JP2009207571A - 視標呈示装置 - Google Patents

視標呈示装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2009207571A
JP2009207571A JP2008051384A JP2008051384A JP2009207571A JP 2009207571 A JP2009207571 A JP 2009207571A JP 2008051384 A JP2008051384 A JP 2008051384A JP 2008051384 A JP2008051384 A JP 2008051384A JP 2009207571 A JP2009207571 A JP 2009207571A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
concave mirror
beam splitter
target
eye
optical axis
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2008051384A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5079546B2 (ja
Inventor
Satoshi Imaizumi
智 今泉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nidek Co Ltd
Original Assignee
Nidek Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nidek Co Ltd filed Critical Nidek Co Ltd
Priority to JP2008051384A priority Critical patent/JP5079546B2/ja
Publication of JP2009207571A publication Critical patent/JP2009207571A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5079546B2 publication Critical patent/JP5079546B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Abstract

【課題】 凹面ミラーを内蔵した装置筐体の薄型化を図る。
【解決手段】 視標光束を凹面ミラーで反射し、所定の検査距離で視標を呈示する省スペース型の視標呈示装置で、視標光束を凹面ミラーで反射し、視標光束を透過するビームスプリッタを有し、ビームスプリッタを透過した視標光束を被検眼に導光する導光光学系を備え、凹面ミラーをビームスプリッタの後に配置すると共に光軸を略水平に配置し、凹面ミラーの光軸とビームスプリッタの反射面の法線方向との角度θが45度より小さくなるようにビームスプリッタを立てて配置し、視標板を凹面ミラーの上又は下に配置し、被検眼が上下に変動しても視標光束がけられないように、凹面ミラーの上下寸法Yを設定して凹面ミラーの上下の外径中心を偏心形状として、ビームスプリッタの前後と凹面ミラーの前後との寸法の合計が寸法Yより小さくなる角度θを設定する。
【選択図】 図5

Description

本発明は、所定の筐体内に凹面ミラーを備え、被検眼に検査視標を呈示する省スペース型の視標呈示装置に関する。
筐体内に視力検査視標を持つ視標板、凹面ミラー及びビームスプリッタ(ハーフミラー)が配置され、ビームスプリッタを透過した視標光束を凹面ミラーで反射して再びビームスプリッタに向かわせ、ビームスプリッタで反射された視標光束を呈示窓から射出させて被検眼に向かわせる構成とし、凹面ミラーとビームスプリッタの反射を利用して、所定の検査距離を光学的に確保した省スペース型の視標呈示装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。
特開平7−236612号公報
しかし、この種の従来装置においては、ビームスプリッタはその法線方向が装置の水平軸に対して45度方向に配置され、凹面ミラーはビームスプリッタの上(又は下)の位置で、凹面ミラーの光軸が鉛直方向に位置するように配置されていた。装置の筐体の設置距離を被検眼から1.1mとし、5mの検査距離を光学的に確保する凹面ミラーを使用し、眼の高さの多少の変動(中心に対して±80mm)があっても、視標光束がけられないようにするためには、凹面ミラーのサイズとしては前後方向で200mm程の幅が必要とされていた。こうした凹面ミラーの配置では、凹面ミラーのサイズより筐体の厚さを薄くできず、ビームスプリッタの回転機構、凹面ミラーの保持構造を含めると、本体筐体の幅は300mmを超えていた。この場合、装置筐体までの設置距離を短くできたが、装置筐体自体の厚みの薄型化が図られていなかった。
本発明は、上記従来技術の問題点に鑑み、凹面ミラーを内蔵した装置筐体の薄型化を図ることができる省スペース型の視標呈示装置を提供することを技術課題とする。
上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。
(1) 視標板からの視標光束を凹面ミラーで反射させて筐体の呈示窓から被検眼に導光し、光学的に所定の遠用検査距離にて検査視標を呈示する省スペース型の視標呈示装置において、
視標板からの視標光束を前記凹面ミラーに向けて反射させ、前記凹面ミラーで反射された視標光束を透過させるビームスプリッタを有し、前記ビームスプリッタを透過した視標光束を呈示窓から射出して被検眼に導光する導光光学系を備え、
前記凹面ミラーを前記ビームスプリッタの背後に配置すると共に凹面ミラーの光軸を略水平に配置し、
前記凹面ミラーの光軸と前記ビームスプリッタの反射面の法線方向との成す角度θが45度より小さくなるようにビームスプリッタを立てて配置し、
前記視標板を前記凹面ミラーの下又は上に配置し、
被検眼が所定の許容範囲で上下方向に変動したときにも視標光束がけられずに被検眼に視標を呈示すべく、前記凹面ミラーの上下方向の寸法Yを設定すると共に、前記視標板の配置位置の反対側に前記凹面ミラーのサイズを延ばし、凹面ミラーの上下方向の外径中心が凹面ミラーの光軸に対してずれた偏心形状に前記凹面ミラーを形成し、
さらに前記ビームスプリッタの前後方向の寸法W1と前記凹面ミラーの前後方向の寸法W2との合計の寸法Wが前記寸法Yより小さくなるように前記角度θを設定したことを特徴とする。
(2) (1)の視標呈示装置において、被検眼が所定の許容範囲で上下方向に変動したときにも、前記凹面ミラーの光軸からのずれに応じて生じる非点収差について、最もサイズの小さな視力検査視標が分解して見えるように、前記角度θを設定したことを特徴とする。
(3) (2)の視標呈示装置において、前記凹面ミラーは、光軸からのずれに応じて発生する非点収差を低減した楕円凹面ミラーであることを特徴とする。
(4) (3)の視標呈示装置において、前記視標板、ビームスプリッタ及び凹面ミラーを含む導光光学系を、前記凹面ミラーの光軸上に位置する回転中心を中心にして回転する回転機構を備えることを特徴とする。
本発明によれば、凹面ミラーを内蔵した装置筐体の薄型化を図ることができる。
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。図1は本発明に係る視標呈示装置の概観略図である。図2は装置本体1の右側面から見たときの概略構成図、図3は装置本体を上から見たときの概略構成図である。
装置本体1の筐体1aの正面には反射防止膜が施されたアクリル板からなる呈示窓2が配置され、被検者はこの呈示窓2を介し筐体内に視標を見ることができる。筐体1aの内部は黒色に塗装されており、内部構造を見えにくくしている。筐体1aの正面には、後述するワイヤレスのリモコン40に対する光信号の送受信を行う送受信部4が配置されている。筐体1aの内部には導光光学系20が組み込まれている。
導光光学系20は、視力検査視表を表示する透過型の液晶パネルで構成された視標板22、視標板22を背後から照明する照明光源21と、ビームスプリッタ23と、被検眼側から見てビームスプリッタ23の背後に鉛直方向に立てて配置された凹面ミラー24と、備える。視標板22は、図示を略す表示制御ユニットにより表示が制御され、ランドルト環視標、文字等の視力検査視表が表示される。なお、最もサイズが小さな視力検査視標(例えば、視力値2.0の視標)を呈示可能なように、視標板22としては、高画素数を有するもの(例えば、有効画素数が1404×1054)を使用することが好ましい。なお、視標板としては、特開平7−236612号公報等に記載されているように、ディスク板の同心円周上に多数の検査視標を形成し、これを選択的に照明光路に配置する構成であっても良い。
照明光源21により照明され、視標板22を発した視標光束は、ビームスプリッタ23により反射され、凹面ミラー24に向かう。凹面ミラー24は、被検眼Eと筐体20の呈示窓2との距離が1.1mのときに、視標と被検眼Eとの検査距離を光学的に5mの検査距離にするようにその焦点距離が設計されている。凹面ミラー24で反射された視標光束は、ビームスプリッタ23を透過した後、呈示窓2を射出して被検眼に向かう。
ここで、凹面ミラー24の光軸LOは水平方向に略平行に設置されている。一方、ビームスプリッタ23は、そのミラー面の法線方向が装置の水平方向(凹面ミラー24の光軸LO)となす角度θに対して45度ではなく、45度より小さく(ただし、角度θは0度よりは大きく)なるように斜設して配置されている。ビームスプリッタ23のミラー面をなるべく鉛直方向に立てて配置することにより、ビームスプリッタ23のミラー面が水平方向に対して45度で配置されていた従来の場合に比べて、筐体1aの前後方向の厚さを薄くすることができる。筐体1aの前後方向の厚さを従来に対して薄くするための角度θの設定については後述する。なお、本実施形態では、角度θを25度としている。角度θを25度とすると、角度θを45度にした従来の場合に対して、ビームスプリッタ23の配置スペースについては53%程の薄型化が可能になる。また、凹面ミラー24はビームスプリッタ23に近接して配置されている。
ここで、装置本体1の薄型化のためには、ビームスプリッタ23をできるだけ鉛直方向に立てるように、角度θを小さくする方がよいが、角度θを小さくしすぎると、凹面ミラー24の端と視標板22とが干渉したり、視標板22が光路上に進入したりすることになる。これを避けるためには、視標板22が位置する方向の凹面ミラー24のサイズ(上下方向のサイズ)Yを制限する必要がある。しかし、凹面ミラー24の上下方向のサイズYを小さくすると、被検眼Eが僅か上下方向に動いた場合にも、視標のケラレの問題が発生してしまう。
そこで、凹面ミラー24の上下方向のサイズYを変えずに、視標板22の配置とは反対方向に凹面ミラー24のサイズを延ばすことで、この問題に対応する。図2の構成例では、視標板22が凹面ミラー24の下側に配置されているので、凹面ミラー24のサイズを上側に延長する。凹面ミラー24のサイズを上側に延長すると、凹面ミラー24の上下方向の外径中心Mは光軸LOの位置とずれ、凹面ミラー24は偏心形状となる。なお、被検眼Eの上下移動の許容範囲±Δdを、例えば、±80mmとする(これは実用的に設定された値である)。
図4は、被検眼Eが許容範囲±Δd(±80mm)で上下に動いた場合の視標呈示の光路図を示す図である。図4(a)は、被検眼Eが凹面ミラー24の外径中心Mの水平軸上に高さH0に位置する場合の光路図である。この高さH0のときを被検眼Eの基準高さとする。この光路図は、視標板22の視標画面の虚像が被検眼Eから5mの遠方に30cm四方のサイズで形成されるものとしている。この場合、凹面ミラー24の光軸LOの高さから被検眼Eは上方に位置させている。また、図4(b)は、被検眼Eが基準高さH0から、Δd(80mm)だけ下がった高さH1に位置した場合の光路図である。図4(c)は、被検眼Eが基準高さH0から、Δd(80mm)だけ上がった高さH2に位置した場合の光路図である。
このように、被検眼Eが基準高さH0から許容範囲±Δdで上下方向に動いた場合を考慮し、凹面ミラー24の上下方向のサイズYを決定する。上述の例では、凹面ミラー24の高さ方向のサイズYは200mm程とされる。また、凹面ミラー24の光軸LOから凹面ミラー24の外径中心Mの距離は、30mmとされる。なお、凹面ミラー24の左右方向のサイズについても、被検眼Eが左右の中心位置から許容範囲±Δdで変動した場合に対応できるように設定されている。
ところで、凹面ミラー24の上下方向の外径中心Mが光軸LOからずれた偏心形状としたことにより、光軸LOを中心にした軸対称ミラーに比べ、光軸LOから離れた位置でのミラー面を使用することになる。導光光学系の倍率によっては球面ミラーでは、光軸LOかのずれに応じて発生する非点収差が大きくなる。最もサイズの小さな視力値視標(例えば、視力値2.0の視標)の呈示においては、非点収差の増大により、被検眼Eから見た視力値視標が光学的に分解できない場合が発生する。この場合には、凹面ミラー24を楕円凹面ミラーに形成することで、非点収差を低減し、実用的なレベルの光学性能を得ることができる。
次に、上記のように被検眼Eの高さ変動の許容範囲±Δdを考慮して決定される凹面ミラー24のサイズYを使用した従来に対して、筐体1aの薄型化を可能にするためのビームスプリッタ23の角度θ(ビームスプリッタ23のミラー面の法線方向と凹面ミラー24の光軸LOとの成す角度θ)の設定について説明する。
図5(a)は、導光光学系20を側面から見た図であり、凹面ミラー24の光軸LO付近については、光軸LOでの断面図としている。図5(b)は、凹面ミラー24を正面方向(光軸LO方向から見た図である。Nはビームスプリッタ23のミラー面の法線方向である。図5(a)において、ビームスプリッタ23の厚みをt2とし、角度θのビームスプリッタ23の上下サイズは凹面ミラー24の上下サイズYと略同一とすると(ビームスプリッタ23の上下サイズは、少なくとも凹面ミラー24の上下サイズY以上に確保する)、角度θにおけるビームスプリッタ23の前後方向の寸法W1は、以下で求められる。
Figure 2009207571
次に、凹面ミラー24の前後方向の寸法W2を考える。凹面ミラー24を正面から見た形状は、上下方向及び横方向が共にサイズYの正方形状である。このとき、凹面ミラー24の光軸LO上の後端24Bから最も前側の位置は、図5(b)に示すように、上側のコーナC1となる。図5(a)において、t1は凹面ミラー24の光軸LO上の厚み、Zは凹面ミラー24の光軸LO上の前端24AからコーナC1までの光軸LO方向の寸法、y1は光軸LOから凹面ミラー24の上側端までの寸法、y2は光軸LOから凹面ミラー24の下側端までの寸法である。図5(b)において、ycは光軸LOからコーナC1までの平面上の距離である。
また、視標板22の中心は、凹面ミラー24の光軸LOがビームスプリッタ23で反射された方向に位置する。このとき、凹面ミラー24の光軸LO上の前側24Aからビームスプリッタ23の反射位置23Bまでの距離をa、位置23Bから視標板22の中心までの距離をbとする。このときのa+bと、凹面ミラー24の曲率半径R(凹面ミラーが球面で設計されているものとする)は、検査距離、視標板22のサイズに対する投影倍率によって設計的に決められる。cは凹面ミラー24の下側端から視標板22の中心光軸とまでの距離とし、この距離cは視標光束がけられないように設計的に決められる値とする。図5(a)、(b)より、W2、Z、y1、y2、ycはそれぞれ以下で表される。
Figure 2009207571
上記の式より、W2は以下となる
Figure 2009207571
ここで、ビームスプリッタ23の上端と凹面ミラー24のコーナC1を近接して配置すれば、ビームスプリッタ23の最前端から凹面ミラー24の最後端までの寸法Wは、ビームスプリッタ23の前後方向の寸法W1と凹面ミラー24の前後方向の寸法W2との合計となる。すなわち、W=W1+W2である。
そして、ビームスプリッタ23の法線方向を装置の水平方向に対して45度に設定し、凹面ミラー24をビームスプリッタ23の上側に配置していた従来の構成では、凹面ミラー24の寸法Y(200mm)が前後方向の幅となる。この寸法Yよりも寸法Wが小さくなるようにビームスプリッタ23の角度θを設定すれば、筐体1aの薄型化を図ることができる。
例えば、視標板22のサイズを20mm×15mm、検査距離5mでの投影倍率を約19倍とすると、a=95mm、b=110mm、c=10mm、R=459mmとして設計される。また、t1=5mm、t2=20mm、Y=200mmとする。この条件において、角度θを変化させたときの寸法Wを計算した結果を図6に示す。図6より、Y=200mmより寸法(本体厚)Wを小さくするためには、角度θを35度より小さく設定すればよいことが分かる。
また、凹面ミラー24を楕円凹面ミラーとすれば、光軸LOから離れるに従って半径Rはゆるくなるので、上記よりさらに寸法Wを小さくできる。凹面ミラー24を楕円凹面ミラーとする場合、図5(a)の寸法Zは、以下の式で表される。Rは光軸LO付近の半径であり、kはコーニック係数である。
Figure 2009207571
なお、計算上は、図6のように角度θをできるだけ小さくすれば寸法Wも小さくできる。しかし、角度θをあまり小さくし過ぎると、凹面ミラー24を楕円凹面ミラーに形成したとしても、上記のように被検眼Eの高さ変動の許容範囲±Δdを考慮すると、さらに光軸LOから離れた位置でのミラー面を使用することになる。この場合、非点収差がさらに増大する。このため、実用的には、被検眼Eの高さが許容範囲±Δdで上下方向に変動したときも、凹面ミラー24の光軸からのずれに応じて生じる非点収差について、最もサイズの小さな視力検査視標が分解して見えるように角度θを設定する。これを考慮して、本実施例においては角度θが25度に設定されている。
次に、被検眼Eの高さ大きく変化した場合の対応を説明する。装置本体1を一定の高さに固定配置した場合、被検者の身長又は座高の高さが異なると、被検眼Eの高さの許容範囲±Δdを超えることがある。この場合には、装置本体1から射出する視標光束の向きを変えるための回転機構30により対応する。
回転機構30の構成を説明する。図2、図3において、照明光源21、視標板22、ビームスプリッタ23及び凹面ミラー24を含む導光光学系20は、筐体1aの内部の保持部材31に保持されている。保持部材31は、凹面ミラー24の光軸上の位置Sを回転中心として上下方向に回転可能に保持されている。これにより、視標光束の向きを上下方向に変えても一定の検査距離を確保することができる。回転中心Sの前後方向(厚み方向)の位置は、好ましくは保持部材31の前後方向の略中央である。こうすると、保持部材31が回転されたときの前後方向の触れ幅を小さくでき、装置本体1の前後方向の厚みを薄くするときに有利である。
図3に示すように、保持部材31の左側及び右側には、回転中心Sの軸線を中心にした回転軸32a,32bが取り付けられている。回転軸32bにはモータ33の回転軸が連結されている。モータ33を回転することにより、保持部材31に保持された導光光学系20の全体が回転中心Sを中心にして上下方向に回転され、光軸LOの向きが上下方向に変えられる。すなわち、装置本体1の呈示窓2を射出する視標光束が上下方向に変えられる。これにより、被検眼Eの高さが凹面ミラー24の外径中心Mの水平高さより大きく異なる場合であっても、導光光学系20の全体が上下方向に回転されることにより、視標呈示画面の視標光束を被検眼Eに向かわせることができる。
また、装置本体1には、被検眼Eの高さを検知するための検知光学系35が設けられている。検知光学系35は、集光レンズ36、2次元の位置検出素子37を備える。ここでは、2つの検知光学系37が保持部材31の左右両側に配置されている。また、リモコン40の通信窓40aには、検知光学系35に検知させるための赤外光を発するLED等の光源が配置されている。リモコン40を被検眼Eの高さに位置させて、光源を発光させると、その光が検知光学系35の位置検出素子37により受光され、位置検出素子37の出力信号によりリモコン40の高さ位置、すなわち被検眼Eの高さ位置が検知される。
図7にリモコン40の構成と視標呈示装置全体の制御ブロック図を示す。リモコン40は、視標板22の液晶パネルに表示する視標を選択するスイッチ42と、導光光学系20を上下に回転させて呈示窓2を介して見させる視標呈示画面を上下に移動するためのスイッチ44と、視標呈示位置を自動的に設定するときに使用するスイッチ45と、を備える。また、リモコン40は、呈示視標及び操作情報等を表示する液晶ディスプレイ46を表面に備える。リモコン40の側面前部には装置本体1を制御するための信号の送信および装置本体1からの信号を受信する通信窓40aが設けられている。
リモコン40からの視標選択信号は、通信窓40aから装置本体1側に送信され、送受信部4で受信された信号は制御ユニット10に送られる。制御ユニット10は送受信部4からの入力信号に基づいて、視標板22に表示させる視標の表示を制御する。また、検者がリモコン40を被検眼Eの近傍の高さ位置に合わせてスイッチ45を押すと、通信窓40aから視標高さを合わせるための所定波長の赤外光が発光され、その光は検知光学系35の位置検出素子37に検知される。制御ユニット10は位置検出素子37からの出力に基づいてモータ33を回転させ、視標光束がリモコン40の位置する眼の高さ位置に向かうように、導光光学系20の上下回転(上下方向の傾斜)の駆動を制御する。
なお、導光光学系20の回転は、手動スイッチ44によっても可能である。手動スイッチ44には呈示窓2から確認される視標を上方向へ移動するアップボタン44aと、下方向へ移動するダウンボタン44bからなる。アップボタン44aを押すと、制御ユニット10は視標光束が上方向に向くようにモータ33の駆動を制御し、ダウンボタン44bを押すと、制御ユニット10は視標光束が下方向に向くようにモータ33の駆動を制御する。
次に、以上のような構成を持つ装置を使用した検査動作について説明する。装置本体1を図示無き電源スイッチを押して電源を駆動する。被検者は本体1の呈示窓2から1.1mの所定位置に位置させることにより、検査距離が所定距離(5m)に設定される。次に、被検眼Eの高さ位置を入力するために、被検眼Eの眼の近傍にリモコン40を位置させ、スイッチ45を押す。この操作により通信窓40aから送信された位置信号は、検知光学系35の位置検出素子27に受光され、被検眼Eの高さ位置が検知される(視標光の光路を被検眼の高さに合わせる方法は、詳しくは特開平7−236612号公報を参照されたい)。この位置データに基づき制御ユニット10は、モータ33を相応する量だけ回転させる。モータ33の回転により導光光学系20を保持する保持部材30が回転され、凹面ミラー24の外径中心Mを通る視標光束が被検眼Eの高さ方向にほぼ向けられる。このとき、被検眼Eの高さが許容範囲±Δdで変動したときにも、凹面ミラー24の上下方向の外径中心Mが光軸LOからずれた偏心形状としたことにより、視標光束がけれることなく、被検眼Eは視標画面を見ることができる。
図8(a)は、被検眼Eが凹面ミラー24の外径中心Mの水平高さMOよりも許容範囲Δdを超えて上方に位置する場合を示す。この場合、導光光学系20を回転させずに、検査視標を見ると、図8(b)のように、視標Cの上部が欠けて見える。これは、凹面ミラー24の上端で視標のケラレが発生しているためである。この場合には、凹面ミラー24の外径中心Mで反射される視標光束が被検眼Eの方向に向かうように、導光光学系20の全体を矢印A方向に回転させれば良い。
図9(a)は、被検眼Eが凹面ミラー24の外径中心Mの水平高さMOよりも許容範囲Δdを超えて下方に位置する場合を示す。この場合、導光光学系20を回転させずに、検査視標を見ると、図9(b)のように、視標Cの下部が欠けて見える。したがって、図8の場合とは逆に、凹面ミラー24の外径中心Mで反射される視標光束が被検眼Eの方向に向かうように、導光光学系20の全体を矢印B方向に回転させれば良い。
このように、回転中心Sを中心として導光光学系20を上下方向に回転させることにより、視標光束のケラレを無くして、被検眼Eの高さに応じて適切な状態で検査視標を呈示できる。
視標呈示装置の概観略図である。 装置本体を右側面から見たときの概略構成図である。 装置本体を上から見たときの概略構成図である。 被検眼が上下に動いた場合の視標呈示の光路図である。 ビームスプリッタの角度設定についての説明図である。 ビームスプリッタの角度を変化させたときの筐体幅の計算結果である。 リモコン構成と視標呈示装置全体の制御ブロック図である。 被検眼が凹面ミラーの外径中心の水平高さよりも許容範囲を超えて上方に位置する場合について示す。 被検眼が凹面ミラーの外径中心の水平高さよりも許容範囲を超えて下方に位置する場合について示す。
符号の説明
2 呈示窓
10 制御ユニット
20 導光光学系
21 光源
22 視標板
23 ビームスプリッタ
24 凹面ミラー
30 回転機構
32a 回転軸
32b 回転軸
33 モータ
35 検知光学系
40 リモコン

Claims (4)

  1. 視標板からの視標光束を凹面ミラーで反射させて筐体の呈示窓から被検眼に導光し、光学的に所定の遠用検査距離にて検査視標を呈示する省スペース型の視標呈示装置において、
    視標板からの視標光束を前記凹面ミラーに向けて反射させ、前記凹面ミラーで反射された視標光束を透過させるビームスプリッタを有し、前記ビームスプリッタを透過した視標光束を呈示窓から射出して被検眼に導光する導光光学系を備え、
    前記凹面ミラーを前記ビームスプリッタの背後に配置すると共に凹面ミラーの光軸を略水平に配置し、
    前記凹面ミラーの光軸と前記ビームスプリッタの反射面の法線方向との成す角度θが45度より小さくなるようにビームスプリッタを立てて配置し、
    前記視標板を前記凹面ミラーの下又は上に配置し、
    被検眼が所定の許容範囲で上下方向に変動したときにも視標光束がけられずに被検眼に視標を呈示すべく、前記凹面ミラーの上下方向の寸法Yを設定すると共に、前記視標板の配置位置の反対側に前記凹面ミラーのサイズを延ばし、凹面ミラーの上下方向の外径中心が凹面ミラーの光軸に対してずれた偏心形状に前記凹面ミラーを形成し、
    さらに前記ビームスプリッタの前後方向の寸法W1と前記凹面ミラーの前後方向の寸法W2との合計の寸法Wが前記寸法Yより小さくなるように前記角度θを設定したことを特徴とする視標呈示装置。
  2. 請求項1の視標呈示装置において、被検眼が所定の許容範囲で上下方向に変動したときにも、前記凹面ミラーの光軸からのずれに応じて生じる非点収差について、最もサイズの小さな視力検査視標が分解して見えるように、前記角度θを設定したことを特徴とする視標呈示装置。
  3. 請求項2の視標呈示装置において、前記凹面ミラーは、光軸からのずれに応じて発生する非点収差を低減した楕円凹面ミラーであることを特徴とする視標呈示装置。
  4. 請求項3の視標呈示装置において、前記視標板、ビームスプリッタ及び凹面ミラーを含む導光光学系を、前記凹面ミラーの光軸上に位置する回転中心を中心にして回転する回転機構を備えることを特徴とする視標呈示装置。
JP2008051384A 2008-02-29 2008-02-29 視標呈示装置 Active JP5079546B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008051384A JP5079546B2 (ja) 2008-02-29 2008-02-29 視標呈示装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008051384A JP5079546B2 (ja) 2008-02-29 2008-02-29 視標呈示装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009207571A true JP2009207571A (ja) 2009-09-17
JP5079546B2 JP5079546B2 (ja) 2012-11-21

Family

ID=41181327

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008051384A Active JP5079546B2 (ja) 2008-02-29 2008-02-29 視標呈示装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5079546B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2749206A2 (en) * 2012-12-28 2014-07-02 Nidek Co., Ltd Optometry apparatus
JP2016010679A (ja) * 2014-06-02 2016-01-21 株式会社ニデック 視標呈示装置
JP2017086653A (ja) * 2015-11-13 2017-05-25 株式会社ニデック 自覚式検眼装置

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07299032A (ja) * 1994-04-30 1995-11-14 Canon Inc 検眼装置
JPH08206064A (ja) * 1995-10-31 1996-08-13 Nidek Co Ltd 視力検査装置
JPH08308798A (ja) * 1995-05-19 1996-11-26 Topcon Corp 視力表表示装置
JPH11244239A (ja) * 1998-03-02 1999-09-14 Nikon Corp 視機能検査装置
JP2000217783A (ja) * 1999-02-02 2000-08-08 Nidek Co Ltd 視標呈示装置
JP2001258840A (ja) * 2000-03-17 2001-09-25 Topcon Corp 検眼装置
WO2005115299A1 (ja) * 2004-05-26 2005-12-08 Matsushita Electric Works, Ltd. 認知機能訓練装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07299032A (ja) * 1994-04-30 1995-11-14 Canon Inc 検眼装置
JPH08308798A (ja) * 1995-05-19 1996-11-26 Topcon Corp 視力表表示装置
JPH08206064A (ja) * 1995-10-31 1996-08-13 Nidek Co Ltd 視力検査装置
JPH11244239A (ja) * 1998-03-02 1999-09-14 Nikon Corp 視機能検査装置
JP2000217783A (ja) * 1999-02-02 2000-08-08 Nidek Co Ltd 視標呈示装置
JP2001258840A (ja) * 2000-03-17 2001-09-25 Topcon Corp 検眼装置
WO2005115299A1 (ja) * 2004-05-26 2005-12-08 Matsushita Electric Works, Ltd. 認知機能訓練装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2749206A2 (en) * 2012-12-28 2014-07-02 Nidek Co., Ltd Optometry apparatus
EP2749206A3 (en) * 2012-12-28 2014-09-17 Nidek Co., Ltd Optometry apparatus
US9414744B2 (en) 2012-12-28 2016-08-16 Nidek Co., Ltd. Optometry apparatus
JP2016010679A (ja) * 2014-06-02 2016-01-21 株式会社ニデック 視標呈示装置
JP2017086653A (ja) * 2015-11-13 2017-05-25 株式会社ニデック 自覚式検眼装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP5079546B2 (ja) 2012-11-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8262232B2 (en) Display device emitting a light flux and mobile apparatus including the display device
US7755837B2 (en) Image display apparatus
JP5075776B2 (ja) 表示装置及び移動体
US20200012101A1 (en) Head-mounted display
JP2001264681A (ja) ディスプレイ装置
JP2006308674A (ja) 画像表示装置
US20200209625A1 (en) Head-mounted display device
JPH07281815A (ja) 広視野映像提示装置
JP2015176130A (ja) 虚像表示装置
JP5283976B2 (ja) 光走査装置
WO2016063600A1 (ja) 視覚検査装置およびヘッドマウント型表示装置
CN110401831B (zh) 一种vr设备及其显示控制方法
JP5079546B2 (ja) 視標呈示装置
CN112285934A (zh) 图像显示装置及可穿戴设备
JP2013148599A (ja) 表示装置
JP6130465B2 (ja) 視力表示装置
JP2010091944A (ja) 画像表示装置及び画像表示システム
JP5835838B2 (ja) 視力表示装置
JP4994912B2 (ja) 頭部装着型の映像表示装置
EP1480069B1 (en) Optical system for displaying images
EP1731959A1 (en) Stereoscopic two-dimensional image display unit
JP2006011145A (ja) 双眼顕微鏡装置
WO2011136211A1 (ja) 操作装置
JP5179202B2 (ja) 眼科装置
TWI772770B (zh) 影像中繼裝置及影像投影系統

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110224

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120724

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120801

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120829

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150907

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5079546

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250