JP2006064562A - 質量分析方法及び質量分析システム - Google Patents

Abstract

【課題】クロマトグラフィー装置により分離された試料をタンデム質量分析するシステムにおいて、高効率・高スループットにタンデム分析を可能とする質量分析システムを提供すること。
【解決手段】質量分析装置に対し並列関係に配置された複数のクロマトグラフィー装置を所定の時間差をおいて溶出開始し、後続の質量分析装置により質量分析する方法であって先発のクロマトグラフィー装置におけるクロマトグラムを実時間解析し、上記解析結果を後発のクロマトグラフィー装置の溶出条件の変更に実時間で使用する質量分析方法、及びそれを実施するのに適した質量分析装置システム。
【選択図】図１

Description

本発明は、クロマトグラフィー装置により分離された試料をタンデム質量分析する質量分析方法及びそれを実施するのに適した質量分析システムに関する。

一般的に、液体クロマトグラフィー装置（ＬＣ）或いはガスクロマトグラフィー装置（ＧＣ）―タンデム質量分析システムでは、測定対象の試料を、ＬＣ或いはＧＣを通過する時間の違いにより、試料を時間的に分離する。その後、分離されて出てきた試料をイオン化し、生成された様々なイオンを質量分析装置に送り込み、イオンの質量数ｍ、価数ｚの比である質量対電荷比ｍ／ｚ毎に、イオン強度を測定する。この結果得られたマススペクトルは、あるタイミングでＬＣ／ＧＣから溶出されてきた試料に対する、各質量対電荷比ｍ／ｚ値ごとの測定されたイオン強度のピーク（イオンピーク）からなる。このように、試料をイオン化した、そのものを質量分析することをＭＳ^１と呼ぶ。多段解離が可能なタンデム型質量分析システムでは、ＭＳ^１で検出されたイオンピークのうち、ある特定の質量対電荷比ｍ／ｚの値を有するイオンピークを選定して（選択したイオン種を親イオンと呼ぶ）、更に、そのイオンを、一般にガス分子との衝突等により解離分解し、生成した解離イオン種に対して、質量分析して、同様にマススペクトルが得られる。ここで、親イオンをｎ段解離して、その解離イオン種を質量分析することをＭＳ^ｎ＋１と呼ぶ。このように、タンデム型質量分析装置では、親イオンを多段（１段，２段，…，ｎ段）に解離させ、各段階で生成したイオン種の質量数を分析する（ＭＳ^２，ＭＳ^３，…，ＭＳ^ｎ＋１）。

（１）タンデム分析可能な質量分析装置のほとんどの場合、ＬＣ／ＧＣからの各溶出時間におけるＭＳ^１データに基づいて、ＭＳ^２分析する際の親イオンを選択する際、強度の高いイオンピークの順に、（例えば、強度の上位１０位以内のイオンピークを）親イオンとして選択して、解離、質量分析（ＭＳ^２）する、データディペンデント（Ｄａｔａ Ｄｅｐｅｎｄｅｎｔ）機能によりタンデム分析が実施される。
（２）複数の液体クロマトグラフィー装置と質量分析装置を組み合わせたシステムに関する公知例としては、特許文献１、及び非特許文献１が挙げられる。

特許文献１では、複数のカラムに、バルブを切替えて試料を導入するシステムであり、異なる試料を、複数のカラムで溶出時間を違えて質量分析する例、及び同一試料に関しては、カラムによる分離条件を変えて、質量分析する例も開示されている。

非特許文献１においても、複数のカラムと質量分析装置の組み合わせたタンデム質量分析システムにおいて、時間をずらして分析をスタートする時間差クロマトグラフィー装置を利用するシステムが開示されている。

特開２００２−１６８８４２号公報 ｈｔｔｐ：／／ｗｗｗ．ｗａｔｅｒｓ．ｃｏ．ｊｐ／ｉｎｄｅｘ．ｈｔｍｌ 製品紹介 ＡＤＭＥ／ＴＫ用システム

前記背景技術（１）に示すデータディペンデント（Ｄａｔａ Ｄｅｐｅｎｄｅｎｔ）機能では、各溶出時間におけるＭＳ^１データに対して、前後の溶出時間におけるＭＳ^１データとは無関係に、現時点でのＭＳ^１データにおける高強度順にイオンを選出する為、かなり長い時間溶出され続ける高強度イオンや、イオン強度がピーク周辺でないタイミングに溶出されてきたイオンが選定され、ＭＳ^２分析される可能性がある。前者の場合、かなりの長い間、同じイオンが何度もＭＳ^２対象となり、後者の場合、イオン強度がピーク周辺でない為、ＭＳ^２データの強度自身も低下するなど、タンデム質量分析が効率的でない場合が発生する。

前記特許文献１においては、いかに多くの種類のＭＳ^１データを取得するかを目的としたシステムであり、タンデム質量分析は前提にされていない。前記非特許文献１においては、時間をずらして分析をスタートする時間差クロマトグラフィー装置を利用したタンデム質量分析システムであるが、複数のカラム間で、クロマトグラムデータ及び質量分析データのやり取りが示されていない為、質量分析部では、同一の分析条件でＭＳ^２分析されていると考えられる。この場合、高スループットに分析されるが、ＭＳ^２分析結果は、各カラムからの試料によって変化がなく、タンデム分析の効率も変化がないと考えられる。

以上の結果から、本発明では、高スループットで、更にタンデム分析が高効率に実施される、ＬＣ／ＧＣ−タンデム質量分析システムを提供することを課題とする。

本発明は、質量分析装置に対し並列関係に配置された複数のクロマトグラフィー装置をある時間差を置いて溶出開始し、先発のクロマトグラフィー装置から溶出する試料を後続のタンデム質量分析可能な質量分析装置により質量分析し、上記先発のクロマトグラフィー装置のクロマトグラムのデータを実時間解析し、その解析結果に基づいて後発のクロマトグラフィー装置から溶出された試料を質量分析する際の質量分析条件及び／又は質量分析内容の変更を実時間で行う質量分析方法を提供するものである。

また、本発明は、相互に溶出開始時間が異なる複数のクロマトグラフィー装置と、上記クロマトグラフィー装置によって分離された試料を質量分析するタンデム質量分析装置と、上記複数のクロマトグラフィー装置のうち、先発のクロマトグラフィー装置において得られたクロマトグラムのデータを測定中の実時間内で解析処理し、その結果に基づいて、他のクロマトグラフィー装置から溶出された試料を質量分析する際の質量分析条件及び／又は質量分析内容の変更を実時間で変化する指令を与える制御装置を有する質量分析システムを提供するものである。

本発明によれば、クロマトグラフィー装置により分離された試料を高効率・高スループットにタンデム分析を可能とするタンデム質量分析システムを提供することができる。

本発明の好ましい実施形態では、タンデム分析可能な質量分析システムにおいて、上記の課題を解決するため、主に以下の（Ａ），（Ｂ）の手段を採用し、ターゲットイオンをｎ−１回解離し、質量分析して得られたマススペクトル（ＭＳ^ｎ）を、測定の実時間内に高速解析し、次の分析内容を判定するシステムに関する。

（Ａ）所定の溶出開始時間をずらした複数のＬＣ／ＧＣを設置したタンデム質量分析システムにおいて、先発のＬＣ／ＧＣのクロマトグラムデータや質量分析データを、測定の実時間内で解析し、その結果に基づいて、後発のＬＣ／ＧＣから溶出されてきた試料をタンデム分析する際の、分析条件・分析内容を実時間で最適化する。つまり、先発ＬＣ／ＧＣのデータをシステム内でやりとりして、これを後発のＬＣ／ＧＣから溶出されてきた試料のタンデム分析の際に利用する。

（Ｂ）上記（Ａ）において、先発のＬＣ／ＧＣのクロマトグラムデータや質量分析データを、測定の実時間内で解析することにより、どの質量対電荷比のイオン種が、どの溶出時間のタイミングでイオン強度がピーク周辺になるかが、測定の実時間内で判るため、イオン強度がピーク周辺になるイオン種をＭＳ^２のターゲットに選定できる。

本発明において考えられる具体的なシステム構成例を以下列挙する。

（１）質量分析対象の試料を、並列に設置された複数のクロマトグラフィー装置に通し、そのクロマトグラフィー装置通過時の保持時間によって分離された試料を、イオン化部においてイオン化し、生成した様々なイオン種を、質量分析部において質量分析するシステムにおいて、前記の、並列に設置された複数のクロマトグラフィー装置のうち、一つのクロマトグラフィー装置において得られたクロマトグラムのデータを測定中の実時間内で処理し、その結果に基づいて、他のクロマトグラフィー装置から溶出された試料を質量分析する際の、質量分析条件及び／質量分析内容を、自動的に変化・調整する質量分析システム。

（２）上記システムにおいて、並列に設置された複数のクロマトグラフィー装置は、並列に設置された複数の液体クロマトグラフィー装置（ＬＣ）である質量分析システム。

（３）上記システムにおいて、並列に設置された複数のクロマトグラフィー装置とは、並列に設置された複数のガスクロマトグラフィー装置（ＧＣ）である質量分析システム。

（４）上記システムにおいて、並列に設置された複数のクロマトグラフィー装置のうち、一つのクロマトグラフィー装置において得られたクロマトグラムのデータを測定中の実時間内で処理し、その結果に基づいて、他のクロマトグラフィー装置〜溶出した試料を質量分析する際の、質量分析条件及び／質量分析内容を、自動的に変化・調整する機能を実行するか否かを、ユーザが指定できるユーザインターフェースを備えている質量分析システム。

（５）上記システムにおいて、並列に設置された複数のクロマトグラフィー装置のうち、一つのクロマトグラフィー装置において得られたクロマトグラムのデータを測定中の実時間内で処理し、その結果に基づいて、他のクロマトグラフィー装置から溶出した試料を質量分析する際の、質量分析条件及び／又は質量分析内容を、自動的に変化・調整する機能に関しての仕様やパラメータを、ユーザが指定できるユーザインターフェースを備えている質量分析システム。

（６）上記システムにおいて、一つのクロマトグラフィー装置において得られたクロマトグラムのデータとは、当該クロマトグラフィー装置を通過するのに要する時間（保持時間）に対する、当該クロマトグラフィー装置を通過・検出されたイオン強度を表すデータである質量分析システム。

（７）上記システムにおいて、一つのクロマトグラフィー装置において得られたクロマトグラムのデータとは、当該クロマトグラフィー装置を通過に要する時間（保持時間）に対する、当該クロマトグラフィー装置を通過・検出されたイオン強度を、イオンの質量対電荷比値ｍ／ｚ毎に求めたデータである質量分析システム。

（８）上記システムにおいて、並列に設置された複数のクロマトグラフィー装置のうち、一つのクロマトグラフィー装置において得られたクロマトグラムのデータを測定中の実時間内で処理し、その結果に基づいて、他のクロマトグラフィー装置から溶出た試料を質量分析する際の、質量分析条件及び／又は質量分析内容を、自動的に変化・調整する質量分析システムにおいて、当該一つのクロマトグラフィー装置は、他のクロマトグラフィー装置に比べ、試料を通過し始める時間（溶出開始時間）が早い質量分析システム。

（９）上記システムにおいて、当該一つのクロマトグラフィー装置に対して、他のクロマトグラフィー装置に比べ、試料を通過し始める時間（溶出開始時間）を早く設定する質量分析システムにおいて、当該一つのクロマトグラフィー装置の溶出開始時間を、他のクロマトグラフィー装置に比べ、数分から数十分程度早める質量分析システム。

（１０）上記システムにおいて、質量分析を実施する前記質量分析部とは、様々なイオン種の中から特定の質量対電荷比ｍ／ｚを持つイオン種を選択して解離させ、更に、測定対象となるイオン種の選択と解離および測定を多段階繰り返すタンデム質量分析する機能を備えていることを質量分析システム。

（１１）上記システムにおいて、該一つのクロマトグラフィー装置において得られたクロマトグラムのデータとして、該クロマトグラフィー装置を通過するのに要する時間（保持時間）に対する、当該クロマトグラフィー装置を通過・検出されたイオン強度を表すデータとするタンデム質量分析システムにおいて、当該一つのクロマトグラフィー装置を通過・検出されたイオン強度を表すデータに基づいて、イオン強度がピーク周辺となる保持時間を測定の実時間中に算出し、他のクロマトグラフィー装置から溶出してきた試料に対して、前記１つのクロマトグラフィー装置のクロマトグラムデータから求めた、イオン強度がピーク周辺となる保持時間のタイミングにおいて、質量分析部において、様々なイオン種の中から特定の質量対電荷比ｍ／ｚを持つイオン種を選択して解離させ、更に、測定対象となるイオン種の選択と解離および測定を多段階繰り返すタンデム質量分析する質量分析システム。

（１２）上記システムにおいて、該一つのクロマトグラフィー装置において得られたクロマトグラムのデータとして、当該クロマトグラフィー装置を通過するのに要する時間（保持時間）に対する当該クロマトグラフィー装置を通過・検出されたイオン強度を、イオンの質量数対電荷値ｍ／ｚ毎に表すデータとする質量分析システムにおいて、当該一つのクロマトグラフィー装置を通過・検出されたイオン強度を、イオンの質量数対電荷値ｍ／ｚ毎に表されたデータに基づいて、或る質量数対電荷値ｍ／ｚのイオン強度がピーク周辺となる保持時間を測定の実時間中に算出し、他のクロマトグラフィー装置から溶出してきた試料に対して、前記一つのクロマトグラフィー装置のクロマトグラムデータから求めた、或る質量数対電荷値ｍ／ｚのイオン強度がピーク周辺となる保持時間のタイミングにおいて、質量分析部において、或る質量数対電荷値ｍ／ｚのイオンを選択して解離させ、更に、測定対象となるイオン種の選択と解離および測定を多段階繰り返すタンデム質量分析する質量分析システム。

（１３）上記システムにおいて、該一つのクロマトグラフィー装置のクロマトグラムデータから求めた、イオン強度がピーク周辺となる保持時間のタイミングとは、該イオンが検出され始めてから、イオン強度のピークにおける半値幅の時間（ΔＴ）以上で、その数倍以下の、所定の時間の範囲内とする質量分析システム。

（１４）上記システムにおいて、質量分析を実施する前記質量分析部において、質量分析部が単一のシステムであり、複数のクロマトグラフィー装置から溶出されてくる各試料を切替えて、各クロマトグラフィー装置からの試料を交互に質量分析する質量分析システム。

（１５）上記システムにおいて、質量分析を実施する前記質量分析部において、質量分析部が複数設置されたシステムであり、クロマトグラフィー装置と質量分析部が同数で１対１に対応する場合、各クロマトグラフィー装置からの試料が、直接、各質量分析部に流入して質量分析される際に、各質量分析部の分析条件・分析内容が、他のクロマトグラフィー装置質量分析の計測結果を受けて、変化・調整される質量分析システム。

（１６）上記システムにおいて、質量分析対象の試料とは、タンパク質や、糖鎖などの生体高分子関連物質とする質量分析システム。

（１７）上記システムにおいて、質量分析対象の試料とは、薬剤などの低分子量物質とする質量分析システム。

（１８）上記システムにおいて、様々なイオン種の中から特定の質量対電荷比ｍ／ｚを持つイオン種を選択して解離させ、更に、測定対象となるイオン種の選択と解離および測定を多段階繰り返すタンデム質量分析システムにおいて、質量分析部として、イオントラップ型質量分析部を採用する質量分析システム。

（１９）上記システムにおいて、様々なイオン種の中から特定の質量対電荷比ｍ／ｚを持つイオン種を選択して解離させ、更に、測定対象となるイオン種の選択と解離および測定を多段階繰り返すタンデム質量分析システムにおいて、質量分析部として、イオントラップ−飛行時間型質量分析部を採用する質量分析システム。

（２０）上記システムにおいて、様々なイオン種の中から特定の質量対電荷比ｍ／ｚを持つイオン種を選択して解離させ、更に、測定対象となるイオン種の選択と解離および測定を多段階繰り返すタンデム質量分析システムにおいて、質量分析部として、特定質量対電荷比のイオンを選択して、解離する機構を備えた四重極型質量分析部を採用する質量分析システム。

（２１）上記システムにおいて、並列に設置された複数のクロマトグラフィー装置のうち、一つのクロマトグラフィー装置において得られたクロマトグラムのデータを測定中の実時間内で処理し、その結果に基づいて、他のクロマトグラフィー装置を通過した試料をタンデム質量分析する質量分析システムにおいて、当該一つのクロマトグラフィー装置を通過した試料に対しては、試料を解離しないで質量分析するＭＳ^１分析を実施し、他のクロマトグラフィー装置を通過した試料に対しては、試料を少なくとも１回以上解離して質量分析するＭＳ^ｎ（ｎ≧２）分析を実施する質量分析システム。

（２２）上記システムにおいて、並列に設置された複数のクロマトグラフィー装置のうち、一つのクロマトグラフィー装置は、他のクロマトグラフィー装置に比べ、試料を通過し始める時間（溶出開始時間）を早めて、各ＬＣを通過した試料をタンデム質量分析する質量分析システムにおいて、溶出開始時間を早めたクロマトグラフィー装置を通過した試料に対しては、試料を解離しないで質量分析するＭＳ^１分析を実施し、溶出開始時間を遅らせたクロマトグラフィー装置を通過した試料に対しては、試料を少なくとも１回以上解離して質量分析するＭＳ^ｎ（ｎ≧２）分析を実施する質量分析システム。

また、本発明の質量分析システムの全体構成として、少なくとも以下のものが例示される。
（ａ）複数のクロマトグラフィー装置に対して１つのタンデム型質量分析部を配置する。クロマトグラフィー装置は後続の試料分析部に対し並列関係に配置する。複数のクロマトグラフィー装置のうち、先発のクロマトグラフィー装置のクロマトグラムデータを、後発のクロマトグラフィー装置の溶出条件の変更・修正に使用する。
（ｂ）複数のクロマトグラフィー装置と複数の質量分析部を並列に配置する。この場合、先発のクロマトグラフィー装置の溶出試料と、後発のクロマトグラフィーの溶出試料はそれぞれ別個の質量分析部において分析されるが、先発のクロマトグラフィーのクロマトグラムデータが後発のクロマトグラフィー装置の溶出条件の変更・修正に使用される。なお、この場合、少なくともｐ２つのクロマトグラフィー装置の試料溶出時間をずらす。なお、先発のクロマトグラフィーに接続される質量分析部は、タンデム型である必要はない。
（ｃ）複数のクロマトグラフィー装置に対して、先発のクロマトグラフィー装置に後続するクロマトグラム検出部と、後発のクロマトグラフィー装置に対して後続するタンデム型質量分析装置を配置する。
（ｄ）複数のクロマトグラフィー装置に対してイオントラップ型質量分析部を配置する。本明細書において、タンデム型質量分析装置はイオントラップ型質量分析部を含む意味で使用する。
（ｅ）複数のクロマトグラフィー装置に対してイオントラップ部と飛行時間型質量分析部を配置する。本明細書において、タンデム型質量分析装置はイオントラップ部と飛行時間型質量分析部の組み合わせを含む意味で使用する。
（ｆ）複数のクロマトグラフィー装置に対して多段Ｑポールとイオン検出部を配置する。本明細書において、タンデム型質量分析装置は多段Ｑポールとイオン検出部の組み合わせを含む意味で使用する。

以下、図面を参照し、本発明の実施例について説明する。まず、第一の実施例について説明する。図１は、本発明の第一の実施例である質量分析システムにおける処理内容を示すフロー図であり、図２は、本発明の第一の実施例である質量分析システム１９の全体構成線図である。図２に示す質量分析システム１９では、質量分析対象の試料は、並列に設置された液体クロマトグラフィー装置（ＬＣ）１-ａ、液体クロマトグラフィー装置（ＬＣ）１-ｂに流入され、液体クロマトグラフィー装置内のカラムへの吸着力の違いなどから、時間的に分離・分画される。その後、切替え部９で、液体クロマトグラフィー装置（ＬＣ）１-ａ、液体クロマトグラフィー装置（ＬＣ）１-ｂの各々のＬＣから溶出されてきた試料を選択・切替えされて、イオン化部２にてイオン化され、タンデム質量分析機能を備えたタンデム型質量分析部３に流入される。ここで、ＬＣの代わりに、ガスクロマトグラフィー装置（ＧＣ）を利用するシステムであっても良い。また、試料は、タンパク質や糖鎖などの生体高分子系の物質や、薬剤等の低分子量物質であってもよい。

タンデム質量分析機能とは、特定の試料イオン（親イオン）を質量選択し、それを解離させて生成した解離イオンを質量分析する機能である。つまり、大元である試料中の物質の質量分析分布をマススペクトルデータ（ＭＳ^１）として計測後、あるｍ／ｚ値を持つ親イオンを選択し、それを解離し、得られた解離イオンの質量分析データ（ＭＳ^２）を計測する。更に必要な場合は、ＭＳ^２データのうち、選択された前駆イオンを更に解離し、得られた解離イオンの質量分析データ（ＭＳ^３）を計測するといったように、解離・質量分析を多段に行う（ＭＳ^ｎ（ｎ≧３））。ここでは、少なくとも、ＭＳ^２までの分析機能を有する質量分析部とする。質量分析装置は、イオン化部２、質量分析部３、イオン検出部４、データ処理部５を必須構成とする。なお、表示部６は質量分析装置と一体化していてもよい。

前駆イオンの解離方法として、まず、ヘリウムなどのバッファーガスと衝突させて解離させる衝突解離（Ｃｏｌｌｉｓｉｏｎ Ｉｎｄｕｃｅｄ Ｄｉｓｓｏｃｉａｔｉｏｎ）法を採用した場合について説明する。衝突解離する為には、ヘリウムガスなどの中性ガスが必要となる為、衝突解離するためのコリジョンセル（ｃｏｌｌｉｓｉｏｎ ｃｅｌｌ）として、質量分析部３とは別に設ける場合もあるが、質量分析部３に中性ガスを充満させて、質量分析部３内で衝突解離させてもよい。その場合、コリジョンセルは不要になる。また、解離手段として、低エネルギーの電子を照射し、親イオンに多量に低エネルギー電子を捕獲させることにより、ターゲットイオンを解離させる電子捕獲解離（Ｅｌｅｃｔｒｏｎ Ｃａｐｔｕｒｅ Ｄｉｓｓｏｃｉａｔｉｏｎ）を採用しても良い。

図１において、１１は先発ＬＣ溶出試料のＭＳ^１質量分析ステップ、１２は先発ＬＣ溶出試料のＭＳ^１質量分析データ取得ステップ、１３は質量対電荷比ｍ／ｚ毎のクロマトグラム化処理ステップ、１４はｍ／ｚ毎のクロマトグラムに基づいたイオン強度がピーク周辺となるイオンの有無の判定ステップ、１５はｍ／ｚ毎のクロマトグラムに基づいた、イオン強度がピーク周辺となるイオンのＬＣ保持時間τ_ｍｉの導出ステップ、１６は後発ＬＣ溶出開始からの経過時間と一致するイオン強度ピークのＬＣ保持時間τ_ｍｉの有無の判定ステップ、１７は後発ＬＣ溶出試料のＭＳ^２質量分析ステップ、１８は後発ＬＣ溶出試料のＭＳ^２質量分析データ取得ステップである。

図２のタンデム型質量分析部３でのＭＳ^１、ＭＳ^２、ＭＳ^ｎ分析によって、試料はイオンの質量対電荷比ｍ／ｚに応じて分離される。ここで、ｍはイオン質量、ｚはイオンの帯電価数である。分離されたイオンは、イオン検出部４で検出され、データ処理部５でデータ処理・整理され、その分析結果である質量分析データ１２，１８は表示部６にて表示される。この一連の質量分析過程−試料のイオン化、試料イオンビームの質量分析部３への輸送・入射、質量分離過程、及びイオン検出、データ処理−の全体を制御部７で制御している。先発のクロマトグラフィー装置１-ａの溶出条件が質量分析装置に与える影響又は分析結果をデータ処理部５の解析結果から判定し、先発のクロマトグラムデータの解析結果を用いて、後発のクロマトグラフィー装置１-ｂの溶出条件及び／又は内容を変更又は修正する。

本発明では、液体クロマトグラフィー装置（ＬＣ）１-ａ、液体クロマトグラフィー装置（ＬＣ）１-ｂで、試料の溶出開始時間を数分から数十分程度ずらすことが特徴の一つである。ここで、液体クロマトグラフィー装置（ＬＣ）１-ａを溶出開始時間が早い「先発ＬＣ」１-ａを、液体クロマトグラフィー装置（ＬＣ）１-ｂを溶出開始時間が遅い「後発ＬＣ」１-ｂとする。このときの本実施例の処理内容について図１を用いて説明する。

質量分析システム１９において、「先発ＬＣ」１-ａから溶出された試料のＭＳ^１質量分析１１が実施され、その結果であるＭＳ^１質量分析データ１２が得られる。

図３に示すように、「先発ＬＣ」１-ａの保持時間（溶出時間）毎のＭＳ^１データ１２が得られる。そこで、本発明では、質量分析システム１９に含まれる内部データベース１０に、「先発ＬＣ」１-ａの保持時間（溶出時間）毎のＭＳ^１データを格納しておき、現時点より以前に格納された「先発ＬＣ」１-ａの保持時間（溶出時間）毎のＭＳ^１データも参照して、図４に示すように、質量対電荷比ｍ／ｚ毎に、横軸が「先発ＬＣ」１-ａの保持時間、縦軸がイオン強度のクロマトグラムに整理する（処理１３）。このとき、質量対電荷比ｍ／ｚ±Δｘの裕度を持たせて整理させる。このΔｘは、タンデム型質量分析部３の質量精度に応じて、変化させる方が好ましい。

次に、図４に示す質量対電荷比ｍ／ｚ毎のクロマトグラムに基づき、イオン強度がピーク周辺となるイオン（ｍ／ｚ）があるか否かを検索して求める（判定１４）。具体例として、図５を用いて説明する。現在の「先発ＬＣ」１-ａ溶出試料のＭＳ^１計測回数をｎ回とすると、現時点の、質量対電荷比ｍ／ｚ毎のクロマトグラム化の結果、その前回（ｎ−１回）の計測時点の、質量対電荷比ｍ／ｚ毎のクロマトグラムに比べて、改めて、イオンピークとなっているｍ／ｚを検索する。図５の例では、ｍ／ｚ＝ｍ１イオンが今回新たに検出されたピークである。

図５の例のように、判定１４により、該当イオンピークがある場合、該当イオンのピーク周辺となる「先発ＬＣ」１-ａの保持時間τ_ｍ１を導出し（処理１５）、内部データベース１０に格納する。その後、「後発ＬＣ」１-ｂの溶出開始からの経過時間ｔ２と一致するピーク保持時間τ_ｍｊがあるか否かを、内部データベース１０に既に格納されているピーク保持時間τ_ｍｊ（ｊ＝１，Ｎ_τ（Ｎ_τ：τ_ｍｊデータ格納数））から検索して求める（判定１６）。

「後発ＬＣ」１-ｂの溶出開始からの経過時間ｔ２と一致するピーク保持時間τ_ｍｊを持つイオンがある場合、「後発ＬＣ」１-ｂから溶出された試料のＭＳ^２質量分析１７が実施され、その結果であるＭＳ^２質量分析データ１８が得られる。このとき、τ_ｍｊをイオンのピーク周辺とするイオン（ｍ／ｚ＝ｍｊとする）を親イオンとしてＭＳ^２分析を実施する。その後、他に「後発ＬＣ」１-ｂの溶出開始からの経過時間ｔ２と一致するτ_ｍｊを持つイオンがあるか否かを判定し（１６）、該当するイオンが無いと判定されるまで、判定１６、処理１８を繰り返す。判定１６にて、該当するイオンが無いと判定された場合、「先発ＬＣ」１-ａから溶出された試料のＭＳ^１質量分析１１の処理に戻る。

従って、本実施例によると、「先発ＬＣ」１-ａから溶出された試料のＭＳ^１質量分析データ１２に基づいて、「後発ＬＣ」１-ｂから溶出された試料のＭＳ^２質量分析を、親イオン強度が最も高くなるピーク周辺で、ＭＳ^２質量分析できるため、ＭＳ^２質量分析データの質も向上し、それを利用して後処理的にタンパク質同定解析処理を行った場合、高信頼性・高精度の結果が得られる。

図６に、「先発ＬＣ」１-ａから溶出された試料のＭＳ^１質量分析、及び「後発ＬＣ」１-ｂから溶出された試料のＭＳ^２質量分析に対する時間的割振りの例を示す。ここで、ｔ１は「先発ＬＣ」１-ａの溶出開始から、ｔ２は「後発ＬＣ」１-ｂの溶出開始からの経過時間である。まず、「先発ＬＣ」１-ａは、「後発ＬＣ」１-ｂに比べ、溶出をδＴ時間分早く開始する。基本的に、「先発ＬＣ」１-ａから溶出された試料に対してはＭＳ^１質量分析、「後発ＬＣ」１-ｂから溶出された試料に対してはＭＳ^２質量分析を専門的に実施する。先行している「先発ＬＣ」１-ａからの溶出試料のＭＳ^１質量分析にて得られた或るイオン種（ｍ／ｚ＝ｍｉ）のイオン強度がピーク付近になるタイミングｔ１＝τ_ｍｉを随時、内部データベースに格納しておき、「後発ＬＣ」１-ｂの保持時間ｔ２が、ｔ２＝τ_ｍｉとなるタイミング（ｔ１＝τ_ｍｉ＋δＴとなるタイミング）で、「後発ＬＣ」１-ｂから溶出された試料のＭＳ^２質量分析を実施する。

更に、このとき、「後発ＬＣ」１-ｂから溶出された試料のＭＳ^２質量分析を実施する回数について図７を用いて説明する。クロマトグラムにおけるピークの半値幅ΔＴｐの情報も内部データベース１０に格納しておき、「後発ＬＣ」１-ｂの保持時間ｔ２が、τ_ｍｉ−ΔＴｐ／２≦ｔ２≦τ_ｍｉ＋ΔＴｐ／２となる期間の間、「後発ＬＣ」１-ｂから溶出された試料に対してはＭＳ^２質量分析を繰り返すのが好ましい。その理由は、ｔ２＝τ_ｍｉとなるタイミングのみＭＳ^２質量分析を実施すると、「先発ＬＣ」１-ａと「後発ＬＣ」１-ｂで、クロマトグラムに多少、時間的なずれが発生する可能性があるため、上記のような、ピークの半値幅ΔＴｐ、或いは、そのｎ倍程度の期間の間、ＭＳ^２質量分析を繰り返し実施する方が確実であるためである。

また、本実施例では、ユーザ入力部８により、図８に示すように、本発明による溶出開始の時間差を利用した、片方のＬＣによるＭＳ^１分析モニタリングを、もう片方のＬＣによるＭＳ^２分析の高効率分析を実施するか否かを、ユーザに選択・入力してもらうようなインターフェースを備えている方が望ましい。更に、図９に示すように、本発明のシステムの詳細な仕様（例えば、並列ＬＣの溶出開始時間の時間差や、ピーク判定の為のＭＳ^２実施期間など）をユーザに決定・入力してもらうようなインターフェースを備えている方が望ましい。

通常のＬＣ−ＭＳでは、親イオン強度が最も高くなるピーク周辺のタイミングを知る為には、再度、最初から試料を溶出して質量分析する必要があったため、試料の全溶出時間（通常、２〜３時間）の、２倍のトータル計測時間を要していた。しかし、本実施例によれば、試料の全溶出時間に対して、＋δＴ（数分から数十分）程度のトータル計測時間が増加する程度で、親イオン強度が最も高くなるピーク周辺でのＭＳ^２質量分析が実行でき、ＭＳ^２質量分析データの質も向上し、それを利用して後処理的にタンパク質同定解析処理を行った場合、高信頼性・高精度の結果が得られる。

次に、本発明の第ニの実施例について図１０を用いて説明する。本実施例では、「先発ＬＣ」１-ａから溶出された試料のＭＳ^１質量分析、及び、「後発ＬＣ」１-ｂから溶出された試料のＭＳ^２質量分析に対する時間的割振りの例として、図１０に示すように、ＭＳ^１質量分析、ＭＳ^２質量分析に、各々、決まった期間を割り当てる。つまり、「先発ＬＣ」１-ａから溶出された試料のＭＳ^１質量分析割当時間としてδｔ１（ここでは、δｔ１＝δＴとしている）、「後発ＬＣ」１-ｂから溶出された試料のＭＳ^２質量分析時間としてδｔ２としている。この場合、実施例１に比べて、制御が非常に容易な為、ある程度、クロマトグラムがわかっている試料や、包含物質数があまり多くない試料などの分析には好適である。

次に、本発明の第三の実施例について図１１，１２Ａ，１２Ｂを用いて説明する。図１１において、クロマトグラフィー装置を３個用いたこと、及び質量分析システム全体構成を３２で示した他は、図２と同じである。

本実施例では、３つの液体クロマトグラフィー装置１-ａ，１-ｂ，１-ｃを用いる。ここでは、液体クロマトグラフィー装置１-ａを最も溶出開始時間の早い第１ＬＣとし、液体クロマトグラフィー装置１-ｂを２番目に溶出開始時間の早い第２ＬＣ、液体クロマトグラフィー装置１-ｃを３番目に溶出開始時間の早い第３ＬＣとして、各々溶出開始時間にずれを設ける。

更に、基本的に、「第１ＬＣ」１-ａから溶出された試料に対してはＭＳ^１質量分析、「第２ＬＣ」１-ｂから溶出された試料に対してはＭＳ^２質量分析、「第３ＬＣ」１-ｃから溶出された試料に対してはＭＳ^３質量分析を専門的に実施するとし、このときの「第１ＬＣ」１-ａから溶出された試料に対してはＭＳ^１質量分析、「第２ＬＣ」１-ｂから溶出された試料に対してはＭＳ^２質量分析、及び「第３ＬＣ」１-ｃから溶出された試料に対してはＭＳ^３質量分析に対する時間的割振りの例を図１２Ａ示す。「第１ＬＣ」１-ａから溶出された試料に対してはＭＳ^１質量分析、「第２ＬＣ」１-ｂから溶出された試料に対してはＭＳ^２質量分析に関しての時間的割振りは、図６で説明した内容と同じである。

「第３ＬＣ」１-ｃから溶出された試料のＭＳ^３質量分析に関しては、「第２ＬＣ」１-ｂから溶出された試料に対してはＭＳ^２質量分析を実施した結果、解離イオン数が少なく、タンパク質同定などの後処理解析の制度が期待できないと判断したイオン種（ｍ／ｚ＝ｍｉ）に対しては、「第３ＬＣ」１-ｃの溶出開始からの経過時間ｔ３が、そのイオン強度がピーク付近となるタイミングｔ３＝τ_ｍｉ周辺で、ＭＳ^３質量分析を実施して、解離イオンピークを増やすことにより、さらに、タンデム質量分析の効率が向上することが期待できる。

ここで、制御を容易にする為に、図１２Ｂに示すように、「第１ＬＣ」１-ａから溶出された試料に対してはＭＳ^１質量分析、「第２ＬＣ」１-ｂから溶出された試料に対してはＭＳ^２質量分析、及び、「第３ＬＣ」１-ｃから溶出された試料に対してはＭＳ^３質量分析に対して、各々、δｔ１（δｔ１＝δＴ１）、δｔ２（δｔ２＝δＴ２）、δｔ３としても良い。

次に、本発明の第四の実施例について図１１，図１３Ａ，１３Ｂを用いて説明する。図１１に示すように、３つの液体クロマトグラフィー装置１-ａ，１-ｂ，１-ｃを用いる点では、第三の実施例と同じであるが、本実施例では、「第３ＬＣ」１-ｃから溶出された試料に対してはＭＳ^２′質量分析を再度実施する事を特徴とする。ＭＳ^２′質量分析とは、ＭＳ^２質量分析で、解離イオン数が少ない場合などに、同じ質量数ｍで、価数ｚの異なるイオンを親イオンとして、再度ＭＳ^２質量分析を実施することを示す。例えば、ｍ＝１０００，ｚ＝１のｍ／ｚ≒１００１のイオンをＭＳ^２質量分析した結果、解離イオン数が少ないと判定された場合、ｍ＝１０００，ｚ＝２のｍ／ｚ≒５０１のイオンを親イオンとして、再度ＭＳ^２質量分析を実施する。

一般的に、価数ｚが多いイオンの方が解離しやすい傾向があるため、ＭＳ^２′質量分析は解離イオン数の増加には効果的と考える。このときの「第１ＬＣ」１-ａから溶出された試料に対してはＭＳ^１質量分析、「第２ＬＣ」１-ｂから溶出された試料に対してはＭＳ^２質量分析、及び「第３ＬＣ」１-ｃから溶出された試料に対してはＭＳ^２′質量分析に対する、時間的割振りの例を図１３Ａに示す。

「第１ＬＣ」１-ａから溶出された試料に対してはＭＳ^１質量分析、「第２ＬＣ」１-ｂから溶出された試料に対してはＭＳ^２質量分析に関しての時間的割振りに関しては、図６，図１２Ａと同様である。

「第３ＬＣ」１-ｃから溶出された試料のＭＳ^２′質量分析に関しては、「第２ＬＣ」１-ｂから溶出された試料に対してはＭＳ^２質量分析を実施した結果、解離イオン数が少なく、タンパク質同定などの後処理解析の制度が期待できないと判断したイオン種（ｍ／ｚ＝ｍｉ）に対して、「第３ＬＣ」１-ｃの溶出開始からの経過時間ｔ３が、そのイオン強度がピーク付近となるタイミングｔ３＝τ_ｍｉ周辺で、ＭＳ^２′質量分析を実施して、解離イオンピークを増やすことにより、さらに、タンデム質量分析の効率が向上することが期待できる。

ここで、制御を容易にする為に、図１３Ｂに示すように、「第１ＬＣ」１-ａから溶出された試料に対してはＭＳ^１質量分析、「第２ＬＣ」１-ｂから溶出された試料に対してはＭＳ^２質量分析、及び、「第３ＬＣ」１ｃから溶出された試料に対してはＭＳ^２′質量分析に対して、各々、δｔ１（δｔ１＝δＴ１）、δｔ２（δｔ２＝δＴ２）、δｔ３としても良い。

次に、本発明の第五の実施例について、図１４を用いて説明する。ここでは、液体クロマトグラフィー装置、イオン化部、質量分析部、イオン検出部までが並列に設置されたシステム構成２１となっている。但し、「先発ＬＣ」１-ａから溶出される試料に対しては、本実施例においても、ＭＳ^１質量分析を専門に実施する為、「先発ＬＣ」１-ａから溶出される試料の質量分析部２０は、タンデム質量分析機能を備える必要は無い。

質量分析部を複数設置することになるため、質量分析部２０は、ＭＳ^１質量分析が可能であれば比較的安価なものでも良い。本実施例では、液体クロマトグラフィー装置、イオン化部、質量分析部、イオン検出部までが並列に設置されているため、各分析の時間的割振りのような複雑な制御が不要となる。更に、時間的割振りが無い為、ＭＳ^１質量分析、ＭＳ^２質量分析のデッドタイムを無くす事ができる。従って、本実施例に依れば、さらに、無駄なく、高効率なタンデム分析が高スループットに実行可能である。

次に、本発明の第六の実施例について、図１５を用いて説明する。図１５においては質量分析システムの全体構成を２２で示した。ここでは、「先発ＬＣ」１-ａから溶出される試料に対しては、質量分析せずに直接検出器にかけて、通常のクロマトグラムを検出する。このとき、「先発ＬＣ」１-ａから得られるクロマトグラムデータに基づいて、「後発ＬＣ」１-ｂから溶出された試料のＭＳ^２質量分析のタイミングを導出する。本実施例では、「先発ＬＣ」１-ａから得られるクロマトグラムデータには、質量数データが含まれていないが、ある程度、ＭＳ^１データ質量数がわかっているような試料や包含されているイオン種数が少ない試料などを分析する際には、本実施例に依れば、複雑な制御や機構も不要であるため、安価で好適なシステムが提供できる。

次に、本発明の第七の実施例について、図１６を用いて説明する。図１６においては質量分析システムの全体構成を２３で示した。ここでは、タンデム型質量分析部として、イオントラップ型質量分析部２８を設置することを特徴とする。この場合、イオントラップは、イオンの蓄積、親イオンの選択、及びコリジョンセルとしての役割の他、質量分析地震も実施できる為、省スペースのシステムを提供できる。

次に、本発明の第八の実施例について、図１７を用いて説明する。図１７において、質量ブンセキシステムの全体構成を２４で示した。ここでは、タンデム型質量分析部として、イオントラップ部２８−飛行時間型（ＴＯＦ）質量分析部２５を設置することを特徴とする。この場合、イオントラップは、イオンの蓄積、親イオンの選択、及びコリジョンセルとして利用され、実際の質量分析は、ＴＯＦ部にて高分解能分析される。試料が、タンパク質や糖鎖などの生体高分子系の物質である場合など、ＴＯＦによる高質量数の高分解能分析は、タンパク質同定解析などの後処理精度が向上する為、非常に有効となる。

次に、本発明の第九の実施例について、図１８を用いて説明する。システムの全体構成を２６で示した。ここでは、タンデム型質量分析部として、３つのＱポール（四重極電極）２７-ａ，２７-ｂ，２７-ｃを連ねた質量分析部を設置することを特徴とする。この場合、ＭＳ^１質量分析する場合は、３つのＱポールのうち、２つを輸送系として制御し、１つを質量分析系として利用して、ＭＳ^１質量分析データを計測する。ＭＳ^２質量分析する場合は、ＭＳ^１質量分析データに基づいて、ＭＳ^２質量分析対象とするイオンのみが通過するように、第１Ｑポールの電圧を調整し、第２Ｑポール内で、充填された中性ガスとの衝突により解離され、その際生成された解離イオンをトラップし、解離イオンを第３Ｑポールにて質量分析する。本実施例に示す、３つのＱポールによるタンデム質量分析部は、実績のあるシステムであるため、データ信頼性が得られるなどの点で有効である。

次に、本発明の第十の実施例について、図１９、図２０を用いて説明する。これは、本発明における、複数のＬＣの溶出開始時間をずらす機構に関する実施例である。複数のＬＣの溶出開始時間をずらす機構として、図１９に示すように、試料から１本の流路を枝分れ状にして、流路の長さの違い、つまり、ＬＣの入口に到達するまでの時間の違いにより、溶出開始時間の違いを発生させても良い。この場合、非常に安価・容易に溶出開始時間の違いを発生することができる。また、図２０に示すように、ＬＣへの試料流入用のポンプを時間的に制御部７により制御して、溶出開始時間をずらしても良い。この場合、ユーザが指定した溶出時間差などが厳密に反映される為、厳密性を要求する場合は，この方が好ましい。

以上説明した本発明の実施形態によれば、トータル溶出時間にして、数分から数十分程度の僅かな時間の増加で、イオン強度がピーク周辺になる溶出タイミングのデータが先発クロマトグラフィー装置からリアルタイムで得られるため、イオン強度がピーク周辺になる溶出タイミングでのタンデム質量分析可能となり、タンデム質量分析データの質が向上し、それを利用して後処理的にタンパク質同定解析処理を行った場合、高信頼性・高精度の結果が得られる。

本発明の第１実施例による質量分析フローの概略図。 本発明の第１実施例による質量分析データを計測する質量分析システムの全体を示す概略線図。 通常のクロマトグラムと、ＭＳ^１質量分析データの一例である。 本発明の、処理１３の内容の概略図。 本発明の、判定１４，処理１５の内容の概略図である。 本発明の第１実施例による、各ＬＣ溶出試料の分析に対する時間割り振りを示す概略図である。 本発明の、各イオン種のクロマトグラム上のピーク周辺におけるＭＳ^２分析期間を示す概略図である。 本発明の、ユーザインターフェースの１例を示す。 本発明の、ユーザインターフェースの他の例を示す。 本発明の第二実施例による、各ＬＣ溶出試料の分析に対する時間割り振りを示す概略図である。 本発明の第三、第四実施例による質量分析データを計測する質量分析システム全体の概略図である。 本発明の第三実施例による、各ＬＣ溶出試料の分析に対する時間割り振りを示す概略図である。 本発明の第三実施例による、各ＬＣに対する時間の割り振りを示す概略図である。 本発明の第四実施例による、各ＬＣ溶出試料の分析に対する時間割り振りを示す概略図である。 本発明の第四実施例による、各ＬＣに対する時間の割り振りを示す概略図である。 本発明の第五実施例による質量分析データを計測する質量分析システム全体の概略図である。 本発明の第六実施例による質量分析データを計測する質量分析システム全体の概略図である。 本発明の第七実施例による質量分析データを計測する質量分析システム全体の概略図である。 本発明の第八実施例による質量分析データを計測する質量分析システム全体の概略図である。 本発明の第九実施例による質量分析データを計測する質量分析システム全体の概略図である。 本発明の第十実施例における、並列ＬＣシステムの溶出開始時間の時間差を設ける機構の一例に関する概念図である。 発明の第十実施例における、並列ＬＣシステムの溶出開始時間の時間差を設ける機構の他の例に関する概念図である。

符号の説明

１-ａ，１-ｂ，１-ｃ…液体クロマトグラフィー装置（ＬＣ）、２…イオン化部、３…タンデム型質量分析部、４-ａ，４-ｂ…イオン検出部、５…データ処理部、６…表示部、７…制御部、８…ユーザ入力部、９…切替え部、１０…内部データベース、１９…第１実施例の質量分析システムの全体構成、２０…質量分析部、２１…第５実施例の質量分析システム全体、２２…第６実施例の質量分析システム全体の全体構成、２３…第７実施例の質量分析システムの全体構成、２４…第８実施例の質量分析システムの全体構成、２５…飛行時間型質量分析部、２６…第９実施例の質量分析システムの全体構成、２７-ａ，２７-ｂ，２７-ｃ…Ｑポール、２８…イオントラップ型質量分析部、２９…流路板、３０…ポンプ、３１…試料流入部、３２…第３，４実施例の質量分析システムの全体構成。

Claims (20)

1. 質量分析装置に対し並列関係に配置された複数のクロマトグラフィー装置をある時間差を置いて溶出開始し、溶出された試料を後続の質量分析装置により質量分析する方法であって、
   先発のクロマトグラフィー装置によって得られたクロマトグラムデータを実時間解析し、
   上記先発のクロマトグラフィー装置の実時間解析結果を用いて、後発のクロマトグラフィー装置から溶出された試料を質量分析する際の質量分析条件及び／又は質量分析内容の変更を実時間で行うことを特徴とする質量分析方法。
2. 上記質量分析装置の分析結果を解析し、その結果に基づいて上記後発のクロマトグラフィー装置の溶出溶出された試料を質量分析する際の質量分析条件及び／又は質量分析内容の変更を行うことを特徴とする請求項１記載の質量分析方法。
3. 上記クロマトグラムのデータは、上記クロマトグラフィー装置を通過するのに要する時間に対する、該クロマトグラフィー装置を通過・検出されたイオン強度を表すデータであることを特徴とする請求項１に記載の質量分析方法。
4. 上記クロマトグラムのデータは、該クロマトグラフィー装置を通過に要するのに要する時間に対する該クロマトグラフィー装置を通過・検出されたイオン強度を、イオンの質量対電荷比値ｍ／ｚ毎に求めたデータであることを特徴とする請求項１に記載の質量分析方法。
5. 上記質量分析装置は、複数のイオン種の中から特定の質量対電荷比ｍ／ｚを持つイオン種を選択して解離させ、更に、測定対象となるイオン種の選択と解離および測定を多段階繰り返すタンデム質量分析機能を備えていることを特徴とする請求項１に記載の質量分析方法。
6. 各クロマトグラフィー装置に溶出する試料は、同一種の試料であって、クロマトグラフィーのカラムによる分離条件をそれぞれ同一とすることを請求項１記載の質量分析方法。
7. 上記後発のクロマトグラフィー装置から溶出した試料に対して上記先発のクロマトグラフィー装置のクロマトグラムのデータから求めたイオン強度が、ピーク周辺となる保持時間のタイミングにおいて、複数のイオン種の中から特定の質量対電荷比ｍ／ｚを持つイオン種を選択して解離させ、更に、測定対象となるイオン種の選択と解離および測定を多段階繰り返してタンデム質量分析することを特徴とする請求項１記載の質量分析方法。
8. 上記先発のクロマトグラフィー装置を通過・検出されたイオン強度を、イオンの質量数対電荷値ｍ／ｚ毎に表されたデータに基づいて、或る質量数対電荷値ｍ／ｚのイオン強度がピーク周辺となる保持時間を測定の実時間中に算出し、後発のクロマトグラフィー装置から溶出した試料に対して、前記先発のクロマトグラフィー装置のクロマトグラムのデータから求めた、或る質量数対電荷値ｍ／ｚのイオン強度がピーク周辺となる保持時間のタイミングを持って、或る質量数対電荷値ｍ／ｚのイオンを選択して解離させ、更に、測定対象となるイオン種の選択と解離および測定を多段階繰り返してタンデム質量分析を行うことを特徴とする請求項１記載の質量分析方法。
9. 該先発のクロマトグラフィー装置のクロマトグラムデータから求めたイオン強度が、ピーク周辺となる保持時間のタイミングは、該イオンが検出され始めてからイオン強度のピークにおける半値幅の時間（ΔＴ）以上乃至その数倍ないし数十倍の所定の時間の範囲内とすることを特徴とする請求項１記載の質量分析方法。
10. 質量分析対象の試料は、生体高分子関連物質であることを特徴とする請求項１に記載の質量分析方法。
11. 質量分析対象の試料は、低分子量物質であることを特徴とする請求項１に記載の質量分析方法。
12. 相互に溶出開始時間が異なるように設定された複数のクロマトグラフィー装置と、
    上記クロマトグラフィー装置から溶出する試料を質量分析するタンデム質量分析装置と、
    上記複数のクロマトグラフィー装置のうち、先発のクロマトグラフィー装置において得られたクロマトグラムデータを測定中の実時間内で解析処理し、その結果を他のクロマトグラフィー装置から溶出された試料を質量分析する際の質量分析条件及び／又は質量分析内容を実時間で変更する指令を与える制御装置を有することを特徴とする質量分析システム。
13. 更に、上記クロマトグラフィー装置及びタンデム質量分析装置の分析結果及び変更した条件及び／内容を記憶し、上記制御装置に接続された内部データベースを有することを特徴とする請求項１２質量分析システム。
14. 更に、上記先発のクロマトグラフィー装置に対する後発のクロマトグラフィー装置のスタート時間差をユーザが入力できる入力装置又はスタート時間を表示する表示装置とを有することを特徴とする請求項１２記載の質量分析システム。
15. 上記後発のクロマトグラフィー装置を通過した試料を質量分析する際に、分析条件及び／又は分析内容を変化又は調整する機能を実行するか否か及び当該機能を実行する場合、その際の分析条件及び／又は分析内容を、ユーザが指定できるユーザインターフェースを備えていることを特徴とする請求項１２に記載の質量分析システム。
16. 上記複数のクロマトグラフィー装置に対して単一の質量分析装置を配置し、上記複数のクロマトグラフィー装置から溶出される各試料を切替える手段を有し、各クロマトグラフィー装置からの試料を交互に質量分析することを特徴とする請求項１２に記載の質量分析システム。
17. 複数のクロマトグラフィー装置と複数の質量分析装置を備え、複数の黒的グラフィー装置のうち、少なくとも２つは試料の溶出開始時間をずらし、各クロマトグラフィー装置からの試料が、各質量分析装置に流入して質量分析されるように配置され、各質量分析装置の分析条件及び／又は分析内容が、他のクロマトグラフィー装置及び質量分析装置の計測結果を受けて、変化・調整されることを特徴とする請求項１２に記載の質量分析システム。
18. 上記質量分析装置が、イオントラップ型又はリニアトラップ型質量分析装置であることを特徴とする請求項１２に記載の質量分析システム。
19. 上記質量分析装置が、イオントラップ−飛行時間型質量分析装置又はリニアトラップ−飛行時間型質量分析装置であることを特徴とする請求項１２に記載の質量分析システム。
20. 上記質量分析装置が、特定質量対電荷比のイオンを選択して、解離する機構としてＣＩＤ及び／又はＥＣＤの機構を備える四重極型質量分析装置であることを特徴とする請求項１２に記載の質量分析システム。
    

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