JP2009523698A - 溶融物の温度操作方法 - Google Patents
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Abstract
Description
1 溶融物を温度操作するためのデバイス
2 容器
4 電極
41 流体チャネル
42 溶融物接触材料
43 コア
44 電極ホルダ
45 液圧移動手段
46 冷媒供給部
47 冷媒出口
48 ねじ山
49 ねじ山付き孔
6 容器カラー
7 容器周囲区域
8 容器底部
81 容器底部の冷却部
9 電極用電源
10 容器壁
12 スカル・ポットの管
121 冷媒供給部
122 冷媒出口
123 スカル要素の絶縁部
14 固化した溶融物
16 溶融物
18 溶融プール表面
20 供給部
22 出口
24 ガス・バーナー
25 加熱手段用の支持フレーム
26 炉の上部構造領域
28 対流ローラ
30 流れ操作固定物
32 始動電極
34 始動電極用電源
36 溶融物材料
Claims (109)
- 溶融物(16)が少なくとも抵抗加熱によって加熱される、特に清澄ユニットにおける溶融物(16)の温度操作方法であって、
少なくとも2つの電極(4)が溶融物(16)の中に配置されていること、および溶融物(16)の少なくとも一部が冷却されることを特徴とする方法。 - 溶融物(16)が少なくとも抵抗加熱によって加熱される、特に清澄ユニットにおける溶融物(16)の清澄および/または清浄化方法であって、
少なくとも2つの電極(4)が溶融物(16)の中に配置されていること、および溶融物(16)の少なくとも一部が冷却されることを特徴とする方法。 - 溶融物(16)が、インナー・チャンバを画定する少なくとも1つの配置構成の中に、具体的には容器(2)の中に提供され、配置構成が少なくとも区画的に冷却されることを特徴とする、請求項1または2に記載の方法。
- 溶融物(16)の少なくとも1つの領域が、電極のうちの少なくとも1つの溶融物接触材料の適用範囲温度を超える温度にまで加熱されることを特徴とする、請求項1乃至3のいずれか1項に記載の方法。
- 別々に電極(4)が調節可能に、および/または制御可能に、および/または維持可能に冷却されることを特徴とする、請求項1乃至4のいずれか1項に記載の方法。
- 少なくとも1つの電極ホルダが冷却されることを特徴とする、請求項1乃至5のいずれか1項に記載の方法。
- 容器(2)の底部(8)が少なくとも1つの領域において冷却されることを特徴とする、請求項1乃至6のいずれか1項に記載の方法。
- 冷却が冷却流体を、特に空気および/または水を、少なくとも1つの電極、および/または少なくとも1つの電極ホルダ、および/または容器の壁(10)の少なくとも1つの部分、および/または底部(8)の1つの部分を通すことによって実施されることを特徴とする、請求項1乃至7のいずれか1項に記載の方法。
- 電極(4)が底部(8)を通って容器(2)の中に挿入されることを特徴とする、請求項1乃至8のいずれか1項に記載の方法。
- 電極が側壁(10)を通って容器(2)の中に挿入されることを特徴とする、請求項1乃至9のいずれか1項に記載の方法。
- 方法の実施中に少なくとも1つの電極(4)が容器(2)の中に挿入され、および/または容器(2)から引き出されることを特徴とする、請求項1乃至10のいずれか1項に記載の方法。
- 容器の冷却された限定表面と本質的に直接の電気的接触なしに、電極(4)が容器(2)の中に挿入されることを特徴とする、請求項1乃至11のいずれか1項に記載の方法。
- 溶融物(16)が、約5Hzから約1MHzまで、好ましくは約1kHzから約100kHzまでの範囲にある、特に好ましくは約10kHzの交流周波数を有する交流によって加熱されることを特徴とする、請求項1乃至12のいずれか1項に記載の方法。
- 溶融物(16)の温度が少なくとも1つの領域で、最低約1500℃まで、好ましくは最低約1700℃まで、好ましくは最低約1800℃まで、特に好ましくは最低約2000℃まで、加熱されることを特徴とする、請求項1乃至13のいずれか1項に記載の方法。
- 容器の境界領域における溶融物(16)と容器の中間区域における溶融物との間の温度差が、約50Kを超える、好ましくは約150Kを超える、好ましくは約250Kを超えるまで調節されることを特徴とする、請求項1乃至14のいずれか1項に記載の方法。
- 容器(2)が連続的に運転される溶融設備の一部として運転されることを特徴とする、請求項1乃至15のいずれか1項に記載の方法。
- 溶融しようとする材料が連続的に容器(2)の中に給送され、容器(2)から出されることを特徴とする、請求項1乃至16のいずれか1項に記載の方法。
- 溶融しようとする材料が溶融装置から容器(2)の中に給送され、特に溶融した形で容器から出されることを特徴とする、請求項1乃至17のいずれか1項に記載の方法。
- すべての電極(4)に同じアンペア数を有する電流が供給されることを特徴とする、請求項1乃至18のいずれか1項に記載の方法。
- 少なくとも1対の電極(4)に、別の少なくとも1対の電極(4)に供給されるアンペア値とは異なるアンペア数を有する電流が供給されることを特徴とする、請求項1乃至19のいずれか1項に記載の方法。
- 電極(4)間の加熱電流が本質的に溶融物(16)の主要流れ方向に沿って、またはこれに対して直角方向に流れることを特徴とする、請求項1乃至20のいずれか1項に記載の方法。
- 電極(4)が、特にスコット回路による交差加熱電流が位相差を伴って発生するように配線されることを特徴とする、請求項1乃至21のいずれか1項に記載の方法。
- 溶融物材料がチャネルを経て、特に自由表面を有するチャネルを経て容器(2)の中に給送されることを特徴とする、請求項1乃至22のいずれか1項に記載の方法。
- 溶融物材料がチャネルを経て、特に自由表面を有するチャネルを経て容器(2)から出されることを特徴とする、請求項1乃至23のいずれか1項に記載の方法。
- 溶融物材料が供給部を経て溶融プール表面の領域に給送され、出口を経てこの領域から出されることを特徴とする、請求項1乃至24のいずれか1項に記載の方法。
- 出口領域(22)が少なくとも部分的に冷却されることを特徴とする、請求項1乃至25のいずれか1項に記載の方法。
- 容器(2)内の溶融物(16)の滞留時間分布および/または平均滞留時間が調節、および/または制御、および/または調整されていることを特徴とする、請求項1乃至26のいずれか1項に記載の方法。
- 容器(2)内の溶融物(16)の流れプロファイルおよび/または平均流速が調節、および/または制御、および/または調整されていることを特徴とする、請求項1乃至27のいずれか1項に記載の方法。
- 容器(2)の容積が、容器内で溶融物が最小1分間の、好ましくは最小約10分間から約2時間までの平均滞留時間を有するように、寸法決定されることを特徴とする、請求項1乃至28のいずれか1項に記載の方法。
- 容器(2)が、容器の前に挿入された溶融装置の容積の少なくとも2分の1、好ましくは10分の1の小さな容積を備えることを特徴とする、請求項1乃至29のいずれか1項に記載の方法。
- 少なくとも1つの電極(4)が一時的に加熱されることを特徴とする、請求項1乃至30のいずれか1項に記載の方法。
- 加熱が、特に電気エネルギーによって、廃熱によって、または好ましくは化石燃料によって流体を加熱することにより実施されることを特徴とする、請求項31に記載の方法。
- 特に加熱手段(24)によって、酸化上部構造炉雰囲気が達成されることを特徴とする、請求項1乃至32のいずれか1項に記載の方法。
- 特に加熱手段(24)によって、脱酸素上部構造炉雰囲気が達成されることを特徴とする、請求項1乃至32のいずれか1項に記載の方法。
- 溶融温度において、溶融物(16)の導電率が約10−5から約104Ω−1*cm−1までの範囲内に、好ましくは約10−2から約101Ω−1*cm−1までの範囲内にあることを特徴とする、請求項1乃至34のいずれか1項に記載の方法。
- 始動手順を実行することによって、電極(4)間に十分な導電率を有する少なくとも1つの溶融経路が容器(2)の中に提供されることを特徴とする、請求項1乃至35のいずれか1項に記載の方法。
- 始動手順中に、電極(4)および/または壁(10)の部分が、これらの温度が上部構造炉雰囲気の露点を超える程度まで加熱手段によって加熱されることを特徴とする、請求項1乃至36のいずれか1項に記載の方法。
- 始動手順中に、浸漬電極が容器(2)の中に挿入され、これらの電極を経て電流が溶融物材料(36、16)の中に導かれることを特徴とする、請求項36または37に記載の方法。
- 始動手順中に、少なくとも1つの犠牲電極が容器(2)の中に挿入され、これらの電極を経て、電流が溶融物材料(36、16)の中に導かれることを特徴とする、請求項36乃至38のいずれか1項に記載の方法。
- 電極(4)および/または浸漬電極および/または犠牲電極が始動手順中に共に動かされ、始動手順中に互いに動かされて離されることを特徴とする、請求項1乃至39のいずれか1項に記載の方法。
- 容器(2)の炉の上部構造領域(26)が別々に加熱されることを特徴とする、請求項1乃至40のいずれか1項に記載の方法。
- 炉の上部構造領域(26)の加熱がバーナー手段、具体的にはガス・バーナー、放射加熱、マイクロ波、および/またはプラズマ・バーナーによって行われることを特徴とする、請求項41に記載の方法。
- 溶融物(16)の中に対流の流れ(28)が発生することを特徴とする、請求項1乃至42のいずれか1項に記載の方法。
- 溶融物の温度差を調節することによって、対流の流れが内側領域と外側領域の間に発生することを特徴とする、請求項1乃至43のいずれか1項に記載の方法。
- 少なくとも2つの電極(4)の上の電流分布によって、対流の流れが制御および/または調節および/または調整されることを特徴とする、請求項1乃至44のいずれか1項に記載の方法。
- 流れが固定物によって操作されることを特徴とする、請求項1乃至45のいずれか1項に記載の方法。
- 流れが容器(2)を通る溶融物(16)の処理量を制御することによって影響を受けることを特徴とする、請求項1乃至46のいずれか1項に記載の方法。
- 電極(4)の加熱電力の制御および/または調節が、流れの制御および/または調節および/または調整によって行われることを特徴とする、請求項1乃至47のいずれか1項に記載の方法。
- 電極(4)の加熱電力の制御および/または調節が、電力の制御および/または調節および/または調整によって行われることを特徴とする、請求項1乃至47のいずれか1項に記載の方法。
- 少なくとも1つの高温清澄手段が溶融物(16)に加えられることを特徴とする、請求項1乃至49のいずれか1項に記載の方法。
- 特に自動的に運転されることを特徴とする、請求項1乃至50のいずれか1項に記載の方法。
- 容器壁(10)の冷却が、スカル・クラストが容器壁(10)の上に形成されるように調節されることを特徴とする、請求項1乃至51のいずれか1項に記載の方法。
- 溶融物材料(36、16)を受け入れるための少なくとも1つのインナー・チャンバを画定する配置構成、具体的には容器(2)と、
溶融物(16)を抵抗加熱するための少なくとも2つの電極(4)と
を含む、溶融物(16)の温度操作のため、および/または清澄のため、および/または清浄化のため、および/または均質化のためのデバイス(1)であって、
電極(4)が配置構成の、具体的には容器(2)のインナー・チャンバの中に突き出ていることを特徴とするデバイス(1)。 - 少なくとも1つの冷却可能な壁(10)を含むことを特徴とする、請求項53に記載のデバイス(1)。
- 容器壁(10)がその内側にスカル・クラスト(14)を含むことを特徴とする請求項53または54に記載のデバイス(1)。
- 容器(2)の底部(8)が少なくとも1つの凹所を有し、この凹所を通って少なくとも1つの電極(4)を導いてもよいことを特徴とする、請求項53乃至55のいずれか1項に記載のデバイス(1)。
- 容器(2)の少なくとも1つの側壁(10)が少なくとも1つの凹所を有し、この凹所を通って少なくとも1つの電極(4)を導いてもよいことを特徴とする、請求項53乃至55のいずれか1項に記載のデバイス(1)。
- 特に冷却可能な電極ホルダ(44)を含むことを特徴とする、請求項53乃至57のいずれか1項に記載のデバイス(1)。
- 少なくとも1つの電極ホルダ、および/または少なくとも1つの電極(4)、および/または容器壁(10)の少なくとも1つの部分、および/または少なくとも1つの流体搬送手段を備えた容器底部(8)の少なくとも1つの部分を冷却するための手段を有することを特徴とする、請求項53乃至58のいずれか1項に記載のデバイス(1)。
- 電極(4)が、板状電極、および/またはボタン状電極、および/または球状電極、および/または棒状電極、および/またはロゴスキー電極を含むことを特徴とする、請求項53乃至59のいずれか1項に記載のデバイス(1)。
- 電極(4)が、オスミウム、ハフニウム、モリブデン、タングステン、イリジウム、タンタル、白金、白金属、および/またはこれらの合金などの金属を含む、溶融物接触材料を有することを特徴とする、請求項53乃至60のいずれか1項に記載のデバイス(1)。
- 電極(4)がコアを、特にセラミック・コアを含むことを特徴とする、請求項53乃至61のいずれか1項に記載のデバイス(1)。
- 少なくとも1つの電極(4)が、特にオスミウム、ハフニウム、モリブデン、タングステン、イリジウム、タンタル、白金、白金属、および/またはこれらの合金などの金属を含む1つの層を備えることを特徴とする、請求項53乃至62のいずれか1項に記載のデバイス(1)。
- 少なくとも1つの電極(4)が少なくとも2つの電極セグメントを含むことを特徴とする、請求項53乃至63のいずれか1項に記載のデバイス(1)。
- 少なくとも1つの電極がデバイス(1)に取換え可能に添着されることを特徴とする、請求項53乃至64のいずれか1項に記載のデバイス(1)。
- 少なくとも1つの電極(4)がデバイス(1)に垂直移動可能に添着されることを特徴とする、請求項53乃至65のいずれか1項に記載のデバイス(1)。
- 少なくとも1つの電極(4)が回転可能に添着されることを特徴とする、請求項53乃至66のいずれか1項に記載のデバイス(1)。
- 少なくとも1つの電極(4)が流体を通すためのチャネル(41)を含むことを特徴とする、請求項53乃至67のいずれか1項に記載のデバイス(1)。
- 電極(4)が1列に並んで配置されていることを特徴とする、請求項53乃至68のいずれか1項に記載のデバイス(1)。
- 電極(4)が本質的に容器(2)の壁(10)に直接接触していないこと、また前記電極が少なくとも1500℃、好ましくは少なくとも1600℃の温度を有する領域では、電極(4)と金属構成要素との間の距離が最低1cmであり、好ましくは最低2cmであることを特徴とする、請求項53乃至69のいずれか1項に記載のデバイス(1)。
- 電極(4)が互いに平行である2つの列に並んで配置されていることを特徴とする、請求項53乃至70のいずれか1項に記載のデバイス(1)。
- 電極(4)が互いに直角をなす2つの列に並んで配置されていることを特徴とする、請求項53乃至71のいずれか1項に記載のデバイス(1)。
- 電極(4)が容器(2)の下部に、具体的には容器(2)の充てんレベルの下3分の2の領域における溶融物(16)の表面(18)の下方に配置されていることを特徴とする、請求項53乃至72のいずれか1項に記載のデバイス(1)。
- 数対の電極および/または数対の電極セグメントを有することを特徴とする、請求項53乃至73のいずれか1項に記載のデバイス(1)。
- 流動する溶融物(16)のための流れ遮断固定物(30)として作用するように電極(4)が配置されていることを特徴とする、請求項53乃至74のいずれか1項に記載のデバイス(1)。
- 容器(2)の壁(10)の少なくとも1つの領域が冷却可能であることを特徴とする、請求項53乃至75のいずれか1項に記載のデバイス(1)。
- 容器(2)がスカル壁および/またはセラミック壁を含むことを特徴とする、請求項53乃至76のいずれか1項に記載のデバイス(1)。
- 容器(2)がスカル壁を有し、スカル壁は特に金属管を含み、金属管は溶融物(16)に面する側で、セラミック・プレートまたはスリップ、特にSiO2スリップの形であることが好ましい導電性の悪い材料によって、ライニングされていることを特徴とする、請求項77に記載のデバイス(1)。
- 溶融物表面(18)の下方で、壁(10)がある角度で折れ曲がり、カラー(6)を形成していることを特徴とする、請求項53乃至78のいずれか1項に記載のデバイス(1)。
- 前記角度が約90°であることを特徴とする、請求項79に記載のデバイス(1)。
- 前記カラーが非対称であることを特徴とする、請求項79または80に記載のデバイス(1)。
- 容器(2)の壁(10)が少なくとも2つのサブユニットを含むことを特徴とする、請求項53乃至81のいずれか1項に記載のデバイス(1)。
- 特に電流の流れる方向を横切る壁(10)のサブユニットが互いに電気的に分離していることを特徴とする、請求項53乃至82のいずれか1項に記載のデバイス(1)。
- サブユニットの間に絶縁分離要素を導入してもよいことを特徴とする、請求項83に記載のデバイス(1)。
- 約5Hzから約1MHzまでの範囲にある交流周波数、好ましくは約1kHzから約100kHzの範囲にある交流周波数、特に好ましくは約10kHzの交流周波数を有する交流を発生させるための手段を有することを特徴とする、請求項53乃至84のいずれか1項に記載のデバイス(1)。
- 電極(4)および/または容器(2)の壁(10)が化学的に特に溶融物(16)に対して耐性を有することを特徴とする、請求項53乃至85のいずれか1項に記載のデバイス(1)。
- 容器(2)が多角形、特に長方形、特に方形または丸形、特に楕円形、特に円形のレイアウトを有することを特徴とする、請求項53乃至86のいずれか1項に記載のデバイス(1)。
- 追加加熱用の手段を有することを特徴とする、請求項53乃至87のいずれか1項に記載のデバイス(1)。
- 追加加熱が放射加熱、および/またはマイクロ波加熱、および/またはプラズマ・バーナー加熱を有することを特徴とする、請求項53乃至88のいずれか1項に記載のデバイス(1)。
- 電極(4)の少なくとも1つが加熱手段を有することを特徴とする、請求項53乃至89のいずれか1項に記載のデバイス(1)。
- 少なくとも1つの供給領域(20)と少なくとも1つの出口領域(22)を含むことを特徴とする、請求項53乃至90のいずれか1項に記載のデバイス(1)。
- デバイスの供給領域(20)が少なくとも部分的にセラミック層を含むことを特徴とする、請求項91に記載のデバイス(1)。
- 出口(22)が冷却セクションとして形成されていることを特徴とする、請求項53乃至92のいずれか1項に記載のデバイス(1)。
- 容器(2)の底部が少なくとも1つの耐火材料を含むことを特徴とする、請求項53乃至92のいずれか1項に記載のデバイス(1)。
- 1600℃において前記耐火材料が1/30Ω−1*cm−1未満の導電率を有することを特徴とする、請求項94に記載のデバイス(1)。
- 前記耐火材料がケイ酸ジルコニウムを含むことを特徴とする、請求項94または95に記載のデバイス(1)。
- 容器(2)の底部(8)は冷却手段によって冷却され、冷却手段は流体、特に水によって冷却可能な少なくとも1つの管を含み、この手段は流れ方向に対して角度をなして、具体的には約90°の角度に向けられ、容器の底部(8)に触れていることを特徴とする、請求項53乃至96のいずれか1項に記載のデバイス(1)。
- 容器(2)を通る溶融物(16)の流れを操作するために適した固定物(30)を含むことを特徴とする、請求項53乃至97のいずれか1項に記載のデバイス(1)。
- ガスを注入するための、特にN2、および/またはHe、および/またはArを注入するための少なくとも1つのインジェクタを含むことを特徴とする、請求項53乃至98のいずれか1項に記載のデバイス(1)。
- 溶融物の流れを少なくとも2つの部分流に分割するための流れ分割手段を有し、請求項52乃至96のいずれか1項に記載の少なくとも1つのデバイスを部分流の1つの中に配置してもよいことを特徴とする、請求項53乃至99のいずれか1項に記載のデバイス(1)。
- 特に均質化ユニットおよび/または形成ユニットの上流に置くことができる清澄モジュール、および/または清浄化モジュール、および/または溶融モジュールとしての、請求項53乃至100のいずれか1項に記載のデバイス(1)の使用。
- オーバーフローダウンドローユニットの上流に置かれる清澄モジュール、および/または清浄化モジュール、および/または溶融モジュール、および/または均質化ユニットとしての、請求項53乃至101のいずれか1項に記載のデバイス(1)の使用。
- 溶融物の温度操作のため、および/または清澄のため、および/または清浄化のためのデバイスのための温度に影響するデバイスの制御方法であって、少なくとも2つの電極(4)が容器(2)の内部に配置されていること、および少なくとも2つの電極(4)を通る電流が、少なくとも1つの目標数字、特に容器(2)内の流れプロファイルの温度分布のための制御値および/または調節値として使用されることを特徴とする制御方法。
- 対流ローラ(28)における流れプロファイルが目標数字として使用されることを特徴とする、請求項103に記載の制御方法。
- 溶融物(16)の温度操作のため、および/または清澄のため、および/または清浄化のためのデバイスのための制御方法であって、少なくとも2つの電極(4)が容器(2)の内部に配置されていること、および少なくとも2つの電極(4)によって解放される電力が、少なくとも1つの目標数字、特に容器(2)内の流れプロファイルの温度分布のための制御値および/または調節値として使用されることを特徴とする制御方法。
- 対流ローラ(28)における流れプロファイルが目標数字として使用されることを特徴とする、請求項105に記載の制御方法。
- 電極(4)が少なくとも一時的にパルス方式で制御されることを特徴とする、請求項103乃至106のいずれか1項に記載の制御方法。
- 請求項1乃至52のいずれか1項に記載の方法によって、および/または請求項53乃至100のいずれか1項に記載のデバイスにおいて、および/または前記デバイスによって溶融、および/または清澄、および/または清浄化、および/または均質化、および/または製造された製品、特にガラス製品。
- 前記製品のスズのパーセンテージが1.0重量パーセント未満、好ましくは0.4重量パーセント未満、好ましくは0.2重量パーセント未満、特に好ましくは0.1重量パーセント未満であることを特徴とする、請求項108に記載の製品。
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