JP2000217783A - 視標呈示装置 - Google Patents
視標呈示装置Info
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- JP2000217783A JP2000217783A JP11025289A JP2528999A JP2000217783A JP 2000217783 A JP2000217783 A JP 2000217783A JP 11025289 A JP11025289 A JP 11025289A JP 2528999 A JP2528999 A JP 2528999A JP 2000217783 A JP2000217783 A JP 2000217783A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 十分な光量を持った視標呈示を可能にしつつ
視標チャートの劣化を最小限に抑え、また、ゴースト像
の発生も防止できる装置を提供する。 【解決手段】 被検眼の視機能を検査するための検査視
標を呈示する視標呈示装置において、被検者眼に対向す
る位置に設けられた検査窓を持つ筐体内に、検査視標を
呈示する視標呈示手段と該視標呈示手段による視標光束
を反射して所定の検査距離に前記検査視標の虚像を形成
する反射曲面を持つ光学部材とを設けるとともに、被検
眼がビームスプリッタを介さずに前記検査窓から前記虚
像を臨める位置に前記反射曲面を配置した。
視標チャートの劣化を最小限に抑え、また、ゴースト像
の発生も防止できる装置を提供する。 【解決手段】 被検眼の視機能を検査するための検査視
標を呈示する視標呈示装置において、被検者眼に対向す
る位置に設けられた検査窓を持つ筐体内に、検査視標を
呈示する視標呈示手段と該視標呈示手段による視標光束
を反射して所定の検査距離に前記検査視標の虚像を形成
する反射曲面を持つ光学部材とを設けるとともに、被検
眼がビームスプリッタを介さずに前記検査窓から前記虚
像を臨める位置に前記反射曲面を配置した。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、被検眼の視力等の
視機能を検査するための検査視標を呈示する視標呈示装
置に関する。
視機能を検査するための検査視標を呈示する視標呈示装
置に関する。
【０００２】
【従来技術】視力検査には所定の検査距離が必要である
が、凹面鏡を利用して光学的に検査距離を確保する省ス
ペース型の視標呈示装置が提案されている。従来、この
種の装置は、筐体内にハーフミラー（ビームスプリッ
タ）及び凹面鏡を設け、検査視標からの視標光束をハー
フミラーを透過させて凹面鏡に導き、凹面鏡で反射され
た視標光束を前記ハーフミラーでさらに反射させて被検
眼に視標を呈示するように構成されていた。
が、凹面鏡を利用して光学的に検査距離を確保する省ス
ペース型の視標呈示装置が提案されている。従来、この
種の装置は、筐体内にハーフミラー（ビームスプリッ
タ）及び凹面鏡を設け、検査視標からの視標光束をハー
フミラーを透過させて凹面鏡に導き、凹面鏡で反射され
た視標光束を前記ハーフミラーでさらに反射させて被検
眼に視標を呈示するように構成されていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ハーフ
ミラーを介しての視標呈示には次のような問題があっ
た。ハーフミラーを使用すると視標の光量が大きく低下
し、視標が見難くくなってしまう。これを解消するため
には視標を照明するための光源の光量を上げる必要があ
るが、光源の光量増加は不経済である他、光源からの発
熱量も多くなり、その輻射熱により視標チャートが劣化
してしまうという問題がある。
ミラーを介しての視標呈示には次のような問題があっ
た。ハーフミラーを使用すると視標の光量が大きく低下
し、視標が見難くくなってしまう。これを解消するため
には視標を照明するための光源の光量を上げる必要があ
るが、光源の光量増加は不経済である他、光源からの発
熱量も多くなり、その輻射熱により視標チャートが劣化
してしまうという問題がある。
【０００４】また、ハーフミラーの裏面の反射防止膜に
は限界があり、反射を完全に除去することはできない。
このためハーフミラー裏面による視標のゴースト像が発
生し、視標観察の妨げとなる。
は限界があり、反射を完全に除去することはできない。
このためハーフミラー裏面による視標のゴースト像が発
生し、視標観察の妨げとなる。
【０００５】本発明は、上記従来技術の欠点に鑑み、十
分な光量を持った視標呈示を可能にしつつ視標チャート
の劣化を最小限に抑え、また、ゴースト像の発生も防止
できる装置を提供することを技術課題とする。
分な光量を持った視標呈示を可能にしつつ視標チャート
の劣化を最小限に抑え、また、ゴースト像の発生も防止
できる装置を提供することを技術課題とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とす
る。
に、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とす
る。
【０００７】（１） 被検眼の視機能を検査するための
検査視標を呈示する視標呈示装置において、被検者眼に
対向する位置に設けられた検査窓を持つ筐体内に、検査
視標を呈示する視標呈示手段と該視標呈示手段による視
標光束を反射して所定の検査距離に前記検査視標の虚像
を形成する反射曲面を持つ光学部材とを設けるととも
に、被検眼がビームスプリッタを介さずに前記検査窓か
ら前記虚像を臨める位置に前記反射曲面を配置したこと
を特徴とする。
検査視標を呈示する視標呈示装置において、被検者眼に
対向する位置に設けられた検査窓を持つ筐体内に、検査
視標を呈示する視標呈示手段と該視標呈示手段による視
標光束を反射して所定の検査距離に前記検査視標の虚像
を形成する反射曲面を持つ光学部材とを設けるととも
に、被検眼がビームスプリッタを介さずに前記検査窓か
ら前記虚像を臨める位置に前記反射曲面を配置したこと
を特徴とする。
【０００８】（２） （１）の視標呈示装置において、
前記反射曲面を配置する位置とは、反射された視標光束
の内、前記被検眼の略瞳孔中心を通る光線を基準線とし
たときの該基準線とその反射曲面の面法線とが一致しな
い位置であることを特徴とする。
前記反射曲面を配置する位置とは、反射された視標光束
の内、前記被検眼の略瞳孔中心を通る光線を基準線とし
たときの該基準線とその反射曲面の面法線とが一致しな
い位置であることを特徴とする。
【０００９】（３） （１）の光学部材とは、非球面の
全反射面を持つ凹面鏡であることを特徴とする。
全反射面を持つ凹面鏡であることを特徴とする。
【００１０】（４） （１）の視標呈示装置において、
さらに前記視標呈示手段からの視標光束を前記反射曲面
に向けて反射する折返し用の反射ミラーを前記筐体内に
設けたことを特徴とする。
さらに前記視標呈示手段からの視標光束を前記反射曲面
に向けて反射する折返し用の反射ミラーを前記筐体内に
設けたことを特徴とする。
【００１１】（５） （１）の視標呈示装置において、
前記光学部材は非球面の全反射曲面と折り返し用の全反
射面とを持つプリズムからなることを特徴とする。
前記光学部材は非球面の全反射曲面と折り返し用の全反
射面とを持つプリズムからなることを特徴とする。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて説明する。まず、図１（ａ）に示すようなハ
ーフミラーを使用した場合の視標呈示の光学系に対し、
本発明の光学系の基本配置を図１（ｂ）に示して、その
相違を説明する。
に基づいて説明する。まず、図１（ａ）に示すようなハ
ーフミラーを使用した場合の視標呈示の光学系に対し、
本発明の光学系の基本配置を図１（ｂ）に示して、その
相違を説明する。
【００１３】図１（ａ）は、光源３により照明された視
標Ａからの光束のうち、反射曲面１にて反射された後、
被検眼の略瞳孔中心に入射する光線（以下、基準線Ｌ１
という）と、基準線Ｌ１上の光線が反射曲面１にて反射
した点における反射曲面の法線（以下、面法線Ｌ２とい
う）とがほぼ一致している状態における光学系配置図で
ある。基準線Ｌ１上の視標Ａは光源３により照明され、
反射曲面１の反射により基準線Ｌ１上の所定の遠用距離
に視標Ａの虚像Ａ′が形成される。このとき、被検眼Ｅ
１が基準線Ｌ１上から虚像Ａ′を観察しようとすると、
基準線Ｌ１上の視標Ａや光源３が妨げとなる。このため
図１（ａ）においては、ハーフミラー２を観察光路上に
設け、基準線Ｌ１と同軸にされる線Ｌ３方向から観察す
ることにより、被検眼Ｅ２では視標Ａや光源３が邪魔と
ならずに、虚像Ａ′を観察することができるようにな
る。
標Ａからの光束のうち、反射曲面１にて反射された後、
被検眼の略瞳孔中心に入射する光線（以下、基準線Ｌ１
という）と、基準線Ｌ１上の光線が反射曲面１にて反射
した点における反射曲面の法線（以下、面法線Ｌ２とい
う）とがほぼ一致している状態における光学系配置図で
ある。基準線Ｌ１上の視標Ａは光源３により照明され、
反射曲面１の反射により基準線Ｌ１上の所定の遠用距離
に視標Ａの虚像Ａ′が形成される。このとき、被検眼Ｅ
１が基準線Ｌ１上から虚像Ａ′を観察しようとすると、
基準線Ｌ１上の視標Ａや光源３が妨げとなる。このため
図１（ａ）においては、ハーフミラー２を観察光路上に
設け、基準線Ｌ１と同軸にされる線Ｌ３方向から観察す
ることにより、被検眼Ｅ２では視標Ａや光源３が邪魔と
ならずに、虚像Ａ′を観察することができるようにな
る。
【００１４】ところが、このように観察光路中にハーフ
ミラー２を設けると、被検眼Ｅ２によって観察される視
標の光量は当初の光量よりも大幅に低下することとな
る。例えばハーフミラー２での吸収または散乱による損
失を考えず、透過率５０％、反射率５０％のハーフミラ
ーを仮定した場合においても、被検眼Ｅ２によって観察
される視標の光量は当初の１／４でしかない。したがっ
て、視標呈示に必要な所定の光量が得られるようにする
ためには、視標Ａを照明する光源３の光量を上げておく
必要がある。しかし、光源３の光量を上げると発熱量が
多くなり、その輻射熱により視標Ａを形成するチャート
板、特に貼付されたフィルタ材が劣化しやすい。また、
ハーフミラー２の裏面の反射防止膜には限界があるの
で、その裏面反射による視標のゴースト像が発生して視
標観察の妨げとなる。
ミラー２を設けると、被検眼Ｅ２によって観察される視
標の光量は当初の光量よりも大幅に低下することとな
る。例えばハーフミラー２での吸収または散乱による損
失を考えず、透過率５０％、反射率５０％のハーフミラ
ーを仮定した場合においても、被検眼Ｅ２によって観察
される視標の光量は当初の１／４でしかない。したがっ
て、視標呈示に必要な所定の光量が得られるようにする
ためには、視標Ａを照明する光源３の光量を上げておく
必要がある。しかし、光源３の光量を上げると発熱量が
多くなり、その輻射熱により視標Ａを形成するチャート
板、特に貼付されたフィルタ材が劣化しやすい。また、
ハーフミラー２の裏面の反射防止膜には限界があるの
で、その裏面反射による視標のゴースト像が発生して視
標観察の妨げとなる。
【００１５】また、ここでいう基準線Ｌ１と面法線Ｌ２
とがほぼ一致する状態とは、反射曲面にて反射された視
標光束をハーフミラー等の光学系を介さず直接見た場
合、基準線Ｌ１を中心とした観察光路中に視標Ａや光源
３が入ってきてしまい観察の邪魔となる程度までを指す
こととしている。
とがほぼ一致する状態とは、反射曲面にて反射された視
標光束をハーフミラー等の光学系を介さず直接見た場
合、基準線Ｌ１を中心とした観察光路中に視標Ａや光源
３が入ってきてしまい観察の邪魔となる程度までを指す
こととしている。
【００１６】図１（ａ）の光学系配置に対して、図１
（ｂ）に示す本発明の光学系は、基準線Ｌ１と、基準線
Ｌ１上の光線が反射曲面１にて反射した点における反射
曲面の面法線Ｌ２とが一致しない（同軸とならない）よ
うに配置することにより、ハーフミラー２を使用しない
で視標を観察できるようにしている。
（ｂ）に示す本発明の光学系は、基準線Ｌ１と、基準線
Ｌ１上の光線が反射曲面１にて反射した点における反射
曲面の面法線Ｌ２とが一致しない（同軸とならない）よ
うに配置することにより、ハーフミラー２を使用しない
で視標を観察できるようにしている。
【００１７】図１（ｂ）において、Ｌ１は図１（ａ）と
同様に基準線を示す。反射曲面１での反射により基準線
Ｌ１上の所定距離に形成される虚像Ａ′を被検眼Ｅ１は
基準線Ｌ１と面法線Ｌ２とが一致しないような位置から
観察する。このときの基準線Ｌ１と面法線Ｌ２のなす角
度は、被検眼Ｅ１の観察光路中に視標Ａや光源３が入ら
ない程度に大きくなっていればよい。
同様に基準線を示す。反射曲面１での反射により基準線
Ｌ１上の所定距離に形成される虚像Ａ′を被検眼Ｅ１は
基準線Ｌ１と面法線Ｌ２とが一致しないような位置から
観察する。このときの基準線Ｌ１と面法線Ｌ２のなす角
度は、被検眼Ｅ１の観察光路中に視標Ａや光源３が入ら
ない程度に大きくなっていればよい。
【００１８】このように、基準線Ｌ１と面法線Ｌ２とが
一致しないように視標Ａ、反射曲面１、及び被検眼Ｅ１
の位置関係を決定することでハーフミラーを観察光路中
に設け無くて済む。このため、ハーフミラーに起因する
光量低下と裏面反射によるゴースト像の発生とを防ぐこ
とができる。なお、図１（ｂ）のように基準線Ｌ１と面
法線Ｌ２とのなす角が大きい配置では、反射曲面１によ
り発生する収差を補正するために、反射曲面１は非球面
として設計することが好ましい。一般には、反射曲面と
虚像との位置関係、反射曲面と基準線との位置関係に応
じて、非球面としての凹面形状が決定される。
一致しないように視標Ａ、反射曲面１、及び被検眼Ｅ１
の位置関係を決定することでハーフミラーを観察光路中
に設け無くて済む。このため、ハーフミラーに起因する
光量低下と裏面反射によるゴースト像の発生とを防ぐこ
とができる。なお、図１（ｂ）のように基準線Ｌ１と面
法線Ｌ２とのなす角が大きい配置では、反射曲面１によ
り発生する収差を補正するために、反射曲面１は非球面
として設計することが好ましい。一般には、反射曲面と
虚像との位置関係、反射曲面と基準線との位置関係に応
じて、非球面としての凹面形状が決定される。
【００１９】次に、上記のような光学系を基本配置とす
る視標呈示光学系を筐体内に設けた省スペース型の視標
呈示装置の実施形態を、図２に示して説明する。
る視標呈示光学系を筐体内に設けた省スペース型の視標
呈示装置の実施形態を、図２に示して説明する。
【００２０】１０は視標呈示装置の筐体であり、被検眼
Ｅに対向する筐体１０の正面には検査窓１８が設けられ
ている。被検眼Ｅはこの検査窓１８を介して検査視標を
観察できるように、筐体１０内には次のような光学系が
配置されている。
Ｅに対向する筐体１０の正面には検査窓１８が設けられ
ている。被検眼Ｅはこの検査窓１８を介して検査視標を
観察できるように、筐体１０内には次のような光学系が
配置されている。
【００２１】１１はガラス板からなる円盤状の視標ディ
スク板であり、その同一円周上表面には視力値視標等の
多数の検査視標がクロム蒸着等により形成されている。
また、視標ディスク板１１には多数の着色フィルタや偏
光フィルタが貼付されている。視標ディスク板１１はモ
ータ１２により回転され、被検眼Ｅに呈示する視標を切
り替え配置する。１３は呈示視標の一部をマスクするた
めのマスク板であり、モータ１４により回転され、視標
に所期する必要なマスクをかける。１５は視標ディスク
板１１上の検査視標を照明する照明用ランプ、１６は全
反射の平面ミラーである。１７は全反射の非球面１７ａ
を持つ凹面鏡であり、Ｌ１は基準線を示す。
スク板であり、その同一円周上表面には視力値視標等の
多数の検査視標がクロム蒸着等により形成されている。
また、視標ディスク板１１には多数の着色フィルタや偏
光フィルタが貼付されている。視標ディスク板１１はモ
ータ１２により回転され、被検眼Ｅに呈示する視標を切
り替え配置する。１３は呈示視標の一部をマスクするた
めのマスク板であり、モータ１４により回転され、視標
に所期する必要なマスクをかける。１５は視標ディスク
板１１上の検査視標を照明する照明用ランプ、１６は全
反射の平面ミラーである。１７は全反射の非球面１７ａ
を持つ凹面鏡であり、Ｌ１は基準線を示す。
【００２２】ここで、位置Ｂ′に視標を置くと、その視
標像は全反射非球面１７ａにより位置Ｂ″に虚像として
結像する。本形態では被検眼Ｅと検査窓１８との距離が
１．１ｍのときに、この虚像Ｂ″と被検眼Ｅとの検査距
離が光学的に５ｍになるように全反射非球面１７ａの凹
面形状が設計されている。
標像は全反射非球面１７ａにより位置Ｂ″に虚像として
結像する。本形態では被検眼Ｅと検査窓１８との距離が
１．１ｍのときに、この虚像Ｂ″と被検眼Ｅとの検査距
離が光学的に５ｍになるように全反射非球面１７ａの凹
面形状が設計されている。
【００２３】平面ミラー１６は視標ディスク板１１と凹
面鏡１７との配置を空間的により近づける省スペースの
ためのものであり、位置Ｂ′を折り返して視標ディスク
板１１上の視標Ｂの位置にする。Ｌ２は基準線Ｌ１上の
光線が全反射非球面１７ａにて反射した点における面法
線であり、この面法線Ｌ２と基準線Ｌ１とが一致せず
（同軸とならず）、基準線Ｌ１上の視標光線を検査窓１
８のほぼ中心位置から取り出せるように、凹面鏡１７の
全反射非球面１７ａが配置されている。また、被検眼Ｅ
が検査窓１８を介して視標を観察するときの観察光路中
に、平面ミラー１６、視標ディスク板１１、及び照明ラ
ンプ１５等が入らないように配置されている。
面鏡１７との配置を空間的により近づける省スペースの
ためのものであり、位置Ｂ′を折り返して視標ディスク
板１１上の視標Ｂの位置にする。Ｌ２は基準線Ｌ１上の
光線が全反射非球面１７ａにて反射した点における面法
線であり、この面法線Ｌ２と基準線Ｌ１とが一致せず
（同軸とならず）、基準線Ｌ１上の視標光線を検査窓１
８のほぼ中心位置から取り出せるように、凹面鏡１７の
全反射非球面１７ａが配置されている。また、被検眼Ｅ
が検査窓１８を介して視標を観察するときの観察光路中
に、平面ミラー１６、視標ディスク板１１、及び照明ラ
ンプ１５等が入らないように配置されている。
【００２４】なお、図２では折返し用の平面ミラーを１
つとしたが、全反射非球面１７ａから視標ディスク板１
１までの距離が長い場合は、折返し用の平面ミラーを複
数個用いてもよい。
つとしたが、全反射非球面１７ａから視標ディスク板１
１までの距離が長い場合は、折返し用の平面ミラーを複
数個用いてもよい。
【００２５】以上のような構成を備える装置において、
図３の制御系のブロック図を示しながらその動作につい
て簡単に説明する。
図３の制御系のブロック図を示しながらその動作につい
て簡単に説明する。
【００２６】検者は、図示なき電源を入れ、照明用ラン
プ１５を点灯させる。次に視標切替え用のリモコン２１
にて被検者に呈示する検査視標を選択する。リモコン２
１にて検査視標の選択が行われると、リモコン２１から
赤外光のパルス信号が発せられ装置本体１の送受信部２
２により信号が受信される。
プ１５を点灯させる。次に視標切替え用のリモコン２１
にて被検者に呈示する検査視標を選択する。リモコン２
１にて検査視標の選択が行われると、リモコン２１から
赤外光のパルス信号が発せられ装置本体１の送受信部２
２により信号が受信される。
【００２７】送受信部２２に受信された信号は信号処理
回路２３で所定の処理がされて制御部２０に入力され
る。制御部２０は入力された信号に対応する視標を光路
中にセットすべくモータ１２、１４を駆動させ、視標デ
ィスク板１１、マスク板１３を回転させる。
回路２３で所定の処理がされて制御部２０に入力され
る。制御部２０は入力された信号に対応する視標を光路
中にセットすべくモータ１２、１４を駆動させ、視標デ
ィスク板１１、マスク板１３を回転させる。
【００２８】選択された検査視標は照明用ランプ１５に
よって照明される。照明用ランプ１５は照明によって発
熱を伴うが、本形態では視標光束の光量低下となるハー
フミラーを使用する必要がないため、ハーフミラーでの
光量減少を補うために照明用ランプ１５の光量を上げる
必要がない。このため、照明用ランプ１５からの発熱は
最低限に抑えられ、輻射熱による視標ディスク板１１の
劣化、とりわけ貼付されたフィルタの劣化が抑えられ
る。
よって照明される。照明用ランプ１５は照明によって発
熱を伴うが、本形態では視標光束の光量低下となるハー
フミラーを使用する必要がないため、ハーフミラーでの
光量減少を補うために照明用ランプ１５の光量を上げる
必要がない。このため、照明用ランプ１５からの発熱は
最低限に抑えられ、輻射熱による視標ディスク板１１の
劣化、とりわけ貼付されたフィルタの劣化が抑えられ
る。
【００２９】視標ディスク板１１上からの検査視標から
の光束は、平面ミラー１６によって反射されて凹面鏡１
７へ向かい、凹面鏡１７で反射された視標光束は、窓１
８を介して被検眼Ｅに向かう。これにより被検眼Ｅは光
学的に所定の検査距離に置かれた虚像Ｂ″を光量の低下
なく観察でき、所期する検査視標を被検眼に呈示して視
力検査等の視機能検査が行われる。
の光束は、平面ミラー１６によって反射されて凹面鏡１
７へ向かい、凹面鏡１７で反射された視標光束は、窓１
８を介して被検眼Ｅに向かう。これにより被検眼Ｅは光
学的に所定の検査距離に置かれた虚像Ｂ″を光量の低下
なく観察でき、所期する検査視標を被検眼に呈示して視
力検査等の視機能検査が行われる。
【００３０】また、ハーフミラーを使用しないため、そ
の裏面反射によって発生するゴースト像が原因となり検
査視標が見難くなることもない。
の裏面反射によって発生するゴースト像が原因となり検
査視標が見難くなることもない。
【００３１】以上の形態では凹面鏡１７と全反射ミラー
１６の構成による省スペース型の視標呈示装置の例を示
したが、図４に示すように、これらをプリズム３０で代
替するようにしてもよい。図４において、プリズム３０
は全反射平面３０ａと、先の例の全反射非球面１７ａと
同じ曲面形状を有する全反射曲面３０ｂとを持つ。視標
ディスク板１１を発した視標光束は、プリズム３０内を
通過し、全反射平面３０ａで反射されて全反射曲面３０
ｂへ向かう。全反射曲面３０ｂで反射された光束は、同
様にプリズム３０内を通過して検査窓１８から取り出さ
れ、被検眼Ｅに向かう。これにより被検眼Ｅに検査視標
が呈示される。この例のようにプリズムを用いれば、２
つの反射面（全反射平面３０ａ、全反射曲面３０ｂ）の
位置調節が必要ないため更に精度よく設置できるように
なる。
１６の構成による省スペース型の視標呈示装置の例を示
したが、図４に示すように、これらをプリズム３０で代
替するようにしてもよい。図４において、プリズム３０
は全反射平面３０ａと、先の例の全反射非球面１７ａと
同じ曲面形状を有する全反射曲面３０ｂとを持つ。視標
ディスク板１１を発した視標光束は、プリズム３０内を
通過し、全反射平面３０ａで反射されて全反射曲面３０
ｂへ向かう。全反射曲面３０ｂで反射された光束は、同
様にプリズム３０内を通過して検査窓１８から取り出さ
れ、被検眼Ｅに向かう。これにより被検眼Ｅに検査視標
が呈示される。この例のようにプリズムを用いれば、２
つの反射面（全反射平面３０ａ、全反射曲面３０ｂ）の
位置調節が必要ないため更に精度よく設置できるように
なる。
【００３２】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
被検者に呈示するための十分な光量を持った視標を呈示
しつつ照明光源から発する輻射熱を原因とする視標チャ
ートの劣化を抑制することができる。さらに視標観察の
妨げとなるゴースト像が発生せず快適な検査を行うこと
ができる。
被検者に呈示するための十分な光量を持った視標を呈示
しつつ照明光源から発する輻射熱を原因とする視標チャ
ートの劣化を抑制することができる。さらに視標観察の
妨げとなるゴースト像が発生せず快適な検査を行うこと
ができる。
【図１】従来の光学系と本発明の光学系との比較を示す
図である。
図である。
【図２】視標呈示装置の光学系を示した図である。
【図３】制御系を示した図である。
【図４】視標呈示装置にプリズムを使用したときの光学
系を示した図である。
系を示した図である。
１ 反射曲面 ２ ハーフミラー ３ 光源 Ａ 視標 Ａ′ 虚像 Ｅ１ 被検眼 Ｅ２ 被検眼 Ｌ１ 基準線 Ｌ２ 面法線
Claims (5)
- 【請求項１】 被検眼の視機能を検査するための検査視
標を呈示する視標呈示装置において、被検者眼に対向す
る位置に設けられた検査窓を持つ筐体内に、検査視標を
呈示する視標呈示手段と該視標呈示手段による視標光束
を反射して所定の検査距離に前記検査視標の虚像を形成
する反射曲面を持つ光学部材とを設けるとともに、被検
眼がビームスプリッタを介さずに前記検査窓から前記虚
像を臨める位置に前記反射曲面を配置したことを特徴と
する視標呈示装置。 - 【請求項２】 請求項１の視標呈示装置において、前記
反射曲面を配置する位置とは、反射された視標光束の
内、前記被検眼の略瞳孔中心を通る光線を基準線とした
ときの該基準線とその反射曲面の面法線とが一致しない
位置であることを特徴とする視標呈示装置。 - 【請求項３】 請求項１の光学部材とは、非球面の全反
射面を持つ凹面鏡であることを特徴とする視標呈示装
置。 - 【請求項４】 請求項１の視標呈示装置において、さら
に前記視標呈示手段からの視標光束を前記反射曲面に向
けて反射する折返し用の反射ミラーを前記筐体内に設け
たことを特徴とする視標呈示装置。 - 【請求項５】 請求項１の視標呈示装置において、前記
光学部材は非球面の全反射曲面と折り返し用の全反射面
とを持つプリズムからなることを特徴とする視標呈示装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11025289A JP2000217783A (ja) | 1999-02-02 | 1999-02-02 | 視標呈示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11025289A JP2000217783A (ja) | 1999-02-02 | 1999-02-02 | 視標呈示装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000217783A true JP2000217783A (ja) | 2000-08-08 |
Family
ID=12161868
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11025289A Withdrawn JP2000217783A (ja) | 1999-02-02 | 1999-02-02 | 視標呈示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000217783A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009207571A (ja) * | 2008-02-29 | 2009-09-17 | Nidek Co Ltd | 視標呈示装置 |
| JP2013048754A (ja) * | 2011-08-31 | 2013-03-14 | Topcon Corp | 画像提示光学系 |
| JP2016010679A (ja) * | 2014-06-02 | 2016-01-21 | 株式会社ニデック | 視標呈示装置 |
-
1999
- 1999-02-02 JP JP11025289A patent/JP2000217783A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009207571A (ja) * | 2008-02-29 | 2009-09-17 | Nidek Co Ltd | 視標呈示装置 |
| JP2013048754A (ja) * | 2011-08-31 | 2013-03-14 | Topcon Corp | 画像提示光学系 |
| JP2016010679A (ja) * | 2014-06-02 | 2016-01-21 | 株式会社ニデック | 視標呈示装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20041124 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050222 |
|
| A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20050425 |