JP2009288113A - 質量分析システムおよび質量分析方法 - Google Patents
質量分析システムおよび質量分析方法 Download PDFInfo
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Abstract
未知試料の同定を目的として質量分析システムにおいて、効率良く未知試料に関する情報を取得する手法を提供する。
【解決手段】
質量分析を行うことで得られたマススペクトルの各ピークに対してガウス関数を用いることで強度変化を予測し、その強度変化にもとづいて次に行うタンデム質量分析の回数および親イオンを決定する。試料の分離手段と質量分析装置から構成される質量分析システムにおいて、既に得られている質量分析のマススペクトルから、そこに出現している各ピークの強度変化を予測することで、タンデム質量分析の回数を決定することを1つの特徴とする。本発明によれば、これにより1測定中におけるタンデム質量分析の回数が増加することにより、試料における成分の多くの構造情報を取得可能となり、同定の精度が向上する。
【選択図】図3
Description
(1)特許文献1では、データベースを利用することでタンデム質量分析を優先的に行うイオンとタンデム質量分析が不必要なイオンを選定する手法について述べられている。
(2)特許文献2では、質量分析したマススペクトルの取得後に内部データベースを検索し、親イオン候補数等に応じて親イオンを幾つかのグループに分類して、グループ毎にタンデム質量分析を行う手法について述べられている。
2 表示部
3 データ処理部
4 制御部
5 試料分離部
6 イオン化部
7 質量分析部
8 イオン検出部
9 データベース
10 試料導入
11 試料分離
12 イオン化
13 質量分析(MS)
14 親イオンの解離
15 質量分析(MS2)
16 MS2回数の決定
17 所定回数終了判定
18 ピーク抽出処理
19 ピーク強度変化計算
20 MS2回数決定
21 ピーク情報データベース
22 ピークリストピークNo.
23 ピークリストm/z
24 ピークリストイオン強度
25 ピークリスト保持時間(分)
26 探索結果ピークNo.
27 探索結果m/z
28 探索結果イオン強度
29 探索結果保持時間(分)
30,33 ピークP1
31,34 ピークP2
32,35 ピークP3
36 ガウス関数曲線
37 探索結果の代表例におけるピークNo.
38 探索結果の代表例におけるm/z
39 探索結果の代表例におけるイオン強度
40 探索結果の代表例における保持時間(分)
41 探索結果の代表例における対数イオン強度
42 実取得値
43 実演算ガウス関数曲線
44 閾値
45 存在時間
46 MS2回数リストピークNo.
47 MS2回数リストm/z
48 MS2回数リストイオン強度
49 MS2回数リスト保持時間(分)
50 MS2回数リストMS2回数
51 MS2分析条件の設定画面
52 強度予測条件設定欄
53 一致裕度(m/z)の設定欄
54 閾値の設定欄
55 MS2実施条件の設定欄
56 最大回数の設定欄
57 優先条件の設定部
Claims (7)
- 試料を分離する試料分離部と、前記試料分離部を備えた質量分析部と、前記質量分析部に関する条件を設定する入力部からなる質量分析システムにおいて、過去に得られた質量分析結果からイオン強度変化を予測して、その予測を元に親イオンの解離を実施する回数を決定する手段を備えることを特徴とする質量分析システム。
- 請求項1において前記イオン強度変化を予測する手段を備える質量分析システム。
- 請求項1においてガウス関数を使用することで前記イオン強度変化を予測する手段を備える質量分析システム。
- 第一の質量分析を実行する処理と、
第一の質量分析から得られたスペクトルのピークについて、その後親イオンの解離を行った場合のイオン強度変化を予測する処理と、
前記ピークについて、そのイオン強度が所定値より小さくなるまでの親イオンの解離の回数を求める処理と、
を有することを特徴とする質量分析方法。 - 請求項4において、
求められた親イオンの解離を実施する回数を表示することを特徴とする質量分析方法。 - 請求項4において、
求められた親イオンの解離を実施する回数だけ、親イオンの解離を実行することを特徴とする質量分析方法。 - 請求項4において、
ガウス関数を使用することで前記イオン強度変化を予測することを特徴とする質量分析方法。
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