JP6294929B1 - 放射線測定装置 - Google Patents
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Abstract
Description
以下、図6及び図7を参照して、変形例に係る計数部について説明する。図6には、変形例に係る計数部20Aの構成が示されている。図7には、計数部20Aの動作を説明するためのタイミングチャートが示されている。図7において、横軸は時間を示している。
Claims (5)
- 複数の光電子増倍管からの複数のパルス信号が同時に得られた場合に同時信号を生成するコインシデンス回路と、
同時信号の発生前に発生し得る先行事象をモニタリングし、同時信号の発生前に、前記複数の光電子増倍管の中の1つの光電子増倍管から単一のパルス信号が得られた場合、単一のパルス信号に基づいてマスク時間を設定し、同時信号の発生前に単一のパルス信号が得られていない場合、同時信号に基づいてマスク時間を設定するマスク設定回路と、
同時信号に基づいて計数実行信号を生成する回路であって、計数を行う場合において、前記マスク時間内において生じた同時信号に基づいては計数実行信号を生成しない計数実行信号生成回路と、
を含み、
前記マスク設定回路は、同時信号の発生前に単一のパルス信号が得られた場合、単一のパルス信号に基づいて遅延時間を設定し、前記遅延時間の後に前記マスク時間を設定し、同時信号の発生前に単一のパルス信号が得られなかった場合、同時信号に基づいて前記遅延時間を設定し、前記遅延時間の後に前記マスク時間を設定する、
ことを特徴とする放射線測定装置。 - 請求項1に記載の放射線測定装置において、
前記遅延時間は、単一のパルス信号を先行信号として伴わない同時信号が、前記マスク時間によってマスクされることを回避するための長さを有する、
ことを特徴とする放射線測定装置。 - 請求項1又は請求項2に記載の放射線測定装置において、
前記マスク設定回路は、論理和信号に基づいて設定されたマスク時間の後に発生した別の論理和信号に基づいて別のマスク時間を設定する、
ことを特徴とする放射線測定装置。 - 請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の放射線測定装置において、
同時信号の発生後に発生するアフターパルスの数が閾値以上となる同時信号を除外する除外回路を更に含む、
ことを特徴とする放射線測定装置。 - 請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の放射線測定装置において、
測定対象の試料は液体シンチレータとともに容器としてのガラスバイアルに収容されており、
前記複数の光電子増倍管は、前記液体シンチレータ及び前記ガラスバイアルからの発光を検出して前記複数のパルス信号を出力する、
ことを特徴とする放射線測定装置。
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