JP2009525493A - レーザ光ビームの焦点調節装置およびその方法 - Google Patents

レーザ光ビームの焦点調節装置およびその方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2009525493A
JP2009525493A JP2008547874A JP2008547874A JP2009525493A JP 2009525493 A JP2009525493 A JP 2009525493A JP 2008547874 A JP2008547874 A JP 2008547874A JP 2008547874 A JP2008547874 A JP 2008547874A JP 2009525493 A JP2009525493 A JP 2009525493A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light beam
focal length
focusing
laser light
path
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2008547874A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009525493A5 (ja
JP5558720B2 (ja
Inventor
コライン・ガブリエーレ
Original Assignee
データロジック・エス・ペー・アー
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by データロジック・エス・ペー・アー filed Critical データロジック・エス・ペー・アー
Publication of JP2009525493A publication Critical patent/JP2009525493A/ja
Publication of JP2009525493A5 publication Critical patent/JP2009525493A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5558720B2 publication Critical patent/JP5558720B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/28Systems for automatic generation of focusing signals

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)

Abstract

【課題】所望の焦点距離の正確で信頼性の高い自動調節が、装置自体の機械および光学部品について生じうる配置誤差および/または望ましくないずれの発生に関係なく可能にする。
【解決手段】レーザ光ビームの焦点を調節する装置1であって、光の放射経路10aに沿ってレーザ光ビーム10を放射する光源2と、前記レーザ光ビーム10を焦点Fに合焦させる手段3と、前記焦点Fの位置を調節する手段4とを備える。さらに、前記調節手段4にフィードバック作用する、焦点距離Dを検出する手段5を備える。焦点距離Dは、合焦手段3を出る光ビーム10のパラメータ特性であって、前記焦点距離Dを表すパラメータ特性を検出することにされる。このような特性パラメータは、合焦光ビーム10の波面曲率半径である。
【選択図】図1

Description

本発明は、レーザ光ビームの焦点を調節する装置およびその方法に関する。さらに詳細には、本発明は、レーザ光ビームの焦点距離を制御および自動調節する装置およびその方法に関する。
本発明はまた、このような焦点調節装置を備えるコード化情報読取器に関する。
以下の説明および添付の特許請求の範囲の全体を通して、用語「コード化情報読取器」は、物体に関する情報(物体の距離、容積、全体寸法、または識別データなど)を、物体そのものによって拡散される光信号の収集および処理を通して得ることができる任意の装置を表すのに使用される。用語「コード化情報」は、光コードに含まれるすべての識別データを表すのに用いられる。用語「光コード」は、コード化情報を保存する機能を有する任意のグラフィック表示を表すのに使用される。光コードの特定の例は一次元または2次元コードから成り、これらのコードでは、情報は、バーコード、スタックコードおよび2次元コード全般、カラーコードなどといった、明るい要素(通常は、白色の空白)によって隔てられた暗色(通常は、黒色)の所定の形状(例えば、正方形、長方形、または六角形)の要素の適切な組み合わせによってコード化されている。さらに、用語「光コード」は、より一般的には、明瞭に印刷されたキャラクタ(文字、数字など)および特別な形状(スタンプ、ロゴ、署名、指紋などといったパターン)など、情報のコード化機能を有する他のグラフィックパターンも含む。また、用語「光コード」は、可視光の場において検出できるグラフィック表示だけでなく、赤外線と紫外線との間に含まれる波長範囲において検出できるグラフィック表示も含む。
例示の目的で、以下の説明をより分かり易くするために、以下では、特にバーコード読取器(一次元コード読取器)について述べるが、当然ながら、前記内容は、例えば2次元光コード読取器(マトリクスリーダまたはエリアリーダ)などの様々な読取器にも適用できることが、当業者には理解されるであろう。
さらに、本発明の焦点調節装置を、コード化情報読取器以外の機器に適用できることが、当業者には理解されるであろう。例えば、本発明の装置を、レーザ切断/マーキング/溶接機に適用することができ、一般には、種々の距離において最適な合焦状態を達成するために、レーザ光ビームの焦点距離の制御および/または調節が必要とされ、あるいは所望される任意の機器に適用することができる。
典型的には、レーザ光ビームの焦点を調節する装置は、光放射経路に沿ったレーザ光ビーム放射源と、典型的には少なくとも1つの合焦レンズまたはミラーを有しており、レーザ光ビームを所定の焦点距離に合焦させる光合焦システムとを有している。
公知のとおり、光コード読取器の最大分解能、すなわち光コード読取器によって検出できる細部の最小寸法は、このようなビームが合焦される距離におけるビームの直径に依存する。
広範囲の用途において、光コードの位置する距離、すなわち光ビームを合焦させるべき距離は、あらかじめ決まっているわけではない。したがって、焦点距離を自動的に調節できる装置を使用する必要がある。このような装置によって、最大の分解能を達成できる領域が拡大される。このような装置は、自動焦点装置としても知られている。
従来の自動焦点装置においては、所望の焦点距離の自動調節が、光源ならびに光合焦システムまたは光合焦システムの一部分(焦点可変の光装置の場合)の相対的な機械的移動によって達成されている。
このような機械的な移動が、特別な検出手段によって検出される信号であって、読み出されるべき情報を含む支持体が位置している距離を表す信号に基づいて駆動される装置が知られている。
例えば、特許文献1および特許文献2が、反射性支持体に含まれる情報の読取器用の自動焦点装置を開示しており、望まれる焦点距離が、反射性支持体の距離を表す信号に基づいて調節される。このような距離は、反射性支持体によって反射される光ビームが側方の干渉計によって取り込まれて検出されることによって計算される。
米国特許第4,604,739号明細書 米国特許第5,546,710号明細書
特許文献3が、反射性支持体に含まれる情報の読取器用の自動焦点装置を開示しており、この装置では、望まれる焦点距離が、放射源に対する合焦レンズの位置を表す信号に基づいて調節される。
米国特許第4,641,020号明細書
特許文献4が、反射性支持体に含まれる情報の読取器用の自動焦点装置を開示しており、この装置では、望まれる焦点距離が、反射性支持体の距離を表す信号に基づいて調節される。このような距離は、支持体によって反射され、かつ光の放射経路に配置された同一合焦レンズによって再び平行光にされた、光ビームを検出することによって計算される。
米国特許第6,134,199号明細書
特許文献5が、レーザ機械加工用の自動焦点装置を開示しており、この装置では、焦点補正が、機械加工に使用されるレーザ光ビームの合焦レンズを通って被加工物の表面に生成される補助レーザ光ビームによるスポットを観察することによってなされる。
米国特許第6,621,060B1号明細書
特許文献6が、画像化装置用の自動焦点装置を開示しており、この装置では、焦点補正は、合焦レンズの表面に合焦され、かつ常に同一レンズを介してセンサによって観察される、補助光ビームによってなされる。
米国特許第6,728,171B2号明細書
上述の特許に記載された自動焦点装置のいくつかにおいては、焦点位置が、その上に焦点を維持すべき表面と焦点自体との間の相互位置の測定を通して調節されている。
上述の装置のいくつかは、情報が反射性支持体に含まれている場合にしか使用できず、このような場面が限られた種類の用途でしか生じないという欠点を有することを、本出願人は見出した。
現時点において公知の他の装置においては、焦点位置は、光合焦システムの放射源に対する相互の位置を測定することにより、あるいは、焦点可変の光装置の場合には、光学系全体に対する光合焦システムの特定の構成要素の相互位置を測定することにより、間接的に調節されている。
本出願人は、このような装置が、光合焦システムと光源との間、あるいは、焦点可変の光装置の場合には、光合焦システムの構成要素間の相対的な配置において生じうる誤差にきわめて敏感であるという欠点を有することを見出した。詳細には、このような装置において、例えば熱膨張、機械的な間隙および振動に起因して光合焦システムの機械および光学部品に存在しうる配置の誤差または望ましくない移動が、予測および/または所望される焦点距離の調節に誤差を引き起こすことを、本出願人は見出した。
言い換えると、本出願人は、上述の誤差(または、望ましくない移動)により、予測および/または所望される焦点距離ではない焦点距離に焦点が移動することを確認した。
実際、近軸近似による光学システムの記述を簡略化することによって、焦点の位置qが以下の式で与えられる。
Figure 2009525493
ここで、fは合焦に使用される光学系の焦点距離であり、pは光学系に対する光源の位置である。
したがって、焦点に関する絶対誤差Δqは以下の式で与えられる。
Figure 2009525493
ここで、Δpは光学系の配置の絶対誤差であり、Δfは光学系の焦点距離の絶対誤差であり、詳細には、焦点が変化しながら計測する光学システムにおいては、Δfはゼロではない。
上記式から、誤差ΔpおよびΔfが、焦点の誤差Δqを生じさせることが明らかである。
多くの場合、誤差ΔpおよびΔfは、それらが温度、機械的な間隙、光学、電子、または機械部品の構成パラメータの再現性の欠如といった要因に依存するため、系統的でない。したがって、焦点の実際の位置の不確定が生じ、現在の焦点調節装置においては、このような不確定により大きな直径の光ビームを使用せざるを得ず、結果として最大分解能が低下する。
さらに、本出願人は、上述の焦点調節装置において、機械および光学部品の組み立ておよび校正のための作業が、固定部品および可動部品の間に厳格な公差を確保する必要があるため、きわめて難しいことを見出した。これは、きわめて高度な構造的解決策の使用を意味し、当然の結果として、装置の最終コストおよび寸法に影響を与える。同様の問題が、合焦システムの機械的な移動に使用される装置に関しても生じる。なぜならば、このような装置は、ミリメートルまたは10分の1ミリメートルの範囲の移動を保証しなければならず、きわめて正確でなければならないためである。
特許文献7号は、レーザ光ビームのスキャンによる光コード読取器において使用される自動焦点装置を開示しており、この装置では、焦点補正は、所定の距離におけるレーザ光ビームの直径の測定によって決定されており、この測定は、前記レーザ光ビームで感光素子をスキャンし、次にスキャンの継続時間を測定することによって得られる。
米国特許第6,119,942号明細書
本出願人は、上述の装置において、感光素子をスキャンしてビーム直径を測定することにより焦点距離を直接調節することは、ビーム直径の変化が焦点距離には余り関係しないため、かなりの不正確さを伴うことを見出した。詳細には、このような変化は、焦点距離が放射点に近付くにつれてゼロになる傾向にあるが、典型的には、焦点距離が放射点に近いほどより高い合焦精度が求められる。実際、読取器により近い距離において、より高い解像度のコードを読み取る能力が典型的には求められ、すなわち高い合焦精度が重要になる。さらに、本出願人は、このような装置において、直径検出システムがスキャンシステムの下流で、スキャンの視野の周縁の位置に配置されるという事実から、焦点距離の調節を、スキャンの最中にリアルタイムで連続的に実行することができないことを見出した。直径の測定、したがって焦点距離の調節を、各スキャンについて1回しか実行することができない。したがって、このような調節システムは、コードを含む支持体が湾曲している状況、あるいは合焦の連続的かつ精密な調節が必要となりうる他の状況において、焦点距離を正確で信頼性の高い方法で変化させることができない。
したがって、本出願人は、小型、低価格、高速、高分解能および高精度でなければならない自動焦点装置であって、かつ光合焦システムの機械および光学部品間の配置の誤差もしくは望ましくない移動、ならびに/または光合焦システムの焦点距離の測定における誤差に影響されにくい自動焦点装置を提供することにより、正確で信頼性の高い、さらに必要であれば連続的でリアルタイムでの焦点距離の自動調節を達成する、課題を検討した。
したがって、本発明は、その第1構成において、レーザ光ビームの焦点を調節する装置に関し、この装置は、
−光の放射経路に沿ったレーザ光ビームの放射源と、
−焦点距離に位置する焦点に前記レーザ光ビームを合焦する第1の合焦手段と、
−この装置に対する前記焦点の位置を調節する手段と、
−前記調節手段へのフィードバックに作用する前記焦点距離を検出する手段であって、前記第1の合焦手段を出た光ビームの前記焦点距離を表すパラメータ特性を検出する手段とを備えた装置において、
前記特性パラメータが、前記第1の合焦手段を出た光ビームの波面曲率半径であることを特徴とする。
有利な実施形態では、本発明の装置においては、焦点距離の所望の値への自動調節が、実際の焦点距離を表すパラメータの直接的な検出にのみ基づいており、詳細には、第1の合焦手段を出るビームの波面曲率半径の直接的な検出によっている。このような直接的な検出は、焦点の位置を調節する手段に対してフィードバック作用し、焦点の位置を変化させる。新たに移動された焦点距離の検出および焦点の位置を調節する手段へのフィードバックが、所望の焦点距離が達成されるまで続けられる。したがって、機械および光学部品について生じうる配置の誤差および/または望ましくない移動(実際の焦点距離を、予測される焦点距離とは異なるものにしてしまう可能性がある)が、適切に検出され、結果として所望の焦点距離の正確で信頼性の高い調節が可能になる。
これは有利な実施形態によって、製造の観点からは、単純、低コスト、かつ小型の問題解決手段を利用できる可能性をたらすと同時に、達成可能な最大の分解能を向上させる。例えば、合焦手段を、随意にはプラスチック材料の、単一の非球面レンズで構成してもよい。このようなレンズの位置は、単純なボイスコイルによって調節してもよい。あるいは、調節手段を、圧電アクチュエータ、あるいはレンズが自由端に配置されるバイモルフ圧電ベンダー(bender)で製作してもよい。また、合焦手段を、液体レンズまたは変形可能な表面鏡など、可変焦点レンズを使用して製作してもよい。
有利には、本発明によれば、実際の焦点距離の検出は、合焦ビームの光学特性の分析にのみ基づいており、詳細には合焦手段を出るビームの波面曲率半径の分析にのみ基づいている。実際、焦点から遠い領域においては、合焦ビームの波面が、焦点距離に等しい曲率半径を有する球状のキャップから構成され、ここで波面とは、ビーム放射の電磁界が同位相を示す点の空間内の幾何学的な場所を意味する。このように、有利には、合焦手段を出た光ビームの波面曲率半径を検出することで、得ようとする実際の焦点距離の直接的な測定が可能である。
本発明の装置の好ましい実施形態においては、上述の検出手段が、前記焦点距離の値を計算する。
好ましくは、検出手段は、
−所定の厚さおよび屈折率を有し、前記光の放射経路内の前記第1の合焦手段の下流に配置され、かつ前記光の放射経路に対して傾斜した反射光経路に沿って伝搬する反射光ビームを生成するガラスシートであって、前記反射光ビームは部分的に重なり合って干渉領域を定める一対の光ビームによって画定されている、ガラスシートと、
−前記光の反射経路に配置され、前記干渉領域のパラメータ特性を表す信号を生成する光検出器手段と、
−前記信号を処理して前記曲率半径を表す信号を生成する手段と
を備える。
これにより、曲率半径の検出は、従来の任意の干渉計、すなわち単一光ビームから発生する2つの生成された光ビームの間の干渉を生成できる任意の機器と、従来からの光検出器およびプロセッサ手段とを使用することによって得られる。有利な実施形態では、光検出器およびプロセッサ手段が、前記干渉領域を表す電気信号であって、合焦光ビームの前記波面曲率半径を表す電気信号を提供し、すなわち実際の焦点距離の測定を可能にする。
好ましくは、ガラスシートは、光の放射経路に対して45°の角度をなして配置される。なぜならば、この角度において、焦点距離を表す信号を検出する手段の全体の機械的寸法がより小さくなり、反射された光ビームの良好な重なり合いが存在するためである。実際、シートを45°よりも小さい角度で配置することは、全体としてより大きな機械的寸法になることを意味し、シートを45°よりも大きい角度で配置することは、反射された光ビームの重なり合いが小さくなることを意味する。
好ましくは、干渉領域の前記パラメータ特性は、前記光反射経路に位置する観察面上の前記干渉領域によって画定された複数の干渉縞の空間周波数である。実際、反射光ビームの伝搬の方向に対して直角に観察面上に生成される干渉パターンが、複数の平行な干渉縞から構成され、観察面に入射する波面の曲率半径に依存する周波数の正弦関数強度プロファイルを有することが知られている。このような曲率半径は、合焦ビームの波面曲率半径と相互に関連し、すなわち実際の焦点距離と相互に関連する。
本発明の装置の好ましい実施形態においては、光検出器手段が、干渉縞が連続する方向つまり干渉縞が並ぶ方向に沿って観察面上に配置された感光素子のアレイを備える。例えば、光検出器手段は、CCDセンサを備える。この場合は、有利には、干渉縞系の周波数の決定は、各感光素子から発生する信号を干渉縞が連続する方向に沿って順次測定することによって得られる。本発明の以後の説明より明らかになるとおり、時系列の測定の周波数の測定値は、感光素子アレイのスキャン速度を介して、複数の干渉縞の空間周波数に直接的に関係する。したがって、感光素子アレイのスキャン速度が既知であり、上述の時間周波数が検出されると、これにより、複数の干渉縞の空間周波数を計算して、合焦ビームの波面曲率半径を求めることができる。
代替実施形態においては、観察面が、前記干渉領域の少なくとも一部分の通過を可能にする少なくとも1つのスリットを備え、光検出器手段が、前記光の反射経路内の前記少なくとも1つのスリットの下流に配置された少なくとも1つの感光素子を備える。
この場合、好ましくは、前記少なくとも1つのスリットは、干渉縞が連続する方向と短辺の方向が同一の矩形である。さらに好ましくは、前記少なくとも1つのスリットの前記干渉縞が連続する方向に沿った寸法は、所定の範囲の干渉縞の周波数については、干渉領域の前記少なくとも一部分の前記反射光ビームの光強度の積分関数が単調であるような寸法である。
詳細には、本発明の装置の第1の代替実施形態においては、上記観察面は単一のスリットを備え、光検出器手段は単一の感光素子を備える。この場合、好ましくは、前記単一スリットは、前記干渉縞が連続する方向に対して直角の前記干渉領域の第1対称軸に平行な一対の長辺を有しており、前記干渉縞が連続する方向に平行な前記干渉領域の第2の対称軸に対して前記観察面の両側に広がっている。より好ましくは、前記一対の長辺のうちの1つの長辺が、前記第1対称軸に重なっている。具体的には、このような実施形態においては、スリットは、好ましくは、上述の干渉領域の第1および第2の対称軸によって観察面上に定められる基準系の第1および第4象限に配置され、1つの長辺が前記第1の対称軸に重なっている。あるいは、スリットは第2および第3象限に配置されてもよい。
本発明の装置の第2の随意の実施形態においては、観察面は2つのスリットを備え、光検出器手段は前記2つのスリットのそれぞれに1つずつ対応した、2つの感光素子を備える。この場合、好ましくは、2つのスリットは、干渉縞が連続する方向に対して直角の前記干渉領域の第1の対称軸に対しては観察面の両側にそれぞれ形成され、さらに好ましくは、第1の対称軸に一致する長辺をそれぞれ有する。これら長辺は、干渉縞が連続する方向に平行な干渉領域の第2の対称軸に対して両側にまたがっている。具体的には、このような実施形態においては、一方のスリットは、好ましくは上記干渉領域の第1および第2の対称軸によって観察面上に定められる基準系の第2象限(または、第1象限)に配置され、他方のスリットは、第4象限(または、第3象限)に配置される。
あるいは、2つのスリットは、前記第1の対称軸に対して対称に配置され、かつ前記第1の対称軸から所定の距離だけ離れている。具体的には、このような実施形態においては、一方のスリットが、上記干渉領域の第1および第2の対称軸によって観察面上に定められる基準系の第1および第4象限に配置され、他方のスリットが、第2および第3象限に配置される。
本発明の装置の別の実施形態においては、使用される感光素子の種類および数に関係なく、前記光の反射経路に沿って、前記シートと観察面との間に回転ポリゴンミラーが設けられ、さらに前記シートと前記回転ポリゴンミラーとの間に、少なくとも1つの偏向ミラーが随意に設けられる。有利には、干渉縞系の空間周波数が、この場合には、本発明の以後の説明から明らかになるとおり、反射光ビームがスリット上を移動する直線速度(このような直線速度も同様に回転ポリゴンミラーの回転速度と相互に関連する)によって、前記少なくとも1つのスリットを通過する干渉領域の光強度の変調周波数に直接関係する。
回転ポリゴンミラーは、有利な実施形態では、屈折ビームに作用して、このような屈折ビームを読み取り物体の光コード上で掃引するポリゴンミラーを兼ねていてもよい。
本発明の装置の好ましい実施形態においては、前記ガラスシートは、反射材料からなる対向する平行な平面を備える。
別の実施形態においては、ガラスシートは、反射材料からなる背向する2つの平面を備え、この平面は、光ビームの重なり合いを可能にするように相互に角度θを形成している。この場合、干渉縞系は、平行な平面を備えるシートの場合の干渉縞が連続する方向に対して、角度αをなす方向に向けられる。有利には、本発明の以後の説明から明らかになるとおり、このような角度αの検出は、合焦手段を出るビームの波面曲率半径に直接的に関連する。
本発明の装置の別の好ましい実施形態においては、前記検出手段は、
−前記第1の合焦手段の下流に配置され、前記光の放射経路に対して傾斜しており、これにより、合焦ビームの周縁部分を前記放射源の位置とは異なる位置に後方に反射するミラー状の表面と、
−後方に反射された前記レーザ光ビームの入射位置を検知して、入射位置を表す信号を生成する検出器手段であって、前記放射源に一体に結合されている検出器手段と、
−前記信号を処理して、前記焦点距離を表す信号を生成する手段と
を備える。
有利には、この場合、本発明の以後の説明から明らかになるとおり、後方に伝搬されたビームが位置センサに衝突する位置の変化を検出することによって、焦点距離を検出することができる。
本発明は、その第2構成において、レーザ光ビームの焦点を調節する装置に関し、この装置は、
−光の放射経路に沿ったレーザ光ビームの放射源と、
−焦点距離に位置する焦点に前記レーザ光ビームを合焦する第1の合焦手段と、
−この装置に対して前記焦点の位置を調節する手段と、
−前記調節手段へのフィードバックに作用する前記焦点距離を検出する手段とを備え、
前記検出手段は、
−所定の厚さおよび屈折率であり、前記光の放射経路内の前記第1の合焦手段の下流に配置され、前記光の放射経路に対して傾斜した光の反射経路に沿って伝搬する反射光ビームを生成するシートと、
−前記光の反射経路に配置され、前記反射光ビームを所定の距離に合焦させる第2の合焦手段と、
−前記光の反射経路内の前記第2の合焦手段の下流に配置され、前記反射光ビームの中央部のみを通過させる前記反射光ビームと同心の開口を有するダイアフラムであって、前記開口の直径が、前記第1の合焦手段が前記放射源によって放射された光ビームを最大または最小の焦点距離に合焦させるときの、前記ダイアフラムにおける前記反射光ビームの直径に等しいダイアフラムと、
−前記光の反射経路内の前記ダイアフラムの下流に配置され、焦点距離が増加または減少するときに、前記反射光ビームの前記中央部の光強度の変化を表す信号を生成する光検出器手段と、
−前記信号を処理して、前記焦点距離を表す信号を生成する手段とを備える。
有利には、上述の焦点調節装置においては、焦点距離を、本発明の以後の説明から明らかになるとおり、焦点距離が増加または減少するときの、ダイアフラムの円形開口を通過する光ビームの光強度の変化を検出することによって検出できる。
好ましくは、上記処理手段は前記焦点距離の値を計算する。
好ましくは、前記シートは背向する平行な2つの平面を有しており、さらに好ましくは、これらの背向面の一方が、反射防止コーティングで処理されている。
本発明は、その第3構成において、レーザ光ビームの焦点を調節する方法に関し、この方法は、
−レーザ光ビームを光の放射経路に沿って放射することと、
−前記光ビームを焦点距離に位置する焦点に合焦させることと、
−前記焦点距離を検出することと、
−検出された焦点距離に基づいて前記焦点の位置を調節することと
の各ステップを含み、
焦点距離を検出するステップは、合焦光ビームのパラメータ特性であって、前記焦点距離を表すパラメータ特性を検出するステップを含み、前記特性パラメータは前記合焦光ビームの波面曲率半径である。
有利には、このような方法は、上述の種類の焦点調節装置によって実行可能であり、したがって、前記装置に関して説明したすべての有利な特徴を有している。
好ましくは、焦点距離を検出し、検出された焦点距離に基づいて焦点の位置を調節するステップは、所望の焦点距離に達するまで反復的に繰り返される。
本発明の方法の好ましい実施形態においては、焦点距離を検出するステップは、前記焦点距離の値を計算するステップを含む。
好ましくは、前記焦点距離を検出するステップは、
−前記光の放射経路に対して傾斜した光の反射経路に沿って伝搬する反射光ビームであって、部分的に重なり合って干渉領域を定める一対の光ビームを含む反射光ビームを生成することと、
−前記反射ビームを検出して、前記干渉領域のパラメータ特性を表す信号を生成することと、
−前記信号を処理して、前記曲率半径を表す信号を生成することと、
の各ステップを含む。
好ましくは、上述の処理ステップは、前記光の反射経路に位置する観察面において前記干渉領域によって画定される複数の干渉縞の空間周波数を測定するステップを含む。
好ましくは、空間周波数を測定する上述のステップは、
−前記干渉領域の少なくとも一部分を選択し、前記干渉領域の少なくとも一部分の光強度を表す信号を生成することと、
−前記干渉領域の少なくとも一部分の前記反射光ビームの光強度の積分を計算することと、
の各ステップを含む。
好ましくは、前記干渉領域の前記少なくとも一部分は、干渉縞が連続する方向に短辺が向いている矩形部分である。より好ましくは、前記干渉領域の前記少なくとも一部分の、前記干渉縞が連続する方向に沿った寸法は、所定の範囲の干渉縞の周波数について、干渉領域の前記少なくとも一部分の前記反射光ビームの光強度の積分関数が単調関数であるような寸法である。
本発明の方法の随意の実施形態においては、焦点距離を検出するステップは、
−前記合焦光ビームの周縁部分を、前記光の放射経路に対して傾斜した光の経路に沿って後方に戻すことと、
−後方に戻されるレーザ光ビームの前記周縁部分を検出手段で検出し、後方に戻された前記周縁部分の前記検出手段への衝突の位置を表す信号を生成することと、
−前記信号を処理して前記焦点距離を表す信号を生成することと
の各ステップを含む。
本発明は、その第4構成において、レーザ光ビームの焦点を調節する方法に関し、この方法は、
−レーザ光ビームを光の放射経路に沿って放射することと、
−前記光ビームを焦点距離に位置する焦点に合焦させることと、
−前記焦点距離を検出することと、
−検出された焦点距離に基づいて前記焦点の位置を調節することと
の各ステップを含み、
焦点距離を検出するステップは、
−前記光の放射経路に対して傾斜した光の反射経路に沿って伝搬する反射光ビームを生成することと、
−前記反射光ビームを所定の距離に合焦させることと、
−前記反射光ビームと同心の円形開口を有するダイアフラムであって、前記円形開口の直径が、放射光ビームが最大または最小の焦点距離に合焦するときの前記反射光ビームの前記ダイアフラムにおける直径に等しいダイアフラムによって、前記反射光ビームの中央部を選択することと、
−焦点距離が減少または増加するときに、前記反射光ビームの中央部を検出して、前記反射光ビームの前記中央部の光強度の変化を表す信号を生成することと、
−前記信号を処理して、前記焦点距離を表す信号を生成することと
の各ステップを含む。
本発明の方法の好ましい実施形態においては、焦点距離を検出するステップは、前記焦点距離の値を計算するステップを含む。
本発明は、その第5構成において、上述の種類の焦点調節装置を備えるコード化情報読取器に関する。
このような読取器は、本発明の焦点調節装置に関して上に述べた有利な特徴のすべてを有する。
本発明の装置および方法のさらなる特徴および利点は、添付の図面を参照してなされる本発明のいくつかの好ましい実施形態についての以下の詳細な説明から、さらに明確になるであろう。
図1において、参照符号1は、本発明によるレーザ光ビームの焦点を調節する装置を示す。詳細には、装置1は、自動焦点装置であり、すなわちレーザ光ビームの望ましい焦点距離を制御および自動調節できる装置である。
好ましくは、装置1は、コード化情報読取器において使用されるものであり、さらに好ましくは、バーコード読取器において使用されるものである。
装置1は、光放射経路10aに沿ってレーザ光ビーム10を放射する光源2と、レーザ光ビームを合焦させる手段3とを有しており、手段3は、装置1に適切に設けられる焦点距離を検出する手段5(後述)に対して所定の焦点距離Dに位置する焦点Fに、レーザ光ビームを合焦させる。
レーザ光ビームを放射する光源2は、従来の形式の光源であってもよい。したがって、本明細書においては詳述しない。
合焦手段3も、従来の形式の合焦手段である。したがって、本明細書においては詳述しない。しかし、本発明によれば、このような合焦手段が、従来の自動焦点装置において典型的に使用される合焦手段よりも単純で安価な形式の合焦手段であってもよい。例えば、合焦手段3は、随意にはプラスチック材料からなる単一の非球面レンズで構成できる。また、合焦手段3は、液体レンズまたは変形可能な表面鏡など、可変焦点レンズを使用して製作してもよい。
合焦手段3(あるいは、焦点可変光装置の場合には、その装置の構成部品の一部)は、移動手段4に動作可能に結合されている。このような移動手段は、焦点Fの焦点距離Dを調節するために、放射源2に対する合焦手段3(あるいは、焦点可変光装置の場合には、その装置の構成部品の一部)の動きを制御する。
移動手段4もまた、従来の形式の移動手段であり、したがって、本明細書においては詳述しない。しかし、本発明によれば、このような移動手段4が、従来の自動焦点装置において典型的に使用される移動手段よりも単純で安価な形式の移動手段であってもよい。この理由は、本発明の装置においては、従来技術の装置と異なり移動の精度があまり重要でないためである。
例えば、移動手段4は、単純なボイスコイルまたは圧電アクチュエータからなるものであってもよい。あるいは、移動手段4は、レンズが自由端に配置されるバイモルフ圧電ベンダーで製作されてもよい。
さらに、本発明の焦点調節装置1は、焦点距離Dを直接検出する手段(参照符号5で示されている)を備える。このような手段5は、焦点距離を検出し、検出した距離を表す信号を生成し、随意にこのような距離の値を計算する。
図1に示されるとおり、検出手段5は移動手段4に対してフィードバック作用して、光源2に対する合焦手段3の位置を調節することにより、焦点Fの焦点距離Dを実際に測定された値から別の値に変化させる。
好ましくは、実際の焦点距離Dの検出およびその後の合焦手段3の位置の調節(移動手段4によって制御される)が、所望の焦点距離が検出されるまで繰り返し実行される。
本発明によれば、合焦手段3を出る光ビームのパラメータ特性であって、合焦手段3が光ビーム10を合焦する焦点距離Dを表すパラメータ特性を、検出手段5が検出する。このような検出は、光の放射経路10aに配置された検出手段であって、合焦手段3を出る光ビームについて検出されるパラメータ特性を表す信号を生成する適切な検出手段と、この信号を処理して実際の焦点距離Dを表す信号を生成し、さらに随意にその数値を計算する手段とを使用して実行される。検出および処理の手段は、本発明の以下の説明で詳述する。
本発明によれば、検出手段5によって検出される特性パラメータは、合焦手段3を出る光ビーム10の波面曲率半径である。実際、焦点Fから遠い領域、すなわち合焦手段3のすぐ下流の領域においては、合焦された光ビーム10の波面は、焦点距離Dに等しい曲率半径Rを有する球状のキャップから構成される。
したがって、合焦手段3のすぐ下流の領域における光ビーム10の波面曲率半径Rの検出が、実際の焦点距離Dの直接測定を可能にする。
例えば図2および3で明らかなとおり、この場合は、平行な2つの平面(それぞれ参照符号20aおよび20bで示されている)を有し、所定の厚さおよび屈折率を有し、合焦手段3の下流の光の放射経路10aに位置するシート20を、検出手段5が備える。詳細には、シート20は、合焦手段3が光ビーム10を合焦する焦点距離Dに比べ、極めて短い合焦手段3からの距離に位置している。
シート20は、光の放射経路10aに対して好ましくは45°に等しい所定の角度αだけ傾斜している。このようなシート20は、光干渉計として機能する。したがって、光の放射経路10aにほぼ平行な光の経路11aに沿って伝搬する屈折光ビーム11と、相互に平行であって光の放射経路10aに対して角度2αだけ傾斜している各光経路(図3および4において、参照符号12a、13aで示されている)に沿って伝搬する一対の反射光ビーム(参照符号12および13で示されている)が生成される(詳細には、図3を参照)。
ビーム12および13は、相互に同等の光強度を有し、かつシート20から発生し、光ビーム13から生じてシート20において始まる二次屈折の連鎖によって生成される二次屈折ビームの光の強度よりも大きな光強度を有することが、実験的に確認されている。したがって、二次屈折ビームの存在を無視することができる。
シート20、放射源2、および合焦手段3は、シート20の厚さおよび光源2によって放射される光ビーム10の直径が、合焦手段3によって操作される焦点距離Dに比べて極めて小さくなるように選択される。この状況において、光ビーム12および13は、部分的に重なり合う。この結果、光ビーム12および13の重なる領域に一致する中央部に干渉領域15を呈する反射ビーム14が生成される(図3および4を参照)。
干渉領域15は、観察面P上に、方向xに沿って相互に続く複数の干渉縞を画定する。
観察面Pにおいて、光ビーム12および13の波面は、曲率半径Rを示し、このような半径は、観察面Pのシート20からの距離lだけ、合焦光ビーム10の波面曲率半径Rよりも小さい(図3を参照)。同様に、光ビーム13の波面曲率半径Rは、シート20内の光ビーム13の追加の経路Tだけ、光ビーム12の波面曲率半径Rよりも小さい。シート20の屈折の角度がrであり、シート20の厚さがhならば、このような追加の経路は、T=2h/cos(r)に等しい。hが焦点距離Dよりもはるかに小さくなるように選択されるため、量Tを無視することができる。したがって、観察面Pにおける光ビーム12および13の2つの波面曲率半径Rは、等しいと考えることができる。
図4は、光ビーム12および13の部分的な重なり合いによって画定される干渉領域15、ならびに観察面P上への光ビーム12および13の投影を、詳細に示している。光の経路12aおよび13aが、距離sだけ離間している。直交座標の軸x−yからなる基準系が、干渉領域15の中心を原点として平面P上に定義され、軸xは干渉縞が次々に発生する方向に平行であり、軸yは干渉縞そのものと平行に干渉領域15の中心を通って延び、軸zは光経路12aおよび13aの伝搬の方向に平行であるが、伝搬方向と反対の方向に向いている。光ビーム12および13の間の位相差が、軸zに沿って測定されるこのようなビーム12および13の波面の間の距離によって、良好な近似で与えられる。
図5は、例えば、焦点距離Dが変化するときの観察面P上の干渉領域15の光の分布を示す。干渉縞は、明瞭に視認することができる。図示された状態は、厚さ1mmの平行な平面を有し、658nmの波長における屈折率がn=1.8であるシートを使用する場合を示しており、前記シートは光の放射経路に対して45°傾斜し、放射源によって放射される光ビームは2mmの直径を有する。目盛は、mmで表されており、2つの屈折光ビーム間の距離sは、0.604mmに等しい。
半径R=R−1の2つの球状のキャップから成る、観察面P上の光ビーム12および13の波面の式は、光ビーム12および13の波面のそれぞれについて以下の式で与えられる。
Figure 2009525493
および
Figure 2009525493
条件R>>s(sは、光の経路12aおよび13aの方向xに沿った距離)が当てはまるため、これらの波面は以下の式で近似できる。
Figure 2009525493
および
Figure 2009525493
したがって、2つの波面の間の位相差は、以下の式で与えられる。
Figure 2009525493
したがって、観察面P上に定義された基準系x−yにおいて、光ビーム12および13の波面の間の位相差は、良好な近似では、軸yにおいてゼロである。
観察面Pにおいて生成され、軸yに平行な複数の干渉縞から成る干渉パターンの強度プロファイルは、
Figure 2009525493
に等しく、ここで、Aは、それぞれの光ビーム12および13の強度である。したがって、プロファイルは正弦関数であり、ビーム12および13の波面曲率半径Rに依存して決まる周波数を有する。
したがって、観察面P上でx方向に並んだ平行な干渉縞系の空間周波数を測定することで、合焦光ビーム10の波面曲率半径、すなわち実際の焦点距離Dの直接測定が可能になる。
このため、本発明の装置1の好ましい実施形態においては、検出手段5が、光の反射経路においてシート20の下流に、観察面Pの方向xに沿った干渉縞系の空間周波数を表す信号を生成する適切な光検出器手段30を備える。さらに、上述の信号を処理して実際の焦点距離Dを表す信号を生成する適切な処理手段(図示されていないが、例えばマイクロプロセッサまたはマイクロコントローラ)が設けられている。随意に、このような処理手段が、実際の焦点距離Dを表す数値を生成してもよい。
図2および3に示される特に好ましい実施形態においては、光検出器手段30が、詳細には、観察面P上で方向xに沿って整列された感光素子のアレイ(全体が参照符号31で示される)を備える。このような感光素子は、例えば、CCDセンサの一部である。方向xに沿った干渉縞系の空間周波数の測定は、この場合は、それぞれの感光素子31から発生する信号を方向xに沿って順次に測定することによって得られる。実際に、測定値の時系の周波数の検出が、感光素子31のアレイのスキャン速度を介して、干渉縞系の空間周波数に直接関連付けられる。実際、干渉縞系の空間周波数は、以下の式で与えられる。
Figure 2009525493
感光素子31のアレイが、方向xに沿ってpに等しい一定のピッチを有しており、このような感光素子31のアレイのスキャン速度が、S(ピクセル/秒)に等しい場合、感光素子31のアレイの順次の読み取りから得られる信号の時間周波数は、以下の式となる。
Figure 2009525493
時間周波数が検出されると、処理手段が、検出された時間周波数に比例する電気信号(使用される処理手段に応じて、電流または電圧であってもよい)を生成する。このような信号は、要求および/または所望される焦点距離に相当する基準値と比較される。基準値を合焦ビームの波面曲率半径Rに、すなわち焦点距離に関連付ける関数が、装置1の校正工程においてあらかじめ決定される。このような関数は、使用される調節手段(例えば、ボイスコイル型の可動コイルを備えるグループ、圧電アクチュエータなどから構成される)の種類に依存する。基準値との比較に基づき、所望の焦点距離と実際の焦点距離との間の差を表す信号が生成され、この信号が、必要に応じて、焦点距離を調節する手段へのフィードバックに使用される。
また、処理手段が、検出された実際の焦点距離Dの数値(作業者によって読み取ることができる)を生成してもよい。
図6は、本発明の装置1の代替実施形態を示している。このような実施形態は、この実施形態においては、光検出器手段が、感光素子31のアレイの代わりに、観察面Pの下流に配置され、干渉領域15の異なる部分を検出する一対のフォトダイオード(参照符号32および33によって示されている)を備える点においてのみ、上述の実施形態と異なる。
この場合、観察面Pは、矩形状の一対のスリット34、35を有するスクリーン100から構成される。フォトダイオード32および33がそれぞれ、各スリット34、35に配置されている。スリット34、35が、干渉領域15の2つの異なる部分の通過を可能にしている。このような部分が、それぞれ、フォトダイオード32、33によって検出される。
図7は、観察面Pへのビーム12および13の投影を詳細に示している。フォトダイオード32および33の前面にそれぞれ配置されたスリット34および35を見ることができる。
この場合、方向xに沿った干渉縞系の空間周波数の測定は、2つのスリット34および35における光強度の分布の積分の間の差δを計算することによって得られる。実際の2つのスリットの好ましい配置は図7に示された配置であって、スリット34および35が軸xおよび軸yの両方に関して、原点を中心に反対側に位置している。詳細には、各スリットの長辺が、軸yに平行ではあるが、軸xを中心として対称であり、短辺が、軸xに平行ではあるが、軸yを中心として対称である。具体的には、このような実施形態においては、スリット34が、観察面P上に定義された基準系x−yの第4象限に位置し、スリット35が第2象限に位置する。
方向xにおけるスリット34および35の寸法Lは、干渉領域15のスリットの部分における光強度の積分の差の関数が、所定の干渉縞周波数範囲において単調であるように選択される。
スリット34および35における光の分布の積分の計算においては、干渉領域15の中央の点に原点を有する基準系x−yを選択することにより、変数xのみを考慮するだけで十分となる。なぜなら、yへの依存性が、乗算定数によって与えられるからである。
x方向のスリット幅がLである場合、観察面P上に形成される干渉パターンの強度プロファイルの関数の両端0およびLの間の積分は、以下の式によって与えられる。
Figure 2009525493
両端−Lおよび0によって定義される同じ積分は、以下の式のとおりである。
Figure 2009525493
したがって、このような積分の間の差は、以下の式のとおりである。
Figure 2009525493
焦点距離の範囲(すなわち、曲率半径RminおよびRmaxの範囲)が定義されると、δ(L、Rmin)が最初の極大に達する値よりも積分寸法Lが小さい場合に限り、関数δ(L)は単調である。このような条件が満足されるとき、フォトダイオード32および33によって生成される信号の差が、焦点距離Dに比例する。
本出願人は、厚さ1mmの平行な平面を有し、658nmの波長における屈折率がn=1.8であるシートを、光の放射経路に対して45°傾斜して使用し、必要とされる焦点範囲が800〜1600mmである場合、スリットの幅Lが、1.02mm未満でなければならず、一方、焦点範囲が500〜1600mmである場合、幅Lが0.81mm未満でなければならず、焦点範囲が200〜1600mmである場合、幅Lが0.52mm未満でなければならないことを見出した。
上述の差δが計算されると、処理手段が、このような差に比例する信号(詳細には、使用される処理手段に応じた電流または電圧)を生成する。このような信号は、要求および/または所望される焦点距離に相当する基準値と比較される。先の実施形態と同様に、基準値を波面曲率半径、すなわち焦点距離に関連付ける関数が、装置1の校正の工程においてあらかじめ決定される。このような関数は、使用される移動手段の種類に依存する。
基準値との比較に基づき、所望の焦点距離と実際の焦点距離との間の差を表す信号が生成され、この信号が、必要に応じて焦点距離を調節する手段へのフィードバックに使用される。
また、処理手段が、検出された実際の焦点距離Dの数値(作業者によって読み取ることができる)を生成してもよい。
図8に示された代替の実施形態においては、2つのスリット34および35が、軸yに対して対称に広がっており、このy軸から所定の距離dだけ離間している。具体的には、このような実施形態においては、スリット34は基準系x−yの第1および第4象限に位置するのに対して、スリット35は第2および第3象限に位置する。これ以外については、図6の実施形態に関する説明がすべて当てはまる。しかし、この代替実施形態は、2つのスリット34および35が軸yに隣接していないために積分の面積がより小さく、先の実施形態よりも有利さが劣る。実際、干渉縞周波数の変化が等しければ、関数δ(L)のより大きな変化、したがってより高感度、すなわち移動の調節における高精度は、図7の構成に付随する。
図9は、別の随意の実施形態を示しており、検出手段が単一フォトダイオード36を備え、単一のスリット37がスクリーン100に設けられている点においてのみ、図6の実施形態と異なる。
図10は、観察面Pへのビーム12および13の投影を詳細に示している。フォトダイオード36の前面に配置されたスリット37を見ることができる。
この場合、方向xに沿った干渉縞系の空間周波数の測定は、スリット37における光強度分布の積分を計算することによって得られる。実際には、スリット37の好ましい配置は図10に示された配置であって、スリット37の一方の長辺が軸yに重なり、スリットは軸xを挟んで観察面Pの両側に広がっている。具体的には、このような実施形態においては、スリット37は、観察面P上に定義された基準系x−yの第1および第4象限に広がっている。ただし、第2および第3象限にも広がってもよい。x方向のスリット37の寸法Lは、干渉領域15のスリット37の部分の積分関数が、所定の範囲の干渉縞周波数については単調であるように選択される。
上述の積分が計算されると、処理手段が、この積分に比例する信号を生成する。先の実施形態と同様に、このような信号が、要求および/または所望される焦点距離に相当する基準値と比較される。基準値を波面曲率半径、すなわち焦点距離に関連付ける関数は、装置1の校正工程においてあらかじめ決定され、および使用される移動手段の種類に依存する。
基準値との比較に基づき、所望の焦点距離と実際の焦点距離との間の差を表す信号が生成され、このような信号が、必要であれば焦点距離を調節する手段へのフィードバックのために使用される。
また、処理手段が、検出された実際の焦点距離Dの数値(作業者によって読み取ることができる)を生成してもよい。
代替の解決手段(図示せず)においては、2つの長辺が軸yに平行であるが、どちらの長辺も軸yに一致しない1つのだけの矩形スリットが使用される。図9の実施形態に関してなされた説明がすべて、この解決手段にも当てはまる。
図11は、本発明の装置1の随意の別の実施形態を示している。この実施形態は、シート20と観察面Pとの間の光の反射経路に、従来からの回転ポリゴンミラー40が設けられている点においてのみ、上述のすべての実施形態と異なる。
図11は、図9に関して上述した実施形態と同様に、光検出器手段30がフォトダイオード36を備え、観察面Pが対応するスリット37を有するスクリーン100を備える特定の実施形態を示している。
図11の実施形態においては、干渉領域15がスリット37を通過している。このような通過が、干渉領域15の光強度の変調を決定する。スリット37上で光ビーム12および13が移動する直線速度をvとすると、干渉領域15のスリット37を横切る部分の変調周波数は、以下の式で与えられる。
Figure 2009525493
ここで、fは、方向xに沿った干渉縞系の空間周波数である。
変調周波数fが検出されると、処理手段が空間周波数を計算し、この周波数に比例した信号を生成する。上述の実施形態と同様に、このような信号は、要求および/または所望される焦点距離に相当する基準値と比較される。
基準値との比較に基づき、所望の焦点距離と実際の焦点距離との間の差を表す信号が生成され、このような信号が、必要に応じて焦点距離を調節する手段へのフィードバックに使用される。
また、処理手段が、検出された実際の焦点距離Dの数値(作業者によって読み取ることができる)を生成してもよい。
上述の実施形態はすべて、焦点距離の連続的な検出を可能にし、したがってこのような距離のリアルタイムの調節を可能にできるという利点を有している。これは、焦点距離を検出する手段が、レーザ光ビームのスキャン手段の上流に位置しており、すなわちこれらが相互に完全に独立であるという事実により可能である。
図12は、本発明の装置1の別の代替実施形態を示している。このような実施形態は、回転ポリゴンミラー40が、読み取られる光コードを掃引するように意図された、屈折光ビーム11をスキャンミラーでもある点においてのみ、図11の実施形態と異なる。このような実施形態においては、シート20とポリゴンミラー40との間の光の反射経路に、偏向ミラー41が設けられている。これ以外については、図11に示された実施形態に関してなされたすべての説明が当てはまる。
随意には、フォトダイオード36の代わりに光ガイド(光ファイバなど)を配置し、この光ガイドにより、光強度変調を光コードによって拡散された光を検出するのに使用されるのと同じフォトダイオードに伝達することができる。この場合、光ガイドにより伝達される強度変調の検出が、光コードによって拡散された光の検出と時間的に異なるように、ミラー41とスリット37は配置されなければならない。
この実施形態は、焦点距離の検出および光コードの情報コンテンツの検出の両方に同一のフォトダイオードを使用するため、特に有利である。
図13は、本発明の装置1の別の実施形態の場合における、観察面P上の干渉領域15の光の分布を示している。この実施形態は、シート20が、平行な平面を有する代わりに、光ビームの重なり合いを可能にするように互いに角度θをなす2つの平面を備える点においてのみ、他の実施形態と異なる。干渉領域15が、軸xに対して所定の角度αだけ傾斜した方向mに沿って相互に続く平行な干渉縞の系(system)を平面P上に形成していることを、見ることができる。
図示された特定の例においては、1mmの厚さおよび0.1°の角度θを有するSchott BK7ガラスから構成されるシートを使用し、焦点距離(すなわち、合焦光ビームの波面曲率半径R)を変化させて、いくつかの測定を実施した。曲率半径が変化すると、干渉縞の傾斜の角度αが変化するのを見ることができる。
実際、このような干渉縞系の空間周波数は、以下の関係によって角度αと相互に関係する。
Figure 2009525493
ここで、sは、観察面Pにおける光の経路12aと13aの差である。
したがって、干渉縞系の回転の角度αの測定は、合焦ビーム10の波面曲率半径に直接関係する。角度αを測定する方法は、例えば、米国特許第4,604,739号および米国特許第5,446,710号に記載されている。これらの特許において、光学支持体によって反射された波面曲率半径の検出は、四分区間フォトダイオード、すなわち横並びに配置された4つの感光素子なら構成されるフォトダイオードによって実行される。干渉縞の回転により発生する4つの感光素子の信号の差が、干渉縞の回転の角度、すなわち合焦光ビームの波面曲率半径と相関する。随意には、角度αの測定を、他の種類のセンサによって、あるいはフォトダイオードの前面にスリットを適切に配置することによって、実行することができる。詳細には、図13に示されるとおり、スリットを、軸xに平行に配置することができる。
本発明の装置1は、上述の種々の実施形態において、レーザ光ビームの焦点を調節する方法を実行可能であり、この方法は、
−レーザ光ビーム10を光の放射経路10aに沿って放射することと、
−光ビーム10を焦点距離Dに位置する焦点Fに合焦させることと、
−実際の焦点距離Dを検出することと、
−検出された現在の焦点距離Dに基づいて上記焦点Fの位置を調節することと
の各ステップを含み、
焦点距離を検出するステップは、前記合焦ビームのパラメータ特性であって、前記焦点距離を表すパラメータ特性を検出するステップを含んでおり、前記特性パラメータは前記合焦ビームの波面曲率半径である。
焦点距離Dを検出するステップ、および検出された焦点距離Dに基づいて焦点Fの位置を調節するステップは、所望の焦点距離に達するまで、反復的に繰り返される。
焦点距離Dを検出するステップは、このような距離の実際の値を計算するステップを含むことができる。
焦点距離Dを検出するステップは、詳細には、
−光の放射経路10aに対して傾斜した光の反射経路に沿って伝搬する反射ビーム14であって、部分的に重なり合って干渉領域15を画定する一対の光ビーム12および13を含む反射ビーム14を生成することと、
−前記干渉領域15のパラメータ特性を表す信号を生成するために、反射ビーム14を検出することと、
−上記信号を処理して、実際の焦点距離Dを表す信号を生成することと
の各ステップを含む。
上記処理ステップは、詳細には、光の反射経路に位置する観察面Pにおいて干渉領域15によって画定される複数の干渉縞の空間周波数を測定するステップを含んでおり、前記干渉縞は、縞が連続する方向に沿って相互に続いている。
前記複数の干渉縞の空間周波数を測定するステップは、詳細には、
−干渉領域15の少なくとも一部分を選択し、前記干渉領域15の少なくとも一部分の光強度を表す信号を生成することと、
−所定の範囲の空間周波数について、前記干渉領域の少なくとも一部分の光強度の積分を計算することと
の各ステップを含む。
図14に示される本発明の装置1の別の実施形態においては、検出手段5が、光の放射経路10aに沿って合焦手段3の下流に配置された開口ダイアフラム220に結合されたミラー状の表面200を備える。このようなミラー状の表面200は、合焦光ビーム10の周縁部分205を放射源2の位置とは異なる位置に、同じ合焦手段3を通して後方に戻すように、光の放射経路10aに対して傾けられている。光ビーム10から除去される前記周縁部分205は、いずれにしてもビームの用途に合わせた適当な直径を与えるために必要とされる開口ダイアフラム220によって遮られるため、光ビーム10の特質を変化させることはない。
さらに、検出手段5は、光ビーム10の放射源2に一体に結合され、後方に戻される周縁部分205の入射の位置を感知して、このような入射の位置の変化を表す信号を生成する光センサ210を備える。例えば、光センサ210は、従来からのPSDであってもよい。あるいは、センサはCCDのような光素子のアレイから構成されてもよい。
ミラー状の表面200によって後方に戻された光ビームの周縁部分205の入射の位置は、ミラー状の表面200の光の放射経路10aに対する傾斜が等しいならば、合焦レーザ光ビームの曲率半径に依存し、すなわち実際の焦点距離Dに依存して決まる。ミラー状の表面200が傾斜していない場合、後方に戻されるビーム部分205は、焦点に共役な点である、光源2に戻ると考えられる。しかし、ミラー状の表面200の傾斜により、後方に戻されるビーム部分205は、光源2から離れた位置に移動する。所定の傾斜が設定されると、このようなビーム部分205の光センサ210への衝突の位置を検出することで、実際の焦点距離の測定が可能になる。
適切な処理手段が、光センサ210によって生成された信号を処理し、後方に戻された周縁部分205の入射の位置に比例した信号を生成する。このような信号が、要求および/または所望される焦点距離に相当する基準値と比較される。先の実施形態と同様に、基準値を波面曲率半径(光センサ210への周縁部分205の入射の位置による)に関連付け、すなわち焦点距離に関連付ける関数が、装置1の校正の工程においてあらかじめ決定される。このような関数は、使用される移動手段の種類に依存する。
基準値との比較に基づき、所望の焦点距離と実際の焦点距離との間の差を表す信号が生成され、この信号が、必要に応じて焦点距離を調節する手段へのフィードバックに使用される。
また、処理手段が、検出された実際の焦点距離Dの数値(作業者によって読み取ることができる)を生成してもよい。
この実施形態もまた、焦点距離の連続的な検出を可能にし、したがってこのような焦点距離のリアルタイムでの調節を可能にできる利点を有する。
本発明の装置1は、図14の実施形態において、レーザ光ビームの焦点を調節する方法の実行を可能にし、この方法は、
−レーザ光ビーム10を光の放射経路10aに沿って放射することと、
−光ビーム10を焦点距離Dに位置する焦点Fに合焦させることと、
−実際の焦点距離Dを検出することと、
−検出された焦点距離Dに基づいて上記焦点Fの位置を調節することと、
の各ステップを含み、
焦点距離Dを検出するステップは、
−合焦光ビームの周縁部分205を、光の放射経路10aに対して傾斜した光の経路に沿って後方に戻すことと、
−後方に戻された周縁部分205を位置センサ210で検出し、後方に戻された前記周縁部分205の位置センサ210への衝突の位置を表す信号を生成することと、
−前記信号を処理して実際の焦点距離Dを表す信号を生成することと、
の各ステップを含む。
焦点距離Dを検出するステップ、および検出された焦点距離Dに基づいて焦点Fの位置を調節するステップは、所望の焦点距離に達するまで、反復的に繰り返される。
実際の焦点距離Dを検出するステップは、このような距離の現在の値を計算するステップを含むことができる。
図15は、上述の放射源2および合焦手段3の他に、所定の厚さおよび屈折率を有し、平行な平面を有するシート50を備える焦点調節装置1を示している。前記平行な平面の一方が、光の放射経路に対して傾斜した各光反射経路に沿って伝搬する単一の反射ビーム111を生成するように処理されている。詳細には、面50aを、反射防止コーティングで処理してもよく、あるいは面50bを、部分反射コーティングで処理してもよく、あるいはこれら両方を処理してもよい。
反射された光の経路内に、反射ビーム111を合焦させる手段60が設けられており、このような手段60は、反射ビーム111を所定の距離に合焦させる。反射された光の経路内で、合焦手段60の下流に、反射光ビーム111の中央部のみを通過させるように、この光ビームと同心の開口80を有するダイアフラム70が設けられている。開口80は、合焦手段3が放射源2によって放射された光ビーム10を最大または最小の焦点距離D(すなわち、必要とされる2つの合焦端DminおよびDmaxの一方に相当する焦点距離)に合焦させる動作状態において測定される、ダイアフラム70における反射光ビーム111の直径に等しい直径を有している。
反射された光の経路内の、ダイアフラム70の下流に、フォトダイオード90が設けられている。このようなフォトダイオード90は、焦点距離Dとの二方向唯一性の相関信号を生成し、詳細には、このような信号は、焦点距離Dが減少または増加するときの反射光ビーム111の中央部の光強度の変化を表している。実際、このような焦点距離が増加または減少するとき、反射光ビーム111が、手段60によってそれまでの動作状態とは異なる距離に合焦され、その結果、ダイアフラム70における反射光ビーム111の直径が大きくなり、したがって、このような光ビームのうちの開口80を通過する部分が少なくなる。
適切な処理手段が、フォトダイオード90によって生成された信号を処理し、反射光ビーム111の中央部の光強度の変化に比例した信号を生成する。このような信号は、信号の複数の値と対応する複数の焦点距離との間の既知の関係によって生成される。このような関係は、校正の工程の際にあらかじめ決定される。
次に、このような信号が、必要に応じて焦点距離を調節する手段へのフィードバックに使用される。
この実施形態は、焦点距離の連続的な検出を可能にし、すなわちこのような距離のリアルタイムでの調節を可能にできるという利点を有している。これは、焦点距離を検出する手段が、レーザ光ビームのスキャン手段の上流に位置しており、したがってこれらが相互に完全に独立であるという事実により可能である。
本発明の装置1は、図15の実施形態において、レーザ光ビームの焦点を調節する方法の実行を可能にし、この方法は、
−レーザ光ビーム10を光の放射経路10aに沿って放射することと、
−光ビーム10を焦点距離Dに位置する焦点Fに合焦させることと、
−実際の焦点距離Dを検出することと、
−検出された現在の焦点距離Dに基づいて上記焦点Fの位置を調節することと、
の各ステップを含み、
焦点距離Dを検出するステップは、
−前記光の放射経路(10a)に対して傾斜した反射光経路に沿って伝搬する反射光ビーム(111)を生成することと、
−前記反射光ビーム(111)を所定の距離に合焦させることと、
−前記反射光ビーム(111)に同心の円形開口(80)であって、放射光ビーム(10)が最大または最小の焦点距離(D)に合焦されているときの前記反射光ビーム(111)の直径に等しい直径を有する円形開口(80)を有するダイアフラム(70)によって、前記反射光ビーム(111)の中央部を選択することと、
−焦点距離(D)が減少または増加するときに、前記反射光ビーム(111)の中央部を検出して、前記反射光ビーム(111)の中央部の光強度の変化を表す信号を生成することと、
−前記信号を処理して、前記焦点距離(D)を表す信号を生成することと、
の各ステップを含む。
焦点距離Dを検出するステップ、および検出された焦点距離Dに基づいて焦点Fの位置を調節するステップは、所望の焦点距離に達するまで、反復的に繰り返される。
実際の焦点距離Dを検出するステップは、このような距離の現在の値を計算するステップを含むことができる。
本発明の装置1は、上述の種々の実施形態において、有利には、所望の焦点距離の正確かつ信頼性の高い自動調節(さらには、必要に応じて連続的でリアルタイム)を、装置自体の機械および光学部品について生じうる配置の誤差および/または望ましくない移動、ならびに/あるいは光合焦システムの焦点距離の決定における誤差の発生に関係なく可能にする。
本発明による焦点調節装置の概略図である。 本発明の装置の第1の実施形態の一部分を表す概略図である。 図2の装置のいくつかの構成部品の概略図である。 図3の一構成部品から出る光ビームおよびその観察面への投影を表す概略図である。 種々の動作状態における、図3の一構成部品からの光ビームの中央部によって観察面上に生成される光学的効果を示す図である。 本発明の装置の第2の実施形態の一部分を表す概略図である。 図6の装置の一構成部品の概略図である。 図6の装置において図7の構成部品の代替として使用できる一構成部品の概略図である。 本発明の装置の第3の実施形態の一部分を表す概略図である。 図9の装置の一構成部品の概略図である。 本発明の装置の第4の実施形態の一部分を表す概略図である。 本発明の装置の第5の実施形態の一部分を表す概略図である。 種々の動作状態における、図3の構成部品の1つの変形例の光ビームの中央部によって観察面上に生成される光学的効果を示す図である。 本発明の装置の第6の実施形態の一部分を表す概略図である。 本発明による別の焦点調節装置を表す概略図である。
符号の説明
1 レーザ光ビームの焦点調節装置
2 放射源
3 合焦手段
4 位置調節手段
5 焦点距離検出手段
10 レーザ光ビーム
D 焦点距離
F 焦点

Claims (35)

  1. 光の放射経路(10a)に沿ってレーザ光ビーム(10)を放射する放射源(2)と、
    焦点距離(D)に位置する焦点(F)に前記レーザ光ビーム(10)を合焦する第1の合焦手段(3)と、
    この装置(1)に対する前記焦点(F)の位置を調節する手段(4)と、
    前記調節手段(4)へのフィードバックに作用する前記焦点距離(D)を検出する手段(5)であって、前記第1の合焦手段(3)を出た光ビームの前記焦点距離(D)を表すパラメータ特性を検出する手段(5)とを備えたレーザ光ビームの焦点を調節する装置(1)において、
    前記特性パラメータは、前記第1の合焦手段(3)を出た光ビーム(10)の波面曲率半径であることを特徴とする、レーザ光ビームの焦点調節装置(1)。
  2. 請求項1において、前記検出手段(5)が前記焦点距離(D)の値を計算する、レーザ光ビームの焦点調節装置(1)。
  3. 請求項1または2において、前記検出手段(5)は、
    所定の厚さおよび屈折率を有し、前記光の放射経路(10a)の前記第1の合焦手段(3)の下流に配置され、前記光の放射経路(10a)に対して傾斜した反射光経路に沿って伝搬する反射光ビーム(14)を生成するガラスシート(20)であって、前記反射光ビーム(14)は部分的に重なり合って干渉領域を定める一対の光ビームによって画定されている、ガラスシート(20)と、
    前記反射光経路に配置され、前記干渉領域(15)のパラメータ特性を表す信号を生成する光検出器手段(30)と、
    前記曲率半径を表す信号を生成するように前記信号を処理する手段とを備えたレーザ光ビームの焦点調節装置(1)。
  4. 請求項3において、前記干渉領域(15)の前記パラメータ特性は、前記反射光経路に位置する観察面(P)上における前記干渉領域(15)によって画定された複数の干渉縞の空間周波数である、レーザ光ビームの焦点調節装置(1)。
  5. 請求項4において、前記光検出器手段(30)は、干渉縞が連続する方向(x)に沿って前記観察面(P)上に配置された感光素子(31)のアレイを備えた、レーザ光ビームの焦点調節装置(1)。
  6. 請求項4において、前記干渉領域(15)の少なくとも一部分の通過を可能にする少なくとも1つのスリット(34、35、37)を前記観察面(P)が備え、前記少なくとも1つのスリット(34、35、37)の下流に配置された少なくとも1つの感光素子(32、33、36)を前記光検出器手段(30)が備えた、レーザ光ビームの焦点調節装置(1)。
  7. 請求項6において、前記少なくとも1つのスリット(34、35、37)は、干渉縞が連続する方向(x)に短辺が沿うように方向付けられた矩形である、レーザ光ビームの焦点調節装置(1)。
  8. 請求項7において、前記少なくとも1つのスリット(34、35、37)の前記干渉縞が連続する方向(x)に沿った寸法は、前記干渉縞の所定の周波数範囲について、干渉領域(15)の前記少なくとも一部分における前記反射光ビーム(14)の光強度の積分関数が単調関数であるような寸法である、レーザ光ビームの焦点調節装置(1)。
  9. 請求項6から8のいずれか一項において、前記観察面(P)は単一のスリット(37)を備え、前記光検出器手段(30)は単一の感光素子(36)を備えた、レーザ光ビームの焦点調節装置(1)。
  10. 請求項7または8に従属するときの請求項9において、前記単一のスリット(37)は、前記干渉縞が連続する方向(x)に対して直角である前記干渉領域(15)の第1の対称軸(y)に平行な一対の長辺を有し、前記単一のスリット(37)は、さらに、前記干渉縞が連続する方向(x)に平行である干渉領域(15)の前記第2の対称軸(x)を中心として、前記観察面(P)の両側にまたがっている、レーザ光ビームの焦点調節装置(1)。
  11. 請求項10において、前記一対の長辺のうちの1つの長辺が、前記第1の対称軸(y)に重なっている、レーザ光ビームの焦点調節装置(1)。
  12. 請求項6から8のいずれか一項において、前記観察面(P)は2つのスリット(34、35)を備え、前記光検出器手段(30)は、前記2つのスリット(34、35)のそれぞれに1つずつ対応した、2つの感光素子(32、33)を備えた、レーザ光ビームの焦点調節装置(1)。
  13. 請求項7または8に従属するときの請求項12において、前記2つのスリット(34、35)は、前記干渉縞が連続する方向(x)に対して直角である前記干渉領域(15)の第1の対称軸(y)を中心として、前記観察面(P)の両側にまたがっている、レーザ光ビームの焦点調節装置(1)。
  14. 請求項13において、前記2つのスリット(34、35)は、前記第1の対称軸(y)に一致する長辺を有し、前記干渉縞が連続する方向(x)に平行な前記干渉領域(15)の第2の対称軸(x)を中心として、両側にまたがっている、レーザ光ビームの焦点調節装置(1)。
  15. 請求項13において、前記2つのスリット(34、35)は、前記干渉縞が連続する方向(x)に平行な前記干渉領域(15)の第2の対称軸(x)を中心として、前記観察面(P)の両側に、前記第1の対称軸(y)に対して対称にまたがっており、所定の距離だけ前記第1の対称軸(y)から離間している、レーザ光ビームの焦点調節装置(1)。
  16. 請求項4から15のいずれか一項において、さらに、
    前記シート(20)と前記観察面(P)の間の前記反射光経路に配置された回転ポリゴンミラー(40)を備えた、レーザ光ビームの焦点調節装置(1)。
  17. 請求項16において、さらに、
    前記シート(20)と前記回転ポリゴンミラー(40)の間の前記反射光経路内に配置された少なくとも1つの偏向ミラー(41)を備え、
    前記回転ポリゴンミラー(40)は、前記シート(20)によって生成された屈折光ビームにも作用する、レーザ光ビームの焦点調節装置(1)。
  18. 請求項3から17のいずれか一項において、前記シート(20)が、反射材料からなる背向する平行な平面(20a、20b)を備えた、レーザ光ビームの焦点調節装置(1)。
  19. 請求項3から17のいずれか一項において、前記シート(20)が、互いに角度θをなし、反射材料からなる背向する平面(20a、20b)を備えた、レーザ光ビームの焦点調節装置(1)。
  20. 請求項1または2において、前記検出手段(5)は、
    前記第1の合焦手段(3)の下流に配置され、合焦光ビーム(10)の周縁部分(205)を前記放射源の位置とは異なる位置に戻すように、前記光の放射経路(10a)に対して傾斜しているミラー状の表面(200)と、
    前記戻される合焦光ビーム(10)の前記周縁部分(205)の入射位置を感知し、この入射位置を表す信号を生成する検出器手段(210)であって、前記放射源(2)に一体に結合された検出器手段(210)と、
    前記焦点距離(D)を表す信号を生成するように、前記信号を処理する手段とを備えたレーザ光ビームの焦点調節装置(1)。
  21. レーザ光ビームを合焦する装置(1)であって、
    光の放射経路(10a)に沿ってレーザ光ビーム(10)を放射する放射源(2)と、
    焦点距離(D)に位置する焦点(F)に前記レーザ光ビーム(10)を合焦する第1の合焦手段(3)と、
    この装置(1)に対する前記焦点(F)の位置を調節する手段(4)と、
    前記調節手段(4)へのフィードバックに作用する前記焦点距離(D)を検出する手段(5)であって、
    所定の厚さおよび屈折率を有し、前記光の放射経路(10a)の前記第1の合焦手段(3)の下流に配置され、前記光の放射経路(10a)に対して傾斜した反射光経路に沿って伝搬する反射光ビーム(111)を生成するシート(50)と、
    前記反射光ビーム(111)を所定の距離において合焦させるように、前記反射光経路に配置された第2の合焦手段(60)と、
    前記第2の合焦手段(60)の前記反射光経路の下流に配置され、前記反射光ビーム(111)の中央部のみを通過させる前記反射光ビーム(111)と同心の開口(80)を有するダイアフラム(70)であって、前記開口(80)の直径が、前記第1の合焦手段(3)が前記放射源(2)によって放射された光ビーム(10)を最大または最小の焦点距離(D)に合焦させるときの、前記ダイアフラム(70)における前記反射光ビーム(111)の直径に等しいダイアフラム(70)と、
    前記ダイアフラム(70)の前記光の反射経路内の下流に配置され、焦点距離(D)が増加または減少するときに、前記反射光ビーム(111)の前記中央部の光強度の変化を表す信号を生成する光検出器手段(90)と、
    前記焦点距離(D)を表す信号を生成するように、前記信号を処理する手段とを備えた、レーザ光ビームの焦点調節装置(1)。
  22. 請求項21において、前記処理手段が前記焦点距離(D)の値を計算する、レーザ光ビームの焦点調節装置(1)。
  23. 請求項21または22において、前記シート(50)は背向する平行な平面を有しており、前記背向する平面の一方が反射防止コーティングで処理されている、レーザ光ビームの焦点調節装置(1)。
  24. レーザ光ビーム(10)を光の放射経路(10a)に沿って放射する工程と、
    前記光ビーム(10)を焦点距離(D)に位置する焦点(F)に合焦させる工程と、
    前記焦点距離(D)を検出する工程と、
    検出された焦点距離(D)に基づいて前記焦点(F)の位置を調節する工程とを備え、
    前記焦点距離(D)を検出する工程は、前記焦点距離(D)を表す、合焦光ビーム(10)のパラメータ特性を検出する工程を含み、前記特性パラメータは前記合焦光ビーム(10)の波面曲率半径である、レーザ光ビームの焦点調節方法。
  25. 請求項24において、前記焦点距離(D)を検出する工程、および前記検出された焦点距離(D)に基づいて焦点(F)の位置を調節する工程は、所望の焦点距離(D)に達するまで反復的に繰り返される、レーザ光ビームの焦点調節方法。
  26. 請求項24または25において、前記焦点距離(D)を検出する工程は、この焦点距離(D)の値を計算する工程を含む、レーザ光ビームの焦点調節方法。
  27. 請求項24から26のいずれか一項において、前記焦点距離(D)を検出する工程は、
    前記光の放射経路(10a)に対して傾斜した光の反射経路に沿って伝搬する反射光ビーム(14)であって、部分的に重なり合って干渉領域(15)を定める一対の光ビーム(12、13)を含む反射光ビーム(11)を生成する工程と、
    −前記干渉領域(15)のパラメータ特性を表す信号を生成するように、前記反射ビーム(14)を検出する工程と、
    −前記曲率半径を表す信号を生成するように、前記信号を処理する工程とを備えたレーザ光ビームの焦点調節方法。
  28. 請求項27において、前記処理工程は、前記光の反射経路に位置する観察面(P)において前記干渉領域(15)によって画定される複数の干渉縞の空間周波数を測定する工程を含む、レーザ光ビームの焦点調節方法。
  29. 請求項28において、前記複数の干渉縞の空間周波数を測定する前記工程は、
    前記干渉領域(15)の少なくとも一部分の光強度を表す信号を生成するように、前記干渉領域(15)の少なくとも一部分を選択する工程と、
    前記干渉領域(15)の少なくとも一部分の光強度の積分を計算する工程とを備えた、レーザ光ビームの焦点調節方法。
  30. 請求項29において、前記干渉領域(15)の前記少なくとも一部分は、干渉縞が連続する方向(x)に短辺が沿うように方向付けられた矩形である、レーザ光ビームの焦点調節方法。
  31. 請求項30において、前記干渉領域(15)の前記少なくとも一部分の、前記干渉縞が連続する方向(x)に沿った寸法は、所定の範囲の干渉縞の周波数について、干渉領域(15)の前記少なくとも一部分の光強度の積分関数が単調関数であるような寸法である、レーザ光ビームの焦点調節方法。
  32. 請求項24から26のいずれか一項において、前記焦点距離(D)を検出する工程は、
    前記合焦光ビーム(10)の周縁部分(205)を、前記光の放射経路(10a)に対して傾斜した光の経路に沿って戻す工程と、
    位置を表す信号を生成するように、前記戻されるレーザ光ビームの前記周縁部分(205)を検出手段(210)で検出する工程であって、前記戻された前記合焦光ビーム(10)の前記周縁部分(205)は前記検出手段(210)に作用する、検出工程と、
    −前記焦点距離(D)を表す信号を生成するように、前記信号を処理する工程とを備えた、レーザ光ビームの焦点調節方法。
  33. レーザ光ビーム(10)を光の放射経路(10a)に沿って放射する工程と、
    前記光ビーム(10)を焦点距離(D)に位置する焦点(F)に合焦させる工程と、
    前記焦点距離(D)を検出する工程と、
    検出された焦点距離(D)に基づいて前記焦点(F)の位置を調節する工程とを備え、
    前記焦点距離(D)を検出する工程は、
    前記光の放射経路(10a)に対して傾斜した光の反射経路に沿って伝搬する反射光ビーム(111)を生成する工程と、
    前記反射光ビーム(111)を所定の距離に合焦させる工程と、
    前記反射光ビーム(111)と同心の円形開口(80)を有するダイアフラム(70)であって、前記円形開口(80)の直径が、放射光ビーム(10)が最大または最小の焦点距離(D)に合焦するときの前記反射光ビーム(111)の前記ダイアフラム(70)における直径に等しいダイアフラム(70)によって、前記反射光ビーム(111)の中央部を選択する工程と、
    前記反射光ビーム(111)の前記中央部の光強度の変化を表す信号を生成するように、焦点距離(D)が減少または増加するときに、前記反射光ビーム(111)の中央部を検出する工程と、
    前記焦点距離(D)を表す信号を生成するように、前記信号を処理する工程とを有する、レーザ光ビームの焦点調節方法。
  34. 請求項33において、前記焦点距離(D)を検出する工程が、この焦点距離(D)の値を計算する工程を含む、レーザ光ビームの焦点調節方法。
  35. 請求項1から23のいずれか一項に記載の焦点調節装置(1)を備えたコード化情報読取器。
JP2008547874A 2005-12-30 2006-12-18 レーザ光ビームの焦点調節装置およびその方法 Active JP5558720B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP05425953.6A EP1804100B1 (en) 2005-12-30 2005-12-30 Device and method for focusing a laser light beam
EP05425953.6 2005-12-30
PCT/EP2006/012169 WO2007076926A1 (en) 2005-12-30 2006-12-18 A device and a method for focusing a laser light beam

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2009525493A true JP2009525493A (ja) 2009-07-09
JP2009525493A5 JP2009525493A5 (ja) 2009-12-17
JP5558720B2 JP5558720B2 (ja) 2014-07-23

Family

ID=36602699

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008547874A Active JP5558720B2 (ja) 2005-12-30 2006-12-18 レーザ光ビームの焦点調節装置およびその方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US7593114B2 (ja)
EP (1) EP1804100B1 (ja)
JP (1) JP5558720B2 (ja)
CN (1) CN101351734B (ja)
WO (1) WO2007076926A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018159704A (ja) * 2017-03-22 2018-10-11 株式会社ミツトヨ 高速で周期的に合焦位置が変調される可変焦点距離レンズを含む撮像システムと共に用いられる変調監視システム

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011504247A (ja) * 2007-11-08 2011-02-03 株式会社オプトエレクトロニクス オートフォーカス付き光学的コード走査装置
WO2009148456A1 (en) * 2008-06-06 2009-12-10 Optoelectronics Co., Ltd. Autofocus control of an optical instrument
GB0816308D0 (en) * 2008-09-05 2008-10-15 Mtt Technologies Ltd Optical module
CN102231189B (zh) * 2011-05-12 2016-04-13 天地融科技股份有限公司 一种图像采集装置
CN102196181B (zh) * 2011-05-13 2013-11-13 天地融科技股份有限公司 一种图像采集装置
KR102038533B1 (ko) * 2012-06-14 2019-10-31 한국전자통신연구원 레이저 레이더 시스템 및 목표물 영상 획득 방법
DE102013215442A1 (de) * 2013-08-06 2015-02-12 Robert Bosch Gmbh Vorrichtung zur Materialbearbeitung mit einem Laserstrahl
GB201316815D0 (en) * 2013-09-23 2013-11-06 Renishaw Plc Additive manufacturing apparatus and method
DE102015215840B4 (de) 2015-08-19 2017-03-23 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Multiaperturabbildungsvorrichtung, Abbildungssystem und Verfahren zum Bereitstellen einer Multiaperturabbildungsvorrichtung
WO2017075277A1 (en) 2015-10-30 2017-05-04 Seurat Technologies, Inc. Part manipulation using printed manipulation points
EP3824259A4 (en) 2018-07-20 2022-03-30 Ophir-Spiricon, LLC METHOD AND APPARATUS FOR FOCUS CORRECTION OF MULTI-IMAGE LASER BEAM QUALITY MEASUREMENTS
CN111722243B (zh) * 2020-06-28 2024-05-28 上海兰宝传感科技股份有限公司 基于激光三角测量系统低温漂输出的温度补偿测距方法

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6017660A (ja) * 1983-07-12 1985-01-29 Matsushita Electric Ind Co Ltd 給湯器
JPS60219639A (ja) * 1984-04-16 1985-11-02 インタ−ナシヨナル・ビジネス・マシ−ンズ・コ−ポレ−シヨン 焦点検出機構付の光学装置
JPH03168712A (ja) * 1989-11-29 1991-07-22 Victor Co Of Japan Ltd オートフォーカス装置
JPH05342608A (ja) * 1992-06-05 1993-12-24 Omron Corp 焦点調整装置及び当該焦点調整装置を用いた発光装置、光ピックアップ装置、光学的コード読取装置ならびに光学検知装置。
US5338924A (en) * 1992-08-11 1994-08-16 Lasa Industries, Inc. Apparatus and method for automatic focusing of light using a fringe plate
JPH09304016A (ja) * 1996-05-15 1997-11-28 Nikon Corp 面位置検出装置及び該装置を備えた露光装置
JPH1089930A (ja) * 1996-09-13 1998-04-10 Olympus Optical Co Ltd 焦点調節方法、およびそれを使用する形状測定器
JPH11194018A (ja) * 1998-01-06 1999-07-21 Nikon Corp 被写体情報測定装置
JP2002221409A (ja) * 2001-01-26 2002-08-09 Ricoh Co Ltd 光学面の形状測定方法および装置および記録媒体
JP2005221702A (ja) * 2004-02-05 2005-08-18 Noritsu Koki Co Ltd 投影装置

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6026621U (ja) * 1983-07-28 1985-02-22 アルプス電気株式会社 光学式ヘツド位置制御装置
CN2127178Y (zh) * 1992-06-18 1993-02-17 天津大学 激光干涉调焦装置
US5446710A (en) * 1992-11-06 1995-08-29 International Business Machines Corporation Focus error detection using an equal path length lateral shearing interferometer
US5689485A (en) * 1996-04-01 1997-11-18 Discovision Associates Tracking control apparatus and method
DE19726581C5 (de) * 1997-06-23 2010-02-04 Sick Ag Verfahren zur Bestimmung der Fokuslage einer optoelektronischen Vorrichtung
JPH11214299A (ja) * 1998-01-27 1999-08-06 Komatsu Ltd ドットマークの読み取り装置と読み取り方法
US6288986B1 (en) * 1999-01-12 2001-09-11 Siros Technologies, Inc. Focus error signal generation using a birefringent plate with confocal detection
US6794625B2 (en) * 2001-05-15 2004-09-21 Applied Materials Dynamic automatic focusing method and apparatus using interference patterns
JP2003030867A (ja) * 2001-07-13 2003-01-31 Hitachi Ltd フォーカス制御方法及び装置とそれを用いた原盤露光装置
US6621060B1 (en) * 2002-03-29 2003-09-16 Photonics Research Ontario Autofocus feedback positioning system for laser processing
DE102005016029A1 (de) 2005-04-07 2006-10-12 Sick Ag Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der Fokuslage

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6017660A (ja) * 1983-07-12 1985-01-29 Matsushita Electric Ind Co Ltd 給湯器
JPS60219639A (ja) * 1984-04-16 1985-11-02 インタ−ナシヨナル・ビジネス・マシ−ンズ・コ−ポレ−シヨン 焦点検出機構付の光学装置
JPH03168712A (ja) * 1989-11-29 1991-07-22 Victor Co Of Japan Ltd オートフォーカス装置
JPH05342608A (ja) * 1992-06-05 1993-12-24 Omron Corp 焦点調整装置及び当該焦点調整装置を用いた発光装置、光ピックアップ装置、光学的コード読取装置ならびに光学検知装置。
US5338924A (en) * 1992-08-11 1994-08-16 Lasa Industries, Inc. Apparatus and method for automatic focusing of light using a fringe plate
JPH09304016A (ja) * 1996-05-15 1997-11-28 Nikon Corp 面位置検出装置及び該装置を備えた露光装置
JPH1089930A (ja) * 1996-09-13 1998-04-10 Olympus Optical Co Ltd 焦点調節方法、およびそれを使用する形状測定器
JPH11194018A (ja) * 1998-01-06 1999-07-21 Nikon Corp 被写体情報測定装置
JP2002221409A (ja) * 2001-01-26 2002-08-09 Ricoh Co Ltd 光学面の形状測定方法および装置および記録媒体
JP2005221702A (ja) * 2004-02-05 2005-08-18 Noritsu Koki Co Ltd 投影装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018159704A (ja) * 2017-03-22 2018-10-11 株式会社ミツトヨ 高速で周期的に合焦位置が変調される可変焦点距離レンズを含む撮像システムと共に用いられる変調監視システム
JP7143097B2 (ja) 2017-03-22 2022-09-28 株式会社ミツトヨ 高速で周期的に合焦位置が変調される可変焦点距離レンズを含む撮像システムと共に用いられる変調監視システム

Also Published As

Publication number Publication date
US20070153644A1 (en) 2007-07-05
EP1804100A1 (en) 2007-07-04
US7593114B2 (en) 2009-09-22
WO2007076926A1 (en) 2007-07-12
CN101351734A (zh) 2009-01-21
EP1804100B1 (en) 2018-02-21
CN101351734B (zh) 2011-12-14
JP5558720B2 (ja) 2014-07-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5558720B2 (ja) レーザ光ビームの焦点調節装置およびその方法
CN107044847B (zh) 发光单元和基于三角测量的测距装置
JP6044315B2 (ja) 変位計測方法および変位計測装置
US7433052B2 (en) Systems and methods for tilt and range measurement
JP2009525493A5 (ja)
WO2010004478A2 (en) Laser self-mixing measuring device
JPS60127403A (ja) 厚み測定装置
US6460422B1 (en) Device for calculating a torque of a rotating member
US4985624A (en) Optical grating sensor and method of monitoring with a multi-period grating
JP2018025543A (ja) 位置測定装置
US5432330A (en) Two-stage detection noncontact positioning apparatus having a first light detector with a central slit
JPH0670592B2 (ja) コンパクト連続波波面センサー
JP2008089593A (ja) 測距装置および測距方法
EP0489399B1 (en) Displacement detector
KR101124607B1 (ko) 격자판을 이용한 빔의 폭 측정 장치 및 그 방법
US20060226335A1 (en) Apparatus and a method for the determination of the focal distance
US5815272A (en) Filter for laser gaging system
JP2005201703A (ja) 干渉測定方法及び干渉測定システム
JP2007218931A (ja) 光学面の形状測定方法および装置および記録媒体
US20240009761A1 (en) Device and Method for Determining a Focal Point
US11686570B2 (en) Displacement sensor and profile measurement apparatus
KR101813580B1 (ko) 레이저 변위센서
JP2009042128A (ja) 高さ測定装置
JPH07270121A (ja) 位置センサ
JPH05180641A (ja) 表面形状測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20091022

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20091022

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110920

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20111215

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20111222

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120316

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120619

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20120807

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20120814

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20121219

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130423

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20130717

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20130724

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20131009

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20131203

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140214

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140318

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140501

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140603

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140605

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5558720

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250