JP2010008395A - 電磁弁試験機 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明に係る電磁弁試験機100には、コネクタ370および電気接続端子371,372,373がアタッチメント300に設けられている。コネクタ370は、当該アタッチメント300に取付けられる電磁弁400のコネクタ410に対して設けられており、電磁弁400をアタッチメント300に取付けることにより、電磁弁400のコネクタ410がアタッチメント300のコネクタ370と接続される。
【選択図】図7
Description
本発明の他の目的は、電磁弁試験における電磁弁の電気的接続および流体的接続を1工程で簡易に行うことができる電磁弁試験機を提供することである。
本発明に係る電磁弁試験機は、複数種の電磁弁毎に対応して設けられた取付けアタッチメントと、取付けアタッチメントを取付ける共通の台座を有する試験機本体と、を含み、取付けアタッチメントは、試験機本体からの電気信号が入力される第1の電気的接続部と、第1の電気的接続部から入力された電気信号が出力され、かつ複数種の電磁弁を取付ける部位に表出して設けられた第2の電気的接続部と、が設けられたものである。
取付けアタッチメントは、複数種の電磁弁の種別を示す識別情報が付与され、試験機本体の共通の台座は、この識別情報を認識する読取手段を有してもよい。
試験機本体の台座は、取付けアタッチメントを密着保持させる固定装置をさらに含んでもよい。
固定装置は、取付けアタッチメントを台座の垂直上方向から垂直下方向に押圧する押圧機構を含んでもよい。
取付けアタッチメントは、試験機本体からの流体を取り込む第1の流体接続部と、第1の流体接続部と連通され、かつ複数種の電磁弁を取付ける部位に表出して設けられた第2の流体接続部と、が設けられてもよい。
第1の流体接続部は、押圧機構により押圧される方向に沿って接続口が設けられてもよい。
取付けアタッチメントは、複数種の電磁弁を支持する弾性支持部材を備えてもよい。
弾性支持部材は、板バネ部材およびローラからなることが好ましい。
取付けアタッチメントは、複数種の電磁弁をその取付け位置へ案内する案内部材を備えてもよい。
図1は、本発明の第1の実施の形態に係る電磁弁試験機100の一例を示す模式図である、図1(a)は電磁弁試験機100の正面図を示し、図1(b)は電磁弁試験機100の側面図を示す。
また、図9(a)に示すように、電磁弁空気ポート接続部381および電磁弁空気ポート接続部382が、コネクタ370の左側部に設けられ、電磁弁空気ポート接続部383が、コネクタ370の右側部に設けられているが、図9(b)に示すように、電磁弁空気ポート接続部384が、コネクタ370aの左側部に設けられ、電磁弁空気ポート接続部385および電磁弁空気ポート接続部386が、コネクタ370aの右側部に設けられている。コネクタ370と同様に、これらの電磁弁空気ポート接続部の配置は、電磁弁400のコネクタ410の配置にしたがって設けられる。
一方、図9(b)では、アタッチメント種別認識スイッチ260の3個のリミットスイッチのうち、右に位置するリミットスイッチのみオンさせるように、このリミットスイッチに対向する部分が突出するようにアタッチメント300のアタッチメント種別情報部360は構成されている。
したがって、アタッチメント300とアタッチメント301との違いを電磁弁試験機100に自動認識させることができるので、作業者が、アタッチメント300およびアタッチメント301との違いを電磁弁試験機100に入力する必要がなくなり、作業を簡素化することができ、更に作業ミスを排除することができる。
また、本実施例では、アタッチメント種別認識スイッチ260は3個のリミットスイッチ、すなわち3ビットの情報を読み取るようにしたが、これに限られず、より多数の種別を認識すべく、ビット数を増加させてもよい。
さらに、情報は2進数による表現の他、10進数、16進数等による表現が適宜選択できる。
また、アタッチメントチャッキング機構230a,230bは、エアクランプ機構によりアタッチメント300を取付け台200a,200bの逆方向から取付け台200a,200b方向に押圧することができる。その結果、アタッチメント300を、取付け台200a,200bに堅固に取付けることができる。
次いで、本発明に係る第2の実施の形態について説明を行う。第2の実施の形態においては、第1の実施の形態と異なる点について説明を行う。第2の実施の形態においては、アタッチメント300の代わりにアタッチメント300aを使用する。
また、本実施の形態において、アタッチメント300aには、電気接続端子371,372,373および空気ポート接続部351,352,353の図示を省略している。
また、作業者は、電磁弁400aを矢印M21の方向に移動させ、アタッチメント300aに近付ける。そして、図13および図14に示すように、電磁弁400aの下端部が、一対の支持部材320のローラ322に接触する。
この場合、電磁弁400aの重量が、一対の支持部材320の弾性板321により弾性的に保持される。なお、弾性板321は、電磁弁400aの重量によって、コネクタ370を破損させない程度に保持できる程度の弾性を有している。
その後、第1の実施の形態と同様に、電磁弁チャッキング機構390a,390bにより、電磁弁400aが、アタッチメント300aに押圧され取付けられる。
また、電磁弁400aを取り外す際には、まず電磁弁チャッキング機構390a,390bによる押圧を解除する。このとき電磁弁400aは、アタッチメント300aから電磁弁400aの重量によって、電磁弁400aの穴部211の内周と、アタッチメント300aの案内棒311の外周とにあるあそびの分だけ、鉛直下方に落下又は傾こうとする。しかし、電磁弁400aは、一対の支持部材320の弾性板321により弾性的に保持されているので、このようにあそびがあっても、電磁弁400aは鉛直下方に落下又は傾くことなく、保持される。従って、電磁弁400aの重量によって、コネクタ370が破損するのを有効に防止することができる。
101 試験機本体
200a,200b 取付け台
230a,230b アタッチメントチャッキング機構
241,242,243 電気接続端子
251,252,253 空気ポート接続部
260 アタッチメント種別認識スイッチ
300,301,300a アタッチメント
351,352,353 電磁弁空気ポート接続部
360 アタッチメント種別情報部
371,372,373 電気接続端子
400 電磁弁
Claims (9)
- 複数種の電磁弁毎に対応して設けられた取付けアタッチメントと、
前記取付けアタッチメントを取付ける共通の台座を有する試験機本体と、を含み、
前記取付けアタッチメントは、
前記試験機本体からの電気信号が入力される第1の電気的接続部と、前記第1の電気的接続部から入力された前記電気信号が出力され、かつ前記複数種の電磁弁を取付ける部位に表出して設けられた第2の電気的接続部と、が設けられたことを特徴とする電磁弁試験機。 - 前記取付けアタッチメントは、前記複数種の電磁弁の種別を示す識別情報が付与され、
前記試験機本体の共通の台座は、前記識別情報を認識する読取手段を有することを特徴とする請求項1記載の電磁弁試験機。 - 前記試験機本体の共通の台座は、前記取付けアタッチメントを密着保持させる固定装置をさらに含むことを特徴とする請求項1または請求項2に記載の電磁弁試験機。
- 前記固定装置は、前記取付けアタッチメントを台座の垂直上方向から垂直下方向に押圧する押圧機構を含むことを特徴とする請求項3記載の電磁弁試験機。
- 前記取付けアタッチメントは、
前記試験機本体からの流体を取り込む第1の流体接続部と、前記第1の流体接続部と連通され、かつ前記複数種の電磁弁を取付ける部位に表出して設けられた第2の流体接続部と、が設けられたことを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の電磁弁試験機。 - 前記第1の流体接続部は、前記押圧機構により押圧される方向に沿って接続口が設けられていることを特徴とする請求項4または請求項5に記載の電磁弁試験機。
- 前記取付けアタッチメントは、
前記複数種の電磁弁を支持する弾性支持部材を備えたことを特徴とする請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の電磁弁試験機。 - 前記弾性支持部材は、板バネ部材およびローラからなることを特徴とする請求項7記載の電磁弁試験機。
- 前記取付けアタッチメントは、
前記複数種の電磁弁を、前記各電磁弁の取付け位置へ案内する案内部材を備えたことを特徴とする請求項1から請求項8のいずれか1項に記載の電磁弁試験機。
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011038894A (ja) * | 2009-08-11 | 2011-02-24 | Nabtesco Corp | 弁体の試験装置 |
CN106197969A (zh) * | 2016-06-29 | 2016-12-07 | 上海阀门厂股份有限公司 | 一种轴流式止回阀关阀测试系统 |
WO2022141360A1 (zh) * | 2020-12-31 | 2022-07-07 | 浙江工业大学之江学院 | 电子执行器异常放电检测装置 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104236870A (zh) * | 2013-06-06 | 2014-12-24 | 纬创资通股份有限公司 | 真空电磁阀检测装置及检测真空电磁阀的方法 |
CN104296981A (zh) * | 2014-10-13 | 2015-01-21 | 太仓越华精密机械配件有限公司 | 一种开关阀测试系统 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04309836A (ja) * | 1991-04-05 | 1992-11-02 | Kiyohara Masako | 流体制御器の自動検査装置 |
JPH11142211A (ja) * | 1997-11-10 | 1999-05-28 | Denso Corp | 検査装置用結合治具およびその治具を用いた検査装置 |
JPH11165632A (ja) * | 1997-12-05 | 1999-06-22 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | ブレーキ弁自動試験装置 |
JPH11300563A (ja) * | 1998-04-20 | 1999-11-02 | Nabco Ltd | ワークのチャッキング装置 |
JP2002340724A (ja) * | 2001-05-14 | 2002-11-27 | Fujikin Inc | 流体制御器用自動検査装置 |
JP2004125809A (ja) * | 2004-01-08 | 2004-04-22 | Nabco Ltd | 電磁弁試験装置 |
JP2005273705A (ja) * | 2004-03-23 | 2005-10-06 | Aisin Seiki Co Ltd | バルブテスタ |
JP2006112566A (ja) * | 2004-10-15 | 2006-04-27 | Smc Corp | 電磁弁 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100377550B1 (ko) * | 2000-08-25 | 2003-03-26 | 한전기공주식회사 | 솔레노이드 밸브 테스트 장치 |
KR20020091868A (ko) * | 2001-06-01 | 2002-12-11 | 주식회사 만도 | 솔레노이드 밸브의 검사시스템 |
CN1450452A (zh) * | 2002-04-05 | 2003-10-22 | 清华大学 | 一种电控柴油机用开关电磁阀磨合诊断测试方法及装置 |
CN2555445Y (zh) * | 2002-07-13 | 2003-06-11 | 陈强 | 比例电磁阀性能测试的智能调压装置 |
CN1330953C (zh) * | 2004-06-22 | 2007-08-08 | 浙江春晖智能控制股份有限公司 | 电磁阀流量及压力调节特性曲线的测试方法和装置 |
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Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04309836A (ja) * | 1991-04-05 | 1992-11-02 | Kiyohara Masako | 流体制御器の自動検査装置 |
JPH11142211A (ja) * | 1997-11-10 | 1999-05-28 | Denso Corp | 検査装置用結合治具およびその治具を用いた検査装置 |
JPH11165632A (ja) * | 1997-12-05 | 1999-06-22 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | ブレーキ弁自動試験装置 |
JPH11300563A (ja) * | 1998-04-20 | 1999-11-02 | Nabco Ltd | ワークのチャッキング装置 |
JP2002340724A (ja) * | 2001-05-14 | 2002-11-27 | Fujikin Inc | 流体制御器用自動検査装置 |
JP2004125809A (ja) * | 2004-01-08 | 2004-04-22 | Nabco Ltd | 電磁弁試験装置 |
JP2005273705A (ja) * | 2004-03-23 | 2005-10-06 | Aisin Seiki Co Ltd | バルブテスタ |
JP2006112566A (ja) * | 2004-10-15 | 2006-04-27 | Smc Corp | 電磁弁 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011038894A (ja) * | 2009-08-11 | 2011-02-24 | Nabtesco Corp | 弁体の試験装置 |
CN106197969A (zh) * | 2016-06-29 | 2016-12-07 | 上海阀门厂股份有限公司 | 一种轴流式止回阀关阀测试系统 |
CN106197969B (zh) * | 2016-06-29 | 2018-10-30 | 上海阀门厂股份有限公司 | 一种轴流式止回阀关阀测试系统 |
WO2022141360A1 (zh) * | 2020-12-31 | 2022-07-07 | 浙江工业大学之江学院 | 电子执行器异常放电检测装置 |
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