JP2010002758A - 共焦点走査型顕微鏡システム - Google Patents
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Abstract
【課題】試料の高さ情報の取得作業を、光検出の感度設定が常に適切な状態で行えるようにする。
【解決手段】光検出器11は、対物レンズ7を介して試料8から到来する光を検出してその光量を示す信号を出力する。PC12は、まず、試料8についての高さ情報を、試料8と対物レンズ7との距離と当該光量との関係に基づき生成する。そして、光検出器11が出力する信号で示される所定の光量を所定値にするために光検出器11に設定される感度設定値を、その光量に基づき生成した高さ情報に対応付けて記憶しておく。続いて、PC12は、この記憶内容に基づき、感度設定値を該距離に応じて調整すると共に、このように調整された光検出器11により出力される信号に基づき、試料8の共焦点画像を該距離に応じて複数生成し、この複数の共焦点画像から試料8の三次元画像を生成する。
【選択図】 図1
【解決手段】光検出器11は、対物レンズ7を介して試料8から到来する光を検出してその光量を示す信号を出力する。PC12は、まず、試料8についての高さ情報を、試料8と対物レンズ7との距離と当該光量との関係に基づき生成する。そして、光検出器11が出力する信号で示される所定の光量を所定値にするために光検出器11に設定される感度設定値を、その光量に基づき生成した高さ情報に対応付けて記憶しておく。続いて、PC12は、この記憶内容に基づき、感度設定値を該距離に応じて調整すると共に、このように調整された光検出器11により出力される信号に基づき、試料8の共焦点画像を該距離に応じて複数生成し、この複数の共焦点画像から試料8の三次元画像を生成する。
【選択図】 図1
Description
本発明は、顕微鏡の技術に関し、特に、試料表面の高さの情報を取得して当該試料の三次元画像を生成する共焦点走査型顕微鏡の技術に関する。
共焦点走査型顕微鏡は、光源からの光をスポット状にして試料面を走査すると共に、試料面からの反射光のうち共焦点絞りを通過したもののみを光検出器により電気信号に変換し、その電気信号から試料面の三次元情報を得ることができる。このような共焦点走査型顕微鏡では、対物レンズの光軸上で焦点の合ったときに、光検出器で検出される光量が最大となり、焦点から外れたところではその検出光量はほぼゼロになる。従って、当該光軸方向に所定のピッチで試料面を移動させながら、試料面をスポット光で二次元走査することで、試料面上の各位置の高さ情報を得ることができる。
ところで、試料面は全体に亘って平坦とは限らない。また、面上の位置によっては、その高さの違いから反射率が異なることも多い。このため、このような試料の三次元画像の生成のための高さ情報の取得作業を、光検出の感度設定を一定のままで行うと、試料全体に亘り最適な設定にはならない。すなわち、試料の各高さにおける反射率の違いにより、輝度コントラストが不適切となってしまう場合や、高さ情報が不正確になってしまう場合などが発生し得る。
このような光検出の感度設定の手法に関し、例えば特許文献1には、高さ範囲毎に感度の設定を手動で行うようにし、試料の高さ情報の取得作業の途中で感度設定を切り替える技術が開示されている。
また、例えば特許文献2には、高低2種類の感度設定の下で試料の高さ情報の取得作業を行い、得られた2つのデータのうち適切な方を各画素について選択して輝度画像及び高さ画像の構築を行うという技術が開示されている。
特開2007−286284号公報
特開2007−41120号公報
特許文献1の技術では、試料について得られる画像の画質や高さ情報の精度がユーザのスキルに左右され、また、感度の設定に時間と手間がかかる。
また、特許文献2の技術では、試料の高さ情報の取得作業を2回完全に行うため作業時間が長くなってしまい、また、2種類の感度設定では試料により最適な設定とはいえない場合での作業になってしまうこともある。
また、特許文献2の技術では、試料の高さ情報の取得作業を2回完全に行うため作業時間が長くなってしまい、また、2種類の感度設定では試料により最適な設定とはいえない場合での作業になってしまうこともある。
本発明は上述した問題に鑑みてなされたものであり、その解決しようとする課題は、試料の高さ情報の取得作業を、光検出の感度設定が常に適切な状態で行えるようにすることである。
本発明の態様のひとつである共焦点走査型顕微鏡システムは、対物レンズを介して試料から到来する光を検出してその光量を示す信号を出力する光検出手段、該試料についての該対物レンズの光軸方向の高さ情報を、該試料と該対物レンズとの距離と該光量との関係に基づき生成しておく高さ情報生成手段、該光検出手段が出力する該信号で示される所定の光量を所定値にするために該光検出手段に設定される感度設定値を、該高さ情報生成手段が該光量に基づき生成した該高さ情報に対応付けて記憶しておく感度設定値記憶手段、該感度設定値記憶手段の記憶内容に基づき、該感度設定値を、該試料と該対物レンズとの距離に応じて調整する感度設定値調整手段、該感度設定値が該距離に応じて該感度設定値調整手段により調整された該光検出手段により出力される該信号に基づき、該試料についての共焦点画像を該距離に応じて複数生成する共焦点画像生成手段、及び複数の該共焦点画像の各々と該距離との関係に基づき該試料についての三次元画像を生成する三次元画像生成手段、を有するというものである。
なお、上述した共焦点走査型顕微鏡システムにおいて、該光検出手段は、該高さ情報生成手段が該高さ情報を生成するためには、該光軸に垂直な方向に設定された1つのライン上の試料面、若しくは、該光軸に垂直であって互いに平行に所定の間隔を空けて設定された複数のライン上の試料面から到来する光のみを検出するように構成することができる。
なお、このとき、該高さ情報生成手段は、とり得る範囲の限点から該距離を単調に変化させつつ該光検出手段により取得された該ライン上の試料面についての該光量に基づき、該高さ情報を生成するように構成することができる。
また、このとき、該ラインは、該試料の形状に基づき設定されるように構成することができる。
また、前述した共焦点走査型顕微鏡システムにおいて、該光検出手段が取得した光量に基づいて該感度設定値を初期設定する感度設定値初期設定手段を更に有し、該高さ情報生成手段は、該感度設定値初期設定手段が該感度設定値を初期設定した該光検出手段により検出された該光の光量に基づき、該高さ情報を生成する、ように構成することができる。
また、前述した共焦点走査型顕微鏡システムにおいて、該光検出手段が取得した光量に基づいて該感度設定値を初期設定する感度設定値初期設定手段を更に有し、該高さ情報生成手段は、該感度設定値初期設定手段が該感度設定値を初期設定した該光検出手段により検出された該光の光量に基づき、該高さ情報を生成する、ように構成することができる。
また、前述した共焦点走査型顕微鏡システムにおいて、該感度設定値記憶手段は、該高さ情報を所定の高さ範囲毎にグループ化し、該グループ毎に該感度設定値を対応付けて記憶しておくように構成することができる。
また、前述した共焦点走査型顕微鏡システムにおいて、該共焦点画像生成手段が該共焦点画像を複数生成するときの該距離の変化範囲を指定する距離変化範囲指定手段、及び該距離変化範囲指定手段による該距離の変化範囲の指定内容を示す情報を表示する距離指定範囲表示手段、を更に有するように構成することができる。
また、前述した共焦点走査型顕微鏡システムにおいて、該共焦点画像生成手段が該共焦点画像を複数生成するときの該距離の変化範囲を、該高さ情報生成手段が生成した該高さ情報に基づき設定する距離変化範囲設定手段を更に有するように構成することができる。
また、前述した共焦点走査型顕微鏡システムにおいて、該距離を変化させて該対物レンズにより得られる該試料の像を合焦させる合焦手段を更に有し、該光検出手段は、該高さ情報生成手段による該高さ情報の生成のための該光の検出を、該合焦手段が該試料の像を合焦させたときの該距離から所定値だけ該距離を変化させた範囲内において行う、ように構成することができる。
また、前述した共焦点走査型顕微鏡システムにおいて、該共焦点画像生成手段が該共焦点画像を複数生成するときの該距離の変化範囲を指定する距離変化範囲指定手段、及び該共焦点画像生成手段が該共焦点画像を複数生成するときの該距離の変化範囲を、該距離変化範囲設定手段に設定させるか、あるいは、該距離変化範囲指定手段に指定させるかを選択する選択手段、を更に有するように構成することができる。
また、該感度設定値記憶手段において対応付けられて記憶されている該高さ範囲のグループと該グループ毎の該感度設定値とを表示する感度設定値表示手段、及び該感度設定値記憶手段に記憶されている該感度設定値の変更を行う感度設定値変更手段、を更に有するように構成することができる。
本発明によれば、以上のようにすることにより、光検出の感度設定が常に適切な状態で、試料の高さ情報の取得作業が行えるという効果を奏する。
まず、本発明を実施する共焦点走査型顕微鏡システムの基本的なブロック構成について説明する。
本発明を実施する共焦点走査型顕微鏡システムは、光源と、二次元走査部と、対物光学系と、光検出部と、二次元画像取得部と、相対位置変位部と、代表画素データ取得部と、高さ輝度情報構築部と、分割領域関連情報算出部と、分割領域関連情報格納部と、ゲイン調整部と、三次元画像構築部と、を基本的に備えている。
本発明を実施する共焦点走査型顕微鏡システムは、光源と、二次元走査部と、対物光学系と、光検出部と、二次元画像取得部と、相対位置変位部と、代表画素データ取得部と、高さ輝度情報構築部と、分割領域関連情報算出部と、分割領域関連情報格納部と、ゲイン調整部と、三次元画像構築部と、を基本的に備えている。
ここで、光源は、光を照射するものである。二次元走査部は、試料に対して光源より照射された照射光を相対的に二次元方向へ走査させるものである。対物光学系は、二次元走査部により走査された照明光を集光させる。光検出部は、対物光学系により集光させた照明光を試料に照射して反射された反射光を検出して、その検出強度に応じた検出信号を出力する。二次元画像取得部は、光検出部から出力された検出信号に基づいて二次元画像を取得する。相対位置変位部は、対物光学系に対する試料の位置を相対的に変位させる。
代表画素データ取得部は、試料の測定対象範囲を相対位置変位部により試料を変位させる場合に取得された複数の二次元画像の各画素データから、代表となる画素データを取得する。高さ輝度情報構築部は、代表画素データに基づいて高さ情報と輝度情報を構築する。分割領域関連情報算出部は、高さ輝度情報構築部により取得された高さ情報と輝度情報とから、試料の光軸方向に関する観察範囲となる領域を複数に分割した領域である高さ分割領域と、その高さ分割領域に対応して設定される光検出部のゲインを算出する。分割領域関連情報格納部は、分割領域関連情報算出部により生成された高さ分割領域と、その高さ分割領域に対応するゲインを格納する。ゲイン調整部は、光検出部のゲインを調整する。三次元画像構築部は、代表画素データに基づいて三次元画像を構築する。
以下、本発明を実施する共焦点走査型顕微鏡システムの具体的な構成及び動作について、図面に基づいて説明する。
まず図1について説明する。図1は、本発明を実施する共焦点走査型顕微鏡システムの構成を示している。
まず図1について説明する。図1は、本発明を実施する共焦点走査型顕微鏡システムの構成を示している。
図1において、光源1から出射した光は、ビームスプリッタ2を通過した後に、二次元走査機構3に入射する。
二次元走査機構3は、第一の光スキャナ3aと第二の光スキャナ3bとを備えている。この第一の光スキャナ3a及び第二の光スキャナ3bは例えばガルバノスキャナであり、この振り角をコンピュータ12が制御することで、収束光を試料8上の任意の位置に照射することができる。このように、二次元走査機構3は、ビームスプリッタ2を通過した光束を二次元に走査する。
二次元走査機構3は、第一の光スキャナ3aと第二の光スキャナ3bとを備えている。この第一の光スキャナ3a及び第二の光スキャナ3bは例えばガルバノスキャナであり、この振り角をコンピュータ12が制御することで、収束光を試料8上の任意の位置に照射することができる。このように、二次元走査機構3は、ビームスプリッタ2を通過した光束を二次元に走査する。
この光束は、レボルバ6によって光路上に配置されている対物レンズ7に入射すると、収束光となって出射して試料8の面上を走査する。この収束光が試料8の表面(試料面)で反射すると、入射光とは逆に、対物レンズ7及び二次元走査機構3を経由してビームスプリッタ2に導入される。ビームスプリッタ2はこのときには反射光を反射してその光軸を結像レンズ9に向ける。結像レンズ9はこの反射光をピンホール10上に集光する。
試料8からの反射光のうち集光点以外からの反射光は、ピンホール10によりカットされ、ピンホール10を通過する光、すなわち集光点からの反射光だけが光検出器11の受光面に届く。光検出器11は、以上のようにして試料8から対物レンズ7を介して到来する光を検出してその光量を示す信号をコンピュータ12へ出力する。
なお、試料8は試料台13上に載置されており、試料台13はステージ14に取り付けられている。レボルバ6は、対物レンズ7の光軸方向に移動(上下動)させることができる。従って、レボルバ6を上下動させることで、対物レンズ7と試料8との距離を変化させることができる。
二次元走査機構3、レボルバ6、及び光検出器11はコンピュータ(PC)12によって制御される。
ここで、対物レンズ7による集光位置は、ピンホール10と光学的に共役な位置に配置されている。従って、試料8が例えば対物レンズ7による集光位置にある場合には、試料8からの反射光はピンホール10上で集光されて、ピンホール10を通過する。これに対し、試料8が例えば対物レンズ7による集光位置からずれた位置にある場合には、試料8からの反射光はピンホール10上で集光せず、ピンホール10を通過しない。
ここで、対物レンズ7による集光位置は、ピンホール10と光学的に共役な位置に配置されている。従って、試料8が例えば対物レンズ7による集光位置にある場合には、試料8からの反射光はピンホール10上で集光されて、ピンホール10を通過する。これに対し、試料8が例えば対物レンズ7による集光位置からずれた位置にある場合には、試料8からの反射光はピンホール10上で集光せず、ピンホール10を通過しない。
従って、対物レンズ7と試料8との距離と、光検出器11の出力とは、試料8が対物レンズ7の集光位置に位置しているときに光検出器11の出力が最大になる関係を有している。その一方、この位置から対物レンズ7と試料8の相対位置が離れるに従い光検出器11の出力が急激に低下する。
この特性を用い、コンピュータ12は、二次元走査機構3によって集光点を二次元走査し、光検出器11の出力で示されている光量を画素の輝度値として二次元走査機構3に同期して画像化を行う。すると、試料8表面のある特定の高さ(対物レンズ7と試料8とのある特定の距離)のみが画像化されて、試料8を光学的にスライスしたかのような画像(共焦点画像)を得ることができる。コンピュータ12は、このようにして生成された共焦点画像をモニタ(表示装置)15に表示させることができる。
また、コンピュータ12は、試料8の高さ情報を得ることもできる。このためには、レボルバ6を駆動して対物レンズ7を光軸方向に離散的に上下移動し、各位置において二次元走査機構3を走査して共焦点画像を複数生成する。そして、試料8の各点において光検出器11の出力信号で示される光量が最大になる対物レンズ7の位置を試料8表面の各位置について検出すればよい。すなわち、コンピュータ12は、試料8についての対物レンズ7の光軸方向の高さ情報を、試料8と対物レンズ7との距離と、光検出器11の出力信号で示される光量との関係に基づき生成することができる。
なお、コンピュータ12は、ごく標準的な構成のコンピュータ、すなわち、制御プログラムの実行によってコンピュータ12全体の動作制御を司るMPU等の演算処理装置と、この演算処理装置が必要に応じてワークメモリとして使用するメインメモリと、各種のプログラムや制御データなどを記憶して保存しておく例えばハードディスク装置などの記憶装置と、図1に示したシステムの各構成要素や不図示の入力装置などとの間で行われる各種のデータの授受を管理するインタフェース部と、を有しているコンピュータ、を利用することができる。これより説明する、このコンピュータ12が行う各種の制御動作は、当該制御動作をコンピュータ12に行わせるための制御プログラムを当該記憶装置に予め格納しておき、当該演算処理装置が当該制御プログラムを読み出して実行することによって、実現される。
次に、このコンピュータ12が行う各種の制御動作について説明する。
まず図2について説明する。図2は、コンピュータ12によって行われる、試料8の三次元画像を生成するための制御処理の第一の例をフローチャートで示したものである。
まず図2について説明する。図2は、コンピュータ12によって行われる、試料8の三次元画像を生成するための制御処理の第一の例をフローチャートで示したものである。
この第一の例では、まず、試料8の観察領域に対応するZ方向(対物レンズ7の光軸方向)の範囲を設定し、その設定範囲内で、試料8表面の対象領域についての高さ情報と輝度情報(光検出器11で検出される当該対象領域からの光の光量の情報)とを取得する。そして、高さ情報を所定の高さ範囲毎にグループ分けし、形成された各グループについて感度設定値を対応付ける。感度設定値とは光検出器11に設定される値であり、光検出器11から出力される信号は、光検出器11で検出される光の光量に、この感度設定値を乗じた値を示す。
その後、試料8と対物レンズ7との距離に応じて感度設定値を調整して、その値が、当該距離に対応する高さ情報の属する高さ範囲グループに対応付けられている値となるようにしながら、試料8の共焦点画像の生成のための信号を光検出器11から得る。この距離を変化させつつ光検出器11からこうして出力される信号に基づき試料8の共焦点画像を複数生成し、生成された複数の共焦点画像の各々と当該距離との関係に基づき試料8についての三次元画像を生成する。
図2において、まず、S201では、試料8の画像を生成してモニタ15に表示させる処理が行われる。このとき、コンピュータ12は、試料8の画像と共に、図3に示した上下限設定画面31をモニタ15に表示させる処理も併せて行う。
システムのユーザは、モニタ15に表示される画像を観察しながらコンピュータ12の不図示の入力装置(マウス装置やキーボード装置など)を操作する。そして、モニタ15での表示画像に試料8が現れなくなる位置まで、レボルバ6を上下両方向(対物レンズ7が試料8から離れる方向と近づく方向)に移動させ、その上限及び下限の位置をコンピュータ12に指示する。S202では、この指示を取得して、その指示内容を、モニタ15に表示中の上下限設定画面31に表示させる処理が行われる。
上記の指示は、図3に示した上下限設定画面31における上限位置指示部32及び下限位置指示部34に対する、例えばマウス装置のクリック操作による押下操作によって行われる。上限位置指示部32に対する押下操作が検出されると、コンピュータ12は、このときの対物レンズ7の光軸方向の位置を示す情報を、対物レンズ7と試料8との距離の変化範囲の指定における上限の情報として、上限位置表示部33に表示する。また、下限位置指示部34に対する押下操作が検出されると、コンピュータ12は、このときの対物レンズ7の光軸方向の位置を示す情報を、対物レンズ7と試料8との距離の変化範囲の指定における下限の情報として、下限位置表示部35に表示する。
次に、システムのユーザは、不図示の入力装置を操作して、試料8の三次元画像の生成動作の開始をコンピュータ12に指示する。コンピュータ12は、この開始指示を取得すると、まず、S203として輝度情報の取得及び高さ情報の生成処理を行い、次に、S204として高さ範囲のグループ分け及び感度設定値の対応付け処理を行う。そして次に、S205として三次元画像の構築処理を行い、その後はこの図2の処理を終了する。
次に、このS203、S204、及びS205の処理の詳細を説明する。
まず図4について説明する。図4は、図2のS203の処理である、輝度情報の取得及び高さ情報の生成処理の処理内容をフローチャートで示したものである。この処理では、まず、試料8についての対物レンズ7の光軸方向の高さ情報を、試料8と対物レンズ7との距離と、光検出器11から出力される、対物レンズ7を介して試料8から到来する光の光量を示す信号とに基づいて生成する処理を行う。そして、その高さ情報と、その信号で示されている光量(輝度)とを対応付けて記憶装置に格納しておく処理を行う。この処理は、三次元画像生成の基礎となる試料8の複数の共焦点画像の取得作業を適切且つ効率的に行えるようにするための前処理である。
まず図4について説明する。図4は、図2のS203の処理である、輝度情報の取得及び高さ情報の生成処理の処理内容をフローチャートで示したものである。この処理では、まず、試料8についての対物レンズ7の光軸方向の高さ情報を、試料8と対物レンズ7との距離と、光検出器11から出力される、対物レンズ7を介して試料8から到来する光の光量を示す信号とに基づいて生成する処理を行う。そして、その高さ情報と、その信号で示されている光量(輝度)とを対応付けて記憶装置に格納しておく処理を行う。この処理は、三次元画像生成の基礎となる試料8の複数の共焦点画像の取得作業を適切且つ効率的に行えるようにするための前処理である。
図4において、まず、S301では、レボルバ6を下方向に駆動して、下限位置表示部35に表示されている、対物レンズ7と試料8との距離の変化範囲の指定における下限の位置まで、対物レンズ7を移動させる処理が行われる。なお、「下方向」とは、対物レンズ7の光軸方向であってステージ14に近づく方向である。
S302では、高さ情報及び輝度情報の取得対象とする、試料8表面上の対象領域を指定する処理が行われる。この対象領域の指定では、試料8表面における、対物レンズ7の光軸に垂直な方向に予め位置が設定されている1つのライン上の領域、若しくは、この光軸に垂直であって互いに平行に所定の間隔を空けて予め位置が設定されている複数のライン上の領域のうちの1つ、または複数を指定する。つまり、光検出器11は、試料8の高さ情報の生成のためには、試料8表面におけるこのライン上から到来する光のみを検出するようにする。高さ情報及び輝度情報の取得対象とする試料8表面上の領域をこのように一部に限定することにより、試料8表面全体を取得対象とする場合よりも短い時間で高さ情報及び輝度情報の取得動作を完了させることができる。
なお、本実施形態においては、このラインは、X方向、すなわち、対物レンズ7の光軸に垂直であって、二次元走査機構3の第一の光スキャナ3a及び第二の光スキャナ3bのうちのどちらか一方による試料8の面上での収束光の走査方向とする。
次に、S303では、レボルバ6を駆動して、対物レンズ7の位置を、現在の位置(対物レンズ7と試料8との距離の変化範囲についてのとり得る値の限点)から、予め設定されている所定距離だけ上方向若しくは下方向に移動させる処理が行われる。例えば、このS303の処理が、前述したS301の処理後に初めて行われる場合には、このS303の処理では、対物レンズ7の位置を、S301の処理により移動させておいた下限位置から予め設定されている所定距離だけ上方向に移動させる処理が行われる。
S304では、対象領域の輝度を取得する処理が行われる。この処理では、S303の処理による移動後の対物レンズ7と試料8との位置関係の下で、二次元走査機構3を制御して、光源1からの収束光を、試料8表面に指定された1ライン上で走査させる処理が行われる。そして、この処理と並行して、このときに光検出器11から出力される信号で示されている光量を、走査範囲の1ラインを構成する各画素の輝度情報として、この走査に同期して順次取得する処理が行われる。なお、このとき、コンピュータ12は、光検出器11に対し、後述する感度設定値として、この図4の処理用に予め用意されている所定値を初期設定しておく。
S305では、各画素の最大輝度値と、そのときの高さ情報とを不図示のメインメモリで保持しておく処理が、1ラインを構成する各画素について行われる。この処理では、S304の処理で取得した輝度情報が、コンピュータ12が有している不図示の記憶装置に格納されている同一画素についての最大輝度値の情報よりも高い輝度を示している場合に、その輝度情報を保持する。このとき保持された輝度情報が、その画素においての最大輝度値の情報となる。更に、この最大輝度値情報が取得されたときの対物レンズ7の位置情報(これはすなわち試料8の高さ情報)も、画素毎の輝度情報に対応付けて保持する。
S306では、対物レンズ7の現在位置が、対物レンズ7と試料8との距離の変化範囲についてのとり得る値の限点(上限位置表示部33に表示されている指定の上限位置、若しくは下限位置表示部35に表示されている指定の下限位置)に達したか否かを判定する処理が行われる。ここで、対物レンズ7の現在位置が上記の限点に達したと判定したとき(判定結果がYesのとき)にはS307に処理を進める。一方、対物レンズ7の現在位置が指定の上記の限点に未だ達していないと判定したとき(判定結果がNoのとき)にはS303に処理を戻し、上述したS303以降の処理を再度行う。なお、このとき、S303では、対物レンズ7の位置を、現在の位置から前述の所定距離だけ、直近のS303の処理時における移動方向と同一の方向に移動させる処理が行われる。このように同一方向に対物レンズ7を移動させるので、対物レンズ7と試料8との距離は、とり得る範囲の限点から単調に変化する。
S307では、S305の処理で保持しておいた最大輝度値情報を前述の記憶装置に格納して画素毎の輝度情報を更新すると共に、S305の処理で保持した高さ情報を、この輝度情報に対応付けて当該記憶装置に格納する処理が行われる。
以上までのS302からS307の処理により、前述した対象領域として試料8表面に指定していた全てのライン上の領域について、画素毎の輝度情報の取得及び高さ情報の生成が完了する。
S308では、前述した対象領域として試料8表面に指定していた全てのライン上の領域について、画素毎の輝度情報の取得及び高さ情報の生成のためのこれらの処理が完了したか否かを判定する処理が行われる。ここで、これらの処理を対象領域の全てについて完了したと判定したとき(判定結果がYesのとき)には、この図4の処理を終了する。一方、対象領域の一部について、これらの処理が未だ行われていないと判定したとき(判定結果がNoのとき)には、S302に処理を戻し、上述したS302以降の処理を再度行う。
なお、このとき、S302では、対象領域として試料8表面に予め設定していた複数のラインのうち、これらの情報の取得が未だ行われていないものを選択して指定する。また、直近に行われたS306の処理により、対物レンズ7の現在位置が、対物レンズ7と試料8との距離の変化範囲についてのとり得る値の限点に位置しているので、次に行われるS303の処理では、図5に示すように、直近に行われたS303の処理とは逆の方向に対物レンズ7を移動させる処理となる。このようにすることで、画素毎の輝度情報の取得及び高さ情報の生成のための処理の繰り返す際に、対物レンズ7の移動方向を常に同一方向にするために、繰り返しの度に対物レンズ7を前述の上限位置及び下限位置のどちらかに移動させておく動作が不要となる。
以上までの処理が輝度情報の取得及び高さ情報の生成処理である。
次に図6について説明する。図6は、図2のS204の処理である、高さ範囲のグループ分け及び感度設定値の対応付け処理の処理内容をフローチャートで示したものである。この処理は、光検出器11が出力する信号で示される所定の光量を所定値にするために光検出器11に設定される前述の感度設定値を、その光量に基づき図4の処理により生成した高さ情報に対応付けて、コンピュータ12の記憶装置に記憶させておく処理である。なお、このとき、高さ情報を所定の高さ範囲毎にグループ化し、そのグループ毎に感度設定値を対応付けて記憶装置に記憶させておくようにする。
次に図6について説明する。図6は、図2のS204の処理である、高さ範囲のグループ分け及び感度設定値の対応付け処理の処理内容をフローチャートで示したものである。この処理は、光検出器11が出力する信号で示される所定の光量を所定値にするために光検出器11に設定される前述の感度設定値を、その光量に基づき図4の処理により生成した高さ情報に対応付けて、コンピュータ12の記憶装置に記憶させておく処理である。なお、このとき、高さ情報を所定の高さ範囲毎にグループ化し、そのグループ毎に感度設定値を対応付けて記憶装置に記憶させておくようにする。
図6において、まず、S501では、図3に示した処理で記憶装置に格納した画素毎の高さ情報を読み出して取得する処理が行われる。
S502では、S501の処理で読み出した画素毎の高さ情報について、高さ毎の度数分布(ヒストグラム)を作成して記憶装置に格納する処理が行われる。
S502では、S501の処理で読み出した画素毎の高さ情報について、高さ毎の度数分布(ヒストグラム)を作成して記憶装置に格納する処理が行われる。
S503では、S502の処理で作成した度数分布を参照し、高さの低い順に度数(データ数)を1つ読み出す処理が行われる。
S504では、S503の処理で読み出した度数(データ数)を加算してその総和を計数する処理が行われる。
S504では、S503の処理で読み出した度数(データ数)を加算してその総和を計数する処理が行われる。
S505では、S504の処理で得られたデータ数の総和が、予め設定されている分割データ数以上となったか否かを判定する処理が行われる。ここで、当該総和が分割データ数以上になったと判定したとき(判定結果がYesのとき)にはS507に処理を進め、当該総和が分割データ数未満であると判定したとき(判定結果がNoのとき)にはS506に処理を進める。なお、分割データ数とは、画素毎の高さ情報の全データ数を、予め設定されているゲイン(感度設定値)切替え数で除算した値である。
S506では、S502の処理で作成した度数分布における、次の高さについての度数を参照する処理が行われ、その後はS503に処理を戻し、上述したS503以降の処理を再度行う。なお、このとき、S503では、S506の処理で参照している度数を読み込む処理が行われる。
S507では、直近のS503の処理で読み込んだ度数に対応する高さを、前述した高さ範囲グループの境界を示すもの(分割高さ位置)として記憶装置に格納する処理が行われる。
S508では、S503からS507にかけての処理を、画素毎の高さ情報の全てについて行ったか否か、より具体的には、S504の処理で得られたデータ数の総和が、画素毎の高さ情報の全データ数に達してか否かを判定する処理が行われる。ここで、上述した処理を画素毎の高さ情報の全てについて行ったと判定したとき(判定結果がYesのとき)にはS509に処理を進める。一方、上述した処理を終えていない高さ情報が残されていると判定したとき(判定結果がNoのとき)にはS506に処理を戻して上述した処理を繰り返す。なお、この直後に行われるS503の処理では、それまで計数していた総和を一旦クリアし、S506の処理により参照される高さについての度数より改めて総和の計数を開始する。
以上のS508の処理によるS503からS507にかけての処理の繰り返しにより、高さ情報の所定の高さ範囲毎のグループ化が行われる。
S509では、S507の処理の繰り返しにより記憶装置に格納した分割高さ位置により特定される高さ範囲グループ(分割高さ範囲グループ)をその高さの低い順に1つ選択し、その分割高さ範囲グループに高さが属する各画素の輝度情報を、記憶装置から読み出す処理が行われる。
S509では、S507の処理の繰り返しにより記憶装置に格納した分割高さ位置により特定される高さ範囲グループ(分割高さ範囲グループ)をその高さの低い順に1つ選択し、その分割高さ範囲グループに高さが属する各画素の輝度情報を、記憶装置から読み出す処理が行われる。
S510では、S509の処理により読み出された輝度情報のうち最大のものを最大輝度値として取得する処理が行われる。
S511では、この分割高さ範囲グループにおける感度設定値(「HV」と表記する)を算出して記憶装置に記憶させる処理が行われる。この感度設定値HVは、以下のようにして算出される。
S511では、この分割高さ範囲グループにおける感度設定値(「HV」と表記する)を算出して記憶装置に記憶させる処理が行われる。この感度設定値HVは、以下のようにして算出される。
まず、S510の処理により取得した最大輝度値を「Im」と表記し、このときに光検出器11に設定されていた(すなわち、図3に示した処理が実行されたときに設定されていた)感度設定値の初期設定値を「HVm」と表記する。また、最大輝度値「Im」を示す信号が出力されたときと同一量の光を、感度設定値HVを設定した光検出器11が検出したときに出力される信号で示す目標とする輝度値を「I」とする。このとき、下記の式
I/HVa =Im/HVma
が成立する。ここで、aは使用機器により特定される定数であり、実験等により予め求めておくことができる値である。
I/HVa =Im/HVma
が成立する。ここで、aは使用機器により特定される定数であり、実験等により予め求めておくことができる値である。
従って、上記の式に、I、HVm、Im、及びaの値を代入して計算することで、HVの値が算出される。
S512では、以上のようにして算出された感度設定値HVを、この分割高さ範囲グループに対応付けて記憶装置に格納しておく処理が行われる。
S512では、以上のようにして算出された感度設定値HVを、この分割高さ範囲グループに対応付けて記憶装置に格納しておく処理が行われる。
S513では、S509からS512にかけての処理を、全ての分割高さ範囲グループについて行ったか否かを判定する処理が行われる。ここで全ての分割高さ範囲グループについて行ったと判定したとき(判定結果がYesのとき)にはS515に処理を進める。一方、未処理の分割高さ範囲グループが残されていると判定したとき(判定結果がNoのとき)には、S514に処理を進める。
S514では、次のS509の処理での分割高さ範囲グループの選択を、直近に行われたS509の処理で選択していたものより高さが1段階高い範囲のものに移動させる処理が行われ、その後はS509へと処理を戻してS509以降の処理を再度行う。
以上のS513及びS514の処理によってS509からS512にかけての処理が繰り返されることにより、分割高さ範囲グループ毎に感度設定値が対応付けられて記憶装置に記憶される。このときの記憶装置での感度設定値の格納例を図7に示す。
図7の例では、「第一領域」なる分割高さ範囲グループは、高さ情報が0から「2000」までを高さの範囲とし、このグループに「300」が感度設定値として対応付けられていることが示されている。また、「第二領域」なる分割高さ範囲グループは、高さ情報が「2000」から「3500」までを高さの範囲とし、このグループに「450」が感度設定値として対応付けられていることが示されている。
図6の説明へ戻る。
S515からS519にかけての処理は、高さ順で隣り合っている分割高さ範囲グループの各々に対応付けられている感度設定値の大きさを比較し、両者の差が少ない場合には、その両者の平均値を共通の感度設定値として各分割高さ範囲グループに対応付けておくようにして、感度設定値の調整を行わないようにするものである。
S515からS519にかけての処理は、高さ順で隣り合っている分割高さ範囲グループの各々に対応付けられている感度設定値の大きさを比較し、両者の差が少ない場合には、その両者の平均値を共通の感度設定値として各分割高さ範囲グループに対応付けておくようにして、感度設定値の調整を行わないようにするものである。
まず、S515では、記憶装置に格納した分割高さ範囲グループをその高さの低い順に1つ選択し、その分割高さ範囲グループに対応付けられている感度設定値を記憶装置から読み出す処理が行われる。
次に、S516では、記憶装置に格納した分割高さ範囲グループにおいて、S515の処理により選択したものに続く次に高さが低い分割高さ範囲グループを選択し、その分割高さ範囲グループに対応付けられている感度設定値を記憶装置から読み出す処理が行われる。
S517では、S515の処理により読み出した感度設定値と、S516の処理により読み出した感度設定値との差を算出し、この差の値が、所定の閾値よりも大きいか否かを判定する処理が行われる。ここで、この差の値が所定の閾値よりも大きいと判定したとき(判定結果がYesのとき)にはS519に処理を進める。一方、この差の値が所定の閾値以下であると判定したとき(判定結果がNoのとき)にはS518に処理を進める。
S518では、S515の処理により読み出した感度設定値と、S516の処理により読み出した感度設定値との加算平均値を算出し、得られた値を、S515の処理及びS516の処理の各々において選択した分割高さ範囲グループに、感度設定値として対応付けて記憶装置に格納して、感度設定値を更新する処理が行われる。
S519では、S515からS518にかけての処理を、隣接する分割高さ範囲グループの全ての組合せについて行ったか否かを判定する処理が行われる。ここで全ての組合せについて行ったと判定したとき(判定結果がYesのとき)にはこの図6の処理を終了する。一方、未処理の分割高さ範囲グループの組合せが残されていると判定したとき(判定結果がNoのとき)には、S515へと処理を戻し、未処理の組合せに対しS515以降の処理を再度行う。
以上までの処理が、高さ範囲のグループ分け及び感度設定値の対応付け処理である。
なお、コンピュータ12は、所定の制御プログラムを実行することで、この図6に示した処理の終了後に、図8に例示する切替えゲイン設定画面51をモニタ15に表示させる処理を行うようにしてもよい。
なお、コンピュータ12は、所定の制御プログラムを実行することで、この図6に示した処理の終了後に、図8に例示する切替えゲイン設定画面51をモニタ15に表示させる処理を行うようにしてもよい。
切替えゲイン設定画面51は、高さ範囲表示部52、感度設定値表示部53、及び設定値変更指示部54を備えている。ここで、高さ範囲表示部52は、分割高さ範囲グループの表示を行うものであり、ここに表示される数値は、前述した分割高さ位置の表示欄である。また、感度設定値表示部53は、高さ範囲表示部52での表示により特定される分割高さ範囲グループに対応付けられて記憶装置に記憶されている感度設定値の表示欄である。
なお、高さ範囲表示部52及び感度設定値表示部53の各々に表示される数値は、コンピュータ12の不図示の入力装置を操作することで、システムのユーザにより変更することができる。ここで、この数値の変更後に、設定値変更指示部54に対する、例えばマウス装置のクリック操作による押下操作をユーザが行うと、この押下操作を検出したコンピュータ12は、記憶装置に記憶されている分割高さ位置と感度設定値とを、変更後の数値に変更する処理を行う。
次に図9について説明する。図9は、図2のS205の処理である、三次元画像の構築処理の処理内容をフローチャートで示したものである。この処理では、図2のS203及びS204の処理によって記憶装置に記憶させた内容に基づき、光検出器11の感度設定値を、試料8と対物レンズ7との距離に応じて調整する。そして、この距離に応じて感度設定値が調整された光検出器11より出力される信号に基づき、試料8についての二次元共焦点画像を、その距離に応じて複数生成する。そして、生成された複数の共焦点画像の各々とその距離との関係に基づき、試料8についての三次元画像を生成する。
図9において、まず、S701では、レボルバ6を下方向に駆動して、図3に示した上下限設定画面31における下限位置表示部35に表示されている、対物レンズ7と試料8との距離の変化範囲の指定における下限の位置まで移動させる処理が行われる。
S702では、高さが最も低い分割高さ範囲グループに対応付けられている感度設定値を記憶装置から読み出し、得られた感度設定値を光検出器11に設定する処理が行われる。
S703では、光検出器11に直近に設定された感度設定値に対応付けられている分割高さ範囲グループと、その分割高さ範囲グループに次いで低い高さの分割高さ範囲グループとの境界を示す分割高さ位置を、記憶装置から読み出す処理が行われる。
S704では、この後に行われるS708の処理による二次元共焦点画像の取得に続く次の二次元共焦点画像を取得するときの対物レンズ7の高さ位置(対物レンズ7と試料8との距離)を、対物レンズ7の現在の高さ位置に基づき予め算出する処理が行われる。なお、二次元共焦点画像を複数取得する際の対物レンズ7の高さ位置の移動間隔は予め設定されているものとする。従って、この移動間隔の値を現在の高さ位置に加算すれば、次の高さ位置が算出される。
S705では、次の高さ位置についてのS704の処理での算出結果が、S703の処理で読み出された分割高さ位置以上であるか否かを判定する処理が行われる。ここで、次の高さ位置が分割高さ位置以上であると判定したとき(判定結果がYesのとき)にはS706に処理を進め、次の高さ位置が分割高さ位置未満であると判定したとき(判定結果がNoのとき)にはS708に処理を進める。
S706では、S703の処理により読み出した分割高さ位置を境界としており、その分割高さ位置以上の高さである分割高さ範囲グループに対応付けられている感度設定値を記憶装置から読み出す処理が行われる。
S707では、S706の処理により読み出した感度設定値を光検出器11に設定する処理が行われる。
S708では、対物レンズ7の現在の高さ位置において試料8の二次元共焦点画像を取得し、取得した二次元共焦点画像を、この現在の高さ位置(すなわち、試料8と対物レンズ7との距離)に対応付けて記憶装置に記憶させる処理が行われる。
S708では、対物レンズ7の現在の高さ位置において試料8の二次元共焦点画像を取得し、取得した二次元共焦点画像を、この現在の高さ位置(すなわち、試料8と対物レンズ7との距離)に対応付けて記憶装置に記憶させる処理が行われる。
S709では、対物レンズ7の現在の高さ位置が、図3に示した上下限設定画面31における上限位置表示部33に表示されている、対物レンズ7と試料8との距離の変化範囲の指定における上限の位置に到達したか否かを判定する処理が行われる。ここで、現在の高さ位置が上限位置に到達したと判定したとき(判定結果がYesのとき)にはS711に処理を進める。一方、現在の高さ位置が上限位置に到達していないと判定したとき(判定結果がNoのとき)にはS710に処理を進める。
S710では、レボルバ6を上方向に駆動して、対物レンズ7の高さ位置を前述した移動間隔だけ移動させて、その高さ位置を、S704の処理での算出結果の位置とする処理が行われ、その後はS703へ処理を戻してS703以降の処理を繰り返す。
以上のS703からS710の処理の繰り返しにより、試料8と対物レンズ7との距離に応じた、光検出器11に設定されている感度設定値についての記憶装置の記憶内容に基づく調整が行われる。更に、この処理の繰り返しにより、感度設定値がこの距離に応じて調整された光検出器11により出力される信号に基づいた、試料8についての距離に応じた複数の共焦点画像の生成が行われる。
S711では、試料8の三次元画像を構築する処理が行われる。この処理では、まず、S708の処理の繰り返しによって高さ位置に対応付けられて複数記憶されている試料8の二次元共焦点画像を記憶装置から読み出す処理を行う。そして、この高さ位置と二次元共焦点画像との関係に基づき、同一位置の画素毎に、その輝度が最大となるときの高さ位置を各画素に対応付ける処理を行う。こうして、試料8の三次元画像が構築される。
S712では、レボルバ6を下方向に駆動して、対物レンズ7をS701の処理によるものと同位置まで移動させる処理が行われ、その後はこの図9の処理を終了する。
以上までの処理が、三次元画像の構築処理である。
以上までの処理が、三次元画像の構築処理である。
以上のように、図1に示した共焦点走査型顕微鏡システムでは、コンピュータ12が、図2、図4、図6、及び図9に示した処理を行うことにより、光検出の感度設定が常に適切な状態で、試料8の高さ情報の取得作業が行われる。従って、ユーザのスキルに左右されずに、輝度コントラスト画像や高さ画像などの各種の画像を適切且つ正確に得ることが可能となり、また、高い利便性の提供が可能となる。
次に図10について説明する。コンピュータ12によって行われる、試料8の三次元画像を生成するための制御処理の第二の例をフローチャートで示したものである。
この第二の例では、ユーザが図1のシステムに対し画像の取り込み開始を指示すると、システムがレボルバ6を駆動して対物レンズ7の焦点位置を試料8の表面に移動させる。そして、この位置で光検出器11の感度設定値の調整をシステムが行うと共に、試料8の観察領域に対応するZ方向(対物レンズ7の光軸方向)の範囲をシステムが設定し、その設定範囲内で、試料8表面の対象領域についての高さ情報と輝度情報との取得をシステムが行う。そして、高さ情報を所定の高さ範囲毎にグループ分けし、形成された各グループについて感度設定値を対応付ける。
この第二の例では、ユーザが図1のシステムに対し画像の取り込み開始を指示すると、システムがレボルバ6を駆動して対物レンズ7の焦点位置を試料8の表面に移動させる。そして、この位置で光検出器11の感度設定値の調整をシステムが行うと共に、試料8の観察領域に対応するZ方向(対物レンズ7の光軸方向)の範囲をシステムが設定し、その設定範囲内で、試料8表面の対象領域についての高さ情報と輝度情報との取得をシステムが行う。そして、高さ情報を所定の高さ範囲毎にグループ分けし、形成された各グループについて感度設定値を対応付ける。
その後、試料8と対物レンズ7との距離に応じて感度設定値を調整して、その値が、当該距離に対応する高さ情報の属する高さ範囲グループに対応付けられている値となるようにしながら、試料8の共焦点画像の生成のための信号を光検出器11から得る。このときの当該距離の変化範囲は、高さ情報の最小値をその下限とし、所定の取り込み完了判定を満たした場合をその上限とするようにシステムが決定する。この変化範囲内で当該距離を変化させつつ光検出器11からこうして出力される信号に基づき試料8の共焦点画像をシステムが複数生成し、生成された複数の共焦点画像の各々と当該距離との関係に基づき試料8についての三次元画像をシステムが生成する。
図10の処理は、システムのユーザが不図示の入力装置を操作して行われる、試料8の三次元画像の生成動作の開始の指示をコンピュータ12が検出すると開始される。
図10において、まず、S801では、試料8の画像を生成してモニタ15に表示させる処理が行われる。このとき、光検出器11に設定される感度設定値は、所定の初期値としておく。
図10において、まず、S801では、試料8の画像を生成してモニタ15に表示させる処理が行われる。このとき、光検出器11に設定される感度設定値は、所定の初期値としておく。
S802では、レボルバ6を駆動して、対物レンズ7の焦点位置に試料8の表面が位置するように移動させる処理が行われる。この処理では周知の合焦機能を利用し、例えば、対物レンズ7を介して到来する光の光検出器11による検出結果に基づき試料8生成される画像のコントラストを、試料8と対物レンズ7との距離を変化させながら順次求め、このコントラストが最大となるように対物レンズ7を移動させることにより行われる。
S803では、感度設定値の初期設定処理が行われる。この処理では、S802の処理後の対物レンズ7の位置においての試料8の二次元画像を生成し、得られた二次元画像を構成する各画素における輝度の最大値を求める。そして、得られた輝度最大値に基づき、試料8の高さ情報の生成のための感度設定値の初期設定値を、以下のようにして算出し、算出した値を光検出器11に初期設定する。
まず、S802の処理により取得した二次元画像における最大輝度値を「Im」と表記し、このときに光検出器11に設定されていた(すなわち、二次元画像の生成の際に設定されていた)感度設定値の初期値を「HVm」と表記する。また、最大輝度値「Im」を示す信号が出力されたときと同一量の光を、高さ情報の生成のための感度設定値の初期設定値HVを設定した光検出器11が検出したときに出力される信号で示す目標とする輝度値を「I」とする。このとき、下記の式
I/HVa =Im/HVma
が成立する。ここで、aは使用機器により特定される定数であり、実験等により予め求めておくことができる値である。
I/HVa =Im/HVma
が成立する。ここで、aは使用機器により特定される定数であり、実験等により予め求めておくことができる値である。
従って、上記の式に、I、HVm、Im、及びaの値を代入して計算することで、HVの値が算出される。
その後、S804として輝度情報の取得及び高さ情報の生成処理を行い、次に、S805として高さ範囲のグループ分け及び感度設定値の対応付け処理を行い、次に、S806として三次元画像の構築処理を行い、その後はこの図10の処理を終了する。ここで、S805の処理は、図2に示した第一の例におけるS204の処理と同一であり、具体的には図6に示した処理が行われるので、ここでは詳細な説明は省略し、次に、S804及びS806の処理の詳細を説明する。
その後、S804として輝度情報の取得及び高さ情報の生成処理を行い、次に、S805として高さ範囲のグループ分け及び感度設定値の対応付け処理を行い、次に、S806として三次元画像の構築処理を行い、その後はこの図10の処理を終了する。ここで、S805の処理は、図2に示した第一の例におけるS204の処理と同一であり、具体的には図6に示した処理が行われるので、ここでは詳細な説明は省略し、次に、S804及びS806の処理の詳細を説明する。
まず図11について説明する。図11は、図10のS804の処理である、輝度情報の取得及び高さ情報の生成処理の処理内容をフローチャートで示したものである。この処理では、まず、試料8についての対物レンズ7の光軸方向の高さ情報を、試料8と対物レンズ7との距離と、光検出器11から出力される、対物レンズ7を介して試料8から到来する光の光量を示す信号とに基づいて生成する処理を行う。そして、その高さ情報と、その信号で示されている光量(輝度)とを対応付けて記憶装置に格納しておく処理を行う。
この図11の処理は、図4に示した処理と同様の処理である。但し、図4の処理では、システムのユーザが、対物レンズ7と試料8との距離の変化範囲の指定を行っていた。これに対し、図11の処理では、対物レンズ7と試料8との距離の変化範囲を、現在の距離(すなわち、合焦状態である試料8と対物レンズ7との距離)に基づきシステムが設定する。また、図11の処理は、図10のS803の処理に続いて行われるので、試料8の高さ情報の生成が、感度設定値を初期設定した光検出器11により検出された光の光量に基づいて行われる。
図11において、まず、S901では、予め用意されている下限移動量と上限移動量とを、システムの光路上に配置されている対物レンズ7の種別に基づき記憶装置から読み出す処理が行われる。この下限移動量及び上限移動量は、対物レンズ7の種別に応じて予め用意されている定数値であり、記憶装置に予め記憶させておくものとする。
S902では、対物レンズ7と試料8との距離の変化範囲の指定における下限位置と上限位置とを求める処理とが行われる。このうち、下限位置は、合焦状態にある対物レンズ7の現在の位置からS901の処理で読み出した下限移動量を減算することで求まる。また、上限位置は、合焦状態にある対物レンズ7の現在の位置からS901の処理で読み出した上限移動量を加算することで求まる。
S903では、レボルバ6を下方向に駆動して、S902の処理により得られた下限位置まで対物レンズ7を移動させる処理が行われる。
以降のS904からS910にかけての処理は、図4におけるS302からS308にかけての処理と基本的に同一であるので、説明を省略する。但し、図4の処理では、対物レンズ7と試料8との距離の変化範囲についてのとり得る値の限点として、図3に示した上下限設定画面31に表示されている値を用いていたが、この図11の処理では、この代わりに、S902の処理により得られた下限位置及び上限位置を、限点として用いるようにする。従って、光検出器11は、高さ情報の生成のための光の検出を、試料8の像が合焦しているときの対物レンズ7と試料8との距離から所定値だけその距離を変化させた範囲内において行われる。
以降のS904からS910にかけての処理は、図4におけるS302からS308にかけての処理と基本的に同一であるので、説明を省略する。但し、図4の処理では、対物レンズ7と試料8との距離の変化範囲についてのとり得る値の限点として、図3に示した上下限設定画面31に表示されている値を用いていたが、この図11の処理では、この代わりに、S902の処理により得られた下限位置及び上限位置を、限点として用いるようにする。従って、光検出器11は、高さ情報の生成のための光の検出を、試料8の像が合焦しているときの対物レンズ7と試料8との距離から所定値だけその距離を変化させた範囲内において行われる。
以上までの処理が輝度情報の取得及び高さ情報の生成処理である。
次に図12について説明する。図12は、図10のS806の処理である、三次元画像の構築処理の処理内容をフローチャートで示したものである。
次に図12について説明する。図12は、図10のS806の処理である、三次元画像の構築処理の処理内容をフローチャートで示したものである。
この処理では、図9の処理と同様、図10のS804及びS805の処理によって記憶装置に記憶させた内容に基づき、光検出器11の感度設定値を、試料8と対物レンズ7との距離に応じて調整する。そして、この距離に応じて感度設定値が調整された光検出器11より出力される信号に基づき、試料8についての二次元共焦点画像を、その距離に応じて複数生成する。そして、生成された複数の共焦点画像の各々とその距離との関係に基づき、試料8についての三次元画像を生成する。
但し、図9の処理では、システムのユーザが指定した対物レンズ7と試料8との距離の変化範囲内で試料8についての二次元共焦点画像を生成していた。これに対し、図12の処理では、対物レンズ7と試料8との距離の変化範囲を、図10のS804の処理により生成した試料8についての高さ情報に基づきシステムが設定する。
図12において、S1001では、図10のS804の処理により生成した試料8についての高さ情報を記憶装置から全て読み出す処理が行われる。
S1002では、S1001の処理により読み出された高さ情報のうちの最小のものを取得する処理が行われ、続くS1003において、レボルバ6を下方向に駆動して、この最小の高さ情報に対応する位置まで対物レンズ7を移動させる処理が行われる。
S1002では、S1001の処理により読み出された高さ情報のうちの最小のものを取得する処理が行われ、続くS1003において、レボルバ6を下方向に駆動して、この最小の高さ情報に対応する位置まで対物レンズ7を移動させる処理が行われる。
以降のS1004からS1010にかけての処理は、図9におけるS702からS708にかけての処理と基本的に同一であるので、説明を省略する。
次に、S1011では、取り込み判定値の算出処理が行われる。この処理では、まず、S1010の処理の繰り返しにより取得した試料8についての複数の二次元共焦点画像を構成している同一位置の画素の輝度の最大値を各画素について求める。そして、1枚の画像を構成する全画素数に対するこの輝度最大値が求められた画素数の割合を算出して取り込み判定値とする。なお、輝度の最大値を求める処理は、前述した図4のS305の処理と同様にして行い、ある画素について、その輝度値が最大輝度値の更新がされることなく所定値まで低下した場合に、その画素については輝度最大値が求められたと判定する。
次に、S1011では、取り込み判定値の算出処理が行われる。この処理では、まず、S1010の処理の繰り返しにより取得した試料8についての複数の二次元共焦点画像を構成している同一位置の画素の輝度の最大値を各画素について求める。そして、1枚の画像を構成する全画素数に対するこの輝度最大値が求められた画素数の割合を算出して取り込み判定値とする。なお、輝度の最大値を求める処理は、前述した図4のS305の処理と同様にして行い、ある画素について、その輝度値が最大輝度値の更新がされることなく所定値まで低下した場合に、その画素については輝度最大値が求められたと判定する。
S1012では、S1011の処理により算出された取り込み判定値が、所定の閾値以上となって取り込み完了の判定基準を満たしたか否かを判定する処理が行われる。ここで、取り込み完了の判定基準を満たしたと判定したとき(判定結果がYesのとき)にはS1014に処理を進める。一方、取り込み完了の判定基準を満たししていないと判定したとき(判定結果がNoのとき)にはS1013に処理を進める。
S1013では、レボルバ6を上方向に駆動して、対物レンズ7の高さ位置を前述した移動間隔だけ移動させて、その高さ位置を、S1006の処理での算出結果の位置とする処理が行われる。その後はS1005へ処理を戻してS1005以降の処理を繰り返す。
S1014では、試料8の三次元画像を構築する処理が行われる。この処理では、まず、S1010の処理の繰り返しによって高さ位置に対応付けられて複数記憶されている試料8の二次元共焦点画像を記憶装置から読み出す処理が行われる。そして、この処理に続き、この高さ位置と二次元共焦点画像との関係に基づき、同一位置の画素毎に、その輝度が最大となるときの高さ位置を各画素に対応付ける処理が行われる。こうして、試料8の三次元画像が構築される。
S1015では、レボルバ6を下方向に駆動して、対物レンズ7をS1003の処理によるものと同位置まで移動させる処理が行われ、その後はこの図12の処理を終了する。
以上までの処理が、三次元画像の構築処理である。
以上までの処理が、三次元画像の構築処理である。
以上のように、図1に示した共焦点走査型顕微鏡システムでは、コンピュータ12が、図10、図11、図6、及び図12に示した処理を行うことにより、光検出の感度設定が常に適切な状態で、試料8の高さ情報の取得作業が行われる。従って、ユーザのスキルに左右されずに、輝度コントラスト画像や高さ画像などの各種の画像を適切且つ正確に得ることが可能となり、また、高い利便性の提供が可能となる。
なお、図1に示した共焦点走査型顕微鏡システムにおいて、試料8の三次元画像の生成のためにコンピュータ12に行われる制御処理の内容を、ユーザが選択できるように構成することも可能である。すなわち、例えば、この制御処理の内容を、図2に示した第一の例によるもの(対物レンズ7と試料8との距離の変化範囲をユーザが指定)にするか、あるいは、図10に示した第二の例によるものにするか(当該距離の変化範囲をシステムが自動設定)をユーザが選択できるように構成することは可能である。
ここで図13について説明する。図13は、コンピュータ12によって行われる、動作選択処理の処理内容をフローチャートで示したものである。この処理は、共焦点画像を複数生成するときの対物レンズ7と試料8との距離の変化範囲を、図2に示した第一の例におけるもの(すなわち図9の三次元画像の構築処理)にするか、あるいは、図10に示した第二の例におけるもの(すなわち図12の三次元画像の構築処理)にするかを選択する処理である。
この処理の開始指示をコンピュータ12が受け取ると、まずS1301において、図14に例示する取り込み高さモード設定画面71をモニタ15に表示させる処理が行われる。
図14に示す取り込み高さモード設定画面71には、モード選択ラジオボタン72とOKボタン73とが備えられている。
モード選択ラジオボタン72は、「手動」及び「自動」と記されている2つのボタンのうちどちらか一方のみ選択が可能である。ここで、「手動」のボタンが選択された場合には、共焦点画像を複数生成するときの対物レンズ7と試料8との距離の変化範囲を、ユーザが指定するようにシステムが動作する(手動取り込みモード)。また、「自動」のボタンが選択された場合には、この距離の変化範囲を、システムが自動設定するようにシステムが動作する(自動取り込みモード)。なお、OKボタン73は、モード選択ラジオボタン72による選択内容の確定を指示するために押下操作(マウス装置等をユーザが操作して行うクリック操作)される。
モード選択ラジオボタン72は、「手動」及び「自動」と記されている2つのボタンのうちどちらか一方のみ選択が可能である。ここで、「手動」のボタンが選択された場合には、共焦点画像を複数生成するときの対物レンズ7と試料8との距離の変化範囲を、ユーザが指定するようにシステムが動作する(手動取り込みモード)。また、「自動」のボタンが選択された場合には、この距離の変化範囲を、システムが自動設定するようにシステムが動作する(自動取り込みモード)。なお、OKボタン73は、モード選択ラジオボタン72による選択内容の確定を指示するために押下操作(マウス装置等をユーザが操作して行うクリック操作)される。
図13の説明に戻る。
S1302では、OKボタン73の押下操作を検出したときのモード選択ラジオボタン72による選択状況を取得する処理が行われる。
S1302では、OKボタン73の押下操作を検出したときのモード選択ラジオボタン72による選択状況を取得する処理が行われる。
S1303では、S1302の処理により取得した選択状況が、手動取り込みモードであったか否かを判定する処理が行われる。ここで、選択状況が手動取り込みモードであったと判定したとき(判定結果がYesのとき)には、S1304に処理を進めて図2に示した第一の例の制御処理が行われ、その後はこの図13の処理を終了する。一方、選択状況が自動取り込みモードであったと判定したとき(判定結果がNoのとき)には、S1305に処理を進めて図210に示した第二の例の制御処理が行われ、その後はこの図13の処理を終了する。
以上までの処理が動作選択処理である。この処理をコンピュータ12が行うことにより、図1に示した共焦点走査型顕微鏡システムにおける試料8の三次元画像の生成動作を、対物レンズ7と試料8との距離の変化範囲をユーザが指定するものにするか、あるいは、この変化範囲をシステムが自動設定するものにするかをユーザが選択できるようになる。
以上、本発明の実施形態を説明したが、本発明は、上述した各実施形態に限定されることなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で種々の改良・変更が可能である。
例えば、図4のS302及び図11のS904の処理である、試料8表面上の対象領域の指定処理では、予め設定された複数のラインの位置のうち取得が未だ行われていないものが自動的に選択されるようにしてもよい。また、1つ若しくは複数のラインの位置を予め設定しておくようにしていた。この代わりに、試料8の形状に基づいてコンピュータ12がラインの位置を設定するようにしてもよい。例えば、試料8の三次元画像を取得したことがあり、そのときの高さ情報が利用可能である場合には、まず、この三次元画像を構成する画素毎の高さ情報について、高さ毎の度数分布(ヒストグラム)を作成する。そして、このヒストグラムにおいて所定の閾値以上の度数である高さであった画素により形成される領域を、その試料8の形状とみなし、前述したラインは、この領域を通るように位置を設定するようにする。また、このようにして形成された領域全体を、高さ情報及び輝度情報の取得対象領域とすることも可能である。
例えば、図4のS302及び図11のS904の処理である、試料8表面上の対象領域の指定処理では、予め設定された複数のラインの位置のうち取得が未だ行われていないものが自動的に選択されるようにしてもよい。また、1つ若しくは複数のラインの位置を予め設定しておくようにしていた。この代わりに、試料8の形状に基づいてコンピュータ12がラインの位置を設定するようにしてもよい。例えば、試料8の三次元画像を取得したことがあり、そのときの高さ情報が利用可能である場合には、まず、この三次元画像を構成する画素毎の高さ情報について、高さ毎の度数分布(ヒストグラム)を作成する。そして、このヒストグラムにおいて所定の閾値以上の度数である高さであった画素により形成される領域を、その試料8の形状とみなし、前述したラインは、この領域を通るように位置を設定するようにする。また、このようにして形成された領域全体を、高さ情報及び輝度情報の取得対象領域とすることも可能である。
1 光源
2 ビームスプリッタ
3 二次元走査機構
3a 第一の光スキャナ
3b 第二の光スキャナ
6 レボルバ
7 対物レンズ
8 試料
9 結像レンズ
10 ピンホール
11 光検出器
12 コンピュータ
13 試料台
14 ステージ
15 モニタ
31 上下限設定画面
32 上限位置指示部
33 上限位置表示部
34 下限位置指示部
35 下限位置表示部
51 切替えゲイン設定画面
52 高さ範囲表示部
53 感度設定値表示部
54 設定値変更指示部
71 取り込み高さモード設定画面
72 モード選択ラジオボタン
73 OKボタン
2 ビームスプリッタ
3 二次元走査機構
3a 第一の光スキャナ
3b 第二の光スキャナ
6 レボルバ
7 対物レンズ
8 試料
9 結像レンズ
10 ピンホール
11 光検出器
12 コンピュータ
13 試料台
14 ステージ
15 モニタ
31 上下限設定画面
32 上限位置指示部
33 上限位置表示部
34 下限位置指示部
35 下限位置表示部
51 切替えゲイン設定画面
52 高さ範囲表示部
53 感度設定値表示部
54 設定値変更指示部
71 取り込み高さモード設定画面
72 モード選択ラジオボタン
73 OKボタン
Claims (11)
- 対物レンズを介して試料から到来する光を検出してその光量を示す信号を出力する光検出手段、
前記試料についての前記対物レンズの光軸方向の高さ情報を、前記試料と前記対物レンズとの距離と前記光量との関係に基づき生成しておく高さ情報生成手段、
前記光検出手段が出力する前記信号で示される所定の光量を所定値にするために前記光検出手段に設定される感度設定値を、前記高さ情報生成手段が該光量に基づき生成した前記高さ情報に対応付けて記憶しておく感度設定値記憶手段、
前記感度設定値記憶手段の記憶内容に基づき、前記感度設定値を、前記試料と前記対物レンズとの距離に応じて調整する感度設定値調整手段、
前記感度設定値が前記距離に応じて前記感度設定値調整手段により調整された前記光検出手段により出力される前記信号に基づき、前記試料についての共焦点画像を該距離に応じて複数生成する共焦点画像生成手段、及び
複数の前記共焦点画像の各々と前記距離との関係に基づき該試料についての三次元画像を生成する三次元画像生成手段、
を有することを特徴とする共焦点走査型顕微鏡システム。 - 前記光検出手段は、前記高さ情報生成手段が前記高さ情報を生成するためには、前記光軸に垂直な方向に設定された1つのライン上の試料面、若しくは、該光軸に垂直であって互いに平行に所定の間隔を空けて設定された複数のライン上の試料面から到来する光のみを検出することを特徴とする請求項1に記載の共焦点走査型顕微鏡システム。
- 前記高さ情報生成手段は、とり得る範囲の限点から前記距離を単調に変化させつつ前記光検出手段により取得された前記ライン上の試料面についての前記光量に基づき、前記高さ情報を生成することを特徴とする請求項2に記載の共焦点走査型顕微鏡システム。
- 前記ラインは、前記試料の形状に基づき設定されることを特徴とする請求項2に記載の共焦点走査型顕微鏡システム。
- 前記光検出手段が取得した光量に基づいて前記感度設定値を初期設定する感度設定値初期設定手段を更に有し、
前記高さ情報生成手段は、前記感度設定値初期設定手段が前記感度設定値を初期設定した前記光検出手段により検出された前記光の光量に基づき、前記高さ情報を生成する、
ことを特徴とする請求項1に記載の共焦点走査型顕微鏡システム。 - 前記感度設定値記憶手段は、前記高さ情報を所定の高さ範囲毎にグループ化し、該グループ毎に前記感度設定値を対応付けて記憶しておくことを特徴とする請求項1に記載の共焦点走査型顕微鏡システム。
- 前記共焦点画像生成手段が前記共焦点画像を複数生成するときの前記距離の変化範囲を指定する距離変化範囲指定手段、及び
前記距離変化範囲指定手段による前記距離の変化範囲の指定内容を示す情報を表示する距離指定範囲表示手段、
を更に有することを特徴とする請求項1に記載の共焦点走査型顕微鏡システム。 - 前記共焦点画像生成手段が前記共焦点画像を複数生成するときの前記距離の変化範囲を、前記高さ情報生成手段が生成した前記高さ情報に基づき設定する距離変化範囲設定手段を更に有することを特徴とする請求項1に記載の共焦点走査型顕微鏡システム。
- 前記距離を変化させて前記対物レンズにより得られる前記試料の像を合焦させる合焦手段を更に有し、
前記光検出手段は、前記高さ情報生成手段による前記高さ情報の生成のための前記光の検出を、前記合焦手段が前記試料の像を合焦させたときの前記距離から所定値だけ該距離を変化させた範囲内において行う、
ことを特徴とする請求項1に記載の共焦点走査型顕微鏡システム。 - 前記共焦点画像生成手段が前記共焦点画像を複数生成するときの前記距離の変化範囲を指定する距離変化範囲指定手段、及び
前記共焦点画像生成手段が前記共焦点画像を複数生成するときの前記距離の変化範囲を、前記距離変化範囲設定手段に設定させるか、あるいは、前記距離変化範囲指定手段に指定させるかを選択する選択手段、
を更に有することを特徴とする請求項8に記載の共焦点走査型顕微鏡システム。 - 前記感度設定値記憶手段において対応付けられて記憶されている前記高さ範囲のグループと該グループ毎の前記感度設定値とを表示する感度設定値表示手段、及び
前記感度設定値記憶手段に記憶されている前記感度設定値の変更を行う感度設定値変更手段、
を更に有することを特徴とする請求項6に記載の共焦点走査型顕微鏡システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008162341A JP2010002758A (ja) | 2008-06-20 | 2008-06-20 | 共焦点走査型顕微鏡システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008162341A JP2010002758A (ja) | 2008-06-20 | 2008-06-20 | 共焦点走査型顕微鏡システム |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010002758A true JP2010002758A (ja) | 2010-01-07 |
Family
ID=41584528
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008162341A Withdrawn JP2010002758A (ja) | 2008-06-20 | 2008-06-20 | 共焦点走査型顕微鏡システム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2010002758A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014206749A (ja) * | 2014-06-13 | 2014-10-30 | 株式会社キーエンス | 顕微鏡システム |
JP2016040626A (ja) * | 2015-11-20 | 2016-03-24 | 株式会社キーエンス | 共焦点顕微鏡システム |
JP2018096760A (ja) * | 2016-12-09 | 2018-06-21 | オリンパス株式会社 | 走査型共焦点顕微鏡装置、走査制御方法、及び、プログラム |
JP2018155646A (ja) * | 2017-03-17 | 2018-10-04 | 三菱ケミカル株式会社 | 表面測定装置及び表面測定方法 |
-
2008
- 2008-06-20 JP JP2008162341A patent/JP2010002758A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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