JPH1074480A - レーザーイオン化法質量分析装置 - Google Patents
レーザーイオン化法質量分析装置Info
- Publication number
- JPH1074480A JPH1074480A JP8230867A JP23086796A JPH1074480A JP H1074480 A JPH1074480 A JP H1074480A JP 8230867 A JP8230867 A JP 8230867A JP 23086796 A JP23086796 A JP 23086796A JP H1074480 A JPH1074480 A JP H1074480A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- laser
- sample
- molecular
- mass spectrometer
- nozzle
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 超音速分子ジェットによる試料導入のレ
ーザー多光子イオン化質量分析技術において、試料の大
量導入は図るが、S/N比を低下させないことによって
高感度で検出できる装置を提供する。 【解決手段】 上記課題は、分子ジェットを形成するノ
ズルを備えた試料導入部と、パルスレーザー光発振器
と、該発振器から発せられたレーザー光が通過しうる窓
を有する真空イオン化室または相当する部位と、該レー
ザー光によってイオン化された分子の質量を分析する質
量分析計を有し、前記試料導入部のノズルが2以上のピ
ンホールノズルからなっていることを特徴とするレーザ
ーイオンン化質量分析装置
ーザー多光子イオン化質量分析技術において、試料の大
量導入は図るが、S/N比を低下させないことによって
高感度で検出できる装置を提供する。 【解決手段】 上記課題は、分子ジェットを形成するノ
ズルを備えた試料導入部と、パルスレーザー光発振器
と、該発振器から発せられたレーザー光が通過しうる窓
を有する真空イオン化室または相当する部位と、該レー
ザー光によってイオン化された分子の質量を分析する質
量分析計を有し、前記試料導入部のノズルが2以上のピ
ンホールノズルからなっていることを特徴とするレーザ
ーイオンン化質量分析装置
Description
【0001】
【発明の属する技術】本発明は、レーザー光の照射によ
って被測定物である試料分子をイオン化し、そのイオン
の質量スペクトルを測定することで試料の質量分析を行
うレーザーイオン化質量分析技術に関するものである。
って被測定物である試料分子をイオン化し、そのイオン
の質量スペクトルを測定することで試料の質量分析を行
うレーザーイオン化質量分析技術に関するものである。
【0002】
【従来の技術】石炭・重油をはじめとする燃焼排ガス、
都市ごみならびに産業廃棄物の焼却排ガス、プラスチッ
ク熱分解生成ガスなどには、微量ではあるが窒素酸化
物、硫黄酸化物、芳香族化合物、塩素系有機化合物、塩
素化芳香族化合物、その他ハロゲン系化合物などの化合
物が含有されており、多くの場合これらの複数が一緒、
すなわち混合状態で存在する。これらの化合物の迅速な
測定技術のひとつに、測定対象化合物について検出の選
択性のあるレーザー多光子イオン化質量分析による方法
がある。
都市ごみならびに産業廃棄物の焼却排ガス、プラスチッ
ク熱分解生成ガスなどには、微量ではあるが窒素酸化
物、硫黄酸化物、芳香族化合物、塩素系有機化合物、塩
素化芳香族化合物、その他ハロゲン系化合物などの化合
物が含有されており、多くの場合これらの複数が一緒、
すなわち混合状態で存在する。これらの化合物の迅速な
測定技術のひとつに、測定対象化合物について検出の選
択性のあるレーザー多光子イオン化質量分析による方法
がある。
【0003】混合ガス試料をレーザー多光子イオン化質
量分析で測定する場合、Analytical Che
mistry誌,第66巻,1062〜1069頁(1
994年)に記載されている技術の一例が紹介されてい
る。すなわち、通常の試料導入によるレーザー多光子イ
オン化質量分析技術では、各々の化合物に対応するピー
クがそれぞれ幅広のため、ピークが重なってしまい定量
化が困難である。そこで、孔径の小さな試料導入バルブ
を通してガス試料を真空のイオン化室に導入し、レーザ
ーを照射してイオン化し、質量分析計で測定する。これ
により、ガス試料が断熱膨張し、絶対零度近くまで冷却
されるため、各々の化合物の分子の振動・回転が抑制さ
れる。したがって、各々の化合物に対応するピークがシ
ャープになり、それぞれ分離するため、定量化が容易に
なる。この方法は、導入した分子の速度が音速の数十倍
程度であることから超音速分子ビーム分光分析、あるい
は超音速分子ジェット分光分析と呼ばれるときもある。
量分析で測定する場合、Analytical Che
mistry誌,第66巻,1062〜1069頁(1
994年)に記載されている技術の一例が紹介されてい
る。すなわち、通常の試料導入によるレーザー多光子イ
オン化質量分析技術では、各々の化合物に対応するピー
クがそれぞれ幅広のため、ピークが重なってしまい定量
化が困難である。そこで、孔径の小さな試料導入バルブ
を通してガス試料を真空のイオン化室に導入し、レーザ
ーを照射してイオン化し、質量分析計で測定する。これ
により、ガス試料が断熱膨張し、絶対零度近くまで冷却
されるため、各々の化合物の分子の振動・回転が抑制さ
れる。したがって、各々の化合物に対応するピークがシ
ャープになり、それぞれ分離するため、定量化が容易に
なる。この方法は、導入した分子の速度が音速の数十倍
程度であることから超音速分子ビーム分光分析、あるい
は超音速分子ジェット分光分析と呼ばれるときもある。
【0004】この超音速分子ジェットの試料導入では、
分子ジェットを作るため、また一般にイオン化室の高真
空を維持するため、ガス試料を連続的、あるいはパルス
的に導入する際単位時間あたりの導入量を少なくしなく
てはいけないという制限がある。このため、測定対象試
料の量が極めて少ないので、全体的に感度が低下すると
いう問題がる。この対策として、Review Sci
ence Instrumentation,第67
巻,410〜416頁(1996年)に記載されている
ように、スリット状のノズルを使用して、レーザー光が
通過する処のみ多くなるように試料を導入する方法があ
る。この方法は、平面状に噴出した分子ジェットに、同
一平面上で真横からレーザー光を照射して分子とレーザ
ー光との相互作用の空間を増やし、イオン生成量を増加
させようというものである。
分子ジェットを作るため、また一般にイオン化室の高真
空を維持するため、ガス試料を連続的、あるいはパルス
的に導入する際単位時間あたりの導入量を少なくしなく
てはいけないという制限がある。このため、測定対象試
料の量が極めて少ないので、全体的に感度が低下すると
いう問題がる。この対策として、Review Sci
ence Instrumentation,第67
巻,410〜416頁(1996年)に記載されている
ように、スリット状のノズルを使用して、レーザー光が
通過する処のみ多くなるように試料を導入する方法があ
る。この方法は、平面状に噴出した分子ジェットに、同
一平面上で真横からレーザー光を照射して分子とレーザ
ー光との相互作用の空間を増やし、イオン生成量を増加
させようというものである。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、効果は
あるものの、原理的にはスリットの開口部の大きさと照
射レーザー光の径(大きさ)に比例した空間にイオンが
生成して存在するので、スリット開口部を大きくするこ
とは質量分析計に送られたときの分子イオンの空間分布
と関連しており、イオン生成量に比例した分、シグナル
/ノイズの比(S/N比)の増大に繋がらない。また、
スリットノズルは排気系に掛かる負担を考慮すると、極
端にはスリットの開口部を大きくできない。すなわち、
シグナルに寄与するのは、スリット開口部の長軸に沿っ
た中心部分で、その外周にシグナルに寄与しない分子が
存在して真空度を低下させる原因となる。さらに、分子
ジェットの冷却が悪いので、かえって感度、つまりS/
N比が低下する恐れもある。これらは、スリットノズル
のみならず、ピンホールノズルでも大量の試料導入を目
的として開口部を大きくしたときの問題である。
あるものの、原理的にはスリットの開口部の大きさと照
射レーザー光の径(大きさ)に比例した空間にイオンが
生成して存在するので、スリット開口部を大きくするこ
とは質量分析計に送られたときの分子イオンの空間分布
と関連しており、イオン生成量に比例した分、シグナル
/ノイズの比(S/N比)の増大に繋がらない。また、
スリットノズルは排気系に掛かる負担を考慮すると、極
端にはスリットの開口部を大きくできない。すなわち、
シグナルに寄与するのは、スリット開口部の長軸に沿っ
た中心部分で、その外周にシグナルに寄与しない分子が
存在して真空度を低下させる原因となる。さらに、分子
ジェットの冷却が悪いので、かえって感度、つまりS/
N比が低下する恐れもある。これらは、スリットノズル
のみならず、ピンホールノズルでも大量の試料導入を目
的として開口部を大きくしたときの問題である。
【0006】本発明は、このような問題点を解決するた
めになされたもので、超音速分子ジェットによる試料導
入のレーザー多光子イオン化室量分析技術において、試
料の大量導入は図るが、S/N比を低下させないことに
よって高感度で検出できる装置を提供することを目的と
する。
めになされたもので、超音速分子ジェットによる試料導
入のレーザー多光子イオン化室量分析技術において、試
料の大量導入は図るが、S/N比を低下させないことに
よって高感度で検出できる装置を提供することを目的と
する。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記課題は、分子ジェッ
トを形成するノズルを備えた試料導入部と、パルスレー
ザー光発振器と、該発振器から発せられたレーザー光が
通過しうる窓を有する真空イオン化室または相当する部
位と、該レーザー光によってイオン化された分子の質量
を分析する質量分析計を有し、前記試料導入部のノズル
が2以上のピンホールノズルからなっていることを特徴
とするレーザーイオン化質量分析装置によって解決され
る。
トを形成するノズルを備えた試料導入部と、パルスレー
ザー光発振器と、該発振器から発せられたレーザー光が
通過しうる窓を有する真空イオン化室または相当する部
位と、該レーザー光によってイオン化された分子の質量
を分析する質量分析計を有し、前記試料導入部のノズル
が2以上のピンホールノズルからなっていることを特徴
とするレーザーイオン化質量分析装置によって解決され
る。
【0008】
【発明の実施の形態】試料導入部は市販の質量分析装置
に使用されているものをノズル部を交換するだけでその
まま使用することができる。試料導入形式は、連続的な
導入、パルス的な導入の何れでも構わないが、ポンプな
ど排気系に掛かる負担を勘案するとパルス的な導入の方
が好ましい。パルスバルブは日本化学会編,第4版,実
験化学講座,第8巻,127〜129頁(1993年)に
記載されているように、通常、ばねでシール面に押さえ
付けられているプランジャーが、後方のソレノイド(電
磁コイル)への瞬間的に通電によって電磁気的に後方に
引き付けられてその間だけ開口するものがよく用いられ
る。その他、Gentry−Gieseタイプのパルス
バルブ、ピエゾ素子を用いたパルスバルブなどを用いる
ことができる。
に使用されているものをノズル部を交換するだけでその
まま使用することができる。試料導入形式は、連続的な
導入、パルス的な導入の何れでも構わないが、ポンプな
ど排気系に掛かる負担を勘案するとパルス的な導入の方
が好ましい。パルスバルブは日本化学会編,第4版,実
験化学講座,第8巻,127〜129頁(1993年)に
記載されているように、通常、ばねでシール面に押さえ
付けられているプランジャーが、後方のソレノイド(電
磁コイル)への瞬間的に通電によって電磁気的に後方に
引き付けられてその間だけ開口するものがよく用いられ
る。その他、Gentry−Gieseタイプのパルス
バルブ、ピエゾ素子を用いたパルスバルブなどを用いる
ことができる。
【0009】イオン化するためにレーザー光と測定対象
化合物分子が相互作用する時間はパルスレーザー光の発
振時間に依存するので使用するパルスレーザー光の発振
時間(照射時間)と同程度までなら極めて短時間に作動す
るパルスバルブが好ましい。具体的な作動時間として
は、10μs〜5ms程度、特に50μs〜2ms程度
が好ましい。そこで、市販のパルスバルブの作動時間が
長い場合には、ばねの長さを長くして、同時に強度を上
げて、またコイルの電気抵抗を小さくして大電流を流せ
るようにするとともに作動電圧を大きなものにすると、
より短時間に作動するバルブとすることができる。
化合物分子が相互作用する時間はパルスレーザー光の発
振時間に依存するので使用するパルスレーザー光の発振
時間(照射時間)と同程度までなら極めて短時間に作動す
るパルスバルブが好ましい。具体的な作動時間として
は、10μs〜5ms程度、特に50μs〜2ms程度
が好ましい。そこで、市販のパルスバルブの作動時間が
長い場合には、ばねの長さを長くして、同時に強度を上
げて、またコイルの電気抵抗を小さくして大電流を流せ
るようにするとともに作動電圧を大きなものにすると、
より短時間に作動するバルブとすることができる。
【0010】本発明においては、試料導入部のノズルを
2以上のピンホールノズルとする。各ピンホールノズル
は同一のバルブ等に装着されていてもよく、別個のバル
ブ等に装着されていてもよい。すなわち、試料導入部の
バルブ等は一つであっても複数であってもよい。各ノズ
ルの開口部の大きさは超音速分子ジェットを作り出せる
ように定められ、これは真空イオン化室の排気能力等に
依存するが、直径で0.05〜3mm程度、特に0.1〜
1mm程度が通常適当である。各ノズルの間隔は5〜2
00mm程度、通常20〜50mm程度でよい。ノズル
の数が3個以上の場合には直線状に配置されていてもよ
く、ランダムであってもよい。ノズルの向きは各ノズル
から噴射される分子ジェットがリペラー電極手前から加
速電極までの間、好ましくはリペラー電極付近で交わる
ようにするのがよい。すなち、ここで重要なことは、イ
オン化した分子が空間的に拡がらないということで、こ
のためには質量分析計の入り口部、つまりリペラー電極
の処でできる限り空間的に小さくなっていることが必要
である。この具体的な方法として、リペラー電極付近の
位置で2つ以上のノズルから噴出した分子ジェットを交
わらせるのがよい。
2以上のピンホールノズルとする。各ピンホールノズル
は同一のバルブ等に装着されていてもよく、別個のバル
ブ等に装着されていてもよい。すなわち、試料導入部の
バルブ等は一つであっても複数であってもよい。各ノズ
ルの開口部の大きさは超音速分子ジェットを作り出せる
ように定められ、これは真空イオン化室の排気能力等に
依存するが、直径で0.05〜3mm程度、特に0.1〜
1mm程度が通常適当である。各ノズルの間隔は5〜2
00mm程度、通常20〜50mm程度でよい。ノズル
の数が3個以上の場合には直線状に配置されていてもよ
く、ランダムであってもよい。ノズルの向きは各ノズル
から噴射される分子ジェットがリペラー電極手前から加
速電極までの間、好ましくはリペラー電極付近で交わる
ようにするのがよい。すなち、ここで重要なことは、イ
オン化した分子が空間的に拡がらないということで、こ
のためには質量分析計の入り口部、つまりリペラー電極
の処でできる限り空間的に小さくなっていることが必要
である。この具体的な方法として、リペラー電極付近の
位置で2つ以上のノズルから噴出した分子ジェットを交
わらせるのがよい。
【0011】スキマーについては、用いなくてもよい
が、用いた方が他の分子ジェットを乱す程度が若干では
あるが減少し、また質量分析計の排気系に掛かる負担が
減らせるので好ましい。スキマーは、ノズルと真空イオ
ン化室の間を仕切って分子ジェットの周辺部分の分子流
の真空イオン化室への進入を阻止し分子ジェットの中央
部分のみを通過させるように設けられ、従って、原則と
してノズルの開口部とスキマーの開口部は中心が略一致
するように設けられる。分子ジェットを形成するノズル
の吐出口とスキマーのスリットとの間隔は2〜300m
m程度、特に7〜100mm程度が適当である。スキマ
ーの開口径は0.1〜1mm程度、特に0.2〜0.8m
m程度が適当である。スリットを通過した分子ジェット
が拡散しないようにする点で試料導入側に突出させて形
成することが好ましい。スキマーは開口部以外は真空イ
オン化室との間を連通させないように仕切る。スキマー
の材質はSUS、アルミニウム等の金属、ガラス、耐熱
性プラスチックなどを用いることができる。スキマーで
カットされた分子ジェット部分が真空イオン化室に行か
ないよう排気手段を設ける。
が、用いた方が他の分子ジェットを乱す程度が若干では
あるが減少し、また質量分析計の排気系に掛かる負担が
減らせるので好ましい。スキマーは、ノズルと真空イオ
ン化室の間を仕切って分子ジェットの周辺部分の分子流
の真空イオン化室への進入を阻止し分子ジェットの中央
部分のみを通過させるように設けられ、従って、原則と
してノズルの開口部とスキマーの開口部は中心が略一致
するように設けられる。分子ジェットを形成するノズル
の吐出口とスキマーのスリットとの間隔は2〜300m
m程度、特に7〜100mm程度が適当である。スキマ
ーの開口径は0.1〜1mm程度、特に0.2〜0.8m
m程度が適当である。スリットを通過した分子ジェット
が拡散しないようにする点で試料導入側に突出させて形
成することが好ましい。スキマーは開口部以外は真空イ
オン化室との間を連通させないように仕切る。スキマー
の材質はSUS、アルミニウム等の金属、ガラス、耐熱
性プラスチックなどを用いることができる。スキマーで
カットされた分子ジェット部分が真空イオン化室に行か
ないよう排気手段を設ける。
【0012】パルスレーザー光発振器は、高出力のパル
スレーザー光を発振できればとくに限定されるものでは
ないが、例えばナノ秒オーダーのパルスレーザー光を発
振するものであれば、次のようなものを用いることがで
きる。つまり、色素レーザーが最も一般的に使用され
る。これは、エキシマーレーザー、あるいはヤグレーザ
ーをポンピング光源として用い、レーザー色素の交換に
より330〜1000nmまで連続的に波長を変化する
ことができる。最近は光パラメトリック発振レーザーが
市販され、色素レーザーの代わりにこれを用いて発振す
ることもできる。また、フェムト秒オーダーのレーザー
光については、大別してXeClエキシマーレーザー励
起フェムト秒パルス色素レーザーならびに増幅用KrF
エキシマーレーザーから構成されるシステムで発振でき
る。これは、ナノ秒色素レーザーをクエンチングしてさ
らにショートキャビティーレーザーを励起し、過飽和吸
収体を通過させ、9psのパルスを発生する。この光パ
ルスは色素アンプで増幅し、分布帰還型色素レーザーの
ポンプ光として用いる。最終的には、紫外線領域の波
長、フェムト秒オーダーで最大20mJ程度の出力のパ
ルスレーザー光が得られるものである。なお、フェムト
秒レーザー部の発振を遮るとナノ秒オーダーのレーザー
光も発振できる。
スレーザー光を発振できればとくに限定されるものでは
ないが、例えばナノ秒オーダーのパルスレーザー光を発
振するものであれば、次のようなものを用いることがで
きる。つまり、色素レーザーが最も一般的に使用され
る。これは、エキシマーレーザー、あるいはヤグレーザ
ーをポンピング光源として用い、レーザー色素の交換に
より330〜1000nmまで連続的に波長を変化する
ことができる。最近は光パラメトリック発振レーザーが
市販され、色素レーザーの代わりにこれを用いて発振す
ることもできる。また、フェムト秒オーダーのレーザー
光については、大別してXeClエキシマーレーザー励
起フェムト秒パルス色素レーザーならびに増幅用KrF
エキシマーレーザーから構成されるシステムで発振でき
る。これは、ナノ秒色素レーザーをクエンチングしてさ
らにショートキャビティーレーザーを励起し、過飽和吸
収体を通過させ、9psのパルスを発生する。この光パ
ルスは色素アンプで増幅し、分布帰還型色素レーザーの
ポンプ光として用いる。最終的には、紫外線領域の波
長、フェムト秒オーダーで最大20mJ程度の出力のパ
ルスレーザー光が得られるものである。なお、フェムト
秒レーザー部の発振を遮るとナノ秒オーダーのレーザー
光も発振できる。
【0013】レーザー光の集光については、何ら限定さ
れるものではなく、通常のビーム断面が円形、あるいは
特殊レンズ(シリンドリカルレンズ)を用いてできる平
面状など種々の形状のものを用いることができる。
れるものではなく、通常のビーム断面が円形、あるいは
特殊レンズ(シリンドリカルレンズ)を用いてできる平
面状など種々の形状のものを用いることができる。
【0014】レーザー光の照射位置については分子ジェ
ットが他の分子ジェットの影響を受ける前が好ましい。
これは、分子ジェット同士が交わり始めると、分子流れ
が変わったり、分子運動をし始めたりするためで、分子
ジェットにする意味がなくなり、S/N比が低下するた
めである。なお、分子がイオン状態になったら、他の分
子ジェットに由来する分子と多少相互作用しても、S/
N比が低下することは余りない。スキマーを付加する
と、分子流れの揃ったシグナルに寄与する分子のみを取
り出せ、また分子ジェットの径を絞れるため、分子ジェ
ット間の干渉が遅くなるので、レーザー光の照射位置・
形状の自由度が拡がる場合もある。
ットが他の分子ジェットの影響を受ける前が好ましい。
これは、分子ジェット同士が交わり始めると、分子流れ
が変わったり、分子運動をし始めたりするためで、分子
ジェットにする意味がなくなり、S/N比が低下するた
めである。なお、分子がイオン状態になったら、他の分
子ジェットに由来する分子と多少相互作用しても、S/
N比が低下することは余りない。スキマーを付加する
と、分子流れの揃ったシグナルに寄与する分子のみを取
り出せ、また分子ジェットの径を絞れるため、分子ジェ
ット間の干渉が遅くなるので、レーザー光の照射位置・
形状の自由度が拡がる場合もある。
【0015】イオン化室は高真空を形成しうる構造をし
ていて、レーザー光を透過する材質で作られている窓を
設けてあればよい。真空イオン化室と質量分析計の真空
室が連設されて仕切がない場合もある。その場合、イオ
ン化が行なわれる部位が真空イオン化室に担当する部位
になる。
ていて、レーザー光を透過する材質で作られている窓を
設けてあればよい。真空イオン化室と質量分析計の真空
室が連設されて仕切がない場合もある。その場合、イオ
ン化が行なわれる部位が真空イオン化室に担当する部位
になる。
【0016】また、質量分析計としては、飛行時間型、
四重極型、二重収束型など何れの形式のものも用いるこ
とができる。
四重極型、二重収束型など何れの形式のものも用いるこ
とができる。
【0017】イオン化室および質量分析計の真空室は油
回転ポンプ、メカニカルブースターポンプ、油拡散ポン
プ、ターボ分子ポンプなどを接続して10-6〜10-8t
orr程度に保持できるようにする。
回転ポンプ、メカニカルブースターポンプ、油拡散ポン
プ、ターボ分子ポンプなどを接続して10-6〜10-8t
orr程度に保持できるようにする。
【0018】試料の導入については、通常イオン化室
(または相当する部位)が10-6torr以下に保持さ
れているので、ガス状になってさえいれば常圧付近の圧
力で十分でこれが駆動力になり導入されるため、とくに
加圧しなくてもよいが、高圧の試料を直接導入しても何
ら支障はない。また、よく知られているように減圧する
と分子ジェットの密度が高くなり、若干ではあるが感度
が向上する場合もあるので、好ましいときもある。
(または相当する部位)が10-6torr以下に保持さ
れているので、ガス状になってさえいれば常圧付近の圧
力で十分でこれが駆動力になり導入されるため、とくに
加圧しなくてもよいが、高圧の試料を直接導入しても何
ら支障はない。また、よく知られているように減圧する
と分子ジェットの密度が高くなり、若干ではあるが感度
が向上する場合もあるので、好ましいときもある。
【0019】分子イオンの質量数決定と検出については
質量分析計を通常の作動状態で運転すればよく、記録に
ついては一般的なデジタルオシロスコープ、レコーダー
で行うことができる。
質量分析計を通常の作動状態で運転すればよく、記録に
ついては一般的なデジタルオシロスコープ、レコーダー
で行うことができる。
【0020】
実施例1 図1〜図2に示すレーザーイオン化質量分析装置を作製
した。この装置に使用した部品の多くは市販品であり、
試料導入部1にはGeneral Valve社製のパ
ルスバルブ(PN91−47−900(85kg/c
m2))を、パルスレーザー光発振器3にはSpectr
a−Physics社製 MOPO−730型のレーザ
ーシステムを、質量分析計5は長さ1200mmの飛行
管のリフレクトロンタイプの飛行時間型のものを、検出
器53には浜松ホトニクス(株)製のF1094型マイク
ロチャンネルプレートを、そして、記録計(図示されて
いない。)にはLecroy社製の9360型デジタル
オシロスコープを使用した。
した。この装置に使用した部品の多くは市販品であり、
試料導入部1にはGeneral Valve社製のパ
ルスバルブ(PN91−47−900(85kg/c
m2))を、パルスレーザー光発振器3にはSpectr
a−Physics社製 MOPO−730型のレーザ
ーシステムを、質量分析計5は長さ1200mmの飛行
管のリフレクトロンタイプの飛行時間型のものを、検出
器53には浜松ホトニクス(株)製のF1094型マイク
ロチャンネルプレートを、そして、記録計(図示されて
いない。)にはLecroy社製の9360型デジタル
オシロスコープを使用した。
【0021】試料導入部には図2に示すパルスバルブ1
1を装着した。このパルスバルブ11はステンレス製で
2個の開口径0.2mmのピンホールノズル12が中心
点間30mmの間隔をおいて設けられている。
1を装着した。このパルスバルブ11はステンレス製で
2個の開口径0.2mmのピンホールノズル12が中心
点間30mmの間隔をおいて設けられている。
【0022】スキマー2はステンレス製で肉厚0.8m
mであり、孔径が0.3mmで、その先端の外壁の角度
が55°、内壁の角度が45°のものを用いた。スキマ
ーの位置はノズルから25mmとした。同じ形の2つの
ノズルとスキマーにより得られる分子ジェットを質量分
析計のリペラー電極位置で交わるよう、互いの分子ジェ
ットの交わる角度を20°となるように配置し、2つの
ノズルをレーザー光と同期して一緒に作動させた。
mであり、孔径が0.3mmで、その先端の外壁の角度
が55°、内壁の角度が45°のものを用いた。スキマ
ーの位置はノズルから25mmとした。同じ形の2つの
ノズルとスキマーにより得られる分子ジェットを質量分
析計のリペラー電極位置で交わるよう、互いの分子ジェ
ットの交わる角度を20°となるように配置し、2つの
ノズルをレーザー光と同期して一緒に作動させた。
【0023】発振器3から発せられたパルスレーザー光
32はレンズ31で集光されて窓41から真空イオン化
室4に入る。一方、試料ガスは試料導入部1のパルスバ
ルブ11によって間欠的に導入され、ノズル12から噴
射されて分子ジェット13が形成される。この分子ジェ
ット13はスキマー2に衝突し、その中心部分のみがス
キマー2の孔部21を通過して真空イオン化室4に入
る。そこでこの分子ジェット22にレーザー光32が照
射されてイオン化され、質量分析計5に入る。レーザー
光32の照射方向は2つの分子ジェットの作る平面と直
角方向とする。質量分析計5の真空室51内で、まずリ
ペラー電極52によって分子ジェット22の方向が90
度曲げられ、次いで高電圧加速電極53によって加速さ
れる。さらに、イオンリフレクター54で反射されてイ
オン検出器55で各イオンが検出される。この検出信号
がデジタルオシロスコープによって計測される。スキマ
ー2で仕切られた前室23、真空イオン化室4及び質量
分析計の真空室51にはそれぞれ排気系が接続されてい
て内部を真空状態に維持している。
32はレンズ31で集光されて窓41から真空イオン化
室4に入る。一方、試料ガスは試料導入部1のパルスバ
ルブ11によって間欠的に導入され、ノズル12から噴
射されて分子ジェット13が形成される。この分子ジェ
ット13はスキマー2に衝突し、その中心部分のみがス
キマー2の孔部21を通過して真空イオン化室4に入
る。そこでこの分子ジェット22にレーザー光32が照
射されてイオン化され、質量分析計5に入る。レーザー
光32の照射方向は2つの分子ジェットの作る平面と直
角方向とする。質量分析計5の真空室51内で、まずリ
ペラー電極52によって分子ジェット22の方向が90
度曲げられ、次いで高電圧加速電極53によって加速さ
れる。さらに、イオンリフレクター54で反射されてイ
オン検出器55で各イオンが検出される。この検出信号
がデジタルオシロスコープによって計測される。スキマ
ー2で仕切られた前室23、真空イオン化室4及び質量
分析計の真空室51にはそれぞれ排気系が接続されてい
て内部を真空状態に維持している。
【0024】試料ガスにはクロロベンゼンを用いて質量
分析を行なった。このときのレーザー光エネルギーは2
mJ、照射時間は5ns、波長は269.8nmとし
た。クロロベンゼンはアルゴンガスとともに一定濃度の
超音速ジェットで高真空のイオン化室4に導入した。生
成したイオンはマイクロチャンネルプレートで検出し、
デジタルオシロスコープで10回積算してスペクトルを
得た。結果を図3に示す。
分析を行なった。このときのレーザー光エネルギーは2
mJ、照射時間は5ns、波長は269.8nmとし
た。クロロベンゼンはアルゴンガスとともに一定濃度の
超音速ジェットで高真空のイオン化室4に導入した。生
成したイオンはマイクロチャンネルプレートで検出し、
デジタルオシロスコープで10回積算してスペクトルを
得た。結果を図3に示す。
【0025】比較例1 一方のノズルを作動させない以外は実施例1と同一の装
置を用い、同一の実験を行なった。図3に得られた結果
を示す。
置を用い、同一の実験を行なった。図3に得られた結果
を示す。
【0026】図3から、実施例と比較例とではピーク幅
には変化のないことが判る。また、実施例は2つのノズ
ルを使用して比較例に比べて2倍の試料を導入している
ので、S/N比が2倍となっていることが明らかであ
る。したがって、大量の試料を導入でき、ピーク幅は拡
がらないので、試料を導入した量に直接比例した高感度
化を図れること、すなわち導入装置はその他の部分に比
べかなり小さいので分析装置、とくに排気系をコンパク
ト化したままで高感度化を図れることを意味している。
には変化のないことが判る。また、実施例は2つのノズ
ルを使用して比較例に比べて2倍の試料を導入している
ので、S/N比が2倍となっていることが明らかであ
る。したがって、大量の試料を導入でき、ピーク幅は拡
がらないので、試料を導入した量に直接比例した高感度
化を図れること、すなわち導入装置はその他の部分に比
べかなり小さいので分析装置、とくに排気系をコンパク
ト化したままで高感度化を図れることを意味している。
【0027】
【発明の効果】以上のように、本発明によると、質量分
析計の能力を上げることなく、すなわち安価でコンパク
ト質量分析計で多量な試料を導入できるので、レーザー
イオン化質量分析装置がコンパクトなまま感度向上が図
れるという効果がある。
析計の能力を上げることなく、すなわち安価でコンパク
ト質量分析計で多量な試料を導入できるので、レーザー
イオン化質量分析装置がコンパクトなまま感度向上が図
れるという効果がある。
【図1】 本発明の一実施例である装置の構成を示す図
である。
である。
【図2】 この装置の試料導入部、パルスレーザー光発
振器及び真空イオン化室部分の断面図である。
振器及び真空イオン化室部分の断面図である。
【図3】 上記装置を用いて得られたクロロベンゼンの
マススペクトルを示すグラフである。
マススペクトルを示すグラフである。
1………試料導入部 11…パルスバルブ 12…ノズル 13…分子ジェット 2………スキマー 21…孔部 22…分子ジェット 23…前室 3………パルスレーザー光発振器 31…レンズ 32…パルスレーザー光 4………真空イオン化室 41…窓 5………質量分析計 51…真空室 52…リペラー電極 53…加速電極 54…イオンリフレクター 55…検出器 61…排気系(油回転ポンプ又は油拡散ポンプ) 62…排気系(油回転ポンプ又は油拡散ポンプ) 63…排気系(ターボ分子ポンプ)
Claims (1)
- 【請求項1】 分子ジェットを形成するノズルを備えた
試料導入部と、パルスレーザー光発振器と、該発振器か
ら発せられたレーザー光が通過しうる窓を有する真空イ
オン化室または相当する部位と、該レーザー光によって
イオン化された分子の質量を分析する質量分析計を有
し、前記試料導入部のノズルが2以上のピンホールノズ
ルからなっていることを特徴とするレーザーイオン化質
量分析装置
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8230867A JPH1074480A (ja) | 1996-08-30 | 1996-08-30 | レーザーイオン化法質量分析装置 |
US09/065,089 US5977541A (en) | 1996-08-29 | 1997-08-29 | Laser ionization mass spectroscope and mass spectrometric analysis method |
PCT/JP1997/003029 WO1998009316A1 (fr) | 1996-08-29 | 1997-08-29 | Spectroscope de masse a ionisation par laser et procede d'analyse par spectroscopie de masse |
KR1019980703112A KR19990067163A (ko) | 1996-08-29 | 1997-08-29 | 레이저 이온화 질량 분석 장치 및 질량 분석 방법 |
EP97937847A EP0860859A1 (en) | 1996-08-29 | 1997-08-29 | Laser ionization mass spectroscope and mass spectrometric analysis method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8230867A JPH1074480A (ja) | 1996-08-30 | 1996-08-30 | レーザーイオン化法質量分析装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1074480A true JPH1074480A (ja) | 1998-03-17 |
Family
ID=16914557
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8230867A Pending JPH1074480A (ja) | 1996-08-29 | 1996-08-30 | レーザーイオン化法質量分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH1074480A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0966022A2 (en) * | 1998-06-18 | 1999-12-22 | Micromass Limited | Multi-inlet mass spectrometer |
JP2009521083A (ja) * | 2005-12-22 | 2009-05-28 | シマヅ リサーチ ラボラトリー(ヨーロッパ)リミティド | 動的圧力イオン源を用いる質量分析計 |
-
1996
- 1996-08-30 JP JP8230867A patent/JPH1074480A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0966022A2 (en) * | 1998-06-18 | 1999-12-22 | Micromass Limited | Multi-inlet mass spectrometer |
EP0966022A3 (en) * | 1998-06-18 | 2002-01-30 | Micromass Limited | Multi-inlet mass spectrometer |
US6410915B1 (en) | 1998-06-18 | 2002-06-25 | Micromass Limited | Multi-inlet mass spectrometer for analysis of liquid samples by electrospray or atmospheric pressure ionization |
JP2009521083A (ja) * | 2005-12-22 | 2009-05-28 | シマヅ リサーチ ラボラトリー(ヨーロッパ)リミティド | 動的圧力イオン源を用いる質量分析計 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Köller et al. | Plasmon-enhanced multi-ionization of small metal clusters in strong femtosecond laser fields | |
WO1998009316A1 (fr) | Spectroscope de masse a ionisation par laser et procede d'analyse par spectroscopie de masse | |
Carson et al. | Laser desorption/ionization of ultrafine aerosol particles | |
Oser et al. | Jet-REMPI for the detection of trace gas compounds in complex gas mixtures, a tool for kinetic research and incinerator process control | |
JP2009505082A (ja) | 化合物を質量分析によって検出する方法および装置 | |
JPS6318320B2 (ja) | ||
JP2009054441A (ja) | 大気圧maldi質量分析装置 | |
JPH1074480A (ja) | レーザーイオン化法質量分析装置 | |
Michalik-Onichimowska et al. | Microsecond mid-infrared laser pulses for atmospheric pressure laser ablation/ionization of liquid samples | |
JPH1074479A (ja) | レーザーイオン化質量分析装置及び質量分析方法 | |
Kirihara et al. | Development of a RIMMPA-TOFMS. Isomer selective soft ionization of PCDDs/DFs | |
JP3765434B2 (ja) | レーザーイオン化質量分析装置 | |
JP4906403B2 (ja) | ガス分析用Jet−REMPI装置 | |
Matsumoto et al. | Supersonic jet multiphoton ionization mass spectrometry using nanosecond and femtosecond pulse lasers | |
Cheng et al. | A photoemitted electron‐impact ionization method for time‐of‐flight mass spectrometers | |
Schilke et al. | A laser vaporization, laser ionization time‐of‐flight mass spectrometer for the probing of fragile biomolecules | |
JPH02176459A (ja) | 液体クロマトグラフ・質量分析装置 | |
CN112074927A (zh) | 用于粒子的质谱分析的装置和方法 | |
JPH11329344A (ja) | レーザーイオン化質量分析装置 | |
Philis | Laser induced ionisation/dissociation of cyclopentanone in the 320–370 nm region | |
JPH1069878A (ja) | レーザイオン化質量分析装置 | |
JPH07161336A (ja) | 質量分析方法およびそのための装置 | |
JP2000133198A (ja) | レーザーイオン化質量分析装置 | |
Appel et al. | Development of medium pressure laser ionization, MPLI. Description of the MPLI ion source | |
Suzuki et al. | A new laser mass spectrometry for chemical ultratrace analysis enhanced with multi-mirror system (RIMMPA) |