CN111609798B - 锁至动态边带的可变合成波长绝对距离测量装置与方法 - Google Patents

锁至动态边带的可变合成波长绝对距离测量装置与方法 Download PDF

Info

Publication number
CN111609798B
CN111609798B CN202010396830.6A CN202010396830A CN111609798B CN 111609798 B CN111609798 B CN 111609798B CN 202010396830 A CN202010396830 A CN 202010396830A CN 111609798 B CN111609798 B CN 111609798B
Authority
CN
China
Prior art keywords
frequency
laser
optical fiber
wavelength
phase modulator
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202010396830.6A
Other languages
English (en)
Other versions
CN111609798A (zh
Inventor
严利平
谢建东
陈本永
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Zhejiang University of Technology ZJUT
Original Assignee
Zhejiang University of Technology ZJUT
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Zhejiang University of Technology ZJUT filed Critical Zhejiang University of Technology ZJUT
Priority to CN202010396830.6A priority Critical patent/CN111609798B/zh
Priority to US17/623,611 priority patent/US12007250B2/en
Priority to PCT/CN2020/107743 priority patent/WO2021227265A1/zh
Publication of CN111609798A publication Critical patent/CN111609798A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN111609798B publication Critical patent/CN111609798B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C3/00Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders
    • G01C3/02Details
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/21Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  by interference
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • G01B9/02001Interferometers characterised by controlling or generating intrinsic radiation properties
    • G01B9/02002Interferometers characterised by controlling or generating intrinsic radiation properties using two or more frequencies
    • G01B9/02004Interferometers characterised by controlling or generating intrinsic radiation properties using two or more frequencies using frequency scans
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • G01B9/02001Interferometers characterised by controlling or generating intrinsic radiation properties
    • G01B9/0201Interferometers characterised by controlling or generating intrinsic radiation properties using temporal phase variation
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/10Beam splitting or combining systems
    • G02B27/12Beam splitting or combining systems operating by refraction only
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/068Stabilisation of laser output parameters
    • H01S5/0683Stabilisation of laser output parameters by monitoring the optical output parameters
    • H01S5/0687Stabilising the frequency of the laser
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/28Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 for polarising
    • G02B27/283Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 for polarising used for beam splitting or combining
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F2203/00Function characteristic
    • G02F2203/50Phase-only modulation

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)

Abstract

本发明公开了一种锁定至动态边带的可变合成波长绝对距离测量装置与方法。用由可调时钟源驱动的高频电光相位调制器对单频参考激光进行调制,产生等频率间隔的激光边带;通过偏频锁定技术将可调谐激光器锁定至第五阶边带;锁定后,边带的间隔频率由可调时钟源决定,即动态边带;动态调整可调时钟源的频率,边带的间隔频率与两激光器的频差将随之改变;结合多波长干涉法,所构建的合成波长也由可调时钟源决定,即可变合成波长;动态调整可变合成波长,从大到小连续构建多级二阶合成波长;结合合成波长过渡理论求得待测距离。本发明解决了绝对距离测量中难以从大到小连续精确构建多级合成波长的问题,可以广泛应用于干涉测量技术领域。

Description

锁至动态边带的可变合成波长绝对距离测量装置与方法
技术领域
本发明属于激光干涉测量领域,特别是锁至动态边带的可变合成波长绝对距离测量装置与方法。
背景技术
基于合成波长的多波长干涉法因非模糊距离大、相对精度高等优点,被广泛应用于绝对距离干涉测量领域。多波长干涉法的关键技术是通过多个不同的激光波长来构建合成波长。采用固定波长激光器(如氦氖激光器、碘稳频激光器)的传统方法,需要多个波长就需要多台激光器,导致系统变得复杂,并且合成波长的构建会受限制,难以实现从大到小的级间过渡。采用可调谐激光器的传统方法主要通过对激光二极管的电流进行调制来实现激光波长的调谐,进而实现多个波长。但传统方法中激光波长调谐分辨力不够高,难以精确构建大合成波长,并且调谐范围不够大,难以构建小合成波长;此外,调谐精度不够高并且调谐过程容易受到环境温度等的干扰,导致合成波长稳定性差,测量精度难以提高。
近些年,将可调谐激光器锁定至飞秒光频梳的多波长干涉法提高了频率调谐精度,但飞秒光频梳的梳齿间隔频率通常仅能在MHz量级进行微调,因而要获得不同波长的激光,需要将可调谐激光器锁定至不同的梳齿,构建不同合成波长时需要先解锁后再重新锁定至另一梳齿,合成波长大小由两次锁定时跳过的梳齿数目来确定,频繁地进行锁定与解锁对偏频锁定系统要求极高并且比较耗时,降低了测量效率。此外,受限于光频梳重复频率,这种方法通常仅能构建3m以内的合成波长,难以满足大尺寸绝对距离测量的要求。
所以,如何控制激光器精确地进行频率调谐、如何从大到小连续构建多级合成波长都是需要解决的关键技术问题。
发明内容
为了解决背景技术中存在的问题,本发明公开了一种锁至高频电光相位调制器(EOM)动态边带的可变合成波长绝对距离测量装置与方法,本发明解决了多波长干涉法中频率调谐精度低、绝对距离测量中难以从大到小连续精确构建多级合成波长的问题,能广泛应用于干涉测量领域。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:
一、一种锁至动态边带的可变合成波长绝对距离测量装置:
装置包括参考激光器、第一光纤分束器、高频电光相位调制器、正交光纤合束器、高频放大器、可调时钟源、原子钟、偏频探测及锁定控制器、可调谐激光器、第二光纤分束器、光纤合束器和弦相位调制干涉仪;参考激光器的输出端连接至第一光纤分束器的输入端,第一光纤分束器的输出端分别连接至高频电光相位调制器的一个输入端和正交光纤合束器的一个输入端;可调时钟源的输出端连接至高频放大器的输入端,高频放大器的输出端连接至高频电光相位调制器的另一个输入端,高频电光相位调制器的输出端连接至光纤合束器的输入端;可调谐激光器的输出端连接至第二光纤分束器的输入端,第二光纤分束器的输出端分别连接至光纤合束器的另一个输入端和正交光纤合束器的另一个输入端;光纤合束器的输出端连接到偏频探测及锁定控制器的输入端,偏频锁定控制器的输出端连接至可调谐激光器的输入端;正交光纤合束器的输出端连接至耦合器的输入端;耦合器输出到正弦相位调制干涉仪,原子钟的输出端连接至可调时钟源和偏频探测及锁定控制器的输入端。
参考激光器发出的激光作为参考激光,经第一光纤分束器分为功率比为80:20的两束激光,其中功率占比为20%的一束激光输入至高频电光相位调制器进行调制产生等频率间隔的激光边带,激光边带的频率间隔等于可调时钟源的时钟频率;可调谐激光器发出的激光经第二光纤分束器分为功率比为90:10的两束激光,其中功率占比为10%的一束激光与高频电光相位调制器调制产生的激光边带共同进入光纤合束器进行合光并输入至偏频探测及锁定控制器,偏频探测及锁定控制器产生反馈控制信号到可调谐激光器,将可调谐激光器的激光频率锁定至参考激光的边带;参考激光经第一光纤分束器输出的功率占比为80%的另一束激光与可调谐激光经第二光纤分束器输出的功率占比为90%的另一束激光输入至正交光纤合束器进行合光并传输至耦合器,耦合器输出正交偏振光至正弦相位调制干涉仪测量模块。
所述的正弦相位调制干涉仪包括参考镜、低频电光相位调制器、分光镜、测量镜、偏振分光镜、第一光电探测器、第二光电探测器、第二模数转换器、第一模数转换器和现场可编程门阵列信号处理器;耦合器输出正交线偏振光射向由参考镜、低频电光相位调制器、分光镜、测量镜、偏振分光镜、第一光电探测器、第二光电探测器、第一模数转换器、第二模数转换器和现场可编程门阵列信号处理器组成的正弦相位调制干涉仪测量模块;低频电光相位调制器置于分光镜和参考镜之间的参考臂中;参考激光器和可调谐激光器的干涉信号经第一光电探测器与第二光电探测器探测、第一模数转换器与第二模数转换器采样后进入现场可编程门阵列信号处理器进行相位解调。
耦合器输出的激光中,参考激光为P偏振态,可调谐激光为S偏振态;激光经分光镜后分为透射的测量光与反射的参考光,测量光经测量镜反射后平行地返回分光镜再反射,形成测量光路;参考光经低频电光相位调制器后输入到参考镜,经参考镜反射后平行地返回分光镜再透射,形成参考光路;返回到分光镜的测量光和参考光合光后经偏振分光镜分为透射的P偏振态和反射的S偏振态的两束光,P偏振态的一束光照射到第一光电探测器,S偏振态的一束光照射到第二光电探测器;第一光电探测器和第二光电探测器的输出端分别经各自的第一模数转换器与第二模数转换器连接到现场可编程们阵列信号处理器(FPGA)中进行数据相位解调处理。
二、一种锁至动态边带的可变合成波长绝对距离测量方法:
1)使用高频电光相位调制器对单频的参考激光器输出的激光进行高频正弦相位调制,产生等频率间隔的激光边带,表示如下:
fEOM=f1+k·fr
其中,f1表示参考激光器的激光频率,fr表示高频电光相位调制器的调制频率,k表示调制产生的激光边带的阶数,k=0,±1,±2,……;
2)可调谐激光器输出的激光与参考激光器经高频电光相位调制器调制后输出的激光边带经光纤合束器合光拍频,通过偏频探测及锁定控制器将可调谐激光器锁定至第N阶激光边带,具体实施中阶数N=5,可调谐激光器和参考激光器的频率关系表示如下:
f2=f1+fb
fb=Nfr+fo
其中,f2表示可调谐激光器的激光频率,fb表示可调谐激光器与参考激光器的频差,fo表示可调谐激光器与第N边带的锁定偏置频率,具体实施中fo=20MHz;
对高频电光相位调制器的调制频率fr进行频率动态调整,产生间隔频率可变的边带即动态边带,后续共进行M次频率动态调整,i表示频率动态调整次数的序号(i=1,2,3……M),每次动态调整后高频电光相位调制器调制频率记为fr[i],其中fr[0]表示初始频率;第i次频率动态调整时可调谐激光器与参考激光器的频差计算为:
fb[i]=Nfr[i]+fo
其中,fb[i]表示第i次频率动态调整时可调谐激光器与参考激光器的动态频差;
可调谐激光器的频率计算为:
f2[i]=f1+fb[i]=f1+Nfr[i]+fo
其中,f2[i]表示第i次频率动态调整时可调谐激光器的动态频率;
在偏频探测及锁定控制器的闭环控制作用下,对高频电光相位调制器调制频率进行动态调整时,可调谐激光器仍保持与参考激光器的第N阶边带的锁定状态;在动态边带的频率fr[i]动态调整时,可调谐激光器的激光频率同步进行频率调整并且调整量放大了N倍。
3)使用正交光纤合束器将参考激光器与可调谐激光器的激光合为一束正交线偏振光,入射至正弦相位调制干涉仪测量模块进行绝对距离测量,构建合成波长λs[i],公式如下:
Figure BDA0002487892390000041
λ2[i]=c/f2[i],λ1=c/f1
其中,λ1为参考激光器的激光波长、λ2[i]为第i次调整高频电光相位调制器调制频率后可调谐激光器的激光波长,c表示真空光速;
合成波长的大小由高频电光相位调制器调制频率fr[i]决定,每次动态调整高频电光相位调制器的调制频率fr[i]后,用第i次的合成波长与第i-1次的合成波长来构建二阶合成波长λss[i],公式如下:
Figure BDA0002487892390000042
Δfr[i]=fr[i]-fr[i-1]
其中,Δfr[i]表示高频电光相位调制器第i次的频率动态调整增量,Δfr[i]>0;
二阶合成波长的大小由Δfr[i]决定,即合成波长可变;并且频率动态调整增量越小,二阶合成波长越大,反之频率动态调整增量越大,二阶合成波长越小。进而通过控制频率动态调整增量可以连续构建从km量级至mm量级的二阶合成波长。
此外,动态边带的频率动态调整增量Δfr[i]溯源至原子钟,保证了所构建的二阶合成波长的稳定性与可溯源性。
4)正弦相位调制干涉仪测量模块中,参考激光器和可调谐激光器的干涉信号分别经两个光电探测器探测后,再经模数转换器采样后进入现场可编程门阵列信号处理器进行相位解调,得到两路干涉信号相位,计算合成波长的相位(即两路干涉信号的相位差)和二阶合成波长的相位分别为:
Figure BDA0002487892390000051
Figure BDA0002487892390000052
其中,L表示正弦相位调制干涉仪中测量镜的待测距离,
Figure BDA0002487892390000053
表示参考激光器的干涉信号相位,
Figure BDA0002487892390000054
Figure BDA0002487892390000055
分别表示第i次调整高频电光相位调制器调制频率后可调谐激光器的干涉信号相位、合成波长相位和二阶合成波长相位;
5)高频电光相位调制器的调制频率第i=1次动态调整后,根据二阶合成波长和对应相位求得对应的绝对距离的初测测量结果,公式如下:
Figure BDA0002487892390000056
高频电光相位调制器调制频率第i次动态调整后,i>1,根据合成波长过渡理论,绝对距离的测量结果表示如下:
Figure BDA0002487892390000057
其中,int[]表示向上取整;
6)重复完成步骤3)、4)、5)一共进行重复进行M次,完成M次频率动态调整,最终获得测量结果为最后一次的绝对距离LM
上述各次的测距结果合并表示公式如下:
Figure BDA0002487892390000058
本发明在上述方法测量过程中,二阶合成波长不断缩小,测量精度不断提高,最终实现千米量级测量范围内十微米量级精度的大尺寸绝对距离测量。
与背景技术相比,本发明具有的有益效果是:
(1)本发明锁至高频EOM动态边带的可变合成波长构建方法,巧妙运用动态边带实现“频率放大”效应,可以实现从大到小连续构建多级二阶合成波长(千米至毫米量级),解决了大尺寸绝对距离测量中难以从大到小连续精确构建多级合成波长的问题;
(2)本发明所构建的二阶合成波长直接溯源至原子钟,频率稳定性高,提高了测量精度;
(3)本发明构建可变合成波长的过程中,可调谐激光器始终保持锁定状态,无需锁定解锁的切换过程,节约了频率切换所需的时间,提高了测量效率与稳定性。
综合来说,本发明解决了多波长干涉绝对距离测量方法中频率调谐精度低、难以从大到小连续精确构建多级合成波长的问题,可以广泛应用于干涉测量领域。
附图说明
图1是可调谐激光器锁至参考激光器的动态边带时激光频率关系示意图。
图2是锁至动态边带的可变合成波长绝对距离测量装置与方法原理框图。
图中:1、参考激光器,2、第一光纤分束器,3、高频电光相位调制器(EOM),4、正交光纤合束器,5、耦合器,6、参考镜,7、低频电光相位调制器(EOM),8、分光镜,9、测量镜,10、高频放大器,11、可调时钟源,12、原子钟,13、偏频探测及锁定控制器,14、可调谐激光器,15、第二光纤分束器,16、光纤合束器,17、偏振分光镜,18、第一光电探测器,19、第二光电探测器,20、第二模数转换器,21、第一模数转换器,22、现场可编程门阵列信号处理器(FPGA)。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的说明。
如图2所示,本发明具体实施的装置包括参考激光器1、第一光纤分束器2、高频电光相位调制器3、正交光纤合束器4、高频放大器10、可调时钟源11、原子钟12、偏频探测及锁定控制器13、可调谐激光器14、第二光纤分束器15、光纤合束器16和弦相位调制干涉仪。
参考激光器1的输出端连接至第一光纤分束器2的输入端,第一光纤分束器2的输出端分别连接至高频电光相位调制器3的一个输入端和正交光纤合束器4的一个输入端;可调时钟源11的输出端连接至高频放大器10的输入端,高频放大器10的输出端连接至高频电光相位调制器3的另一个输入端,高频电光相位调制器3的输出端连接至光纤合束器16的输入端;可调谐激光器14的输出端连接至第二光纤分束器15的输入端,第二光纤分束器15的输出端分别连接至光纤合束器16的另一个输入端和正交光纤合束器4的另一个输入端;光纤合束器16的输出端连接到偏频探测及锁定控制器13的输入端,偏频锁定控制器13的输出端连接至可调谐激光器14的输入端;正交光纤合束器4的输出端连接至耦合器5的输入端;耦合器5输出到正弦相位调制干涉仪,原子钟12的输出端连接至可调时钟源11和偏频探测及锁定控制器13的输入端。
参考激光器1发出的激光作为参考激光,经第一光纤分束器2分为功率比为80:20的两束激光,其中功率占比为20%的一束激光输入至高频电光相位调制器3进行调制产生等频率间隔的激光边带,激光边带的频率间隔等于可调时钟源11的时钟频率;可调谐激光器14发出的激光经第二光纤分束器15分为功率比为90:10的两束激光,其中功率占比为10%的一束激光与高频电光相位调制器3调制产生的激光边带共同进入光纤合束器16进行合光并输入至偏频探测及锁定控制器13,偏频探测及锁定控制器13产生反馈控制信号到可调谐激光器14,将可调谐激光器14的激光频率锁定至参考激光的特定边带。参考激光经第一光纤分束器2输出的功率占比为80%的另一束激光与可调谐激光14经第二光纤分束器15输出的功率占比为90%的另一束激光输入至正交光纤合束器4进行合光并传输至耦合器5,耦合器5输出正交偏振光至正弦相位调制干涉仪测量模块。
正弦相位调制干涉仪包括参考镜6、低频电光相位调制器7、分光镜8、测量镜9、偏振分光镜17、第一光电探测器18、第二光电探测器19、第二模数转换器20、第一模数转换器21和现场可编程门阵列信号处理器22;耦合器5输出正交线偏振光射向由参考镜6、低频电光相位调制器7、分光镜8、测量镜9、偏振分光镜17、第一光电探测器18、第二光电探测器19、第一模数转换器21、第二模数转换器20和现场可编程门阵列信号处理器22组成的正弦相位调制干涉仪测量模块;低频电光相位调制器7置于分光镜8和参考镜6之间的参考臂中;参考激光器1和可调谐激光器14的干涉信号经第一光电探测器18与第二光电探测器19探测、第一模数转换器21与第二模数转换器20采样后进入现场可编程门阵列信号处理器22进行相位解调。其中,正弦相位调制干涉仪测量模块包括分光镜、参考镜、低频EOM、测量镜、偏振分光镜、第一光电探测器、第二光电探测器、第一模数转换器、第二模数转换器和现场可编程门阵列信号处理器(FPGA)。
耦合器5输出的激光中,参考激光为P偏振态,可调谐激光为S偏振态;激光经分光镜8后分为透射的测量光与反射的参考光,参考激光发生反射,可调谐激光发生透射,测量光经测量镜9反射后平行地返回分光镜再反射,形成测量光路;参考光经低频电光相位调制器7后输入到参考镜6,经参考镜6反射后平行地返回分光镜8再透射,形成参考光路;返回到分光镜8的测量光和参考光分别经反射和透射过分光镜8合光后经偏振分光镜17分为透射的P偏振态和反射的S偏振态的两束光,P偏振态的一束光照射到第一光电探测器18,S偏振态的一束光照射到第二光电探测器19;第一光电探测器18和第二光电探测器19的输出端分别经各自的第一模数转换器21与第二模数转换器20连接到现场可编程们阵列信号处理器(FPGA)中进行数据相位解调处理。
具体实施中,原子钟为可调时钟源和偏频探测及锁定控制器提供频率为10MHz的参考时钟。
实施例过程如下:
原子钟12为可调时钟源11和偏频探测及锁定控制器13提供频率为10MHz的参考时钟;参考激光器1发出的激光经第一光纤分束器2分为功率比为80:20的两束激光,其中功率比为20%的激光输入至高频电光相位调制器3进行调制产生等频率间隔的激光边带,激光边带的频率间隔等于可调时钟源11的时钟频率;则激光边带的频率可以表示如下:
fEOM=f1+k·fr (1)
其中,f1表示参考激光器1的激光频率,fr=12GHz表示高频电光相位调制器3的调制频率(即可调时钟源的频率),k表示调制产生的激光边带的阶数(k=0,±1,±2…)。
可调谐激光器14发出的激光经第二光纤分束器15分为功率比为90:10的两束激光,第二光纤分束器15输出的功率比为10%的激光与高频电光相位调制器3调制产生的激光边带共同进入光纤合束器16进行合光并输入至偏频探测及锁定控制器13,偏频探测及锁定控制器13产生反馈控制信号到可调谐激光器14,将可调谐激光器14的激光频率锁定至参考激光1的第N阶边带(N=5)。则两激光器的频率关系可表示如下:
f2=f1+fb (2)
其中,f2表示可调谐激光器14的激光频率,fb为可调谐激光器14与参考激光器1的频差,公式如下:
fb=Nfr+fo (3)
其中,fo=20MHz表示可调谐激光器14与第N边带的锁定偏置频率。
通过改变可调时钟源11的输出频率fr对高频电光相位调制器的调制频率进行动态调整,产生间隔频率不同的边带,即动态边带;一共进行M次频率动态调整,i表示动态调整序号(i=1,2,3……M),每次动态调整时可调时钟源11的频率记为fr[i],其中fr[0]表示初始频率;第i次动态调整时,可调谐激光器14与参考激光器1的动态频差fb[i]表示为:
fb[i]=Nfr[i]+fo (4)
则可调谐激光器14的动态频率f2[i]表示为:
f2[i]=f1+fb[i]=f1+Nfr[i]+fo (5)
如图1所示为第i次动态调整前后,可调谐激光器锁至参考激光器的动态边带时激光频率关系示意图,即对公式(5)的进一步描述。在偏频探测及锁定控制器13的闭环控制作用下,控制可调时钟源11对高频电光相位调制器3的调制频率进行动态调节,可调谐激光器14将保持与参考激光器1的第N阶边带的锁定状态,形成频率传输链,建立了激光频差fr[i]与可调时钟源11(射频微波频率)的关系并溯源至原子钟12,即公式(5)恒成立。因此,在动态边带的间隔频率fr[i]动态调整时,可调谐激光器14的激光频率同步进行频率调整并且调整量放大了N倍(N=5);即锁定至动态边带可起到频率放大作用,理论上锁定的阶数越大,频率放大作用越强。使用正交光纤合束器4将参考激光器1与可调谐激光器14的激光合为一束正交光,入射至正弦相位调制干涉仪测量模块进行绝对距离测量,构建合成波长,公式如下:
Figure BDA0002487892390000091
其中,λ1=c/f1为参考激光器1的激光波长、λ2[i]=c/f2[i]为第i次调整高频EOM调制频率后可调谐激光器14,c表示真空光速;显然,合成波长大小由可调时钟源11的频率fr[i]决定,每次动态调整可调时钟源11的频率后,都用第i次的合成波长λ2[i]与第i-1次的合成波长λ2[i-1]来构建二阶合成波长,公式如下:
Figure BDA0002487892390000092
其中,Δfr[i]=fr[i]-fr[i-1]表示可调时钟源11的第i次频率动态调整增量(Δfr[i]>0),则二阶合成波长大小由可调时钟源11的频率动态调整增量决定,即可变合成波长;并且频率动态调整增量越小,二阶合成波长越大,反之频率动态调整增量越大,二阶合成波长越小。进而通过控制频率增量可以连续构建从km量级至mm量级的二阶合成波长;此外,动态边带的频率动态调整增量Δfr[i]溯源至原子钟12,保证了所构建的二阶合成波长的稳定性与可溯源性。
正弦相位调制干涉仪测量模块中,现场可编程门阵列信号处理器22解调得到两路干涉信号的相位分别表示如下:
Figure BDA0002487892390000093
Figure BDA0002487892390000101
其中,L表示测量镜的待测距离,
Figure BDA0002487892390000102
表示参考激光器的干涉信号相位,
Figure BDA0002487892390000103
表示第i次调整高频EOM调制频率后可调谐激光器的干涉信号相位;则合成波长(λs[i])相位可表示为:
Figure BDA0002487892390000104
则二阶合成波长相位可表示为:
Figure BDA0002487892390000105
可调时钟源11第1次(i=1)频率动态调整后,根据二阶合成波长和对应相位可求得对应的绝对距离测量的初测结果,公式如下:
Figure BDA0002487892390000106
可调时钟源11第i次(i>1)频率动态调整后,根据合成波长过渡理论,测距结果可表示如下:
Figure BDA0002487892390000107
其中,int[]表示向上取整;重复完成步骤(3)、(4)、(5)一共进行M次(M=5),最终的测量结果为LM;公式(12)与公式(13)可合并表示如下:
Figure BDA0002487892390000108
表1所示,为每次可调时钟源11的频率增量以及对应二阶合成波长与预测精度;显然,二阶合成波长最大为2400m(i=1),可满足1200m范围内的大尺寸绝对距离测量的需求;在二阶合成波长过渡过程中(i=2,3……M),每次的绝对测量范围(等于λs[i]/2)不断缩小,测量精度不断提高,最终实现千米量级测量范围内微米量级精度的大尺寸绝对距离测量。假定相对鉴相精度为0.50%,则最终测量精度(或分辨力)约为30.00μm,对应相对精度约为2.5*10-8
表1级间过渡与测量精度
Figure BDA0002487892390000111
综上可见,本发明基于动态边带技术实现的可变合成波长技术可以连续从大到小连续构建多级二阶合成波长(千米至毫米量级),解决了绝对距离测量中难以精确从大到小连续构建多级合成波长的问题;并且测量激光均锁定至飞秒光频梳,所构建的二阶合成波长可直接溯源至原子钟,频率稳定性高,提高了测量精度;此外,可变合成波长生成过程中,激光器始终保持锁定状态,无需锁定解锁的切换过程,节约了频率切换所需的时间,提高了测量效率与稳定性。
上述具体实施方式用来解释说明本发明,而不是对本发明进行限制,在本发明的精神和权利要求的保护范围内,对本发明做出的任何修改和改变,都落入本发明的保护范围。

Claims (1)

1.一种锁至动态边带的可变合成波长绝对距离测量方法,其特征在于:
可变合成波长绝对距离测量装置包括参考激光器(1)、第一光纤分束器(2)、高频电光相位调制器(3)、正交光纤合束器(4)、高频放大器(10)、可调时钟源(11)、原子钟(12)、偏频探测及锁定控制器(13)、可调谐激光器(14)、第二光纤分束器(15)、光纤合束器(16)和弦相位调制干涉仪;参考激光器(1)的输出端连接至第一光纤分束器(2)的输入端,第一光纤分束器(2)的输出端分别连接至高频电光相位调制器(3)的一个输入端和正交光纤合束器(4)的一个输入端;可调时钟源(11)的输出端连接至高频放大器(10)的输入端,高频放大器(10)的输出端连接至高频电光相位调制器(3)的另一个输入端,高频电光相位调制器(3)的输出端连接至光纤合束器(16)的输入端;可调谐激光器(14)的输出端连接至第二光纤分束器(15)的输入端,第二光纤分束器(15)的输出端分别连接至光纤合束器(16)的另一个输入端和正交光纤合束器(4)的另一个输入端;光纤合束器(16)的输出端连接到偏频探测及锁定控制器(13)的输入端,偏频锁定控制器(13)的输出端连接至可调谐激光器(14)的输入端;正交光纤合束器(4)的输出端连接至耦合器(5)的输入端;耦合器(5)输出到正弦相位调制干涉仪,原子钟(12)的输出端连接至可调时钟源(11)和偏频探测及锁定控制器(13)的输入端;
方法应用于可变合成波长绝对距离测量装置,包括如下步骤:
1)使用高频电光相位调制器(3)对单频的参考激光器(1)输出的激光进行高频正弦相位调制,产生等频率间隔的激光边带,表示如下:
fEOM=f1+k·fr
其中,f1表示参考激光器(1)的激光频率,fr表示高频电光相位调制器(3)的调制频率,k表示调制产生的激光边带的阶数,k=0,±1,±2,……;
2)可调谐激光器(14)输出的激光与参考激光器(1)经高频电光相位调制器(3)调制后输出的激光边带经光纤合束器(16)合光拍频,通过偏频探测及锁定控制器(13)将可调谐激光器(14)锁定至第N阶激光边带,可调谐激光器(14)和参考激光器(1)的频率关系表示如下:
f2=f1+fb
fb=Nfr+fo
其中,f2表示可调谐激光器(14)的激光频率,fb表示可调谐激光器(14)与参考激光器(1)的频差,fo表示可调谐激光器(14)与第N边带的锁定偏置频率;
对高频电光相位调制器(3)的调制频率fr进行频率动态调整,产生间隔频率可变的边带即动态边带,后续共进行M次频率动态调整,i表示频率动态调整次数的序号(i=1,2,3……M),每次动态调整后高频电光相位调制器(3)调制频率记为fr[i],其中fr[0]表示初始频率;第i次频率动态调整时可调谐激光器(14)与参考激光器(1)的频差计算为:
fb[i]=Nfr[i]+fo
其中,fb[i]表示第i次频率动态调整时可调谐激光器(14)与参考激光器(1)的动态频差;
可调谐激光器(14)的频率计算为:
f2[i]=f1+fb[i]=f1+Nfr[i]+fo
其中,f2[i]表示第i次频率动态调整时可调谐激光器(14)的动态频率;
3)使用正交光纤合束器(4)将参考激光器(1)与可调谐激光器(14)的激光合为一束正交线偏振光,入射至正弦相位调制干涉仪测量模块进行绝对距离测量,构建合成波长λs[i],公式如下:
Figure FDA0002936334400000021
λ2[i]=c/f2[i],λ1=c/f1
其中,λ1为参考激光器(1)的激光波长、λ2[i]为第i次调整高频电光相位调制器(3)调制频率后可调谐激光器的激光波长,c表示真空光速;
合成波长的大小由高频电光相位调制器(3)调制频率fr[i]决定,每次动态调整高频电光相位调制器(3)的调制频率fr[i]后,用第i次的合成波长与第i-1次的合成波长来构建二阶合成波长λss[i],公式如下:
Figure FDA0002936334400000022
Δfr[i]=fr[i]-fr[i-1]
其中,Δfr[i]表示高频电光相位调制器(3)第i次的频率动态调整增量,Δfr[i]>0;
4)正弦相位调制干涉仪测量模块中,参考激光器(1)和可调谐激光器(14)的干涉信号分别经两个光电探测器(18、19)探测后,再经模数转换器(20、21)采样后进入现场可编程门阵列信号处理器(22)进行相位解调,得到两路干涉信号相位,计算合成波长的相位和二阶合成波长的相位分别为:
Figure FDA0002936334400000031
Figure FDA0002936334400000032
其中,L表示正弦相位调制干涉仪中测量镜(9)的待测距离,
Figure FDA0002936334400000033
表示参考激光器的干涉信号相位,
Figure FDA0002936334400000034
Figure FDA0002936334400000035
分别表示第i次调整高频电光相位调制器(3)调制频率后可调谐激光器的干涉信号相位、合成波长相位和二阶合成波长相位;
5)高频电光相位调制器(3)的调制频率第i=1次动态调整后,根据二阶合成波长和对应相位求得对应的绝对距离的初测测量结果,公式如下:
Figure FDA0002936334400000036
高频电光相位调制器(3)调制频率第i次动态调整后,i>1,根据合成波长过渡理论,绝对距离的测量结果表示如下:
Figure FDA0002936334400000037
其中,int[]表示向上取整;
6)重复完成步骤3)、4)、5)一共进行重复进行M次,最终获得测量结果为最后一次的绝对距离LM
CN202010396830.6A 2020-05-12 2020-05-12 锁至动态边带的可变合成波长绝对距离测量装置与方法 Active CN111609798B (zh)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010396830.6A CN111609798B (zh) 2020-05-12 2020-05-12 锁至动态边带的可变合成波长绝对距离测量装置与方法
US17/623,611 US12007250B2 (en) 2020-05-12 2020-08-07 Variable synthetic wavelength absolute distance measuring device locked to dynamic sideband and method thereof
PCT/CN2020/107743 WO2021227265A1 (zh) 2020-05-12 2020-08-07 锁至动态边带的可变合成波长绝对距离测量装置与方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010396830.6A CN111609798B (zh) 2020-05-12 2020-05-12 锁至动态边带的可变合成波长绝对距离测量装置与方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN111609798A CN111609798A (zh) 2020-09-01
CN111609798B true CN111609798B (zh) 2021-04-16

Family

ID=72205078

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202010396830.6A Active CN111609798B (zh) 2020-05-12 2020-05-12 锁至动态边带的可变合成波长绝对距离测量装置与方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US12007250B2 (zh)
CN (1) CN111609798B (zh)
WO (1) WO2021227265A1 (zh)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112383363B (zh) * 2020-10-29 2023-05-30 中国科学院半导体研究所 一种基于混频技术的大带宽相控阵接收装置
CN113865479A (zh) * 2021-09-02 2021-12-31 浙江理工大学 基于频分复用的多波长干涉绝对距离测量装置与方法
CN114894120B (zh) * 2022-05-26 2024-03-19 安徽大学 一种基于双波长的可调量程表面形貌测量装置及测量方法
CN115412169B (zh) * 2022-11-01 2023-03-24 济南量子技术研究院 一种光纤光频、微波、时间信号的同时传递系统与方法
CN116545527B (zh) * 2023-05-11 2024-02-20 深圳市迅特通信技术股份有限公司 一种波长可调谐光模块波长调谐时间的测试方法、系统及装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107255451A (zh) * 2017-07-07 2017-10-17 浙江理工大学 角度补偿式激光外差干涉位移测量装置及方法
EP3273200A1 (de) * 2016-07-22 2018-01-24 Etalon AG Messsystem zum messen von längen und/oder längenänderungen
CN108683079A (zh) * 2013-07-03 2018-10-19 英菲尼斯有限责任公司 用于扫频源光学相干层析成像系统的波长可调谐垂直腔面发射激光器
CN110174058A (zh) * 2019-06-06 2019-08-27 浙江理工大学 动态偏频锁定式正弦频率扫描干涉绝对测距装置和方法
CN110411335A (zh) * 2019-07-26 2019-11-05 浙江理工大学 差动式正弦相位调制激光干涉纳米位移测量装置及方法

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5402236A (en) 1993-03-18 1995-03-28 Iders Incorporated Fiberoptic displacement sensor using interferometric techniques
DE4314486C2 (de) * 1993-05-03 1998-08-27 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Absolutinterferometrisches Meßverfahren sowie dafür geeignete Laserinterferometeranordnung
EP1906137A1 (en) * 2006-09-29 2008-04-02 Leica Geosystems AG Method and device for generating a synthetic wavelength
KR100951618B1 (ko) * 2008-02-19 2010-04-09 한국과학기술원 광주파수 발생기를 이용한 절대거리 측정방법 및 시스템
JP5511163B2 (ja) * 2008-07-31 2014-06-04 株式会社ミツトヨ 光波干渉による距離測定方法及び装置
JP5550384B2 (ja) * 2010-03-01 2014-07-16 キヤノン株式会社 光波干渉計測装置
JP5506491B2 (ja) * 2010-03-26 2014-05-28 株式会社日立製作所 距離測定装置および距離測定方法
CN102168944B (zh) * 2010-12-24 2012-10-10 中国科学院上海光学精密机械研究所 用于绝对距离测量的双频激光干涉仪及其测量方法
JP2013083581A (ja) * 2011-10-11 2013-05-09 Canon Inc 計測装置
US9506739B2 (en) * 2012-12-21 2016-11-29 Magiq Technologies, Inc. Distance measurement by beating a varying test signal with reference signal having absolute frequency value predetermined with a specified accuracy
US20150131078A1 (en) * 2013-11-08 2015-05-14 The Boeing Company Synthetic wave laser ranging sensors and methods
CN103986053B (zh) 2014-06-03 2016-09-28 山西大学 连续可调谐激光的频率锁定系统及方法
WO2016069744A1 (en) * 2014-10-29 2016-05-06 Bridger Photonics, Inc. Accurate chirped synthetic wavelength interferometer
CN105589074A (zh) * 2015-11-27 2016-05-18 中国人民解放军国防科学技术大学 基于飞秒光梳同步锁频的多波长干涉实时绝对测距装置
CN107063080B (zh) * 2017-03-23 2019-09-10 天津大学 用于正弦相位调制的锁相检测方法及装置
US10535980B2 (en) * 2017-05-01 2020-01-14 AOSense, Inc. Architecture for compact cold atom clocks
CN107764189B (zh) * 2017-09-30 2019-08-27 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所 一种大范围重频调制的飞秒激光绝对测距装置及方法
CN110865382A (zh) * 2019-11-12 2020-03-06 天津大学 一种动态光学频率梳的绝对距离测量装置及方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108683079A (zh) * 2013-07-03 2018-10-19 英菲尼斯有限责任公司 用于扫频源光学相干层析成像系统的波长可调谐垂直腔面发射激光器
EP3273200A1 (de) * 2016-07-22 2018-01-24 Etalon AG Messsystem zum messen von längen und/oder längenänderungen
CN107255451A (zh) * 2017-07-07 2017-10-17 浙江理工大学 角度补偿式激光外差干涉位移测量装置及方法
CN110174058A (zh) * 2019-06-06 2019-08-27 浙江理工大学 动态偏频锁定式正弦频率扫描干涉绝对测距装置和方法
CN110411335A (zh) * 2019-07-26 2019-11-05 浙江理工大学 差动式正弦相位调制激光干涉纳米位移测量装置及方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20220260368A1 (en) 2022-08-18
CN111609798A (zh) 2020-09-01
WO2021227265A1 (zh) 2021-11-18
US12007250B2 (en) 2024-06-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN111609798B (zh) 锁至动态边带的可变合成波长绝对距离测量装置与方法
CN110174058B (zh) 动态偏频锁定式正弦频率扫描干涉绝对测距装置和方法
CN108120378B (zh) 基于飞秒光频梳的正弦相位调制干涉绝对测距装置与方法
CN106505403A (zh) 一种基于光学反馈产生的重复频率可调光频梳
CN111697422B (zh) 一种相位调制型拉曼光功率控制方法及其系统
CN110596718B (zh) 一种基于激光外差探测的相位测距装置及方法
CN112526533B (zh) 一种高重频飞秒光梳多波长干涉绝对测距系统及方法
CN111983628B (zh) 一种基于单片集成线性调频双频dfb激光器的测速与测距系统
CN115685231B (zh) 用于提高相干探测距离的调频激光雷达系统及方法
US20230291169A1 (en) Frequency stablizing system and method for single-cavity multi-frequency comb
CN114696899B (zh) 基于多频外差原理和光载微波干涉的距离测量方法
JP2021092740A (ja) 光周波数コム発生器の制御方法及び光周波数コム発生装置
EP4332667A1 (en) Optical frequency comb generator control device
CN214893682U (zh) 一种快速超高分辨瞬态吸收光谱测量装置
Kuznetsov Quadrature laser interferometry in the pulsed plasma diagnostic
CN106199623B (zh) 一种飞秒激光模间拍频法测距系统
US7394548B2 (en) Heterodyne laser interferometer using heterogenous mode helium-neon laser and super heterodyne phase measuring method
Yang et al. Long-distance measurement applying two high-stability and synchronous wavelengths
CN115248006A (zh) 一种双动态边带多外差干涉绝对距离测量装置和方法
Lee Direct time-domain phase correction of dual-comb interferograms for comb-resolved spectroscopy
CN104035086B (zh) 混合外差式可溯源精测尺He-Ne激光测距装置与方法
CN114370992B (zh) 一种微腔色散探测装置
JP7448962B2 (ja) 光コム距離計測用の光コム発生装置
CN112362173B (zh) 一种基于差频双梳的激光波长测量装置及方法
RU2431909C2 (ru) Система стабилизации частоты излучения лазера

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant