JP2009521083A5

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Publication number: JP2009521083A5
Application number: JP2008546603A
Authority: JP
Filing date: 2006-12-20
Publication date: 2009-07-30
Anticipated expiration: 2026-12-20

Claims

パルス状イオン源と、
前記パルス状イオン源によって生成されたイオンを閉じ込め、閉じ込められたイオンの位置を特定する第１のイオントラップであって、該位置の特定は、閉じ込めに続く第１のイオントラップからの放出のためである、第１のイオントラップと、
前記第１のイオントラップが前記イオンを閉じ込めることを可能にするのに適しているピーク圧において、冷却ガスのパルスを前記第１のイオントラップに導くためのガス吸気手段と、
前記閉じ込められたイオンが、前記第１のイオントラップから放出される前に、前記冷却ガスの圧力を減らすためのポンプ手段と、
前記第１のイオントラップから放出されたイオンを受け取り分析するための第２のイオントラップと、を備える質量分析計であって、
前記パルス状イオン源は、試料が堆積し第１のイオントラップの端壁を形成する平坦な試料プレートを含み、前記パルス状イオンが第１のイオントラップ内部で発生し、
また、前記ガス吸気手段は、前記ポンプ手段によって得られるポンブダウン時定数より少ない開放時間を有するバルブを含む、質量分析計。
前記パルス状イオン源が、レーザおよび前記試料上へレーザ放射のパルスを向けるための手段を含む、請求項１に記載の質量分析計。
前記パルス状イオン源がマトリックス支援レーザ脱離イオン化（ＭＡＬＤＩ）イオン源である、請求項２に記載の質量分析計。
前記バルブ開放時間が５ミリ秒未満である、請求項１に記載の質量分析計。
前記ポンプ手段がターボ分子ポンプである、請求項１に記載の質量分析計。
前記ガス吸気手段が電磁気駆動弁を含む、請求項１ないし５のいずれか１項に記載の質量分析計。
前記ガス吸気手段がピエゾ素子駆動弁を含む、請求項１ないし５のいずれか１項に記載の質量分析計。
前記ガス吸気手段が、５×１０^−２ミリバールから、１ミリバールまでの範囲のピーク圧で、第１のイオントラップに冷却ガスの前記パルスを導く、請求項１ないし７のいずれか１項に記載の質量分析計。
前記ポンプ手段が、前記圧力を、５×１０^−３ミリバールより小さい圧力に下げる、請求項８に記載の質量分析計。
前記ガス吸気手段の起動および前記パルス状イオン源の次の起動間に予め設定された遅延が存在する、請求項１ないし９のいずれか１項に記載の質量分析計。
前記第１のイオントラップが多ポール線形イオントラップである、請求項１ないし１０のいずれか１項に記載の質量分析計。
前記多ポール線形イオントラップが、前記第１のイオントラップの後端に位置するゲート電極を含み、前記電極は、イオンを反射するか放出するために選択的にバイアスしている、請求項１１に記載の質量分析計。
第１のイオントラップにおいて軸方向ＤＣポテンシャル井戸をつくるように前記ゲート電極がバイアスしており、第１のイオントラップからの放出の前に第１のイオントラップにおける前記閉じ込められたイオン雲の位置を決める、請求項１２に記載の質量分析計。
前記多ポール線形イオントラップが、セグメント化された多ポール線形イオントラップであり、各ポールが、第１のイオントラップの後端に隣接した比較的短いセグメントを含み、前記ＤＣ軸方向ポテンシャル井戸を増大するために、前記後端に隣接した比較的短いセグメントがバイアスしている、請求項１３に記載の質量分析計。
前記ゲート電極と前記第１のイオントラップのポールとの間に環状電極を含み、前記ＤＣ軸方向ポテンシャル井戸を増大するために、環状電極がバイアスしている、請求項１３に記載の質量分析計。
前記多ポール線形イオントラップが四重ポール線形イオントラップである、請求項１１ないし１５のいずれか１項に記載の質量分析計。
前記第１のイオントラップが、縦軸を有する環状電極を含む円筒状イオントラップであって、前記平坦な試料プレートが、その前面にイオントラップの前記端壁を形成し、ゲート電極はその後端に、イオントラップの端壁を形成する、請求項１ないし１０のいずれか１項に記載の質量分析計。
前記環状電極に供給される高周波駆動電圧の位相が、負に荷電したイオンに対して９０度から１７０度までの範囲にあるときに、正に荷電したイオンに対して２７０度から３４０度までの範囲にあるときに、前記パルス状イオン源が起動され、前記位相は、駆動電圧波形の上昇する部分の零交差時間に対して表現される、請求項１７に記載の質量分析計。
イオンが、放出される前に、円筒状イオントラップの幾何学的な中心にイオン雲を形成するように位置する、請求項１７又は請求項１８に記載の質量分析計。
前記ゲート電極が、イオンに、第１のイオントラップから第２のイオントラップへイオンの放出を引き起こすゲート電極の方に、静電的加速力をかけるためにバイアスしている、請求項１２ないし１５のいずれか１項に記載の質量分析計。
第１のイオントラップから閉じ込められたイオンの放出を引き起こすために、前記平坦な試料プレートと前記ゲート電極との間に双極電界を確立するように配置されたＤＣバイアス手段を含み、前記第２のイオントラップが、放出されたイオンを妨害するために、更なる双極電界を確立するように配置される、請求項１７ないし１９のいずれか１項に記載の質量分析計。
前記第２のイオントラップが双曲面三次元イオントラップまたは四重ポール線形イオントラップである、請求項１ないし２１のいずれか１項に記載の質量分析計。
前記第１および第２のイオントラップが両方とも線形イオントラップである、請求項１ないし１６のいずれか１項に記載の質量分析計。
前記第１および第２のイオントラップが共通の縦軸上に連続的に配置される、請求項１ないし２３のいずれか１項に記載の質量分析計。
前記第１および第２のイオントラップが、相互の平行軸上に並んで配置され、閉じ込められたイオンを放出するための手段が、前記平行軸に対して直交の方向に、第１から第２のイオントラップに、イオンを放出するために配置される、請求項１ないし２３のいずれか１項に記載の質量分析計。
前記第１のおよび／または前記第２のイオントラップが、ＲＦドライブおよびＤＣバイアス電圧が使用のために印加される電気的伝導トラックを持つプリント回路基板から形成されたトンネル構造を備えている、請求項１ないし２５のいずれか１項に記載の質量分析計。
前記第１のおよび／または第２の前記イオントラップが、スイッチ回路によって生成される矩形波デジタル駆動電圧によって、駆動される、請求項１ないし２６のいずれか１項に記載の質量分析計。