JP2004125809A

JP2004125809A - 電磁弁試験装置

Info

Publication number: JP2004125809A
Application number: JP2004003352A
Authority: JP
Inventors: Kiyoaki Kumano; 熊野　清明; Masahiro Minamide; 南出　昌宏
Original assignee: Nabco Ltd
Current assignee: Nabco Ltd
Priority date: 2004-01-08
Filing date: 2004-01-08
Publication date: 2004-04-22

Abstract

【課題】　少ない構成部品で試験時間の短縮も図ることができる電磁弁試験装置を提供する。
【解決手段】　複数の取付台１６にはそれぞれ電磁弁Ｖが取り付けられる。制御部２８により電磁弁Ｖが駆動され、電気線により制御部２８と電磁弁Ｖとが接続される。作動流体供給源２１から電磁弁Ｖの１次側に流体供給経路２２を介して作動流体が供給される。各取付台１６に対応して設けられる１次側切換弁により電磁弁Ｖの１次側が連通状態と遮断状態とに切り換えられる。各取付台１６に対応して設けられる１次側圧力センサ１９により電磁弁Ｖの１次側圧力がそれぞれ測定される。漏洩試験では、電磁弁Ｖが複数取り付けられている場合、各電磁弁Ｖの１次側に一斉に所定の圧力の作動流体を閉じ込めた後に、１次側の圧力降下を測定し、漏洩の有無を試験する。
【選択図】図２

Description

　本発明は、電磁弁を試験する電磁弁試験装置に関し、特に鉄道車両用電磁弁を定期検査する際に用いられる電磁弁試験装置に関する。

　従来、電磁弁を試験する電磁弁試験装置として、火力発電所等のプラントに使用される電動弁（電磁弁）の単体試験装置が知られている（特許文献１参照）。特許文献１に記載された電磁弁試験装置は、上面に取手、下面にキャスタを有する収納ボックス内に電磁弁の運転監視制御回路を収納するものである。そして、電磁弁に着脱可能に接続される接続ケーブルと、現場の電源端子に接続される電源ケーブルとを備えているものである。

特開平９−２９２３１０号公報（第３−４頁、第１図）

　しかしながら、上記特許文献１に記載の電磁弁試験装置は、試験対象の電磁弁を１つづつ交換して取り付けながら試験を行うものであり、試験時間を多く要し工数も増大してしまうという問題があった。また、複数の電磁弁に対して同時に試験できるように複数の試験装置を備える電磁弁試験装置も考えられるが、当然に構成部品点数が増大し、コスト的な不利益も増大するというという問題がある。

　本発明は、上記実情に鑑みることにより、少ない構成部品で試験時間の短縮も図ることができる電磁弁試験装置を提供することを目的とする。

課題を解決するための手段及び効果

　上記目的を達成するために本発明の第１の観点の電磁弁試験装置は、電磁弁の性能を試験する電磁弁試験装置であって、電磁弁が取り付けられる複数の取付台と、前記取付台に取り付けられた前記電磁弁を駆動させる制御部と、前記制御部と前記電磁弁とを接続する電気線と、前記電磁弁の流体流入側である１次側に作動流体を供給する作動流体供給源と、前記作動流体供給源と前記電磁弁とを接続する流体供給経路と、前記各取付台にそれぞれ対応して前記流体供給経路に設けられ、前記電磁弁の１次側で当該経路を連通状態と遮断状態とにそれぞれ切り換える１次側切換弁と、前記各取付台にそれぞれ対応して設けられ、前記電磁弁の１次側圧力をそれぞれ測定する１次側圧力センサと、を備え、前記電磁弁が複数取り付けられている場合に、前記各１次側切換弁を介して前記各電磁弁の１次側に一斉に所定の圧力の作動流体を閉じ込めた後に、前記各１次側圧力センサにより前記各電磁弁の１次側の圧力降下を測定し、前記各電磁弁からの作動流体の漏洩の有無を試験することを特徴とする。

　この構成によれば、それぞれ取付台に取り付けた複数の電磁弁の漏洩試験を一斉に行うことができるため、試験作業時間を短縮することができる。そして、各取付台に取り付けられた複数の電磁弁に対して共通化された１つの作動流体供給源で対応できるため、構成部品点数を少なくすることができる。

　また、前記目的を達成するために本発明の第２の観点の電磁弁試験装置は、電磁弁の性能を試験する電磁弁試験装置であって、電磁弁が取り付けられる複数の取付台と、前記取付台に取り付けられた前記電磁弁を駆動させる制御部と、前記制御部と前記電磁弁とを接続する電気線と、前記電磁弁の流体流入側である１次側に作動流体を供給する作動流体供給源と、前記作動流体供給源と前記電磁弁とを接続する流体供給経路と、前記各取付台にそれぞれ対応して前記流体供給経路に設けられ、前記電磁弁の１次側で当該経路を連通状態と遮断状態とにそれぞれ切り換える１次側切換弁と、前記電磁弁の流体流出側である２次側に接続されて当該２次側を連通状態と遮断状態とに切り換える２次側切換弁と、前記各取付台にそれぞれ対応して設けられ、前記電磁弁の２次側圧力をそれぞれ測定する２次側圧力センサと、を備え、前記電磁弁が複数取り付けられている場合に、前記各１次側切換弁を介して前記各電磁弁の１次側に一斉に当該電磁弁の定格圧力になるまで作動流体を供給し、前記制御部により前記各電磁弁に一斉に定格電圧を印加し、前記各２次側圧力センサにより前記各電磁弁の２次側の圧力変化を測定することで、前記各電磁弁の作動を確認する定格時作動試験を一斉に行うことを特徴とする。

　この構成によれば、それぞれ取付台に取り付けた複数の電磁弁のならし試験である定格時作動試験を一斉に行うことができるため、試験作業時間を短縮することができる。そして、各取付台に取り付けられた複数の電磁弁に対して共通化された１つの作動流体供給源及び１つの電源で対応できるため、構成部品点数を少なくすることができる。

　また、前記目的を達成するために本発明の第３の観点の電磁弁試験装置は、電磁弁の性能を試験する電磁弁試験装置であって、電磁弁が取り付けられる複数の取付台と、前記取付台に取り付けられた前記電磁弁を駆動させる制御部と、前記制御部と前記電磁弁とを接続する電気線と、前記電磁弁の流体流入側である１次側に作動流体を供給する作動流体供給源と、前記作動流体供給源と前記電磁弁とを接続する流体供給経路と、前記各取付台にそれぞれ対応して前記流体供給経路に設けられ、前記電磁弁の１次側で当該経路を連通状態と遮断状態とにそれぞれ切り換える１次側切換弁と、前記電磁弁の流体流出側である２次側に接続されて当該２次側を連通状態と遮断状態とに切り換える２次側切換弁と、前記各取付台にそれぞれ対応して設けられ、前記電磁弁の２次側圧力をそれぞれ測定する２次側圧力センサと、前記電磁弁に印加される電圧を測定し、または前記電磁弁に印加される電圧及び電流を測定する電圧電流測定部と、を備え、前記電磁弁が複数取り付けられている場合に、前記各１次側切換弁を介して前記各電磁弁の１次側に一斉に所定の試験圧力になるまで作動流体を供給し、前記制御部により前記各電磁弁に印加する電圧を徐々に上昇させ、前記各２次側圧力センサにより前記各電磁弁の２次側の圧力変化を測定することで前記各電磁弁の駆動タイミングを検知し、当該各電磁弁の駆動タイミングで前記電圧電流測定部により測定された当該各電磁弁に印加されている電圧の値が所定の基準範囲内であるか判断する最低動作電圧試験を行うことを特徴とする。

　この構成によれば、それぞれ取付台に取り付けた複数の電磁弁の最低動作電圧試験を一斉に行うことができるため、試験作業時間を短縮することができる。そして、各取付台に取り付けられた複数の電磁弁に対して共通化された１つの作動流体供給源、１つの電源、及び１つの電圧電流測定部で対応できるため、構成部品点数を少なくすることができる。

　また、前記目的を達成するために本発明の第４の観点の電磁弁試験装置は、電磁弁の性能を試験する電磁弁試験装置であって、電磁弁が取り付けられる複数の取付台と、前記取付台に取り付けられた前記電磁弁を駆動させる制御部と、前記制御部と前記電磁弁とを接続する電気線と、前記電磁弁の流体流入側である１次側に作動流体を供給する作動流体供給源と、前記作動流体供給源と前記電磁弁とを接続する流体供給経路と、前記各取付台にそれぞれ対応して前記流体供給経路に設けられ、前記電磁弁の１次側で当該経路を連通状態と遮断状態とにそれぞれ切り換える１次側切換弁と、前記電磁弁の流体流出側である２次側に接続されて当該２次側を連通状態と遮断状態とに切り換える２次側切換弁と、前記各取付台にそれぞれ対応して設けられ、前記電磁弁の２次側圧力をそれぞれ測定する２次側圧力センサと、前記電磁弁に印加される電圧を測定し、または前記電磁弁に印加される電圧及び電流を測定する電圧電流測定部と、を備え、前記電磁弁が複数取り付けられている場合に、前記各１次側切換弁を介して前記各電磁弁の１次側に一斉に所定の試験圧力になるまで作動流体を供給し、前記制御部により一斉に前記各電磁弁に電圧を印加して開弁させた状態から徐々に印加した電圧を下降させ、前記各２次側圧力センサにより前記各電磁弁の２次側の圧力変化を測定することで前記各電磁弁の駆動タイミングを検知し、当該各電磁弁の駆動タイミングで前記電圧電流測定部により測定された当該各電磁弁に印加されている電圧の値が所定の基準範囲内であるか判断する復帰電圧試験を行うことを特徴とする。

　この構成によれば、それぞれ取付台に取り付けた複数の電磁弁の復帰電圧試験を一斉に行うことができるため、試験作業時間を短縮することができる。そして、各取付台に取り付けられた複数の電磁弁に対して共通化された１つの作動流体供給源、１つの電源、及び１つの電圧電流測定部で対応できるため、構成部品点数を少なくすることができる。

　また、前記目的を達成するために本発明の第５の観点の電磁弁試験装置は、電磁弁の性能を試験する電磁弁試験装置であって、電磁弁が取り付けられる複数の取付台と、前記取付台に取り付けられた前記電磁弁を駆動させる制御部と、前記制御部と前記電磁弁とを接続する電気線と、前記電磁弁の流体流入側である１次側に作動流体を供給する作動流体供給源と、前記作動流体供給源と前記電磁弁とを接続する流体供給経路と、前記各取付台にそれぞれ対応して前記流体供給経路に設けられ、前記電磁弁の１次側で当該経路を連通状態と遮断状態とにそれぞれ切り換える１次側切換弁と、前記各取付台にそれぞれ対応して設けられ、前記電磁弁の１次側圧力をそれぞれ測定する１次側圧力センサと、前記電磁弁の流体流出側である２次側に接続されて当該２次側を連通状態と遮断状態とに切り換える２次側切換弁と、前記各取付台にそれぞれ対応して設けられ、前記電磁弁の２次側圧力をそれぞれ測定する２次側圧力センサと、前記電磁弁に印加される電圧を測定し、または前記電磁弁に印加される電圧及び電流を測定する電圧電流測定部と、を備え、前記電磁弁の１次側に所定の圧力の作動流体を閉じ込めた後に、前記１次側圧力センサにより前記電磁弁の１次側の圧力降下を測定し、前記電磁弁からの作動流体の漏洩の有無を試験する漏洩試験と、前記電磁弁の１次側に当該電磁弁の定格圧力になるまで作動流体を供給し、前記制御部により前記電磁弁に定格電圧を印加し、前記２次側圧力センサにより前記電磁弁の２次側の圧力変化を測定することで、前記電磁弁の作動を確認する定格時作動試験と、前記電磁弁の１次側に所定の試験圧力になるまで作動流体を供給し、前記制御部により前記電磁弁に印加する電圧を徐々に上昇させ、前記２次側圧力センサにより前記電磁弁の２次側の圧力変化を測定することで前記電磁弁の駆動タイミングを検知し、当該電磁弁の駆動タイミングで前記電圧電流測定部により測定された当該電磁弁に印加されている電圧の値が所定の基準範囲内であるか判断する最低動作電圧試験と、前記電磁弁の１次側に所定の試験圧力になるまで作動流体を供給し、前記制御部により前記電磁弁に電圧を印加して開弁させた状態から徐々に印加した電圧を下降させ、前記各２次側圧力センサにより前記電磁弁の２次側の圧力変化を測定することで前記電磁弁の駆動タイミングを検知し、当該電磁弁の駆動タイミングで前記電圧電流測定部により測定された当該電磁弁に印加されている電圧の値が所定の基準範囲内であるか判断する復帰電圧試験と、を複数の前記取付台にそれぞれ取り付けられた前記電磁弁で同時に行うことを特徴とする。

　この構成によれば、１次側圧力センサ及び２次側圧力センサを設けるという簡易な構成により、それぞれ取付台に取り付けた複数の電磁弁に対して、漏洩試験と定格時作動試験（ならし試験）と最低動作電圧試験と復帰電圧試験とを一斉に行うことができる。このため、少ない構成部品で試験時間の短縮も図ることができる電磁弁試験装置が得られる。

　また、本発明の第６の観点の電磁弁試験装置は、前記漏洩試験と前記定格時作動試験と前記最低動作電圧試験と前記復帰電圧試験とが終了した後に、１つの前記取付台に取り付けられた前記電磁弁に対して、前記電磁弁の１次側を大気圧とし、前記制御部により前記電磁弁に電圧を印加して開弁させた状態から徐々に印加した電圧を下降させ、前記電磁弁に印加される電圧及び電流を測定する前記電圧電流測定部により前記電磁弁に流れる電流の変化を測定することで前記電磁弁の駆動タイミングを検知し、当該電磁弁の駆動タイミングで前記電圧電流測定部により当該電磁弁に印加されている電圧を測定する大気圧開放試験と、前記電磁弁の２次側に作動流体溜めを接続した状態で当該電磁弁の１次側に定格圧力になるまで作動流体を供給し、前記制御部により前記電磁弁に電圧を印加して開弁させ、前記作動流体溜めにおける圧力上昇を試験する供給容量試験と、前記電磁弁のコイル部に直流電圧を印加して、当該電磁弁の枠体と前記コイル部との間の抵抗を測定する絶縁抵抗試験と、を行い、その後、残りの取付台に取り付けられた前記電磁弁に対して、前記大気圧開放試験と前記供給容量試験と前記絶縁抵抗試験とを行うことが望ましい。

　この構成によれば、１つの取付台に取り付けられた電磁弁の大気圧開放試験、供給容量試験、及び絶縁抵抗試験が終了すると、試験対象の電磁弁の交換を行い、その交換中に、他の取付台に取り付けられた電磁弁の大気圧開放試験、供給容量試験、及び絶縁抵抗試験を行うことができる。このため、電磁弁交換作業のために電磁弁試験装置が全く試験を行っていない時間を短くすることができ、作業効率を向上させることができる。

　また、本発明の第７の観点の電磁弁試験装置は、前記電磁弁のコイル部に交流電圧を印加して、当該電磁弁の枠体と前記コイル部との間の電圧を測定する絶縁耐圧試験を、前記漏洩試験中に行うことが望ましい。

　この構成によれば、絶縁耐圧部による絶縁耐圧試験を漏洩試験と同時に行うから、試験時間を短くすることができ、作業効率を向上させることができる。

　以下、本発明を実施するための最良の形態について図面を参照しつつ説明する。図１は、電磁弁の性能を試験する電磁弁試験装置を例示したものであって、本発明の実施形態に係る電磁弁試験装置１の正面図である。電磁弁試験装置１は、とくに鉄道車両に用いられる電磁弁（例えば、鉄道車両の空気ブレーキ装置等に用いられる各種電磁弁など）を定期検査する際に用いられる場合に好適であるが、鉄道車両以外に用いられる電磁弁の試験装置としても用いることができるものである。

　電磁弁試験装置１（以下、試験装置１という）は、底面に取り付けられたキャスタ１１により移動可能なボックス型に形成されている。そして、試験装置１の上段ボックス１２内には、各種試験用機器や制御装置等を備える試験ユニット１３（図３参照）などが収納されている。また、上段ボックス１２の正面には、内蔵される各種試験機器の計測状態を表示するとともに試験ユニット１３の制御装置を介した試験装置１の操作を可能とする表示兼操作パネル１４が配置されている。

　また、試験装置１の中段ボックス１５には、電磁弁が取り付けられる複数（４台）の取付台１６が並列に設けられている。各取付台１６には、定期検査のために鉄道車両の空気ブレーキ装置等から取り外された電磁弁がそれぞれ取り付けられることになる。各取付台１６の上部には、試験対象の電磁弁をチャッキングして取付台１６上に保持するためのチャッキング装置１７が設けられている。

　各取付台１６に取り付けられる各電磁弁に対しては、作動流体としての圧縮空気が給排されるようになっている。そして、試験装置１の下段ボックス１８には、取付台１６に取り付けられた電磁弁の流体導入側である１次側の圧力をそれぞれ測定する１次側圧力センサ１９が、各取付台１６にそれぞれ対応して設けられている。また、同様に、下段ボックス１８には、取付台１６に取り付けられた電磁弁の流体流出側である２次側の圧力をそれぞれ測定する２次側圧力センサ２０が、各取付台１６にそれぞれ対応して設けられている。

　図２は、試験装置１における圧縮空気の給排系統２を示す空気回路図である。圧縮空気給排系統２は、図１に示す試験装置１内に収納されており、４台の取付台１６（第１取付台１６ａ、第２取付台１６ｂ、第３取付台１６ｃ、第４取付台１６ｄ）、供給溜め２１、供給源配管２２、第１排出系配管２３、第２排出系配管２４、及び空気溜め２５などが設けられている。

　また、圧縮空気給排系統２では、第１取付台１６ａに対応して、バルブＶ１Ａ、Ｖ１Ｂ、Ｖ１Ｃ、１次側圧力センサ１９ａ、及び２次側圧力センサ２０ａが設けられている。同様に、第２取付台１６ｂに対応して、バルブＶ２Ａ、Ｖ２Ｂ、Ｖ２Ｃ、１次側圧力センサ１９ｂ、及び２次側圧力センサ２０ｂが設けられている。また、第３取付台１６ｃに対応しては、バルブＶ３Ａ、Ｖ３Ｂ、Ｖ３Ｃ、１次側圧力センサ１９ｃ、及び２次側圧力センサ２０ｃが設けられ、第４取付台１６ｄに対応しては、バルブＶ４Ａ、Ｖ４Ｂ、Ｖ４Ｃ、１次側圧力センサ１９ｄ、及び２次側圧力センサ２０ｄが設けられている。なお、図２においては、取付台１６に取り付けられた状態の試験対象の電磁弁Ｖ（以下、単に「電磁弁Ｖ」という）としては、第１取付台１６ａにのみ３方弁として構成される電磁弁Ｖ１が取り付けられている状態を図示している。

　供給溜め２１は、コンプレッサー等によって構成される空気源２６と接続されており、電磁弁Ｖの１次側に圧縮空気（作動流体）を供給する作動流体供給源を構成している。供給源配管２２は、供給溜め２１と接続されるとともに各電磁弁Ｖの１次側ともそれぞれ接続されている。即ち、供給源配管２２から各電磁弁Ｖの１次側に分岐した経路によって圧縮空気が供給されるようになっている。なお、供給源配管２２を経て各電磁弁Ｖへと圧縮空気を供給する経路が、供給溜め２１と各電磁弁Ｖとを接続する流体供給経路を構成している。

　また、各取付台１６にそれぞれ対応して流体供給経路に設けられているバルブＶ１Ａ、Ｖ２Ａ、Ｖ３Ａ、Ｖ４Ａは、各電磁弁Ｖの１次側で流体供給経路を連通状態と遮断状態とにそれぞれ切り換える１次側切換弁を構成している。そして、各取付台１６に対応しているバルブＶ１Ｂ、Ｖ２Ｂ、Ｖ３Ｂ、Ｖ４Ｂは、各電磁弁Ｖの２次側に接続されてそれぞれの２次側を連通状態と遮断状態とに切り換える２次側切換弁を構成している。

　２次側切換弁（Ｖ１Ｂ、Ｖ２Ｂ、Ｖ３Ｂ、Ｖ４Ｂ）の下流側（排出側）は、第１排出系配管２３にそれぞれ接続されている。第１排出系配管２３は、バルブＭＶ３を介して空気溜め（作動流体溜め）２５と接続されている。これにより、各電磁弁Ｖの２次側と空気溜め２５とが接続され、各電磁弁Ｖが励磁されて開弁状態になったときは、当該電磁弁Ｖの２次側から流出した圧縮空気が空気溜め２５へと誘導されるようになっている。また、第１排出系配管２３は、バルブＭＶ４を介して大気開放されるようにもなっている。大気開放端には、サイレンサ３４が取り付けられており、大気開放時に発生する音を消音するようになっている。

　また、バルブＶ１Ｃ、Ｖ２Ｃ、Ｖ３Ｃ、Ｖ４Ｃは、各電磁弁Ｖが３方弁であって消磁状態のときに各２次側切換弁Ｖ１Ｂ、Ｖ２Ｂ、Ｖ３Ｂ、Ｖ４Ｂとそれぞれ連通状態となるように設けられている。バルブＶ１Ｃ、Ｖ２Ｃ、Ｖ３Ｃ、Ｖ４Ｃは、第２排出系配管２４と接続されており、第２排出系配管２４は、バルブＭＶ６およびサイレンサ２７を介して大気開放されるようになっている。

　なお、１次側圧力センサ１９ａ、１９ｂ、１９ｃ、１９ｄは、１次側切換弁Ｖ１Ａ、Ｖ２Ａ、Ｖ３Ａ、Ｖ４Ａと各電磁弁Ｖとの間にそれぞれ接続されている。また、２次側圧力センサ２０ａ、２０ｂ、２０ｃ、２０ｄは、各電磁弁Ｖと２次側切換弁Ｖ１Ｂ、Ｖ２Ｂ、Ｖ３Ｂ、Ｖ４Ｂとの間にそれぞれ接続されている。

　図３は、試験装置１に備えられる試験ユニット１３と、電磁弁Ｖ、１次側圧力センサ１９、及び２次側圧力センサ２０との接続状態を示すブロック図である。図３においては、４台全ての取付台１６（１６ａ、１６ｂ、１６ｃ、１６ｄ）に対してそれぞれ電磁弁Ｖ（Ｖ１、Ｖ２、Ｖ３、Ｖ４）が取り付けられている場合を例示している。

　試験ユニット１３は、制御部２８、コイル電圧電流測定部２９、コイル抵抗測定部３０、絶縁抵抗測定部３１、絶縁耐圧測定部３２などを備えている。制御部（制御装置）２８は、各取付台１６に取り付けられた電磁弁Ｖと電気線３３により接続されており、この電気線３３を介して各電磁弁Ｖに電圧を印加して電磁弁Ｖを励磁して駆動させることで電磁弁Ｖを開弁させる。各電磁弁Ｖは、電気線３３により並列に接続されているため、制御部２８により一斉に電圧が印加されるようになっている。

　また、制御部２８は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、メモリ（ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory））などをそれぞれ備えて構成されている。メモリには、制御部２８を作動させるために用いられる各種プログラムや、電磁弁Ｖの性能を試験するために試験装置１に各種試験を実行させるためのプログラムを含む各種ソフトウェアが格納されている。また、このメモリには、各種試験を実施する際などに入力、設定、演算等される各種データも記憶される。

　コイル電圧電流測定部（電圧電流測定部）２９は、各電磁弁Ｖに印加される電圧・電流を測定する電圧／電流計を備えて構成されている。コイル電圧電流測定部２９で測定される電圧値が、どの取付台１６に取り付けられた電磁弁Ｖに対応しているかについては、制御部２８によって、各２次側圧力センサ２０からの入力信号に基づいて判断される。即ち、２次側圧力センサ２０はそれぞれ各電磁弁Ｖに対応しているため、いずれかの電磁弁Ｖが作動すると、その電磁弁Ｖに対応する２次側圧力センサ２０で２次側圧力の変化が測定される。これにより、その２次側圧力変化が生じたタイミングで測定された電圧値が、その２次側圧力変化を測定した２次側圧力センサ２０が対応している電磁弁Ｖの電圧値として制御部２８によって判断されることになり、測定対象の電磁弁Ｖを特定することができる。

　コイル抵抗測定部３０は、電磁弁Ｖにコイル抵抗測定用基準電圧を出力し、当該電磁弁Ｖのコイル部に発生する電圧を測定する電圧計を備えて構成されており、その電磁弁Ｖのコイル部の抵抗を測定する。コイル抵抗測定部３０に備えられる電圧計は１つであるため、取付台１６に取り付けられている電磁弁Ｖが複数の場合は、コイル抵抗測定は、順番に行われることになる。

　絶縁抵抗測定部３１は、電磁弁Ｖのコイル部に直流電圧を印加して、その際における当該電磁弁Ｖの枠体（ボディ部）とコイル部との間の抵抗を測定する。抵抗を測定するために絶縁抵抗測定部３１に備えられる電流計は１つであり、取付台１６に取り付けられている電磁弁Ｖが複数の場合は、絶縁抵抗測定は、順番に行われることになる。

　絶縁耐圧測定部３２は、電磁弁Ｖのコイル部に交流電圧を印加して、その際の当該電磁弁Ｖの枠体（ボディ部）とコイル部との間における絶縁耐圧（電圧）を測定する。

　次に、以上説明した構成を備える試験装置１の作動について説明する。試験装置１は、取付台１６に電磁弁Ｖが取り付けられた状態で作動することで、その電磁弁Ｖに対してその性能を試すための各種試験を行う。具体的には、試験装置１が作動することによって、コイル抵抗測定試験、定格時作動試験、漏洩試験、最低動作電圧試験、復帰電圧試験、大気圧開放試験、供給容量試験、絶縁抵抗試験などが行われる。なお、これらの試験は、電磁弁Ｖが複数取り付けられた状態で行われることで試験時間の短縮が図られるものであるが、電磁弁Ｖが１つのみ取り付けられている場合であっても行うことができる。

　コイル抵抗測定試験では、制御部２８からの指令に基づいて、コイル抵抗測定部３０によって電磁弁Ｖのコイル部の抵抗が測定される。このコイル抵抗測定試験では、コイル抵抗値の測定とともに室温の測定も行われ、２０℃における抵抗値に換算して求められる。そして、制御部２８によって、２０℃での換算値が所定の基準範囲内であるかどうかが判断される。このコイル抵抗測定試験によりコイル部が正常な状態であるか否かが判断されることになる。

　定格時作動試験では、電磁弁Ｖの１次側に当該電磁弁Ｖの定格圧力になるまで圧縮空気を供給し、制御部２８によりこの電磁弁Ｖに定格電圧を印加し、２次側圧力センサ２０により電磁弁Ｖの２次側圧力を測定することで、電磁弁Ｖの作動を確認する試験が行われる。例えば、図２に示す電磁弁Ｖ１の定格時作動試験を行う場合は、まず、１次側切換弁Ｖ１Ａを開いて電磁弁Ｖ１の１次側にその定格圧力まで圧縮空気を供給する。そして、電磁弁Ｖ１を定格電圧で励磁させて開弁させ、２次側圧力センサ２０ａにより２次側の圧力測定を行うことで電磁弁Ｖ１の開動作が正常に行われるか否かを確認する試験が行われる。この定格時作動試験においては、電磁弁Ｖが複数取り付けられている場合には、各１次側切換弁（Ｖ１Ａ、Ｖ２Ａ・・）を介して各電磁弁Ｖの１次側に一斉に圧縮空気が定格圧力になるまで供給される。そして、各電磁弁Ｖに一斉に定格電圧が印加されて一斉に定格時作動試験が行われる。この定格時作動試験により、定格電圧で電磁弁Ｖが正常に作動するか否かが判断されることになる。

　漏洩試験では、電磁弁Ｖの１次側に予め定めた所定の圧力の圧縮空気を閉じ込めた後に、１次側圧力センサ１９により電磁弁Ｖの１次側の圧力降下を測定し、電磁弁Ｖから圧縮空気の漏れの有無が確認されることで試験が行われる。例えば、図２に示す電磁弁Ｖ１の漏洩試験を行う場合は、まず、１次側切換弁Ｖ１Ａを開いて圧縮空気を供給し、所定の圧力になった段階で、１次側切換弁Ｖ１Ａを閉じて圧縮空気を電磁弁Ｖ１の１次側に閉じ込める。この状態から１次側圧力センサ１９ａにより１次側圧力の降下を測定することで、漏れの有無が試験される。この漏洩試験においては、電磁弁Ｖが複数取り付けられている場合には、各電磁弁Ｖの１次側に一斉に所定の圧力の圧縮空気を閉じ込めた状態で各１次側圧力センサ１９によりそれぞれ圧力降下を測定することで各電磁弁Ｖの漏洩試験が行われる。漏洩試験は、電磁弁の性能を試す試験においては最も時間のかかる試験であるが、試験装置１によると、この漏洩試験を複数の電磁弁Ｖに対して一斉に行うことができる。
　なお、漏洩試験中が不合格になった場合に不合格の電磁弁Ｖを特定するため、個々の電磁弁Ｖで漏洩試験を行えるように構成してある。また、漏洩試験中は、電磁弁Ｖを作動させずにできる試験、例えば絶縁耐圧部による絶縁耐圧試験（電磁弁Ｖのコイル部に交流電圧を印加して、電磁弁Ｖのボディ部とコイル部との間における電圧を測定する試験）を同時に行い、試験時間の短縮を図って作業効率を向上させている。

　最低動作電圧試験では、まず、電磁弁Ｖの１次側に予め定めた所定の試験圧力になるまで圧縮空気を供給し、制御部２８により電磁弁Ｖに印加する電圧を徐々に上昇させる。このとき２次側圧力センサ２０により電磁弁Ｖの２次側圧力変化を測定することで電磁弁Ｖの駆動タイミング（電圧印加で形成された電磁石により弁体が駆動されて開弁したタイミング）が検知される。そして、この電磁弁Ｖの駆動タイミングでコイル電圧電流測定部２９により測定された当該電磁弁Ｖに印加されている電圧（最低動作電圧）の値が所定の基準範囲内であるか否かが、制御部２８によって判断される。この最低動作電圧試験においては、電磁弁Ｖが複数設けられている場合には、各１次側切換弁（Ｖ１Ａ、Ｖ２Ａ・・）を介して各電磁弁Ｖの１次側に一斉に圧縮空気が所定の試験圧力になるまで供給される。そして、制御部２８により各電磁弁Ｖの印加電圧を徐々に上昇させて、各電磁弁Ｖの駆動タイミングにおける印加電圧（最低動作電圧）を測定して、それぞれ基準範囲内か否かが判断される。

　復帰電圧試験では、まず、電磁弁Ｖの１次側に予め定めた所定の試験圧力になるまで圧縮空気を供給し、制御部２８により電磁弁Ｖに電圧を印加して開弁させた状態にする。この状態から、制御部２８によって徐々に電磁弁Ｖの印加電圧を下降させる。このとき、電磁弁Ｖが３方弁の場合に消磁状態でこの電磁弁Ｖの２次側と連通状態となるバルブ（Ｖ１Ｃ、Ｖ２Ｃ、Ｖ３Ｃ、Ｖ４Ｃ、ＭＶ６）は開いた状態にしてその排出側が大気開放された状態にしておく。例えば、図２に示す電磁弁Ｖ１が試験対象の場合であれば、電磁弁Ｖ１の２次側と消磁位置で連通状態となるバルブＶ１Ｃ、ＭＶ６を開いた状態にして大気開放状態にしておく。そして、この状態で制御部２８により電磁弁Ｖの印加電圧を徐々に下降させながら２次側圧力センサ２０により電磁弁Ｖの２次側圧力変化を測定することで電磁弁Ｖの駆動タイミング（電圧印加で形成された電磁石により吸着されていた弁体の吸着が解除されてバネにより復帰して閉弁状態に戻ったタイミング）が検知される。この電磁弁Ｖの駆動タイミングでコイル電圧電流測定部２９により測定された当該電磁弁Ｖに印加されている電圧（復帰電圧）の値が所定の基準範囲内であるか否かが、制御部２８によって判断される。この復帰電圧試験においては、電磁弁Ｖが複数設けられている場合には、各１次側切換弁（Ｖ１Ａ、Ｖ２Ａ・・）を介して各電磁弁Ｖの１次側に一斉に圧縮空気が所定の試験圧力になるまで供給される。そして、制御部２８により一斉に各電磁弁Ｖに電圧を印加して開弁させた状態から徐々に印加電圧を下降させて、各電磁弁Ｖの駆動タイミングにおける印加電圧（復帰電圧）を測定して、それぞれ基準範囲内か否かが判断される。

　大気圧開放試験では、まず、電磁弁Ｖの１次側を大気圧とし、制御部２８により電磁弁Ｖに電圧を印加して開弁させた状態から徐々に印加した電圧を下降させる。このときコイル電圧電流測定部２９により電磁弁Ｖに流れる電流変化を測定することで電磁弁Ｖの駆動タイミング（閉弁タイミング）が検知される。そして、この電磁弁Ｖの駆動タイミングでコイル電圧電流測定部２９により測定された当該電磁弁Ｖに印加されている電圧（復帰電圧）が測定される。例えば、図２に示す電磁弁Ｖ１の大気圧開放試験を行う場合は、バルブＭＶ１を閉じてＭＶ２及びＶ１Ａを開いた状態にすることで電磁弁Ｖ１の１次側を大気圧に開放し、徐々に電磁弁Ｖ１の印加電圧を下降させ、復帰電圧が測定される。この大気圧開放試験においては、電磁弁Ｖの１次側が大気圧に開放された状態でバネ力のみで閉弁状態に復帰することが確認される。これにより、グリースの硬化等により弁体移動時の摩擦が大きくなって（こじゅう状態となって）弁体が移動しにくくなっていないかどうかや、バネの組み込み状態が正しいかを確認することができる。

　供給容量試験では、電磁弁Ｖの２次側に空気溜め２５が接続された状態で電磁弁Ｖの１次側に定格圧力になるまで圧縮空気を供給し、制御部２８により電磁弁Ｖに印加して開弁させ、空気溜め２５における圧力上昇に要する時間を確認する試験が行われる。例えば、図２に示す電磁弁Ｖ１の供給容量試験を行う場合は、１次側切換弁Ｖ１Ａを開いて定格圧力になるまで圧縮空気を供給し、その後、２次側切換弁Ｖ１Ｂ及びバルブＭＶ３を開いて空気溜め２５における圧力上昇に要する時間が確認されることになる。また、空気溜め２５に空気を充填させた状態から排気に要する時間を確認する排気容量試験を行うようにしても良い。

　絶縁抵抗試験では、電磁弁Ｖのコイル部に直流電圧が印加され、その際における当該電磁弁Ｖの枠体とコイル部との間の抵抗が絶縁抵抗測定部３１により測定される。これにより、正常な絶縁性能が保たれているか否かが判断される。

　なお、試験装置１においては、以上説明した各種試験のうち、漏洩試験、定格時作動試験、最低動作電圧試験、及び復帰電圧試験については、複数の取付台１６にそれぞれ取り付けられた電磁弁Ｖで同時に行うことで試験時間の短縮が図られるものである。一方、大気圧開放試験、供給容量試験、及び絶縁抵抗試験については、各取付台１６に取り付けられた電磁弁Ｖに対して順番に行われることになる。

　次に、試験装置１において上記各試験を行う場合の作業工程について説明する。図４は、各試験を行う順番を示す作業工程を示したものであるが、試験装置１においては、図４（ａ）及び（ｂ）のいずれの順番でも作業を行うことができる。なお、図４の作業工程は、４台の取付台１６にそれぞれ電磁弁Ｖが取り付けられている場合における作業工程を示したものである。

　図４（ａ）の作業工程の場合、まず、バルブセット工程（Ｓ）にて、各取付台１６に対して４台の電磁弁Ｖが順番に取り付けられる。次いで、コイル抵抗試験（(1)）が４台の電磁弁Ｖに対して同時に行われる。そして引き続き、定格時作動試験（(2)）、漏洩試験（(3)）、最低動作電圧試験及び復帰電圧試験（(4)）が、順番に、それぞれ４台の電磁弁Ｖに対して同時に行われる。その後は、大気圧開放試験（(5)）が４台の電磁弁Ｖに対して順番に行われ、続いて供給容量試験（(6)）が同様に４台の電磁弁Ｖに対して順番に行われる。最後に、絶縁抵抗試験（(7)）が４台の電磁弁Ｖに対して順番に行われて、電磁弁Ｖの試験サイクル（作業工程）が終了する。なお、１つの試験サイクルが終了した後は、まだ試験が終了していない電磁弁に対して、同様に、バルブセット工程（Ｓ）以降の作業工程が繰り返されることになる。

　一方、図４（ｂ）の作業工程の場合、最初のバルブセット（Ｓ）後、図４（ａ）の作業工程と同様にコイル抵抗測定試験（(1)）が各電磁弁Ｖに対して順番に行われ、続いて、定格時作動試験（(2)）、漏洩試験（(3)）、最低動作電圧試験及び復帰電圧試験（(4)）が順番に、４つの電磁弁Ｖに対してそれぞれ同時に行われる。そして、それらの試験が終了した後は、４つのうちの１つの取付台１６に取り付けられた電磁弁Ｖに対して、大気圧開放試験（(5)）、供給容量試験（(6)）、及び絶縁抵抗試験（(7)）が順番に行われる。その後、残りの取付台１６に取り付けられた電磁弁Ｖに対しても、同様に、大気圧開放試験（(5)）、供給容量試験（(6)）、及び絶縁抵抗試験（(7)）（以下、「試験(5)〜(7)」という）がそれぞれ行われる。また、図４（ｂ）の作業工程の場合、１つの取付台１６に取り付けられた電磁弁Ｖにおける試験(5)〜(7)が終了する毎にその取付台１６に対して、他の取付台１６に取り付けられた電磁弁Ｖにおける試験(5)〜(7)の作業と並行して、バルブセット作業（Ｓ）が行われる。

　図４（ｂ）の作業工程の場合、１つの取付台１６に取り付けられた電磁弁Ｖの試験(5)〜(7)が終了すると、試験対象の電磁弁Ｖの交換を行い、その交換中に、他の取付台１６に取り付けられた電磁弁Ｖの試験(5)〜(7)を行うことができる。このため、電磁弁交換作業のために試験装置１が全く試験を行っていない時間を短くすることができる。例えば、図４（ａ）の場合と比べると、１つの試験サイクルにつきバルブセット時間を135秒（45秒×3）短縮することができる。これにより、作業効率を向上させることができる。

　以上説明したように、電磁弁試験装置１によると、それぞれ取付台１６に取り付けた複数の電磁弁Ｖに対して、漏洩試験、定格時作動試験、最低動作電圧試験、及び復帰電圧試験を一斉に行うことができるため、試験作業時間を短縮することができる。そして、各取付台１６に取り付けた複数の電磁弁Ｖに対して共通化された１つの供給溜め２１、１つの電源、１つの電圧電流測定部２９で対応できるため、構成部品点数を少なくすることができる。また、試験装置１によると、１次側圧力センサ１９及び２次側圧力センサ２０を設けるという簡易な構成により、それぞれ取付台１６に取り付けた複数の電磁弁Ｖに対して、漏洩試験と定格時作動試験と最低動作電圧試験と復帰電圧試験とを一斉に行うことができる。この観点でも、少ない構成部品で試験時間の短縮も図ることができる。

　以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は上述の実施の形態に限られるものではなく、特許請求の範囲に記載した限りにおいて様々な設計変更が可能なものである。例えば、次のように変更して実施してもよい。

（１）複数の電磁弁に対して同時に行われる漏洩試験、定格時作動試験、最低動作電圧試験、及び復帰電圧試験については、必ずしも全ての試験が、複数の電磁弁に対してそれぞれ同時に行われるものでなくてもよい。即ち、漏洩試験、定格時作動試験、最低動作電圧試験、及び復帰電圧試験のうち少なくとも１つの試験が、複数の電磁弁に対して同時に行われることによっても試験時間の短縮効果が得られる。

（２）本実施形態においては、取付台に取り付けられる電磁弁が３方弁である場合を例にとって説明したが、２方弁であっても同様に各種試験（漏洩試験、定格時作動試験、最低動作電圧試験、復帰電圧試験、コイル抵抗測定試験、大気圧開放試験、供給容量試験、及び絶縁抵抗試験）を行うことができる。

（３）本実施形態においては、取付台に取り付けられる電磁弁が消磁位置で閉じているもの（常時「閉」）である場合を例にとって説明したが、消磁位置で開いているもの（常時「開」）であっても各種試験（漏洩試験、定格時作動試験、最低動作電圧試験、復帰電圧試験、コイル抵抗測定試験、大気圧開放試験、供給容量試験、及び絶縁抵抗試験）を行うことができる。

本発明の実施形態に係る電磁弁試験装置を例示した正面図である。図１に示す電磁弁試験装置における圧縮空気の給排系統を示す空気回路図である。図１に示す電磁弁試験装置に備えられる試験ユニットと、電磁弁、１次側切換弁及び２次側切換弁との接続状態を示すブロック図である。図１に示す電磁弁試験装置において各種試験を行う場合の作業工程を説明する工程図である。

符号の説明

１　電磁弁試験装置
２　圧縮空気給排系統
１６　取付台
１９　１次側圧力センサ
２０　２次側圧力センサ
２１　供給溜め（作動流体供給源）
２２　供給源配管（流体供給経路）
２８　制御部
３３　電気線
Ｖ、Ｖ１、Ｖ２、Ｖ３、Ｖ４　電磁弁
Ｖ１Ａ、Ｖ２Ａ、Ｖ３Ａ、Ｖ４Ａ　１次側切換弁
Ｖ１Ｂ、Ｖ２Ｂ、Ｖ３Ｂ、Ｖ４Ｂ　２次側切換弁

Claims

　電磁弁の性能を試験する電磁弁試験装置であって、
　電磁弁が取り付けられる複数の取付台と、
　前記取付台に取り付けられた前記電磁弁を駆動させる制御部と、
　前記制御部と前記電磁弁とを接続する電気線と、
　前記電磁弁の流体流入側である１次側に作動流体を供給する作動流体供給源と、
　前記作動流体供給源と前記電磁弁とを接続する流体供給経路と、
　前記各取付台にそれぞれ対応して前記流体供給経路に設けられ、前記電磁弁の１次側で当該経路を連通状態と遮断状態とにそれぞれ切り換える１次側切換弁と、
　前記各取付台にそれぞれ対応して設けられ、前記電磁弁の１次側圧力をそれぞれ測定する１次側圧力センサと、
　を備え、
　前記電磁弁が複数取り付けられている場合に、前記各１次側切換弁を介して前記各電磁弁の１次側に一斉に所定の圧力の作動流体を閉じ込めた後に、前記各１次側圧力センサにより前記各電磁弁の１次側の圧力降下を測定し、前記各電磁弁からの作動流体の漏洩の有無を試験することを特徴とする電磁弁試験装置。
　電磁弁の性能を試験する電磁弁試験装置であって、
　電磁弁が取り付けられる複数の取付台と、
　前記取付台に取り付けられた前記電磁弁を駆動させる制御部と、
　前記制御部と前記電磁弁とを接続する電気線と、
　前記電磁弁の流体流入側である１次側に作動流体を供給する作動流体供給源と、
　前記作動流体供給源と前記電磁弁とを接続する流体供給経路と、
　前記各取付台にそれぞれ対応して前記流体供給経路に設けられ、前記電磁弁の１次側で当該経路を連通状態と遮断状態とにそれぞれ切り換える１次側切換弁と、
　前記電磁弁の流体流出側である２次側に接続されて当該２次側を連通状態と遮断状態とに切り換える２次側切換弁と、
　前記各取付台にそれぞれ対応して設けられ、前記電磁弁の２次側圧力をそれぞれ測定する２次側圧力センサと、
　を備え、
　前記電磁弁が複数取り付けられている場合に、前記各１次側切換弁を介して前記各電磁弁の１次側に一斉に当該電磁弁の定格圧力になるまで作動流体を供給し、前記制御部により前記各電磁弁に一斉に定格電圧を印加し、前記各２次側圧力センサにより前記各電磁弁の２次側の圧力変化を測定することで、前記各電磁弁の作動を確認する定格時作動試験を一斉に行うことを特徴とする電磁弁試験装置。
　電磁弁の性能を試験する電磁弁試験装置であって、
　電磁弁が取り付けられる複数の取付台と、
　前記取付台に取り付けられた前記電磁弁を駆動させる制御部と、
　前記制御部と前記電磁弁とを接続する電気線と、
　前記電磁弁の流体流入側である１次側に作動流体を供給する作動流体供給源と、
　前記作動流体供給源と前記電磁弁とを接続する流体供給経路と、
　前記各取付台にそれぞれ対応して前記流体供給経路に設けられ、前記電磁弁の１次側で当該経路を連通状態と遮断状態とにそれぞれ切り換える１次側切換弁と、
　前記電磁弁の流体流出側である２次側に接続されて当該２次側を連通状態と遮断状態とに切り換える２次側切換弁と、
　前記各取付台にそれぞれ対応して設けられ、前記電磁弁の２次側圧力をそれぞれ測定する２次側圧力センサと、
　前記電磁弁に印加される電圧を測定し、または前記電磁弁に印加される電圧及び電流を測定する電圧電流測定部と、
　を備え、
　前記電磁弁が複数取り付けられている場合に、前記各１次側切換弁を介して前記各電磁弁の１次側に一斉に所定の試験圧力になるまで作動流体を供給し、前記制御部により前記各電磁弁に印加する電圧を徐々に上昇させ、前記各２次側圧力センサにより前記各電磁弁の２次側の圧力変化を測定することで前記各電磁弁の駆動タイミングを検知し、当該各電磁弁の駆動タイミングで前記電圧電流測定部により測定された当該各電磁弁に印加されている電圧の値が所定の基準範囲内であるか判断する最低動作電圧試験を行うことを特徴とする電磁弁試験装置。
　電磁弁の性能を試験する電磁弁試験装置であって、
　電磁弁が取り付けられる複数の取付台と、
　前記取付台に取り付けられた前記電磁弁を駆動させる制御部と、
　前記制御部と前記電磁弁とを接続する電気線と、
　前記電磁弁の流体流入側である１次側に作動流体を供給する作動流体供給源と、
　前記作動流体供給源と前記電磁弁とを接続する流体供給経路と、
　前記各取付台にそれぞれ対応して前記流体供給経路に設けられ、前記電磁弁の１次側で当該経路を連通状態と遮断状態とにそれぞれ切り換える１次側切換弁と、
　前記電磁弁の流体流出側である２次側に接続されて当該２次側を連通状態と遮断状態とに切り換える２次側切換弁と、
　前記各取付台にそれぞれ対応して設けられ、前記電磁弁の２次側圧力をそれぞれ測定する２次側圧力センサと、
　前記電磁弁に印加される電圧を測定し、または前記電磁弁に印加される電圧及び電流を測定する電圧電流測定部と、
　を備え、
　前記電磁弁が複数取り付けられている場合に、前記各１次側切換弁を介して前記各電磁弁の１次側に一斉に所定の試験圧力になるまで作動流体を供給し、前記制御部により一斉に前記各電磁弁に電圧を印加して開弁させた状態から徐々に印加した電圧を下降させ、前記各２次側圧力センサにより前記各電磁弁の２次側の圧力変化を測定することで前記各電磁弁の駆動タイミングを検知し、当該各電磁弁の駆動タイミングで前記電圧電流測定部により測定された当該各電磁弁に印加されている電圧の値が所定の基準範囲内であるか判断する復帰電圧試験を行うことを特徴とする電磁弁試験装置。
　電磁弁の性能を試験する電磁弁試験装置であって、
　電磁弁が取り付けられる複数の取付台と、
　前記取付台に取り付けられた前記電磁弁を駆動させる制御部と、
　前記制御部と前記電磁弁とを接続する電気線と、
　前記電磁弁の流体流入側である１次側に作動流体を供給する作動流体供給源と、
　前記作動流体供給源と前記電磁弁とを接続する流体供給経路と、
　前記各取付台にそれぞれ対応して前記流体供給経路に設けられ、前記電磁弁の１次側で当該経路を連通状態と遮断状態とにそれぞれ切り換える１次側切換弁と、
　前記各取付台にそれぞれ対応して設けられ、前記電磁弁の１次側圧力をそれぞれ測定する１次側圧力センサと、
　前記電磁弁の流体流出側である２次側に接続されて当該２次側を連通状態と遮断状態とに切り換える２次側切換弁と、
　前記各取付台にそれぞれ対応して設けられ、前記電磁弁の２次側圧力をそれぞれ測定する２次側圧力センサと、
　前記電磁弁に印加される電圧を測定し、または前記電磁弁に印加される電圧及び電流を測定する電圧電流測定部と、
　を備え、
　前記電磁弁の１次側に所定の圧力の作動流体を閉じ込めた後に、前記１次側圧力センサにより前記電磁弁の１次側の圧力降下を測定し、前記電磁弁からの作動流体の漏洩の有無を試験する漏洩試験と、
　前記電磁弁の１次側に当該電磁弁の定格圧力になるまで作動流体を供給し、前記制御部により前記電磁弁に定格電圧を印加し、前記２次側圧力センサにより前記電磁弁の２次側の圧力変化を測定することで、前記電磁弁の作動を確認する定格時作動試験と、
　前記電磁弁の１次側に所定の試験圧力になるまで作動流体を供給し、前記制御部により前記電磁弁に印加する電圧を徐々に上昇させ、前記２次側圧力センサにより前記電磁弁の２次側の圧力変化を測定することで前記電磁弁の駆動タイミングを検知し、当該電磁弁の駆動タイミングで前記電圧電流測定部により測定された当該電磁弁に印加されている電圧の値が所定の基準範囲内であるか判断する最低動作電圧試験と、
　前記電磁弁の１次側に所定の試験圧力になるまで作動流体を供給し、前記制御部により前記電磁弁に電圧を印加して開弁させた状態から徐々に印加した電圧を下降させ、前記各２次側圧力センサにより前記電磁弁の２次側の圧力変化を測定することで前記電磁弁の駆動タイミングを検知し、当該電磁弁の駆動タイミングで前記電圧電流測定部により測定された当該電磁弁に印加されている電圧の値が所定の基準範囲内であるか判断する復帰電圧試験と、
　を複数の前記取付台にそれぞれ取り付けられた前記電磁弁で同時に行うことを特徴とする電磁弁試験装置。
　前記漏洩試験と前記定格時作動試験と前記最低動作電圧試験と前記復帰電圧試験とが終了した後に、
　１つの前記取付台に取り付けられた前記電磁弁に対して、
　前記電磁弁の１次側を大気圧とし、前記制御部により前記電磁弁に電圧を印加して開弁させた状態から徐々に印加した電圧を下降させ、前記電磁弁に印加される電圧及び電流を測定する前記電圧電流測定部により前記電磁弁を流れる電流の変化を測定することで前記電磁弁の駆動タイミングを検知し、当該電磁弁の駆動タイミングで前記電圧電流測定部により当該電磁弁に印加されている電圧を測定する大気圧開放試験と、
　前記電磁弁の２次側に作動流体溜めを接続した状態で当該電磁弁の１次側に定格圧力になるまで作動流体を供給し、前記制御部により前記電磁弁に電圧を印加して開弁させ、前記作動流体溜めにおける圧力上昇を試験する供給容量試験と、
　前記電磁弁のコイル部に直流電圧を印加して、当該電磁弁の枠体と前記コイル部との間の抵抗を測定する絶縁抵抗試験と、
　を行い、
　その後、残りの取付台に取り付けられた前記電磁弁に対して、前記大気圧開放試験と前記供給容量試験と前記絶縁抵抗試験とを行うことを特徴とする請求項５に記載の電磁弁試験装置。
　前記電磁弁のコイル部に交流電圧を印加して、当該電磁弁の枠体と前記コイル部との間の電圧を測定する絶縁耐圧試験を、前記漏洩試験中に行うことを特徴とする請求項１または請求項５または請求項６に記載の電磁弁試験装置。