JP2010036189A - レーザ加工装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】被加工物上に得られるレーザビームスポットのパワー密度分布特性を改善すること。
【解決手段】このレーザ加工装置は、加工用のレーザ光LBを発振出力するレーザ発振器10と、レーザ発振器10から所望のレーザ加工場所までレーザ光LBを伝送する伝送用光ファイバ14と、レーザ加工場所でレーザ光LBを被加工物Wに向けて集光照射するレーザ出射ユニット16とを有する。レーザ出射ユニット16のケーシング16aには、ファイバ心線30のみからなるファイバ・コイル部32およびファイバ終端部34と、イメージリレー光学系36が設けられている。
【選択図】 図1

Description

本発明は、被加工物にレーザ光を照射して所望のレーザ加工を施すレーザ加工装置に係り、特にレーザ発振部またはレーザ装置本体から出射ユニットまで光ファイバを介してレーザ光を伝送する光ファイバ伝送方式のレーザ加工装置に関する。
レーザ加工装置は、基本構成として、加工用のレーザ光を発振出力するレーザ発振器と、加工用レーザ光を被加工物に向けて集光照射するレーザ出射ユニットと、レーザ発振器からレーザ出射ユニットまでレーザ光を伝送するためのレーザ伝送光学系とを有する。
レーザ伝送光学系に光ファイバを使用する光ファイバ伝送方式は、レーザ発振器とレーザ出射ユニットとをそれぞれ任意の場所に設置または配置できるので、レーザ加工の多種多様な生産ラインや用途にフレキシブルに適応できるという利点がある。
レーザ加工装置に用いられている伝送用の光ファイバには、コア・クラッド界面で屈折率がステップ状に変化するステップインデックス(SI)型と、コアの屈折率分布が擬似二乗曲線になっているグレーデッドインデックス(GI)型の2種類がある。SI型の光ファイバでは、光はコア・クラッド界面での全反射によってコアに閉じ込められる。もっともコア内を直進する光もあり、頻繁に全反射を繰り返して進む光と直進光とでは伝播時間に差が出てきて、いわゆるモード分散が起こる。これに対して、GI型の光ファイバでは、光は連続的な屈折によってコアに閉じ込められ、屈折率の大きなコア中心部分では光路長が短い代わりに伝播速度が遅く、コア周辺部にいくにしたがって光路長が長くなる代わりに伝播速度が速くなり、結果として伝播時間差が相殺され、モード分散は生じない。
ところで、精密部品や薄物のレーザ加工では、被加工点に照射されるレーザビームスポットのパワー密度(光強度)の分布特性によって加工品質が大きく左右される。すなわち、被加工物上でレーザビームスポットのパワー密度の均一性が良いほど、均一で仕上がりの良い微細加工が行える。しかしながら、通常のレーザ発振器より発振出力されるレーザ光は、シングルモードのガウスビームであっても、マルチモードのビームであっても、平坦(均一)なパワー密度分布特性を有するものではない。
従来より、光ファイバ伝送方式のレーザ加工装置においては、加工用レーザ光のパワー密度分布特性を均一にするために、伝送用光ファイバを途中でリング状に巻いて、そのリング区間内でレーザ光を十分に散乱または乱反射させる技法が知られている(たとえば特許文献1)。この技法は、レーザ光の伝搬モードがシングルモードまたはマルチモードのいずれであっても有効である。
特開平4−75794号公報
しかしながら、上記のように伝送用光ファイバを途中でリング状に巻く従来のレーザ加工装置は、伝送用光ファイバのリング区間内の光散乱効果によりレーザパワー密度分布特性の均一性を向上できるものの、実際のレーザ加工において被加工物上に得られるレーザビームスポットのパワー密度分布特性は均一性を十分に改善できてはおらず、パワーロスが大きいことも問題となっている。
本発明は、上記のような従来技術の問題点を解決するものであり、被加工物上に得られるレーザビームスポットのパワー密度分布特性を大幅に改善できる光ファイバ伝送方式のレーザ加工装置を提供することを目的とする。
上記の目的を達成するために、本発明のレーザ加工装置は、加工用のレーザ光を発振出力するレーザ発振部と、前記レーザ発振部で生成された前記レーザ光をレーザ加工場所まで伝送するための伝送用光ファイバと、前記レーザ加工場所に配置されるレーザ出射ユニットとを有し、前記レーザ出射ユニットのケーシングに、前記伝送用光ファイバの一部がコイル状に巻かれたファイバ・コイル部と、前記ファイバ・コイル部の巻き終わりからファイバ出射端面まで延びるファイバ終端部と、前記伝送用光ファイバの出射端面より出た前記レーザ光を、前記出射端面におけるパワー密度分布像が転写されるように、所望の加工点に集光照射するイメージリレー光学系とを内蔵している。
上記の装置構成においては、ファイバ・コイル部で光散乱効果によりレーザパワー密度が均一化され、ファイバ終端部が非常に短いので、ファイバ・コイル部の巻き終わりで得られたレーザパワー密度の均一性がファイバ出射端面まで良好に保持され、しかもパワーロスが非常に少ない。また、ファイバ・コイル部およびファイバ終端部がレーザ出射ユニットのケーシングに内蔵されているので、ファイバが外力を受けて変形または変位することがなくなる。その結果、伝送用光ファイバの出射端面より出るレーザ光が外力の影響によって変動することがなくなり、ファイバ出射端面におけるパワー密度分布特性が常時安定している。
さらに、上記の装置構成においては、上記のように伝送用光ファイバの出射端面で均一性に優れ、かつパワーロスの非常に少ないパワー密度分布像が得られるのに加えて、伝送用光ファイバの出射端面から出たレーザ光がイメージリレー光学系を介して加工点上に集光するので、ファイバ出射端面における均一なパワー密度分布像がそのまま加工点に転写され、被加工物上に得られるレーザビームスポットのパワー密度分布特性が大幅に改善される。
本発明の好適な一態様においては、伝送用光ファイバが、芯線のコア、このコアを同軸に覆うクラッドおよびこのクラッドを同軸に覆う被覆からなるファイバ心線と、このファイバ心線を中に入れて保護する保護管とを有する。そして、ファイバ・コイル部およびファイバ終端部が保護管を取り除いてファイバ心線のみで構成される。
また、ファイバ・コイル部の構成として、ファイバ心線を円形に巻いて、かつ軸方向に巻き重ねて形成される構成、空芯である構成、巻数が5以上である構成、直径が30mm〜100mmである構成が好ましい。
ファイバ終端部は、長さが重要であり、50mm以下が好ましく、短ければ短いほどよい。
好適な一態様として、イメージリレー光学系は、第1の焦点距離を有し、伝送用光ファイバの出射端面から第1の焦点距離と同一またはそれに近い光学的距離を離して配置されるコリメート用の第1のレンズと、第2の焦点距離を有し、第1のレンズから第1の焦点距離と第2の焦点距離とを足し合わせた距離と同一またはそれに近い光学的距離を離し、かつ加工点から第2の焦点距離と同一またはそれに近い光学的距離を離して配置される集光用の第2のレンズとを有する。
本発明のレーザ加工装置をスキャニング方式とする場合は、第1のレンズと第2のレンズとの間にガルバノメータ・スキャナの第1および第2の回転ミラーが配置され、加工用レーザ光がレーザ発振部より発振出力され、被加工物上でレーザ光のビームスポットが所望の加工点を走査するように、ガルバノメータ・スキャナの第1および第2の回転ミラーを回転駆動してよい。
本発明の別の好適な一態様として、レーザ発振部がレーザダイオードを有し、このレーザダイオードより発振出力されたレーザ光を加工用のレーザ光とすることも可能である。
本発明のレーザ加工装置によれば、上記のような構成および作用により、被加工物上に得られるレーザビームスポットのパワー密度分布特性を大幅に改善することができる。
以下、添付図を参照して本発明の好適な実施の形態を説明する。
図1に、本発明の一実施形態におけるレーザ加工装置の構成を示す。このレーザ加工装置は、主たる構成として、加工用のレーザ光LBを発振出力するレーザ発振器10と、このレーザ発振器10にレーザ発振用の駆動電流ILDを供給するレーザ電源12と、レーザ発振器10で生成されたレーザ光LBを所望のレーザ加工場所まで伝送するための伝送用光ファイバ14と、レーザ加工場所で加工用レーザ光LBを被加工物Wに向けて集光照射するレーザ出射ユニット16と、被加工物Wを位置決めして載置する加工ステージ17とを有する。
レーザ発振器10は、たとえばファイバカップリングLDからなり、LDユニット18とレーザ光取り出し用の光ファイバ20とを一体に結合している。LDユニット18は、1つまたは複数のLDアレイを有し、レーザ電源12より所要のLD駆動電流ILDを供給(注入)されて、たとえば75Wの高出力LD光を加工用レーザ光LBとして発振出力する。取り出し用光ファイバ20は、たとえばSI型光ファイバであり、入射ユニット22まで延びて、その出射端面よりレーザ光LBを出射する。
入射ユニット22は、コリメートレンズ24と集光レンズ26とを有している。コリメートレンズ24は、取り出し用光ファイバ20の出射端面より所定の広がり角で出射されたレーザ光LBを平行光にコリメートする。集光レンズ26は、コリメートレンズ24からの平行光のレーザ光LBを絞って伝送用光ファイバ14の入射端面に入射させる。
伝送用光ファイバ14は、任意の長さを有してよく、たとえば、SUSスパイラル管からなる保護管28の中にSI型光ファイバからなるファイバ心線30を通したものである。ファイバ心線30は、たとえば、純粋石英ガラスからなる芯線のコアと、このコアを同軸に覆うたとえばフッ素ドープ石英ガラスからなるクラッドと、このクラッドを同軸に覆うたとえばポリアミドからなる被覆とで構成されている。
伝送用光ファイバ14は、所望のレーザ加工場所まで延びて、レーザ出射ユニット16内で終端している。レーザ出射ユニット16のケーシング16a内では、伝送用光ファイバ14が保護管28を取り除かれ、ファイバ心線30のみからなるファイバ・コイル部32およびファイバ終端部34が収容または内蔵されている。
ここで、ファイバ・コイル部32は、伝送用光ファイバ14の一部がコイル状に巻かれたものである。図2に、ファイバ・コイル部32の好適な一構成例を示す。図示のように、このファイバ・コイル部32は、ファイバ心線30を円形に巻いて、かつ軸方向に巻き重ねて形成されており、空芯構造になっている。ファイバ・コイル部32の直径は30mm〜100mmが好ましく、巻数は5以上が好ましい。また、ファイバ心線30は等間隔に均一に巻き重ねられることが望ましい。
また、ファイバ終端部34は、ファイバ・コイル部32の巻き終わり32aからファイバ出射端面14aまでまっすぐ延びており、その長さは50mm以下が好ましく、短ければ短いほど好ましい。
さらに、レーザ出射ユニット16のケーシング16a内には、伝送用光ファイバ14の出射端面14aとレーザ出射口16bとの間にイメージリレー光学系36が設けられている。
このイメージリレー光学系36は、図1および図3に示すように、第1の焦点距離f1を有し、伝送用光ファイバ14の出射端面14aから第1の焦点距離f1と同一またはそれに近い光学的距離aを離して配置されるコリメートレンズ38と、第2の焦点距離f2を有し、コリメートレンズ38から第1の焦点距離f1と第2の焦点距離f2とを足し合わせた距離(f1+f2)と同一またはそれに近い光学的距離cを離し、かつ被加工物W上の加工点WPから第2の焦点距離f2と同一またはそれに近い光学的距離bを離して配置される集光レンズ40とで構成されている。コリメートレンズ38および集光レンズ40は、単レンズまたは複合レンズのいずれであってもよい。
かかる構成により、イメージリレー光学系36は、伝送用光ファイバ14の出射端面14aから出たレーザ光LBを、出射端面14aにおけるパワー密度(光強度)分布像がそのパワー密度分布を維持したままにf2/f1の倍率で転写されるように、被加工物W上の加工点WP上に集光照射することができる。
上記のように、この実施形態のレーザ加工装置は、光ファイバ伝送方式において、レーザ出射ユニット16のケーシング16aに、伝送用光ファイバ14の一部がコイル状に巻かれたファイバ・コイル部32と、このファイバ・コイル部の巻き終わりからファイバ出射端面14aまで直線状に延びるファイバ終端部34と、伝送用光ファイバ14の出射端面14aより出たレーザ光LBを、出射端面14aにおけるパワー密度(光強度)分布像がそのパワー密度分布を維持したままに所望の倍率で転写されるように、被加工物W上の加工点WPに集光照射するイメージリレー光学系36とを内蔵している。
この実施形態のレーザ加工装置においては、ファイバ・コイル部32自体の上記のような構成により、コイル区間内の光散乱効果によるレーザパワー密度の均一化を大幅に向上させることができる。ファイバ終端部34が非常に短いので、ファイバ・コイル部32の巻き終わり32aで得られたレーザパワー密度の均一性をファイバ出射端面14aまで良好に保てるだけでなく、パワーロスを可及的に少なくすることもできる。しかも、ファイバ・コイル部32およびファイバ終端部34がケーシング16aに内蔵されているので、外力または外乱を受けて変形または変位することがない。その結果、ファイバの出射端面14aより出るレーザ光が外力の影響によって変動することがなくなり、ファイバ出射端面14aにおけるパワー密度分布特性が常に安定している。
図4〜図7に、この実施形態のレーザ加工装置においてファイバ・コイル部32の巻数をパラメータにしてファイバ出射端面14aに得られたパワー密度分布像PDの幾つの例を示す。これらのパワー密度分布像PDは、実際にCCDカメラで撮像したものである。なお、図4、図6および図7において、パワー密度分布像PD内で輝度が最も高く写っているリング部分Rはコアとクラッドの境界部分であり、この高輝度リング部分Rより半径方向内側の部分がコアである。また、図中、パワー密度分布像の中心部を通るX方向およびY方向のパワー密度分布特性PDX,PDYも示している。
図4は、ファイバ・コイル部32の巻数を“10”とした場合である。図示のように、X方向およびY方向のいずれの方向でも、つまりどの方向でもパワー密度分布特性の平坦性(均一性)が良く、パワーレベルも十分高い(つまりパワーロスが非常に少ない)ことが確認された。
図5は、図4のパワー密度分布像(二次元像)をコンピュータを用いた画像処理により三次元の立体像に変換したものである。図示のように、トップハット形状の略理想的なプロファイルが得られることが確認された。
図6は、ファイバ・コイル部32の巻数を“17”とした場合である。図示のように、パワー密度分布像PDの周辺部のパワー密度が更に持ち上がって平坦性(均一性)が一層向上することが確認された。
図7は、ファイバ・コイル部32の巻数を“5”とした場合であり、巻数10の場合(図4)と殆ど遜色のないパワー密度分布特性が得られることが分かった。
図8に一比較例を示す。この比較例は、図1のレーザ加工装置においてファイバ・コイル部32およびファイバ終端部34を有しない従来型の構成の下で伝送用光ファイバ14の出射端面14aで得られたパワー密度分布像を示したものである。図示のように、パワー密度分布像PDの周辺部にいくほどパワーレベルの落ち込みが大きいうえ、中心部付近でも変動幅(リップル)が大きい。要するに、平坦性(均一性)は良くなく、パワーロスも大きい。
図9Aに別の比較例を示す。この比較例は、図1のレーザ加工装置を変形して、ファイバ・コイル部32をレーザ出射ユニット16のケーシング16aの外に出し、ファイバ終端部34の長さを約3mとした装置構成において、伝送用光ファイバ14のファイバ終端部34に対する外乱として、手動により振幅15cm、周期1秒で振動させた場合に、伝送用光ファイバ14の出射端面14aから出射されるレーザ光の光量の変化をフォトダイオードを用いて検出し、オシロスコープで波形を表示したものである。図示のように、外乱によってレーザ光の光量が変動することがわかる。
図9Bに、上記実施形態の装置構成において、つまりファイバ・コイル部32およびファイバ終端部34をレーザ出射ユニット16に内蔵する構成において、上記比較例と同一条件の外乱(振動)をレーザ出射ユニット16に加えた場合に、伝送用光ファイバ14の出射端面14aから出射されるレーザ光の光量の変化を上記と同じ測定装置で測定した結果を示す。図示のように、レーザ出射ユニット16が外部から相当の外乱を受けても、ファイバ終端部34は外乱の影響を受けることはなく、ファイバ出射端面14aにおけるレーザ光の光量が安定していることが確認された。
さらに、この実施形態のレーザ加工装置においては、上記のように伝送用光ファイバ14の出射端面14aで均一性に優れ、かつパワーロスの非常に少ないパワー密度分布像PDが得られるのに加えて、伝送用光ファイバ14の出射端面14aから出たレーザ光LBをイメージリレー光学系36を介して被加工物Wの加工点WP上に集光照射するので、ファイバ出射端面14aにおける均一なパワー密度分布像PDをそのパワー密度分布を維持したままに所望の倍率(f2/f1)で加工点WPに転写することができ、これによって、レーザビームスポットBPのパワー密度分布特性を大幅に改善することができる。このことは、特に精密部品や薄物のレーザ加工において大なる利点となる。
以上、本発明の好適な一実施形態について説明したが、上述した実施形態は本発明を限定するものではない。当業者にあっては、具体的な実施態様において本発明の技術思想および技術範囲から逸脱せずに種々の変形・変更を加えることが可能である。
たとえば、上記した実施形態におけるレーザ出射ユニット16のケーシング16aはボックス形状の単体であったが、たとえば図10に示すように、主にファイバ・コイル部32を収容するためのファイバ・ケーシング16Aと、主にイメージリレー光学系36を収容するための光学系ケーシング16Bとに分割可能な構成とすることも可能である。
図10において、ファイバ・ケーシング16Aは、扁平な直方体形状を有している。ファイバ・ケーシング16Aの一端(図の上端)にファイバ・コネクタ42が設けられ、このファイバ・コネクタ42に伝送用光ケーブル14の保護管28の終端部が取り付けられる。ファイバ・ケーシング16Aの他端(図の下端)には環状のフランジ部44が設けられ、このフランジ部44がボルト46によって光学系ケーシング16Bの一端(図の上端)に脱着可能に結合されるようになっている。
ファイバ・ケーシング16A内では、ケーシング中心部にファイバ・コイル部32が配置され、ケーシング他端部(図の下端部)側に向かってファイバ終端部34がまっすぐな姿勢・向きに保持される。
ファイバ終端部34は、ファイバ支持部48に挿入され、ファイバ出射端面14aがイメージリレー光学系36に対して所定の距離を置く位置で、固定される。ファイバ支持部48は、ファイバ・ケーシング16Aおよび/または光学系ケーシング16Bに取り付けられており、光軸合わせ機構、ファイバ端面位置決め機構、ファイバ脱着(コレット)機構等を含んでいる。
光学系ケーシング16Bは、円筒形状を有しており、その内部ではイメージリレー光学系36を構成するコリメートレンズ38および集光レンズ40をレンズホルダ50,52でそれぞれ固定している。また、レーザ出射口16bには保護ガラス54を取り付けている。
上記実施形態のレーザ加工装置は加工用レーザを生成するレーザ発振器にファイバカップリングLD10を用いており、主に連続波(CW)やパルス変調のレーザ光を用いるレーザ加工たとえばレーザ溶接等に好適に適用できる。しかし、本発明は、上記実施形態におけるレーザ発振器およびレーザ加工装置に限定されるものではなく、任意の方式のレーザ発振器を使用でき、任意の方式のレーザ加工装置に適用可能である。
図11および図12に、本発明の一実施形態におけるスキャニング方式のレーザ加工装置を示す。図中、上述したレーザ加工装置(図1〜図10)における構成部品と実質的に同一の構成または機能を有する部分には同一の符号を附している。
このレーザ加工装置は、QスイッチパルスのYAGレーザ光を加工用のレーザ光LBとして発振出力するQスイッチ型レーザ発振器60を有している。Qスイッチ型レーザ発振器60内では、光学的に対向配置された一対の共振器ミラーの間にYAGロッドおよびQスイッチが配置されており、YAGロッドを光学的にポンピング(励起)するための励起光源も設けられている。制御部62の制御の下でレーザ電源64が励起光源を発光駆動し、励起光源より発せられる励起光でYAGロッドが連続的にポンピングされる。Qスイッチは、たとえば音響Qスイッチからなり、制御部62の制御の下でQスイッチドライバ66により所定の周波数でスイッチングされる。このQスイッチングの度毎に、ジャイアントパルス発振が起こって、ピークパワーのきわめて高いQスイッチパルスのYAGレーザ光LBが出力される。
レーザ発振器60より出力されたQスイッチパルスのYAGレーザ光LBは、入射ユニット22および伝送用光ファイバ14を介して加工場所のレーザ出射ユニット16まで伝送される。
レーザ出射ユニット16は、図10の構成例と同様に、ファイバ・ケーシング16Aと光学系ケーシング16Bとに分割可能になっている。
図12に、光学系ケーシング16Bに内蔵されているイメージリレー光学系36の構成を示す。図示のように、コリメートレンズ38と集光レンズ40との間にガルバノメータ・スキャナ70が設けられている。
このガルバノメータ・スキャナ70は、互いに直交する回転軸72X,72Yに取り付けられたX軸スキャン・ミラー74XおよびY軸スキャン・ミラー74Yと、両ミラー74X,74Yをそれぞれ回転振動(首振り)させるX軸ガルバノメータ76XおよびY軸ガルバノメータ76Yとを有している。
伝送用光ファイバ14の出射端面14aより所定の広がり角で出たパルスレーザ光LBは、コリメートレンズ38によって平行光線となり、先ずX軸スキャン・ミラー74Xに入射して、そこで全反射してからY軸スキャン・ミラー74Yに入射し、このミラー74Yで全反射してのちfθレンズからなる集光ミラー40を通って被加工物Wの加工点WPに集光する。被加工物W上のパルスレーザ光LBの照射位置(レーザビームスポットBPの位置)は、X方向においてはX軸スキャン・ミラー74Xの振れ角によって決まり、Y方向においてはY軸スキャン・ミラー74Yの振れ角によって決まる。X軸スキャン・ミラー74XはX軸ガルバノメータ76Xの駆動で矢印A,A’方向に回転振動(首振り)し、Y軸スキャン・ミラー74YはY軸ガルバノメータ76Yの駆動で矢印B,B’方向に回転振動(首振り)するようになっている。
X軸ガルバノメータ76Xは、たとえば、X軸スキャン・ミラー74Xに結合された可動鉄片(回転子)と、この可動鉄片に接続された制御バネと、固定子に取り付けられた駆動コイルとを有している。制御部62からのX方向スキャニング制御信号に応じた駆動電流が電気ケーブル78Xを介してX軸ガルバノメータ76X内の該駆動コイルに供給されることで、該可動鉄片(回転子)が該制御バネに抗してX軸スキャン・ミラー74Xと一体にX方向スキャニング制御信号の指定する角度に振れるようになっている。
Y軸ガルバノメータ76Yも同様の構成を有しており、制御部62よりY方向スキャニング制御信号に応じた駆動電流が電気ケーブル78Yを介してY軸ガルバノメータ76Y内の駆動コイルに供給されることで、Y軸ガルバノメータ76Y内の可動鉄片(回転子)がY軸スキャン・ミラー74Yと一体にY方向スキャニング制御信号の指定する角度に振れるようになっている。
このイメージリレー光学系36においては、コリメートレンズ38からX軸スキャン・ミラー74Xまでの距離をd1、X軸スキャン・ミラー74XからY軸スキャン・ミラー74Yまでの距離d2、Y軸スキャン・ミラー74Yからfθレンズ40までの距離をd3とすると、d1+d2+d3≒f1+f2の関係が成立するように、それらの光学部品が光学系ケーシング16B内の所定位置に配置される。
上記実施形態では、伝送用光ファイバにSI型の光ファイバを用いたが、GI型等の他型式の光ファイバも使用可能である。また、図11のレーザ加工装置では、レーザ発振器60にQスイッチを用いているが、Qスイッチ方式に代えて図1のレーザ装置と同様にパルス変調方式を用いることも可能である。
本発明の一実施形態におけるレーザ加工装置の構成を示す図である。 実施形態のレーザ加工装置におけるファイバ・コイル部の一構成例を示す斜視図である。 実施形態のレーザ加工装置におけるイメージリレー光学系のレンズ位置関係を示す図である。 実施形態のレーザ加工装置においてファイバ・コイル部の巻数を10とした場合のファイバ出射端面に得られたパワー密度分布像を示す図である。 図4の二次元的なパワー密度分布像を三次元化した立体像を示す図である。 実施形態のレーザ加工装置においてファイバ・コイル部の巻数を17とした場合のファイバ出射端面に得られたパワー密度分布像を示す図である。 実施形態のレーザ加工装置においてファイバ・コイル部の巻数を5とした場合のファイバ出射端面に得られたパワー密度分布像を示す図である。 図1のレーザ加工装置からファイバ・コイル部およびファイバ終端部を無くした構成の比較例においてファイバ出射端面に得られたパワー密度分布像を示す図である。 図1のレーザ加工装置からファイバ・コイル部をレーザ出射ユニットの外に出した構成の比較例においてファイバ終端部に外乱を与えたときにファイバ出射端面に得られたレーザ光の光量の変化を示す図である。 図1のレーザ加工装置において、図9Aの比較例と同一条件の外乱をレーザ出射ユニットに与えたときにファイバ出射端面に得られたレーザ光の光量の変化を示す図である。 実施形態のレーザ加工装置におけるレーザ出射ユニットのケーシングの一変形例を示す図(側面図およびC−C線断面図)である。 本発明の別の実施形態におけるスキャニング方式のレーザ加工装置の構成を示す図である。 図11のレーザ加工装置の光学系ケーシングに内蔵されているイメージリレー光学系の構成を示す斜視図である。
符号の説明
10 ファイバカップリングLD(レーザ発振器)
12 LD電源
14 伝送用光ファイバ
14a ファイバ出射端面
16 レーザ出射ユニット
18 LDユニット
22 入射ユニット
30 ファイバ心線
32 ファイバ・コイル部
34 ファイバ終端部
36 イメージリレー光学系
38 コリメートレンズ
40 集光レンズ
60 Qスイッチ型レーザ発振器
62 制御部
64 レーザ電源
70 ガルバノメータ・スキャナ
74X X軸スキャン・ミラー
74Y Y軸スキャン・ミラー

Claims (10)

  1. 加工用のレーザ光を発振出力するレーザ発振部と、
    前記レーザ発振部で生成された前記レーザ光をレーザ加工場所まで伝送するための伝送用光ファイバと、
    前記レーザ加工場所に配置されるレーザ出射ユニットと
    を有し、
    前記レーザ出射ユニットのケーシングに、前記伝送用光ファイバの一部がコイル状に巻かれたファイバ・コイル部と、前記ファイバ・コイル部の巻き終わりからファイバ出射端面まで延びるファイバ終端部と、前記伝送用光ファイバの出射端面より出た前記レーザ光を、前記出射端面におけるパワー密度分布像が転写されるように、所望の加工点に集光照射するイメージリレー光学系とを内蔵しているレーザ加工装置。
  2. 前記伝送用光ファイバが、芯線のコア、前記コアを同軸に覆うクラッドおよび前記クラッドを同軸に覆う被覆からなるファイバ心線と、前記ファイバ心線を中に入れて保護する保護管とを有し、
    前記ファイバ・コイル部および前記ファイバ終端部が前記保護管を取り除いて前記ファイバ心線のみで構成される、請求項1に記載のレーザ加工装置。
  3. 前記ファイバ・コイル部が、前記ファイバ心線を円形に巻いて、かつ軸方向に巻き重ねて形成される、請求項1または請求項2に記載のレーザ加工装置。
  4. 前記ファイバ・コイル部が空芯である、請求項1〜3のいずれか一項に記載のレーザ加工装置。
  5. 前記ファイバ・コイル部の巻数が5以上である、請求項1〜4のいずれか一項に記載のレーザ加工装置。
  6. 前記ファイバ・コイル部の直径が30mm〜100mmである、請求項1〜5のいずれか一項に記載のレーザ加工装置。
  7. 前記ファイバ終端部の長さが50mm以下である、請求項1〜5のいずれか一項に記載のレーザ加工装置。
  8. 前記イメージリレー光学系が、
    第1の焦点距離を有し、前記伝送用光ファイバの出射端面から前記第1の焦点距離と同一またはそれに近い光学的距離を離して配置されるコリメート用の第1のレンズと、
    第2の焦点距離を有し、前記第1のレンズから前記第1の焦点距離と前記第2の焦点距離とを足し合わせた距離と同一またはそれに近い光学的距離を離し、かつ前記加工点から前記第2の焦点距離と同一またはそれに近い光学的距離を離して配置される集光用の第2のレンズと
    を有する、請求項1〜7のいずれか一項に記載のレーザ加工装置。
  9. 前記レーザ発振部がレーザダイオードを有し、前記レーザダイオードより発振出力されたレーザ光を前記加工用のレーザ光とする、請求項1〜8のいずれか一項に記載のレーザ加工装置。
  10. 前記第1のレンズと前記第2のレンズとの間にガルバノメータ・スキャナの第1および第2の回転ミラーが配置され、
    前記加工用のレーザ光が前記レーザ発振部より発振出力され、
    被加工物上で前記レーザ光のビームスポットが所望の加工点を走査するように、前記ガルバノメータ・スキャナの前記第1および第2の回転ミラーを回転駆動する、
    請求項9に記載のレーザ加工装置。
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