JP2010015061A - 画像表示装置、集積回路及びコンピュータプログラム - Google Patents

Abstract

【課題】正しくない動きベクトルによる画質の劣化を抑制し、かつ、画像ボケ等の弊害が生じずに動画像のフリッカを抑制する。
【解決手段】画像を表示する１フィールドが分割された複数のサブフィールドの発光を制御することにより、多階調表示する動画像表示装置１であって、前記画像の動きベクトルを算出する画像処理部１００と、算出した前記動きベクトルの信頼値を算出する信頼性算出部１０３と、算出した信頼値からサブフィールドの制御パターンを決定し、決定したサブフィールド制御パターンにしたがって発光制御を行うサブフィールド表示制御部１０４と、を備える動画像表示装置１。
【選択図】図１

Description

本発明は、プラズマディスプレイに関するもので、特に表示制御により動画解像度及びフリッカ発生を抑制するための動画像表示方法及び動画像表示装置に関する。

プラズマディスプレイ（以下、ＰＤＰと称する）における中間調表示は、１フィールドを輝度の重み付けを変えた複数のサブフィールドに分割表示することにより実現する。複数のサブフィールドに時分割して動きのある画像を表示する場合、視線の移動方向と中間調の表示位置がずれることにより画像のボケや動画擬似輪郭が発生することが知られている。

これらを低減する方法としては、特許文献１において、動画像の移動方向にサブフィールドの表示位置を補正して表示するというものが開示されている。

図７は、サブフィールドの表示位置を補正しない場合の例を示す図である。
図８は、サブフィールドの表示位置を補正する場合の例を示す図である。

例えば、図７は、４つのサブフィールド（ＳＦ４、ＳＦ３、ＳＦ２、ＳＦ１）を発光させて表示する例であり、図中斜線で示した部分が発光しているサブフィールドを示している。また二つの破線は視点の移動方向を示しており、画像ボケや動画擬似輪郭はこの破線間の距離が大きくなることにより発生する。

そこで、特許文献１の技術では、図８に示すように、１フィールド内のサブフィールドの発光位置を視点の移動方向上にある別の画素位置とすることにより、破線間の距離を小さくして、画像ボケや動画擬似輪郭を抑制しようというものである。

一方、特許文献２において開示されているフリッカを低減する方法は、表示する映像が静止画像主体なのか動画像を主体とするのかによってサブフィールドの発光する輝度の重みを変化させるもので、表示対象が静止画像主体である場合は、輝度の重みが大きいサブフィールドを分散することでフリッカを抑制する。
特開平９−１３８６６６号公報 特開平１０−３１９９０３号公報

しかしながら、視線の移動方向を正しく検出できない場合がある。
特許文献１に示した動画像表示装置は、視点の移動方向が正しく検出された場合には画像ボケや擬似輪郭の低減の改善につながるが、例えば、実際の視線の移動方向とは１８０度異なる方向が検出されてしまうなどして、移動方向が正しく検出されなった場合には、実際の移動方向の位置とは１８０度異なる方向の位置にサブフィールドの表示位置がとられるなどして、逆に表示品質が劣化するという課題がある。

また、特許文献２に示した動画像表示装置は、静止画像主体か動画像主体かによって発光する輝度の重みを変えようというもので、特に静止画像主体の画像においてフリッカの発生を抑制する。そのため、動きのある動画像表示において、特許文献２の技術を使ってしまうと、視点が移動するにも関わらず、移動前の位置において輝度の重みが大きいサブフィールドの発光がされて、画像ボケ等が生じてしまい、フリッカ抑制に対して十分な性能が得られなかった。また、動画・静止画を誤検出した場合に表示品質が劣化するという課題もあった。

本発明は、上記の問題を解決するためになされたもので、視点の移動方向を正しく把握するために動きベクトルを検出するだけでなく、その検出した動きベクトルの信頼性を算出し、その結果に応じて表示制御を変えることにより、画像ボケやフリッカ発生を抑制することができる動画像表示装置の提供を目的とする。

上記目的を達成するために、本発明に係る画像表示装置は、次の構成を採用した。
請求項１記載の画像表示装置は、１フィールドの画像を、当該１フィールドが分割された複数のサブフィールドの発光を制御することにより多階調表示する画像表示装置であって、前記画像の動きベクトルを算出する動きベクトル算出部と、算出した前記動きベクトルの信頼値を算出する信頼値算出部と、算出した前記信頼値からサブフィールドの制御パターンを決定し、決定したサブフィールド制御パターンに従って発光制御を行うサブフィールド表示制御部と、を備える画像表示装置である。

この構成により、算出される動きベクトルの信頼値が算出されて、正しくない動きベクトルが算出された可能性を表す、この、動きベクトルの信頼値から決定された制御パターンにしたがった発光制御がされることにより、正しくない動きベクトルによる画質の劣化を抑制できる。

しかも、算出される動きベクトルの動きを有する、動画である画像が表示されるにも関わらず、算出される動きベクトルの信頼値が算出されて、算出された信頼値から決定された制御パターンにしたがった発光制御がされることで、正しくない動きベクトルに基づいた不適切な位置で、輝度の重みが大きいサブフィールドの発光がされることを抑制し、画像ボケ等の弊害が生じずに、フリッカを抑制でき、伴う弊害が少ない十分な性能の向上を得ることができる。

なお、１フィールドの画像は、例えば、１フィールドにより表示する画素である。
そして、複数のサブフィールドは、１フィールドが時分割された、その１フィールドの有する時間の一部の時間を有する、当該１フィールドよりも短い時間のフィールドである。

また、この画像表示装置は、例えば、複数のサブフィールドの発光を制御することにより、当該複数のサブフィールドのうちで、当該一部のサブフィールドの発光のみが行われて、他のサブフィールドの発光がされなければ、前記１フィールドの画像の階調が表現される一部のサブフィールドのみを発光させることにより、当該階調の前記画像を表示して、それぞれ複数の階調の前記画像を表示させる多階調表示を行うものである。

そして、係る複数のサブフィールドは、例えば、プラズマディスプレイが多階調表示をする際に用いるサブフィールドであり、前記サブフィールド表示制御部は、プラズマディスプレイの前記サブフィールドの発光制御を行うものである。

請求項２記載の画像表示装置は、前記動きベクトル算出部は、第１の前記画像とは時間が異なり、かつ、画素が一致する第２の画像を特定し、当該各画像の間のベクトルを、前記第１の画像の前記動きベクトルとして算出し、前記信頼値算出部は、前記第１の画像および前記第２の画像の間における画素差分の総和と、動きベクトルが算出された前記第１の画像の周辺の画像の各動きベクトルから、前記画素差分の総和の絶対値が小さいほど高く、かつ、算出された前記動きベクトルと前記周辺の各動きベクトルとのベクトルの差が小さいほど高い信頼値を算出する請求項１記載の画像表示装置である。

この構成により、動きベクトルの算出と、信頼値の算出とをそれぞれ簡単な構成により実現でき、ひいては、画像表示装置を簡単な構成によって実現できる。

なお、信頼値算出部は、例えば、前記周辺の各動きベクトルを平均した平均の動きベクトルと、算出された動きベクトルとの間の差が小さいほど、高い信頼値を算出するものとしてもよい。また、信頼値算出部は、前記周辺の各動きベクトルのうちで、何れの動きベクトルについても、それぞれ、当該動きベクトルと、算出された前記動きベクトルの差が小さいほど、高い信頼値を算出するものであってもよいし、一部の動きベクトルについてのみ、当該動きベクトルと、算出された前記動きベクトルとの差が小さいほど、高い信頼値を算出するものであってもよい。

請求項３記載の画像表示装置は、前記サブフィールド表示制御部は、前記各サブフィールドを、それぞれ、決定した制御パターンにより当該サブフィールドについて特定されるタイミングにおいて、予め定められた画素位置で発光させ、発光がされる前記画素位置は、算出された前記動きベクトルの起点のサブフィールドの画素位置から、算出された前記動きベクトルに従った動きがされた画素位置であり、当該画素位置への前記動きは、前記動きベクトルの起点のサブフィールドの発光のタイミングから、当該サブフィールドの前記タイミングまでの時間での動きであり、算出された前記信頼値が予め定められた閾値よりも高ければ、前記制御パターンとして第１の制御パターンを決定する一方で、算出された前記信頼値が前記閾値以下であれば、前記第１の制御パターンとは別の第２の制御パターンを決定する請求項１又は２記載の画像表示装置である。

この構成によれば、信頼値が閾値よりも高い信頼値の場合と、閾値以下の低い信頼値の場合とで、用いられるサブフィールドのタイミングや画素位置が変化されて、より十分に、正しくない動きベクトルのため生じる画質の劣化を抑制できる。

請求項４記載の画像表示装置は、信頼値が高い際の前記第１の制御パターンは、発光時間が所定時間以上の長さであるサブフィールドのタイミングが分散された制御パターンであり、信頼値が高くない際の前記第２の制御パターンは、発光時間が所定時間以上の長さであるサブフィールドのタイミングが集中された制御パターンである請求項３記載の画像表示装置である。

請求項５記載の画像表示装置は、信頼値が高くない際の前記第２の制御パターンは、前記第１の制御パターンが予め定められたサブフィールドについて定めるタイミングよりも、前記起点のサブフィールドのタイミングに近いタイミングのサブフィールドについてのみ、前記第１の制御パターンが当該サブフィールドについて定める発光時間以上の長さの発光時間を規定する請求項３又は４記載の画像表示装置である。

この構成によれば、低い信頼値の場合の第２の制御パターンは、長い発光時間のサブフィールドが、起点のサブフィールドのタイミングに近いタイミングのもののみであり、長い発光時間のサブフィールドのタイミングが集中する一方で、高い信頼値の場合の第１の制御パターンは、近くないタイミングにおける、当該長い発光時間のサブフィールドがあり、タイミングが分散される。

なお、例えば、先述の請求項４記載の画像表示装置における所定時間は、この請求項５記載の画像表示装置における、予め定められたサブフィールドについて定められる発光時間と同じであるものとしてもよい。

これにより、信頼値が低い場合には、起点の画素位置近くでのみ、長い発光時間のサブフィールドの発光がされて、正しくない動きベクトルが算出された場合における画質の劣化が十分に抑制される。

また、信頼値が高い場合には、遠い画素位置でも発光されて、長い発光時間の発光のタイミングが分散されることにより、それらの発光が短い時間のうちにされて、フリッカが生じてしまう恐れを防ぎ、確実にフリッカを抑制できる。

なお、画像表示装置は、信頼値が高い際の前記第１の制御パターンは、前記起点のサブフィールドの発光時間以上の長さの発光時間を有する、当該サブフィールド以外の他のサブフィールドを規定するものであってもよい。

請求項６記載の画像表示装置は、信頼値が高い際の前記第１の制御パターンは、発光時間が所定時間よりも長いサブフィールドのタイミングが均等に分散された制御パターンである請求項３記載の画像表示装置である。

請求項７記載の画像表示装置は、前記第１の制御パターンは、隣接する各サブフィールドのうちの何れのサブフィールドの発光時間よりも当該サブフィールドの発光時間が長い極大点のサブフィールドの個数が、前記第２の制御パターンの極大点のサブフィールドの個数よりも多い請求項３又は６記載の画像表示装置である。

この構成によれば、信頼値が高い場合の第１の制御パターンは、多くの個数の極大点を有し、長い発光時間を有するサブフィールドを多く有しており、長い発光時間のタイミングを均等に分散して、十分にフリッカを抑制できる。

なお、例えば、先述の請求項６記載の画像表示装置における所定時間は、上記にいう長い発光時間が長いといえる比較基準となる発光時間であってもよい。

請求項８記載の画像表示装置は、前記第１の制御パターンは、前記各サブフィールドについて規定する各発光時間の合計が、前記第２の制御パターンが定める各発光時間の合計と同一であり、かつ、各発光時間のうちで最長の発光時間が、前記第２の制御パターンの前記各発光時間のうちの最長の発光時間よりも短い請求項３、４及び６の何れか１つに記載の画像表示装置である。

この構成によれば、信頼値が高い場合の第１の制御パターンは、発光時間の合計時間が第２の制御パターンと同一である一方で、最長の発光時間が短いので、短くされているのに応じて、最長の発光時間のサブフィールド以外の他のサブフィールドが長い発光時間を有し、長い発光時間の複数のサブフィールドの発光が用いられ、これにより、長い発光時間の発光がされるタイミングが分散されて、より十分にフリッカを抑制できる。

請求項９記載の画像表示装置は、前記サブフィールド表示制御部は、前記信頼値算出部によって算出された前記信頼値が予め定められた閾値よりも低い場合、前記動きベクトル算出部によって算出された前記動きベクトルの大きさを予め定められた割合に小さくした動きベクトルに基づいた各画素位置で前記各サブフィールドをそれぞれ発光させる請求項３から請求項８の何れかに記載の画像表示装置である。

この構成によれば、信頼値が低い信頼値で、正しくない動きベクトルが算出される可能性がある場合には、動きベクトルの起点の画素位置に対して、より近い画素位置で各サブフィールドの発光がされ、正しくない動きベクトルにより生じる画質の劣化をより十分に抑制できる。

しかも、起点の画素位置ではなく、起点の画素位置から、その割合に対応した距離が離れた画素位置で発光がされて、画像に動きがあることにより生じる画質の劣化も抑制でき、画像の動きによる画質の劣化の抑制と、正しくない動きベクトルによる画質の劣化の抑制とを両立できる。

請求項１０記載の画像表示装置は、前記サブフィールド表示制御部は、算出された前記信頼値が前記閾値より高い場合にのみ、前記各サブフィールドを、それぞれ、算出された前記動きベクトルの起点のサブフィールドの画素位置から動いた画素位置で発光させ、当該信頼値が前記閾値以下の場合には、前記複数のサブフィールドのうちの何れのサブフィールドも前記起点の画素位置で発光させる請求項３記載の画像表示装置である。

この構成によれば、信頼値が低い信頼値である場合には、起点の画素位置で各サブフィールドの発光がされて、正しくない動きベクトルによる画質の劣化を確実、十分に抑制できる。

また、次のような、画像表示装置を構成してもよい。
すなわち、この画像表示装置は、１フィールドを複数のサブフィールドに分割して発光することにより、多階調表示する画像表示装置であって、複数の画像フレーム間との動きベクトルを算出する動きベクトル算出手段と、算出した動きベクトルの信頼度を算出する信頼性算出手段と、算出した信頼度からサブフィールドの制御パターンを決定し、決定したサブフィールド制御パターンに従って発光制御を行うサブフィールド表示制御手段とを備える画像表示装置である。

そして、さらに好ましくは、この画像表示装置は、信頼性算出にあたっては異なるフィールド間における画素差分の総和と、周囲の画素の動きベクトル情報から算出するものである。

また、さらに好ましくは、この画像表示装置は、サブフィールド表示制御にあたっては算出した動きベクトルに基づいてサブフィールドの発光位置を補正し、さらに算出した信頼度が定められた値以上である場合には輝度の重みが大きなサブフィールドが分散される発光パターンを選択し、信頼度が定められた値未満である場合は輝度の重みが大きなサブフィールド発光パターンが集中するパターンを選択するものであってもよい。

また、さらに好ましくは、この画像表示装置は、サブフィールド表示制御にあたっては算出した動きベクトルに基づいてサブフィールドの発光位置を補正し、さらに算出した信頼度が定められた値以上である場合には輝度の重みが大きなサブフィールドが均等に分散される発光パターンを選択するものであってもよい。

また、さらに好ましくは、この画像表示装置は、サブフィールド表示制御にあたっては算出した動きベクトルに基づいてサブフィールドの発光位置を補正する際、信頼性算出手段によって算出された信頼度に応じて前記動きベクトル算出手段によって検出された動きベクトルを補正し、補正した動きベクトルに基づいてサブフィールドの発光位置を補正するものであってもよい。

このように画像表示装置を構成すれば、動きベクトルの信頼性からサブフィールドの発光位置及び発光パターンを制御することにより、検出した動きベクトルが正しい場合には強調して発光させ、正しくなさそうな場合は目立たなく発光させることにより動画擬似輪郭やフリッカを抑制することができる。

なお、本発明は、このような手段を備える画像表示装置として実現することができるだけでなく、その方法やソフトウェアプログラムや半導体による集積回路としても実現することができる。

あるいは、次のような、画像表示装置を構成してもよい。
すなわち、動きベクトルを検出してサブフィールドを制御する画像表示装置であって、動きベクトル算出手段により算出した動きベクトルを、信頼性算出手段においてその信頼性を判断し、サブフィールド表示制御手段は、信頼性が高い場合には、輝度が高いサブフィールドをベクトル方向に分散発光させ、逆に低い場合にはベクトル方向で集中発光させて、画像ボケ、フリッカ等を抑制でき、つまり、動きベクトルとその信頼性を用いることにより、サブフィールド制御により発光制御するプラズマディスプレイにおいての画像ボケやフリッカ等を抑制できる画像表示装置の構成を採ってもよい。

本発明によると、サブフィールド制御により発光制御するプラズマディスプレイにおいて画像のボケ、動画擬似輪郭の発生を抑制することができる。

以下に、図面を参照しながら、本発明に係る画像処理装置の実施の形態について説明する。

図１は、本実施の形態に係る動画像表示装置１のブロック構成図を示す。
動画像表示装置１は、バッファメモリ１０１および動き検出部１０２を有する画像処理部１００と、信頼性算出部１０３と、サブフィールド表示制御部１０４と、プラズマディスプレイ１０５とを備える。

なお、例えば、画像処理部１００と、信頼性算出部１０３と、サブフィールド表示制御部１０４とは、プラズマディスプレイ１０５に設けられた、当該プラズマディスプレイ１０５を駆動する駆動チップの基板に実現された機能の機能ブロックである。ここで、この駆動チップは、例えば、プラズマディスプレイ１０５に備え付けられる。

プラズマディスプレイ１０５が表示する画像は、テレビチューナー等を通じて、画像処理部１００のバッファメモリ１０１に一旦蓄積される。

バッファメモリ１０１は、表示される画像を取得して、取得された画像を蓄積する。このバッファメモリ１０１には、メモリ容量に応じて数フレーム分の画像データが蓄積され、必要に応じて動き検出部１０２からアクセスされる。

動き検出部１０２は、バッファメモリ１０１に蓄積されたフレーム画像から、動きベクトルを算出する。動き検出部１０２は、例えば、算出する動きベクトルの起点のフレームの画像データと、終点のフレームの画像データとの２つの画像データをバッファメモリ１０１から取得して、取得したこれらの２つの画像データから動きベクトルを算出する。

信頼性算出部１０３では、動き検出部１０２からのフィールド間における画素差分の総和と、周辺画素の動きベクトル情報から、動き検出部１０２により検出された動きベクトルの信頼値を決定する。

なお、動きベクトルの信頼値は、実際の動きベクトルに対して、検出されたベクトルが一致する確からしさを評価し、確からしさが大きいほど、高い値をとる。

サブフィールド表示制御部１０４は、動き検出部１０２と信頼性算出部１０３からの情報に基づいてサブフィールドの発光位置の補正と発光順序を決定し発光制御する。

プラズマディスプレイ１０５は、サブフィールド表示制御部１０４からの制御に基づいて発光する。

次に、各ブロックの処理を詳細に説明する。
動き検出部１０２は、画素のブロックマッチングにより動きベクトルを算出する。マッチングする単位は、例えば８画素×８画素のように複数の画素をまとめた小さな領域で行い、マッチングしたい領域に対して絶対値差分和（Ｓｕｍ ｏｆ Ａｂｓｏｌｕｔｅ Ｄｉｆｆｅｒｅｎｃｅｓ、以下ＳＡＤと称す）演算を施し、最も差分量が小さくなるところを検出することにより動きベクトルを算出する。

なお、本実施例では、ブロックマッチングで処理した例を提示するが、処理量が許せば画素単位でのマッチングで処理することも可能である。

信頼性算出部１０３は、動き検出部１０２で決定したＳＡＤ演算の結果と、周辺画素ブロックの動きベクトル情報とから、動き検出部１０２により算出された動きベクトルの信頼値を算出する。

信頼値は、以下に示すように、一定以上の差分誤差があるかどうかを判断する信頼係数１と、周囲ブロックとのベクトルの差分和を信頼係数２とし、信頼係数１と信頼係数２の積で信頼値を算出する。

信頼係数１＝ ｉｆ（ＳＡＤ ＜ 閾値）０ ｅｌｓｅ ＳＡＤ；
信頼係数２＝ Σ（周囲ブロックの動きベクトル−対象ブロック動きベクトル）；
信頼値 ＝ 信頼係数１ × 信頼係数２；

図２は、信頼値算出にあたっての周辺画素ブロックの関係を説明する図である。算出しようとする対象ブロックの動きベクトルをＶｅｃ（ｘ，ｙ）とすると、信頼係数２は周囲８ブロックのベクトルとの差分を求め、それらの総和とする。このように本実施例では３×３のブロックで信頼係数２に算出するが、周囲ブロックの領域を３×３に限定するものではない。例えば、周囲ブロックの領域が５×５である算出が行われてもよいし、９×９である算出が行われてもよい。

サブフィールド表示制御部１０４は、動き検出部１０２で検出された動きベクトルに応じて視点の移動方向にあわせてサブフィールドの発光位置を補正して発光させる発光制御を行う。

図３は、動きベクトルに合わして補正された、サブフィールドＳＦ１〜ＳＦ４の発光位置の例を示す図である。

図３（ａ）、図３（ｂ）において、それぞれ、縦軸は、画素位置を示し、横軸は、１フィールドの時間を示す。そして、図３（ａ）、図３（ｂ）において、それぞれ、斜めの実線の矢印線により動きベクトルが示される。

ここで、図３（ａ）、図３（ｂ）において、６個又は、４個示されている各画素位置のうちで、それぞれ、最も下の画素位置により、バッファメモリ１０１に格納された表示画像に含まれる各画素のうちで、サブフィールド表示制御部１０４が１フィールドの発光で表現させる画素の画素位置を示している。

サブフィールド表示制御部１０４は、１フィールドの発光により表現させる画素の画素位置（最も下の画素位置）を起点とする動きベクトルを動き検出部１０２から取得し、取得された当該動きベクトルを、その画素の１フィールドの発光制御に際して用いる。

そして、サブフィールド表示制御部１０４は、その１フィールドの画素位置（最も下の画素位置）から、算出された動きベクトルの方向に動いた各画素位置において、当該１フィールドが分割された各サブフィールドの発光を行わせ、つまり、各サブフィールドの画素位置を、当該１フィールドの画素位置（最も下の画素位置）から、それら、動きベクトルの方向（図３（ａ）、図３（ｂ）における上方向）に動いた各画素位置に補正する。

図３（ａ）では、サブフィールド表示制御部１０４が、発光させる１フィールドのサブフィールドＳＦ４、ＳＦ３、ＳＦ２、ＳＦ１の発光位置を、それぞれ、０画素、１画素、１画素、２画素、図３（ａ）の上方向に補正した例を示し、図３（ｂ）では、サブフィールド表示制御部１０４が、発光させる１フィールドのサブフィールドＳＦ４、ＳＦ３、ＳＦ２、ＳＦ１の発光位置を、それぞれ、０画素、１画素、２画素、３画素、図３（ｂ）の上方向に補正した例を示す。

サブフィールド表示制御部１０４は、各サブフィールドの発光位置を、それぞれ、図３（ａ）、図３（ｂ）における横軸方向の当該サブフィールドの位置、つまり、当該１フィールドの時間のうちにおける、当該サブフィールドのタイミングまで、起点の画素位置から当該動きベクトルの方向に移動した画素位置に補正する。

また、サブフィールド表示制御部１０４は、信頼性算出部１０３で算出した信頼値に応じて複数のサブフィールド発光モードを変化させる。

図４は、模式的に４つのサブフィールドで表示する発光モードの例を示している。図４（ａ）は輝度の重みが大きいサブフィールドから順に発光するモード、図４（ｂ）は輝度の重みが大きいサブフィールドを分散させた発光モードを示す。また、図４（ｃ）は、輝度の重みが大きいサブフィールドをある程度に均等分散させた発光モードを示す。

これらの発光モードは、信頼性算出部１０３からの信頼値に応じて、サブフィールド表示制御部１０４により切替えられる。

例えば、サブフィールド表示制御部１０４は、信頼値に対して複数の閾値レベルを設定し、そのレベルに応じて発光パターンを変化させる。サブフィールド表示制御部１０４は、信頼値が閾値レベル以下であり、信頼性が低い場合は、輝度の重みが順次に切り替わる図４（ａ）の発光パターンで発光させ、輝度の重みが大きいサブフィールドを集中させて発光させることにより、ベクトルが誤って検出された場合の影響を最小限に抑える。一方、サブフィールド表示制御部１０４は、信頼値が閾値レベルより大きく、信頼性が高い場合には、輝度の重みが大きいサブフィールドの発光をなるべく等間隔になるような発光パターン図４（ｃ）や図４（ｂ）を選択し、重みが大きい輝度のサブフィールドを分散発光させることにより、フリッカを抑制するだけでなく、正しく検出されたベクトルに基づいて視線移動方向にサブフィールドを発光することにより、画像ボケや動画疑似輪郭の抑制に大きな効果を奏でる。

ここで、図３は、ベクトルの信頼性が高い場合（図４（ｂ））と、信頼性が低い場合（図４（ａ））のサブフィールドの発光パターンを示す。図３（ａ）に示される動きベクトルは、検出された信頼性が低い動きベクトルであり、図３（ｂ）に示される動きベクトルは、検出された信頼性が高い動きベクトルであるものとする。

図３（ａ）は、信頼性が低い動きベクトルが検出された場合のサブフィールドの発光パターンである。算出された信頼性が低い場合、検出された動きベクトルは、正しくない動きベクトルであることが多く、つまり、実際の正しい動きベクトル（図３において破線の矢印により図示）の予め定められた近傍範囲外のベクトルであることが多い。信頼性が低い動きベクトルが検出された場合（図３（ａ））、サブフィールド表示制御部１０４は、輝度の重みが大きいサブフィールド順に発光させ、視覚化されやすい輝度の重みが大きいサブフィールドと視線の移動方向との差をできるだけ小さくすることにより画像ボケを抑制する。

他方、信頼性が高い場合は（図３（ｂ））、検出された動きベクトルは、正しい動きベクトル、つまり、実際の正しい動きベクトルの近傍範囲内のベクトルであることが多い。サブフィールド表示制御部１０４は、このような、信頼性が高い場合には（図３（ｂ））、図４（ｂ）に示すように輝度の重みが大きいサブフィールドを分散することによりフリッカを抑制する。

なお、サブフィールド表示制御部１０４は、信頼性が低いと判断された場合、検出された動きベクトルをそのまま適用するのではなく、つまり、検出された動きベクトルの値を１００％使用するのではなくて、ゲインをかけて、１００％未満にゲイン適用動きベクトルを使用することにより、視線方向との差を見えにくくすることで破綻を抑制するものとしてもよい。

図５は、輝度の重みが大きいサブフィールドの発光を均等分散して発光させた際に画像ボケを抑制できることを説明する図である。

図５（ａ）、図５（ｂ）、図５（ｃ）において、それぞれ、右側の図は、左側の図の時間の直後の時間における図である。

図５（ａ）は、サブフィールドシフトを行わない場合の発光パターン、図５（ｂ）は、輝度の重みが大きいサブフィールドを順に発光させるパターン（図４（ａ）参照）、図５（ｃ）は輝度の重みが大きいサブフィールドを分散発光させたパターン（図４（ｂ）参照）を示す。画像ボケは、図５（ａ）では視点の移動方向を示す破線間の距離７００で示され、図５（ｂ）では距離７０１、図５（ｃ）では距離７０２で示される。図５（ｃ）は、均等分散発光により最大の輝度の重みを持つサブフィールドの発光が短くなることにより、図５（ａ）や図５（ｂ）に対して距離が小さくなることによりボケが抑制される。つまり、ベクトルが正しく検出されている場合は、図５（ｃ）のように発光させることにより画像ボケを抑制することが可能となる。

なお、サブフィールド表示制御部１０４は、信頼性が低い場合および高い場合に、それぞれ、図４（ａ）の発光パターン（図３（ａ））および図４（ｂ）の発光パターン（図３（ｂ））を用いるものとしてもよいし、それぞれ、図４（ａ）の発光パターン（図３（ａ））および図４（ｃ）の発光パターンを用いるものとしてもよいし、それぞれ、図５（ｂ）の発光パターン（図３（ａ））および図５（ｃ）の発光パターン（図３（ｂ））を用いるものとしてもよい。

また、サブフィールド表示制御部１０４は、上記の各場合において、それぞれ、信頼性が低い場合には、図５（ａ）のように、サブフィールドシフトを行わない発光パターンを用いるものとしてもよい。

図６は、動画像表示装置１の動作を示すフローチャートである。
ステップＳ１では、動き検出部１０２（図１）が、バッファメモリ１０１に蓄積されたフレーム画像の動きベクトルを検出する。

ステップＳ２では、信頼性算出部１０３が、先のステップにおいて、動き検出部１０２により検出された動きベクトルの信頼値を算出する。

ステップＳ３では、サブフィールド表示制御部１０４が、先にステップＳ２で算出された信頼値が、閾値レベルよりも大きい高い信頼値であるか、閾値レベル以下の低い信頼値であるか、何れであるかを判定する。

ステップＳ４１では、高い信頼値であると判定された場合に（ステップＳ３：ＹＥＳ）、サブフィールド表示制御部１０４が、高い信頼値用の発光パターン（例えば図４（ｂ）の発光パターン）を用いて発光制御を行って、プラズマディスプレイ１０５を発光させる。

ステップＳ４２では、低い信頼性であると判定された場合に（ステップＳ３：ＮＯ）、サブフィールド表示制御部１０４が、低い信頼値用の発光パターン（例えば図４（ａ）の発光パターン）を用いて発光制御を行って、プラズマディスプレイ１０５を発光させる。

前記実施の形態におけるサブフィールドの発光順序は、図２（ａ）で示したような輝度の重みが大きいサブフィールドから順に発光させることを基本として説明してきたが、輝度の重みが小さいサブフィールド順で発光する場合においても、動きベクトルの算出の起点を輝度の重みが大きいサブフィールドの位置で算出することにより本実施の形態で示した処理は適用可能である。

以上のようにして、１フィールドの画像を、当該１フィールドが分割された複数のサブフィールドの発光を制御することにより多階調表示する画像表示装置であって、前記画像の動きベクトルを算出する動きベクトル算出部（画像処理部１００）と、算出した前記動きベクトルの信頼値を算出する信頼値算出部（信頼性算出部１０３）と、算出した前記信頼値からサブフィールドの制御パターン（図３（ａ）、図３（ｂ）の制御パターン等）を決定し、決定したサブフィールド制御パターンに従って発光制御を行うサブフィールド表示制御部（サブフィールド表示制御部１０４）と、を備える画像表示装置（動画像表示装置１）が構成される。

この構成により、算出される動きベクトルの信頼値が算出されて、正しくない動きベクトルが算出された可能性を表す、この、動きベクトルの信頼値から決定された制御パターンにしたがった発光制御がされることにより、正しくない動きベクトルによる画質の劣化を抑制できる。

しかも、算出される動きベクトルの動きを有する、動画である画像が表示されるにも関わらず、算出される動きベクトルの信頼値が算出されて、算出された信頼値から決定された制御パターンにしたがった発光制御がされることで、正しくない動きベクトルに基づいた不適切な位置で、輝度の重みが大きいサブフィールドの発光がされることを抑制し、画像ボケ等の弊害が生じずに、フリッカを抑制でき、伴う弊害が少ない十分な性能の向上を得ることができる。

ここで、この画像表示装置は、前記動きベクトル算出部は、第１の前記画像（当該１フィールドが表示する画素、ブロック）とは時間が異なり、かつ、画素が一致する第２の画像を特定し、当該各画像の間のベクトルを、前記第１の画像の前記動きベクトルとして算出し、前記信頼値算出部は、前記第１の画像および前記第２の画像の間における画素差分の総和（信頼係数１）と、動きベクトルが算出された前記第１の画像の周辺の画像の各動きベクトル（対象ブロックの周囲８ブロックのベクトル、図２等を参照）から、前記画素差分の総和（信頼係数１）の絶対値が小さいほど高く、かつ、算出された前記動きベクトルと前記周辺の各動きベクトルとのベクトルの差が小さいほど高い信頼値を算出する画像表示装置である。

この構成により、動きベクトルの算出と、信頼値の算出とをそれぞれ簡単な構成により実現でき、ひいては、画像表示装置を簡単な構成によって実現できる。

そして、この画像表示装置は、前記サブフィールド表示制御部は、前記各サブフィールドを、それぞれ、決定した制御パターンにより当該サブフィールドについて特定されるタイミング（例えば、図３に示される、各サブフィールドの開始のタイミング）において、予め定められた画素位置（図３に示される、各サブフィールドの画素位置）で発光させ、発光がされる前記画素位置は、算出された前記動きベクトル（図３（ａ）、図３（ｂ）においてそれぞれ実線矢印により図示）の起点のサブフィールド（図３（ａ）のＳＦ４、図３（ｂ）のＳＦ４）の画素位置（図３（ａ）の６つの画素位置のうちの最下の画素位置、図３（ｂ）の４つの画素位置のうちの最下の画素位置）から、算出された前記動きベクトルに従った動きがされた画素位置（例えば、図３（ａ）のＳＦ２では、最下から２番目の画素位置）であり、当該画素位置への前記動きは、前記動きベクトルの起点のサブフィールドの発光のタイミング（例えば、図３（ａ）のＳＦ４の開始のタイミング）から、当該サブフィールド（例えばＳＦ２）の前記タイミングまでの時間での動き（時間を動きベクトルに乗算した乗算結果の動き）であり、算出された前記信頼値が予め定められた閾値（閾値レベル）よりも高ければ（図６のステップＳ３：ＹＥＳ）、前記制御パターンとして第１の制御パターン（図３（ｂ）のパターン）を決定する一方で、算出された前記信頼値が前記閾値以下であれば（図６のステップＳ３：ＮＯ）、前記第１の制御パターンとは別の第２の制御パターン（図３（ａ）のパターン）を決定する画像表示装置である。

このため、信頼値が閾値よりも高い信頼値の場合と、閾値以下の低い信頼値の場合とで、用いられるサブフィールドのタイミングや画素位置が変化されて、タイミング等以外のもののみが変化される場合と比べて、より十分に、正しくない動きベクトルのため生じる画質の劣化を抑制できる。

そして、この画像表示装置は、信頼値が高い際の前記第１の制御パターン（図３（ｂ）のパターン）は、発光時間が所定時間以上の長さであるサブフィールド（例えば、ＳＦ４およびＳＦ３）のタイミングが分散された制御パターンであり、信頼値が高くない際の前記第２の制御パターン（図３（ａ）のパターン）は、発光時間が所定時間以上の長さであるサブフィールド（例えば、図３（ａ）のＳＦ４、ＳＦ３）のタイミングが集中された制御パターンである。

そして、より具体的には、この画像表示装置は、信頼値が高くない際の前記第２の制御パターン（図３（ａ）のパターン）は、前記第１の制御パターン（図３（ｂ）のパターン）が予め定められたサブフィールド（例えばＳＦ３）について定めるタイミングよりも、前記起点のサブフィールド（図３（ａ）のＳＦ４）のタイミングに近いタイミングのサブフィールドについてのみ（図３（ａ）のＳＦ３、ＳＦ４）、前記第１の制御パターン（図３（ｂ）のパターン）が当該サブフィールド（ＳＦ３）について定める発光時間以上の長さの発光時間を規定する。

このため、低い信頼値の場合の第２の制御パターン（図３（ａ）のパターン）は、長い発光時間のサブフィールド（図３（ａ）のＳＦ４、ＳＦ３）が、起点のサブフィールドのタイミングに近いタイミングのもののみであり、長い発光時間のサブフィールドのタイミングが集中する一方で、高い信頼値の場合の第１の制御パターン（図３（ｂ）のパターン）は、近くないタイミングにおける、当該長い発光時間のサブフィールド（図３（ｂ）のＳＦ３）があり、タイミングが分散される。

これにより、信頼値が低い場合には、起点の画素位置近くでのみ、長い発光時間のサブフィールドの発光がされて、正しくない動きベクトルが算出された場合における画質の劣化が十分に抑制される。

また、信頼値が高い場合には、遠い画素位置でも発光されて、長い発光時間の発光のタイミングが分散されることにより、それらの発光が短い時間の間にされることによりフリッカが生じてしまう恐れを防ぎ、確実にフリッカが抑制できる。

なお、画像表示装置は、信頼値が高い際の前記第１の制御パターン（例えば、図４（ｃ）のパターン）は、前記起点のサブフィールド（図４（ｃ）のＳＦ４）の発光時間以上の長さの発光時間を有する、当該サブフィールド以外の他のサブフィールド（図４（ｃ）のＳＦ２）を規定するものである。

これにより、長い発光時間のタイミングを、十分に分散できる。

あるいは、この画像表示装置は、信頼値が高い際の前記第１の制御パターン（例えば図４（ｃ）のパターン）は、発光時間が所定時間よりも長いサブフィールドのタイミングが均等に分散された制御パターンである。

また、この画像表示装置は、前記第１の制御パターンは、隣接する各サブフィールドのうちの何れのサブフィールドの発光時間よりも当該サブフィールドの発光時間が長い極大点のサブフィールド（図４（ｃ）では、ＳＦ５、ＳＦ４、ＳＦ３）の個数（図４（ｃ）では３個）が、前記第２の制御パターンの極大点（例えば図４（ａ）のパターンではＳＦ４のみ、図４（ｂ）のパターンではＳＦ４、ＳＦ３）のサブフィールドの個数（図４（ａ）では１個、図４（ｂ）では２個）よりも多い。

このため、信頼値が高い場合の第１の制御パターン（図４（ｃ）のパターン）は、多くの個数の極大点を有し、長い発光時間を有するサブフィールドを多く有しており、長い発光時間のタイミングが均等に分散されて、十分にフリッカを抑制できる。

また、この画像表示装置は、前記第１の制御パターン（図４（ｃ）のパターン）は、前記各サブフィールドについて規定する各発光時間の合計が、前記第２の制御パターン（図４（ａ）のパターン、図４（ｂ）のパターン）が定める各発光時間の合計と同一であり、かつ、各発光時間のうちで最長の発光時間（例えば図４（ａ）のＳＦ５の発光時間）が、前記第２の制御パターンの前記各発光時間のうちの最長の発光時間（図４（ａ）のＳＦ４の発光時間、図４（ｂ）のＳＦ４の発光時間）よりも短い。

このため、信頼値が高い場合の第１の制御パターン（図４（ｃ）のパターン）は、最長の発光時間が短いので、短くされているのに応じて、最長の発光時間のサブフィールド（例えば図４（ｃ）のＳＦ５）以外の他のサブフィールド（図４（ｃ）のＳＦ４）が長い発光時間を有し、長い発光時間の複数のサブフィールド（図４（ｃ）のＳＦ５、ＳＦ４、ＳＦ３）の発光が用いられ、これにより、長い発光時間の発光がされるタイミングが分散されて、より十分にフリッカを抑制できる。

あるいは、この画像表示装置は、前記サブフィールド表示制御部は、前記信頼値算出部によって算出された前記信頼値が予め定められた閾値よりも低い場合に、前記動きベクトル算出部によって算出された前記動きベクトルの大きさを予め定められた割合に小さくした動きベクトル（ゲイン適用動きベクトル）に基づいた各画素位置で前記各サブフィールドをそれぞれ発光させる。

このため、信頼値が低い信頼値で、正しくない動きベクトルが算出される可能性れがある場合には、動きベクトルの起点の画素位置に対して、より近い画素位置で各サブフィールドの発光がされ、正しくない動きベクトルにより生じる画質の劣化をより十分に抑制できる。

しかも、起点の画素位置ではなく、起点の画素位置から、その割合に対応した距離が離れた画素位置で発光がされて、画像に動きがあることにより生じる画質の劣化も抑制でき、画像の動きによる画質の劣化の抑制と、正しくない動きベクトルによる画質の劣化の抑制とを両立できる。

あるいは、この画像表示装置は、前記サブフィールド表示制御部は、算出された前記信頼値が前記閾値より高い場合にのみ、前記各サブフィールドを、それぞれ、算出された前記動きベクトル（例えば、図３（ｂ）の実線矢印により示される動きベクトル）の起点のサブフィールドの画素位置（例えば、図３（ｂ）のＳＦ４の画素位置）から動いた画素位置（ＳＦ１の画素位置等）で発光させ、当該信頼値が前記閾値以下の場合には、前記複数のサブフィールドのうちの何れのサブフィールドも前記起点の画素位置（図３（ｂ）のＳＦ４の画素位置）で発光させる。

このため、信頼値が低い信頼値である場合には、起点の画素位置で各サブフィールドの発光がされて、正しくない動きベクトルによる画質の劣化を確実、十分に抑制できる。

（他の態様）
以下で説明する他の態様を採ってもよい。なお、以下で説明する他の態様の変形例として、以下で説明する他の態様に対して、さらに、上記実施の形態の全体を付加した構成を採ってもよい。

（１）他の態様に係る発光制御装置は、プラズマディスプレイにおける１フィールドの画像を、当該１フィールドが分割された複数のサブフィールドの発光を制御することにより多階調表示する発光制御装置（動画像表示装置１）であって、
前記画像の動きベクトルの信頼値を算出する信頼値算出部（信頼性算出部１０３）と、
前記各サブフィールドを、それぞれ、前記１フィールドの時間のうちの当該サブフィールドのタイミングから、当該サブフィールドの発光時間の間、発光させ、かつ、前記信頼値が算出された前記動きベクトルの起点のサブフィールドの発光のタイミングから、当該サブフィールドの発光のタイミングまでの時間差の間、当該動きベクトルに従って動いた画素位置で当該発光を行わせ、かつ、算出された前記動きベクトルの信頼値が予め定められた閾値以下である場合には、当該信頼値が前記閾値よりも高い場合において、前記起点のサブフィールドのタイミングとは異なる予め定められたタイミングを有するサブフィールドの発光時間よりも長い発光時間で、当該予め定められたタイミングよりも前記起点のタイミングに近いタイミングの各サブフィールドのみを発光させ、当該予め定められたタイミングよりも遠いタイミングの各サブフィールドは、当該予め定められたタイミングの前記サブフィールドの発光時間以下の発光時間でのみ発光させるサブフィールド表示制御部（サブフィールド表示制御部１０４）とを備える発光制御装置（動画像表示装置１）である。

（２）なお、係る他の態様の発光制御装置においては、
前記サブフィールド表示制御部に用いられる前記動きベクトルを算出する動きベクトル算出部（画像処理部１００）をさらに備え、
前記サブフィールド表示制御部は、前記サブフィールドの発光を、前記起点のサブフィールドの画素位置から、当該起点のサブフィールドのタイミングから、当該サブフィールドのタイミングまでの時間差の間における、前記動きベクトルの動きが行われた画素位置で行わせるものとしてもよい。

本発明は、動画像を複数のサブフィールドに分割して発光することにより多階調表示する画像表示装置において動画解像度を向上させるための技術に利用できる。

本発明の実施の形態に係る画像表示装置をプラズマディスプレイに適用した場合の構成例を示すブロック図である。 輝度の重みが大きいサブフィールドの発光位置を変えた発光モードの例を示す模式図である。 ベクトルの信頼性が高い場合と信頼性が低い場合のサブフィールドの発光パターンを説明する図である。 周辺の画素ブロックを説明する説明図である。 輝度の重みが大きいサブフィールドの発光を均等分散して発光させた際に画像ボケを抑制することを説明する図である。 動画像表示装置の動作を示すフローチャートである。 ４つのサブフィールド（ＳＦ４、ＳＦ３、ＳＦ２、ＳＦ１）を発光させて表示する例である。 サブフィールドの表示位置を視点の移動方向にあわせて発光させて表示する例である。

符号の説明

１ 動画像表示装置
１００ 画像処理部
１０１ バッファメモリ
１０２ 動き検出部
１０３ 信頼性算出部
１０４ サブフィールド表示制御部
１０５ プラズマディスプレイ
７００、７０１、７０２ 距離

Claims (12)

1. １フィールドの画像を、当該１フィールドが分割された複数のサブフィールドの発光を制御することにより多階調表示する画像表示装置であって、
   前記画像の動きベクトルを算出する動きベクトル算出部と、
   算出した前記動きベクトルの信頼値を算出する信頼値算出部と、
   算出した前記信頼値からサブフィールドの制御パターンを決定し、決定したサブフィールド制御パターンに従って発光制御を行うサブフィールド表示制御部と、
   を備える画像表示装置。
2. 前記動きベクトル算出部は、第１の前記画像とは時間が異なり、かつ、画素が一致する第２の画像を特定し、当該各画像の間のベクトルを、前記第１の画像の前記動きベクトルとして算出し、
   前記信頼値算出部は、前記第１の画像および前記第２の画像の間における画素差分の総和と、動きベクトルが算出された前記第１の画像の周辺の画像の各動きベクトルから、前記画素差分の総和の絶対値が小さいほど高く、かつ、算出された前記動きベクトルと前記周辺の各動きベクトルとのベクトルの差が小さいほど高い信頼値を算出する請求項１記載の画像表示装置。
3. 前記サブフィールド表示制御部は、
   前記各サブフィールドを、それぞれ、決定した制御パターンにより当該サブフィールドについて特定されるタイミングにおいて、予め定められた画素位置で発光させ、
   発光がされる前記画素位置は、算出された前記動きベクトルの起点のサブフィールドの画素位置から、算出された前記動きベクトルに従った動きがされた画素位置であり、
   当該画素位置への前記動きは、前記動きベクトルの起点のサブフィールドの発光のタイミングから、当該サブフィールドの前記タイミングまでの時間での動きであり、
   算出された前記信頼値が予め定められた閾値よりも高ければ、前記制御パターンとして第１の制御パターンを決定する一方で、算出された前記信頼値が前記閾値以下であれば、前記第１の制御パターンとは別の第２の制御パターンを決定する請求項１又は２記載の画像表示装置。
4. 信頼値が高い際の前記第１の制御パターンは、発光時間が所定時間以上の長さであるサブフィールドのタイミングが分散された制御パターンであり、
   信頼値が高くない際の前記第２の制御パターンは、発光時間が所定時間以上の長さであるサブフィールドのタイミングが集中された制御パターンである請求項３記載の画像表示装置。
5. 信頼値が高くない際の前記第２の制御パターンは、前記第１の制御パターンが予め定められたサブフィールドについて定めるタイミングよりも、前記起点のサブフィールドのタイミングに近いタイミングのサブフィールドについてのみ、前記第１の制御パターンが当該サブフィールドについて定める発光時間以上に長い発光時間を規定する請求項３又は４記載の画像表示装置。
6. 信頼値が高い際の前記第１の制御パターンは、発光時間が所定時間よりも長いサブフィールドのタイミングが均等に分散された制御パターンである請求項３記載の画像表示装置。
7. 前記第１の制御パターンは、隣接する各サブフィールドのうちの何れのサブフィールドの発光時間よりも当該サブフィールドの発光時間が長い極大点のサブフィールドの個数が、前記第２の制御パターンの極大点のサブフィールドの個数よりも多い請求項３又は６記載の画像表示装置。
8. 前記第１の制御パターンは、前記各サブフィールドについて規定する各発光時間の合計が、前記第２の制御パターンが定める各発光時間の合計と同一であり、かつ、各発光時間のうちで最長の発光時間が、前記第２の制御パターンの前記各発光時間のうちの最長の発光時間よりも短い請求項３、４及び６の何れか１つに記載の画像表示装置。
9. 前記サブフィールド表示制御部は、前記信頼値算出部によって算出された前記信頼値が予め定められた閾値よりも低い場合、前記動きベクトル算出部によって算出された前記動きベクトルの大きさを予め定められた割合に小さくした動きベクトルに基づいた各画素位置で前記各サブフィールドをそれぞれ発光させる請求項３から請求項８の何れかに記載の画像表示装置。
10. 前記サブフィールド表示制御部は、
    算出された前記信頼値が前記閾値より高い場合にのみ、前記各サブフィールドを、それぞれ、算出された前記動きベクトルの起点のサブフィールドの画素位置から動いた画素位置で発光させ、
    当該信頼値が前記閾値以下の場合には、前記複数のサブフィールドのうちの何れのサブフィールドも前記起点の画素位置で発光させる
    請求項３記載の画像表示装置。
11. 画像を表示する１フィールドが分割された複数のサブフィールドの発光を制御することにより、多階調表示を行わせる集積回路であって、
    前記画像の動きベクトルを算出する動きベクトル算出部と、
    算出した前記動きベクトルの信頼値を算出する信頼値算出部と、
    算出した信頼値からサブフィールドの制御パターンを決定し、決定したサブフィールド制御パターンに従って発光制御を行うサブフィールド表示制御部と、
    を備える集積回路。
12. コンピュータを用いて、画像を表示する１フィールドが分割された複数のサブフィールドの発光を制御することにより、多階調表示を行うためのコンピュータプログラムであって、
    前記画像の動きベクトルを算出する動きベクトル算出ステップと、
    算出した前記動きベクトルの信頼値を算出する信頼値算出ステップと、
    算出した前記信頼値と、算出した前記動きベクトルとを、予め定められた発光制御装置に用いさせて、サブフィールドの制御パターンを当該発光制御装置に決定させ、決定されたサブフィールド制御パターンに従って当該発光制御装置に発光制御を行わせる制御ステップと、
    を前記コンピュータに実現させるためのコンピュータプログラム。

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