JP2009545188A - サンプルデータ回路のオフセット取り消し - Google Patents

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Abstract

【課題】
【解決手段】効果的なオフセット取り消しを有するコンパレータベースの回路は、第1及び第2の増幅器と、第1及び第2の増幅器に動作可能に接続されたオフセットキャパシタとを具えている。オフセット電源はオフセット電圧を生成する。第1のスイッチは、第1の時間周期の間オフセット電源を接地する。第1の増幅器は、第1の時間周期の間、オフセット電源を接地する第1のスイッチに応じて出力電圧を生成する。第2のスイッチは、第2の時間周期の間、オフセットキャパシタを接地する。第1のスイッチは、第3の時間周期の間オフセット電源の接地を解除し、第2のスイッチは、第3の時間周期の間オフセットキャパシタの接地を解除する。
【選択図】図4

Description

優先権情報
本出願は、2006年3月21日に出願された米国暫定特許出願第60/743,601の合衆国法典35セクション119(e)に基づく優先権を主張する。2006年3月21日に出願された米国暫定特許出願第60/743,601の全体の内容は、参照によりここに組み込まれている。
本発明は一般に、サンプルデータ回路に関連する。
スイッチドキャパシタフィルタ、アナログデジタルコンバータ、及びデルタシグマモジュレータなどの多くのサンプルデータのアナログ回路は、信号を処理する演算増幅器を必要とする。例えば、図2に示すスイッチドキャパシタ積分器を考える。初めに、スイッチS11及びS13は閉じており、入力電圧VINは、サンプリングキャパシタCS1でサンプリングされる。次に、スイッチS11及びS13が開かれ、S12及びS14が閉じる。この操作は、サンプリングキャパシタCS1内の変化を積分キャパシタC11に送る。第1の積分器1100の出力電圧VOUTは通常、別のサンプルデータ回路、例えば別のスイッチドキャパシタ積分器によりサンプリングされる。図2に示す回路では、スイッチS21、S22、S23、S24、及び第2のサンプリングキャパシタCS2は、第2のスイッチドキャパシタ積分器の一部を具えている。第1の積分器10の出力電圧VOUTは、閉じているスイッチS21及びS23により、第2のサンプリングキャパシタCS2でサンプリングされる。
タイミング図の例が図3に示されている。クロック信号は、2つの非重複位相φ及びφを有する。位相φはスイッチS11、S13、S21及びS23に利用され、位相φはスイッチS12、S14、S22及びS24に利用される。このタイミングにより、回路は、完全なクロック遅延を有する非反転の不連続の積分(non-inverting discrete integration)を実行する。積分器VOUTの出力及び仮想接地ノード100、Vにおける波形が、図3に示されている。異なるクロック位相構成により、積分器から様々な反応が生じる。例えば、φがスイッチS11、S13、S22及びS24に利用される場合、位相φがS12、S14、S21及びS23に適用され、半分のクロック遅延を有する非反転の不連続の積分を実行する。
入力信号の正確な積分の場合、Vはできるだけ地面近くで動作すべきである。これを実現すべく、演算増幅器は、十分な開ループ利得と低いノイズを提供する。さらに、高速演算の場合、図2の演算増幅器10は早く設定すべきである。
図3では、S12及びS14を閉じることによりサンプリングキャパシタCS1がノード100に切り替えられた場合、妨害された後に電圧V1が再び接地される。高い開ループ利得と高速の設定時間に加えて、演算増幅器は、高い動的な範囲のために大きな出力振幅を提供する。技術が拡大するにつれ、演算増幅器からこれらの特性を達成することは次第に困難になる。演算増幅器の設計を困難にする主な要因は、低い電源圧と低い装置の利得である。
前述したように、正確な出力電圧は、図2のノード100が正確に接地した状態で維持される場合に取得できる。しかしながら、サンプルデータ回路では、時間の正確な出力電圧のポイントは、出力電圧が別のサンプリング回路によりサンプリングされるときに必要とされる。したがって、常にノード100の電圧を接地した状態に維持する必要はない。
ゼロ交差(Zero-crossing)検出器は、アルゴリズム及びパイプラインアナログデジタルコンバータ、デルタシグマコンバータ、及び増幅器などの他のスイッチドキャパシタ回路で利用できる。これらの応用例はしばしば、参照電圧と呼ばれる一定の電源を必要とする。
したがって、雑音特性又はゼロ交差ベースの回路の速度を低下させることなく、このような電源で必要とされる電力消費を低減する方法で、ゼロ交差検出器ベースの回路内のアルゴリズムのアナログデジタルコンバータ、パイプラインアナログデジタルコンバータ、デルタシグマコンバータ、及び参照電圧などの電源を供給する増幅器などのゼロ交差検出器を提供することが求められている。
本発明の一態様は、効果的なオフセット取り消しを有するコンパレータである。このコンパレータは、入力端子を有する第1の増幅器と、前記第1の増幅器に動作可能に接続されたオフセットキャパシタと、前記オフセットキャパシタに動作可能に接続された第2の増幅器と、前記入力端子に動作可能に接続された第1のスイッチと、前記オフセットキャパシタと第1の所定の電圧との間に動作可能に接続された第2のスイッチと、前記第1及び第2のスイッチの動作を制御する制御回路とを具えている。前記制御回路に応答する第1のスイッチは、時間周期内に前記入力端子を第2の所定の電圧に接続する。前記制御回路に応答する第2のスイッチは、時間周期内に前記オフセットキャパシタを前記第1の所定の電圧に接続する。時間周期は、前記オフセットキャパシタに関連する時定数よりも実質的に短い。
本発明の別の態様は、効果的なオフセット取り消しを有するコンパレータである。このコンパレータは、入力端子を有する第1の増幅器と、前記第1の増幅器に動作可能に接続された第1のオフセットキャパシタと、前記オフセットキャパシタに動作可能に接続された第2の増幅器と、前記入力端子に動作可能に接続された第1のスイッチと、前記オフセットキャパシタと第1の所定の電圧との間に動作可能に接続された第2のスイッチと、前記第1及び第2のスイッチの動作を制御する制御回路と、前記第1のオフセットキャパシタに動作可能に接続されたノイズ平均化回路とを具えている。前記制御回路に応答する第1のスイッチは、時間周期内に前記入力端子を第2の所定の電圧に接続する。前記制御回路に応答する第2のスイッチは、時間周期内に前記オフセットキャパシタを前記第1の所定の電圧に接続する。
本発明の別の態様は、効果的なオフセット取り消しを有するコンパレータベースの回路である。コンパレータベースの回路は、入力電圧を別の電圧と比較するコンパレータと、前記コンパレータに動作可能に接続されたスイッチドキャパシタネットワークと、前記コンパレータの入力に動作可能に接続されたオフセットキャパシタと、前記オフセットキャパシタに動作可能に接続され、前記オフセットキャパシタを所定の電圧に充電するプリセット電源と、前記オフセットキャパシタに動作可能に接続され、所定の電圧波形を前記オフセットキャパシタに加える波形生成回路と、前記オフセットキャパシタに動作可能に接続されたサンプリングスイッチとを具えている。このサンプリングスイッチは、前記コンパレータの入力の電圧が所定のレベルに交差したと前記コンパレータが判断したときにOFFになる。
本発明の別の態様は、効果的なオフセット取り消しを有するゼロ交差検出器ベースの回路である。このゼロ交差検出器ベースの回路は、第1の入力及び第2の入力を有するゼロ交差検出器と、前記ゼロ交差検出器に動作可能に接続されたスイッチドキャパシタネットワークと、前記ゼロ交差検出器の第1の入力に動作可能に接続されたオフセットキャパシタと、前記オフセットキャパシタに動作可能に接続され、前記オフセットキャパシタを所定の電圧に充電するプリセット電源と、前記オフセットキャパシタに動作可能に接続され、所定の電圧波形を前記オフセットキャパシタに加える波形生成回路と、前記オフセットキャパシタに動作可能に接続されたサンプリングスイッチとを具えている。このサンプリングスイッチは、前記第1の入力の電圧が接地電位と交差すると前記ゼロ交差検出器が判断したときにOFFになる。
本発明の別の態様は、効果的なオフセット取り消しを有するレベル交差検出器ベースの回路である。このレベル交差検出器ベースの回路は、第1の入力及び第2の入力を有するレベル交差検出器と、前記レベル交差検出器に動作可能に接続されたスイッチドキャパシタネットワークと、前記レベル交差検出器の第1の入力に動作可能に接続されたオフセットキャパシタと、前記オフセットキャパシタに動作可能に接続され、前記オフセットキャパシタを所定の電圧に充電するプリセット電源と、前記オフセットキャパシタに動作可能に接続され、所定の電圧波形を前記オフセットキャパシタに加える波形生成回路と、前記オフセットキャパシタに動作可能に接続されたサンプリングスイッチとを具えている。このサンプリングスイッチは、前記第1の入力の電圧が接地電位と交差すると前記レベル交差検出器が判断したときにOFFになる。
本発明の別の態様は、ゼロ交差検出器ベースの回路でオフセットを効果的に取り消す方法である。この方法は、オフセットキャパシタを所定の電圧に充電し、所定の電圧波形を前記オフセットキャパシタに加え、ゼロ交差検出器の入力の電圧が所定のレベルと交差したかを判断し、前記ゼロ交差検出器の入力の電圧が前記所定のレベルと交差すると判断されたときに前記オフセットキャパシタで電圧を保持し、前記ゼロ交差検出器の入力の電圧が前記所定のレベルと交差すると判断されたときに、前記オフセットキャパシタで保持されている電圧を用いて前記ゼロ交差検出器のオフセットを取り消す。
本発明の別の態様は、レベル交差検出器ベースの回路でオフセットを効果的に取り消す方法である。この方法は、オフセットキャパシタを所定の電圧に充電し、所定の電圧波形を前記オフセットキャパシタに加え、レベル交差検出器の入力の電圧が所定のレベルと交差したかを判断し、前記レベル交差検出器の入力の電圧が前記所定のレベルと交差すると判断したときに前記オフセットキャパシタで電圧を保持し、前記オフセットキャパシタで保持されている電圧を用いて前記レベル交差検出器のオフセットを取り消す。
本発明の別の態様は、コンパレータベースの回路でオフセットを効果的に取り消す方法である。この方法は、オフセットキャパシタを所定の電圧に充電し、所定の電圧波形を前記オフセットキャパシタに加え、コンパレータの入力の電圧が所定のレベルと交差したかを判断し、前記コンパレータの入力の電圧が前記所定のレベルと交差すると判断されたときに前記オフセットキャパシタで電圧を保持し、前記オフセットキャパシタで保持されている電圧を用いて前記コンパレータのオフセットを取り消す。
本発明は、様々な要素及び要素の構成、及び様々なステップ及びステップの構成により具体化してもよい。図面は、好適な実施例を表すためであり、本発明を限定すると解釈すべきでない。
本発明は好適な実施例に関連して説明されているが、本発明をここに説明する実施例に限定することを意図するものではないと理解すべきである。反対に、添付の請求項により規定される本発明の精神及び範囲内の総ての代替、修正、及び均等を網羅することを意図する。
本発明を総合的に理解するために図面が参照される。図面では、全体を通じて同様の参照を用いて同じ又は同様の要素を示している。本発明を示す様々な図は、本発明の特徴及び概念を適切に表すために、大きさが正しく描かれておらず、特定の範囲が意図的に偏って描かれている。
様々な図では、アース記号はシステムの共通モードの電圧を示していることに留意すべきである。例えば、2.5V及び−2.5Vの電源を有するシステムでは、システムの共通モードの電圧は接地した状態である。単一の2.5電源を有するシステムでは、システムの共通モードの電圧は1.25Vである。
前述したように、正確な出力電圧は、図2のノード100が接地した状態に正確に維持されるときに取得できる。しかしながら、サンプルデータ回路では、正確な出力電圧が必要とされる時点のみが、出力電圧が別のサンプリング回路によりサンプリングされる瞬間である。したがって、総ての時間においてノード100の電圧を接地した状態に維持する必要はない。
図4は、本発明の概念による非反転積分器(non-inverting integrator)を示している。具体的には、例えば、半クロック遅延を有する非反転積分器が図4に示されている。
図4に示すように、クロック位相φが、スイッチS11、S13、S22、及びS24に利用され、別の位相φが、スイッチS12、S14、及びS21に利用される。ゼロ交差検出器30が、ノード100が地面と交差した時点を検出するのに用いられる。スイッチS23は、ゼロ交差検出器30の出力により制御される。ゼロ交差検出器30の出力は、出力電圧VOUTのサンプル取得する時点を判断するのに用いられる。波形生成器20は、キャパシタCS1及びCI1の充電が通常の動作範囲内にある場合にノード100の電圧がゼロと交差する方法により、出力電圧VOUTとして電圧波形を生成する。
図5に示すタイミング図では、波形生成器20により生成される波形がランプのように示されている。ノード100の電圧Vが時間tで0と交差するとき、ゼロ交差検出器30の出力VZCが下がり、スイッチS23を切る。この瞬間、出力電圧VOUTがCS2でサンプリングされる。
のサンプルが取得されるとき、Vはゼロに非常に近いため、正確な出力電圧がCS2でサンプリングされる。次のクロック周期の間、同様の操作が繰り返され、出力電圧のサンプルが時間tで取得される。
ゼロ交差検出器30は任意で、キャパシタCS1及びCI1の充電が通常の操作の範囲外であるときを判断するオーバーフロー検出機能を具えてもよいことに留意すべきである。φが低下したときにローにすることは、ゼロ交差検出器30の出力VZCを生成する論理回路により実現できる。Vが低下してゼロと交差する場合、φの立ち下がりでサンプルが取得される。同時に、論理回路はオーバーフローを示すフラグを生成する。
前述した実施例及び以下に説明する様々な実施例では、コンパレータがゼロ交差検出器として用いられる。通常、コンパレータは、2つの任意の入力電圧を比較するように設計されている。コンパレータは、直列増幅器、再生式ラッチ、又はこれらの組み合わせとして実現してもよい。コンパレータは、ゼロ電圧レベル又は所定の電圧レベルの交差を検出するために用いてもよい。
説明する様々な実施例の入力波形は任意ではないが、決定性及び反復性を有することに留意すべきである。したがって、説明する実施例は、ゼロの電圧レベル又は所定の電圧レベルが入力信号の相対振幅以上で交差する瞬間を判断する。このような決定性のある入力の場合、動的なゼロ交差検出器がより効果的である。
正の動作(positive going)の入力信号を検出する動的なゼロ交差検出器の例が図1に示されている。始めにノード1及びノード2がそれぞれ、VDDと接地した状態に予め充電される。ランプの入力電圧VINがゼロ交差回路により加わる。入力ノードが閾値と交差するとき、ノード1が即座に放電され、ノード2がVDDまで引き上げられる。図1のゼロ交差検出器は動的回路であるため、DCの電力消費がなく、非常に低い電力と高速の動作を可能にする。負の動作の信号のゼロの交差を検出するために、PMOS入力トランジスタを有するコンプリメンタリ回路が利用できる。
図6に示すように、非反転積分器は、電流源200である波形生成器を具えている。図6に示すように、クロック位相φがスイッチS11、S13、S22、及びS24に利用され、別の位相φがスイッチS12、S14、及びS21に利用される。ゼロ交差検出器30は、ノード100が接地した状態になった時点を検出するのに用いられる。スイッチS23は、ゼロ交差検出器30の出力により制御される。ゼロ交差検出器30の出力は、出力電圧VOUTのサンプルを取得する時点を判断するのに用いられる。
電流源200は、キャパシタCS2と直列接続したCS1及びCl1を充電し、ランプを生成する。φの開始では、出力が既知の電圧VNEGに簡単に短絡され、この値は、ノード100の電圧Vが、信号が通常の動作範囲内でゼロと交差するために選択される。
図7に示すように、非反転積分器は、好適には、出力電圧の変化率を有する複数の波形セグメントを生成する波形生成器20を具える。第1のセグメントは、連続したセグメントが連続的に低い変化率を有する状態で、最も高い変化率を有するように制御してもよい。ゼロ交差検出器30によるゼロ交差の検出により、波形が次のセグメントに進む。ゼロ交差検出器30の出力信号VZC2は、ゼロ交差が波形の最後のセグメントで検出されるまで高いままである。
タイミング図の1のクロック周期が図8に示されている。φの開始では、波形生成器20が上がりランプを生成する。電圧Vは、時間tでゼロを交差することが示されている。ゼロ交差検出器30の出力VZCは、有限遅延td1の後でその状態を変化させる。
遅延td1は、通常のゼロ交差検出器30の有限遅延を表している。この状態の変化は、波形を次のセグメントに進ませる。
ゼロ交差検出器30のtd1により、電圧Vは接地した状態から僅かだけオーバーシュートする。波形生成器の第2のセグメントは下りランプであり、時間tにおける別のゼロ交差を可能にする。第2の遅延td2の後、ゼロ交差検出器30の出力VZC2はローになり、スイッチS23が切れ、出力電圧Voutのサンプルを固定する。
第2のゼロ交差の遅延td2は、第1のゼロ交差td1に関連する遅延と必ずしも同じではない。遅延td2は、小さなオーバーシュートをサンプリングされた出力電圧に寄与する。オーバーシュートの効果は、サンプリングされた充電の一定のオフセットと表すことができる。多くのサンプルデータ回路では、このような一定のオフセットは問題ではない。
ゼロ交差検出器30は、波形前進のセグメントとしてゼロ交差を検出する際に、より正確であることが好適である。第1の検出は粗い検出であるため、これは非常に正確である必要はない。したがって、低い正確性によりさらに早く検出できる。所定の周期内の最後のゼロ交差検出は、出力電圧の正確性を決定する。このため、最後のゼロ交差検出は、最も正確でなければならない。
正確性、速度、及び消費電力は、最適な全体のパフォーマンスのために、連続的なゼロ交差検出の間で適切に交換される。例えば、第1の検出は、正確性が低くノイズが多いが、高速(遅延が短く)で電力が低い。最後の検出は、より正確でノイズがないが、より電力を消費し、又は遅い(遅延が長い)。
2つの電流源(210及び220)で構成される2つのセグメントの波形生成器の例が図9に示されている。図9に示すように、クロック位相φがスイッチS11、S13、S22、及びS24に利用され、別の位相φがスイッチS12、S14、及びS21に利用される。ゼロ交差検出器30は、ノード100が接地した状態になった時点を検出するために用いられる。スイッチS23はゼロ交差検出器30の出力により制御される。ゼロ交差検出器30の出力は、出力電圧VOUTのサンプルを取得する時点を判断するのに用いられる。
電流源210及び220は、キャパシタCS2と、ランプの波形の2つのセグメントを生成する直接接続したCS1及びCI1を充電する。φの開始では、出力が既知の電圧VNEGに容易に短絡され、この値は、電圧Vが、信号が通常の動作範囲内でゼロと交差するために選択される。第1のセグメントの間、電流源210が出力に送られ、一方、第2のセグメントの間、電流源220が出力に送られ、ランプの2つの異なるスロープを生成する。
図10に示すように、非反転積分器は、複数の閾値を有するレベル交差検出器300を具えている。図10に示すように、クロック位相φがスイッチS11、S13、S22、及びS24に利用され、別の位相φがスイッチS12、S14、及びS21に利用される。レベル交差検出器300は、ノード100が、以下に説明する複数の所定のレベルの一つと交差する時点を検出するのに用いられる。スイッチS23は、レベル交差検出器300の出力により制御される。レベル交差検出器300の出力は、出力電圧VOUTのサンプルを取得する時点を判断するために用いられる。
閾値は所定の電圧レベルである。レベル交差検出器300の閾値は、オーバーショットを最小化するために調整できる。
例えば、第1の検出の閾値は、第1のセグメント内の予想されるオーバーショットよりも僅かに小さい量だけ負になる。これは、第2のセグメントにおけるランプ下りを最小化する。また、第2のセグメントの閾値は、オーバーショットの影響を取り消すために、第2のセグメント内のオーバーショットの量だけ正になる。代替的に、第1のセグメントの閾値は、第1のセグメント内の予想されるオーバーショットよりも負にしてもよい。これにより、第2のセグメントが、図11に示すように負のランプではなく正のランプになる。
最後のセグメント内の検出を最も正確な検出にすることは有利である。最後のセグメントの間の検出の正確性は、他のセグメントの間のものよりもさらに正確である。これは、最後のセグメントの遅延を長くし、又は消費電力を多くすることにより実現できる。
図12に示すように、非反転積分器は、2つのゼロ交差検出器、ゼロ交差検出器1(310)、及びゼロ交差検出器2(320)を有するレベル交差検出器を具えている。図12に示すように、クロック位相φが、スイッチS11、S13、S22及びS24に利用され、別の位相φが、スイッチS12、S14、及びS21に利用される。ゼロ交差検出器1(310)及びゼロ交差検出器2(320)は、ノード100が、以下に説明するように複数の所定のレベルのうちの一つを交差する時点を検出するのに用いられる。スイッチS23は、ゼロ交差検出器2(320)の出力により制御される。ゼロ交差検出器2(320)の出力は、出力電圧VOUTのサンプルを取得する時点を判断するのに用いられる。
ゼロ交差検出器1(310)及びゼロ交差検出器2(320)の閾値は、オーバーショットを最小化するために選択される。例えば、ゼロ交差検出器1(310)の閾値は、第1のセグメント内の予想されるオーバーショットよりも僅かに少ない量だけ負になる。これは、第2のセグメントにおけるランプ下りの時間を最小化する。また、ゼロ交差検出器2(320)の閾値は、オーバーショットの影響を取り消すため、第2のセグメント内のオーバーショットの量だけ正になる。代替的に、ゼロ交差検出器1(310)の閾値は、第1のセグメント中の予想されるオーバーショットよりも負でもよい。これにより、ゼロ交差検出器2(320)は、負のランプではなく正のランプになることが可能である。
すなわち、ゼロ交差検出器1(310)は粗い検出を行うのに対し、ゼロ交差検出器2(320)は細かい検出を行う。したがって、ゼロ交差検出器2(320)の精度を高めることは有利である。
図13に示すように、非反転積分器は、2つのゼロ交差検出器、ゼロ交差検出器1(310)、及びゼロ交差検出器2(320)を有するレベル交差検出器を具えている。図13に示すように、クロック位相φはスイッチS11、S13、S22、及びS24に利用され、別の位相φはスイッチS12、S14、及びS21に利用される。ゼロ交差検出器1(310)及びゼロ交差検出器2(320)は、ノード100が、以下に説明するように複数の所定のレベルのうちの一つを交差する時点を検出するために用いられる。スイッチS23は、ゼロ交差検出器2(320)の出力により制御される。ゼロ交差検出器2(320)の出力は、出力電圧VOUTのサンプルを取得する時点を判断するのに用いられる。
双方の検出器、ゼロ交差検出器1(310)及びゼロ交差検出器2(320)は、名目上のゼロ閾値を有する。検出用の閾値は、ゼロ交差検出器1(310)及びゼロ交差検出器2(320)の入力に印加される電圧Vtr1及びVtr2により判断される。ゼロ交差検出器1(310)は粗い検出を行うのに対し、ゼロ交差検出器2(320)は細かい検出を行う。したがって、ゼロ交差検出器2(320)の精度を高めることは有利である。
前述した実施例は、セルフタイムシステムとして動作してもよいことに留意すべきである。この構成では、一定の周波数のクロック位相φ及びφを供給するよりはむしろ、クロック位相が、ゼロ交差検出器1(310)及びゼロ交差検出器2(320)の出力から得られる。図14は、セルフタイム動作を示している。
図14に示すように、位相φの端部は、最後のセグメント中の検出の出力により規定される。クロック位相φの開始は、φの端部の後に、論理的な遅延などの短い遅延により規定される。通常、短い遅延は非重複クロック位相を保証するのに必要である。クロック位相φは、同じような方法で以前の段階又は以降の段階のゼロ交差検出により決定される。
ゼロ交差検出器ベースの回路は、ゼロ交差検出器のノイズ帯域が所定のサンプリングレートにおける演算増幅器のノイズ帯域よりも低いため、所定のサンプリングレート及び信号対ノイズ比において、演算増幅器ベースの回路に比べて実質的に電力消費が少ない必要がある。ゼロ交差検出器は、アルゴリズム及びパイプライン式のアナログデジタルコンバータ、デルタシグマコンバータ、及び増幅器などの他のスイッチドキャパシタ回路で利用できる。
高い精度が要求される応用例では、装置のミスマッチによるオフセット電圧の影響は軽減すべきである。スイッチドキャパシタ回路では、オフセット取り消し技術は、しばしばオフセット電圧を減少するのに用いられる。
閉ループオフセット取り消しを有する回路の例が図15に示されている。図15に示すように、サンプリング位相の間、入力電圧VINがサンプリングキャパシタCに印加され、スイッチSが閉じる。Cでサンプリングされた電圧はVIN−VOSである。制御又は論理回路(図示せず)は、スイッチS及びSの動作を制御するのに利用される。
ゼロ交差検出器ベースの回路では、同様の閉ループオフセット取り消しの結果は、ゼロ交差検出器の第1の段階の周囲のループを閉じることにより可能である。閉ループオフセットサンプリングの間のノイズ帯域は、演算増幅器ベースの回路のノイズ帯域に相当する。閉ループオフセットのサンプリングの高いノイズ帯域は、ノイズの量を有意に追加し、ゼロ交差検出器ベースの回路の低いノイズの利点を少なくとも部分的に無効にする。
開ループオフセット取り消しが図16に示されている。図16に示すように、開ループオフセット取り消しは、電圧コンパレータとともに利用できる。開ループオフセット取り消しのタイミング図が図17に示されている。オフセットサンプリング位相TOSの間、第1の増幅器Aの入力がスイッチSを介して接地される。第2の増幅器Aの入力は、スイッチSを閉じることにより接地される。第1の増幅器Aの出力電圧は−aOSに設定され、ここで、aは増幅器Aの電圧の利得である。
設定時間定数τはRCと等しく、ここで、Rは第1の増幅器Aのテブナン(Thevenin)の出力抵抗であり、Cは寄生容量CP1及びCOSの並列の組み合わせである。次に、スイッチSが開かれ、−aOSがサンプリングされ、オフセットストレージキャパシタCOFFで保持される。通常の動作位相の間、スイッチSが、第1の増幅器Aの入力を電圧VINに接続する。第1の増幅器Aに対する実質的な入力電圧は、オフセット電圧VOSの影響によりVIN−VOSである。
第1の増幅器Aの出力電圧はa(VIN−VOS)である。第2の増幅器Aに対する入力電圧はa(VIN−VOS)−(−aOS)=aINである。したがって、第1の増幅器Aのオフセット電圧の影響が取り除かれる。
正確なオフセットの取り消しの場合、オフセットの取り消し位相TOSは、時間定数τよりも少なくとも数倍長くなければならない。これは、高いノイズに対応する第1の増幅器Aの広範な帯域を必要とする。閉ループと同様、ゼロ交差検出器内で開ループのオフセット取り消しを利用できるが、開ループのオフセットサンプリングの高いノイズ帯域は、かなりの量のノイズを追加し、ゼロ交差検出器ベースの回路のノイズの利点を少なくとも部分的に無効にする。
前述したように、ゼロ交差検出器のノイズを実質的に増加させることなくゼロ交差検出器のオフセット取り消しを提供することが望まれている。ゼロ交差検出器のオフセット取り消しの例は、異なるタイミングとCOFFの異なるキャパシタ値を有する図15に示すような同じ回路構造を用いて理解できる。ゼロ交差検出器のオフセット取り消しのタイミング図の例が図18に示されている。
図18に示すように、オフセット取り消し位相TOFFは、2つのサブ位相T及びTに分割される。位相Tの間、スイッチSが接地され、Sは未だ開いている。この位相の間の設定時間定数τは、約R0(CP1+CP2)であり、COFF>>CP2だと仮定する。CP1及びCP2双方は小さい寄生容量であるためτは短い。したがって、出力電圧VO1は即座に−aOSに設定される。
位相Tの間、スイッチSは、Sが未だ接地した状態で閉じられる。オフセットストレージキャパシタCOFFは実質的に大きく、Tの間の設定時間定数τ=RCは、Tに相当し、あるいはこれよりも長い。このような長い時間定数は、位相Tの間のノイズ帯域を減少させる。COFFでサンプリングされるノイズの帯域幅はτによって決まり、したがってノイズを低くする。
τは長いが、COFFの電圧が−aOSに達し、Tの間のCOFFの電圧が変化しないため、オフセット取り消しの精度は影響を受けない。実際には、電圧の小さな外乱は、スイッチSが容量結合により閉じるときに発生する。外乱は一定であり、入力に関連する場合にaにより低減され、したがって、多くのシステムで問題がない。
オフセット取り消しが完了すると、スイッチSがVINに接続され、スイッチSが、ゼロ交差検出器又はコンパレータのように通常の処理のために開かれている。
第2の実施例に係る別のゼロ交差検出器では、図19に示すように、2つの増幅器の段階、第1の段階の増幅器A及び第2の段階の増幅器Aを有するように示されている。第2の段階の増幅器Aは、線形増幅器又は再生式ラッチのいずれかでよい。スイッチS及びキャパシタCOFFは、サンプリングされたノイズを平均化してノイズを低減する。タイミング図が図20に示されている。
オフセットの取り消し位相TOFFの間、第1の増幅器Aの入力が、スイッチSを上側の位置にすることにより接地される。第2の増幅器Aの入力もまた、スイッチSを閉じることにより接地される。第1の増幅器Aの出力電圧が−aOSに設定される。キャパシタCOFF1は、出力がTOFFの間に正確な値に設定されるように十分に小さくされる。TOFFの端部では、スイッチSが開かれ、−aOSがサンプリングされ、キャパシタCOFF1が保持される。オフセット取り消し位相の後の通常の処理位相の間、Sが入力電圧VINにされ、Sが閉じられる。
処理の数クロック周期の後、COFFの電圧は、COFF1でサンプリングされた電圧−aOSに収束する。COFF2はCOFF1よりも長いため、サンプリングされたノイズが平均化され、(1+COFF2/COFF11/2の要素分減少する。Aに対する実際の入力電圧は、オフセット電圧VOSの影響のためVIN−VOSである。次に、Aの出力電圧は、a(VIN−VOS)である。Aに対する入力電圧は、a(VIN−VOS)−(−aOS)=aINである。したがって、第1の増幅器Aのオフセット電圧の影響は取り除かれるが、サンプリングされたノイズは実質的に低い。
オフセット取り消しの別の例が図21に示されている。明確にするために、図4に示すのと同様のゼロ交差検出器ベースの積分器が示されている。電流源Iはランプ波形を生成し、波形生成器として機能する。電流源IOFF及びキャパシタCOFFは、ゼロ交差検出器ZCD1のオフセット電圧をサンプリングし、その影響を取り消す。オフセット取り消し位相の間、1の入力INは、スイッチS13及びS14を閉じることにより接地される。スイッチSFBは、積分キャパシタCI1の充電を邪魔しないために開いたままである。スイッチSOFF2は閉じており、スイッチSOFF1は一時的に閉じられ、キャパシタCOFFを電圧VOFFに予め充電する。次に、スイッチSOFF1が開かれ、IOFFがCOFFで積分される。IOFFの値は、オフセット取り消しの間のノードINの電圧が、通常の動作中のノード電圧INが減少するのとほぼ同じレートで減少するように選択される。
ゼロ交差検出器ZCD1が、接地電位の入力INにおいて電圧Vの交差を検出すると、スイッチSOFFがOFFにされる。その直後に、電流源IOFFがOFFにされ、COFFの電圧をサンプリングする。COFFでサンプリングされた電圧は、ゼロ交差検出器ZCD1のオフセットVOSと大きさがほぼ等しく、符号が逆であることを示している。
積分器のような回路の連続的な処理の間、スイッチSOFF1がOFFにされ、スイッチSOFF2がONのままである。したがって、ZCD1における入力INの電圧は−VOSに維持され、したがって、ゼロ交差検出器ZCD1のオフセットVOSの影響が、積分処理の間に取り消しされる。制御又は論理回路(図示せず)は、様々なスイッチの操作を制御するのに用いられる。
オフセット取り消しの別の例が図22に示されている。この実施例は、2つのキャパシタ、COFF1、COFF2がオフセット電圧を蓄える以外、図21の実施例と同様である。キャパシタCOFF2はキャパシタCOFF1よりも大きい。明確にするために、図4に示すのと同様のゼロ交差検出器ベースの積分器が示されている。
電流源IOFF及びキャパシタCOFF1は、ゼロ交差検出器ZCD1のオフセット電圧をサンプリングし、その影響を無効にする。IOFFの値は、オフセット取り消しの間のノードINの電圧が、通常の動作中のノード電圧INが減少するのとほぼ同じレートで減少するように選択される。
オフセット取り消し位相の間、1の入力INは、スイッチS13及びS14を閉じることにより接地される。スイッチSFBは、積分キャパシタCI1の充電を阻害しないように開いたままである。スイッチSOFF2が閉じ、スイッチSOFF3が開かれ、スイッチSOFF1が一時的に閉じられてキャパシタCOFF1を予め電圧VOFFに充電する。次に、スイッチSOFF1が開かれ、IOFFがキャパシタCOFF1で積分される。
ゼロ交差検出器ZCD1が、接地電位の入力INで電圧Vの交差を検出すると、スイッチSOFF1がOFFになり、キャパシタCOFF1の電圧をサンプリングする。次に、電流源IOFFがOFFにされ、スイッチSOFF2及びSOFF3が閉じて、キャパシタCOFF1及びCOFF2の変化が平均化される。これは、効率的にサンプルノイズを平均化し、ノイズを低減する。キャパシタCOFF1及びCOFF2に蓄積される電圧は、ゼロ交差検出器ZCD1のオフセットVOSと大きさがほぼ等しく、符号が逆であることを示している。
積分器のような回路の連続した処理の間、スイッチSOFF1はOFFにされ、スイッチSOFF2及びSOFF3はONのままである。代替的に、スイッチSOFF1及びSOFF2をOFFにし、スイッチSOFF3をONにしてもよい。したがって、ZCD1の入力INの電圧は−VOSで維持され、ゼロ交差検出器ZCD1のオフセットVOSの影響が、積分処理の間取り消される。制御又は論理回路(図示せず)は、様々なスイッチの操作を制御するために利用されることに留意すべきである。
オフセット取り消しの別の例が図23に示されている。この実施例は、オフセットサンプリングキャパシタCOFFが入力INと直列に配置される以外は図21の実施例と同様であり、電流源IOFFは、ノードINのランプレートがオフセット取り消しと通常の処理の間でほぼ同じになるように選択される。制御又は論理回路(図示せず)は、様々なスイッチの操作を制御するのに利用されることに留意すべきである。
電流源IOFF及びキャパシタCOFF1は、ゼロ交差検出器ZCD1のオフセット電圧をサンプリングしてその影響を取り消す。IOFFの値は、オフセット取り消しの間のノードINの電圧が、通常の動作中のノード電圧INが減少するのとほぼ同じレートで減少するように選択される。
オフセット取り消し位相の間、スイッチSFBは、積分キャパシタCI1の充電を阻害しないために開いたままであり、スイッチSOFF2は閉じており、スイッチSOFF1が一時的に閉じられてキャパシタCOFFを電圧VOFFに充電する。次に、スイッチSOFF1が開かれ、IOFFがCOFFで積分される。
ゼロ交差検出器ZCD1が接地した入力INの電圧Vの交差を検出すると、スイッチSOFF2がOFFにされる。その直後に、電流源IOFFがOFFにされる。キャパシタCOFFでサンプリングされた電圧は、ゼロ交差検出器ZCD1のオフセットと大きさがほぼ等しく、符号が逆であることを示している。したがって、ゼロ交差検出器ZCD1のオフセットの影響は、連続した処理の間取り消される。
オフセット取り消しの別の例が図24に示されている。この実施例は、オフセットが第1のオフセットサンプリングキャパシタCOFF1でサンプリングされ、図22に示す実施例と同じ方法により第2のオフセットサンプリングキャパシタCOFF2により平均化される以外は、図22の実施例と処理が同じであり、電流源IOFF及びキャパシタCOFF1は、ゼロ交差検出器ZCD1のオフセット電圧をサンプリングしてその影響を取り消す。IOFFの値は、オフセット取り消しの間のノードINの電圧が、通常の動作中のノード電圧INが減少するのとほぼ同じレートで減少するように選択される。
オフセット取り消し位相の間、スイッチSFBは、積分キャパシタCI1の充電を阻害しないために開いたままであり、スイッチSOFF2は閉じており、スイッチSOFF1が一時的に閉じられてキャパシタCOFF1を電圧VOFFに充電する。次に、スイッチSOFF1が開かれ、IOFFがCOFF1で積分される。
ゼロ交差検出器ZCD1が接地した入力INの電圧Vの交差を検出すると、スイッチSOFF1がOFFにされる。その直後に、電流源IOFFがOFFにされる。キャパシタCOFF1でサンプリングされた電圧は、ゼロ交差検出器ZCD1のオフセットと大きさがほぼ等しく、符号が逆であることを示している。次に、スイッチSOFFが閉じられ、COFF1とCOFF2を並列に接続する。COFF1とCOFF2の充電が再配分され、サンプリングされたノイズを平均化する。オフセット取り消しの数回の周期の後、キャパシタCOFF1とCOFF2に蓄積される電圧は、ゼロ交差検出器ZCD1のオフセットVOSと大きさがほぼ等しく、符号が逆であることを示している。したがって、ゼロ交差検出器ZCD1のオフセットの影響は、連続した処理の間取り消される。
本発明の概念が、シングルエンドの実施例に関連して図示及び説明されているが、本発明の概念は、これらの実施例の完全に異なる構成又は完全に異なる実装に適用できる。
例えば、図24に示す実施例の完全に異なる実装が、図25に示されている。
電流源IOFFp,IOFFn及びキャパシタCOFF1p,COFF1nは、ゼロ交差検出器ZCD1のオフセット電圧を異なるようにサンプリングしてその影響を取り消す。IOFFp及びIN1nの値は、オフセット取り消しの間のノードIN1p及びIN1nの電位差が、通常の動作中のノードIN1p及びIN1nの電位差が減少するのとほぼ同じレートで減少するように選択される。
オフセット取り消し位相の間、スイッチSFBp及びSFBpは、積分キャパシタCI1p及びCI1nの充電を阻害しないために開いたままであり、スイッチSOFF2p及びSOFF2pは閉じており、スイッチSOFF1p及びSOFF1pが一時的に閉じられて、キャパシタCOFFp及びCOFFnをそれぞれ電圧VOFFp及びVOFFnに充電する。次に、スイッチSOFF1が開かれ、IOFFがCOFFで積分される。
ゼロ交差検出器ZCD1が、入力IN1P及びIN1nの電圧V2p及びV2nの差のゼロ又はレベル交差をそれぞれ検出すると、スイッチSOFF2P及びSOFF2PがOFFにされる。その直後に、電流源IOFFp及びIOFFnがOFFにされる。キャパシタCOFFpとCOFFnでサンプリングされる電位差は、ゼロ交差検出器ZCD1のオフセットと大きさがほぼ等しく、符号が逆であることを示している。したがって、ゼロ交差検出器ZCD1のオフセットの影響は、連続した処理の間取り消しされる。
本発明の概念が、ゼロ交差検出器ベースの回路に関連して図示及び説明されているが、本発明の概念はコンパレータベースの回路にも適用できる。
本発明の様々な例及び実施例が図示及び説明されているが、当業者であれば、本発明の精神及び範囲は、本明細書の特定の説明及び図面に限定されず、様々な修正や変更にまで及ぶことを利用できるであろう。
図1は、ゼロ交差検出器を示している。 図2は、スイッチドキャパシタ積分器を示している。 図3は、図2のスイッチドキャパシタ積分器のタイミング図を示している。 図4は、本発明の概念による非反転積分器を示している。 図5は、図4の非反転積分器のタイミング図を示している。 図6は、本発明の概念による電流源である波形生成器を有する非反転積分器を示している。 図7は、本発明の概念による別の非反転積分器を示している。 図8は、図7の非反転積分器のタイミング図を示している。 図9は、本発明の概念による別の非反転積分器を示している。 図10は、本発明の概念による別の非反転積分器を示している。 図11は、図10の非反転積分器のタイミング図を示している。 図12は、本発明の概念による別の非反転積分器を示している。 図13は、本発明の概念による別の非反転積分器を示している。 図14は、図13の非反転積分器のタイミング図を示している。 図15は、閉ループオフセット取り消し回路を示している。 図16は、開ループオフセット取り消し回路を示している。 図17は、図16の開ループオフセット取り消し回路のタイミング図を示している。 図18は、図16の開ループオフセット取り消し回路の別のタイミング図を示している。 図19は、別の開ループオフセット取り消し回路を示している。 図20は、図19の開ループオフセット取り消し回路の第3のタイミング図を示している。 図21は、オフセット取り消しを有するゼロ交差検出器回路を示している。 図22は、オフセット取り消しを有する別のゼロ交差検出器回路を示している。 図23は、オフセット取り消しを有する第3のゼロ交差検出器を示している。 図24は、オフセット取り消しを有する第4のゼロ交差検出器を示している。 図25は、図24の第4のゼロ交差検出器回路の完全に異なる実施例を示している。

Claims (33)

  1. 効果的なオフセット取り消しを有するコンパレータであって、
    入力端子を有する第1の増幅器と、
    前記第1の増幅器に動作可能に接続されたオフセットキャパシタと、
    前記オフセットキャパシタに動作可能に接続された第2の増幅器と、
    前記入力端子に動作可能に接続された第1のスイッチと、
    前記オフセットキャパシタと第1の所定の電圧との間に動作可能に接続された第2のスイッチと、
    前記第1及び第2のスイッチの動作を制御する制御回路とを具えており、
    前記第1のスイッチが、前記制御回路に応じて、時間周期内に前記入力端子を第2の所定の電圧に接続し、
    前記第2のスイッチが、前記制御回路に応じて、時間周期内に前記オフセットキャパシタを前記第1の所定の電圧に接続し、
    前記時間周期が、前記オフセットキャパシタに関連する時定数よりも実質的に短いことを特徴とするコンパレータ。
  2. 請求項1に記載のコンパレータにおいて、前記第1の所定の電圧が、システムの共通モードの電圧であることを特徴とするコンパレータ。
  3. 請求項1に記載のコンパレータにおいて、前記第2の所定の電圧が、システムの共通モードの電圧であることを特徴とするコンパレータ。
  4. 請求項2に記載のコンパレータにおいて、前記システムの共通モードの電圧が接地されることを特徴とするコンパレータ。
  5. 請求項3に記載のコンパレータにおいて、前記システムの共通モードの電圧が接地されることを特徴とするコンパレータ。
  6. 効果的なオフセット取り消しを有するコンパレータであって、
    入力端子を有する第1の増幅器と、
    前記第1の増幅器に動作可能に接続された第1のオフセットキャパシタと、
    前記オフセットキャパシタに動作可能に接続された第2の増幅器と、
    前記入力端子に動作可能に接続された第1のスイッチと、
    前記オフセットキャパシタと第1の所定の電圧との間に動作可能に接続された第2のスイッチと、
    前記第1及び第2のスイッチの動作を制御する制御回路と、
    前記第1のオフセットキャパシタに動作可能に接続されたノイズ平均化回路とを具えており、
    前記第1のスイッチが、前記制御回路に応じて、時間周期内に前記入力端子を第2の所定の電圧に接続し、
    前記第2のスイッチが、前記制御回路に応じて、前記時間周期内に前記オフセットキャパシタを前記第1の所定の電圧に接続することを特徴とするコンパレータ。
  7. 請求項6に記載のコンパレータにおいて、前記第1の所定の電圧が、システムの共通モードの電圧であることを特徴とするコンパレータ。
  8. 請求項6に記載のコンパレータにおいて、前記第2の所定の電圧が、システムの共通モードの電圧であることを特徴とするコンパレータ。
  9. 請求項7に記載のコンパレータにおいて、前記システムの共通モードの電圧が接地されることを特徴とするコンパレータ。
  10. 請求項8に記載のコンパレータにおいて、前記システムの共通モードの電圧が接地されることを特徴とするコンパレータ。
  11. 請求項6に記載のコンパレータにおいて、前記ノイズ平均化回路が、第2のオフセットキャパシタを具えていることを特徴とするコンパレータ。
  12. 効果的なオフセット取り消しを有するコンパレータベースの回路であって、
    入力電圧を別の電圧と比較するコンパレータと、
    前記コンパレータに動作可能に接続されたスイッチドキャパシタネットワークと、
    前記コンパレータの入力に動作可能に接続されたオフセットキャパシタと、
    前記オフセットキャパシタに動作可能に接続され、前記オフセットキャパシタを所定の電圧に充電するプリセット電源と、
    前記オフセットキャパシタに動作可能に接続され、所定の電圧波形を前記オフセットキャパシタに加える波形生成回路と、
    前記オフセットキャパシタに動作可能に接続されたサンプリングスイッチとを具えており、
    前記サンプリングスイッチが、前記コンパレータの入力の電圧が所定のレベルに交差すると前記コンパレータが判断したときにOFFになることを特徴とするコンパレータベースの回路。
  13. 請求項12に記載のコンパレータベースの回路において、前記波形生成回路が、電流源とスイッチとを具えていることを特徴とするコンパレータベースの回路。
  14. 請求項12に記載のコンパレータベースの回路において、前記所定の電圧波形がランプであることを特徴とするコンパレータベースの回路。
  15. 請求項12に記載のコンパレータベースの回路がさらに、前記第1のオフセットキャパシタに動作可能に接続されたノイズ平均化回路を具えていることを特徴とするコンパレータベースの回路。
  16. 請求項15に記載のコンパレータベースの回路において、前記ノイズ平均化回路が第2のオフセットキャパシタを具えていることを特徴とするコンパレータベースの回路。
  17. 効果的なオフセット取り消しを有するゼロ交差検出器ベースの回路であって、
    第1の入力及び第2の入力を有するゼロ交差検出器と、
    前記ゼロ交差検出器に動作可能に接続されたスイッチドキャパシタネットワークと、
    前記ゼロ交差検出器の第1の入力に動作可能に接続されたオフセットキャパシタと、
    前記オフセットキャパシタに動作可能に接続され、前記オフセットキャパシタを所定の電圧に充電するプリセット電源と、
    前記オフセットキャパシタに動作可能に接続され、所定の電圧波形を前記オフセットキャパシタに加える波形生成回路と、
    前記オフセットキャパシタに動作可能に接続されたサンプリングスイッチとを具えており、
    前記サンプリングスイッチが、前記第1の入力の電圧が接地電位と交差すると前記ゼロ交差検出器が判断したときにOFFになることを特徴とするゼロ交差検出器ベースの回路。
  18. 請求項17に記載のゼロ交差検出器ベースの回路において、前記波形生成回路が、電流源とスイッチとを具えていることを特徴とするゼロ交差検出器ベースの回路。
  19. 請求項17に記載のゼロ交差検出器ベースの回路において、前記所定の電圧波形がランプであることを特徴とするゼロ交差検出器ベースの回路。
  20. 請求項19に記載のゼロ交差検出器ベースの回路において、
    前記ランプは、前記ゼロ交差検出器の第2の入力の電圧が通常の動作中に減少するのとほぼ同じレートで、前記ゼロ交差検出器の第2の入力の電圧がオフセット取り消しの間に減少可能なレートを有することを特徴とするゼロ交差検出器ベースの回路。
  21. 請求項17に記載のゼロ交差検出器ベースの回路において、
    前記オフセットキャパシタの電圧が、前記サンプリングスイッチがOFFになった後に、前記ゼロ交差検出器のオフセット電圧と大きさがほぼ等しくなることを特徴とするゼロ交差検出器ベースの回路。
  22. 請求項17に記載のゼロ交差検出器ベースの回路がさらに、前記第1のオフセットキャパシタに動作可能に接続されたノイズ平均化回路を具えていることを特徴とするゼロ交差検出器ベースの回路。
  23. 請求項22に記載のゼロ交差検出器ベースの回路において、前記ノイズ平均化回路が第2のオフセットキャパシタを具えていることを特徴とするゼロ交差検出器ベースの回路。
  24. 効果的なオフセット取り消しを有するレベル交差検出器ベースの回路であって、
    第1の入力及び第2の入力を有するレベル交差検出器と、
    前記レベル交差検出器に動作可能に接続されたスイッチドキャパシタネットワークと、
    前記ゼロ交差検出器の第1の入力に動作可能に接続されたオフセットキャパシタと、
    前記オフセットキャパシタに動作可能に接続され、前記オフセットキャパシタを所定の電圧に充電するプリセット電源と、
    前記オフセットキャパシタに動作可能に接続され、所定の電圧波形を前記オフセットキャパシタに加える波形生成回路と、
    前記オフセットキャパシタに動作可能に接続されたサンプリングスイッチとを具えており、
    前記サンプリングスイッチが、前記第1の入力の電圧が所定のレベルと交差すると前記レベル交差検出器が判断したときにOFFになることを特徴とするレベル交差検出器ベースの回路。
  25. 請求項24に記載のレベル交差検出器ベースの回路において、前記波形生成回路が、電流源とスイッチとを具えていることを特徴とするレベル交差検出器ベースの回路。
  26. 請求項24に記載のレベル交差検出器ベースの回路において、前記所定の電圧波形がランプであることを特徴とするレベル交差検出器ベースの回路。
  27. 請求項26に記載のレベル交差検出器ベースの回路において、
    前記ランプは、前記レベル交差検出器の第2の入力の電圧が通常の動作中に減少するのとほぼ同じレートで、前記レベル交差検出器の第2の入力の電圧がオフセット取り消しの間に減少可能なレートを有することを特徴とするレベル交差検出器ベースの回路。
  28. 請求項24に記載のレベル交差検出器ベースの回路において、
    前記オフセットキャパシタの電圧が、前記サンプリングスイッチがOFFになった後に、前記レベル交差検出器のオフセット電圧と大きさがほぼ等しくなることを特徴とするレベル交差検出器ベースの回路。
  29. 請求項24に記載のレベル交差検出器ベースの回路がさらに、前記第1のオフセットキャパシタに動作可能に接続されたノイズ平均化回路を具えていることを特徴とするレベル交差検出器ベースの回路。
  30. 請求項29に記載のレベル交差検出器ベースの回路において、前記ノイズ平均化回路が第2のオフセットキャパシタを具えていることを特徴とするレベル交差検出器ベースの回路。
  31. ゼロ交差検出器ベースの回路でオフセットを効果的に取り消す方法であって、
    (a)オフセットキャパシタを所定の電圧に充電するステップと、
    (b)所定の電圧波形を前記オフセットキャパシタに加えるステップと、
    (c)ゼロ交差検出器の入力の電圧が所定のレベルと交差したかを判断するステップと、
    (d)前記ゼロ交差検出器の入力の電圧が前記所定のレベルと交差すると判断されたときに前記オフセットキャパシタで電圧を保持するステップと、
    (e)前記ゼロ交差検出器の入力の電圧が前記所定のレベルと交差すると判断されたときに、前記オフセットキャパシタで保持されている電圧を用いて前記ゼロ交差検出器のオフセットを取り消すステップと、を具えることを特徴とする方法。
  32. レベル交差検出器ベースの回路でオフセットを効果的に取り消す方法であって、
    (a)オフセットキャパシタを所定の電圧に充電するステップと、
    (b)所定の電圧波形を前記オフセットキャパシタに加えるステップと、
    (c)レベル交差検出器の入力の電圧が所定のレベルと交差したかを判断するステップと、
    (d)前記レベル交差検出器の入力の電圧が前記所定のレベルと交差すると判断されたときに前記オフセットキャパシタで電圧を保持するステップと、
    (e)前記オフセットキャパシタで保持されている電圧を用いて前記レベル交差検出器のオフセットを取り消すステップと、を具えていることを特徴とする方法。
  33. コンパレータベースの回路でオフセットを効果的に取り消す方法であって、
    (a)オフセットキャパシタを所定の電圧に充電するステップと、
    (b)所定の電圧波形を前記オフセットキャパシタに加えるステップと、
    (c)コンパレータの入力の電圧が所定のレベルと交差したかを判断するステップと、
    (d)前記コンパレータの入力の電圧が前記所定のレベルと交差すると判断されたときに前記オフセットキャパシタで電圧を保持するステップと、
    (e)前記オフセットキャパシタで保持されている電圧を用いて前記コンパレータのオフセットを取り消すステップと、を具えていることを特徴とする方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013523055A (ja) * 2010-03-22 2013-06-13 クゥアルコム・インコーポレイテッド スイッチドキャパシタ回路のためのディスクリートタイムオペレーショナルトランスコンダクタンス増幅器
KR101508158B1 (ko) 2013-07-08 2015-04-07 한국과학기술연구원 전기 자극 시스템에서의 전극 오프셋 전압의 제어

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8305131B2 (en) 2006-03-21 2012-11-06 Maxim Integrated, Inc. Passive offset and overshoot cancellation for sampled-data circuits
ATE540408T1 (de) * 2006-03-21 2012-01-15 Cambridge Analog Technologies Inc Offsetunterdrückung für probendatenschaltungen
US7936291B2 (en) * 2008-10-10 2011-05-03 Robert Bosch Gmbh System and method for removing nonlinearities and cancelling offset errors in comparator based/zero crossing based switched capacitor circuits
JP2010283713A (ja) * 2009-06-08 2010-12-16 Sanyo Electric Co Ltd オフセットキャンセル回路
US8040264B2 (en) * 2010-03-04 2011-10-18 Analog Devices, Inc. Pipeline analog to digital converter and a residue amplifier for a pipeline analog to digital converter
CN101820257B (zh) * 2010-04-30 2012-05-30 深圳市芯海科技有限公司 一种开关电容电路及模数转换器
KR101919056B1 (ko) * 2011-04-28 2018-11-15 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체 회로
US9252658B2 (en) 2011-10-14 2016-02-02 Massachusetts Institute Of Technology Level-crossing based circuit and method with offset voltage cancellation
CN104579185B (zh) * 2014-12-23 2017-10-27 灿芯半导体(上海)有限公司 高精度静噪控制电路
US10082916B2 (en) * 2015-07-08 2018-09-25 Samsung Electronics Co., Ltd. Circuit for cancelling offset capacitance of capacitive touch screen panel and device including the same
US9490795B1 (en) * 2015-08-18 2016-11-08 Cadence Design Systems, Inc. System and method for selectively coupled parasitic compensation for input referred voltage offset in electronic circuit
EP3493528B1 (en) * 2016-07-28 2021-05-26 Sony Semiconductor Solutions Corporation Image pickup element
CN108063608B (zh) * 2018-01-31 2021-04-09 上海贝岭股份有限公司 无源采样网络的高速比较器
CN111147076B (zh) * 2019-12-31 2021-10-29 清华大学 可抵消采样噪声的模数转换器
US11108404B1 (en) 2020-07-22 2021-08-31 Analog Devices, Inc. Low noise integrated circuit techniques
EP4024713A1 (en) 2021-01-04 2022-07-06 Stichting IMEC Nederland System and method for analog-to-digital signal conversion
WO2022259114A1 (en) * 2021-06-06 2022-12-15 Trieye Ltd. Electronic integration circuit having offset and collected charge reduction circuitries and associated methods
US11855651B2 (en) 2022-04-09 2023-12-26 Caelus Technologies Limited Discrete-time offset correction circuit embedded in a residue amplifier in a pipelined analog-to-digital converter (ADC)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5885998A (ja) * 1981-10-30 1983-05-23 ヒューズ・エアクラフト・カンパニー サンプルアンドホ−ルド回路およびスイツチコンデンサ積分回路およびサンプルアンドホ−ルド回路の自動ゼロ調節方法
JPH05346441A (ja) * 1991-01-31 1993-12-27 Toshiba Corp コンパレータ
JPH0983316A (ja) * 1995-09-07 1997-03-28 Sanyo Electric Co Ltd コンパレータおよびアナログ−デジタル変換回路
US5617093A (en) * 1994-09-30 1997-04-01 Imp, Inc. Switched capacitor analog circuits with low input capacitance

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3649924A (en) * 1970-03-02 1972-03-14 Gordon Eng Co Sampling amplifier
FR2138234A1 (ja) * 1971-05-19 1972-09-22 Commissariat Energie Atomique
US4553052A (en) * 1982-04-23 1985-11-12 Nec Corporation High speed comparator circuit with input-offset compensation function
DE3922068A1 (de) * 1989-07-05 1991-01-17 Thomson Brandt Gmbh Abtast- und halteglied
US5159341A (en) * 1991-03-12 1992-10-27 Analog Devices, Inc. Two phase sampling for a delta sigma modulator
US6104492A (en) * 1999-02-22 2000-08-15 Lucent Technologies Inc Optical signal monitor for multiwave optical signals
US6252454B1 (en) * 1999-09-09 2001-06-26 Cirrus Logic, Inc. Calibrated quasi-autozeroed comparator systems and methods
US6201489B1 (en) * 2000-03-21 2001-03-13 International Business Machines Corporation Method and circuit for temporal cancellation of DC offset
EP1176721B1 (en) * 2000-07-24 2004-02-04 STMicroelectronics S.r.l. Rail to rail rectifying integrator
JP4319413B2 (ja) * 2001-04-11 2009-08-26 エヌエックスピー ビー ヴィ 演算増幅器の高デューティサイクルオフセット補償
US6611163B1 (en) * 2002-03-20 2003-08-26 Texas Instruments Incorporated Switched capacitor scheme for offset compensated comparators
US6570411B1 (en) * 2002-06-17 2003-05-27 Analog Devices, Inc. Switched-capacitor structures with reduced distortion and noise and enhanced isolation
US7348824B2 (en) * 2005-03-07 2008-03-25 Cadence Design Systems, Inc. Auto-zero circuit
US7319425B2 (en) * 2005-03-21 2008-01-15 Massachusetts Institute Of Technology Comparator-based switched capacitor circuit for scaled semiconductor fabrication processes
US7221191B2 (en) * 2005-05-23 2007-05-22 Analog Devices, Inc. Signal samplers with enhanced dynamic range
JP2007074447A (ja) * 2005-09-07 2007-03-22 Fujitsu Ltd Cmosセンサ
US7541857B1 (en) * 2005-12-29 2009-06-02 Altera Corporation Comparator offset cancellation assisted by PLD resources
US8305131B2 (en) * 2006-03-21 2012-11-06 Maxim Integrated, Inc. Passive offset and overshoot cancellation for sampled-data circuits
ATE540408T1 (de) * 2006-03-21 2012-01-15 Cambridge Analog Technologies Inc Offsetunterdrückung für probendatenschaltungen
JP5191214B2 (ja) * 2006-12-21 2013-05-08 セイコーインスツル株式会社 コンパレータ回路
US7564273B2 (en) * 2007-02-06 2009-07-21 Massachusetts Institute Of Technology Low-voltage comparator-based switched-capacitor networks

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5885998A (ja) * 1981-10-30 1983-05-23 ヒューズ・エアクラフト・カンパニー サンプルアンドホ−ルド回路およびスイツチコンデンサ積分回路およびサンプルアンドホ−ルド回路の自動ゼロ調節方法
US4439693A (en) * 1981-10-30 1984-03-27 Hughes Aircraft Co. Sample and hold circuit with improved offset compensation
JPH05346441A (ja) * 1991-01-31 1993-12-27 Toshiba Corp コンパレータ
US5617093A (en) * 1994-09-30 1997-04-01 Imp, Inc. Switched capacitor analog circuits with low input capacitance
JPH0983316A (ja) * 1995-09-07 1997-03-28 Sanyo Electric Co Ltd コンパレータおよびアナログ−デジタル変換回路

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013523055A (ja) * 2010-03-22 2013-06-13 クゥアルコム・インコーポレイテッド スイッチドキャパシタ回路のためのディスクリートタイムオペレーショナルトランスコンダクタンス増幅器
KR101508158B1 (ko) 2013-07-08 2015-04-07 한국과학기술연구원 전기 자극 시스템에서의 전극 오프셋 전압의 제어

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