JP2009271991A - 半導体記憶装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】クロック信号に同期して連続的にデータの読み出し及び再書き込みを行う際の強誘電体キャパシタのインプリント等を防止し、データの信頼性を向上させる。
【解決手段】半導体記憶装置は、強誘電体キャパシタを含むメモリセルアレイ11と、メモリセルアレイ11を選択してビット線に接続させる選択トランジスタQN4、QN5と、強誘電体キャパシタCにデータ読み出し又は再書き込みのための電位を与えるプレート線PLと、強誘電体キャパシタCからビット線BL、/BLに読み出される信号を比較増幅するセンスアンプ回路15と、クロック信号CLKに同期して、プレート線PLの電位を制御するプレート線制御回路12とを備える。
【選択図】図2
【解決手段】半導体記憶装置は、強誘電体キャパシタを含むメモリセルアレイ11と、メモリセルアレイ11を選択してビット線に接続させる選択トランジスタQN4、QN5と、強誘電体キャパシタCにデータ読み出し又は再書き込みのための電位を与えるプレート線PLと、強誘電体キャパシタCからビット線BL、/BLに読み出される信号を比較増幅するセンスアンプ回路15と、クロック信号CLKに同期して、プレート線PLの電位を制御するプレート線制御回路12とを備える。
【選択図】図2
Description
本発明は、半導体記憶装置に関し、特に、強誘電体メモリの構造及びその動作方法に関する。
従来、不揮発性メモリのひとつとして、強誘電体メモリが周知である。強誘電体メモリは、強誘電体の特性の一つである自発分極がヒステリシス特性を示すことを利用して、強誘電体の異なる二つの分極の大きさによって二値データを不揮発に記憶することができるメモリである。従来の強誘電体メモリのメモリセルは、一般にDRAMと同様のアーキテクチャを採用しており、常誘電体キャパシタが強誘電体キャパシタに置き換えられ、強誘電体キャパシタとトランジスタが直列接続して構成されている。これを複数配置して、メモリセルアレイが構成される。
強誘電体メモリの場合、強誘電体キャパシタに電圧を印加し、分極反転させることでデータを読み出すため、破壊読出しとなる。したがって、データの読み出し後、FeRAMのような強誘電体メモリでは読み出したデータを再書き込みする動作が必要である。センスアンプで比較増幅した状態を保持することで“0”データの再書き込みを行うことができる。その後、プレート線の電位をVSS(接地電位)に戻すことで“1”データの再書き込みを行うことができる(例えば、特許文献1)。
従来、データを連続的に読み出し、書き込みを行うバーストモードにおいては、プレート線PLの電位を長時間“H”状態に保持し、“0”データの再書き込みを行い、動作サイクル終了時に、プレート線PLの電位を“L”状態にし、“1”データの再書き込みを行っていた。このため、“0”データの再書き込み時間が“1”データの再書き込み時間に比べ長くなっており、“0”データの再書き込み時間と、“1”データの再書き込み時間との間でアンバランスが生じていた。このアンバランスに起因して、強誘電体キャパシタにインプリント等の不良が発生し、データの信頼性が低下するという問題が生じていた。
ECC(Error Correcting and Checking)回路はメモリから読み出された複数のデータの中にある誤りビットを正しい値に訂正する機能を持つ回路である。ある確率で誤りデータが読み出されてしまう場合にその誤りを訂正して出力できるため、ECC回路を搭載することで、メモリの信頼性をある程度向上させることが可能である。
しかし、メモリセルに訂正データを書き戻すためには、ECC計算が終わり、ビット線に訂正データが反映されるまで、プレート線PLを“H”状態に保持し、“0”データの再書き込み状態を維持しなければならない。したがって、“0”データの再書き込み時間が、“1”データの再書き込み時間に比べ長くなり、“0”データの再書き込み時間と、“1”データの再書き込み時間との間にやはりアンバランスが生じる。その結果、強誘電体キャパシタにインプリント等の不良が発生して信頼性の低下を導くことになる。
特開2001−250376号公報
本発明は、クロック信号に同期して連続的にデータの読み出し及び再書き込みを行う場合の、“0”データの再書き込み時間と、“1”データの再書き込み時間のバランスを保つことにより、強誘電体キャパシタのインプリント等を防止し、データの信頼性を向上させることを目的とする。
本発明の一つの態様において、半導体記憶装置は、強誘電体キャパシタを含むメモリセルアレイと、メモリセルアレイを選択してビット線に接続させる選択トランジスタと、強誘電体キャパシタにデータ読み出し又は書き込みのための電位を与えるプレート線と、強誘電体キャパシタからビット線に読み出される信号を比較増幅するセンスアンプ回路と、クロック信号に同期して、プレート線の電位を制御するプレート線制御回路とを備えることを特徴とする。
本発明によれば、クロック信号に同期して連続的にデータの読み出し及び再書き込みを行う場合の、“0”データの再書き込み時間と、“1”データの再書き込み時間のバランスを保つことにより、強誘電体キャパシタのインプリント等を防止し、データの信頼性を向上させることができる。
以下、図面を参照しながら、本発明に係る半導体記憶装置の実施の形態について詳細に説明する。
[第1の実施形態]
図1は、第1の実施形態に係る強誘電体メモリの構成ブロック図を示したものである。強誘電体メモリ10は、複数のメモリセルを配置して構成されたメモリセルアレイ11を備える。
図1は、第1の実施形態に係る強誘電体メモリの構成ブロック図を示したものである。強誘電体メモリ10は、複数のメモリセルを配置して構成されたメモリセルアレイ11を備える。
メモリセルアレイ11はデータ記憶領域11A及びパリティ記憶領域11Bから構成される。メモリセルアレイ11には、選択したメモリセルのプレート線PLの電位を制御するためのプレート線制御回路12と、選択したメモリセルのビット線BLの電位を制御するデータ制御回路13と、所望のメモリセルを選択するためのアドレス制御回路14と、ビット線BLの信号を比較増幅するセンスアンプ回路15が接続されている。
プレート線制御回路12は、アドレス制御回路14からのプレート線選択信号S1と、クロック信号(CLK)を受信し、選択したメモリセルの所定のプレート線PLの電位を制御する。センスアンプ回路15には、エラー訂正用のECC回路16が接続され、ECC回路16からの訂正データ信号S2は、データ制御回路13に入力される。センスアンプ回路15からの増幅されたデータ信号はレジスタ17を介して、I/O端子に出力される。
まず、メモリセルアレイ11の構成について詳細に説明する。図2は、メモリセルアレイ11の1つのカラムについて概略的に示したものである。ここに示すメモリセルMi(i=0〜n)は、一つのトランジスタ(例えばNMOS)Tiと一つの強誘電体キャパシタCiにより構成される1T/1C型メモリセルであるが、メモリセルの構成はこれに限定されない。トランジスタTiのドレイン電極は、強誘電体キャパシタCiの一方の電極に接続されている。トランジスタTiのゲートはワード線WLiに接続され、強誘電体キャパシタCiのもう一方の電極はプレート線PLiに接続されている。ワード線WLiはアドレス制御回路14の一部であるワード線駆動回路24に接続されており、ワード線駆動回路24により駆動される。プレート線PLiは、以下で詳細に説明するようにプレート線制御回路12により駆動される。一対のビット線の間にメモリセルMiが複数配置され、さらに複数のビット線が平行に配置されてメモリセルアレイ11が構成されている。
一つのセンスアンプ回路15に接続されるビット線対を構成するビット線BLとBBLの間には、メモリセルアレイ11の外側に、メモリセルアレイ11から近い方から順に、センスアンプ回路15、カラムゲート22が並列に接続されている。また、ビット線BL、BBLのいずれか一方に参照電圧Vrefを印加するための参照電圧回路25が設けられている。
センスアンプ回路15は、例えばNMOSトランジスタQN1、QN2から成るNMOSフリップフロップと、PMOSトランジスタQP1、QP2から成るPMOSフリップフロップとにより構成される。NMOSフリップフロップ回路部の端子はセンスアンプ活性化信号ラインBSANに接続され、PMOSフリップフロップ回路部の端子はセンスアンプ活性化信号ラインSAPに接続される。
センスアンプ回路15に隣接して、ビット線BL、BBLの間には、カラムゲート22が接続されている。カラムゲート22は、ソース電極がビット線BLに接続されドレイン電極がデータ線DQに接続されたNMOSトランジスタQN4、ソース電極がビット線BBLに接続されドレイン電極がデータ線BDQに接続されたNMOSトランジスタQN5から構成される。各トランジスタQN4、QN5のゲートは、カラム選択線CSLに接続され、アドレス制御回路14により駆動される。
続いて、プレート線制御回路12について詳細に説明する。図3は、プレート線制御回路12の回路構成の一例を示したものである。回路構成はこれに限定されない。プレート線制御回路12は、外部からのクロック信号CLKに同期して、アドレス制御回路14からのプレート線活性化信号PLSEに応答してプレート線信号PLを出力する。プレート線制御回路12は、4分周回路30と、NANDゲート31と、PMOSトランジスタ32、該PMOSトランジスタ32のドレイン電極にドレイン電極を接続したNMOSトランジスタ33を備える。PMOSトランジスタ32とNMOSトランジスタ33との接続ノードにプレート線PLが接続されている。PMOSトランジスタのソース電極は電圧VAA(内部電源電圧)に維持され、NMOSトランジスタのソース側は接地電位VSSに維持されている。NANDゲート31の出力端子は、PMOSトランジスタ32のゲート及びNMOSトランジスタ33のゲートにそれぞれ接続されている。4分周回路30の出力端子はNANDゲート31の一方の入力端子に接続される。尚、この例では、4分周回路を用いているが、分周の大きさは条件に応じて変更され得ることは言うまでもない。また、セレクタ回路等の論理回路を付加することにより、プレート線PLの電位の“H”と“L”との切り替えを適宜制御することも可能である。
次に、プレート線制御回路12の回路動作について説明する。図4は、プレート線制御回路12のタイミングチャートの一例を示したものである。4分周回路30は、入力したクロック信号CLKの周波数を1/4に分周した信号S3を生成し出力する。信号S3はNANDゲート31の一方の入力端子に入力する。アドレス制御回路14からのプレート線活性化信号PLSE(S1)は、NANDゲート31の他方の入力端子に入力する。プレート線活性化信号PLSEが“H”で、信号S3が“H”のとき、NANDゲート31から電位“L”が出力され、NMOSトランジスタ33がターンオフし、PMOSトランジスタ32がターンオンして、プレート線PLに高電位VAA(“H”)が与えられる。プレート線活性化信号PLSEが“H”で、信号S3が“L”のとき、NANDゲート31から電位“H”が出力され、PMOSトランジスタ32はターンオフし、NMOSトランジスタ33がターンオンして、プレート線PLに低電位VSS(“L”)が与えられる。
このように、このプレート線制御回路12では、クロック信号に同期して、プレート線PLの電位が“H”と“L”との間で切り替わり、“H”の時間間隔と“L”の時間間隔とが略同一とされている。ここで、略同一とは、メモリセルアレイ11の一つのビット線対BL、BBLのカラムが選択された以降は、プレート線PLの“H”の時間間隔と“L”の時間間隔とが同一となることを意味している。カラムを選択する以前の動作サイクルの開始時において、ビット線BL、BBLの電位が所定の電位になる前に、図示しないセレクタ回路等を使用してプレート線PLの電位を予め“H”にしておくのが好ましい。カラムが選択された以降は、プレート線PLの電位は同じ時間間隔で、“H”と“L”とが切り替えられる。
これにより、データの読み出し及び再書き込みを行う場合、ECC回路16によるエラー訂正を行う場合、バーストモードでのデータの読み出し及び再書き込みを行う場合の、“0”データの再書き込み時間と、“1”データの再書き込み時間のバランスを保つことができ、強誘電体キャパシタのインプリント等を防止し、データの信頼性を向上させることができる。
上記したデータ制御回路13は、外部からのクロック信号CLKに同期して、チップ活性化信号bCE、チップ内部基幹信号RINT、ECC補正信号等を含むメモリセルアレイ11用のデータ制御信号を出力する。上記したアドレス制御回路14は、カラムゲート22のトランジスタQN4、QN5を駆動するカラム選択信号CSLE、ワード線駆動回路24を駆動するワード線選択信号、選択したカラムの一方のビット線に参照電圧Vrefを与える信号、上記したプレート線制御回路12に与えるプレート線活性化信号PLSE等を含むアドレス制御信号を出力する。
次に、ECC回路16について説明する。ECC回路16は、図示しないパリティ計算回路、シンドローム計算回路、データ訂正回路等から構成される。ECC回路16での計算のためデータ情報はパリティとしてメモリセルアレイ11内のパリティ領域11Bに記憶される。ECC回路16は、選択したメモリセル内のデータとそのデータに関するパリティとを比較することでデータの誤りを検出し、ビット線対BL、BBLの電位の反転をデータ制御回路13に指令する。
次に、レジスタ17について説明する。図7は、レジスタ17の回路構成を略示したものである。レジスタ17は、4つに分割されたレジスタ領域D1、D2、D3、D4から成り、各レジスタ領域D1、D2、D3、D4は、シリアルに接続された4つのフリップフロップ回路FF0、FF1、FF2、FF3から構成されるシフトレジスタである。レジスタ17の構成はこれに限定されない。
続いて、強誘電体メモリの基本動作について、図面を参照しながら詳細に説明する。図5(A)は、強誘電体キャパシタのヒステリシス特性を示したものである。上記したように、強誘電体メモリは、強誘電体キャパシタのヒステリシス特性を利用してデータを不揮発に記憶するものである。2つの分極状態の上向きを“0”、下向きを“1”に対応させ、強誘電体キャパシタに印加する電圧を0Vとした場合の残留分極量をそれぞれ+Pr、-Prとする。
強誘電体キャパシタの読み出し動作及び再書き込み動作について、図5(B)に示す1T/1C型セル(1つのトランジスタTと、1つの強誘電体キャパシタCとで構成されたセル)を例にとって説明する。
強誘電体キャパシタCにデータ“1”(下向きの分極量-Pr)が保持されている場合に、データ“1”を読み出すためには、ビット線BLの電位を0Vにし、ワード線WLをオンにして、プレート線PLに電圧Vccを印加する。この際、強誘電体キャパシタCのヒステリシスはA→B→Cの経路をたどり、分極反転する。キャパシタCからトランジスタTを介して電荷が流れ、ビット線BLを電位V1にチャージアップする。このとき、他方のビット線BBLには参照電圧Vrefが印加される。V1>Vrefの場合、センスアンプ回路15はビット線BLの電位を“H”と判定し、“1”データを出力する。その後、ワード線WLをオフにすると、強誘電体キャパシタCは0バイアス状態となり、“0”データ状態を保持する(電荷量+Pr、位置D)。
“1”データを読み出した場合、分極反転により、データは破壊されて“0”データ状態となる。このため、再び“1”データの書き込みを行い、読み出し前の状態に戻しておく必要がある。“1”データの読み出し後には、ビット線BLの電位はチャージアップされている。このとき、プレート線PLの電位を0Vにすることにより、強誘電体キャパシタCの電極間に負電圧が印加され、ヒステリシスはD→E→Fの経路をたどり、分極反転する。その結果、再び“1”データの書き込みが行われる。その後、ワード線WLをオフにすると、強誘電体キャパシタCは0バイアスとなり、“1”データを保持する(電荷量-Pr、位置A)。これにより、元の“1”データに戻ったことになる。
一方、強誘電体キャパシタCにデータ“1”(下向きの分極量-Pr)が保持されている場合に、データ“0”を書き込むためには、ビット線BLの電位を0Vとし、ワード線WLをオンにして、プレート線PLの電圧を0V→Vcc→0Vへと変化させる。この際、強誘電体キャパシタCのヒステリシスはA→B→C→Dの経路をたどり、分極反転してデータ“0”が書き込まれた状態となる(電荷量+Pr、位置D)。
強誘電体キャパシタCにデータ“0”(上向きの分極量+Pr)が保持されている場合に、データ“0”を読み出すためには、ビット線BLの電位を0Vにし、ワード線WLをオンにして、プレート線PLに電圧Vccを印加する。この際、強誘電体キャパシタCのヒステリシスはD→Cの経路をたどり、分極反転しない。強誘電体キャパシタCからトランジスタTを通じてビット線BLに電荷が流れ、ビット線BLはわずかにチャージアップされて電位V2となる。このとき、他方のビット線BBLには参照電圧Vrefが印加される。V2<Vrefの場合、センスアンプ回路15は、ビット線BLの電位を“L”と判定し、“0”データを出力する。
以上、1T/1C型セルの場合を例にとって説明したが、2T/2C型セル(2つのトランジスタと、2つのキャパシタで構成され、1つのメモリセル内に隣接して配置された強誘電体キャパシタに相反する分極が書かれており、その分極差を読み出すもの)についても同様である。
次に、本実施形態に係る強誘電体メモリ10の動作について説明する。
図6は、強誘電体メモリ10の動作タイミングチャートを示したものである。時刻t1で、データ制御回路13からのチップ活性化信号bCEの電位が“L”となり、チップが活性化された後、時刻t2においてデータ制御回路13からのチップ内部基幹信号RINTの電位が“H”となる。続いて、アドレス制御回路14からのプレート線活性化信号PLSEの電位が“H”となり、プレート線制御回路12のNANDゲート31が活性となる。続いて、時刻t3において、プレート線制御回路12からのプレート線PLの電位が“H”となる。
続いて、時刻t4においてアドレス制御回路14からカラム選択線CSLに入るカラム選択信号CSLEの電位が“H”となり、第1カラムが選択されてカラムゲート22のトランジスタQN4、QN5がターンオンする。同時に、選択されたビット線BL、BBLのいずれかに参照電圧回路25により参照電圧Vrefが印加され、第1カラムに接続されたセンスアンプ回路15が活性となる。これにより、ビット線BL、BBLの電位が比較増幅され、データの読み出しが行われる。
続いて、時刻t4から時刻t6までのプレート線PLの電位が“H”である間に、選択された第1カラムのメモリセルアレイ11に“0”データの再書き込みが行われる。続いて、時刻t6においてプレート線PLの電位が“L”となり、選択された第1カラムのメモリセルアレイ11に“1”データの再書き込みが行われる。続いて、時刻t7にカラム選択線CSLに入るカラム選択信号CSLEの電位が“L”となり、いままで選択されていた第1カラムのセンスアンプ15が非活性となる。以上の時刻t4から、再びカラム選択信号CSLEが立ち上がる時刻t8までの動作を1サイクルとして、1つのカラムである第1カラムへの動作が終了する。
ここで、時刻t4からt6までの“0”データの再書き込み時間間隔と、時刻t6からt8までの“1”データの再書き込み時間間隔とは同一である。すなわち、プレート線PLの電位が“H”となる時間間隔と、“L”となる時間間隔とは、第1カラムが選択されて以降は同一となるように、プレート線制御回路12で制御される。したがって、“0”データの再書き込み時間と、“1”データの再書き込み時間のバランスが維持され、データの信頼性が向上する。
続いて、時刻t8において、再び、カラム選択線CSLに入るカラム選択信号CSLEの電位が“H”となる。これにより第2カラムのカラムゲート22のトランジスタQN4、QN5がターンオンし、第2カラムのメモリセルアレイ11が選択される。同時に、プレート線PLの電位が“H”となり、第2カラムのメモリセルアレイ11からのデータ読み出し、“0”データの再書き込み、“1”データの再書き込みが同様に行われる。
続いて、レジスタ17の動作について説明する。読み出されたデータはレジスタ17(図1)に送られる。時刻t4において、選択された第1カラムのメモリセルアレイ11から読み出された“1”データは、レジスタ17の領域D1のFF0に入力され、時刻t5においてFF1に出力される(出力Q0)。時刻t5においてFF1に入力された“1”データは時刻t6においてFF2に出力される(出力Q1)。時刻t6においてFF2に入力された“1”データは時刻t7においてFF3に出力される(出力Q2)。時刻t7においてFF3に入力された“1”データは時刻t8においてI/O端子から出力される(出力Q3)。同様に、第2カラム、第3カラム、第4カラムの選択されたメモリセルから読み出されたデータは、それぞれレジスタ17の領域D2、D3、D4を通じてシフトされ、I/O端子から出力される。
従来の強誘電体メモリでは図12に示すように、バーストモードで、データを読み出してから、まず、“0”データの再書き込みを行い、その後、“1”データの再書き込みを行っていた。したがって、“0”データの再書き込み時間と、“1”データの再書き込み時間との間にアンバランスが生じていた。
本実施の形態によれば、クロック信号CLKに同期して、プレート線PLの電位を“H”と“L”との間で切り替えることにより、“0”データの再書き込み時間と“1”データの再書き込み時間とを均等とし、両者のアンバランスを解消させることができる。結果として、強誘電体キャパシタのインプリント等の発生を抑制し、データの信頼性を向上させ、高速に読み出し、再書き込みを行うことが可能な強誘電体メモリを実現することができる。
[第2の実施形態]
次に、本発明に係る強誘電体メモリの第2の実施形態について説明する。本実施の形態に係る強誘電体メモリの回路構成は、図1に示す上記第1の実施形態に係る強誘電体メモリの回路構成と基本的に同じである。第2の実施形態は、上記第1の実施形態で説明したデータ読み出し及び再書き込み動作に、ECC回路16によるデータ訂正動作を加えた点で第1の実施形態と異なっている。尚、強誘電体メモリへのデータ読み出し動作及びデータ再書き込み動作については、上記第1実施形態と同様なので説明を省略する。
次に、本発明に係る強誘電体メモリの第2の実施形態について説明する。本実施の形態に係る強誘電体メモリの回路構成は、図1に示す上記第1の実施形態に係る強誘電体メモリの回路構成と基本的に同じである。第2の実施形態は、上記第1の実施形態で説明したデータ読み出し及び再書き込み動作に、ECC回路16によるデータ訂正動作を加えた点で第1の実施形態と異なっている。尚、強誘電体メモリへのデータ読み出し動作及びデータ再書き込み動作については、上記第1実施形態と同様なので説明を省略する。
図8は、第2の実施形態に係るECC回路16によるデータ訂正の動作タイミングチャートを示したものである。時刻t1において、カラム選択線CSLに入るカラム選択信号CSLEの電位が“H”となり、カラムゲート22のトランジスタQN4、QN5がターンオンして、メモリセルアレイ11の第1カラムが選択される。第1の実施の形態と同様にアドレス制御回路14からのプレート線活性化信号PLSEによりプレート線制御回路12からのプレート線PLの電位が“H”となって、メモリセルアレイ11の第1カラムからのデータ読み出し及び“0”データの再書き込みが行われる(動作40)。ここで、データ読み出し及び再書き込みは上記した第1の実施形態と同様なので説明を省略する。
続いて、第1カラムのメモリセルアレイ11から読み出したデータに誤りがあれば、これをECC回路16で訂正する。訂正は、ビット線対BL、BBLの電位を反転することにより行う。すなわち、“1”データが読み出されるべき場合、強誘電体キャパシタからの電荷が一方のビット線BLが充電されてビット線BLの電位が参照電圧Vrefを超えないと、センスアンプ回路15はビット線BLの電位を“L”と判定し“0”データを出力してしまう。これが読み出しエラーとなる。ECC回路16はこのエラーを検出し、ビット線BL、BBLに印加する電位を反転するように、データ制御回路13に指令を出す。すると、その指令に応答して、選択されたカラムのビット線BL、BBLに印加される電位が反転し、ビット線BLの電位は、センスアンプ回路15において“H”と判定され、“1”データが出力される。その後、“0”データを誤って出力したメモリセル11に“1”データの書き戻し(訂正)が行われる(動作41)。
従来は訂正データがビット線に反映されるまで、プレート線PLの電位を“H”に維持していた(点線t2からt2’)。したがって、“0”データの再書き込み時間(t1からt2’)と、“1”データの再書き込み時間(t2’とt3)との間にアンバランスが生じていた。本実施の形態によれば、訂正データがビット線に反映される時刻t2’以前の時刻t2において、プレート線PLの電位を“L”にする。これによって、“0”データの再書き込み時間と“1”データの書き戻し(訂正)時間のアンバランスを防止することができる。
ここで、動作41において、ECC回路16により、“1”データに訂正された場合は、プレート線PLの電位が“L”でも“1”データの書き戻し(訂正)ができる。しかし、“0”データに訂正された場合は、プレート線PLの電位が“L”であるため、“0”データの書き戻しができない。そこで、“0”データの書き戻し(訂正)は、プレート線PLの電位が“H”となる時刻t3で始まる次のサイクルで、第2カラムの読み出し動作(動作43)と並行して行う(動作42)。
時刻t3において、第2カラムのカラム選択線CSLに入るカラム選択信号CSLEの電位が“H”となり、カラムゲート22のトランジスタQN4、QN5がターンオンして第2カラムが選択される。同時にプレート線制御回路12によりプレート線PLの電位が“H”となり、第2カラムのメモリセルアレイ11から“0”データが読み出される。読み出しの後“0”データの再書き込みが行われる(動作43)。訂正データがビット線に反映される前の時刻t4において、プレート線PLの電位が“L”となり、メモリセルアレイ11に“1”データの再書き込み(訂正)が行われる(動作44)。ECC回路16により訂正された“0”データの書き戻し(訂正)は、プレート線PLの電位が“H”となる次のサイクルの時刻t5で、第3カラムの読み出しサイクルと並行して行う(動作45)。
上記した動作40から動作42までを1サイクルとして、強誘電体メモリ10のメモリセルアレイ11のすべてのカラムについて繰り返し行い、最終カラムの“1”データの再書き込み終了後に、一度だけプレート線PLの電位を“H”として、訂正した“0”データの書き戻し(訂正)を行う(動作46)。すなわち、プレート線PLの電位の遷移回数は、カラム選択線CSLに入るカラム選択信号CSLEの電位の遷移回数より1回だけ多いことになる。しかし、その他は略同一である。
本実施形態により、ECC回路16による“0”データの書き戻し(訂正)と、“1”データの書き戻し(訂正)時間のアンバランスが解消され、インプリント防止等による強誘電体メモリの信頼性の向上を図ることができる。
[第3の実施形態]
次に、本発明に係る強誘電体メモリの第3の実施形態について説明する。本実施の形態に係る強誘電体メモリの回路構成は、図1に示す上記第1の実施形態に係る強誘電体メモリの回路構成と基本的に同様であるが、第3の実施形態は、データ制御回路13が書き込み制御信号bWEを生成し、アドレス制御回路14が第1実施形態と異なるカラム選択信号CSLEを生成するように構成されている点において、上記第1実施形態と相違する。すなわち、第3の実施形態は、バーストモードにおいて、読み出し動作(及び再書き込み動作)のみではなく、書き込み制御信号bWEが“L”のときに、データ書き込み動作も適宜行う点で上記第1の実施形態と異なっている。尚、強誘電体メモリのデータ読み出し動作及びデータ再書き込み動作については、上記第1実施形態と同様なので説明を省略する。
次に、本発明に係る強誘電体メモリの第3の実施形態について説明する。本実施の形態に係る強誘電体メモリの回路構成は、図1に示す上記第1の実施形態に係る強誘電体メモリの回路構成と基本的に同様であるが、第3の実施形態は、データ制御回路13が書き込み制御信号bWEを生成し、アドレス制御回路14が第1実施形態と異なるカラム選択信号CSLEを生成するように構成されている点において、上記第1実施形態と相違する。すなわち、第3の実施形態は、バーストモードにおいて、読み出し動作(及び再書き込み動作)のみではなく、書き込み制御信号bWEが“L”のときに、データ書き込み動作も適宜行う点で上記第1の実施形態と異なっている。尚、強誘電体メモリのデータ読み出し動作及びデータ再書き込み動作については、上記第1実施形態と同様なので説明を省略する。
図9は、第3の実施形態に係る動作タイミングチャートを示したものである。本実施形態は、選択された第1カラムのメモリセルアレイ11に対してデータの読み出し並びに、“0”データの再書き込み及び“1”データの再書き込みを行った後信号bWEが“L”となって選択された第2カラムのメモリセルアレイ11に対してはデータ読み出しを行わず通常のデータの書き込みのみを行い、続いて選択された第3カラムのメモリセルアレイ11に対して再びデータの読み出し並びに“0”データの再書き込み及び“1”データの再書き込みを行う場合を示している。以下、動作について詳細に説明する。
まず、時刻t1において、カラム選択線CSLに入るカラム選択信号CSLEの電位が“H”となり、第1カラムのカラムゲート22のトランジスタQN4、QN5がターンオンして第1カラムのメモリセルアレイ11が選択される。時刻t1において、上記したようにアドレス制御回路14からのプレート線活性化信号PSLEによりプレート線制御回路12からのプレート線PLの電位が“H”となっており、第1カラムのメモリセルアレイ11の読み出し及び“0”データの再書き込みが行われる。時刻t2において、プレート線PLの電位が“L”となり、メモリセルアレイ11に“1”データの再書き込みが行われる。時刻t3において、カラム選択線CSLに入るカラム選択信号CSLEが“L”となり、カラムゲート22のトランジスタQN4、QN5がターンオフする。
続いて時刻t4において、データ制御回路13からの書き込み制御信号bWEの電位が“L”となり、第2カラムのセンスアンプ回路15が非活性となって第2カラムのデータ読み出しが禁止される。
続いて、矢印aで示すようにI/O端子より書き込みデータの取り込みが開始される。I/O端子から取り込まれた書き込みデータは矢印bで示すようにレジスタ17の領域D2に入力される。レジスタ17の領域D2に入力された書き込みデータは、データ制御回路13を通じて矢印cに示すようにビット線BL、BBLに反映される。その後、プレート線制御回路12により、第2カラムのプレート線PLの電位が“H”と“L”との間で遷移して、第2カラムにデータが書き込まれる。
時刻t5において、データ制御回路13からの書き込み制御信号bWEの電位が“H”となり、データ読み出し禁止状態が解除される。続く、時刻t6において、第3カラムの“0”データ読み出しが行われ、続いて“0”データの再書き込みが行われる。
本実施形態によれば、データ読み出しが行われず、書込みのみが行われる場合においても、プレート線PLの電位は“H”と“L”の間を同じ時間間隔で遷移するため、データ書き込みの高速化を図ることができると同時に、“0”データの書き込み時間と“1”データの書き込み時間とのアンバランスを低減させることができる。
[第4の実施形態]
次に、本発明に係る強誘電体メモリの第4の実施形態について説明する。本実施の形態に係る強誘電体メモリの回路構成は図1に示す上記第1の実施形態と基本的に同様であるが、第4の実施形態は、プレート線制御回路12が第1実施形態と異なるプレート線信号を与えるように構成されている点において、上記第1実施形態と相違する。尚、強誘電体メモリのデータ読み出し動作及びデータ再書き込み動作については、上記第1実施形態と同様なので説明を省略する。
次に、本発明に係る強誘電体メモリの第4の実施形態について説明する。本実施の形態に係る強誘電体メモリの回路構成は図1に示す上記第1の実施形態と基本的に同様であるが、第4の実施形態は、プレート線制御回路12が第1実施形態と異なるプレート線信号を与えるように構成されている点において、上記第1実施形態と相違する。尚、強誘電体メモリのデータ読み出し動作及びデータ再書き込み動作については、上記第1実施形態と同様なので説明を省略する。
図10は、本実施形態に係る動作タイミングチャートを示したものである。本実施形態に係るプレート線制御回路12は、連続的にデータが読み出し及び書き込みされるデータ長(バースト長)が、予め分かっている場合に、そのデータ長に合わせて、“0”データの再書き込み時間と、“1”データの再書き込み時間を均一に2分割するべく、プレート線PLの電位を切り替えている点で上記第1実施形態のプレート線制御回路12と構成が異なっている。以下、図面を参照しながら詳細に説明する。
まず、時刻t1において、カラム選択線CSLに入るカラム制御信号CSLEが“H”となり、カラムゲート22のトランジスタQN4、QN5がターンオンして、第1カラムのメモリセルアレイ11が選択される。次いで、時刻t2において、カラム制御信号CSLEの電位が“L”となり、時刻t3において再びカラム制御信号CSLEの電位が“H”となる。
時刻t1においてカラム制御信号CSLEの電位が“H”となってから、時刻t2においてカラム制御信号CSLEの電位が“L”となり、次いで時刻t3で“H”となるまでの間、プレート線PLの電位はプレート線制御回路12により“H”に保持されており、第1カラムのメモリセルアレイ11のデータの読み出し及びその後の“0”データの再書き込みが行われる。
時刻t3でカラム選択線CSLに入るカラム制御信号CSLEの電位が“H”となると、第2カラムのカラムゲート22のトランジスタQN4、QN5がターンオンして、第2カラムが選択される。次いで、時刻t4において、カラム制御信号CSLEの電位が“L”となり、時刻t5において再びカラム制御信号CSLEの電位が“H”となる。
時刻t3においてカラム制御信号CSLEの電位が“H”となってから、時刻t4においてカラム制御信号CSLEの電位が“L”となり、次いで時刻t5で“H”となるまでの間、プレート線PLの電位はプレート線制御回路12により“H”に保持されており、第2カラムのメモリセルアレイ11のデータの読み出し及び“0”データの再書き込みが行われる。
時刻t5において、プレート線制御回路12によりプレート線PLの電位は“H”から“L”に切り替えられる。同時に、カラム選択線CSLに入るカラム制御信号CSLEが“H”となり、カラムゲート22のトランジスタQN4、QN5がターンオンして、第3カラムが選択される。次いで、時刻t6において、カラム制御信号CSLEの電位が“L”となり、時刻t7において再びカラム制御信号CSLEの電位が“H”となる。
時刻t5においてカラム制御信号CSLEの電位が“H”となってから、時刻t6においてカラム制御信号CSLEの電位が“L”となり、次いで時刻t7で“H”となるまでの間、プレート線PLの電位はプレート線制御回路12により“L”に保持されており、第3カラムのメモリセルアレイ11のデータの読み出し及び“1”データの再書き込みが行われる。
時刻t7において、カラム選択線CSLに入るカラム制御信号CSLEが“H”となり、カラムゲート22のトランジスタQN4、QN5がターンオンして、第4カラムが選択される。次いで時刻t8において、カラム制御信号CSLEの電位が“L”となり、時刻t9において再びカラム制御信号CSLEの電位が“H”となる。
時刻t7においてカラム制御信号CSLEの電位が“H”となってから、時刻t8においてカラム制御信号CSLEの電位が“L”となり、次いで時刻t9で“H”となるまでの間、プレート線PLの電位はプレート線制御回路12により“L”に保持されており、第4カラムのメモリセルアレイ11のデータの読み出し及び“1”データの再書き込みが行われる。
本実施形態によれば、プレート線PLの電位が“H”となっている時間間隔と、“L”となっている時間間隔とが略均等に2分割されているため、“0”データの書き込み時間と、“1”データの書き込み時間とのアンバランスが解消される。同時に、プレート線PLの電位の変動回数を減らすことにより、消費電力を抑えることができる。
[第5の実施形態]
次に、本発明に係る強誘電体メモリの第5の実施形態について説明する。本実施の形態に係る強誘電体メモリの回路構成は図1に示す上記第1の実施形態と基本的に同様であるが、第5の実施形態は、プレート線制御回路12が第1実施形態と異なるプレート線信号を与えるように構成されている点において、上記第1実施形態と相違する。尚、強誘電体メモリのデータ読み出し動作及びデータ再書き込み動作については、上記第1実施形態と同様なので説明を省略する。
次に、本発明に係る強誘電体メモリの第5の実施形態について説明する。本実施の形態に係る強誘電体メモリの回路構成は図1に示す上記第1の実施形態と基本的に同様であるが、第5の実施形態は、プレート線制御回路12が第1実施形態と異なるプレート線信号を与えるように構成されている点において、上記第1実施形態と相違する。尚、強誘電体メモリのデータ読み出し動作及びデータ再書き込み動作については、上記第1実施形態と同様なので説明を省略する。
本実施形態は、バーストモードでプレート線PLの電位を動作サイクルの最初においてのみ“H”とすることで、すべてのカラムに対して読み出しと“0”データの再書き込みを行い、以降はプレート線PLの電位を“L”のまま保持するものである。以下、図面を参照しながら、詳細に説明する。図11は、本実施形態に係る動作タイミングチャートを示したものである。
まず、時刻t1でクロック信号CLKに同期してアドレス制御回路14からのプレート線活性化信号PLSEが“H”となり、時刻t2においてプレート線制御回路12から出力されるプレート線PLの電位が“H”となる。続いて時刻t3において、カラム選択線CSLに入るカラム制御信号CSLEが“H”となり、カラムゲート22のトランジスタQN4、QN5がターンオンして、第1カラムが選択される。図11の例では、第1カラムのみが選択されているが、すべてのカラムが同時に選択されてもよい。プレート線制御回路12により、プレート線PLの電位は、時刻t4まで“H”に保持され、時刻t4において“L”となり、以降は“L”のまま保持される。時刻t3から時刻t4までの間に、第1カラム(またはすべてのカラム)のメモリセルアレイ11からデータの読み出しと、その後の“0”データの再書き込みが行われる。続いて時刻t5においてアドレス制御回路14からのプレート線活性化信号PLSEが“L”となり、同時にカラム制御信号CSLEが“L”となる。
本実施形態によれば、回路動作の最初において、プレート線PLの電位を1度だけ“H”から“L”に遷移させ、すべてのカラムに対してデータの読み出しと“0”データの再書き込みを行っているので、不慮の事故(例えば、停電など)が発生してもデータが消失または変更されることはなく、信頼性が向上する。また、メモリの消費電力を抑えることもできる。
[その他]
以上、発明の実施の形態を説明したが、本発明はこれらに限定されるものではなく、発明の趣旨を逸脱しない範囲内において、種々の変更、追加等が可能である。例えば、上記実施の形態では、1T/1C型メモリセル構造を有する強誘電体メモリについて説明したが、本発明は2T/2C型メモリセル構造を有する強誘電体メモリについても同様に適用可能である。また、1T/1Cのメモリセルを複数個直列に縦続接続したTC並列ユニット接続型の強誘電体メモリ(例えば、特開2001−250376号公報の図9参照)にも同様に適用可能である。
以上、発明の実施の形態を説明したが、本発明はこれらに限定されるものではなく、発明の趣旨を逸脱しない範囲内において、種々の変更、追加等が可能である。例えば、上記実施の形態では、1T/1C型メモリセル構造を有する強誘電体メモリについて説明したが、本発明は2T/2C型メモリセル構造を有する強誘電体メモリについても同様に適用可能である。また、1T/1Cのメモリセルを複数個直列に縦続接続したTC並列ユニット接続型の強誘電体メモリ(例えば、特開2001−250376号公報の図9参照)にも同様に適用可能である。
10・・・強誘電体メモリ、 11・・・メモリセルアレイ、 11A・・・データ領域、 11B・・・パリティ領域、 12・・・プレート線制御回路、 13・・・データ制御回路、 14・・・アドレス制御回路、 15・・・センスアンプ回路、 16・・・ECC回路、 17・・・レジスタ。
Claims (5)
- 強誘電体キャパシタを含むメモリセルアレイと、
前記メモリセルアレイを選択してビット線に接続させる選択トランジスタと、
前記強誘電体キャパシタにデータ読み出し又は書き込みのための電位を与えるプレート線と、
前記強誘電体キャパシタから前記ビット線に読み出される信号を比較増幅するセンスアンプ回路と、
クロック信号に同期して、前記プレート線の電位を制御するプレート線制御回路と、
を備えることを特徴とする半導体記憶装置。 - 前記プレート線制御回路は、前記クロック信号に同期して、プレート線の電位が第1電位となる時間間隔と、第2電位となる時間間隔とが略同一となるように、プレート線の電位を制御する、ことを特徴とする請求項1に記載の半導体記憶装置。
- 前記プレート線制御回路は、前記クロック信号に同期して、少なくともひとつのカラムが選択されている間、前記第1電位と前記第2電位の間を遷移することを特徴とする請求項2に記載の半導体記憶装置。
- 前記センスアンプ回路から出力される信号に誤りがある場合に、その誤りを訂正するECC回路をさらに含み、前記ECC回路により訂正されたデータは、前記プレート線の電位が第1電位と第2電位との間を遷移する次の周期で書き戻されることを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の半導体記憶装置。
- 前記プレート線制御回路は、前記クロック信号に同期して、前記クロック信号の周期の整数倍の周期を有する信号を生成する分周回路を備えたことを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の半導体記憶装置。
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JP5727948B2 (ja) * | 2012-01-16 | 2015-06-03 | 株式会社東芝 | 半導体記憶装置 |
US20140050010A1 (en) * | 2012-08-15 | 2014-02-20 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor memory device and file memory system |
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1083679A (ja) * | 1996-09-10 | 1998-03-31 | Matsushita Electron Corp | 半導体メモリ装置 |
JP2004164744A (ja) * | 2002-11-13 | 2004-06-10 | Fujitsu Ltd | 強誘電体メモリ装置 |
JP2006092597A (ja) * | 2004-09-21 | 2006-04-06 | Seiko Epson Corp | 強誘電体記憶装置、電子機器 |
JP2007080429A (ja) * | 2005-09-15 | 2007-03-29 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
Family Cites Families (6)
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---|---|---|---|---|
JP3776857B2 (ja) * | 2001-10-16 | 2006-05-17 | 株式会社東芝 | 半導体集積回路装置 |
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JP2006092640A (ja) * | 2004-09-24 | 2006-04-06 | Sanyo Electric Co Ltd | メモリ |
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1083679A (ja) * | 1996-09-10 | 1998-03-31 | Matsushita Electron Corp | 半導体メモリ装置 |
JP2004164744A (ja) * | 2002-11-13 | 2004-06-10 | Fujitsu Ltd | 強誘電体メモリ装置 |
JP2006092597A (ja) * | 2004-09-21 | 2006-04-06 | Seiko Epson Corp | 強誘電体記憶装置、電子機器 |
JP2007080429A (ja) * | 2005-09-15 | 2007-03-29 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
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