JP2009281739A - 液体シンチレーションカウンタ - Google Patents
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Abstract
【解決手段】デットタイム処理部22は、同時計数パルス106に基づいてトリガパルス108を生成するものである。制御部24は、同時計数パルス106に基づいて計数(計数率)を求め、それに応じてデットタイム処理の有無を切り替える。有無の切り替えだけではなくデットタイム期間を段階的にあるいは連続的に可変設定するようにしてもよい。高計数率の場合にはデットタイム処理なしでの計測が実行され、低計数率の場合にはデットタイムありでの計測が実行される。
【選択図】図1
Description
Claims (6)
- 放射性サンプル及び液体シンチレータが入れられたサンプル容器を収容する測定室と、
前記サンプル容器内で生じた光を検出する光検出器と、
前記光検出器からの検出信号に対して、アフターパルス誤計数を防止するためのデットタイム処理を施すデットタイム処理部と、
前記デットタイム処理部からの出力信号に基づいて計測を行う計測部と、
前記光検出部からの検出信号に基づいて、前記デットタイム処理部の動作を制御する制御部と、
を含むことを特徴とする液体シンチレーションカウンタ。 - 請求項1記載の液体シンチレーションカウンタにおいて、
前記制御部は、前記光検出部からの検出信号が低計数率を示す場合に前記デットタイム処理を実行させ、前記光検出部からの検出信号が高計数率を示す場合に前記デットタイム処理を停止させる、ことを特徴とする液体シンチレーションカウンタ。 - 請求項1記載の液体シンチレーションカウンタにおいて、
前記制御部は、前記光検出部からの検出信号が示す計数率に応じて、前記デットタイム処理におけるデットタイム期間を可変制御する、ことを特徴とする液体シンチレーションカウンタ。 - 請求項2又は3記載の液体シンチレーションカウンタにおいて、
前記制御部は、測定開始タイミングを基準とした所定の調査期間において計数率を評価し、前記所定の調査期間後における前記デットタイム処理を制御する、ことを特徴とする液体シンチレーションカウンタ。 - 請求項4記載の液体シンチレーションカウンタにおいて、
前記制御部は、前記所定の調査期間内において前記デットタイム処理を実行させ、
前記計測部は、前記所定の調査期間内において前記デットタイム処理部から出力される出力信号、及び、前記所定の調査期間後において前記デットタイム処理部から出力される出力信号の両者に基づいて前記計測を行う、
ことを特徴とする液体シンチレーションカウンタ。 - 放射性サンプル及び液体シンチレータが入れられたサンプル容器を収容する測定室と、
前記サンプル容器内で生じた光を検出する一対の光電子増倍管と、
前記一対の光電子増倍管からの一対の第1検出信号が同時に入力された場合に同時計数パルスを出力する同時計数回路と、
前記同時計数回路からの同時計数パルスに対して、アフターパルス誤計数を防止するためのデットタイム処理を施すことにより、計数トリガパルスを出力するデットタイム処理部と、
前記一対の光電子増倍管からの一対の第2検出信号を加算して加算検出信号を出力する加算回路と、
前記計数トリガパルスの入力と同時に前記加算検出信号が入力された場合に当該加算検出信号を計数し、これにより計測を行う計測部と、
前記同時計数回路からの同時計数パルスに基づいて計数率を求め、その計数率に応じて前記デットタイム処理部の動作有無及び動作条件の内の少なくとも一方を制御する制御部と、
を含むことを特徴とする液体シンチレーションカウンタ。
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