JP2009295828A - 電子部品 - Google Patents

電子部品 Download PDF

Info

Publication number
JP2009295828A
JP2009295828A JP2008148779A JP2008148779A JP2009295828A JP 2009295828 A JP2009295828 A JP 2009295828A JP 2008148779 A JP2008148779 A JP 2008148779A JP 2008148779 A JP2008148779 A JP 2008148779A JP 2009295828 A JP2009295828 A JP 2009295828A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electronic component
external electrode
stress
conductor
stress buffer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2008148779A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenichi Yamamoto
憲一 山本
Michio Oba
美智央 大庭
Shinya Matsutani
伸哉 松谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Corp
Original Assignee
Panasonic Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Corp filed Critical Panasonic Corp
Priority to JP2008148779A priority Critical patent/JP2009295828A/ja
Publication of JP2009295828A publication Critical patent/JP2009295828A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

【課題】本発明は電子部品における熱衝撃信頼性を向上させることを目的とする。
【解決手段】そして、この目的を達成するために本発明は、絶縁材料からなる素体1と、前記素体1内部に埋設された導電体2と、前記素体1から少なくともその一部が表出された外部電極端子3A、3Bと、前記導電体2と前記外部電極端子3A、3Bとを電気的に接続する接続配線4A、4Bとを備え、前記接続配線4A、4Bの少なくとも一部に応力緩衝部6を設けた構成としたものである。
【選択図】図3

Description

本発明は、携帯電話等の電子機器に用いられる電子部品に関するものである。
従来この種の電子部品は、図7及びそのC−CC断面図である図8に示されるように、絶縁材料からなる素体21と、前記素体21内に埋設された導電体22と、この導電体22に接続部23、24を介して電気的に接続された外部電極端子25、26とを備える構成としていた。
なお、この出願に関する先行技術文献情報としては、例えば、特許文献1が知られている。
特開2005−317604号公報
しかしながら、このような従来の電子部品の構成では、熱衝撃信頼性が低いことが問題となっていた。即ち、前記素体21とこの素体21内に設けられた導電体22との熱膨張係数との違いから、前記接続部23、24に断線などが生じてしまい、熱衝撃信頼性が低くなってしまっていた。
そこで、本発明は電子部品における熱衝撃信頼性を向上させることを目的とする。
そして、この目的を達成するために本発明は、絶縁材料からなる素体と、前記素体内部に埋設された導電体と、前記素体から少なくともその一部が表出された外部電極端子と、前記導電体と前記外部電極端子とを電気的に接続する接続配線とを備え、前記接続配線の少なくとも一部に応力緩衝部を設けた構成としたものである。
上記構成により本発明の電子部品は、前記素体と前記導電体との熱膨張係数の違いから前記接続部に生じる応力を前記応力緩衝部が緩和するため、熱衝撃信頼性を向上させることができるものである。
(実施の形態1)
以下、本発明の実施の形態1における電子部品について図面を参照しながら説明する。
本実施の形態における電子部品は、図1、図2に示すごとく、絶縁材料からなる素体1と、前記素体1内部に埋設された銅からなるコイル2A及びビア2Bからなる導電体2と、前記素体1から少なくともその一部が表出された外部電極端子3A、3Bと、前記導電体2と前記外部電極端子3A、3Bとを電気的に接続する接続配線4A、4Bとを備え、前記外部電極3A、3Bの外表面は、実装基板への実装性を高めるために錫などの金属5で被覆しており、前記接続配線4A、4Bの少なくとも一部には応力緩衝部を設けた構成としている。
具体的には、図2のB−BB断面図である図3に示すごとく、接続配線4Bの一部にクランク形状の応力緩衝部6を設けたような構成である。
このような構成により、本発明の電子部品は、前記素体1と前記導電体2との熱膨張係数の違いから前記接続部4Bに生じる応力を前記クランク形状の応力緩衝部6が緩和するため、熱衝撃信頼性を向上させることができるものである。
具体的には、導電体2として熱膨張係数が16ppm/℃程度のガラスエポキシ材料が用いられるとともに、前記素体1の熱膨張係数が50ppm/℃程度であり、且つ100℃〜200℃の温度増減が発生した場合を想定すると、前記応力緩衝部6を用いない場合、1GPaを超える内部応力が生じる。この内部応力は、前記外部電極端子3A、3Bと前記素体1との密着力で幾分緩和されるが、前記接続配線4A、4Bに対しては、その両端の外部電極端子3A、3Bから、直接的に圧縮力・張力が印加されるため、発生する負荷は前述した密着力に比較して著しく高い。それにより、接続配線4A、4Bにおいて断線が生じる可能性がある。
これに対し、応力緩衝部6を設ける構成とすることで、その内部応力、特に本実施の形態における電子部品の性能を支配するコイル2Aへの内部応力は大幅に緩和され、特性の変化を最小限に抑えることができると共に、接続配線4A、4Bにおける断線の発生を抑制し、熱衝撃信頼性を高めることができるのである。この効果は、製造工程における熱処理時や、実装後にセット内で発生した熱がこの電子部品に伝わるような場合、あるいは自己発熱が生じた場合など、熱衝撃が加わる様々な状況において得ることができる。
また、前記応力緩衝部6の体積は前記導電体2の体積に対して非常に小さい構成としても構わないため、この応力緩衝部6を設けることによる電気的特性の劣化を抑制することが可能である。
なお、この応力緩衝部6は、図2に示す接続配線4A、4Bの双方、あるいは接続配線4Aのみに設ける構成としても構わないが、前記接続配線4A、4Bの内、少なくとも実装面に近い方の接続配線4Bに設けることが望ましい。即ち、実装基板(図示せず)と前記導電体2との熱膨張係数の差による応力は、この実装面に遠い接続配線4Aと比較して、近い接続配線4Bの方に大きくかかるため、接続配線4A、4Bの内、少なくとも前記外部電極端子3A、3Bの実装面に近い方の接続配線4Bに前記応力緩衝部6を設けることが望ましい。
なお、前記クランク形状の応力緩衝部6における屈曲部は、鋭角を持たない丸みを帯びた形状とすることが望ましい。鋭角を有する構成とすると、前記鋭角に応力が集中し、接続配線4A、4Bの断線の原因となる可能性があるからである。
なお、本実施の形態においては、応力緩衝部6をクランク形状として説明したが、半円形状や方形波形状としても構わない。ただし、上述したとおり、屈曲部が鋭角を持たない丸みを帯びた形状とすることが望ましい。
なお、接続配線4A、4Bの断線を防ぐ形状として、図4に示すように幅広部27を有する形状もあげられるが、本発明に示すごとく、応力緩衝部6を有する構成とする方が望ましい。
即ち、図4に示す構成では、接続配線4Bにおける断線の発生を抑制することができたとしても、その応力集中部が導電体2へ移動し、次いでは内部配線の断線の可能性を高めてしまいかねないが、本実施の形態に示すごとく、応力緩衝部6を設ける構成とすることにより、前記素体1と前記導電体2との間に生じた応力を緩和することができ、熱衝撃信頼性をより高めることができるのである。
また、接続配線4A、4Bから導電体2にかけて、それらの肉厚を増すことによりそれらの断線を防ぐ構成とすることも考えられるが、これも見かけ上の剛性を高めるのみである。即ち、応力集中部が前記実装基板(図示せず)と前記外部電極3A、3Bとのはんだ接続部に移動し、次いでは前記はんだ接続部の断線の可能性を高めてしまいかねないが、本実施の形態に示すごとく、応力緩衝部6を設ける構成とすることにより、前記実装基板(図示せず)と前記導電体2との間に生じた応力を緩和することができ、熱衝撃信頼性をより高めることができるのである。
なお、電子部品外部からの応力を緩和することを目的とし、素体1に樹脂材料を用いて構成することが可能であるが、樹脂はセラミック等の材料と比較してその線膨張係数が高く、前記導電体2との線膨張係数差が大きくなり、その結果として、前記接続配線4A、4Bにより大きな応力がかかってしまう可能性があるが、本実施の形態に示すごとく、接続配線4A、4Bに応力緩衝部6を設ける構成により、前記接続配線4A、4Bにおいて断線する可能性を低減すると共に、前記素体1に樹脂材料を用いて構成し電子部品外部からの応力を緩和することができるのである。
なお、前記応力緩衝部6における屈曲、あるいは湾曲させる寸法を、前記応力緩衝部6線幅の2倍以上とすることで、上述した効果をより一層高めることができる。
なお、図5に示すように、前記応力緩衝部6の周囲に間隙7を設けて、前記応力緩衝部6の動作を拘束しない構成とすることにより、上述の応力緩衝の効果をより一層引き出すことができる。このとき、実際の配線に生じる線膨張係数差に依存した変位は1μmから大きい場合でも2μm程度である。したがって、製品の構造や強度に影響を与えるほどの広い空間は必要ではなく、前記素体1と前記応力緩衝部6とが接触状態にあったとしても、それらが密着性を有していなければ、前記応力緩衝部6の動作を妨げることはなく、応力を有効的に緩和することが可能である。
なお、本実施の形態においては、図3に示すごとく、接続配線4Bに屈曲形状を設けることで応力緩衝部6を設ける構成を示したが、図6に示すように、屈曲の有無にかかわらず、前記導電体2よりも低弾性な導電材料を用いて応力緩衝部6を構成しても構わない。具体的には、例えば金やそれを導電フィラー材として用いた導電性ペースト8を接続配線4Bの少なくとも一部に設ける構成とすることにより、実装基板と前記素体1との熱膨張差による応力が緩和し、熱衝撃信頼性を向上させる構成としても構わない。
なお、本実施の形態においては、導電体2として、コイル2Aとビア2Bとを用いて説明したが、この構成に限定されず、導電材料からなるパターンであれば同様の効果を得ることができる。
本発明の電子部品は、高い熱衝撃信頼性を有し、各種電子機器において有用である。
本発明の実施の形態1における電子部品の斜視図 図1のA−AA断面図 図2のB−BB断面図 本発明の実施の形態1における電子部品の他の実施例を示す断面図 本発明の実施の形態1における電子部品の他の実施例を示す断面図 本発明の実施の形態1における電子部品の他の実施例を示す断面図 従来の電子部品の斜視図 図7のC−CC断面図
符号の説明
1 素体
2 導電体
2A コイル
2B ビア
3A、3B 外部電極端子
4A、4B 接続配線
5 金属
6 応力緩衝部

Claims (8)

  1. 絶縁材料からなる素体と、
    前記素体内部に埋設された導電体と、
    前記素体から少なくともその一部が表出された外部電極端子と、
    前記導電体と前記外部電極端子とを電気的に接続する接続配線とを備え、
    前記接続配線の少なくとも一部に応力緩衝部を設けた
    電子部品。
  2. 前記外部電極端子は第1、第2の外部電極端子からなり、
    前記接続配線は前記第1の外部電極端子に電気的に接続される第1接続配線と
    前記第2の外部電極端子に電気的に接続される第2の接続配線とからなり、
    前記応力緩衝部は、前記第1、第2の接続配線の内
    前記外部電極端子における実装面に近い方に設けられた
    請求項1記載の電子部品。
  3. 前記応力緩衝部は略クランク形状とした
    請求項1又は2に記載の電子部品。
  4. 前記略クランク形状における屈曲部が丸みを有する
    請求項3記載の電子部品。
  5. 前記応力緩衝部は半円形状とした
    請求項1又は2に記載の電子部品。
  6. 前記応力緩衝部は方形波形状とした
    請求項1又は2に記載の電子部品。
  7. 前記応力緩衝部は
    前記導電体の有する縦弾性係数より小さい縦弾性係数を有する導電材料からなる
    請求項1又は2に記載の電子部品。
  8. 前記応力緩衝部の周囲には応力緩衝部と接触しない空隙部が設けられた
    請求項1乃至6の内いずれかに記載の電子部品。
JP2008148779A 2008-06-06 2008-06-06 電子部品 Pending JP2009295828A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008148779A JP2009295828A (ja) 2008-06-06 2008-06-06 電子部品

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008148779A JP2009295828A (ja) 2008-06-06 2008-06-06 電子部品

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2009295828A true JP2009295828A (ja) 2009-12-17

Family

ID=41543744

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008148779A Pending JP2009295828A (ja) 2008-06-06 2008-06-06 電子部品

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2009295828A (ja)

Citations (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0855752A (ja) * 1994-08-10 1996-02-27 Taiyo Yuden Co Ltd 積層コンデンサの実装方法及び積層コンデンサ
JPH0883715A (ja) * 1994-09-09 1996-03-26 Murata Mfg Co Ltd 積層セラミック電子部品およびその製造方法
JPH1126285A (ja) * 1997-06-30 1999-01-29 Kyocera Corp 積層セラミックコンデンサ
JP2000306771A (ja) * 1999-04-23 2000-11-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電子部品及び電子部品の製造方法
JP2001155959A (ja) * 1999-11-30 2001-06-08 Kyocera Corp 積層型電子部品およびその製法
JP2001326550A (ja) * 2000-05-17 2001-11-22 Tdk Corp 積層型lc複合部品
JP2003022930A (ja) * 2001-07-09 2003-01-24 Taiyo Yuden Co Ltd 積層セラミックコンデンサ
JP2003045740A (ja) * 2001-07-30 2003-02-14 Kyocera Corp 積層型電子部品
JP2003318065A (ja) * 2002-04-19 2003-11-07 Ngk Spark Plug Co Ltd 積層電子部品およびその製造方法
JP2004079994A (ja) * 2002-06-20 2004-03-11 Murata Mfg Co Ltd 導電性ペースト及び積層型電子部品
WO2006046461A1 (ja) * 2004-10-29 2006-05-04 Murata Manufacturing Co., Ltd. チップ型電子部品を内蔵した多層基板及びその製造方法
JP2006128282A (ja) * 2004-10-27 2006-05-18 Kyocera Corp 積層型電子部品およびその製法
JP2006261585A (ja) * 2005-03-18 2006-09-28 Tdk Corp コモンモードチョークコイル
JP2006324462A (ja) * 2005-05-19 2006-11-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd チップ部品
JP2007134555A (ja) * 2005-11-11 2007-05-31 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電子部品及びその製造方法
JP2007220491A (ja) * 2006-02-16 2007-08-30 Toyota Industries Corp 電極端子部材の位置決め構造

Patent Citations (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0855752A (ja) * 1994-08-10 1996-02-27 Taiyo Yuden Co Ltd 積層コンデンサの実装方法及び積層コンデンサ
JPH0883715A (ja) * 1994-09-09 1996-03-26 Murata Mfg Co Ltd 積層セラミック電子部品およびその製造方法
JPH1126285A (ja) * 1997-06-30 1999-01-29 Kyocera Corp 積層セラミックコンデンサ
JP2000306771A (ja) * 1999-04-23 2000-11-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電子部品及び電子部品の製造方法
JP2001155959A (ja) * 1999-11-30 2001-06-08 Kyocera Corp 積層型電子部品およびその製法
JP2001326550A (ja) * 2000-05-17 2001-11-22 Tdk Corp 積層型lc複合部品
JP2003022930A (ja) * 2001-07-09 2003-01-24 Taiyo Yuden Co Ltd 積層セラミックコンデンサ
JP2003045740A (ja) * 2001-07-30 2003-02-14 Kyocera Corp 積層型電子部品
JP2003318065A (ja) * 2002-04-19 2003-11-07 Ngk Spark Plug Co Ltd 積層電子部品およびその製造方法
JP2004079994A (ja) * 2002-06-20 2004-03-11 Murata Mfg Co Ltd 導電性ペースト及び積層型電子部品
JP2006128282A (ja) * 2004-10-27 2006-05-18 Kyocera Corp 積層型電子部品およびその製法
WO2006046461A1 (ja) * 2004-10-29 2006-05-04 Murata Manufacturing Co., Ltd. チップ型電子部品を内蔵した多層基板及びその製造方法
JP2006261585A (ja) * 2005-03-18 2006-09-28 Tdk Corp コモンモードチョークコイル
JP2006324462A (ja) * 2005-05-19 2006-11-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd チップ部品
JP2007134555A (ja) * 2005-11-11 2007-05-31 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電子部品及びその製造方法
JP2007220491A (ja) * 2006-02-16 2007-08-30 Toyota Industries Corp 電極端子部材の位置決め構造

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3520776B2 (ja) 電子部品
JP4815245B2 (ja) ロウ付け式で配設された端子要素を有するパワー半導体モジュール
WO2016189952A1 (ja) 電子部品
JP4658268B2 (ja) 電力用半導体モジュール
JP6286914B2 (ja) セラミック電子部品
JP6363825B2 (ja) 半導体装置及びリードフレーム
JP5844897B2 (ja) 電子デバイス
KR100990527B1 (ko) 휨저항성 기부판을 갖는 전력 반도체 모듈
JP2005142189A (ja) 半導体装置
US20200350235A1 (en) Semiconductor apparatus
KR20130128403A (ko) 세라믹 다층 소자 및 세라믹 다층 소자의 제조 방법
JP2008294219A (ja) 半導体装置及びその製造方法
US10154597B2 (en) Component mount board
JP2009295828A (ja) 電子部品
JP2007234820A (ja) セラミック電子部品
WO2018003402A1 (ja) 表面実装形薄膜抵抗ネットワーク
JP6497942B2 (ja) 電子制御装置
JP5167856B2 (ja) 半導体素子の実装構造
JP6060053B2 (ja) パワー半導体装置
JP2006344652A (ja) 半導体装置及び半導体素子の搭載方法
KR101018218B1 (ko) 와이어 본딩 구조체 및 그 제조방법
JP6927829B2 (ja) 接合構造および半導体パッケージ
JP5065707B2 (ja) 電子部品の実装構造
JP2019508908A (ja) はんだボールを備えたパッケージング構造、及びパッケージング構造を製造する方法
JP2006324390A (ja) 配線基板および半導体装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110510

RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20110614

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120411

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120417

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120618

RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20121213

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130122

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130325

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130618

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130717

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20130820