JP2009234074A - セラミックグリーンシートのレーザー加工方法 - Google Patents

セラミックグリーンシートのレーザー加工方法 Download PDF

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Abstract

【課題】 直径30μm乃至50μmの貫通ビアを厚み250μm以下のセラミックグリーンシートに60%以上100%未満のテーパ率で、熱による影響をうけることなく、穿孔加工を精度良く行なうことができるセラミックグリーンシートのレーザー光を用いたビア加工方法を提供すること。
【解決手段】 セラミックグリーンシート1に含まれるセラミック粉末の個数積算粒度分布における90%粒径(D90)を数式3からなる関係式を用いてテーパ率が60%以上になるような粒径で調合し、図2aに示すレーザーパルス4を同じ座標位置に連続で照射することにより穿孔加工を行なう。
【選択図】 図2

Description

本発明は、レーザー加工を用いたセラミックグリーンシートの孔加工の方法に関するものであり、特にレーザー光により、セラミックグリーンシートにビアホールとして機能させるための微小な貫通孔を形成する際のセラミックグリーンシートの孔加工方法に関するものである。
近年、電子機器の小型化に伴い、この電子機器に用いられる積層セラミック配線基板のようなセラミック電子部品においても小型化および高性能化が望まれている。例えば、積層セラミック配線基板においては小型化および配線導体の高密度化のために、より薄い絶縁層とし、配線導体層の幅、間隔およびスルーホールの径もより微細にすることが求められている。
このようなセラミック電子部品の製造方法として、セラミックグリーンシートにレーザーを用いたスルーホールの形成を行なうことにより、ビアの直径より厚みのある、微細な孔径および間隔のスルーホールを加工することが示されている(例えば、特許文献1および特許文献2参照)。
特開2003−340818号公報 特許第3613111号公報
従来セラミック電子部品のビアホールの形成方法としては、レーザー加工性を向上させるために、被加工物であるセラミックグリーンシートにTi、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Ag、Tl、Pb、Bi、Ce、Uなどの金属を添加させたり、レーザー揮発性の高い補助剤を貼り付けたりする。
しかし、厚みがビアの直径の2倍以上のセラミックグリーンシートに直径30μm乃至50μmの貫通ビアを60%以上のテーパ率で加工するには、レーザービームの軌道を円状や螺旋状などに回しながら穴を掘り進めるため、1穴当りに所要するパルス数が多くなる。パルス数が増えるとレーザービームを照射することにより発生する熱がセラミックグリーンシートに溜まり、ビアの壁面にガラス成分や有機成分などの溶融が発生して、焼成時にビアが不均一に焼結され、ビアの接続信頼性を悪化させる。
パルス数を減らし厚みがビアの直径の2倍以上のセラミックグリーンシートに直径30μm乃至50μmの貫通ビアを加工すると、ガラス成分や有機成分などの溶融を改善することができるが、テーパ率が60%以上で加工するのが非情に困難になる。
厚みがビアの直径の2倍以上のセラミックグリーンシートに、直径30μm乃至50μmで加工された貫通ビアがテーパ率60%以下であると、後工程におけるビアへの導体の充填が不十分となり接続信頼性において問題となっていた。
また、テーパ率が60%以下であっても導体ペーストの粘度を低くしたり、導体ペーストの流動性を上げることにより充填は可能となるが、ビア導体の焼結性が変化し信頼性の劣化などが問題として浮上する。即ち、ビアを充填する導体ペーストの特性を変えずに導体の充填を達成するには、ビアのテーパ率を改善する必要がある。
本発明のセラミックグリーンシートのレーザー加工方法は、厚さTGSが250μm以下のセラミックグリーンシートにトップハット形状に成形された紫外線レーザーを照射することによって、直径が30μm乃至50μmで最大直径φviaの貫通孔を形成するレーザー加工方法において、前記紫外線レーザーのビーム径φBと前記紫外線レーザーのショット数xが、
Figure 2009234074
但し、
Figure 2009234074
であり、前記貫通孔のテーパ率Taと、セラミックグリーンシートに含まれる無機粉末の個数積算粒度分布における90%粒径dとが、
Figure 2009234074
の関係を有することを特徴とするものである。
また、本発明のセラミックグリーンシートのレーザー加工方法において好ましくは、前記セラミックグリーンシートが、紫外線吸収率が90%以上の支持体に載置されていることを特徴とし、前記支持体の厚みが、30μm乃至100μmであることを特徴とするものである。
本発明によれば、上記関係を用いると、厚みが250μm以下のセラミックグリーンシートに直径30μm乃至50μm、テーパ率60%以上の貫通孔を加工することが可能となる。
また、セラミックグリーンシートが紫外線吸収率が90%以上の支持体に載置されていると、紫外線吸収性の低いセラミックグリーンシートにおいても、前記の関係を用いて厚みが250μm以下のセラミックグリーンシートに直径30μm乃至50μm、テーパ率60%以上の貫通穴を加工することが可能となる。
前記支持体の厚みが、30μm乃至100μmのものを用いると、後工程における搬送や加工の際に発生する機械的応力に強く、支持体とセラミックグリーンシートとを一括で貫通孔を加工することが可能となる。
本発明のレーザー加工の実施の形態の一例を添付図面に基づいて以下に詳細に説明する。
本発明のセラミックグリーンシートのレーザー加工方法によれば、図1のセラミックグリーンシート1に貫通孔加工を施す加工を、紫外線領域レーザーの照射により行なうとともに、支持体2にUV吸収材を含有させるようにした場合は、レーザーの照射スポット径を15〜35μm程度に小さくすることができ、かつ、支持体がUV吸収材を含有しており効率よくレーザーを吸収し加工されるため、支持体2とセラミックグリーンシート1を同時に一括して穴加工することができ、さらに、ビアの直径を例えば30μm乃至50μmの小径とすることができる。
図2は、L/S=30/30乃至50/50のセラミック多層基盤において、直径が30乃至50μmの貫通ビアを厚みが250μm以下のセラミックグリーンシートにレーザーパルスを同じ座標位置に連続で照射することによりビア3を加工し、支持体を剥がしたものを示す。ビアの直径をφviaとし、φvia’とφviaの比に100を掛けてパーセントで表わしたものをテーパ率Taとする。
図2に示すビア3を加工するには、図3に示すレーザーパルス4を2a乃至2dの軌道で加工する方法がある。図3(b)に示すレーザーパルス4を円弧状に軌道を描くように掃引させる加工方法や図3(c)、図3(d)に示すレーザーパルス4を螺旋状に軌道を描くように掃引させてビア3を加工する方法がある。図3に示すレーザーパルス3の軌道の組合せによる加工方法は、図2に示すビア3のテーパ率Taを改善することができるが、図3(a)に示す同じ座標位置にレーザーパルス4を連続で照射する加工方法に比べ、ビア3を貫通させるのに所要するパルス数が多くなり、図2に示すセラミックグリーンシート1は熱による影響を受けて、ビア3の壁面にガラス成分や有機成分の溶融が発生する。
また、図3(a)に示す同じ座標位置にレーザーパルス4を連続で照射する加工方法において、過度な量のレーザーパルス4を照射すると、図2に示すセラミックグリーンシート1にビア3を貫通させるのに所要するパルス数が多くなり、熱による影響を受けてビア3の壁面にガラス成分や有機成分の溶融が発生し、セラミックグリーンシート1とビア3の焼結性に差が生じるため、接続信頼性において問題が発生する。
そこで、図3(a)に示す同じ座標位置にレーザーパルス4を連続で照射する加工方法において、次に示すパルス数とセラミックグリーンシートの厚みの関係式より、被加工物となる図2のセラミックグリーンシート1の厚みと図3(a)に示すレーザーパルス4のビーム径と加工するビア3の直径の比率が0.5乃至0.7の間になるように設定し、各種厚みと直径30μm乃至50μmのビアを貫通させるのに適切なパルス数を算出する。
前記設定の下で算出したパルス数を用いて、図3aに示す同じ座標位置にレーザーパルス4を連続で照射する加工方法を施すと、図2に示すセラミックグリーンシート1にビア3を貫通させることにより、ビア3の壁面にガラス成分や有機成分の溶融が発生するのを防ぐことができる。
貫通穴加工を施す加工を、第三高調波のYAGレーザーで行なった場合には、レーザーパルスの照射ビーム径を15〜35μm程度にさらに小さくすることができ、ビアの直径を例えば30μm乃至50μmとする。
図3(b)、図3(c)、図3(d)に示すレーザーパルス4の軌道を用いて貫通ビアの加工を行なうと、加工速度はガルバノ速度に大きく依存する。それに対し、図3(a)に示すレーザーパルス4の移動に所要する時間は、加工速度が図3(a)に示す同じ座標位置にレーザーパルス4を連続で照射する加工方法を用いると加工速度はレーザーパルス発振器の周波数に依存する。ガルバノ周波数は現行の装置レベルにおいて2000Hz前後に対しパルス周波数は10〜70kHzと、周波数のオーダーが異なるため、円弧状や螺旋状の軌道にレーザービームを移動しながら加工する方式に関しては、ガルバノ周波数が障害となりビアの加工速度を左右する。結果、図3(a)に示す同じ座標位置にレーザーパルス4を連続で照射する加工方法は生産性の向上にも多いに役立つ。
また、セラミックグリーンシートに含まれるセラミック粉末の個数積算粒度分布における90%粒径(D90)が2.6μm以下とした場合には、セラミックグリーンシートに含まれるセラミック粉末が、第三高調波のYAGレーザーにてビア加工途中のセラミックグリーンシートの内部から物理的に弾き出されるように排出される易くなり、図4に示すレーザーパルスのエネルギー分布5のエネルギー密度が90%以下の領域6においても、セラミックグリーンシート1の深さ方向への加工性が向上する。その結果、図2aに示す同じ座標位置にレーザーパルス4を連続で照射する加工方法において、テーパ率が改善され、後工程における導体の充填を十分に施すことができ、信頼性の高いセラミック電子部品が得られる。
このときに加工に使用するレーザービームが光学フィルターを介し、トップハット形状(円柱)に変換する事により、さらにテーパ率Taと真円度が改善される。
加工に使用するレーザービームをトップハット形状とすると、さらに図4に示すレーザーパルスのエネルギー分布5のエネルギー密度が90%以上の面積7のレーザーパルスの照射ビーム径8に対する面積比が大きくなり、エネルギー密度の低いレーザーパルスビームの外周面積が小さくなるため、さらにビアのテーパ率が改善される。この時のレーザーパルスのエネルギー分布5のエネルギー密度が90%以上の面積7がレーザーパルスの照射ビーム面積に対し20%以上のビームをトップハット形状のビームとする。
数1と数2に示す関係式より、厚み250μm以下のセラミックグリーンシート各種を貫通させるために必要なパルス数を用いて、テーパ率60%以上で加工するには、請求項1の数式3に表すテーパ率とセラミックグリーンシート1に含まれるセラミック粉末の個数積算粒度分布における90%粒径(D90)の関係式より目標とするテーパ率に対するセラミックの粒径を設定する。テーパ率60%の貫通ビアを加工するのに必要な粒径を例えば2.6μmとする。
前記の関係で整合がとれた条件化で、紫外線吸収率が90%以下のセラミックグリーンシートにビアを加工する際は、図1に示す支持体2の紫外線吸収率が90%以上であるか、図5cに示す導体層9が入ったセラミックグリーンシート1、若しくは紫外線吸収率が90%以上の支持体2と図5cに示す導体層9が入ったセラミックグリーンシート1の組合せを図5a、および図5cに示す様に、セラミックグリーンシート側からレーザーパルス4を照射する。紫外線吸収率が90%以上のセラミックグリーンシートにビアを加工する際は、5a乃至5bに示す入射方向からレーザーパルス4を照射しセラミックグリーンシート1を加工する。
また、セラミックグリーンシートに含まれるセラミック粉末の個数積算粒度分布における90%粒径(D90)が2.6μm以下とし、支持体2か、セラミックグリーンシート1、若しくは両方の組合せの紫外線吸収率が90%以上としても、図3に示すレーザーパルス4の照射ビームとビア3の直径の比率が0.5乃至0.7以外となると、図2におけるビア3の直径φviaが大きくなり、φvia’とφviaの差が大きくなることでテーパ率が悪化する。ビーム径を大きく広げることにより、狙いのビアの直径よりも大きく加工され、ビーム径を小さく絞ることにより、レーザーパルスの照射ビームが持つ絶対エネルギーが小さくなり過ぎることにより、被加工物に対する深さ方向への加工が少なくなるのと同時に、レーザーのエネルギーが被加工物の面方向に熱へと変換し広がることで、レーザーパルスの焦点付近が加工される。
セラミックスラリーに用いられるセラミック粉末としては、例えばセラミック配線基板であれば、Al,AlN,ガラスセラミック粉末(ガラス粉末とフィラー粉末との混合物)等が挙げられ、積層コンデンサであればBaTiO系,PbTiO系等の複合ペロブスカイト系セラミック粉末が挙げられ、セラミック電子部品に要求される特性に合わせて適宜選択される。
ガラスセラミック粉末のガラス成分としては、例えばSiO−B系、SiO−B−Al系,SiO−B−Al−MO系(ただし、MはCa,Sr,Mg,BaまたはZnを示す),SiO−Al−MO−MO系(ただし、M1およびM2は同じまたは異なってCa,Sr,Mg,BaまたはZnを示す),SiO−B−Al−MO−MO系(ただし、MおよびMは上記と同じである),SiO−B−M O系(ただし、MはLi、NaまたはKを示す),SiO−B−Al−M O系(ただし、M3は上記と同じである),Pb系ガラス,Bi系ガラス等が挙げられる。
また、ガラスセラミック粉末のフィラー粉末としては、例えばAl,SiO,ZrOとアルカリ土類金属酸化物との複合酸化物,TiOとアルカリ土類金属酸化物との複合酸化物,AlおよびSiOから選ばれる少なくとも1種を含む複合酸化物(例えばスピネル,ムライト,コージェライト)等のセラミック粉末が挙げられる。有機バインダーとしては、従来よりグリーンシートに使用されているものが使用可能であり、例えばアクリル系(アクリル酸,メタクリル酸またはそれらのエステルの単独重合体または共重合体,具体的にはアクリル酸エステル共重合体,メタクリル酸エステル共重合体,アクリル酸エステル−メタクリル酸エステル共重合体等),ポリビニルブチラール系,ポリビニルアルコール系,アクリル−スチレン系,ポリプロピレンカーボネート系,セルロース系等の単独重合体または共重合体が挙げられる。焼成工程での分解、揮発性を考慮すると、アクリル系バインダーがより好ましい。
また、上記のセラミック粉末やガラスセラミック粉末(ガラス粉末とフィラー粉末の混合物)の粒径は、個数積算粒度分布における90%粒径(D90)が2.6μm以下であることが望ましい。
これは、セラミックグリーンシートに含まれるセラミック粉末が第三高調波のYAGレーザーにてビア加工途中のセラミックグリーンシートの内部から物理的に弾き出されるように排出される易くなり、図4に示すレーザーパルスのエネルギー分布5のエネルギー密度が90%以下の領域6においても、セラミックグリーンシート1の深さ方向への加工性が向上する。その結果、図2aに示す同じ座標位置にレーザーパルス4を連続で照射する加工方法において、テーパ率が改善され、後工程における導体の充填を十分に施すことができ、信頼性の高いセラミック電子部品が得られる。
前記で示すセラミックスラリーを図1に示す支持体2の上に塗布し、乾燥させて固めることにより、セラミックグリーンシート1を成形する。この時の支持体2の厚みは30乃至100μmが適当であり、望ましくは30乃至50μが良い。これは、支持体2の厚みが30μmより小さいとフィルムの変形や折れ曲がりにより形成したビアパターンのピッチ変形や形状変形を引き起こしやすくなり、厚みが100μmより大きいとビア3の穴加工が難しくなるためである。支持体2と同時にビア3を打ち抜くため、従来より充填工程にて用いられたマスク製版などの役目を支持体2で行なうことができる。充填時に支持体の上は、導体ペーストで汚れてしまうが、充填後に支持体を剥がすことにより、ビアのショートなく、充填を達成することができる。
貫通穴加工を施す工程を、第三高調波のYAGレーザーの照射により行なうとともに、支持体に紫外線吸収材を含有させるようにした場合、セラミックグリーンシートに貫通穴が形成される過程として、まず、第三高調波のYAGレーザー光がセラミックグリーンシートに照射される。そこで、紫外線吸収率90%以上のセラミックグリーンシート1を加工する場合、第三高調波のYAGレーザーによる貫通穴のセラミック粉末の揮発による穿設の効果は高く、入射面の表層から徐々に深さ方向へと加工が進む。しかし、セラミックグリーンシートの紫外線吸収率が20〜30%程度と低い場合、第三高調波のYAGレーザーによる貫通穴のセラミック粉末の揮発による穿設の効果は不十分であり、セラミックグリーンシートの第三高調波のYAGレーザーが照射された部位(貫通穴となる部位)には、原料のセラミック粉末が残留していわゆるガラス残りの状態となり、所望の貫通ビアを得られない可能性がある。
しかしながら、セラミックグリーンシートに吸収されなかったUV光はセラミックグリーンシートを透過して、支持体に照射される。ここで、支持体にUV吸収材を含有させておくと、セラミックグリーンシートを透過したUV光によって支持体は揮発しガスを噴出する。
その後、セラミックグリーンシート1の表面側の第三高調波のYAGレーザーが照射された貫通穴となる部位は、支持体2が揮発し噴出したガスによって、セラミックグリーンシートに含まれるセラミック粉末が、支持体側からセラミックグリーンシートの表面方向に物理的に弾き出されるように噴出、排出され、貫通穴が形成される。
また、セラミックグリーンシートに含まれるセラミック粉末の粒径を、個数積算粒度分布における90%粒径(D90)が2.6μm以下とすれば、レーザービームのエネルギーによって、無機紛体が弾き出され易くなり、レーザーパルス4の照射ビーム上で、エネルギー密度が低い外周部分においても第三高調波のYAGレーザーによる貫通穴のセラミック粉末の揮発による穿設の効果は適度となり、ビームの形状に近似するビアの加工が可能となる。
なお、セラミックグリーンシートに含まれるセラミック粉末の粒径を、個数積算粒度
分布における90%粒径(D90)が2.6μm以下とすれば、脱離痕が貫通穴と導体ペーストの間の空隙となることを抑制することはできるが、個数積算粒度分布における10%粒径(D10)が0.1μm未満となると、例えば、セラミック電子部品を製造する場合、セラミック粉末、有機バインダー、溶剤等を混合したセラミックスラリーを作成する工程において、セラミック粉末の凝集が生じ、導体ペーストによって導体層が形成された支持体上にセラミックスラリーを塗工してグリーンシートを形成する際に、グリーンシートの表面に凝集粒による突起が生じたり、凝集粒の周囲に塗工時の空気の取り込みによる空隙が生じたりしてしまう。したがって、セラミックグリーンシートに含まれるセラミック粉末の粒径は、個数積算粒度分布における10%粒径(D10)が0.1μm以上であることがより好ましい。
このときに使用するビーム径の一般的な定義を図6に示す。レーザーパルスの最高強度を1.0としたエネルギー分布5の、1/eのエネルギー強度11におけるパルス幅の長さをビーム径8とする。
しかし、前記ビーム径8は、理論値とビームプロファイラーなどの測定機器を使用した実測値から多少の差があるため、セラミックグリーンシートの貫通ビア加工に関しては、各種レーザー発振器においての最適な周波数とパルスエネルギーを用いて、紫外線吸収率が90%以上の被加工物に、同じ座標位置へ5パルスのレーザーを連続で打ち込み、出来上がった穴径の測定を行ない、ビーム径と定義する。
貫通孔の加工は、金型やCO2によるレーザーによる穴加工は、直径50μmが金型ピンの加工上あるいは光学的に限界であるために、第3高調波355nmのYAGレーザーにより加工することが好ましい。第1高調波1064nmや第2高調波532nmのYAGレーザーでは光学的に50μm以下の微小な穴加工は困難である。また、第4高調波266nmではセラミックグリーンシートを貫通して穴加工するためのパワーが足りないため、レーザーのパルス数が著しく増加し生産性が極めて悪くなると同時に、導体付きグリーンシートが厚い場合には、導体付きグリーンシートの表裏の貫通孔径の差が極めて大きな穴加工となってしまう。
また、第三高調波のYAGレーザーにより加工する場合、発振器出力、光路長、アパーチャマスク径、分光数などによる最適化された加工エネルギーはそれぞれ異なる場合はあるが加工点エネルギーを50〜150μJとすることがより望ましい。これは、加工点エネルギーが50μJより小さい場合、パルス数が著しく増加し生産性が極めて悪くなるとともに導体付きグリーンシートが厚い場合には、導体付きグリーンシートの表裏の貫通孔径の差が極めて大きな穴加工となってしまうからである。また、加工点エネルギーが150μJより大きい場合、被加工物を乗せるレーザーテーブルなども加工され、ビアの表裏面に熱的ダメージを負わせたり、治工具の飛散物が異物としてビアの周囲や内壁、セラミックグリーンシートに付着したりする可能性があるからである。
このときの所望するビーム径とビア径の比が0.5乃至0.7である事が好ましい。
また、セラミック粉末やガラスセラミック粉末(ガラス粉末とフィラー粉末の混合物)の粒径は、個数積算粒度分布における90%粒径(D90)が2.6μm以下とし、支持体2か、セラミックグリーンシート1、若しくは両方の組合せの紫外線吸収率が90%以上としても、図3に示すレーザーパルス4の照射ビームとビア3の直径の比率が0.5乃至0.7以外となると、図2におけるビア3の直径φviaが大きくなり、φvia’とφviaの差が大きくなることでテーパ率が悪化する。ビーム径を大きく広げることにより、狙いのビアの直径よりも大きく加工され、ビーム径を小さく絞ることにより、レーザーパルスの照射ビームが持つ絶対エネルギーが小さくなり過ぎることにより、被加工物に対する深さ方向への加工が少なくなるのと同時に、レーザーのエネルギーが被加工物の面方向に熱へと変換し広がることで、レーザーパルスの焦点付近が加工される。
また、貫通孔を加工する際、グリーンシートは支持体上に保持したまま行なうと、導体付きグリーンシートの変形を防止できるのでより好ましい。
さらに、支持体にはUV吸収材を含有させておくことが好ましい。支持体がUV吸収材を含まなければ、導体付きグリーンシートに貫通孔を形成した際に同時に穴が空かず、貫通孔に導体ペーストを充填することが極めて困難になってしまうためである。
支持体中のUV吸収材としては、Ti、Ce、Cなどが挙げられ、例えば5〜15%
含有させておくのが好ましい。UV吸収材の含有量が5%未満であるとUV吸収の効果は
得られにくく、また15%を超えるとシートが硬くなり加工が困難となってしまうためで
ある。
また、支持体に含有させるUV吸収材は、無色の有機系UV吸収剤を用い、導体付きグリーンシートに形成された導体層を、支持体を透過して可視的に認識できることがより好ましい。これは、導体付きグリーンシートを作成する過程において、支持体上に導体ペーストが塗布してあり導体層を形成し、導体層を形成した支持体上にセラミックスラリーを塗布してセラミックグリーンシート層を形成している場合、支持体に金属酸化物や有機系顔料のような有色のUV吸収剤を用いた場合は、導体層付きセラミックグリーンシートに貫通穴を穿設する際に、貫通穴を穿設すべき位置を認識できないためである。
本発明の実施について以下に詳細に説明する。
まず、SiO−B−Al系ガラス粉末60質量%およびアルミナ粉末40質量%の無機粉末に、表2に示した有機バインダーおよび溶剤を添加し、ボールミルにて24時間混合し、セラミックスラリーを作製した。
次に、SiO−B−Al系ガラス粉末60質量%およびアルミナ粉末40質量%のセラミック粉末に、有機バインダーとしてアクリル酸エステル‐メタクリル酸エステル共重合体を体積分率で40%と、溶剤としてエチルアルコールを体積分率で60%添加し、ビーズミルにて混合し、セラミックスラリーを作製した。このときセラミックグリーンシートに含まれるセラミック粉末の個数積算粒度分布における90%粒径(D90)粒径は、請求項1の数式3に示すテーパ率とグリーンシートのD90粒径の関係式で表せる粒径となるようにビーズミルでの混合時間によって調整した。
次ぎに、アルミナ粉末と有機成分を混合してセラミックスラリーを作製し、紫外線吸の収率が96%のPETフィルム支持体上にセラミックスラリーをリップコーター法により厚さ62μm、125μm、187μm、250μmで塗布し、乾燥することによりセラミックグリーンシートを作製した。
セラミック粉末の個数積算粒度分布における90%粒径(D90)が、0.8、1.4、2.0、2.6、2.7、3.2μmである6種類のセラミックスラリーを準備し、紫外線吸の収率が96%のPETフィルム支持体上にリップコーター法により厚みが62.5、125.0、187.5、250μmになるように成型して、24種類のセラミックグリーンシートを得た。なお、セラミック粉末の90%粒径はビーズミルの混合時間によって調整した。
このセラミックグリーンシートに、YAGレーザー(UV−YAGレーザー)を用いて貫通孔を形成した。このとき、YAGレーザー(UV−YAGレーザー)のビーム径は20、25、30μmの3条件を使用し、それぞれ直径が25、28、30、35、40、45、50、52、65μmの9種類の貫通孔を形成した。このときのYAGレーザー(UV−YAGレーザー)の加工条件、および加工後の貫通孔の形状とテーパ率を表1にまとめて示す。
Figure 2009234074
表1中に示す形状の「○」は、ビア径のバラツキが狙い値より±5μm未満のものを、「×」は、ビア径のバラツキが狙い値より±5μm以上のものを示している。また同様に、表1中のテーパの「○」は、狙いのビア径でテーパ率が60%以上のものを示す。一方「△」は、ビア30個測定中テーパ率が60%前後のものを示す。「×」は、テーパ率が60%未満のものを示す。
セラミックグリーンシートをレーザー光の照射側として、レーザービームが光学フィルターを介し、トップハット形状(円柱)に変換し、図4に示すレーザーパルスのエネルギー分布5のエネルギー密度が90%以上の面積7がレーザーパルスの照射ビーム面積に対し80%のトップハット形状のレーザーパルスを使用する。
ビームの形状を円柱状に変換する光学部品を介した第三高調波のYAGレーザー(UV−YAGレーザー)でビアの中心座標に、請求項1の数式1と数式2より導いたパルス数を連続で照射し、表1中の加工条件を用いて貫通穴加工を行ない、ビア形状を50倍の双眼顕微鏡にて各条件のビアのテーパを30個測定した結果を表1に示す。
本発明の実施例である例A、および例Bにおいてはビーム径とビア径の割合が0.7以上、例H、および例Iのビーム径とビア径の割合が0.5以下の条件で加工されており、トップ径の広がり過ぎによるテーパ率の悪化や、パルス数が足りない影響により形状のバラツキや貫通性が不十分であった。
本発明の実施について以下に詳細に説明する。
厚み125μmで紫外線吸収率が42%のセラミックグリーンシートにテーパ率80%以上で直径が40μmのビアを加工するために必要なセラミックグリーンシートに含まれるセラミック粉末の個数積算粒度分布における90%粒径(D90)、および加工条件を請求項1に示す関係より抽出する。
グリーンシートの厚みと貫通に必要なパルス数、およびビーム径とビアの直径の関係により、セラミックグリーンシートの厚みは最大で250μmまでで、直径30μm乃至50μmの貫通穴加工ができ、ビーム径とビアの直径の比率が0.5乃至0.7となる領域12を図7aに示す。ビーム径が25μmに設定された10W発振器を搭載する第三高調波のYAGレーザーを使用して、直径が40μmのビアをセラミックグリーンシートに貫通させる際のビーム径とビアの直径の比率が0.625となるパルス数と加工の深さ方向への進み具合を示す傾向線13より、セラミックグリーンシートの厚みによって必要とするパルス数を検討する。
厚み125μmのセラミックグリーンシートにレーザーパルスを同じ座標位置を連続して照射させて貫通する場合、図7bに示すグラフの傾向線13において、セラミックグリーンシートに対するレーザーパルスの加工深度が16パルス乃至17パルスの間であることが判明した。
次に、実際に厚み125μmのセラミックグリーンシートにレーザーパルスを同じ座標位置を連続して照射させて貫通する場合に所要するパルス数を請求項1の数式1、および数式2より算出する。結果、16.2パルスであることが判明したため、実施するパルス条件は、切り上げて17パルスを適応する。このときに使用する17回のレーザーパルスの出力はパルス周波数が30kHzで最適化された10W発振器のパルス出力を適応する。
次に、請求項1の数式3に示すテーパ率とグリーンシートのD90粒径の関係式でテーパ率が80%となる粒径を算出すると1.827μmとなる。ビアを加工するセラミックグリーンシートには、テーパ率80%のビア加工に対して優位となる粒径として、D90粒径が1.8μmになる様にする。
まず、SiO−B−Al系ガラス粉末60質量%およびアルミナ粉末40質量%の無機粉末に、表2に示した有機バインダーおよび溶剤を添加し、ボールミルにて24時間混合し、セラミックスラリーを作製した。
次に、SiO−B−Al系ガラス粉末60質量%およびアルミナ粉末40質量%のセラミック粉末に、有機バインダーとしてアクリル酸エステル‐メタクリル酸エステル共重合体を体積分率で40%と、溶剤としてエチルアルコールを体積分率で60%添加し、ビーズミルにて混合し、セラミックスラリーを作製した。このときセラミックグリーンシートに含まれるセラミック粉末の個数積算粒度分布における90%粒径(D90)粒径は、1.8μmとなるようにビーズミルでの混合時間によって調整した。
次ぎに、アルミナ粉末と有機成分を混合してセラミックスラリーを作製し、紫外線吸の収率が96%のPETフィルム支持体上にセラミックスラリーをリップコーター法により厚さ125μmで塗布し、乾燥することによりセラミックグリーンシートを作製した。
プロット1として、セラミックグリーンシートをレーザー光の照射側として、ビームの形状を円柱状に変換する光学部品を介し、ビーム径25μmの第三高調波のYAGレーザーで17回のレーザーパルスを同じ座標位置に連続で照射し貫通ビアを加工した。
ビア30個測定の結果、セラミックリーンシートに含まれるセラミック粉末の個数積算粒度分布における90%粒径(D90)が1.8μmのときに平均80.5%のテーパが付いたビアが加工できる。
また、例1と同じ様にiO−B−Al系ガラス粉末60質量%およびアルミナ粉末40質量%の無機粉末に、表2に示した有機バインダーおよび溶剤を添加し、ボールミルにて24時間混合し作成し、SiO−B−Al系ガラス粉末60質量%およびアルミナ粉末40質量%のセラミック粉末に、有機バインダーとしてアクリル酸エステル‐メタクリル酸エステル共重合体を体積分率で40%と、溶剤としてエチルアルコールを体積分率で60%添加し、ビーズミルにて混合し、セラミックスラリーを作製した。このときセラミックグリーンシートに含まれるセラミック粉末の個数積算粒度分布における90%粒径(D90)粒径が、5.11μm、4.29μm、3.81μm、3.16μm、2.72μm、2.39μm、2.18μm、1.94μm、1.64μm、1.49μm、1.40μm、0.80μmとなるようにビーズミルでの混合時間によって調整した。
次に、アルミナ粉末と有機成分を混合してセラミックスラリーを作製し、紫外線吸の収率が96%のPETフィルム支持体上にセラミックスラリーをリップコーター法により厚さ125μmで塗布し、乾燥することによりセラミックグリーンシートを作製した。
それぞれをプロット2,3,4,5,6,7,8,9,10,11,12,13として、セラミックグリーンシートをレーザー光の照射側として、ビームの形状を円柱状に変換する光学部品を介し、ビーム径25μmの第三高調波のYAGレーザーで17回のレーザーパルスを同じ座標位置に連続で照射し貫通ビアを加工した。
ビア30個測定の結果、図8において本発明における数式3はビアのテーパ率が60%乃至90%までで確認ができ、90%以上になるとテーパの改善具合が飽和して、テーパ率100%未満のビアが加工できることを確認した。
支持体の上に形成したセラミックグリーンシートの模式図である。 セラミックグリーンシートに加工したビアの断面図である。 代表的なレーザーパルスの軌道を用いた加工方法の模式図である。 トップハットビームの説明図である。 ビアの加工形体を示す模式図である。 パルスエネルギー分布の説明図である。 パルス数と加工深度を表すグラフである。 実施例2の結果を示すグラフである。
符号の説明
1 セラミックグリーンシート
2 支持体
3 ビア
4 レーザーパルス
5 エネルギー分布
6 90%以下領域
7 90%以上領域
8 ビーム径
9 導体層
10 Fθレンズ
11 1/e
12 加工領域
傾向線

Claims (3)

  1. 厚さTGSが250μm以下のセラミックグリーンシートにトップハット形状に成形された紫外線レーザーを照射することによって、直径が30μm乃至50μmで最大直径φviaの貫通孔を形成するレーザー加工方法において、前記紫外線レーザーのビーム径φBと前記紫外線レーザーのショット数xが、
    Figure 2009234074
    但し、
    Figure 2009234074
    であり、前記貫通孔のテーパ率Taと、セラミックグリーンシートに含まれる無機粉末の個数積算粒度分布における90%粒径dとが、
    Figure 2009234074
    の関係を有することを特徴とするセラミックグリーンシートのレーザー加工方法。
  2. 前記セラミックグリーンシートが、紫外線吸収率が90%以上の支持体に載置されていることを特徴とする請求項1記載のセラミックグリーンシートのレーザー加工方法。
  3. 前記支持体の厚みが、30μm乃至100μmであることを特徴とする請求項1または2記載のセラミックグリーンシートのビア加工方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06305814A (ja) * 1993-02-26 1994-11-01 Toray Ind Inc セラミックス・グリーンシート
JPH1190667A (ja) * 1997-09-25 1999-04-06 Murata Mfg Co Ltd レーザ加工用シート保持装置
JP2002178180A (ja) * 2000-12-08 2002-06-25 Mitsubishi Electric Corp レーザ加工装置及びレーザ加工方法
JP2005136048A (ja) * 2003-10-29 2005-05-26 Kyocera Corp 多層配線基板の製造方法
JP2006136913A (ja) * 2004-11-11 2006-06-01 Tdk Corp セラミックグリーンシート用レーザ加工装置及びグリーンシート用レーザ加工方法
JP2006203185A (ja) * 2004-12-24 2006-08-03 Kyocera Corp セラミック電子部品の製造方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06305814A (ja) * 1993-02-26 1994-11-01 Toray Ind Inc セラミックス・グリーンシート
JPH1190667A (ja) * 1997-09-25 1999-04-06 Murata Mfg Co Ltd レーザ加工用シート保持装置
JP2002178180A (ja) * 2000-12-08 2002-06-25 Mitsubishi Electric Corp レーザ加工装置及びレーザ加工方法
JP2005136048A (ja) * 2003-10-29 2005-05-26 Kyocera Corp 多層配線基板の製造方法
JP2006136913A (ja) * 2004-11-11 2006-06-01 Tdk Corp セラミックグリーンシート用レーザ加工装置及びグリーンシート用レーザ加工方法
JP2006203185A (ja) * 2004-12-24 2006-08-03 Kyocera Corp セラミック電子部品の製造方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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