JP2010091457A - 波形測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】波形測定装置1は、アナログ信号入力端T11〜T14から入力されるアナログ信号をそれぞれサンプリングするADC21〜24、ADC21〜24から出力されるデータ及びディジタル信号入力端T20から入力されるディジタル信号に所定の処理を施すデータ処理回路30、並びにデータ処理回路30から出力される波形データに応じた画像をディスプレイ60に表示する表示回路50を備える。データ処理回路30は、ADC24から出力されるデータとディジタル信号入力端T20から入力されるディジタル信号との何れか一方を選択する選択回路32を有し、選択回路32で選択された信号のみに対して所定の処理を施す。
【選択図】図1
Description
この発明によると、第1入力端からそれぞれ入力されて対応するサンプリング部でサンプリングされた信号のうちの1つと第2入力端から入力されたディジタル信号との何れか一方が信号処理部の選択回路で選択され、この選択された信号と他のサンプリング部から出力される信号とに対して所定の処理が行われて表示部に表示される。
また、本発明の波形測定装置は、前記第2入力端が、前記第1入力端に対応して複数設けられており、前記選択回路は、前記第1,第2入力端の組毎に複数設けられ、前記第1入力端に対応して設けられる前記サンプリング部から出力される信号と、前記第2入力端から入力されるディジタル信号との何れか一方を選択することを特徴としている。
また、本発明の波形測定装置は、前記信号処理部が、前記複数のサンプリング部のうちの他のサンプリング部から出力される信号の各々に対して、当該信号に応じた所定の処理を行う第1処理回路(31a〜31c)を備えることを特徴としている。
また、本発明の波形測定装置は、前記信号処理部が、前記選択回路に対応して設けられ、前記選択回路で選択された信号に応じた所定の信号処理を行う第2処理回路(33、82a〜82d)を備えることを特徴としている。
更に、本発明の波形測定装置は、前記第1,第2処理回路の少なくとも一方で処理された信号を記憶する記憶部(40)と、前記記憶部に対する前記信号の書き込み及び前記記憶部からの読み出しを制御する記憶制御部(34)とを備えることを特徴としている。
図1は、本発明の第1実施形態による波形測定装置の要部構成を示すブロック図である。図1に示す通り、本実施形態の波形測定装置1は、入力バッファ11〜14、アナログ/ディジタル変換器(ADC)21〜24(サンプリング部)、データ処理回路30(信号処理部)、メモリ40、表示回路50、ディスプレイ60(表示部)、及びトリガ回路70を備えており、アナログ信号入力端T11〜T14(第1入力端)から入力される4チャンネル分のアナログ信号と、ディジタル信号入力端T20(第2入力端)から入力される8ビットのディジタル信号とを測定し、その測定結果をディスプレイ60に表示する。
図3は、本発明の第2実施形態による波形測定装置の要部構成を示すブロック図である。尚、図3においては、図1に示すブロックと同じ機能のブロックには同一の符号を付してある。図3に示す通り、本実施形態の波形測定装置2は、複数のディジタル信号入力端T21〜T24が設けられているとともに、データ処理回路30に代えてデータ処理回路80が設けられている点が図1に示す波形測定装置1と相違する。尚、複数のディジタル信号入力端T21〜T24から入力されるディジタル信号は、データ処理回路80及びトリガ回路70に供給される。
(1)4チャンネル分のアナログ信号の波形表示
(2)3チャンネル分のアナログ信号及び8ビットのディジタル信号の波形表示
(3)2チャンネル分のアナログ信号及び16ビットのディジタル信号の波形表示
(4)1チャンネル分のアナログ信号及び24ビットのディジタル信号の波形表示
(5)32ビットのディジタル信号の波形表示
21〜24 ADC
30 データ処理回路
32 選択回路
31a〜31c 信号処理回路
33 信号処理回路
34 メモリ制御回路
40 メモリ
60 ディスプレイ
80 データ処理回路
81a〜81d 選択回路
82a〜82d 信号処理回路
T11〜T14 アナログ信号入力端
T20 ディジタル信号入力端
T21〜T24 ディジタル信号入力端
Claims (5)
- アナログ信号が入力される複数の第1入力端とディジタル信号が入力される第2入力端とを備えており、前記アナログ信号及び前記ディジタル信号の少なくとも一方の波形測定が可能な波形測定装置において、
前記複数の第1入力端の各々に対応して設けられて前記第1入力端から入力される前記アナログ信号をそれぞれサンプリングする複数のサンプリング部と、
前記複数のサンプリング部のうちの一のサンプリング部から出力される信号と前記第2入力端から入力される前記ディジタル信号との何れか一方を選択する選択回路を有し、当該選択回路で選択された信号と前記複数のサンプリング部のうちの他のサンプリング部から出力される信号とに対して所定の信号処理を行う信号処理部と、
前記信号処理部で処理された信号を表示する表示部と
を備えることを特徴とする波形測定装置。 - 前記第2入力端は、前記第1入力端に対応して複数設けられており、
前記選択回路は、前記第1,第2入力端の組毎に複数設けられ、前記第1入力端に対応して設けられる前記サンプリング部から出力される信号と、前記第2入力端から入力されるディジタル信号との何れか一方を選択することを特徴とする請求項1記載の波形測定装置。 - 前記信号処理部は、前記複数のサンプリング部のうちの他のサンプリング部から出力される信号の各々に対して、当該信号に応じた所定の処理を行う第1処理回路を備えることを特徴とする請求項1記載の波形測定装置。
- 前記信号処理部は、前記選択回路に対応して設けられ、前記選択回路で選択された信号に応じた所定の信号処理を行う第2処理回路を備えることを特徴とする請求項2又は請求項3記載の波形測定装置。
- 前記第1,第2処理回路の少なくとも一方で処理された信号を記憶する記憶部と、
前記記憶部に対する前記信号の書き込み及び前記記憶部からの読み出しを制御する記憶制御部と
を備えることを特徴とする請求項4記載の波形測定装置。
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JP2008262594A JP5375017B2 (ja) | 2008-10-09 | 2008-10-09 | 波形測定装置 |
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JP2008262594A JP5375017B2 (ja) | 2008-10-09 | 2008-10-09 | 波形測定装置 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012078281A (ja) * | 2010-10-05 | 2012-04-19 | Yokogawa Electric Corp | 電力測定装置 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS50126350A (ja) * | 1974-03-26 | 1975-10-04 | ||
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JP2007292752A (ja) * | 2006-04-21 | 2007-11-08 | Tektronix Inc | 計測器用混合信号表示装置 |
-
2008
- 2008-10-09 JP JP2008262594A patent/JP5375017B2/ja active Active
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JP5375017B2 (ja) | 2013-12-25 |
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