JP2009283126A - ピンニング層を有する巨大磁気抵抗効果センサー - Google Patents

ピンニング層を有する巨大磁気抵抗効果センサー Download PDF

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Abstract

【課題】GMR読み取りセンサーのピンニング層材料としては、高い耐ブロック温度と低いアニーリング温度を有することが望ましくまた、種層材料としては、ピンニング層材料とともに用いられる場合には、高いピンニング強度を与えることが望ましい。
【解決手段】磁気読み取りヘッドに用いられる巨大磁気抵抗効果スタック(10)は、NiFeCr種層(12)と、強磁性体自由層(14)と、非磁性体スペーサー層(16)と強磁性体ピン化層(18)と、XをCrあるいはPdとしたPtMnXピンニング層(20)とを含んでいる。強磁性体自由層(14)は、回転可能な磁気モーメントを有し、NiFeCr種層(12)に隣接して設けられている。強磁性体ピン化層(18)は固定した磁気モーメントを有し、PtMnXピンニング層(20)に隣接して設けられている。非磁性体スペーサー層(16)は、自由層(14)とピン化層(18)との間に設けられている。
【選択図】図1

Description

(発明の背景)
本発明は、一般的に、磁気読み取りヘッドに用いられる巨大磁気抵抗効果センサーに関し、特に、本発明は、改善された熱的および磁気的安定性を有する巨大磁気抵抗効果読み取りセンサーに関するものである。
巨大磁気効果(GMR)読み取りセンサーは、磁気ディスクなどの磁気データ格納媒体に格納され磁気的に符号化された情報を検出するために、磁気データ格納システムで用いられる。磁性媒体から発生する時間依存の磁場は、直接、GMR読み取りセンサーの抵抗を変調する。GMR読み取りセンサーの抵抗の変化は、読み取り電流をGMR読み取りセンサーに流し、GMR読み取りセンサーに発生する電圧を測定することにより検出することができる。結果として得られる信号を用いて、符号化された情報を磁性媒体から復元することができる。
通常のGMR読み取りセンサーの構成はGMRスピンバルブとなっており、GMR読み取りセンサーでは、強磁性体ピン化層と強磁性体自由層とに挟まれた非磁性体のスペーサー層が多層構造となっている。ピン化層は、あらかじめ定められた方向に、通常はGMR読み取りセンサーの空気ベアリング面に垂直な方向に磁化されており、一方、GMR読み取りセンサーの自由層は、外部磁場によってその磁化方向が定まる。GMR読み取りセンサーの抵抗は、自由層の磁化方向とピン化層の磁化方向との間の角度の関数となって変化する。この多層ピン化構造によって、より磁気抵抗効果が顕著となり、すなわち、通常は単層の強磁性体からなる異方性磁気抵抗効果(AMR)読み取りセンサーよりも、より感度が高く、より大きく変化する抵抗を有するものとなる。
あらかじめ定められた方向にピン化層を磁化するために、通常、ピン化層はピンニング層に交換接合されている。ピンニング層は、通常、反強磁性体物質によって形成されている。反強磁性体物質では、隣接した原子間の磁気モーメントは、反対方向に働き、これによって、物質内には磁気モーメントが実質的に存在しないことになる。
通常、種層を用いて組織化を促進し、結果的にその上部に成長する結晶粒成長を促進する。種層の物質は、その原子構造あるいは原子配置が、自由層の物質の磁化の好ましい結晶方向に対応するように選別される。
GMR読み取りセンサーの性能に関わる特性は、GMR読み取りセンサーの熱的および磁気的安定性である。製造の過程で、ピンニング層がピン化層と交換接合する際には、GMR読み取りセンサーは、GMR読み取りセンサーの薄膜間で拡散を起こすようなことがあってはならない。GMR読み取りセンサーの動作中にピン化層の磁化が変化しないようにするためには、あらかじめ定められた方向にピン化層の磁化を行うためにピンニング層がピン化層と交換接合した後に、十分な交換接合フィールドあるいはピンニングフィールドが必要となる。
GMR読み取りセンサーの熱的および磁気的安定性の重要な要因は、GMR読み取りセンサーのピンニング層および種層に用いられる材料である。ピンニング層材料のアニーリング温度は、ピンニング層およびピン化層が製造中に交換接合するような温度である。ピンニング層材料としては、磁化挙動を制御し、GMRスピンバルブ内の薄膜間の拡散を防ぐために、低いアニーリング温度を有することが望ましい。ピンニング層材料の耐ブロッキング温度は、交換接合が消滅するような温度である。ピンニング層材料としては、ピン化層の磁化が、GMR読み取りセンサーの動作中に変化しないように高い耐ブロック温度を有することが望ましい。また、種層材料は、交換結合フィールドの強度あるいはピンニング強度に影響を及ぼす。種層材料とピンニング層材料の組合せとしては、ピン化層の磁化が変化しないように、十分高いピンニング強度を有することが望ましい。
従って、ピンニング層材料としては、高い耐ブロック温度と低いアニーリング温度を有することが望ましく、また、種層材料としては、ピンニング層材料とともに用いられる場合には、高いピンニング強度を与えることが望ましい。
(発明の概要)
本発明は、磁気読み取りヘッドに用いられる巨大磁気抵抗効果スタックである。巨大磁気抵抗効果スタックは、NiFeCr種層と、強磁性体自由層と、非磁性体スペーサー層と、強磁性体ピン化層と、PtMnXピン化層とを含み、ここで、Xは、CrあるいはPdである。自由層は、回転可能な磁気モーメントを有し、NiFeCr種層に隣接して設けられる。ピン化層は、固定した磁気モーメントを有し、PtMnXピンニング層に隣接して設けられる。スペーサー層は、自由層とピン化層との間に配される。第一の実施例では、自由層はNiFe/CoFeからなる二層構造であり、スペーサー層は銅によって形成され、ピン化層はCoFeによって形成されている。第二の実施例では、自由層はNiFe/CoFeからなる二層構造であり、スペーサー層は銅によって形成され、ピン化層はCoFe/Ru/CoFeからなる合成反強磁性体である。
本発明の巨大磁気抵抗効果スタックの第一の実施例の層構造図である。 本発明の巨大磁気抵抗効果スタックの第二の実施例の層構造図である。 XをCrあるいはPdとした、PtMnXピンニング層の耐ブロック温度の測定結果のグラフである。 本発明の巨大磁気抵抗効果スタックの第一の実施例のピンニング強度の測定結果のグラフである。 本発明の巨大磁気抵抗効果スタックの第二の実施例のGMR応答のグラフである。
図1は、本発明の巨大磁気抵抗効果(GMR)スタック10の第一の実施例の層構造である。GMRスタック10は、種層12、自由層14、スペーサー層16、ピン化層18およびピンニング層20を含んでいる。種層12は、NiFeCrである。自由層14は、NiFeであることが好ましい第一強磁性体層22と、CoFeであることが好ましい第二強磁性体層24とを含み、第一強磁性体層22が種層12に隣接するように設けられている。ピン化層18は、CoFeであることが好ましい強磁性体材料であり、ピンニング層20に隣接して設けられている。ピンニング層20は、PtMnXであり、ここでXはCrあるいはPdである。スペーサー層16は、銅であることが好ましい非磁性体材料であり、自由層14とピン化層18の間に設けられている。
ピン化層18は、あらかじめ定められた方向に磁化されており、一方、自由層14の磁化は、磁気媒体によって生成された外部磁場に応じて自由に回転する方向をもっている。ピン化層18の磁化は、ピン化層18と交換接合したピンニング層20によってその方向が定められる。ピンニング層20は、約380℃の耐ブロック温度と、約270℃のアニーリング温度を有する。種層12の原子構造は、面中心立方(fcc)であり、[111]の結晶組織を有し、自由層14の結晶粒成長を促進する。GMRスタック10の抵抗は、自由層14の磁化方向とピン化層18の磁化方向との間の角度の関数となって変化する。
種層12の組成は、約Ni(60)Fe(15)Cr(25)と約Ni(48)Fe(12)Cr(40)との間の領域にあることが好ましく、概ねNi(48)Fe(12)Cr(40)であることがより好ましい。ここで、括弧内の数字は、原子割合を表している。種層12の厚さは、約20×10-10メートル(m)から約60×10-10mの間の領域にあることが好ましく、概ね40×10-10mから50×10-10mの間の領域にあることがより好ましい。
自由層14の第一強磁性体層22の組成は、概ねNi(85)Fe(15)とNi(80.5)Fe(19.5)との間の領域にあることが好ましく、概ねNi(82)Fe(18)であることがより好ましい。自由層14の第一強磁性体層22の厚さは、約20×10-10mから約100×10-10mの間の領域にあることが好ましく、概ね30×10-10mであることがより好ましい。自由層14の第二強磁性体層24の組成は、概ねCo(90)Fe(10)であることが好ましい。自由層14の第二強磁性体層24の厚さは、約5×10-10mから約25×10-10mの間の領域にあることが好ましく、概ね13×10-10mであることがより好ましい。
スペーサー層16の厚さは、約20×10-10mから約35×10-10mの間の領域にあることが好ましく、概ね24×10-10mであることがより好ましい。
ピン化層18の組成は、概ねCo(90)Fe(10)であることが好ましい。ピン化層18の厚さは、約18×10-10mから約30×10-10mの間の領域にあることが好ましく、概ね25×10-10mであることがより好ましい。
PtMnCrが用いられた場合のピンニング層20の組成は、概ねPt(36)Mn(64)Cr(>0)とPt(48)Mn(51)Cr(1)との間の領域にあることが好ましく、概ねPt(44)Mn(55.5)Cr(0.5)であることがより好ましい。この場合のピンニング層20の厚さは、約100×10-10mから約300×10-10mの間の領域にあることが好ましく、概ね200×10-10mであることがより好ましい。PtMnPdが用いられた場合のピンニング層20の組成は、概ねPt(15)Mn(50)Pd(35)とPt(25)Mn(50)Pd(25)との間の領域にあることが好ましく、概ねPt(20)Mn(50)Pd(30)であることがより好ましい。この場合のピンニング層20の厚さは、約150×10-10mから約300×10-10mの間の領域にあることが好ましく、概ね250×10-10mであることがより好ましい。
図2は、本発明のGMRスタック30の第二の実施例の層構造である。GMRスタック30は、種層32、自由層34、スペーサー層36、ピン化層38およびピンニング層40を含んでいる。種層32は、NiFeCrである。自由層34は、NiFeであることが好ましい第一強磁性体層42と、CoFeであることが好ましい第二強磁性体層44とを含み、また第一強磁性体層42が種層32に隣接するように設けられている。ピン化層38は、合成反強磁性体材料であり、CoFeであることが好ましい第一および第二強磁性体層46および50を含み、第二強磁性体層50がピンニング層40に隣接するように、ルテニウムであることが好ましい結合層48が、第一および第二強磁性体層46および50の間に設けられている。ピンニング層40は、XをCrあるいはPdとして、PtPnXである。スペーサー層36は、銅であることが好ましい非磁性体材料であり、自由層34とピン化層38の間に設けられている。
ピン化層38は、あらかじめ定められた方向に磁化されており、一方、自由層34の磁化方向は、磁気媒体によって与えられた外部磁場に応じて自由に回転する。ピン化層38の磁化は、ピンニング層40をピン化層38と交換結合することにより、ピン化される。ピンニング層40は、約380℃の耐ブロック温度と、約270℃のアニーリング温度を有している。種層32の原子構造は、面中心立方(fcc)であり、[111]の結晶組織を有し、自由層34の結晶粒成長を促進する。GMRスタック30の抵抗は、自由層34の磁化方向とピン化層38の磁化方向との間の角度の関数となって変化する。
種層32の組成は、約Ni(60)Fe(15)Cr(25)と約Ni(48)Fe(12)Cr(40)との間の領域にあることが好ましく、概ねNi(48)Fe(12)Cr(40)であることがより好ましい。種層32の厚さは、約20×10-10mから約60×10-10mの間の領域にあることが好ましく、約45×10-10mから約50×10-10mの間の領域にあることがより好ましい。
自由層34の第一強磁性体層42の組成は、概ねNi(85)Fe(15)とNi(80.5)Fe(19.5)との間の領域にあることが好ましく、概ねNi(82)Fe(18)であることがより好ましい。自由層34の第一強磁性体層42の厚さは、約20×10-10mから約100×10-10mの間の領域にあることが好ましく、概ね30×10-10mであることがより好ましい。自由層34の第二強磁性体層44の組成は、概ねCo(90)Fe(10)であることが好ましい。自由層34の第二強磁性体層44の厚さは、約5×10-10mから約25×10-10mの間の領域にあることが好ましく、概ね13×10-10mであることがより好ましい。
スペーサー層36の厚さは、約20×10-10mから約35×10-10mの間の領域にあることが好ましく、概ね24×10-10mであることがより好ましい。
ピン化層38の第一および第二強磁性体層46および50の組成は、概ねCo(90)Fe(10)であることが好ましい。ピン化層38の第一および第二強磁性体層46および50の厚さは、ともに、約15×10-10mから約40×10-10mの間の領域にあることが好ましく、概ね約25×10-10mから約30×10-10mの間の領域にあることがより好ましい。ピン化層38の結合層48の厚さは、約8×10-10mから約12×10-10mの間の領域にあることが好ましい。
PtMnCrが用いられた場合のピンニング層40の組成は、概ねPt(36)Mn(64)Cr(>0)とPt(48)Mn(51)Cr(1)との間の領域にあることが好ましく、概ねPt(44)Mn(55.5)Cr(0.5)であることがより好ましい。この場合のピンニング層40の厚さは、約100×10-10mから約300×10-10mの間の領域にあることが好ましく、概ね200×10-10mであることがより好ましい。PtMnPdが用いられた場合のピンニング層40の組成は、概ねPt(15)Mn(50)Pd(35)とPt(25)Mn(50)Pd(25)との間の領域にあることが好ましく、概ねPt(20)Mn(50)Pd(30)であることがより好ましい。この場合のピンニング層40の厚さは、約150×10-10mから約300×10-10mの間の領域にあることが好ましく、概ね250×10-10mであることがより好ましい。
図3は、XをCrまたはPdとしたときの、PtMnXピンニング層の耐ブロック温度の測定結果のグラフである。このグラフは、交換結合力(Oe)を温度(℃)の関数として示すものである。380℃において、交換結合力は0Oeとなる。
図4は、本発明のGMRスタック10のピンニング力の測定結果のグラフである。本グラフは、温度270℃での交換結合力(Oe)をピンニング層の厚さ(×10-10m)の関数として示すものである。
図5は、本発明のGMRスタック30のGMR応答のグラフである。本グラフは、スタック30のGMR比(GMR読み取りセンサーの抵抗の絶対変化の最大値を、GMR読み取りセンサーの抵抗で割った値に、100%を掛け合わせたもの)を、印加された磁場(Oe)の関数として示したものである。GMRスタック30のGMR比は、約10.3%である。
以上を要約すると、本発明は、XをCrまたはPdとしたPtMnXピンニング層と、NiFeCr種層を有するGMR読み取りセンサーを提供するものである。ピンニング層は、交換結合を消滅させるため、約380℃の高い耐ブロック温度を有している。また、ピンニング層は、製造過程におけるGMR読み取りセンサー中の磁化の挙動を制御し、薄膜間の拡散を防ぐために、約270℃のアニーリング温度を有している。さらに、種層とピンニング層の組合せによって、高いピンニング力を生み出している。この結果、本GMR読み取りヘッドは、約10.3%という高いGMR比を達成している。
以上、好適な実施例を引用して本発明を説明してきたが、本技術分野に精通した者であれば、本発明の原理と範囲を逸脱することなく、形状および詳細について修正が可能となることは類推できる。

Claims (20)

  1. 強磁性体ピン化層を有する巨大磁気抵抗効果スタックと、高い耐ブロック温度と低いアニーリング温度とを有しながら、ピン化層をピン操作するための高いピンニング力交換結合フィールドを提供する手段とを含む、磁気読み取りヘッドに用いられる読み取りセンサー。
  2. 請求項1記載の読み取りセンサーにおいて、高い耐ブロック温度と低いアニーリング温度とを有しながらピン化層をピン操作するための高いピンニング力交換結合フィールドを提供する手段は、NiFeCr種層と、XをCrあるいはPdとしたPnMnXピンニング層とを有することを特徴とする読み取りセンサー。
  3. NiFeCr種層と、回転可能な磁気モーメントを有し種層と隣接して設けられた強磁性体自由層と、固定した磁気モーメントを有する強磁性体ピン化層と、ピン化層に隣接して設けられ、XをCr、Pd、Nb、Re、RhおよびTaからなる一群から選択してなるPtMnXピンニング層と、自由層とピン化層とに隣接して設けられた非磁性体スペーサー層とを含む、磁気読み取りヘッドに用いられる巨大磁気抵抗効果スタック。
  4. 請求項3記載の巨大磁気抵抗効果スタックにおいて、自由層は、種層に隣接して設けられたNiFe層と、スペーサー層に隣接して設けられたCoFe層とを含む二重層であることを特徴とする巨大磁気抵抗効果スタック。
  5. 請求項4記載の巨大磁気抵抗効果スタックにおいて、NiFe層は約20×10-10mと約100×10-10mの間の範囲の厚さを有し、CoFe層は約5×10-10mと約25×10-10mの間の範囲の厚さを有する巨大磁気抵抗効果スタック。
  6. 請求項3記載の巨大磁気抵抗効果スタックにおいて、ピン化層は合成反強磁性体磁石であることを特徴とする巨大磁気抵抗効果スタック。
  7. 請求項6記載の巨大磁気抵抗効果スタックにおいて、合成反強磁性体磁石は、スペーサー層に隣接して設けられた第一CoFe層と、ピンニング層に隣接して設けられた第二CoFe層と、第一および第二CoFe層の間に設けられたルテニウム層とを含むことを特徴とする巨大磁気抵抗効果スタック。
  8. 請求項7記載の巨大磁気抵抗効果スタックにおいて、第一および第二CoFe層は約15×10-10mと約40×10-10mの間の範囲の厚さを有し、ルテニウム層は約8×10-10mと約12×10-10mの間の範囲の厚さを有することを特徴とする巨大磁気抵抗効果スタック。
  9. 請求項3記載の巨大磁気抵抗効果スタックにおいて、種層は約20×10-10mと約60×10-10mの間の範囲の厚さを有することを特徴とする巨大磁気抵抗効果スタック。
  10. 請求項9記載の巨大磁気抵抗効果スタックにおいて、種層は約45×10-10mと約50×10-10mの間の範囲の厚さを有することを特徴とする巨大磁気抵抗効果スタック。
  11. 請求項3記載の巨大磁気抵抗効果スタックにおいて、種層は約25%と約40%の間のCr原子比率を有することを特徴とする巨大磁気抵抗効果スタック。
  12. 請求項3記載の巨大磁気抵抗効果スタックにおいて、ピン化層は約20×10-10mと約30×10-10mの間の範囲の厚さを有することを特徴とする巨大磁気抵抗効果スタック。
  13. 請求項3記載の巨大磁気抵抗効果スタックにおいて、ピンニング層は約100×10-10mと約300×10-10mの間の範囲の厚さを有することを特徴とする巨大磁気抵抗効果スタック。
  14. 請求項3記載の巨大磁気抵抗効果スタックにおいて、XはCrであり、約0%と約1%の間の原子比率を有することを特徴とする巨大磁気抵抗効果スタック。
  15. 請求項3記載の巨大磁気抵抗効果スタックにおいて、XはPdであり、約25%と約35%の間の原子比率を有することを特徴とする巨大磁気抵抗効果スタック。
  16. NiFeCr種層を形成するステップと、磁気モーメントを有する強磁性体材料からなる自由層を種層の上に形成するステップと、非磁性体材料からなるスペーサー層を自由層の上に形成するステップと、磁気モーメントを有する強磁性体材料からなるピン化層をスペーサー層の上に形成するステップと、XをCrまたはPdとしてPtMnXからなるピンニング層をピン化層の上に形成するステップとを含むことを特徴とする、磁気読み取りヘッドに用いられる巨大磁気抵抗効果スタックを形成する方法。
  17. 請求項16記載の巨大磁気抵抗効果スタックを形成する方法において、種層は約20×10-10mと約60×10-10mの間の範囲の厚さを有し、ピンニング層は約100×10-10mと約300×10-10mの間の範囲の厚さを有することを特徴とする方法。
  18. 請求項16記載の巨大磁気抵抗効果スタックを形成する方法において、種層は約25%と約40%の間のCr原子比率を有することを特徴とする方法。
  19. 請求項16記載の巨大磁気抵抗効果スタックを形成する方法において、XはCrであり、約0%と約1%の間の原子比率を有することを特徴とする方法。
  20. 請求項16記載の巨大磁気抵抗効果スタックを形成する方法において、XはPdであり、約25%と約35%の間の原子比率を有することを特徴とする方法。
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Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6738236B1 (en) * 1998-05-07 2004-05-18 Seagate Technology Llc Spin valve/GMR sensor using synthetic antiferromagnetic layer pinned by Mn-alloy having a high blocking temperature
KR100563521B1 (ko) * 1999-04-20 2006-03-27 시게이트 테크놀로지 엘엘씨 CrMnPt 피닝층과 NiFeCr 시드층을 갖는 거대자기저항 센서
US6650512B1 (en) * 2000-03-21 2003-11-18 International Business Machines Corporation GMR coefficient enhancement of a spin valve structure
JP3686572B2 (ja) 2000-04-12 2005-08-24 アルプス電気株式会社 交換結合膜の製造方法と、前記交換結合膜を用いた磁気抵抗効果素子の製造方法、ならびに前記磁気抵抗効果素子を用いた薄膜磁気ヘッドの製造方法
US6790541B2 (en) 2000-04-12 2004-09-14 Alps Electric Co., Ltd. Exchange coupling film and electroresistive sensor using the same
JP3670928B2 (ja) 2000-04-12 2005-07-13 アルプス電気株式会社 交換結合膜と、この交換結合膜を用いた磁気抵抗効果素子、ならびに前記磁気抵抗効果素子を用いた薄膜磁気ヘッド
JP3694440B2 (ja) * 2000-04-12 2005-09-14 アルプス電気株式会社 交換結合膜の製造方法、及び前記交換結合膜を用いた磁気抵抗効果素子の製造方法、ならびに前記磁気抵抗効果素子を用いた薄膜磁気ヘッドの製造方法
US6521098B1 (en) 2000-08-31 2003-02-18 International Business Machines Corporation Fabrication method for spin valve sensor with insulating and conducting seed layers
JP2002299729A (ja) * 2001-03-30 2002-10-11 Fujitsu Ltd 磁気抵抗効果読み取り素子の製造方法
US6954342B2 (en) * 2001-04-30 2005-10-11 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Underlayer for high amplitude spin valve sensors
US6898112B2 (en) * 2002-12-18 2005-05-24 Freescale Semiconductor, Inc. Synthetic antiferromagnetic structure for magnetoelectronic devices
US7050277B2 (en) * 2003-07-29 2006-05-23 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Apparatus having a self-pinned abutted junction magnetic read sensor with hard bias layers formed over ends of a self-pinned layer and extending under a hard bias layer
US7099123B2 (en) * 2003-07-29 2006-08-29 Hitachi Global Storage Technologies Self-pinned abutted junction heads having an arrangement of a second hard bias layer and a free layer for providing a net net longitudinal bias on the free layer
US7092220B2 (en) * 2003-07-29 2006-08-15 Hitachi Global Storage Technologies Apparatus for enhancing thermal stability, improving biasing and reducing damage from electrostatic discharge in self-pinned abutted junction heads having a first self-pinned layer extending under the hard bias layers
US7072154B2 (en) 2003-07-29 2006-07-04 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Method and apparatus for providing a self-pinned bias layer that extends beyond the ends of the free layer
JP2006128410A (ja) * 2004-10-28 2006-05-18 Alps Electric Co Ltd 磁気検出素子及びその製造方法
US7367109B2 (en) 2005-01-31 2008-05-06 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Method of fabricating magnetic sensors with pinned layers with zero net magnetic moment
US7554775B2 (en) 2005-02-28 2009-06-30 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. GMR sensors with strongly pinning and pinned layers

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0916920A (ja) * 1995-06-30 1997-01-17 Internatl Business Mach Corp <Ibm> スピン・バルブ磁気抵抗センサと、このセンサを使用した磁気記録システム
JPH1091921A (ja) * 1996-09-12 1998-04-10 Alps Electric Co Ltd デュアルスピンバルブ型薄膜磁気ヘッド
JPH10154311A (ja) * 1996-11-21 1998-06-09 Nec Corp 磁気抵抗効果素子およびシールド型磁気抵抗効果センサ
JPH1186235A (ja) * 1997-09-04 1999-03-30 Hitachi Ltd 磁気記録再生装置
JPH1186237A (ja) * 1997-09-08 1999-03-30 Toshiba Corp 磁気抵抗効果ヘッドおよび磁気記憶装置

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2849354B2 (ja) 1995-07-28 1999-01-20 ティーディーケイ株式会社 磁気変換素子及び薄膜磁気ヘッド
JP3181525B2 (ja) * 1996-12-13 2001-07-03 アルプス電気株式会社 スピンバルブ型薄膜素子及び前記スピンバルブ型薄膜素子を用いた薄膜磁気ヘッド
US5731936A (en) * 1996-09-26 1998-03-24 International Business Machines Corporation Magnetoresistive (MR) sensor with coefficient enhancing that promotes thermal stability
JP3255872B2 (ja) * 1997-04-17 2002-02-12 アルプス電気株式会社 スピンバルブ型薄膜素子及びその製造方法
JP3225496B2 (ja) * 1997-06-05 2001-11-05 ティーディーケイ株式会社 磁気抵抗効果膜および磁気抵抗効果型ヘッド
JP3227116B2 (ja) * 1997-09-24 2001-11-12 アルプス電気株式会社 スピンバルブ型薄膜素子およびその製造方法
JPH11112052A (ja) * 1997-09-30 1999-04-23 Hitachi Ltd 磁気抵抗センサ及びこれを用いた磁気記録再生装置
JP3833362B2 (ja) * 1997-10-01 2006-10-11 富士通株式会社 磁気抵抗効果型ヘッド
JP3263016B2 (ja) * 1997-10-20 2002-03-04 アルプス電気株式会社 スピンバルブ型薄膜素子
GB9800109D0 (en) * 1998-01-06 1998-03-04 Ncr Int Inc Device for detecting the acceptability of a data-bearing card
JP3982596B2 (ja) * 1998-03-20 2007-09-26 ローム株式会社 電子部品用基板のベルト又はチエン式搬送装置
US6258468B1 (en) * 1998-12-22 2001-07-10 Read-Rite Corporation AMR read sensor structure and method with high magnetoresistive coefficient
US6222707B1 (en) * 1998-12-28 2001-04-24 Read-Rite Corporation Bottom or dual spin valve having a seed layer that results in an improved antiferromagnetic layer
KR100563521B1 (ko) * 1999-04-20 2006-03-27 시게이트 테크놀로지 엘엘씨 CrMnPt 피닝층과 NiFeCr 시드층을 갖는 거대자기저항 센서
US6278592B1 (en) * 1999-08-17 2001-08-21 Seagate Technology Llc GMR spin valve having a bilayer TaN/NiFeCr seedlayer to improve GMR response and exchange pinning field

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0916920A (ja) * 1995-06-30 1997-01-17 Internatl Business Mach Corp <Ibm> スピン・バルブ磁気抵抗センサと、このセンサを使用した磁気記録システム
JPH1091921A (ja) * 1996-09-12 1998-04-10 Alps Electric Co Ltd デュアルスピンバルブ型薄膜磁気ヘッド
JPH10154311A (ja) * 1996-11-21 1998-06-09 Nec Corp 磁気抵抗効果素子およびシールド型磁気抵抗効果センサ
JPH1186235A (ja) * 1997-09-04 1999-03-30 Hitachi Ltd 磁気記録再生装置
JPH1186237A (ja) * 1997-09-08 1999-03-30 Toshiba Corp 磁気抵抗効果ヘッドおよび磁気記憶装置

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