JP2010121955A - 高さ情報取得装置、高さ情報取得方法、及びプログラム - Google Patents
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Abstract
【課題】エラー領域の判定精度を向上させて、対象物の表面形状の計測をより適切に行えるようにする。
【解決手段】制御部18は、焦点位置が異なる標本1の複数の顕微鏡画像を構成する各画素についてのコントラスト評価値を算出する。また、各画素に対し、所定の閾値を、画素の輝度に基づき画素毎に設定する。そして、各顕微鏡画像での位置が同一である画素についての最大コントラスト評価値と該閾値とを画素毎に比較し、最大コントラスト評価値が閾値よりも低い画素で構成されるエラー領域を抽出する。非エラー領域の画素については、該画素で表されている標本1の部位の高さの情報を、各顕微鏡画像の焦点位置の情報に基づき取得する。エラー領域の画素については、該高さの情報を、非エラー領域に含まれている各画素について取得した高さの情報に基づく補間演算により取得する。
【選択図】 図1
【解決手段】制御部18は、焦点位置が異なる標本1の複数の顕微鏡画像を構成する各画素についてのコントラスト評価値を算出する。また、各画素に対し、所定の閾値を、画素の輝度に基づき画素毎に設定する。そして、各顕微鏡画像での位置が同一である画素についての最大コントラスト評価値と該閾値とを画素毎に比較し、最大コントラスト評価値が閾値よりも低い画素で構成されるエラー領域を抽出する。非エラー領域の画素については、該画素で表されている標本1の部位の高さの情報を、各顕微鏡画像の焦点位置の情報に基づき取得する。エラー領域の画素については、該高さの情報を、非エラー領域に含まれている各画素について取得した高さの情報に基づく補間演算により取得する。
【選択図】 図1
Description
本発明は計測技術に関し、特に、対象物の高さ情報を当該対象物の顕微鏡画像に基づいて計測する技術に関する。
顕微鏡装置を用いて取得される顕微鏡画像では、観察部位が対物レンズの焦点位置から離れていると、当該観察部位の像の高周波成分が失われ、コントラストが低下した像となる。このため、対象物の立体的な構造を観察する場合には、対象物の表面全体について焦点の合った画像である、全焦点画像を得る技術が求められている。
対象物の三次元的な表面形状を計測する技術として、Shape From Focus法という手法が従来から知られている。この手法は、焦点位置の異なる複数の画像を用いて対象物の三次元形状を計測するものである。この手法では、まず、観察対象の高さ方向に焦点位置の異なる複数の画像における同一位置の各画素(注目画素)について、コントラストの評価を行い、コントラストが一番高くなる画素を特定する。コントラストの評価手法としては、例えば、各画像において注目画素とその近傍の画素とでの輝度の微分値を算出する処理が行われ、この微分値が最大となるものが、コントラストが一番高くなる画素として特定される。そして、特定された画素が属している画像の取得時における焦点位置を、その注目画素の高さ情報とすることで、対象物の三次元形状データを得ることができる。
また、このときに、注目画素の輝度値として、コントラストが一番高くなったときの輝度値を、当該注目画素の高さ情報に対応する焦点位置の画像から取得して割り当てる処理を全ての注目画素について行うことで、対象物の全焦点画像を得ることができる。
このShape From Focus法において、対象物の表面部位のうち、模様が全く無い領域や模様若しくは形状の変化が緩やかな領域は、コントラストの変化が鈍くなるため、表面形状の計測を適切に行えないことがある。ここでは、このような領域をエラー領域と称することとする。
このようなエラー領域に関し、例えば、特許文献1には、コントラスト評価値が所定の閾値以下の部分をエラー領域と判定する技術が開示されている。
特許第4091455号公報
前述したエラー領域におけるコントラスト評価値は、その領域の輝度の高低により、異なる値となることがある。このコントラスト評価値の変動は、例えば、ノイズ、使用した顕微鏡の光学系では分解できない程に細かな模様変化や形状変化、あるいは、顕微鏡画像の撮像に使用したCCD(電荷結合素子)における輝度変換の非線形性などの影響によって生じる。例えば、CCDのショットノイズのレベルは出力信号の平行根に比例するため、明るい(輝度値の高い)エラー領域は、暗い(輝度値の低い)エラー領域に比較して、ノイズのバラツキが大きい傾向がある。このため、特許文献1の技術では、例えば、明るいエラー領域のコントラスト評価値の最大値を基準にして閾値を設定すると、暗い領域ではあるもののエラー領域ではない、適切な表面形状の計測が可能であった領域をエラー領域と誤判定してしまうことがあり得る。また、逆に、暗いエラー領域のコントラスト評価値の最大値を基準にして閾値を設定すると、明るい領域のうちエラー領域であるはずの領
域を、エラー領域ではないと誤判定してしまうことがあり得る。
域を、エラー領域ではないと誤判定してしまうことがあり得る。
本発明は上述した問題に鑑みてなされたものであり、その解決しようとする課題は、エラー領域の判定精度を向上させて、対象物の表面形状の計測をより適切に行えるようにすることである。
本発明の態様のひとつである高さ情報取得装置は、標本の高さ方向に焦点位置が互いに異なっている該標本の複数の顕微鏡画像に基づいて該標本の高さ情報を取得する高さ情報取得装置であって、該顕微鏡画像の各々を構成する各画素についての該顕微鏡画像におけるコントラストの高さを示す数値であるコントラスト評価値を算出するコントラスト評価値算出手段と、該顕微鏡画像を構成する画素に対し、所定のコントラスト評価値を示す閾値を、該画素の輝度に基づき該画素毎に設定する閾値設定手段と、該複数の顕微鏡画像の各々での位置が同一である画素についての該コントラスト評価値のうち最高のコントラストを示すものである最大コントラスト評価値と該画素に対し該閾値設定手段が設定した閾値との比較を、該顕微鏡画像を構成する各画素について行って、該最大コントラスト評価値で示されているコントラストが該閾値で示されるコントラストよりも低い画素で構成される領域であるエラー領域を該顕微鏡画像から抽出するエラー領域抽出手段と、該顕微鏡画像における該エラー領域を除いた領域である非エラー領域に含まれている各画素について、該画素で表されている該標本の部位の高さの情報を、該複数の顕微鏡画像の各々についての該焦点位置の情報に基づき取得する非エラー領域高さ情報取得手段と、該エラー領域に含まれている各画素について、該画素で表されている該標本の部位の高さの情報を、該非エラー領域に含まれている各画素で表されている該標本の部位について該非エラー領域高さ情報取得手段が取得した高さの情報に基づく補間演算により取得するエラー領域高さ情報取得手段と、を有するというものである。
なお、上述した高さ情報取得装置において、該閾値設定手段は、該顕微鏡画像を構成する画素の輝度に対する、該顕微鏡画像を撮影した顕微鏡画像撮影手段が発生させるノイズ量の分布の実測結果に基づいて、該閾値を設定するように構成してもよい。
また、前述した高さ情報取得装置において、該閾値設定手段は、該複数の顕微鏡画像の各々での位置が同一である画素の輝度の平均値に基づき、該画素についての該閾値を設定するように構成してもよい。
また、前述した高さ情報取得装置において、該閾値設定手段は、該顕微鏡画像を構成する画素のうち輝度値が飽和しているものについては、該閾値を、コントラストが無限大であることを示す値に設定するように構成してもよい。
また、前述した高さ情報取得装置において、該閾値設定手段により設定された閾値の変更の指示を取得する閾値変更指示取得手段を更に有し、該エラー領域抽出手段は、該閾値変更指示取得手段が取得した指示に係る変更後の閾値に基づいて該エラー領域の抽出を行う、ように構成してもよい。
また、前述した高さ情報取得装置において、該閾値設定手段は、該複数の顕微鏡画像の各々についての焦点位置と該顕微鏡画像の各々で位置が同一である画素についての輝度値との対応関係を示す点をグラフ上にプロットすると共に、該グラフ上にプロットされた点を結ぶ曲線を描画する曲線描画手段と、該曲線描画手段がプロットした点において焦点位置の違いが最大である2点を結ぶ直線、又は、該2点と該2点の各々からそれぞれ近い順の、少なくとも1個以上の同数の点とを直線近似して結ぶ直線を該グラフ上に描画する直線描画手段と、を有し、該顕微鏡画像を構成する画素に対しての該閾値を、該画素につい
ての該曲線上において該画素についての該直線からの距離が最長である点が示している輝度値に基づき、取得するように構成してもよい。
ての該曲線上において該画素についての該直線からの距離が最長である点が示している輝度値に基づき、取得するように構成してもよい。
また、前述した高さ情報取得装置において、該非エラー領域高さ情報取得手段は、該顕微鏡画像における該エラー領域を除いた領域である非エラー領域に含まれている各画素について、該画素で表されている該標本の部位の高さの情報を、該画素についての最大コントラスト評価値を得た顕微鏡画像についての該焦点位置の情報に基づき取得するように構成してもよい。
また、前述した高さ情報取得装置において、該顕微鏡画像を構成している全画素について取得された該標本の部位の高さの情報に基づき、各画素に対し、該高さに対応する該焦点位置である該顕微鏡画像における該画素の輝度値を割り当てることで、該標本の全焦点画像を生成する全焦点画像生成手段を更に有するように構成してもよい。
また、本発明の別の態様のひとつである高さ情報取得方法は、標本の高さ方向に焦点位置が互いに異なっている該標本の複数の顕微鏡画像に基づいて該標本の高さ情報を取得する高さ情報取得方法であって、該顕微鏡画像の各々を構成する各画素についての顕微鏡画像におけるコントラストの高さを示す数値であるコントラスト評価値を算出し、該顕微鏡画像を構成する画素に対し、所定のコントラスト評価値を示す閾値を、該画素の輝度に基づき該画素毎に設定し、該複数の顕微鏡画像の各々での位置が同一である画素についての該コントラスト評価値のうち最高のコントラストを示すものである最大コントラスト評価値と該画素に対し設定した閾値との比較を、該顕微鏡画像を構成する各画素について行って、該最大コントラスト評価値で示されているコントラストが該閾値で示されるコントラストよりも低い画素で構成される領域であるエラー領域を該顕微鏡画像から抽出し、該顕微鏡画像における該エラー領域を除いた領域である非エラー領域に含まれている各画素について、該画素で表されている該標本の部位の高さの情報を、該複数の顕微鏡画像の各々についての該焦点位置の情報に基づき取得し、該エラー領域に含まれている各画素について、該画素で表されている該標本の部位の高さの情報を、該非エラー領域に含まれている各画素で表されている該標本の部位について取得した高さの情報に基づく補間演算により取得する、というものである。
また、本発明の更なる別の態様のひとつであるプログラムは、標本の高さ方向に焦点位置が互いに異なっている該標本の複数の顕微鏡画像に基づいて該標本の高さ情報を取得する処理をコンピュータに行わせるためのプログラムであって、該顕微鏡画像の各々を構成する各画素についての該顕微鏡画像におけるコントラストの高さを示す数値であるコントラスト評価値を算出するコントラスト評価値算出処理と、該顕微鏡画像を構成する画素に対し、所定のコントラスト評価値を示す閾値を、該画素の輝度に基づき該画素毎に設定する閾値設定処理と、該複数の顕微鏡画像の各々での位置が同一である画素についての該コントラスト評価値のうち最高のコントラストを示すものである最大コントラスト評価値と該画素に対し該閾値設定処理により設定した閾値との比較を、該顕微鏡画像を構成する各画素について行って、該最大コントラスト評価値で示されているコントラストが該閾値で示されるコントラストよりも低い画素で構成される領域であるエラー領域を該顕微鏡画像から抽出するエラー領域抽出処理と、該顕微鏡画像における該エラー領域を除いた領域である非エラー領域に含まれている各画素について、該画素で表されている該標本の部位の高さの情報を、該複数の顕微鏡画像の各々についての該焦点位置の情報に基づき取得する非エラー領域高さ情報取得処理と、該エラー領域に含まれている各画素について、該画素で表されている該標本の部位の高さの情報を、該非エラー領域に含まれている各画素で表されている該標本の部位について該非エラー領域高さ情報取得処理により取得した高さの情報に基づく補間演算により取得するエラー領域高さ情報取得処理と、をコンピュータに行わせる、というものである。
本発明によれば、以上のようにすることにより、エラー領域の判定精度が向上して、対象物の表面形状の計測がより適切に行えるようになるという効果を奏する。
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。なお、この実施の形態によりこの発明が限定されるものではない。
まず、図1について説明する。同図は、本発明の実施形態に係る顕微鏡システムの構成を示している。
まず、図1について説明する。同図は、本発明の実施形態に係る顕微鏡システムの構成を示している。
図1に示した顕微鏡システム100は、顕微鏡本体101と制御装置102とを備えている。
顕微鏡本体101は、ステージ2と、対物レンズ3と、レボルバ4と、焦準機構5と、架台6と、投光管7と、鏡筒8と、接眼ユニット9と、光源11とを備えている。
顕微鏡本体101は、ステージ2と、対物レンズ3と、レボルバ4と、焦準機構5と、架台6と、投光管7と、鏡筒8と、接眼ユニット9と、光源11とを備えている。
ステージ2には標本1が載置される。対物レンズ3は、ステージ2に載置された標本1の上部に位置するようにレボルバ4により保持されている。架台6は、レボルバ4を保持すると共に、焦準機構5を介してステージ2を支持する。投光管7は架台6の上部に載置されており、接眼ユニット9は、投光管7の上部に鏡筒8を介して設置されている。光源11は、不図示の光量調整ユニットが内蔵されており、出射する光の光量を調整することができ、この光量は、制御装置102の制御部18により制御される。
対物レンズ3は、レボルバ4に対して着脱自在に取り付けられており、レボルバ4の回転動作に応じてステージ2上に配置される。ステージ2は、不図示の平面駆動機構によって対物レンズ3の光軸に直交した平面内で自在に移動させることができ、対物レンズ3に対する標本1の当該平面上での位置を変化させる。また、ステージ2は、焦準機構5によって昇降移動させることが可能であり、この昇降移動により対物レンズ3に対する標本1の焦点合わせが行われる。また、焦準機構5と後述の制御装置102とは電気的に接続されており、焦準機構5の昇降移動の動作も、制御装置102の制御部18により制御される。
投光管7は、どちらも不図示である、照明光学系及び観察光学系を内部に備えている。投光管7の上部には撮像部としてのカメラ12が備えられている。光源11からの光は、投光管7内の照明光学系と対物レンズ3とを経て標本1に照射される。また、投光管7内の観察光学系は、対物レンズ3と協働して、照明されている標本1の観察像を結像させる。カメラ12は、この観察像を撮像して観察画像(顕微鏡画像)を生成し、その観察画像データを制御装置102へ送付する。
鏡筒8は、不図示の結像レンズを内部に有しており、対物レンズ3と協働して、ステージ2の下部に配置されている不図示の照明装置により可視光が照射されている標本1の可視観察像を結像させる。この可視観察像は、接眼ユニット9を介して、ユーザにより目視観察がされる。
制御装置102は、画像データ等の各種情報の入力、出力、表示及び記憶をそれぞれ行う入力部14、出力部15、表示部16、及び記憶部17と、顕微鏡システム100の各種動作を制御する制御部18とを備えている。
入力部14は、キーボード装置、マウス装置、及び通信装置等を用いて構成されており、ユーザからの各種設定パラメータ等の入力指示を、表示部16に表示されるGUI(Gr
aphical User Interface)と連携して取得する。
aphical User Interface)と連携して取得する。
出力部15は、通信装置、携帯型記憶媒体等を用いて構成されており、観察画像データを含む各種データ及び処理データ等を外部に出力する。
表示部16は、液晶ディスプレイ等を用いて構成されており、観察画像、設定情報、及び報知情報等を表示する。
表示部16は、液晶ディスプレイ等を用いて構成されており、観察画像、設定情報、及び報知情報等を表示する。
記憶部17は、ハードディスク装置、ROM、及びRAM等を用いて構成されており、顕微鏡システム100の各種動作を制御するための制御プログラムを予め記憶しておくと共に、観察画像データを含む各種観察データ等を必要に応じて記憶する。
制御部18は、顕微鏡システム100の各部の動作を制御するものであり、特に、光源、光源11、カメラ12、及びステージ2の制御を行う本体制御部18aと、三次元全焦点画像を生成する三次元全焦点画像生成部18bとを備えている。三次元全焦点画像生成部18bは、三次元全焦点画像を生成するための、当該各部の動作条件の設定処理や、取得した観察画像に対する各種画像処理を行う。
なお、制御部18は、MPU(演算処理装置)を用いて構成されており、記憶部17に記憶されている制御プログラムをMPUが読み出して実行することにより、上記の制御を行う。
なお、制御装置102は、例えば標準的な構成のコンピュータを用いて構成することもできる。標準的な構成のコンピュータとは、例えば、演算処理装置と、メインメモリと、記憶装置と、インタフェース部と、入力装置と、表示装置とを有して構成されているものである。ここで、演算処理装置は、制御プログラムの実行によってコンピュータ全体の動作制御を司る例えばMPUであり、制御部18として機能する。メインメモリは、演算処理装置が必要に応じてワークメモリとして使用する。記憶装置は、各種のプログラムや制御データなどを記憶して保存しておく例えばハードディスク装置である。このメインメモリ及び記憶装置は、記憶部17として機能する。インタフェース部は、カメラ12及び顕微鏡本体101との間で行われる各種のデータの授受を管理するものであり、出力部15としても機能する。入力装置は、種々の操作に対応付けられて示されるユーザからの指示を取得するものであり、入力部14として機能する。表示装置は、各種の情報の表示を行うものであり、表示部16として機能する。
次に図2について説明する。図2は、図1に示した顕微鏡システム100での標本1の全焦点画像の生成のために、制御部18で行われる制御処理の処理内容をフローチャートで示したものである。
図2において、まず、Step21では、標本1の高さ方向(すなわち対物レンズ3の光軸方向)に対物レンズ3の焦点位置が互いに異なっている標本1の複数の顕微鏡画像をカメラ12に撮影させる処理が行われる。この処理では、焦準機構5を制御して、標本1が載置されているステージ2と対物レンズ3との間の距離を、対物レンズ3の光軸方向に所定距離ずつ移動させる処理が行われる。そして、ステージ2が所定距離ずつ移動する度に、投光管7内の観察光学系と対物レンズ3との協働により得られる標本1の観察像をカメラ12に撮影させて観察画像(顕微鏡画像)を複数生成させる処理が行われる。そして、この観察画像を表している観察画像データと、各観察画像の撮影時における焦点位置の情報とを、それぞれカメラ12及び焦準機構5から制御装置102へ送付させる処理が行われる。ここで、制御部18は、送付されてきた観察画像データと焦点位置の情報とを受け取ると、この両者を対応付けて記憶部17に記憶させる処理が行われる。
次に、Step22では、前ステップの処理により撮影された顕微鏡画像の各々を構成
する各画素についての当該顕微鏡画像におけるコントラストの高さを示す数値であるコントラスト評価値を算出するコントラスト評価値算出処理が行われる。この処理では、コントラスト評価値として、注目画素と当該注目画素に隣接する画素との輝度の微分値の算出を行う。なお、この画素の輝度の微分値の算出処理では、エッジ抽出の画像処理用として周知である、ラプラシアン・フィルタ(Laplacian Filter)やソーベル・フィルタ(Sobel Filter)等の微分フィルタを用いる。
する各画素についての当該顕微鏡画像におけるコントラストの高さを示す数値であるコントラスト評価値を算出するコントラスト評価値算出処理が行われる。この処理では、コントラスト評価値として、注目画素と当該注目画素に隣接する画素との輝度の微分値の算出を行う。なお、この画素の輝度の微分値の算出処理では、エッジ抽出の画像処理用として周知である、ラプラシアン・フィルタ(Laplacian Filter)やソーベル・フィルタ(Sobel Filter)等の微分フィルタを用いる。
次に、Step23では合焦判定処理が行われる。この処理では、まず、複数の顕微鏡画像の各々での位置が同一である画素についてのコントラスト評価値のうち最高のコントラストを示すものである最大コントラスト評価値を取得する処理が行われる。そして、この画素の顕微鏡画像上の位置を示す座標情報に、取得した最大コントラスト評価値を対応付けて記憶部17に記憶させる処理が行われる。
次に、Step24では閾値判定処理が行われる。この処理では、まず、顕微鏡画像を構成する画素に対し、所定のコントラスト評価値を示す閾値を、その画素の輝度に基づき画素毎に設定する閾値設定処理が行われる。そして、次に、前ステップの処理により取得されている最大コントラスト評価値と設定した閾値とを、顕微鏡画像を構成する各画素について比較する処理が行われる。そして、最大コントラスト評価値で示されているコントラストが閾値で示されるコントラストよりも低い画素で構成される領域を、エラー領域として、顕微鏡画像から抽出するエラー領域抽出処理が行われる。なお、閾値設定処理については、後で説明する。
次に、Step25では、非エラー領域高さ情報取得処理が行われる。この処理は、顕微鏡画像におけるエラー領域を除いた領域である、非エラー領域に含まれている各画素について、その画素で表されている標本1の部位の高さの情報を、複数の顕微鏡画像の各々についての焦点位置の情報に基づき取得する処理である。なお、本実施形態では、非エラー領域に含まれている各画素について、その画素で表されている標本1の部位の高さの情報として、その画素についての最大コントラスト評価値を得た顕微鏡画像についての焦点位置の情報を記憶部17から取得する処理が行われる。この処理により取得された高さの情報は、その画素の顕微鏡画像上の位置を示す座標情報と対応付けられて記憶部17に記憶される。
次に、Step26では、エラー領域高さ情報取得処理が行われる。この処理は、前述したエラー領域に含まれている各画素について、その画素で表されている標本1の部位の高さの情報を、エラー領域に含まれている各画素について前ステップの処理で取得した高さの情報に基づく補間演算により取得する処理である。この補間演算は、例えば以下のようにして行われる。
まず、非エラー領域に含まれている画素のうち、高さの情報の取得対象である対象画素から近い順に所定個数の画素iの高さ情報ziを記憶部17から読み出す処理を行う。次に、対象画素と画素iとの距離liを算出する処理を行う。そして、対象画素の高さ情報zを、下記の[数1]式による線形補間により算出する処理を行う。
次に、Step27では、標本1の全焦点画像の生成処理が行われる。この処理では、まず、全ての画素について、Step26までの処理により取得された各画素についての高さに対応する焦点位置の顕微鏡画像(Step21の処理により記憶部17に記憶させた観察画像データ)を選択する。そして、選択された顕微鏡画像における同一位置の画素
の輝度値を、全ての画素に割り当てる。このようにすることで、標本1の全焦点画像が生成される。生成された全焦点画像の画像データを表示部16に送付すると、表示部16は、この画像データを読み出して標本1の全焦点画像を表示する。
の輝度値を、全ての画素に割り当てる。このようにすることで、標本1の全焦点画像が生成される。生成された全焦点画像の画像データを表示部16に送付すると、表示部16は、この画像データを読み出して標本1の全焦点画像を表示する。
以上までの制御処理を制御部18に行わせることで、標本1の全焦点画像の生成が、図1に示した顕微鏡システム100で行われる。
次に図3について説明する。図3は、図2に示した制御処理におけるStep24の処理である閾値判定処理の処理内容の一例をフローチャートで示したものである。
次に図3について説明する。図3は、図2に示した制御処理におけるStep24の処理である閾値判定処理の処理内容の一例をフローチャートで示したものである。
図3において、まず、Step31では、顕微鏡画像を構成する画素の輝度に対する、顕微鏡画像を撮影したカメラ12が発生させるノイズ量の分布を実測する処理が行われる。この処理では、まず、全焦点画像の生成対象である標本1に代えて、模様が無く、反射率が互いに異なる複数の標本、例えば鏡面標本をステージ2に順次載置して、同一の光量の下でカメラ12に撮影させる処理を行う。そして、得られた各画像を構成する各画素の平均輝度値Y1,Y2,…,Ynと、各平均輝度値に対する標準偏差σ1,σ2,…,σnとを算出する処理を行う。ここで、この標準偏差の大小は、カメラ12が発生させるノイズ量の大小と見ることができる。そこで、図4に例示するグラフのように、この平均輝度値Yと標準偏差σとの関係を示す点をグラフ上にプロットし、各点を線で結ぶ処理を行う。このようにして得られる「Y−σ」分布は、顕微鏡画像を構成する画素の輝度に対するカメラ12が発生させるノイズ量の分布を表している。
次に、Step32では、顕微鏡画像を構成する画素の輝度に対する、カメラ12が発生させるノイズ量の、コントラスト評価値の算出に使用した微分フィルタでの微分値の分布を作成する処理が行われる。
この処理は、前ステップの処理により取得したノイズ量(すなわち標準偏差σ)がコントラスト評価値に与える影響の程度が、コントラスト評価値の算出に使用する微分フィルタの種類によって異なることに配慮したものである。例えば、図5に示すように、コントラスト評価値の算出に5×5のラプラシアン・フィルタを使用した場合には、変化量が1であるノイズを微分すると、最大で25の変化量となる。そこで、本実施形態では、この最大変化量に注目することとし、この場合には、標準偏差σと微分値Diffとの関係を、Diff=25×σとする。そして、前ステップの処理により得られた「Y−σ」分布にこの関係を取り入れて、「Y−Diff」分布を求める。こうして、顕微鏡画像を構成する画素の輝度に対する、カメラ12が発生させるノイズ量の微分値の分布が得られる。
次に、Step33では、前ステップの処理によって「Y−σ」分布から求めた「Y−Diff」分布に基づいて、顕微鏡画像を構成する画素の輝度Yに対する、所定のコントラスト評価値を示す閾値Thの分布である「Y−Th」分布を作成する処理が行われる。
この処理では、カメラ12が発生させるノイズ量の微分値Diffと閾値Thとは線形の関係を有しているものと仮定し、微分値Diffと閾値Thとの関係をTh=k×Diffとする。ここで、所定値kは、予め設定されている固定値とする。そして、前ステップの処理により得られた「Y−Diff」分布にこの関係を取り入れて、「Y−Th」分布を求める。こうして、顕微鏡画像を構成する画素に対し、所定のコントラスト評価値を示す閾値を、画素の輝度に基づき画素毎に設定するために使用する、「Y−Th」分布が得られる。
なお、上述した所定値kを、予め設定されている固定値とする代わりに、ユーザにが任意に設定できるようにしてもよい。
制御部18は、「Y−Th」分布を表しているデータテーブルを以上のようにして作成
して、記憶部17に記憶させて保存しておく処理を行う。ここで、制御部18は、「Y−Th」分布の近似曲線を求め、その近似曲線を表すパラメータを算出して記憶部17に記憶させて保存しておく処理を行うようにしてもよい。
制御部18は、「Y−Th」分布を表しているデータテーブルを以上のようにして作成
して、記憶部17に記憶させて保存しておく処理を行う。ここで、制御部18は、「Y−Th」分布の近似曲線を求め、その近似曲線を表すパラメータを算出して記憶部17に記憶させて保存しておく処理を行うようにしてもよい。
次に、Step34では、図2のStep21の処理で記憶部17に記憶させた観察画像データを読み出し、このデータで表されている複数の観察画像(顕微鏡画像)の各々での位置が同一である画素の輝度の加算平均値を各画素について算出する処理が行われる。
次に、Step35では、Step33の処理で作成した「Y−Th」分布において、Step34の処理で算出した平均輝度値に対応する閾値を、顕微鏡画像の各画素について取得する処理が行われる。
次に、Step36では、図2のStep23の処理で取得されている最大コントラスト評価値と設定した閾値とを、顕微鏡画像を構成する各画素について比較する処理が行われる。
次に、Step37では、エラー領域抽出処理が行われる。この処理では、顕微鏡画像を構成する画素のうち最大コントラスト評価値が閾値よりも小さい画素で構成される領域を、顕微鏡画像から抽出する処理が行われる。この処理により、最大コントラスト評価値で示されているコントラストが閾値で示されるコントラストよりも低い画素で構成される領域が、エラー領域として得られる。
以上のStep37までの処理を終えた後は、図2の制御処理へと処理を戻す。
以上の閾値判定処理により、顕微鏡画像を構成する画素に対する前述した閾値が、顕微鏡画像を構成する画素の輝度に対するカメラ12が発生させるノイズ量の分布と、複数の顕微鏡画像の各々での位置が同一である画素の輝度の平均値とに基づいて決定される。このようにすることで、輝度値によりノイズ量が変化しても、閾値も輝度値に応じて変更されるので、標本1における観察対象部位が暗くても明るくても、エラー領域を適切に抽出することができる。従って、対象物の表面形状の計測がより適切に行えるようになり、標本1のより高精度な全焦点画像を得ることができるようになる。
以上の閾値判定処理により、顕微鏡画像を構成する画素に対する前述した閾値が、顕微鏡画像を構成する画素の輝度に対するカメラ12が発生させるノイズ量の分布と、複数の顕微鏡画像の各々での位置が同一である画素の輝度の平均値とに基づいて決定される。このようにすることで、輝度値によりノイズ量が変化しても、閾値も輝度値に応じて変更されるので、標本1における観察対象部位が暗くても明るくても、エラー領域を適切に抽出することができる。従って、対象物の表面形状の計測がより適切に行えるようになり、標本1のより高精度な全焦点画像を得ることができるようになる。
なお、図3のStep33の処理において、前述した「Y−Th」分布は、重み値kの値を変更することで調整することができる。そこで、閾値の変更を示すユーザからの指示を入力部14が受け取るようにし、この指示を受け取ったときには、重み値kの値を当該指示に係る値に変更する処理を制御部18が行うようにする。そして、Step33の処理では、この変更後のkの値を用いて「Y−Th」分布を作成する処理を制御部18が行うようにする。すると、Step37のエラー領域抽出処理では、この変更後の「Y−Th」分布に基づくエラー領域の抽出が行われる。従って、顕微鏡画像におけるエラー領域の範囲を、ユーザが所望する精度に応じて調整することができる。
また、図3のStep35の処理において、各観察画像の画素のうち輝度が飽和しているものが存在した場合には、その画素についての閾値をコントラストが無限大であることを示す値に設定するようにしてもよい。このようにすることで、続くStep36及びStep37の処理により、この画素はエラー領域に含まれるものとして扱われ、その後の図2の処理により、この画素についての高さの情報が、エラー領域高さ情報取得処理(Step26)により取得される。
また、図3のStep31の処理では、画素の輝度に対するカメラ12が発生させるノイズ量の分布の実測の際に、模様が無く、反射率が互いに異なる複数の標本を用いていた。この代わりに、模様が無く、反射率が一定である単一の標本を用いてこの分布の実測を
行うこともできる。この場合には、制御部18は、光源11の光量調整ユニットを制御して光源11の光量を変化させながらこの標本をカメラ12で順次撮影し、得られた各画像を構成する各画素の輝度値の平均値と標準偏差とを算出する処理を行うようにする。
行うこともできる。この場合には、制御部18は、光源11の光量調整ユニットを制御して光源11の光量を変化させながらこの標本をカメラ12で順次撮影し、得られた各画像を構成する各画素の輝度値の平均値と標準偏差とを算出する処理を行うようにする。
また、前述した説明では、図2のStep21からStep23の処理は、標本1の複数の顕微鏡画像を全て取得してからコントラスト評価値の計算を行うようにしていた。この代わりに、標本1の顕微鏡画像を1枚取得する度に各画素のコントラスト評価値を算出して、算出した値が最大コントラスト評価値であるか否かを判定する処理を制御部18に行わせることもできる。また、この処理に併せて、図3のStep34及びStep35の処理を行うようにして、顕微鏡画像を構成する各画素の輝度の加算平均値の算出と閾値の決定を、標本1の顕微鏡画像を1枚取得する度に行うようにしてもよい。このようにすると、閾値の決定までに要する時間が短縮される。
また、前述した図3のStep34の処理では、複数の顕微鏡画像の各々での位置が同一である画素の輝度の加算平均値を算出し、続くStep35の処理において、前述した閾値を、この加算平均値に基づいて取得するようにしていた。この代わりに、複数の顕微鏡画像の各々での位置が同一である画素の輝度を代表する値を、以下のようにして求めるようにしてもよい。
ここで図6について説明する。図6は、複数の顕微鏡画像の各々についての焦点位置(Z)と、当該顕微鏡画像の各々で位置が同一である画素についての輝度値(I)との対応関係の一例を示したものであり、「I―Zカーブ」などとも称されているものである。
まず、制御部18に、顕微鏡画像を構成する各画素について、この焦点位置と輝度値との対応関係を示す点をグラフ上にプロットすると共に、このグラフ上にプロットされた点を結ぶI―Zカーブを描画する曲線描画処理を行わせる。
次に、このプロットした点において焦点位置の違いが最大である2点と、この2点の各々からそれぞれ近い順の、少なくとも1個以上の同数の点とを直線近似して結ぶ直線をグラフ上に描画する直線描画処理を、制御部18に行わせる。なお、図6では、プロットした点において焦点位置の違いが最大である2点I(0)及びI(n)と、この2点の各々からそれぞれ近い順の2点である、I(1)及びI(2)並びにI(n−1)及びI(n−2)とを直線近似して結ぶ直線が描画されている。なお、この直線は、このプロットした点において焦点位置の違いが最大である2点を結ぶ直線としてもよい。
次に、曲線描画処理により描画されたI―Zカーブ上において、直線描画処理により描画された直線からの距離が最長である点が示している輝度値Iを各画素について取得する処理を、制御部18に行わせる。
このようにして取得される輝度値Iは、この画素で表されている標本1の部位が焦点位置付近に位置してほぼ合焦状態となったときの値と考えられる。そこで、Step35の処理では、こうして得られる輝度値Iに対応する閾値を、「Y−Th」分布から取得するようにする。このようして、合焦位置に近い場合に想定される輝度値を用いて閾値を設定することで、エラー領域をより適切に抽出することができるようになる。
以上、本発明の実施形態を説明したが、本発明は、上述した各実施形態に限定されることなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で種々の改良・変更が可能である。
1 標本
2 ステージ
3 対物レンズ
4 レボルバ
5 焦準機構
6 架台
7 投光管
8 鏡筒
9 接眼ユニット
11 光源
12 カメラ
14 入力部
15 出力部
16 表示部
17 記憶部
18 制御部
18a 本体制御部
18b 三次元全焦点画像生成部
100 顕微鏡システム
101 顕微鏡本体
102 制御装置
2 ステージ
3 対物レンズ
4 レボルバ
5 焦準機構
6 架台
7 投光管
8 鏡筒
9 接眼ユニット
11 光源
12 カメラ
14 入力部
15 出力部
16 表示部
17 記憶部
18 制御部
18a 本体制御部
18b 三次元全焦点画像生成部
100 顕微鏡システム
101 顕微鏡本体
102 制御装置
Claims (10)
- 標本の高さ方向に焦点位置が互いに異なっている該標本の複数の顕微鏡画像に基づいて該標本の高さ情報を取得する高さ情報取得装置であって、
該顕微鏡画像の各々を構成する各画素についての該顕微鏡画像におけるコントラストの高さを示す数値であるコントラスト評価値を算出するコントラスト評価値算出手段と、
該顕微鏡画像を構成する画素に対し、所定のコントラスト評価値を示す閾値を、該画素の輝度に基づき該画素毎に設定する閾値設定手段と、
該複数の顕微鏡画像の各々での位置が同一である画素についての該コントラスト評価値のうち最高のコントラストを示すものである最大コントラスト評価値と該画素に対し該閾値設定手段が設定した閾値との比較を、該顕微鏡画像を構成する各画素について行って、該最大コントラスト評価値で示されているコントラストが該閾値で示されるコントラストよりも低い画素で構成される領域であるエラー領域を該顕微鏡画像から抽出するエラー領域抽出手段と、
該顕微鏡画像における該エラー領域を除いた領域である非エラー領域に含まれている各画素について、該画素で表されている該標本の部位の高さの情報を、該複数の顕微鏡画像の各々についての該焦点位置の情報に基づき取得する非エラー領域高さ情報取得手段と、
該エラー領域に含まれている各画素について、該画素で表されている該標本の部位の高さの情報を、該非エラー領域に含まれている各画素で表されている該標本の部位について該非エラー領域高さ情報取得手段が取得した高さの情報に基づく補間演算により取得するエラー領域高さ情報取得手段と、
を有することを特徴とする高さ情報取得装置。 - 該閾値設定手段は、該顕微鏡画像を構成する画素の輝度に対する、該顕微鏡画像を撮影した顕微鏡画像撮影手段が発生させるノイズ量の分布の実測結果に基づいて、該閾値を設定することを特徴とする請求項1に記載の高さ情報取得装置。
- 該閾値設定手段は、該複数の顕微鏡画像の各々での位置が同一である画素の輝度の平均値に基づき、該画素についての該閾値を設定することを特徴とする請求項1に記載の高さ情報取得装置。
- 該閾値設定手段は、該顕微鏡画像を構成する画素のうち輝度値が飽和しているものについては、該閾値を、コントラストが無限大であることを示す値に設定することを特徴とする請求項1から3のうちのいずれか一項に記載の高さ情報取得装置。
- 該閾値設定手段により設定された閾値の変更の指示を取得する閾値変更指示取得手段を更に有し、
該エラー領域抽出手段は、該閾値変更指示取得手段が取得した指示に係る変更後の閾値に基づいて該エラー領域の抽出を行う、
ことを特徴とする請求項1から4のうちのいずれか一項に記載の高さ情報取得装置。 - 該閾値設定手段は、
該複数の顕微鏡画像の各々についての焦点位置と該顕微鏡画像の各々で位置が同一である画素についての輝度値との対応関係を示す点をグラフ上にプロットすると共に、該グラフ上にプロットされた点を結ぶ曲線を描画する曲線描画手段と、
該曲線描画手段がプロットした点において焦点位置の違いが最大である2点を結ぶ直線、又は、該2点と該2点の各々からそれぞれ近い順の、少なくとも1個以上の同数の点とを直線近似して結ぶ直線を該グラフ上に描画する直線描画手段と、
を有し、該顕微鏡画像を構成する画素に対しての該閾値を、該画素についての該曲線上において該画素についての該直線からの距離が最長である点が示している輝度値に基づき、
取得する、
ことを特徴とする請求項1に記載の高さ情報取得装置。 - 該非エラー領域高さ情報取得手段は、該顕微鏡画像における該エラー領域を除いた領域である非エラー領域に含まれている各画素について、該画素で表されている該標本の部位の高さの情報を、該画素についての最大コントラスト評価値を得た顕微鏡画像についての該焦点位置の情報に基づき取得することを特徴とする請求項1から6のうちのいずれか一項に記載の高さ情報取得装置。
- 該顕微鏡画像を構成している全画素について取得された該標本の部位の高さの情報に基づき、各画素に対し、該高さに対応する該焦点位置である該顕微鏡画像における該画素の輝度値を割り当てることで、該標本の全焦点画像を生成する全焦点画像生成手段を更に有することを特徴とする請求項1から7のうちのいずれか一項に記載の高さ情報取得装置。
- 標本の高さ方向に焦点位置が互いに異なっている該標本の複数の顕微鏡画像に基づいて該標本の高さ情報を取得する高さ情報取得方法であって、
該顕微鏡画像の各々を構成する各画素についての顕微鏡画像におけるコントラストの高さを示す数値であるコントラスト評価値を算出し、
該顕微鏡画像を構成する画素に対し、所定のコントラスト評価値を示す閾値を、該画素の輝度に基づき該画素毎に設定し、
該複数の顕微鏡画像の各々での位置が同一である画素についての該コントラスト評価値のうち最高のコントラストを示すものである最大コントラスト評価値と該画素に対し設定した閾値との比較を、該顕微鏡画像を構成する各画素について行って、該最大コントラスト評価値で示されているコントラストが該閾値で示されるコントラストよりも低い画素で構成される領域であるエラー領域を該顕微鏡画像から抽出し、
該顕微鏡画像における該エラー領域を除いた領域である非エラー領域に含まれている各画素について、該画素で表されている該標本の部位の高さの情報を、該複数の顕微鏡画像の各々についての該焦点位置の情報に基づき取得し、
該エラー領域に含まれている各画素について、該画素で表されている該標本の部位の高さの情報を、該非エラー領域に含まれている各画素で表されている該標本の部位について取得した高さの情報に基づく補間演算により取得する、
ことを特徴とする高さ情報取得方法。 - 標本の高さ方向に焦点位置が互いに異なっている該標本の複数の顕微鏡画像に基づいて該標本の高さ情報を取得する処理をコンピュータに行わせるためのプログラムであって、
該顕微鏡画像の各々を構成する各画素についての該顕微鏡画像におけるコントラストの高さを示す数値であるコントラスト評価値を算出するコントラスト評価値算出処理と、
該顕微鏡画像を構成する画素に対し、所定のコントラスト評価値を示す閾値を、該画素の輝度に基づき該画素毎に設定する閾値設定処理と、
該複数の顕微鏡画像の各々での位置が同一である画素についての該コントラスト評価値のうち最高のコントラストを示すものである最大コントラスト評価値と該画素に対し該閾値設定処理により設定した閾値との比較を、該顕微鏡画像を構成する各画素について行って、該最大コントラスト評価値で示されているコントラストが該閾値で示されるコントラストよりも低い画素で構成される領域であるエラー領域を該顕微鏡画像から抽出するエラー領域抽出処理と、
該顕微鏡画像における該エラー領域を除いた領域である非エラー領域に含まれている各画素について、該画素で表されている該標本の部位の高さの情報を、該複数の顕微鏡画像の各々についての該焦点位置の情報に基づき取得する非エラー領域高さ情報取得処理と、
該エラー領域に含まれている各画素について、該画素で表されている該標本の部位の高さの情報を、該非エラー領域に含まれている各画素で表されている該標本の部位について
該非エラー領域高さ情報取得処理により取得した高さの情報に基づく補間演算により取得するエラー領域高さ情報取得処理と、
をコンピュータに行わせるためのプログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008293238A JP2010121955A (ja) | 2008-11-17 | 2008-11-17 | 高さ情報取得装置、高さ情報取得方法、及びプログラム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2008293238A JP2010121955A (ja) | 2008-11-17 | 2008-11-17 | 高さ情報取得装置、高さ情報取得方法、及びプログラム |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010121955A true JP2010121955A (ja) | 2010-06-03 |
Family
ID=42323438
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2008293238A Withdrawn JP2010121955A (ja) | 2008-11-17 | 2008-11-17 | 高さ情報取得装置、高さ情報取得方法、及びプログラム |
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JP (1) | JP2010121955A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2011158515A1 (ja) * | 2010-06-17 | 2011-12-22 | パナソニック株式会社 | 距離推定装置、距離推定方法、集積回路、コンピュータプログラム |
JP2014232166A (ja) * | 2013-05-28 | 2014-12-11 | オリンパス株式会社 | 観察装置 |
CN114138014A (zh) * | 2021-11-19 | 2022-03-04 | 浙江远望土地勘测规划设计有限公司 | 一种用于土地勘测的无人机控制方法、装置、设备及存储介质 |
-
2008
- 2008-11-17 JP JP2008293238A patent/JP2010121955A/ja not_active Withdrawn
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CN114138014B (zh) * | 2021-11-19 | 2023-09-01 | 浙江远望土地勘测规划设计有限公司 | 一种用于土地勘测的无人机控制方法、装置、设备及存储介质 |
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