路チップと、該回路チップを搭載する樹脂からなる搭載部材と、を備える熱式流量センサであって、センサチップにおける一面の裏面全面が、回路チップの一面と対向するように、センサチップが回路チップ上に配置され、センサチップにおける裏面の一部を接続部位として、センサチップが回路チップの一面に機械的に接続されている。
【選択図】図1

Description

本発明は、例えば内燃機関の吸入空気流量の測定に用いられる熱式流量センサに関するものである。
従来、被検出流体の流量を検出する熱式流量センサが、例えば特許文献1,2に開示されている。
特許文献1に示される流量測定装置(熱式流量センサ)は、被検出測定流体(被検出流体)の流量を測定する流量検出チップ(センサチップ)と、該センサチップを収容する樹脂製のケース(搭載部材)と、を有し、センサチップの一部が搭載部材に貼り付け固定されている。
特許文献2に示される熱式流量センサでは、抵抗体膜(流量検出部)が形成されたセンサチップが、該センサチップと同一材料によって形成されたベースチップ(回路チップ)上に位置するように設けられ、センサチップにおける搭載面の全面に塗布された接着剤を介して、センサチップが回路チップ上に固定されている(特許文献2の図9参照)。
特開2005−172526号公報 特開2003−254805号公報
ところで、特許文献1に示される熱式流量センサでは、センサチップが、センサチップを構成する材料とは異なる材料(樹脂)によって形成された搭載部材に、接着剤を介して固定されている。したがって、センサチップと搭載部材との線膨張係数差によって生じる応力が、接着剤を介してセンサチップの流量検出部に作用し、ピエゾ抵抗効果により流量検出信頼性が低下する虞がある。また、センサチップと回路チップとが搭載部材に併設しているので、熱式流量センサの体格が増大する虞がある。
これに対し、特許文献2に示される熱式流量センサでは、センサチップが、センサチップを構成する材料と同一の材料(シリコン)によって形成された回路チップに、接着剤を介して固定されている。したがって、センサチップと回路チップとの線膨張係数差に起因する応力が、センサチップの流量検出部に作用することが抑制され、これにより流量検出信頼性の低下が抑制された熱式流量センサとなっている。また、センサチップが回路チップ上に位置するように設けられているので、特許文献1に示される熱式流量センサと比べて、体格の増大が抑制された熱式流量センサとなっている。
しかしながら、上記したように特許文献2では、センサチップにおける搭載面の全面が、接着剤を介して回路チップに固定されている。したがって、接着剤及び回路チップを介して、回路チップと該回路チップを搭載する樹脂ベース(搭載部材)との線膨張係数差によって生じる応力がセンサチップの流量検出部に伝達され、これにより流量検出信頼性が低下する虞がある。
そこで、本発明は上記問題点に鑑み、体格の増大が抑制され、且つ流量検出信頼性の低下が抑制された熱式流量センサを提供することを目的とする。
上記した目的を達成するために、請求項1に記載の発明は、一面に、被検出流体の流量を検出する流量検出部が形成されたセンサチップと、流量検出部の入出力を制御する制御回路が形成された回路チップと、該回路チップを搭載する搭載部材と、を備える熱式流量センサであって、センサチップにおける一面の裏面全面が、回路チップの一面と対向するように、センサチップが回路チップ上に配置され、センサチップにおける裏面の一部を接続部位として、センサチップが回路チップの一面に機械的に接続されていることを特徴する。
このように本発明によれば、センサチップの裏面全面が、回路チップの一面と対向するように、センサチップが回路チップ上に配置されている。したがって、センサチップと回路チップとが搭載部材に併設された構成と比べて、体格の増大が抑制された熱式流量センサとなっている。
また、本発明によれば、センサチップにおける裏面の一部を接続部位として、センサチップが回路チップの一面に機械的に接続されている。したがって、センサチップの裏面全面が、接着剤を介して回路チップに固定された構成と比べて、センサチップと回路チップとの線膨張係数差によって生じる応力(以下、単に第1熱応力と示す)、及び回路チップと搭載部材との線膨張係数差によって生じる応力(以下、単に第2熱応力と示す)が、センサチップの流量検出部へ伝達することが抑制され、これにより、流量検出信頼性の低下が抑制された熱式流量センサとなっている。以上のようにして、上記した熱式流量センサは、体格の増大が抑制され、且つ流量検出信頼性の低下が抑制された熱式流量センサとなっている。
熱式流量センサの具体的な構成としては、請求項2に記載のように、センサチップは、ボンディングワイヤを介して、回路チップと電気的に接続されており、センサチップにおける流量検出部の形成領域とは異なる領域の裏面部位が接続部位とされ、接着剤を介して、センサチップが回路チップに機械的に接続された構成を採用することができる。または、請求項3に記載のように、センサチップは、流量検出部と電気的に接続され、一面とその裏面を貫く貫通電極を有しており、貫通電極の裏面部位が接続部位として、バンプを介して回路チップと機械的且つ電気的に接続された構成を採用することができる。
いずれの構成においても、接続部位と、裏面における流量検出部と対応する部位とが離間している。したがって、接続部位が流量検出部の直下とされた構成と比べて、第1熱応力及び第2熱応力が流量検出部に伝達されるまでの距離を稼ぐことができる。これにより、第1熱応力及び第2熱応力が流量検出部に伝達されるまでに、第1熱応力及び第2熱応力を減衰させることができる。
請求項4に記載のように、搭載部材には、該搭載部材よりも熱伝導に優れた材料によって形成され、回路チップが配置される支持部材が埋設されおり、支持部材における回路チップの配置面の裏面の一部が、搭載部材によって被覆された構成が良い。これによれば、熱式流量センサの熱を、支持部材を介して外部雰囲気に逃がすことができる。したがって、熱の印加によって生じる熱式流量センサの構成材料の熱膨張を抑制し、第1熱応力、第2熱応力、回路チップと支持部材との線膨張係数差によって生じる応力(以下、単に第3熱応力と示す)、及び支持部材と搭載部材との線膨張係数差によって生じる応力(以下、単に第4熱応力と示す)の発生を抑制することができる。また、支持部材の裏面全面が搭載部材によって被覆された構成と比べて、支持部材と搭載部材との接触面積が小さいので、第4熱応力を低減することができる。
請求項5に記載のように、センサチップと回路チップとが、同一材料によって形成された構成が好ましい。これによれば、センサチップと回路チップの線膨張係数が同じなので、第1熱応力の発生を防止することができる。
回路チップの形成面を被覆・保護する構成としては、請求項6に記載のように、回路チップの一面が、絶縁樹脂によって被覆・保護された構成を採用しても良い。また、請求項7に記載のように、絶縁樹脂として、搭載部材の一部を採用しても良い。なお、上記した回路チップの一面とは、回路チップにおける電気的な接続部位を除く部位に相当する。
請求項8に記載のように、回路チップの一面に、回路チップを保護する保護膜が形成され、該保護膜が、絶縁樹脂としての第1絶縁層と、該第1絶縁層に積層され、電位が一定とされた金属層と、該金属層を被覆・保護する第2絶縁層と、を有した構成が好ましい。
被検出流体に含まれる異物が回路チップに衝突すると、それによって回路チップにおける異物との衝突部位が一時的に帯電し、回路チップに不具合が生じる虞がある。しかしながら、本発明によれば、回路チップの一面に、第1絶縁層を介して、電位が一定とされた金属層が形成されている。これにより、回路チップに異物が衝突しても、回路チップの一面の電位が一定に保たれるので、回路チップに局所的な帯電が生じることを抑制することができる。これにより、回路チップに不具合が生じることを抑制することができる。
請求項9に記載のように、搭載部材は、センサチップにおける被検出流体の通常時の流れ方向に対して上流側の端面に隣接配置された上流側整流部と、センサチップにおける下流側の端面に隣接配置された下流側整流部と、を有しており、上流側整流部及び下流側整流部それぞれの上面が、センサチップの形成面と、略面一になっている構成が好ましい。
これによれば、上流側整流部(若しくは下流側整流部)から流量検出部までの平坦な距離を稼ぐことで、流量検出部上での被検出流体の乱れ(乱流)を低減する(換言すれば、整流する)ことができる。これにより、流量検出信頼性の低下が抑制される。
請求項10に記載のように、上流側整流部における上流側の端部が、上面に対して略垂直な方向に沿う径の長さが、下流から上流に向けて縮径するテーパ状となっている構成が良い。これによれば、上流側整流部の端部に衝突する被検出流体の流動方向を、テーパ状とされた端部を介すことで、上流側整流部の上面、及びその裏面に形成することができる。したがって、上流側整流部の端部に衝突する被検出流体によって、該端部に乱流が生じることを抑制することができる。これにより、流量検出信頼性の低下が抑制される。
請求項11に記載のように、下流側整流部における下流側の端部が、上面に対して略垂直な方向に沿う径の長さが、上流から下流に向けて縮径するテーパ状となっている構成が良い。これによれば、被検出流体の流れ方向が、一時的に下流から上流へ向かう方向に逆転したとしても、下流側整流部の端部に衝突する被検出流体の流動方向を、テーパ状とされた端部を介すことで、下流側整流部の上面、及びその裏面に形成することができる。したがって、下流側整流部の端部に衝突する被検出流体によって、該端部に乱流が生じることを抑制することができる。これにより、通常時とは逆の方向に被検出流体が流れた場合においても、流量検出信頼性の低下を抑制することができる。
以下、本発明の実施の形態を図に基づいて説明する。
(第1実施形態)
図1は、第1実施形態に係る熱式流量センサの概略構成を示す平面図である。図2は、図1のII−II線に沿う断面図である。図3は、センサチップの概略構成を示す平面図である。図4は、回路チップの保護膜を説明するための部分断面図である。図5は、図1のV−V線に沿う断面図である。なお、図1においては、便宜上、封止樹脂を省略している。また、以下においては、被検出流体の流れ方向を、単に流れ方向と示す。
図1及び図2に示すように、熱式流量センサ100は、要部として、被検出流体に晒されるセンサチップ10と、該センサチップ10と第1ボンディングワイヤ30を介して電気的に接続される回路チップ50と、該回路チップ50と第2ボンディングワイヤ31を介して電気的に接続される外部接続用端子としてのリード70と、回路チップ50を搭載する支持部材71と、リード70と支持部材71とが電気的に独立した状態で、リード70と支持部材71(回路チップ50)とを連結し、回路チップ50における第2ボンディングワイヤ31との接続部位を被覆するモールド部材90と、を有している。
センサチップ10は、シリコン基板11(以下、単に基板11と示す)からなるものである。図2及び図3に示すように、基板11の表面11a上には、絶縁膜12が形成されており、その絶縁膜12上に、流量検出部13が形成されている。流量検出部13は、発熱素子14と感温素子15を有しており、これら素子14,15は、白金(Pt)等の金属薄膜、若しくは多結晶ケイ素(Si)や多結晶炭化ケイ素(SiC)等の半導体薄膜を真空蒸着やスパッタリングすることによって、配線16とともに形成される。配線16の端部には第1パッド17が形成されており、この第1パッド17が、第1ボンディングワイヤ30を介して、回路チップ50の第2パッド52と電気的に接続されている。流量検出部13及び配線16の表面上には、流量検出部13を保護するための絶縁性の保護膜(図示略)が形成されており、これにより、流量検出部13と配線16との接続信頼性が確保されている。
基板11には、図1及び図2に示すように、基板11の裏面11bから異方性エッチングをすることで形成される空洞18と、上記した保護膜のみからなるメンブレン19とが形成されている。発熱素子14は、基板11におけるメンブレン19上に形成され、感温素子15は、基板11におけるメンブレン19を除く領域に形成され、これにより発熱素子14と感温素子15とが熱的に分離されている。
発熱素子14は、図3に示すように、通常時における流れ方向に対して上流側に配置された発熱素子14aと、下流側に配置された発熱素子14bとを有しており、それぞれ電流の供給量に応じて発熱する機能と、それ自身の抵抗値の変化に基づいて、自身の温度を感知する機能とを有している。したがって、上流側と下流側の各発熱素子14a,14bで生じる熱のうち、流体によって奪われる熱に基づき、流体の流量が検出される。また、上流側の発熱素子14aと下流側の発熱素子14bとのそれぞれに生じる熱のうち、流体によって奪われる熱量の差に基づき、流れ方向が検出される。
感温素子15は、流れ方向に対して上流側に配置された感温素子15aと、下流側に配置された感温素子15bとを有しており、それ自身の抵抗値の変化に基づいて、自身の温度を感知する機能を有している。したがって、上流側の発熱素子14aと上流側の感温素子15aとの温度差、及び、下流側の発熱素子14bと下流側の感温素子15bとの温度差に基づき、各発熱素子14a,14bに供給される電流量が制御されるようになっている。
回路チップ50は、シリコン基板51(以下、単に基板51と示す)からなるものである。本実施形態に係る回路チップ50は、センサチップ10とリード70とを電気的に中継し、基板51にMOSトランジスタやダイオードなどの素子や配線を形成することで、流量検出部13の入出力を制御する制御回路(図示略)が設けられたものである。回路チップ50(基板51)の表面50a上には、制御回路の配線端部と接続される第2パッド52と、制御回路を介して第2パッド52と電気的に接続される第3パッド53と、上記した制御回路及び配線を被覆・保護する保護膜54と、が形成されている。
第2パッド52は、AlやAuなどからなる第1ボンディングワイヤ30を介してセンサチップ10の第1パッド17と電気的に接続され、第3パッド53は、AlやAuなどからなる第2ボンディングワイヤ31を介してリード70と電気的に接続されている。このように、センサチップ10とリード70とが回路チップ50を介して電気的に接続され、センサチップ10が、外部(例えば外部ECU)と信号を授受することができる構成となっている。なお、図2に示すように、本実施形態では、第1パッド17と第2パッド52との電気的な接続部位が、封止樹脂32によって被覆・保護され、第3パッド53とリード70との電気的な接続部位が、モールド部材90によって被覆・保護されるようになっている。
保護膜54は、図4に示すように、上記した制御回路及び配線を被覆する第1絶縁層55と、該第1絶縁層55に積層された金属層56と、該金属層56を保護する第2絶縁層57と、を有している。図4に示すように、金属層56はグランドに接続されており、これにより、回路チップ50の表面50aが一定電位とされている。したがって、被検出流体に含まれる異物が回路チップ50に衝突したとしても、回路チップ50の表面50aが一定電位に保たれるので、回路チップ50に局所的な帯電が生じることが抑制され、これにより回路チップ50に不具合が生じることが抑制された構成となっている。
リード70は、回路チップ50と電気的に接続され、外部と信号の授受を行うものである。本実施形態において、リード70と支持部材71は一つのリードフレームによって構成されており、モールド部材90形成後、リード70と支持部材71とを繋ぐ不要部分を切り離すことで、リード70と支持部材71とが互いに独立するようになっている。不要部分は、リードフレームの外周フレームに相当し、リード70と支持部材71(回路チップ50)を一時的に連結する機能を果たす。支持部材71は、リードフレームのアイランドに相当し、その表面71aに回路チップ50が配置される。
モールド部材90は、回路チップ50を搭載するものであり、特許請求の範囲に記載の搭載部材に相当する。本実施形態に係るモールド部材90は、リード70と支持部材71(回路チップ50)とを連結し、リード70と回路チップ50との電気的な接続部位を被覆し、且つ流量検出部13上における被検出流体の乱れ(乱流)を整流するものである。モールド部材90は、モールド樹脂によって形成されており、図1及び図2に示すように、支持部材71及び回路チップ50を保持する底部91と、センサチップ10の周囲を取り囲むように、底部91の周縁部に設けられた壁部92と、を有している。
底部91は、図2に示すように、支持部材71における表面71aの裏面71bの一部が外部雰囲気(流体)に晒されるように、異方性エッチングによって形成された切り欠き部91aを有している。これによれば、熱式流量センサ100の熱を、モールド樹脂よりも熱伝導に優れた金属によって形成された支持部材71を介すことで、外部雰囲気に逃がすことができる。したがって、熱の印加によって生じる熱式流量センサ100の構成材料の熱膨張を抑制し、センサチップ10と回路チップ50との線膨張係数差によって生じる応力(以下、単に第1熱応力と示す)、回路チップ50とモールド樹脂90との線膨張係数差によって生じる応力(以下、単に第2熱応力と示す)、回路チップ50と支持部材71との線膨張係数差によって生じる応力(以下、単に第3熱応力と示す)、及び支持部材71とモールド樹脂90との線膨張係数差によって生じる応力(以下、単に第4熱応力と示す)の発生を抑制することができる。これにより、流量検出部13に第1〜第4熱応力が印加されることが抑制され、ピエゾ抵抗効果によって発熱素子14及び感温素子15の抵抗値が変動することが抑制され、流量検出信頼性が低下することが抑制された構成となっている。また、支持部材71の裏面71bの一部が外部雰囲気に晒される構成となっているので、支持部材71の裏面71b全面がモールド部材90によって被覆された構成と比べて、支持部材71とモールド部材90との接触面積が小さいので、第4熱応力を低減することができる。
壁部92は、センサチップ10に対して上流側に配置される上流側壁部93(特許請求の範囲に記載の上流側整流部に相当)と、下流側に配置される下流側壁部94(特許請求の範囲に記載の下流側整流部に相当)と、上流側壁部93と下流側壁部94とを連結する連結壁部95と、を有している。壁部92(上流側壁部93、下流側壁部94、及び連結壁部95)の上面92aは、基板11の表面11a(絶縁膜12)と略面一となるように設定され、壁部92のセンサチップ10と対向する端部とは反対の端部から流量検出部13までの平坦な部分の距離を稼ぐことで、流量検出部13上での乱流が低減される(換言すれば、整流される)ようになっている。なお、基板11と壁部92には所定の隙間(クリアランス)が形成されており、これにより、被検出流体と空洞18とを連通させ、空洞18内の流体の温度が、熱式流量センサ100の周辺における被検出流体の温度に追従して変化することができるようになっている。なお、本実施形態に係る壁部92は、回路チップ50の縁部を被覆し、回路チップ50とリード70、及び回路チップ50と支持部材71を連結する構成となっている。
上流側壁部93における上流側の端部93aは、図5に示すように、上面92aに対して略垂直な方向に沿う径の長さが、下流から上流に向けて縮径するテーパ状となっている。これにより、図5の矢印(破線)で示すように、端部93aに衝突する被検出流体が、スムースに上面92a及びその裏面92bへ流れるように、被検出流体の流動方向を形成することができる。これにより、端部93aに衝突する被検出流体によって、端部93aに乱流が発生することが抑制され、流量検出信頼性の低下が抑制された構成となっている。
また、下流側壁部94における下流側の端部94aは、図5に示すように、上面92aに対して略垂直な方向に沿う径の長さが、下流から上流に向けて縮径するテーパ状となっている。これにより、一時的に、被検出流体の流れ方向が下流側から上流側へ流れるように変化したとしても、端部94aに衝突する被検出流体が、スムースに上面92a及びその裏面92bへ流れるように、被検出流体の流動方向を形成することができる。これにより、通常時とは逆の方向に被検出流体が流れた場合においても、端部94aに乱流が発生することが抑制され、流量検出信頼性の低下が抑制された構成となっている。
次に、本実施形態に係る熱式流量センサ100の特徴点とその効果を説明する。図1に示すように、回路チップ50の表面50aは、センサチップ10の裏面11bよりも広い面積を有しており、センサチップ10が、基板11の裏面11bの全面と、回路チップ50の表面50aの一部とが対向するように、回路チップ50上に配置されている。したがって、センサチップと回路チップとがモールド部材に併設された熱式流量センサと比べて、体格の増大が抑制された熱式流量センサ100となっている。
また、図2に示すように、センサチップ10は、基板11の表面11aにおける第1パッド17形成領域の裏面11bの一部(特許請求の範囲に記載の接続部位に相当し、以下、接続部位11cと示す)に塗布された接着剤20を介して、回路チップ50上に固定される構成となっている。したがって、センサチップが、センサチップの裏面全面に塗布された接着剤を介して回路チップに固定された熱式流量センサと比べて、第1〜第4熱応力が、センサチップ10の流量検出部13へ伝達することが抑制され、これにより流量検出信頼性の低下が抑制された熱式流量センサ100となっている。以上のようにして、上記した熱式流量センサ100は、体格の増大が抑制され、且つ流量検出信頼性の低下が抑制された熱式流量センサとなっている。
また、図2に示すように、接続部位17cと、裏面11bにおける流量検出部13と対応する部位が、互いに離間された構成となっている。したがって、接続部位11cが裏面11bにおける流量検出部13と対応する部位とされた構成と比べて、第1〜第4熱応力が流量検出部13に伝達されるまでの距離を稼ぐことができる。これにより、第1〜第4熱応力が流量検出部に伝達されるまでに、第1〜第4熱応力を減衰することができるので、流量検出信頼性の低下を抑制することができる。
また、本実施形態に係るセンサチップ10及び回路チップ50それぞれは、シリコンからなる基板11,51によって形成されている。したがって、センサチップ10と回路チップ50の線膨張係数が同じなので、第1熱応力の発生を防止することができる。これにより、流量検出信頼性の低下を抑制することができる。
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明は上記した実施形態になんら制限されることなく、本発明の主旨を逸脱しない範囲において、種々変形して実施することが可能である。
本実施形態では、センサチップ10の第1パッド17と回路チップ50の第2パッド52とが、第1ボンディングワイヤ30を介して電気的に接続され、センサチップ10が接着剤20によって回路チップ50に機械的に接続される例を示した。しかしながら、センサチップ10と回路チップ50を電気的且つ機械的に接続する構成は、上記例に限定されない。例えば図6及び図7に示すように、センサチップ10における、本実施形態に示した第1パッド17形成領域に相当する領域に形成された、表面11aとその裏面11bを貫く貫通孔内に金などの導電部材が埋め込められてなる貫通電極21における、裏面11b側の接続部位21aと回路チップ50の第2パッド52とが、バンプ33を介して、電気的且つ機械的に接続される構成としても良い。接続部位21aは、特許請求の範囲に記載の接続部位に相当する。これによっても、センサチップ10が、基板11の裏面11bの全面と、回路チップ50の表面50aの一部とが対向するように、回路チップ50上に配置されるので、センサチップと回路チップとがモールド部材に併設された熱式流量センサと比べて、体格の増大が抑制された熱式流量センサ100となっている。また、センサチップ10が、貫通電極21の接続部位21aに接続されたバンプ33を介して、回路チップ50上に固定されている。したがって、センサチップが、センサチップの裏面全面に注入された接着剤を介して回路チップに固定された熱式流量センサと比べて、第1〜第4熱応力が、センサチップ10の流量検出部13へ伝達することが抑制され、これにより流量検出信頼性の低下が抑制された熱式流量センサ100となっている。以上のようにして、上記した熱式流量センサ100は、体格の増大が抑制され、且つ流量検出信頼性の低下が抑制された熱式流量センサとなっている。なお、図6は、熱式流量センサの変形例を示す平面図である。図7は、図6のVII−VII線に沿う断面図である。
また、上記した変形例の場合においても、本実施形態と同様に、貫通電極21の接続部位21aと、裏面11bにおける流量検出部13と対応する部位とが互いに離間された構成となっている。したがって、接続部位21aが裏面11bにおける流量検出部13と対応する部位の近傍に配置された構成と比べて、第1〜第4熱応力が流量検出部13に伝達されるまでの距離を稼ぐことができる。これにより、第1〜第4熱応力が流量検出部に伝達されるまでに、第1〜第4熱応力を減衰することができるので、流量検出信頼性の低下を抑制することができる。
また、上記した変形例の場合、貫通電極21によって、表面11aと裏面11bとが電気的に接続され、センサチップ10の電気的な接続部位21aが裏面11bに形成されるので、図7に示すように、接続部位21aと第2パッド52との電気的な接続部位のみをアンダーフィル34によって被覆する構成とすることができる。これによれば、本実施形態で示した熱式流量センサ100とは異なり、第1パッド17と第2パッド52との電気的な接続部位を被覆・保護する封止樹脂32が、センサチップ10の表面11aに付着されないので、この表面11aに付着された封止樹脂32による乱流の発生を防止することができる。
本実施形態では、回路チップ50の制御回路及び配線が、回路チップ50の表面50aに形成された保護膜54によって保護される例を示した。しかしながら、図7に示すように、モールド部材90によって、回路チップ50の制御回路及び配線を被覆・保護するようにしても良い。または、液状の絶縁樹脂を回路チップ50の表面50aに注入し、該絶縁樹脂を冷却固化することで、表面50aに形成された制御回路及び配線を被覆・保護するようにしても良い。
本実施形態では、金属層56がグランドに接続される例を示した。しかしながら、金属層56が一定電位に保たれれば良く、上記例に限定されない。例えば、金属層56が、電位が一定の固定電源に接続されるようにしても良い。これによっても、回路チップ50の表面50aを一定電位に保ち、回路チップ50に局所的な帯電が生じることを抑制し、回路チップ50に不具合が生じることを抑制することができる。
本実施形態では、モールド部材90における底部91が、切り欠き部91aを有する例を示した。しかしながら、切り欠き部91aはなくとも良い。
本実施形態では、モールド部材90における壁部92が、回路チップ50の縁部を被覆し、回路チップ50とリード70、及び回路チップ50と支持部材71を連結する例を示した。しかしながら、壁部92は、回路チップ50の端部を被覆する構成でなくとも良く、回路チップ50を搭載する構成であれば良い。
第1実施形態に係る熱式流量センサの概略構成を示す平面図である。 図1のII−II線に沿う断面図である。 センサチップの概略構成を示す平面図である。 回路チップの保護膜を説明するための部分断面図である。 図1のV−V線に沿う断面図である。 熱式流量センサの変形例を示す平面図である。 図6のVII−VII線に沿う断面図である。
符号の説明
10・・・センサチップ
20・・・接着剤
33・・・バンプ
50・・・回路チップ
54・・・保護膜
56・・・金属層
70・・・リード
71・・・支持部材
90・・・モールド部材
100・・・熱式流量センサ

Claims (11)

  1. 一面に、被検出流体の流量を検出する流量検出部が形成されたセンサチップと、
    前記流量検出部の入出力を制御する制御回路が形成された回路チップと、
    該回路チップを搭載する搭載部材と、を備える熱式流量センサであって、
    前記センサチップにおける一面の裏面全面が、前記回路チップの一面と対向するように、前記センサチップが前記回路チップ上に配置され、前記センサチップにおける裏面の一部を接続部位として、前記センサチップが前記回路チップの一面に機械的に接続されていることを特徴とする熱式流量センサ。
  2. 前記センサチップは、ボンディングワイヤを介して、前記回路チップと電気的に接続されており、
    前記センサチップにおける前記流量検出部の形成領域とは異なる領域の裏面部位が前記接続部位とされ、
    接着剤を介して、前記センサチップが前記回路チップに機械的に接続されていることを特徴とする請求項1に記載の熱式流量センサ。
  3. 前記センサチップは、前記流量検出部と電気的に接続され、前記一面とその裏面を貫く貫通電極を有しており、
    前記貫通電極の裏面部位が前記接続部位として、バンプを介して前記回路チップと機械的且つ電気的に接続されていることを特徴とする請求項1に記載の熱式流量センサ。
  4. 前記搭載部材には、該搭載部材よりも熱伝導に優れた材料によって形成され、前記回路チップが配置される支持部材が埋設されおり、
    前記支持部材における前記回路チップの配置面の裏面の一部が、前記搭載部材によって被覆されていることを特徴とする請求項1〜3いずれか1項に記載の熱式流量センサ。
  5. 前記センサチップと前記回路チップは、同一材料によって形成されていることを特徴とする請求項1〜4いずれか1項に記載の熱式流量センサ。
  6. 前記回路チップの一面が、絶縁樹脂によって被覆・保護されていることを特徴とする請求項1〜5いずれか1項に記載の熱式流量センサ。
  7. 前記絶縁樹脂は、前記搭載部材の一部であることを特徴とする請求項6に記載の熱式流量センサ。
  8. 前記回路チップの一面には、前記回路チップを保護する保護膜が形成されており、
    該保護膜は、前記絶縁樹脂としての第1絶縁層と、該第1絶縁層に積層され、電位が一定とされた金属層と、該金属層を被覆・保護する第2絶縁層と、を有していることを特徴とする請求項6に記載の熱式流量センサ。
  9. 前記搭載部材は、前記センサチップにおける被検出流体の通常時の流れ方向に対して上流側の端面に隣接配置された上流側整流部と、前記センサチップにおける下流側の端面に隣接配置された下流側整流部と、を有しており、
    前記上流側整流部及び前記下流側整流部それぞれの上面が、前記センサチップの形成面と、略面一になっていることを特徴とする請求項1〜8いずれか1項に記載の熱式流量センサ。
  10. 前記上流側整流部における上流側の端部が、前記上面に対して略垂直な方向に沿う径の長さが、前記下流から前記上流に向けて縮径するテーパ状となっていることを特徴とする請求項9に記載の熱式流量センサ。
  11. 前記下流側整流部における下流側の端部が、前記上面に対して略垂直な方向に沿う径の長さが、前記上流から前記下流に向けて縮径するテーパ状となっていることを特徴とする請求項9又は請求項10に記載の熱式流量センサ。
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