JP2010038558A - 光波干渉による距離測定方法及び装置 - Google Patents

光波干渉による距離測定方法及び装置 Download PDF

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Abstract

【課題】空気屈折率の影響を低減した幾何学距離の干渉測定に際し、安定度の高いレーザを使用せずに、安価な装置を実現する。
【解決手段】干渉計本体からターゲット110までの幾何学距離Lを、複数の波長λ1、λ2のレーザ光を用いた光波干渉測定により求めた距離測定値D1、D2から、空気の屈折率を補正して高精度に測定する際に、光コム104を用いて複数のレーザ光の波長を測定する。その際、光コムを用いて波長可変レーザ101の発振波長を測定してフィードバック制御をかけることにより、所定の複数の波長のレーザ光を得たり、波長可変レーザを任意の複数波長で発振させて複数の距離測定値を得、各距離測定値を得た時のレーザ光の波長(周波数)を光コムで測定し、幾何学距離の演算に用いたり、複数のレーザ416、417を用い、各レーザから発振されるレーザ光の波長を光コムで測定しながら距離測定値を得ることができる。
【選択図】図2

Description

本発明は、光波干渉による距離測定方法及び装置に係り、特に、干渉計本体からターゲットまでの幾何学距離を、複数の波長のレーザ光を用いた光波干渉測定により求めた距離測定値から、空気の屈折率を補正して高精度に測定するための光波干渉による距離測定方法及び装置の改良に関する。
本体からターゲットまでの幾何学的距離あるいはターゲットの変位を高精度に測定する方法の一つに、光波干渉を利用した距離の測定がある。
この光波干渉を利用した距離の測定は、光の波長をものさしとした高精度な測定方法である(特許文献1参照)。光の波長は、高精度な時間基準で値付けされる光の周波数から換算されるものであるが、真空中での長さを表している。そのため、実際の測定環境においては、空気の屈折率による波長変化分の補正が必要となる。しかしながら、空気の屈折率は温度や湿度や気圧などの環境に依存して変化するために、正確な補正を行うためには、これら環境を正確に測定する装置が別途必要となる。
一方で、温度や湿度などの環境変化を観察することなく、空気の屈折率による誤差(不確かさ)を低減する方法として、2波長法が提案されている(特許文献2参照)。この2波長法は、異なる2つの波長λ1、λ2のレーザ光を用いた光波干渉測定により求めた、空気の屈折率の影響を受けた距離測定値D1とD2により、干渉計本体から対象物(ターゲット)までの幾何学距離Lを算出する方法である。Lは、使用する波長に応じた定数Aを使って、次式(1)によって算出することが出来る。
L=D2−A(D2−D1) …(1)
距離測定値D1とD2は、使用する2つのレーザの周波数の安定度に大きく影響されために、それぞれを精度良く得るためには、極めて安定度の高いレーザが必要となる。
特開2000−146517号公報 特開平9−61109号公報
しかしながら、周波数が正確に値付けされたレーザは高価で、波長も限られてしまう。そのため、屈折率補正の理論を効果的に、あるいは手軽に、実現することを阻害してしまっていた。
本発明は、前記従来の問題点を解消するべくなされたもので、空気屈折率の影響を低減した幾何学距離の干渉測定に関し、安定度の高い高価なレーザを使用しない、安価な距離測定装置を実現することを課題とする。
本発明は、干渉計本体からターゲットまでの幾何学距離を、複数の波長のレーザ光を用いた光波干渉測定により求めた距離測定値から、空気の屈折率を補正して高精度に測定する際に、光コムを用いて前記複数のレーザ光の波長を測定するようにして、前記課題を解決したものである。
ここで、前記光コムを用いて波長可変レーザの発振波長を測定してフィードバック制御をかけることにより、所定の複数の波長のレーザ光を得ることができる。
また、波長可変レーザを任意の複数波長で発振させて複数の距離測定値を得、各距離測定値を得た時のレーザ光の波長(周波数)を光コムで測定し、前記幾何学距離の演算に用いることができる。
また、複数のレーザを用い、各レーザから発振されるレーザ光の波長を光コムで測定しながら前記距離測定値を得ることができる。
また、前記光コムを含む一つの周波数測定系で、前記複数の波長を測定することができる。
また、任意の波長で前記複数の距離測定値を得て、波長の組み合わせにより定められる定数を使い、空気屈折率を補正した前記幾何学距離を求めることができる。
また、3つ以上の前記距離測定値から、2つずつの組み合わせによって複数の前記幾何学距離を算出し、それらの平均値によって前記幾何学距離を決定することができる。
また、波長がそれぞれλ、λ、λのレーザ光により得られる、干渉計本体からターゲットまでの、空気屈折率の影響を受けた3つの距離測定値D、D、Dとレーザ光の波長λ、λ、λの組み合わせによってきまる定数Aを使い、次式
L=D−A(D−D)−A(D−D) …(2)
を用いて、前記幾何学距離Lを決定することができる。
本発明は、又、干渉計本体からターゲットまでの幾何学距離を、複数の波長のレーザ光を用いた光波干渉測定により求めた距離測定値から、空気の屈折率を補正して高精度に測定するための距離測定装置において、前記複数のレーザ光の波長を測定するための光コムを備えたことを特徴とする光波干渉による距離測定装置を提供するものである。
ここで、前記光コムを用いて波長可変レーザの発振波長を測定してフィードバック制御をかける手段を備えることにより、所定の複数の波長のレーザ光を得ることができる。
また、波長可変レーザを任意の複数波長で発振させる手段と、複数の距離測定値を得た時のレーザ光の波長(周波数)を光コムで測定し、前記幾何学距離の演算に用いる手段とを備えることができる。
また、複数のレーザと、各レーザから発振されるレーザ光の波長を光コムで測定しながら前記距離測定値を得る手段とを備えることができる。
また、前記光コムを用いて、前記複数の波長を測定する一つの周波数測定系を備えることができる。
また、任意の波長で前記複数の距離測定値を得て、波長の組み合わせにより定められる定数を使い、空気屈折率を補正した前記幾何学距離を求める手段を備えることができる。
また、3つ以上の前記距離測定値から、2つずつの組み合わせによって複数の前記幾何学距離を算出する手段と、それらの平均値によって前記幾何学距離を決定する手段と、を備えることができる。
また、波長がそれぞれλ、λ、λのレーザ光により得られる、干渉計本体からターゲットまでの、空気屈折率の影響を受けた3つの距離測定値D、D、Dとレーザ光の波長λ、λ、λの組み合わせによってきまる定数Aを使い、次式
L=D−A(D−D)−A(D−D
を用いて、前記幾何学距離Lを決定する手段を備えることができる。
本発明によれば、安定度の高い高価なレーザを使用せずに、安価なレーザで光波干渉による距離測定を実現できるので、装置の低価格化が可能である。また、入手可能なレーザ波長の制約を受けずに、自由に波長を選択できるため、干渉測長における空気屈折率補正の理論を、より効果的にかつ手軽に利用できる。
以下、図面を参照して、本発明の実施形態を詳細に説明する。
本発明の第1実施形態にかかる距離測定装置の構成を図2に示す。
本実施形態では、波長(周波数)可変レーザ101の出力光をビームスプリッタ106で分割する。一方の光をビームスプリッタ108で分割し、一方は、例えばレトロリフレクタでなる参照鏡109で反射させて参照光とする。他方は、距離(変位)の測定対象である、例えばレトロリフレクタでなるターゲット110を照射し、そこからの反射光である測定光と、前記参照光をビームスプリッタ108で重ね合せる。参照光と測定光の信号を検出器111によって受光し、干渉強度信号により、干渉計本体からターゲット110までの距離(ターゲット110の変位)を測定する。
又、ビームスプリッタ106からの反射光を、ビームスプリッタ107を介して光コム104と重ね合わせて、検出器105で受光する。光コム104と波長可変レーザ101のビート信号を周波数測定装置103で周波数解析して、コントローラ102により、レーザ101の発振波長(周波数)をフィードバック制御する。
式(1)に従って、干渉計本体からターゲット110までの幾何学距離Lを測定するために、波長可変レーザ101と光コム104とのビート信号を見ながら、レーザ101の発振波長を定数Aに応じた所定の波長λ1にフィードバック制御して、光波干渉による距離測定値D1を得る。次に、同様に波長λ1とは異なる所定の波長λ2で測定を行い、それぞれの所定の波長λ1、λ2で得られた距離測定値D1とD2から、解析装置112で、式(1)により幾何学距離Lを算出する。
波長λ1とλ2の誤差δλ1とδλ2による幾何学距離Lの測定誤差Lerrorは、式(1)をλ1とλ2で偏微分したものから、次式(3)で示される。
Figure 2010038558
光コム104は、セシウムの原子時計を基準にして光の周波数を15桁以上の精度で測定できる装置である。従って、所定の波長λ1とλ2は、最大で15桁の精度で制御可能である。定数Aは、おおよそ2桁であることから、レーザ光の波長変動に起因する測定誤差Lerrorは、最大で13桁の精度まで高めることが出来る。この値は、幾何学距離1mを干渉測定する際に、誤差が1pm以下であることを示している。
第1実施形態の測定手順をまとめると、次のようになる。
(1)レーザ101の波長を設計波長λ1に制御する。
(2)干渉測定し、距離測定値D1を得る。
(3)レーザ101の波長を設計波長λ2に制御する。
(4)干渉測定し、距離測定値D2を得る。
(5)予め設計した波長λ1とλ2の定数Aの値を使った式(1)に代入し、幾何学距離Lを算出する。
図2では、一つのレーザ101を波長λ1とλ2に可変し、それぞれ順次測定する方法を示しているが、図3に示す第2実施形態のように、2波長以上を同時に出力するレーザ201を使って、所定の波長λ1とλ2による干渉信号を分割して同時に取る光学系(ビームスプリッタ210、バンドパスフィルタ214、215)を設けても良い。この場合、検出器105や周波数測定装置103からなる波長可変レーザ201の周波数測定系を波長λ1とλ2用にそれぞれ別々に用意しても構わないし、図3に示したように、一つの周波数測定系で、両方の波長(周波数)λ1、λ2を測定して制御することも可能である。
図4は、レーザの発振スペクトルと、その時に得られる干渉ビート信号の例を模式的に示している。図4(a1)に示す如く、所定の波長λ1とλ2と光コム104の干渉のビート信号を、光コム104の周波数間隔frepの1/2までの範囲で観察した場合には、図4(b1)に示す如く、それぞれの差の組み合わせの数の周波数のビート信号Δf1、Δf2、Δf12が観測される。一方、図4(a2)に示す如く、所定の波長λ1とλ2が、光コム104の異なる周波数(次数)との間で干渉している場合には、図4(b2)に示す如く、波長λ1とλ2は、それぞれの近隣の光との差の周波数のビート信号Δf1、Δf2が検出される。このような状況で、図4(a3)に示す如く、いずれかの波長(図ではλ2)を変化させると、変化させた分だけビート信号の周波数の変化が生じる。この現象を活用すれば、1つの周波数測定系で、波長λ1とλ2を区別することが可能である。
又、本発明を利用すれば、図5に示す第3実施形態のような構成での干渉測定への応用も可能である。
本実施形態では、波長可変レーザ101を任意の波長λ1’で発振させて、距離測定値D1を得る。次に、波長λ1’とは異なる任意の波長λ2’で発振させて、距離測定値D2を得る。距離測定値D1とD2を得た際の正確な波長を、検出器105や周波数測定装置103などからなる周波数測定系で測定し、その結果を式(1)の定数Aの値に反映させて、幾何学距離Lを算出する。
定数Aは、波長の組み合わせによって決まる値である。そのため、予め波長の組み合わせに応じた、定数Aの算出テーブルや関数などを用意しておき、波長の組み合わせによって、定数決定装置320で、定数Aの誤差が幾何学距離Lに影響を与えない範囲で、必要な値を読み出してくればよい。なお、定数決定装置320の機能を、解析装置112内に入れることもできる。
本実施形態では、レーザ101の波長を制御するための特別な装置も不要で、例えば半導体レーザのように電流可変で簡単に波長を変えられるようなレーザが使用できるために、測定装置を極めて簡素化することが出来る。
本実施形態の測定手順をまとめると次のようになる。
(1)レーザ101を任意の波長λ1’で発振させる。
(2)干渉測定し、距離測定値D1を得ると同時に、そのときの正確な発振波長λ1を測定する。
(3)レーザ101を別の波長λ2’に可変し発振させる。
(4)干渉測定し、距離測定値D2を得ると同時に、そのときの正確な発振波長λ2を測定する。
(5)距離測定値D1とD2と正確な波長λ1とλ2の組み合わせによる定数Aを使った式(1)に代入し、幾何学距離Lを算出する。
又、本発明の手法を応用すれば、図6に示す第4実施形態の如く、発振波長の安定度が低く安価なレーザを使っても、高精度な幾何学距離Lの測定が実現できる。
本実施形態では、波長λ1を発振するレーザ416と波長λ2を発振するレーザ417を同軸に重ね合わせ、参照鏡109とターゲット110からなる干渉光学系に入射する。波長λ1とλ2によって、距離測定値D1とD2を得て、式(1)によって幾何学距離Lを算出する。その際の波長λ1とλ2の正確な値は、検出器105や周波数測定装置103からなる周波数測定系によって得られたものを使用し、また、定数Aも先に示した方法によって正確に測定した波長λ1とλ2を元に、導き出したものを使用すれば良い。距離測定値D1とD2のそれぞれを測定した瞬間の波長λ1とλ2が得られる本実施形態においては、たとえ、レーザ416、417の周波数が不安定であったとしても、幾何学距離Lに大きな影響は及ぼさない。
これまでは、2波長のレーザを使った屈折率補正の方法について示したが、図7に示す第5実施形態のように、3波長以上の複数の波長を使って、更に精度の高い屈折率補正をすることも可能である。
本実施形態では、波長可変レーザ101の波長λ1、λ2、λ3・・・によって、距離測定値D1、D2、D3・・・を得て、それぞれの組み合わせによって、幾何学距離L12、L23、L31・・・を算出し、平均値を取るなど処置をすることによって、2波長を使う場合よりも、高精度な幾何学距離Lの測定を実現することができる。
他にも例えば、3つの距離測定値D1、D2、D3と波長の組み合わせによってきまる定数Aiを使って、前出の式(2)に代入し、幾何学距離Lを決定することもできる。
ここで示した方法は、4波長以上の複数波長を使って幾何学的距離Lを決定すれば、更に効果的になる。また、3波長以上の任意の波長λ1、λ2、λ3・・・で距離測定値D1、D2、D3・・・を得て、それぞれの距離測定値D1、D2、D3・・・を得た時の波長λ1、λ2、λ3・・・を光コムを使って正確に測定し、波長の組み合わせに応じた定数Aを使って、幾何学距離Lを算出しても良い。
本実施形態の場合には、波長数を増やした場合でもそれぞれに安定度の高い高価なレーザが個別に必要なわけでもないために、より高精度な幾何学距離Lの測定が簡単に実現できる。
本実施形態の測定手順をまとめると、次のようになる。
(1)レーザ101の波長を設計波長λ1に制御する。
(2)干渉測定し、距離測定値D1を得る。
(3)レーザ101の波長を設計波長λ2に制御する。
(4)干渉測定し、距離測定値D2を得る。
(5)レーザ101の波長を設計波長λ3に制御する。
(6)干渉測定し、距離測定値D3を得る。
(7)波長λ1とλ2とλ3の組み合わせに応じた定数Aiの値を使った式(3)で、幾何学距離Lを算出する。
それぞれの実施形態の中で、光の周波数を測定する装置として示した光コム104は、コムのスペクトル間隔内の限られた周波数領域ごとに高い分解能できることが基本となっている。そのため、光コム104のどの周波数の光との干渉によって生じたビート信号なのか、別途、次数Nを決定する必要がある。レーザの発振周波数の予備値やレーザ周波数の可変時の分解能などによって、次数Nを決定できない場合には、図8に示す第6実施形態のように、波長計601などの波長を測定できる手段と併用して、次数Nを決定し、波長可変レーザ101の波長λ1、λ2を測定して、発振周波数の制御に使用しても良いし、図3に示した第2実施形態に併用して、幾何学距離Lの算出に使用しても良い。
前記実施形態においては、参照鏡109として、ターゲット110と同じレトロリフレクタを用いていたので、光軸が合わせ易く、調整が容易である。なお、参照鏡の種類は、レトロリフレクタに限定されず、平面鏡であっても良い。
本発明で用いる光コムの説明図 本発明の第1実施形態の構成を示すブロック図 本発明の第2実施形態の構成を示すブロック図 本発明で用いるレーザのスペクトルとビート信号の周波数の例を示す図 本発明の第3実施形態の構成を示すブロック図 本発明の第4実施形態の構成を示すブロック図 本発明の第5実施形態の構成を示すブロック図 本発明の第6実施形態の構成を示すブロック図
符号の説明
101、201…波長可変レーザ
102…コントローラ
103…周波数測定装置
104…光コム
105、111、213…検出器
106、107、108、210…ビームスプリッタ
109…参照鏡
110…ターゲット
112…解析装置
214、215…バンドパスフィルタ
320…定数決定装置
416、417…レーザ
601…波長計

Claims (16)

  1. 干渉計本体からターゲットまでの幾何学距離を、複数の波長のレーザ光を用いた光波干渉測定により求めた距離測定値から、空気の屈折率を補正して高精度に測定する際に、
    光コムを用いて前記複数のレーザ光の波長を測定することを特徴とする光波干渉による距離測定方法。
  2. 前記光コムを用いて波長可変レーザの発振波長を測定してフィードバック制御をかけることにより、所定の複数の波長のレーザ光を得ることを特徴とする請求項1に記載の光波干渉による距離測定方法。
  3. 波長可変レーザを任意の複数波長で発振させて複数の距離測定値を得、各距離測定値を得た時のレーザ光の波長(周波数)を光コムで測定し、前記幾何学距離の演算に用いることを特徴とする請求項1に記載の光波干渉による距離測定方法。
  4. 複数のレーザを用い、各レーザから発振されるレーザ光の波長を光コムで測定しながら前記距離測定値を得ることを特徴とする請求項1に記載の光波干渉による距離測定方法。
  5. 前記光コムを含む一つの周波数測定系で、前記複数の波長を測定することを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の光波干渉による距離測定方法。
  6. 任意の波長で前記複数の距離測定値を得て、波長の組み合わせにより定められる定数を使い、空気屈折率を補正した前記幾何学距離を求めることを特徴とする請求項3乃至5のいずれかに記載の光波干渉による距離測定方法。
  7. 3つ以上の前記距離測定値から、2つずつの組み合わせによって複数の前記幾何学距離を算出し、それらの平均値によって前記幾何学距離を決定することを特徴とする請求項1乃至6のいずれかに記載の光波干渉による距離測定方法。
  8. 波長がそれぞれλ、λ、λのレーザ光により得られる、干渉計本体からターゲットまでの、空気屈折率の影響を受けた3つの距離測定値D、D、Dとレーザ光の波長λ、λ、λの組み合わせによってきまる定数Aを使い、次式
    L=D−A(D−D)−A(D−D
    を用いて、前記幾何学距離Lを決定することを特徴とする請求項1乃至6のいずれかに記載の光波干渉による距離測定方法。
  9. 干渉計本体からターゲットまでの幾何学距離を、複数の波長のレーザ光を用いた光波干渉測定により求めた距離測定値から、空気の屈折率を補正して高精度に測定するための距離測定装置において、
    前記複数のレーザ光の波長を測定するための光コムを備えたことを特徴とする光波干渉による距離測定装置。
  10. 前記光コムを用いて波長可変レーザの発振波長を測定してフィードバック制御をかける手段を備えることにより、所定の複数の波長のレーザ光を得ることを特徴とする請求項9に記載の光波干渉による距離測定装置。
  11. 波長可変レーザを任意の複数波長で発振させる手段と、複数の距離測定値を得た時のレーザ光の波長(周波数)を光コムで測定し、前記幾何学距離の演算に用いる手段とを備えたことを特徴とする請求項9に記載の光波干渉による距離測定装置。
  12. 複数のレーザと、各レーザから発振されるレーザ光の波長を光コムで測定しながら前記距離測定値を得る手段とを備えたことを特徴とする請求項9に記載の光波干渉による距離測定装置。
  13. 前記光コムを用いて、前記複数の波長を測定する一つの周波数測定系を備えたことを特徴とする請求項9乃至12のいずれかに記載の光波干渉による距離測定装置。
  14. 任意の波長で前記複数の距離測定値を得て、波長の組み合わせにより定められる定数を使い、空気屈折率を補正した前記幾何学距離を求める手段を備えたことを特徴とする請求項11乃至14のいずれかに記載の光波干渉による距離測定装置。
  15. 3つ以上の前記距離測定値から、2つずつの組み合わせによって複数の前記幾何学距離を算出する手段と、それらの平均値によって前記幾何学距離を決定する手段と、を備えたことを特徴とする請求項9乃至14のいずれかに記載の光波干渉による距離測定装置。
  16. 波長がそれぞれλ、λ、λのレーザ光により得られる、干渉計本体からターゲットまでの、空気屈折率の影響を受けた3つの距離測定値D、D、Dとレーザ光の波長λ、λ、λの組み合わせによってきまる定数Aを使い、次式
    L=D−A(D−D)−A(D−D
    を用いて、前記幾何学距離Lを決定する手段を備えたことを特徴とする請求項9乃至14のいずれかに記載の光波干渉による距離測定装置。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016138795A (ja) * 2015-01-27 2016-08-04 株式会社東京精密 干渉計測装置及び干渉計測方法
KR101792632B1 (ko) * 2016-06-01 2017-11-01 한국표준과학연구원 측정 불가 구간과 방향 모호성이 없는 절대거리 측정을 위한 분광형 간섭계 시스템
JP2018503872A (ja) * 2014-12-29 2018-02-08 エーエスエムエル ホールディング エヌ.ブイ. アライメントシステムのフィードバック制御システム
KR20220125431A (ko) * 2021-03-05 2022-09-14 부산대학교 산학협력단 복수개의 광주파수 도약스캔 레이저를 이용한 광간섭 거리측정 시스템 및 방법

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102679950B (zh) * 2012-05-18 2014-06-18 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所 一种基于三波长飞秒激光的测距装置及方法
EP2816315B1 (en) * 2013-06-18 2015-09-23 Hexagon Technology Center GmbH Interferometric determination of distance change with laser diode, high bandwidth detection and fast signal processing
PL223582B1 (pl) 2013-08-02 2016-10-31 Aic Spółka Akcyjna Rura opalanego wymiennika ciepła
JP6553967B2 (ja) 2015-07-14 2019-07-31 株式会社ミツトヨ 瞬時位相シフト干渉計
CN105445749A (zh) * 2015-11-13 2016-03-30 中国人民解放军空军装备研究院雷达与电子对抗研究所 一种基于波长分割的多脉冲激光测距系统和方法
CN106370111B (zh) * 2016-09-23 2019-11-26 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所 一种基于变频测相原理的飞秒激光测长装置及方法
US11598628B1 (en) * 2017-06-15 2023-03-07 Ball Aerospace & Technologies Corp. High dynamic range picometer metrology systems and methods
DE102018211913B4 (de) 2018-07-17 2022-10-13 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum Erfassen einer Objektoberfläche mittels elektromagnetischer Strahlung
JP2021148634A (ja) * 2020-03-19 2021-09-27 株式会社ミツトヨ レーザ干渉装置
CN111609798B (zh) * 2020-05-12 2021-04-16 浙江理工大学 锁至动态边带的可变合成波长绝对距离测量装置与方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2553276B2 (ja) * 1991-03-27 1996-11-13 エイチイー・ホールディングス・インコーポレーテッド・ディービーエー・ヒューズ・エレクトロニクス 3波長光学測定装置及び方法
JPH08320206A (ja) * 1995-03-23 1996-12-03 Nikon Corp 光波干渉測定装置および光波干渉測定方法
JPH0961109A (ja) * 1995-08-24 1997-03-07 Nikon Corp 光波干渉測定装置
JP2007040994A (ja) * 2005-08-01 2007-02-15 Mitsutoyo Corp 干渉計測システム

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US628456A (en) * 1898-12-03 1899-07-11 Albert Fuller Injector.
JP3423229B2 (ja) 1998-11-17 2003-07-07 株式会社ミツトヨ 光波干渉計及び光波干渉計を用いた測長方法
JP3739987B2 (ja) * 2000-02-18 2006-01-25 財団法人神奈川科学技術アカデミー トモグラフィー装置
US7440112B2 (en) * 2004-08-18 2008-10-21 National University Corporation Method and an apparatus for shape measurement, and a frequency comb light generator
KR100951618B1 (ko) * 2008-02-19 2010-04-09 한국과학기술원 광주파수 발생기를 이용한 절대거리 측정방법 및 시스템

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2553276B2 (ja) * 1991-03-27 1996-11-13 エイチイー・ホールディングス・インコーポレーテッド・ディービーエー・ヒューズ・エレクトロニクス 3波長光学測定装置及び方法
JPH08320206A (ja) * 1995-03-23 1996-12-03 Nikon Corp 光波干渉測定装置および光波干渉測定方法
JPH0961109A (ja) * 1995-08-24 1997-03-07 Nikon Corp 光波干渉測定装置
JP2007040994A (ja) * 2005-08-01 2007-02-15 Mitsutoyo Corp 干渉計測システム

Non-Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
JPN6013011339; Jonghan Jin, Young-Jin Kim, Yunseok Kim and Seung-Woo Kim: '"Absolute length calibration of gauge blocks using optical comb of a femtosecond pulse laser"' OPTICS EXPRESS Vol.14, No.13, 20060626, pages 5968-5974 *
JPN6013011343; Nicolas Schuler, Yves Salvade, Samuel Leveque, Rene Dandliker, Ronald Holzwarth: '"Frequency-comb-referenced two-wavelength source for absolute distance measurement"' OPTICS LETTERS Vol.31, No.21, 200611, pages 3101-3103 *
JPN6013011345; Mikko Merimma, K. Nyholm, M. Vainio, Antti Lassila: '"Traceability of Laser Frequency Calibrations at MIKES"' IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT Vol.56, No.2, 200704, pages 500-504 *
JPN6013011349; Youichi Bitou, Thomas R. Schibli, Kaoru Minoshima: '"Accurate wide-range displacement measurement using tunable diode laser and optical frequency comb g' OPTICS EXPRESS Vol.14, No.2, 200601, pages 644-654 *
JPN6013011353; T.R.Schibli, K.Minoshima, Y.Bitou, F.-L.Hong, H.Inaba, A.Onae, H.Matsumoto: '"Displacement metrology with sub-pm resolution in air based on a fs-comb wavelength synthesizer"' OPTICS EXPRESS Vol.14, No.13, 200606, pages 5984-5993 *
JPN6013011356; Yves Salvade, Nicolas Schuler, Samuel Leveque, Sebastien Le Floch: '"High-accuracy absolute distance measurement using frequency comb referenced multiwavelength source"' APPLIED OPTICS Vol.47, No.14, 20080510, pages 2715-2720 *

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018503872A (ja) * 2014-12-29 2018-02-08 エーエスエムエル ホールディング エヌ.ブイ. アライメントシステムのフィードバック制御システム
US10082740B2 (en) 2014-12-29 2018-09-25 Asml Holding N.V. Feedback control system of an alignment system
JP2016138795A (ja) * 2015-01-27 2016-08-04 株式会社東京精密 干渉計測装置及び干渉計測方法
KR101792632B1 (ko) * 2016-06-01 2017-11-01 한국표준과학연구원 측정 불가 구간과 방향 모호성이 없는 절대거리 측정을 위한 분광형 간섭계 시스템
WO2017209352A1 (ko) * 2016-06-01 2017-12-07 한국표준과학연구원 측정 불가 구간과 방향 모호성이 없는 절대거리 측정을 위한 분광형 간섭계 시스템
KR20220125431A (ko) * 2021-03-05 2022-09-14 부산대학교 산학협력단 복수개의 광주파수 도약스캔 레이저를 이용한 광간섭 거리측정 시스템 및 방법
KR102571110B1 (ko) 2021-03-05 2023-08-25 부산대학교 산학협력단 복수개의 광주파수 도약스캔 레이저를 이용한 광간섭 거리측정 시스템 및 방법

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US8368900B2 (en) 2013-02-05
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