JP2010015103A - フィルタ検査装置、フィルタ製造裝置及び表示用パネル製造方法 - Google Patents

フィルタ検査装置、フィルタ製造裝置及び表示用パネル製造方法 Download PDF

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Abstract

【課題】インクジェットヘッドから吐出されたインクによって形成された表面が凹凸状態にあるフィルタの塗布ムラ、塗布抜け等を検査できるようにする。
【解決手段】表示用パネル上の所定個所にインクジェット塗工処理によって形成されたカラーフィルタの塗布状態を検査するフィルタ検査装置において、カラーフィルタに照射された光の透過光を用いて検査することにある。反射光だけでは、ピンホールや異物による凹凸が分かりにくいので、透過光による検査を行うことで、両者を区別して、高精度に欠陥を検出することができる。また、透過光による検査は、インクの乾燥前後のいずれの時点でも行なえるという効果がある。
【選択図】図3

Description

本発明は、液晶パネル等の表示用パネルで使用されるカラーフィルタなどをインクジェット法を用いて製造するフィルタ検査装置、フィルタ製造裝置及び表示用パネル製造方法に係り、特にインクジェット塗工処理によって形成されたカラーフィルタの塗布状態を検査することのできるフィルタ検査装置、フィルタ製造裝置及び表示用パネル製造方法に関する。
最近では、液晶ディスプレイ装置などの表示用パネルで使用されるカラーフィルタなどをインクジェット法を用いて製造する製造方法が種々提案されている。このインクジェット法では、RGBの各色のインクを吐出する複数のインクジェットヘッドをガラス基板に対して相対的に移動させ、ガラス基板上の各色要素(RGB)に対応する位置に所定色のインクを吐出して各色要素を製造している。このようなインクジェット法を用いたカラーフィルタの製造過程において塗布状態を検査するものとして、例えば、特許文献1に記載のようなものが知られている。
特開2005−753号公報
図1は、従来のインクジェット法を用いたカラーフィルタ製造裝置の一例の概略構成を示す図である。図に示すように、このカラーフィルタ製造裝置は、XYθステージ10、スライドフレーム20、インクジェットヘッドユニット30、制御部40から構成される。XYθステージ10には、ガラス基板50(一点鎖線で示す)が搭載されている。XYθステージ10は、ガラス基板50を搭載した状態でインクジェットヘッドユニット30に対して相対的にX方向、Y方向、θ方向に移動する。インクジェットヘッドユニット30は、XYθステージ10を通過可能なように構成された門型のスライドフレーム20によって保持され、XYθステージ10上のガラス基板50に対して各色(RGB)に対応したインクを吐出する。なお、インクジェットヘッドユニット30もXYθステージ10と同様にX方向(図1の縦方向)の、Y方向(図1の横方向)、θ方向に移動制御可能に構成されている。制御部40は、図示していないリニアスケールなどから入力される基準クロックパルス信号に基づいてインクジェットヘッドユニット30を制御し、インクジェットヘッドユニット30から各色のインクを吐出し、ガラス基板50上にカラーフィルタを形成する。
特許文献1に記載されたものは、従来、フィルタ形成処理前にガラス基板の余白部分の異常検出パターン描画領域に予めインクを吐出し、この余白部分にインクジェットヘッドからインクが正常に吐出されたか否かの検査を行っていたものを、フィルタ形成処理のインク吐出時にリアルタイムで検査することができるようにし、余白部分をなくしインクやガラス基板を有効に利用することができるようにしたものである。
カラーフィルタを形成するには、ガラス基板の一面にフォトリソグラフィー技術を用いてブラックマトリクスをパターニングし、このブラックマトリクスの格子で囲まれた最小の表示要素(フィルタエレメント)内にインクジェットヘッドからインクが吐出される。ブラックマトリクスの格子の形状は、例えばX軸方向幅を約30[μm]、Y軸方向幅を約100[μm]程度である。ガラス基板に吐出されたインクは、約10[μm]程度の山となるので、インクジェットヘッドは複数のインクを吐出し、この約10[μm]程度の山の複数を用いて格子全体を覆うように格子内にインクを吐出する。このように複数のインクによって塗り固められることによって、平坦なカラーフィルタを形成するようにしている。
しかしながら、約10〜20[μm]程度の液滴をブラックマトリクスで区切られた格子状のフィルタエレメント内にRGBと色分けして吐出しているため、インクは揮発性溶剤と共に吐出され、吐出直後にインクの液滴は濡れ広がり、微細に見た場合に表面に凹凸が存在し、山状となっているため、インクを用いて格子内に平坦なカラーフィルタを形成することは非常に難しく、微細に見た場合、カラーフィルタ表面は細かな凹凸状態になっている。検査時にはこの凹凸状態を考慮して、塗布ムラ、塗布抜け等を見分けなければならず、ピンホールと液滴の区別が困難な場合もある。また、インクの液滴は揮発するため時間が経つと乾燥し、光沢がなくなり、反射光を用いての検査が困難な状況になるという問題も有する。
本発明は、上述の点に鑑みてなされたものであり、インクジェットヘッドから吐出されたインクによって形成された表面が凹凸状態にあるフィルタの塗布ムラ、塗布抜け等を検査することのできるフィルタ検査装置、フィルタ製造裝置及び表示用パネル製造方法を提供することを目的とする。
本発明のフィルタ検査裝置の第1の特徴は、表示用パネル上の所定個所にインクジェット塗工処理によって形成されたカラーフィルタの塗布状態を検査するフィルタ検査装置において、前記カラーフィルタに照射された光の透過光を用いて検査することにある。反射光だけでは、ピンホールや異物による凹凸が分かりにくいので、透過光による検査を行うことで、両者を区別して、高精度に欠陥を検出することができる。また、透過光による検査は、インクの乾燥前後のいずれの時点でも行なえるという効果がある。
本発明のフィルタ検査裝置の第2の特徴は、前記第1の特徴に記載のフィルタ検査裝置において、前記カラーフィルタに照射された光の反射光及び透過光を用いて検査することにある。反射光及び透過光を用いて検査することによって、両者の欠点を補って、ピンホールや異物による凹凸などによる欠陥を高精度に検出することができる。
本発明のフィルタ検査裝置の第3の特徴は、前記第2の特徴に記載のフィルタ検査裝置において、前記カラーフィルタの塗布された側の前記表示用パネル表面から離間した位置から前記表示用パネル側に光を照射する第1の光照射手段と、前記第1の光照射手段によって照射された光のうち前記表示用パネル側から反射された反射光を前記カラーフィルタの塗布された側の前記表示用パネル表面から離間した位置で受光してその検出信号を出力する反射光検出手段と、前記カラーフィルタの塗布された側とは反対側の前記表示用パネル表面から離間した位置から前記表示用パネル側に光を照射する第2の光照射手段と、前記第2の光照射手段と前記表示用パネル表面との間に設けられた光拡散手段と、前記光拡散手段よって拡散された光のうち前記表示用パネルを透過した透過光を前記カラーフィルタの塗布された側の前記表示用パネル表面から離間した位置で受光してその検出信号を出力する透過光検出手段とを備えたことにある。これは、フィルタ検査裝置をより具体的にしたものであり、第1及び第2の光照射手段と、反射光検出手段と、透過光検出手段と、透過光の場合、光指向性による検出ムラが生じるので、第1の光照射手段の光を拡散する光拡散手段を設けるようにしたものである。
本発明のフィルタ検査裝置の第4の特徴は、前記第3の特徴に記載のフィルタ検査裝置において、前記反射光検出手段と前記透過光検出手段を1個の検出手段で併用することにある。反射光検出手段と透過光検出手段を併用することで検出光学系の構成を簡略化することができる。
本発明のフィルタ検査裝置の第5の特徴は、前記第2、第3又は第4の特徴に記載のフィルタ検査裝置において、前記反射光を用いた検査を塗布されたカラーフィルタの光沢がなくなる前に行なうことにある。インクジェットヘッドから吐出されたインクの液滴は、揮発するために、塗布後のフィルタエレメントは、その経過後の時間が長くなると、インクが乾燥し、光沢がなくなり、反射光を用いての検査が困難な状況になる。そこで、この発明では、フィルタ表面に光沢が存在するときに反射光による検査を行なうようにした。なお、透過光による検査については、乾燥前後のいずれの時点で行なってもよい。
本発明のフィルタ製造裝置の第1の特徴は、表示用パネルにフィルタ用のインクを吐出するインクジェットヘッド手段と、前記表示用パネルを搭載した状態で前記インクジェットヘッド手段に対して相対的に移動制御されるステージ手段と、前記インクジェットヘッド手段を前記ステージ手段に対して相対的に移動制御するフレーム手段と、前記フレーム手段及び前記ステージ手段を移動制御することによって前記インクジェットヘッド手段と前記ステージ手段との間の相対的な位置関係を制御しながら前記インクジェットヘッド手段の吐出状態を制御して前記表示用パネルの所望位置にフィルタを成形する制御手段と、前記表示用パネル上に成形された前記フィルタの状態を前記フィルタに照射された光の透過光を用いて検査するフィルタ検査手段とを備えたことにある。これは、前述のフィルタ検査裝置の第1の特徴に記載のものをフィルタ検査手段として採用したフィルタ製造裝置の発明である。
本発明のフィルタ製造裝置の第2の特徴は、前記第1の特徴に記載のフィルタ製造裝置において、前記フィルタ検査手段が、前記表示用パネル上に成形された前記フィルタの状態を前記フィルタに照射された光の反射光及び透過光を用いて検査することにある。これは、前述のフィルタ検査裝置の第2の特徴に記載のものをフィルタ検査手段として採用したフィルタ製造裝置の発明である。
本発明のフィルタ製造裝置の第3の特徴は、前記第2の特徴に記載のフィルタ製造裝置において、前記フィルタ検査手段は、前記カラーフィルタの塗布された側の前記表示用パネル表面から離間した位置から前記表示用パネル側に光を照射する第1の光照射手段と、前記第1の光照射手段によって照射された光のうち前記表示用パネル側から反射された反射光を前記カラーフィルタの塗布された側の前記表示用パネル表面から離間した位置で受光してその検出信号を出力する反射光検出手段と、前記カラーフィルタの塗布された側とは反対側の前記表示用パネル表面から離間した位置から前記表示用パネル側に光を照射する第2の光照射手段と、前記第2の光照射手段と前記表示用パネル表面との間に設けられた光拡散手段と、前記光拡散手段よって拡散された光のうち前記表示用パネルを透過した透過光を前記カラーフィルタの塗布された側の前記表示用パネル表面から離間した位置で受光してその検出信号を出力する透過光検出手段とを備えたことにある。これは、前述のフィルタ検査裝置の第3の特徴に記載のものをフィルタ検査手段として採用したフィルタ製造裝置の発明である。
本発明のフィルタ製造裝置の第4の特徴は、前記第3の特徴に記載のフィルタ製造裝置において、前記反射光検出手段と前記透過光検出手段を1個の検出手段で併用することにある。これは、前述のフィルタ検査裝置の第4の特徴に記載のものをフィルタ検査手段として採用したフィルタ製造裝置の発明である。
本発明のフィルタ製造裝置の第5の特徴は、前記第2、第3又は第4の特徴に記載のフィルタ製造裝置において、前記反射光を用いた検査を塗布されたカラーフィルタの光沢がなくなる前に行なうことにある。これは、前述のフィルタ検査裝置の第5の特徴に記載のものをフィルタ検査手段として採用したフィルタ製造裝置の発明である。
本発明の表示用パネル製造方法の特徴は、前記第1から第5までのいずれか1の特徴に記載のフィタ製造裝置を用いて表示用パネルを製造することにある。これは、前述のフィルタ製造装置を用いて、表示用パネルにフィルタを形成するようにした表示パネル製造方法の発明に関するものである。
本発明によれば、インクジェットヘッドから吐出されたインクによって形成された表面が凹凸状態にあるフィルタの塗布ムラ、塗布抜け等を検査することができるという効果がある。
図2は、本発明の一実施の形態に係るインクジェット法を用いたカラーフィルタ製造装置の概略構成を示す図である。カラーフィルタ製造裝置は、XYθステージ10、スライドフレーム20、インクジェットヘッドユニット30、制御部40から構成される。XYθステージ10は、ガラス基板50(一点鎖線で示す)を搭載し、搭載した状態でガラス基板50をインクジェットヘッドユニット30に対して相対的にX方向(図2の縦方向)、Y方向(図2の横方向)、θ方向に移動する。
インクジェットヘッドユニット30は、XYθステージ10を通過可能なように構成された門型のスライドフレーム20(点線で示す)によって保持され、XYθステージ10上のガラス基板50に対して各色(RGB)に対応したインクを吐出する。この実施の形態では、インクジェットヘッドユニット30が1個の場合を示すが、2個、4個、それ以上のインクジェットヘッドユニットを備えたものも存在する。
反射光検出ヘッド60は、スライドフレーム20の長手方向に沿って設けられたCCDアレイセンサから構成されている。図示していないが、反射光検出ヘッド60の下側には検出照明が設けられている。透過光検出ヘッド70は、スライドフレーム20の長手方向であって反射光検出ヘッド60に隣接して設けられたCCDアレイセンサから構成されている。反射光検出ヘッド60及び透過光検出ヘッド70に検出光を導入する検出用照明はそれぞれLED光源で構成されている。
図3は、反射光検出ヘッド、透過光検出ヘッド及びLED光源の位置関係を示す図であり、図2の下側から見た側面図である。図に示すように、反射光検出ヘッド60は、LED光源65から照射された光でガラス基板50で反射した反射光を受光し、その反射光量に応じた反射光検出信号を出力する。同じく透過光検出ヘッド70は、LED光源75から照射された光であって、光拡散板77によって拡散されて平均化された光のうちガラス基板50を透過した透過光を受光し、その透過光量に応じた透過光検出信号を出力する。LED光源75は、砲弾型のLEDが所定のピッチでアレイ状に複数配列されたものである。LED光源75は砲弾型をしており、光指向性を有するので、ガラス基板50とLED光源75との間に光拡散板77を設けて光指向性による検出ムラが発生しないように工夫してある。なお、砲弾型LEDに変えて、チップLEDの表面に拡散板を取付け、指向性を少なくしたものを光源として使用してもよい。通常、XYθステージ10は平面性を調整してあるので、LED光源75は、XYθステージ10の裏面に撓みのない状態で配設される。
図4は、ガラス基板50上のブラックマトリクス(以下BM:フィルタエレメント)内にRGBのインクが吐出された状態と反射光検出ヘッド及び透過光検出ヘッドの検出視野との位置関係を示す図である。図4において、各フィルタエレメントは、矩形状をしており、その周囲は樹脂製あるいは金属クロム製で仕切られている。各フィルタエレメントにはRGBのインクが吐出されており、上段左側からB,R,G,B,R,Gの順番に並んでいる。点線で示す長方形60a,70a,60b,70b,60c,70cは、反射光検出ヘッド60及び透過光検出ヘッド70の検出視野を模式的に示したものである。検出視野60a,70aは、フィルタエレメントのほぼ中央付近に反射光検出ヘッド60及び透過光検出ヘッド70が位置する場合を示し、検出視野60b,70bは、上下方向のフィルタエレメント間に反射光検出ヘッド60及び透過光検出ヘッド70が位置する場合を示し、検出視野60c,70cはフィルタエレメントの最上端部に反射光検出ヘッド60及び透過光検出ヘッド70が位置する場合を示す。
図5は、各検出視野における反射光検出ヘッド及び透過光検出ヘッドの検出信号の一例を示す図である。図5(A)は検出視野60aにおける反射光検出ヘッド60の反射光検出信号、図5(B)は検出視野60bにおける反射光検出ヘッド60の反射光検出信号、図5(C)は検出視野60cにおける反射光検出ヘッド60の反射光検出信号、図5(D)は検出視野70aにおける透過光検出ヘッド70の透過光検出信号、図5(E)は検出視野70bにおける透過光検出ヘッド70の透過光検出信号、図5(F)は検出視野70cにおける透過光検出ヘッド70の透過光検出信号をそれぞれ示す図である。なお、図5(D)〜(F)の透過光検出ヘッド70の透過光検出信号については、反射光検出信号に対応させるために信号を反転したものを示している。
図5(A)の反射光検出信号は、フィルタエレメントのほぼ中央付近に反射光検出ヘッド60が位置した場合の信号の一例を示している。この反射光検出信号はBM上で反射が大きく、カラーフィルタ(RGB)上で反射が小さいことを示しており、図4のフィルタエレメントの配列に対応した規則正しい信号となっている。円5aは図5(A)の反射光検出信号の小円部を拡大して示した図である。円5a内の信号にはフィルタ部にピンホールによるやや高反射欠陥(左側の凸部)と異物による低反射欠陥(右側の凹部)が存在している。
図5(B)の反射光検出信号は、上下方向のフィルタエレメント間すなわちにBM上に反射光検出ヘッド60が位置した場合の信号の一例を示している。この反射光検出信号は反射の大きなBM上における反射信号なので、全体的に高い信号を示しており、図4のフィルタエレメント(RGB)の配列に対応して規則正しい信号となっている。円5bは図5(B)の反射光検出信号の小円部を拡大して示した図である。円5b内の信号には、BMにピンホールが存在し、その部分が低反射(凹部)となっている。
図5(C)の反射光検出信号は、フィルタエレメントの最上端部に反射光検出ヘッド60が位置した場合の信号の一例を示している。この反射光検出信号は反射光検出ヘッド60の配列方向とフィルタエレメント(RGB)の配列方向が一致しておらず、θ成分が存在するために不安定である。このような場合には、アライメントマークを使用して図5(B)のレベルに合わせて検出するようにする。
図5(D)の透過光検出信号は、フィルタエレメント(RGB)のほぼ中央付近に透過光検出ヘッド70が位置した場合の信号の一例を示している。この透過光検出信号は、前述の反射光検出信号に対応させるために信号を反転して示している。従って、0レベルが上側にある。この透過光検出信号はBM上で透過がゼロとなりカラーフィルタ上でそのカラーフィルタの色特徴に応じた透過光量に応じた信号を示している。カラーフィルタRが最も透過量が小さく、次にカラーフィルタB、Gの順番になっている。この透過光検出信号は、図4のフィルタエレメント(RGB)の配列に対応した規則正しい信号となっている。円5dは図5(D)の透過光検出信号の小円部(カラーフィルタGに対応した部分)を拡大して示した図である。円5d内の信号にはフィルタ部にピンホールによる増光信号(左側の凹部)と異物による減光信号(右側の凸部)が存在している。ここで重要なのは、反射光検出信号における円5a内の信号と、透過光検出信号における円5d内の信号が互いに反転しているということである。両信号を差分を取ることによって、その振幅は約2倍となり、ピンホール欠陥の検出感度を向上させることができる。
図5(E)の透過光検出信号は、上下方向のフィルタエレメント(RGB)間すなわちにBM上に透過光検出ヘッド70が位置した場合の信号の一例を示している。この透過光検出信号は透過率の小さなBM上における透過信号なので、限りなくゼロに近い信号を示しており、図4のフィルタエレメント(RGB)の配列にに対応してた規則正しい信号となっている。円5eは図5(E)の透過光検出信号の小円部を拡大して示した図である。円5e内の信号には、BMにピンホールが存在し、その部分が周辺部よりも高透過(凹部)となっている。
図5(F)の透過光検出信号は、フィルタエレメント(RGB)の最上端部に透過光検出ヘッド70が位置した場合の信号の一例を示している。この透過光検出信号は、図5(C)の場合と同様に、透過光検出ヘッド70の配列方向とフィルタエレメント(RGB)の配列方向が一致しておらず、θ成分が存在するために不安定である。このような場合には、アライメントマークを使用して図5(E)のレベルに合わせて検出するようにする。
図6は、図2の制御部40内に構築されるフィルタ検査回路の構成を示す図である。ポジションカウンタ41は、ステージの位置を示す位置データをステージコントローラ42、CCD信号発生手段43及びデジタルシグナルプロセッサ(DSP)45にそれぞれ出力する。ステージコントローラ42は、ステージ10の移動速度等を制御する。CCD信号発生手段43は、上述の反射光検出ヘッド60及び透過光検出ヘッド70からそれぞれ出力される反射光検出信号及び透過光検出信号をメモリ手段44に出力する。メモリ手段44は、これらの反射光検出信号及び透過光検出信号をそれぞれの位置データに対応付けて記憶する。デジタルシグナルプロセッサ45は、基準CCDパターン発生手段46に共に動作し、比較用の基準信号パターンすなわち正常な反射光検出ヘッド60及び透過光検出ヘッド70からそれぞれ出力されるべきR,G,B,BMにおける反射光基準信号及び透過光基準信号を作成し、それを位置データに対応付けてメモリ手段47に順次記憶する。比較判定手段48は、メモリ手段44及び47から同じ位置データに対応した反射光検出信号及び透過光検出信号、並びに反射光基準信号及び透過光基準信号を読み出し、両信号を比較判定し、欠陥が発生したと思われる位置データ、反射光検出信号及び透過光検出信号を欠陥メモリ49に順次書き込む。
インクジェットヘッドから吐出されたインクの液滴は、揮発するためにフィルタエレメントは、吐出経過後の時間が長くなると、インクが乾燥し、光沢がなくなり、反射光を用いての検査が困難な状況になる。そこで、この実施の形態では、このような場合は透過光のみを用いて検査を行なうことができる。
図7は、レンズの収差による信号の落ち込みの様子とその補正によるフラット化の様子を示す図である。図7(A)に示すように、レンズの中央付近に比べてその周辺付近では、収差による信号の落ち込みが見られるので、均一に塗布し、欠陥のないサンプルを用いて、信号の補正係数を求め、それを図7(A)の信号に乗算することによって、図7(B)のように信号のフラット化を図るようにしている。これにより、より正確な検査を行なうことができる。
上述の実施の形態では、図3に示すように、反射光検出ヘッド60及び透過光検出ヘッド70を別々に設ける場合について説明したが、図8に示すように、反射光検出ヘッド60と透過光検出ヘッド70を併用して、検出ヘッド6070のようにしてもよい。この場合、LED光源75と光拡散板77を検出ヘッド6070の受光面に併せて傾斜して設置することが好ましい。
上述の実施の形態では、フィルタ製造装置として、インクジェット法を用いたカラーフィルタ製造裝置を例に説明したが、これ以外に、マスクを使用せず、電子ビームやレーザビームを使用して被露光体上にCADデータのパターンを直接描画する露光装置などにも適用可能である。この種の露光装置は、レーザ光源と、レーザ光源から発射されるレーザビームを往復走査する露光光学系と、被露光体を載置した状態で搬送する搬送手段とを備え、CADデータ及び基準クロック信号(制御用パルス)に基づいてレーザ光源の発射状態を制御しながらレーザビームを往復走査すると共に被露光体をレーザビームの走査方向と直交する方向に搬送して、被露光体上に機能パターンに相当するCADデータのパターンを二次元的に形成するものである。
また、上述の実施の形態では、反射光検出ヘッド60及び透過光検出ヘッド70をスライドフレーム20の長手方向に沿って設ける場合について説明したが、インクジェットヘッドユニット30のように、反射光検出ヘッド60及び透過光検出ヘッド70をユニット化して、インクジェットヘッドユニット30の動作に連動して検出ヘッドを動作させるようにしてもよい。さらに、上述の実施の形態では、反射光及び透過光の両者を用いて検査する場合について言及しているが、透過光のみを用いて検査することによって、インクの乾燥を考慮に入れることなく検査を行なうことができるという効果がある。
従来のインクジェット法を用いたカラーフィルタ製造裝置の一例の概略構成を示す図である。 本発明の一実施の形態に係るインクジェット法を用いたカラーフィルタ製造装置の概略構成を示す図である。 反射光検出ヘッド、透過光検出ヘッド及びLED光源の位置関係を示す図であり、図2の下側から見た側面図である。 ガラス基板20上のブラックマトリクス(フィルタエレメント)内にRGBのインクが吐出された状態と反射光検出ヘッド及び透過光検出ヘッドの検出視野との位置関係を示す図である。 各検出視野における反射光検出ヘッド及び透過光検出ヘッドの検出信号の一例を示す図である。 図2の制御部40内に構築されるフィルタ検査回路の構成を示す図である。 レンズの収差による信号の落ち込みの様子とその補正によるフラット化の様子を示す図である。 反射光検出ヘッド、透過光検出ヘッド及びLED光源の位置関係の変形例を示す図である。
符号の説明
10 XYθステージ
20 スライドフレーム
30 インクジェットヘッドユニット
40 制御部
50 ガラス基板
60…反射光検出ヘッド
70…透過光検出ヘッド
6070…検出ヘッド
65,75…LED光源
77…光拡散板
41…ポジションカウンタ
42…ステージコントローラ
43…CCD信号発生手段
45…デジタルシグナルプロセッサ(DSP)
46…基準CCDパターン発生手段
44,47…メモリ手段
48…比較判定手段
49…欠陥メモリ

Claims (11)

  1. 表示用パネル上の所定個所にインクジェット塗工処理によって形成されたカラーフィルタの塗布状態を検査するフィルタ検査装置において、
    前記カラーフィルタに照射された光の透過光を用いて検査することを特徴とするフィルタ検査装置。
  2. 請求項1に記載のフィルタ検査裝置において、前記カラーフィルタに照射された光の反射光及び透過光を用いて検査することを特徴とするフィルタ検査装置。
  3. 請求項2に記載のフィルタ検査裝置において、
    前記カラーフィルタの塗布された側の前記表示用パネル表面から離間した位置から前記表示用パネル側に光を照射する第1の光照射手段と、
    前記第1の光照射手段によって照射された光のうち前記表示用パネル側から反射された反射光を前記カラーフィルタの塗布された側の前記表示用パネル表面から離間した位置で受光してその検出信号を出力する反射光検出手段と、
    前記カラーフィルタの塗布された側とは反対側の前記表示用パネル表面から離間した位置から前記表示用パネル側に光を照射する第2の光照射手段と、
    前記第2の光照射手段と前記表示用パネル表面との間に設けられた光拡散手段と、
    前記光拡散手段よって拡散された光のうち前記表示用パネルを透過した透過光を前記カラーフィルタの塗布された側の前記表示用パネル表面から離間した位置で受光してその検出信号を出力する透過光検出手段と
    を備えたことを特徴とするフィルタ検査裝置。
  4. 請求項3に記載のフィルタ検査裝置において、前記反射光検出手段と前記透過光検出手段を1個の検出手段で併用することを特徴とするフィルタ検査裝置。
  5. 請求項2、3又は4に記載されたフィルタ検査裝置において、前記反射光を用いた検査を塗布されたカラーフィルタの光沢がなくなる前に行なうことを特徴とするフィルタ検査裝置。
  6. 表示用パネルにフィルタ用のインクを吐出するインクジェットヘッド手段と、
    前記表示用パネルを搭載した状態で前記インクジェットヘッド手段に対して相対的に移動制御されるステージ手段と、
    前記インクジェットヘッド手段を前記ステージ手段に対して相対的に移動制御するフレーム手段と、
    前記フレーム手段及び前記ステージ手段を移動制御することによって前記インクジェットヘッド手段と前記ステージ手段との間の相対的な位置関係を制御しながら前記インクジェットヘッド手段の吐出状態を制御して前記表示用パネルの所望位置にフィルタを成形する制御手段と、
    前記表示用パネル上に成形された前記フィルタの状態を前記フィルタに照射された光の透過光を用いて検査するフィルタ検査手段と
    を備えたことを特徴とするフィルタ製造装置。
  7. 請求項6に記載のフィルタ製造裝置において、前記フィルタ検査手段が、前記表示用パネル上に成形された前記フィルタの状態を前記フィルタに照射された光の反射光及び透過光を用いて検査することを特徴とするフィルタ製造装置。
  8. 請求項7に記載のフィルタ製造裝置において、前記フィルタ検査手段は、
    前記カラーフィルタの塗布された側の前記表示用パネル表面から離間した位置から前記表示用パネル側に光を照射する第1の光照射手段と、
    前記第1の光照射手段によって照射された光のうち前記表示用パネル側から反射された反射光を前記カラーフィルタの塗布された側の前記表示用パネル表面から離間した位置で受光してその検出信号を出力する反射光検出手段と、
    前記カラーフィルタの塗布された側とは反対側の前記表示用パネル表面から離間した位置から前記表示用パネル側に光を照射する第2の光照射手段と、
    前記第2の光照射手段と前記表示用パネル表面との間に設けられた光拡散手段と、
    前記光拡散手段よって拡散された光のうち前記表示用パネルを透過した透過光を前記カラーフィルタの塗布された側の前記表示用パネル表面から離間した位置で受光してその検出信号を出力する透過光検出手段と
    を備えたことを特徴とするフィルタ製造裝置。
  9. 請求項8に記載のフィルタ製造裝置において、前記反射光検出手段と前記透過光検出手段を1個の検出手段で併用することを特徴とするフィルタ製造裝置。
  10. 請求項7、8又は9に記載されたフィルタ製造裝置において、前記反射光を用いた検査を塗布されたカラーフィルタの光沢がなくなる前に行なうことを特徴とするフィルタ製造裝置。
  11. 請求項6から10までのいずれか1に記載のフィタ製造裝置を用いて表示用パネルを製造することを特徴とする表示用パネル製造方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013137248A1 (ja) * 2012-03-12 2013-09-19 住友化学株式会社 光学表示部品のアライメント装置及び光学表示部品のアライメント方法
JP2017139480A (ja) * 2017-03-28 2017-08-10 大日本印刷株式会社 異物検査方法、インプリント方法及び異物検査装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005502454A (ja) * 2001-09-10 2005-01-27 セイコーエプソン株式会社 可溶性物質の被着
JP2007279408A (ja) * 2006-04-07 2007-10-25 Lasertec Corp 直線駆動装置、可変シャッター装置、ビーム成形装置、ビーム照射装置、欠陥修正方法及びパターン基板の製造方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005502454A (ja) * 2001-09-10 2005-01-27 セイコーエプソン株式会社 可溶性物質の被着
JP2007279408A (ja) * 2006-04-07 2007-10-25 Lasertec Corp 直線駆動装置、可変シャッター装置、ビーム成形装置、ビーム照射装置、欠陥修正方法及びパターン基板の製造方法

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013137248A1 (ja) * 2012-03-12 2013-09-19 住友化学株式会社 光学表示部品のアライメント装置及び光学表示部品のアライメント方法
CN104145299A (zh) * 2012-03-12 2014-11-12 住友化学株式会社 光学显示零件的校准装置及光学显示零件的校准方法
KR20140133813A (ko) * 2012-03-12 2014-11-20 수미토모 케미칼 컴퍼니 리미티드 광학 표시 부품의 얼라이먼트 장치 및 광학 표시 부품의 얼라이먼트 방법
JPWO2013137248A1 (ja) * 2012-03-12 2015-08-03 住友化学株式会社 光学表示部品のアライメント装置及び光学表示部品のアライメント方法
TWI576231B (zh) * 2012-03-12 2017-04-01 住友化學股份有限公司 光學顯示元件之對準裝置及光學顯示元件之對準方法
KR101979054B1 (ko) * 2012-03-12 2019-05-15 수미토모 케미칼 컴퍼니 리미티드 광학 표시 부품의 얼라이먼트 장치 및 광학 표시 부품의 얼라이먼트 방법
JP2017139480A (ja) * 2017-03-28 2017-08-10 大日本印刷株式会社 異物検査方法、インプリント方法及び異物検査装置

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